JP5804113B2 - Electro-optical device and electronic apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、例えば液晶表示装置等の電気光学装置、及び該電気光学装置を備えた、例えば液晶プロジェクター等の電子機器の技術分野に関する。   The present invention relates to a technical field of an electro-optical device such as a liquid crystal display device and an electronic apparatus such as a liquid crystal projector provided with the electro-optical device.

この種の電気光学装置として、例えば装置に入射される光を集光して透過率を向上させるマイクロレンズを備えるものがある。マイクロレンズは、典型的には、光の入射される側に位置する対向基板上に形成される。或いは、マイクロレンズ基板として対向基板に貼付けられる。但し、マイクロレンズは、その用途によって様々な位置に設けられる場合がある。   As this type of electro-optical device, for example, there is a device including a microlens that collects light incident on the device and improves the transmittance. The microlens is typically formed on a counter substrate located on the light incident side. Alternatively, it is attached to the counter substrate as a microlens substrate. However, the microlens may be provided at various positions depending on the application.

例えば特許文献1では、トランジスターと同層にマイクロレンズを設けることにより、各画素の開口領域に光源光を集光する技術が提案されている。また、特許文献2では、トランジスターの下層側にマイクロレンズを設けることによって、回折現象に起因する表示画像の輝度の低下を防止しようとする技術が提案されている。   For example, Patent Document 1 proposes a technique for condensing light source light in an opening region of each pixel by providing a microlens in the same layer as a transistor. Patent Document 2 proposes a technique for preventing a decrease in luminance of a display image due to a diffraction phenomenon by providing a microlens on the lower layer side of a transistor.

特開2000−199916号公報JP 2000-199916 A 特開2003−140127号公報JP 2003-140127 A

上述した特許文献1及び2に係る技術は、対向基板側から光が入射することを前提としている。よって、仮に素子基板側から光を入射させる場合は、上述した技術をそのまま適用することは極めて困難となる。   The techniques according to Patent Documents 1 and 2 described above are based on the assumption that light enters from the counter substrate side. Therefore, if light is incident from the element substrate side, it is extremely difficult to apply the above-described technique as it is.

具体的には、特許文献1に係る技術では、マイクロレンズが、光の進行方向で見て、遮光領域よりも後段となってしまうため、光の集光が行えなくなってしまう。同様に、特許文献2に係る技術においても、回折現象を補償するためにはマイクロレンズが形成される位置が遮光膜の形成位置と深さ方向でほとんど同じ位置に設けることが必要であり、このような構成では素子基板側から入射する光を集光する機能は果たすことができない。   Specifically, in the technique according to Patent Document 1, the microlens is in a later stage than the light shielding region when viewed in the light traveling direction, so that the light cannot be collected. Similarly, in the technique according to Patent Document 2, in order to compensate for the diffraction phenomenon, the position where the microlens is formed needs to be provided at almost the same position in the depth direction as the formation position of the light shielding film. In such a configuration, the function of collecting light incident from the element substrate side cannot be achieved.

以上のように、上述した技術には、素子基板側から光を入射させる場合には、マイクロレンズの機能を十分に発揮させることができなくなるという技術的問題点がある。   As described above, the above-described technique has a technical problem that when light is incident from the element substrate side, the function of the microlens cannot be sufficiently exhibited.

本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、素子基板側から光を入射させる場合に、表示画像の品質を向上させることが可能な電気光学装置及び電子機器を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, for example, and provides an electro-optical device and an electronic apparatus that can improve the quality of a display image when light is incident from the element substrate side. Let it be an issue.

本発明の電気光学装置は上記課題を解決するために、素子基板の下層側から光が入射される電気光学装置であって、前記素子基板に、画素毎に設けられた画素電極と、前記画素電極に対応して設けられた半導体素子と、前記半導体素子より下層側に設けられており、複数のマイクロレンズを有するマイクロレンズ部とを備える。   In order to solve the above problems, an electro-optical device according to an aspect of the invention is an electro-optical device in which light is incident from a lower layer side of an element substrate, and the pixel electrode provided for each pixel on the element substrate; A semiconductor element provided corresponding to the electrode, and a microlens portion provided on a lower layer side than the semiconductor element and having a plurality of microlenses.

本発明の電気光学装置は、例えば、画素電極及び該画素電極に電気的に接続された画素スイッチング用TFT等である半導体素子が設けられた素子基板と、画素電極に対向する対向電極が設けられた対向基板との間に、液晶等の電気光学物質を挟持してなる。当該電気光学装置の動作時には、画像信号が画素電極へ選択的に供給されることで、複数の画素電極が配列された画素領域(或いは画像表示領域)における画像表示が行われる。尚、画像信号は、例えばデータ線及び画素電極間に電気的に接続された画素スイッチング用TFT等である半導体素子がオンオフされることによって、所定のタイミングでデータ線から半導体素子を介して画素電極に供給される。   The electro-optical device of the present invention includes, for example, an element substrate provided with a pixel electrode and a semiconductor element such as a pixel switching TFT electrically connected to the pixel electrode, and a counter electrode facing the pixel electrode. An electro-optic material such as liquid crystal is sandwiched between the opposite substrate. During the operation of the electro-optical device, an image signal is selectively supplied to the pixel electrode, whereby image display is performed in a pixel region (or image display region) in which a plurality of pixel electrodes are arranged. Note that the image signal is supplied from the data line to the pixel electrode via the semiconductor element at a predetermined timing by turning on and off a semiconductor element such as a pixel switching TFT electrically connected between the data line and the pixel electrode. To be supplied.

本発明の電気光学装置によれば、画像表示の際に入射される光は、素子基板の下層側から入射される。尚、ここでの「下層側」とは、素子基板における電気光学物質に対向しない側を指す。即ち、本発明の電気光学装置では、対向基板側からではなく、素子基板側から入射される。具体的には、例えば白色光源等から出射された光は、先ず素子基板に入射し、その後電気光学物質を透過し、最終的に対向基板から出射する。電気光学装置に入射される光は、例えば液晶等の電気光学物をその配向状態に応じて透過し、対向基板側から表示光として出射される。   According to the electro-optical device of the present invention, the light incident upon image display enters from the lower layer side of the element substrate. Here, the “lower layer side” refers to the side of the element substrate that does not face the electro-optical material. That is, in the electro-optical device of the present invention, the light is incident not from the counter substrate side but from the element substrate side. Specifically, for example, light emitted from a white light source or the like first enters the element substrate, then passes through the electro-optical material, and finally exits from the counter substrate. The light incident on the electro-optical device passes through an electro-optical object such as a liquid crystal according to the alignment state, and is emitted as display light from the counter substrate side.

本発明では特に、素子基板における半導体素子より下層側(言い換えれば、光の入射側)にマイクロレンズ部が設けられている。マイクロレンズ部は、複数のマイクロレンズを有しており、例えばガラス基板の一部を曲面となるようにパターニングし、屈折率の相異なる層を積層することによって設けられている。   In the present invention, in particular, the microlens portion is provided on the lower layer side (in other words, the light incident side) of the semiconductor element in the element substrate. The microlens part has a plurality of microlenses, and is provided, for example, by patterning a part of a glass substrate to be a curved surface and laminating layers having different refractive indexes.

上述したマイクロレンズ部によれば、複数のマイクロレンズによって、素子基板の非開口領域に入射される光を開口領域に向かうように集光することができる。尚、ここでの「開口領域」は、例えば画素領域内において画素毎に表示に寄与する光を出射する領域(言い換えれば、画素領域内において電気光学物質による電気光学動作が実際に行われる領域)を意味し、「非開口領域」は、例えば画素領域のうち開口領域を除く領域、即ち、例えば画素領域内において画素毎に表示に寄与する光が出射しない領域(即ち、画素領域において電気光学物質による電気光学動作が実際に行われない領域)を意味する。素子基板の非開口領域に入射される光を開口領域に向かうように集光することで、光源から入射される光の利用効率(言い換えれば、各画素における光透過率)を高めることができる。   According to the microlens portion described above, the light incident on the non-opening region of the element substrate can be condensed toward the opening region by the plurality of microlenses. Here, the “opening region” is, for example, a region that emits light that contributes to display for each pixel in the pixel region (in other words, a region in which an electro-optical operation by an electro-optical material is actually performed in the pixel region). The “non-opening region” means, for example, a region excluding the opening region in the pixel region, that is, a region where light contributing to display is not emitted for each pixel in the pixel region (that is, an electro-optic material in the pixel region). This is a region where the electro-optic operation is not actually performed. By condensing the light incident on the non-opening region of the element substrate so as to go toward the opening region, it is possible to improve the utilization efficiency of light incident from the light source (in other words, the light transmittance in each pixel).

また、仮にマイクロレンズ部を対向基板側に設ける、或いはマイクロレンズ部を別基板として設ける(即ち、マイクロレンズ基板を独立的に設ける)場合は、マイクロレンズが設けられた部材を素子基板に張り合わせる際に、互いの位置関係が正確になるようにアライメント誤差を考慮することが求められる。一方、本発明では素子基板上に形成される構成要素の一つとしてマイクロレンズ部が設けられているため、このようなアライメント誤差を考慮する必要がない。即ち、マイクロレンズ部の位置合わせを極めて高い精度で行うことが可能となる。アライメント誤差は、縦、横、斜め等様々な方向に発生し、極めて小さい誤差であったとしても、表示画像の品質を大きく低下させてしまうおそれがある。よって、アライメント誤差を考慮せずに済むことで得られる利益は極めて大きい。   Also, if the microlens portion is provided on the counter substrate side, or the microlens portion is provided as a separate substrate (that is, the microlens substrate is provided independently), the member provided with the microlens is attached to the element substrate. At this time, it is required to consider the alignment error so that the mutual positional relationship is accurate. On the other hand, in the present invention, since the microlens portion is provided as one of the components formed on the element substrate, it is not necessary to consider such an alignment error. That is, it becomes possible to perform alignment of the microlens portion with extremely high accuracy. The alignment error occurs in various directions such as vertical, horizontal, and diagonal directions, and even if the error is extremely small, the quality of the display image may be greatly deteriorated. Therefore, the profit obtained by not considering the alignment error is extremely large.

以上説明したように、本発明の電気光学装置によれば、マイクロレンズの開口領域及び非開口領域に対する位置精度を高めることで、極めて効果的に光の利用効率を高めることができる。従って、表示画像の品質を向上させることが可能である。   As described above, according to the electro-optical device of the present invention, it is possible to increase the light use efficiency very effectively by increasing the positional accuracy of the microlens with respect to the opening region and the non-opening region. Therefore, the quality of the display image can be improved.

本発明の電気光学装置の一態様では、前記マイクロレンズ部は、前記マイクロレンズの焦点距離をf、前記画素のピッチをp、前記マイクロレンズから前記半導体素子までの距離をl、前記半導体素子の幅をwとした場合に、前記素子基板を平面的に見て、前記半導体素子に重なる部分で、f≦pl/wの関係を満たす部分を有するように構成されている。   In one aspect of the electro-optical device of the present invention, the microlens unit includes a focal length of the microlens as f, a pitch of the pixel as p, a distance from the microlens to the semiconductor element as l, When the width is w, the element substrate is configured to have a part that satisfies the relationship of f ≦ pl / w in a part overlapping the semiconductor element when viewed in plan.

このように構成すれば、マイクロレンズの焦点距離f、画素のピッチをp、マイクロレンズから半導体素子までの距離l、半導体素子の幅wを夫々適切な値とすることが容易である。そして、マイクロレンズによって屈折させた光が半導体素子に入射してしまうことを、より確実に防止できる。これにより、半導体素子に光源光が入射することで、光リーク電流が発生してしまうことを防止することが出来る。従って、表示画像の品質が低下してしまうことを防止することができる。   With this configuration, it is easy to set the focal length f of the microlens, the pitch of the pixel to p, the distance l from the microlens to the semiconductor element, and the width w of the semiconductor element to appropriate values. And it can prevent more reliably that the light refracted by the micro lens enters into the semiconductor element. Thereby, it is possible to prevent the light leakage current from being generated by the light source light entering the semiconductor element. Therefore, it is possible to prevent the quality of the display image from being deteriorated.

尚、マイクロレンズの焦点距離fは、例えばマイクロレンズ部を構成する材料の屈折率差、マイクロレンズの曲率半径等の各種条件によって決まり、マイクロレンズが凸レンズか凹レンズかによっても変化する。   The focal length f of the microlens is determined by various conditions such as a difference in refractive index of the material constituting the microlens portion, a radius of curvature of the microlens, and the like, and varies depending on whether the microlens is a convex lens or a concave lens.

本態様における「半導体素子」は、上述した態様と同様に、より一般的には、非開口領域を規定する部材のうちマイクロレンズに最も近い部材と言い換えることができる。例えば、半導体素子とマイクロレンズ部との間に半導体素子の遮光性を高めるための遮光膜が設けられる場合には、上述した遮光膜が非開口領域を規定する部材となる。この場合には、マイクロレンズから半導体素子までの距離lをマイクロレンズから遮光膜までの距離、半導体素子の幅wを遮光膜の幅と置き換えて考えればよい。   The “semiconductor element” in this aspect can be paraphrased as a member closest to the microlens among the members defining the non-opening region, as in the above-described aspect. For example, when a light shielding film for improving the light shielding property of the semiconductor element is provided between the semiconductor element and the microlens portion, the above-described light shielding film serves as a member that defines the non-opening region. In this case, the distance 1 from the microlens to the semiconductor element may be replaced with the distance from the microlens to the light shielding film, and the width w of the semiconductor element may be replaced with the width of the light shielding film.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記マイクロレンズ部は、前記素子基板を平面的に見て、互いに隣り合う前記マイクロレンズ同士の境界が前記半導体素子に少なくとも部分的に重なるように形成されている。   In another aspect of the electro-optical device according to the aspect of the invention, the microlens portion is formed so that a boundary between the microlenses adjacent to each other at least partially overlaps the semiconductor element when the element substrate is viewed in plan. Has been.

このように構成すれば、半導体素子に向かって進行する光源光の軌道は、マイクロレンズによって屈折されることで開口領域に集光される。従って、透過率を向上させると共に、光リーク電流の発生を効果的に抑制することができる。尚、マイクロレンズ同士の境界に対して完全な垂直に入射した光は屈折されないおそれがあるが、現実的にはそのような光は全く或いは殆ど無いと考えられるため、影響は無視できるまでに小さい。   If comprised in this way, the track | orbit of the light source light which progresses toward a semiconductor element will be condensed by an opening area | region by being refracted by a micro lens. Therefore, the transmittance can be improved and the occurrence of light leakage current can be effectively suppressed. Note that light that is incident completely perpendicular to the boundary between microlenses may not be refracted, but in reality it is considered that there is no or almost no such light, so the effect is small enough to be ignored. .

尚、本態様における「半導体素子」は、より一般的には、非開口領域を規定する部材のうちマイクロレンズに最も近い部材と言い換えることができる。例えば、半導体素子とマイクロレンズ部との間に半導体素子の遮光性を高めるための遮光膜が設けられる場合には、上述した遮光膜が非開口領域を規定する部材となる。この場合には、マイクロレンズ同士の境界が遮光膜に少なくとも部分的に重なるように形成されればよい。   In addition, the “semiconductor element” in this aspect can be rephrased as a member closest to the microlens among members that define the non-opening region. For example, when a light shielding film for improving the light shielding property of the semiconductor element is provided between the semiconductor element and the microlens portion, the above-described light shielding film serves as a member that defines the non-opening region. In this case, the boundary between the microlenses may be formed so as to at least partially overlap the light shielding film.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記素子基板に対向するように配置された対向基板を備え、前記対向基板には、前記素子基板において隣り合う互いに隣り合う前記画素電極の間に対応する位置に遮光膜が形成されていない。   In another aspect of the electro-optical device according to the aspect of the invention, the counter substrate includes a counter substrate disposed so as to face the element substrate, and the counter substrate corresponds between the pixel electrodes adjacent to each other in the element substrate. The light shielding film is not formed at the position.

この態様によれば、素子基板と対向基板との間の相対的な位置ずれに起因する開口率の低下を回避することができる。加えて、遮光層が対向基板に形成されていないため、基板上の積層構造を簡略化することができる。従って、高精細化や低コスト及び低資源の要請に対応した電気光学装置を実現することができる。   According to this aspect, it is possible to avoid a decrease in the aperture ratio due to the relative displacement between the element substrate and the counter substrate. In addition, since the light shielding layer is not formed on the counter substrate, the stacked structure on the substrate can be simplified. Therefore, it is possible to realize an electro-optical device that meets the demands for high definition, low cost, and low resources.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記半導体素子より下層側且つ前記マイクロレンズより上層側に形成された下側遮光層を備える。   In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the electro-optical device includes a lower light-shielding layer formed on a lower layer side than the semiconductor element and on an upper layer side than the microlens.

この態様によれば、半導体層から見て光源光の入射する側に遮光層を形成することで、より効果的に半導体素子における光リーク電流の発生を防止することができる。上述のように、本発明ではマイクロレンズによって光源光の光路を変更することにより半導体素子における光リーク電流の発生を防止することが可能であるが、それでも尚、少なからず半導体素子に光源光が照射してしまうおそれがある。   According to this aspect, by forming the light shielding layer on the side where the light source light is incident as viewed from the semiconductor layer, it is possible to more effectively prevent the occurrence of light leakage current in the semiconductor element. As described above, in the present invention, it is possible to prevent the occurrence of light leakage current in the semiconductor element by changing the optical path of the light source light by the microlens. However, the semiconductor element is still irradiated with the light source light to some extent. There is a risk of it.

しかるに本態様では、上述したように、より確実に半導体素子における光リーク電流の発生を防止するために、下側遮光層が設けられている。これにより、半導体素子は光源光が入射してしまわないように二重に保護される。   However, in this aspect, as described above, the lower light-shielding layer is provided in order to more reliably prevent the occurrence of light leakage current in the semiconductor element. Thus, the semiconductor element is double protected so that the light source light does not enter.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記マイクロレンズ部は、第1のマイクロレンズ層、及び前記第1のマイクロレンズ層より上層側に設けられた第2のマイクロレンズ層を有するように形成されている。   In another aspect of the electro-optical device according to the aspect of the invention, the microlens unit may include a first microlens layer and a second microlens layer provided on the upper layer side of the first microlens layer. Is formed.

この態様によれば、マイクロレンズ部は、2層のマイクロレンズ層を有するように形成されている。即ち、本態様のマイクロレンズは、所謂ダブルレンズ構造とされている。マイクロレンズ部は、下層側(即ち、光の入射側)の第1のマイクロレンズ層、及び上層側(即ち、光の出射側)の第2のマイクロレンズ層において夫々曲面を有することにより、より正確に光源光の光路を制御することができる。   According to this aspect, the microlens portion is formed to have two microlens layers. That is, the microlens of this aspect has a so-called double lens structure. The microlens part has a curved surface in each of the first microlens layer on the lower layer side (that is, the light incident side) and the second microlens layer on the upper layer side (that is, the light emission side). The optical path of the light source light can be accurately controlled.

焦点距離が短くなるようにレンズの集光度を上げればレンズ層の厚さを薄くすることができるが、集光を強くすると出射した光の広がりが大きくなる。これに対して第1のマイクロレンズ層で強く集光し、第2のマイクロレンズ層で平行に戻すような構成にすれば、一層のマイクロレンズ層のみで形成する場合と比べて全体としてマイクロレンズ部の厚さを薄くすることが可能となる。仮にマイクロレンズ部が厚くなりすぎると、マイクロレンズの焦点距離等の誤差が大きくなる可能性が高くなるおそれがある。これに対し、本態様によれば、マイクロレンズ部の厚さを薄くすることができるため、マイクロレンズの位置合わせが極めて好適に行えるようになる。   If the condensing degree of the lens is increased so that the focal length is shortened, the thickness of the lens layer can be reduced. However, if condensing is strengthened, the spread of the emitted light is increased. On the other hand, if the configuration is such that the first microlens layer strongly condenses and the second microlens layer returns to parallel, the microlens as a whole as compared with the case where it is formed by only one microlens layer. The thickness of the part can be reduced. If the microlens portion becomes too thick, there is a possibility that an error such as a focal length of the microlens becomes large. On the other hand, according to this aspect, since the thickness of the microlens portion can be reduced, the alignment of the microlens can be performed very suitably.

本発明の電気光学装置の他の態様では、前記マイクロレンズ部は、一の前記画素に対して複数のマイクロレンズを有するように形成されている。   In another aspect of the electro-optical device of the present invention, the microlens portion is formed so as to have a plurality of microlenses for one pixel.

この態様によれば、各マイクロレンズの大きさを小さくできるため、同様の曲面で焦点距離を小さくすることができる。従って、焦点距離の誤差を小さくすることができる。加えて、マイクロレンズは、比較的大きいものを一つ形成するより、小さいものを多く形成する方が容易である。従って、製造工程の簡単化を実現できる。   According to this aspect, since the size of each microlens can be reduced, the focal length can be reduced with a similar curved surface. Accordingly, the focal length error can be reduced. In addition, it is easier to form many small lenses than to form one relatively large lens. Therefore, simplification of the manufacturing process can be realized.

本発明の電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置(但し、その各種態様も含む)を備える。   In order to solve the above problems, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described electro-optical device according to the present invention (including various aspects thereof).

本発明の電子機器によれば、上述した本発明に係る電気光学装置を具備してなるので、高品質な表示を行うことが可能な、投射型表示装置、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサー、ビューファインダー型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダー、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明の電子機器として、例えば電子ペーパーなどの電気泳動装置等も実現することも可能である。   According to the electronic apparatus of the present invention, since the electro-optical device according to the present invention described above is included, a projection display device, a television set, a mobile phone, an electronic notebook, a word processor capable of performing high-quality display. Various electronic devices such as a viewfinder type or a monitor direct view type video tape recorder, a workstation, a videophone, a POS terminal, and a touch panel can be realized. In addition, as an electronic apparatus of the present invention, for example, an electrophoretic device such as electronic paper can be realized.

本発明の作用及び他の利得は次に説明する発明を実施するための形態から明らかにされる。   The effect | action and other gain of this invention are clarified from the form for implementing invention demonstrated below.

第1実施形態に係る電気光学装置の全体構成を示す平面図である。1 is a plan view showing an overall configuration of an electro-optical device according to a first embodiment. 図1のH−H´線断面図である。It is the HH 'sectional view taken on the line of FIG. 第1実施形態に係る電気光学装置の画像表示領域を構成する複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図である。FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of various elements and wirings in a plurality of pixels constituting an image display region of the electro-optical device according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置の具体的な構成を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a specific configuration of the electro-optical device according to the first embodiment. 第1実施形態に係る電気光学装置の製造プロセスを、順を追って示す工程断面図(その1)である。FIG. 6 is a process cross-sectional view (part 1) illustrating the manufacturing process of the electro-optical device according to the first embodiment in order. 第1実施形態に係る電気光学装置の製造プロセスを、順を追って示す工程断面図(その2)である。FIG. 9 is a process cross-sectional view (part 2) illustrating the manufacturing process of the electro-optical device according to the first embodiment in order. 第1実施形態に係る電気光学装置の製造プロセスを、順を追って示す工程断面図(その3)である。FIG. 9 is a process cross-sectional view (part 3) illustrating the manufacturing process of the electro-optical device according to the first embodiment in order. 第1実施形態に係る電気光学装置の各部材の位置関係を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a positional relationship among members of the electro-optical device according to the first embodiment. 比較例に係る電気光学装置の構成を示す断面図(その1)である。FIG. 6 is a cross-sectional view (part 1) illustrating a configuration of an electro-optical device according to a comparative example. 比較例に係る電気光学装置の構成を示す断面図(その2)である。FIG. 6 is a cross-sectional view (part 2) illustrating the configuration of an electro-optical device according to a comparative example. 第2実施形態に係る電気光学装置の具体的な構成を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a specific configuration of an electro-optical device according to a second embodiment. 第2実施形態に係る電気光学装置の変形例を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a modification of the electro-optical device according to the second embodiment. 第3実施形態に係る電気光学装置の具体的な構成を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating a specific configuration of an electro-optical device according to a third embodiment. 電気光学装置を適用した電子機器の一例たるプロジェクターの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the projector which is an example of the electronic device to which the electro-optical apparatus is applied.

以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<電気光学装置>
本実施形態に係る電気光学装置について、図1から図13を参照して説明する。尚、以下の実施形態では、本発明の電気光学装置の一例として駆動回路内蔵型のTFT(Thin Film Transistor)アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を挙げて説明する。
<Electro-optical device>
The electro-optical device according to this embodiment will be described with reference to FIGS. In the following embodiments, a liquid crystal device of a TFT (Thin Film Transistor) active matrix driving system with a built-in driving circuit will be described as an example of the electro-optical device of the present invention.

<第1実施形態>
先ず、第1実施形態に係る電気光学装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。ここに図1は、本実施形態に係る電気光学装置の全体構成を示す平面図であり、図2は、図1のH−H´線断面図である。
<First Embodiment>
First, the overall configuration of the electro-optical device according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view showing the overall configuration of the electro-optical device according to the present embodiment, and FIG.

図1及び図2において、本実施形態に係る電気光学装置では、TFTアレイ基板10と対向基板20とが対向配置されている。TFTアレイ基板10は、例えば石英基板、ガラス基板等の透明基板や、シリコン基板等である。尚、本実施形態では特に、TFTアレイ基板10にマイクロレンズが形成されるが、ここでは説明の便宜上、図示を省略している。マイクロレンズについては後に詳述する。対向基板20は、例えば石英基板、ガラス基板等の透明基板である。TFTアレイ基板10と対向基板20との間には、液晶層50が封入されている。液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、一対の配向膜間で所定の配向状態をとる。   1 and 2, in the electro-optical device according to the present embodiment, a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20 are disposed to face each other. The TFT array substrate 10 is, for example, a transparent substrate such as a quartz substrate or a glass substrate, a silicon substrate, or the like. In the present embodiment, a microlens is formed on the TFT array substrate 10 in particular, but the illustration is omitted here for convenience of explanation. The micro lens will be described in detail later. The counter substrate 20 is a transparent substrate such as a quartz substrate or a glass substrate. A liquid crystal layer 50 is sealed between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20. The liquid crystal layer 50 is made of, for example, a liquid crystal in which one or several types of nematic liquid crystals are mixed, and takes a predetermined alignment state between a pair of alignment films.

TFTアレイ基板10と対向基板20とは、複数の画素電極が設けられた画像表示領域100の周囲に位置するシール領域に設けられたシール材52により、相互に接着されている。   The TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded to each other by a sealing material 52 provided in a sealing region located around the image display region 100 provided with a plurality of pixel electrodes.

シール材52は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材52中には、TFTアレイ基板10と対向基板20との間隔(即ち、基板間ギャップ)を所定値とするためのグラスファイバー或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。尚、ギャップ材を、シール材52に混入されるものに加えて若しくは代えて、画像表示領域100又は画像表示領域100の周辺に位置する周辺領域に、配置するようにしてもよい。   The sealing material 52 is made of, for example, an ultraviolet curable resin, a thermosetting resin, or the like for bonding the two substrates, and is applied on the TFT array substrate 10 in the manufacturing process and then cured by ultraviolet irradiation, heating, or the like. It is. In the sealing material 52, a gap material such as glass fiber or glass beads for dispersing the distance between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20 (that is, the inter-substrate gap) to a predetermined value is dispersed. Note that the gap material may be arranged in the image display region 100 or a peripheral region located around the image display region 100 in addition to or instead of the material mixed in the seal material 52.

周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に隣接する2辺に沿うようにして設けられている。更に、このように画像表示領域100の両側に設けられた二つの走査線駆動回路104間をつなぐため、TFTアレイ基板10の残る一辺に沿うようにして複数の配線105が設けられている。   A data line driving circuit 101 and an external circuit connection terminal 102 are provided along one side of the TFT array substrate 10 in a region located outside the sealing region in which the sealing material 52 is disposed in the peripheral region. The scanning line driving circuit 104 is provided along two sides adjacent to the one side. Further, in order to connect the two scanning line driving circuits 104 provided on both sides of the image display region 100 in this way, a plurality of wirings 105 are provided along the remaining side of the TFT array substrate 10.

TFTアレイ基板10上における対向基板20の4つのコーナー部に対向する領域には、両基板間を上下導通材で接続するための上下導通端子106が配置されている。これらにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができる。   In a region facing the four corners of the counter substrate 20 on the TFT array substrate 10, vertical conduction terminals 106 for connecting the two substrates with a vertical conduction material are arranged. Thus, electrical conduction can be established between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 20.

図2において、TFTアレイ基板10上には、駆動素子である画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。この積層構造の詳細な構成については図2では図示を省略してあるが、この積層構造の上に、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明材料からなる画素電極9aが、画素毎に所定のパターンで島状に形成されている。   In FIG. 2, on the TFT array substrate 10, a layered structure is formed in which pixel switching TFTs as drive elements, wiring lines such as scanning lines and data lines are formed. Although the detailed configuration of this laminated structure is not shown in FIG. 2, pixel electrodes 9a made of a transparent material such as ITO (Indium Tin Oxide) are provided on the laminated structure with a predetermined pattern for each pixel. It is formed in an island shape.

画素電極9aは、対向電極21に対向するように、TFTアレイ基板10上の画像表示領域100に形成されている。TFTアレイ基板10における液晶層50の面する側の表面、即ち画素電極9a上には、配向膜16が画素電極9aを覆うように形成されている。   The pixel electrode 9 a is formed in the image display region 100 on the TFT array substrate 10 so as to face the counter electrode 21. On the surface of the TFT array substrate 10 facing the liquid crystal layer 50, that is, on the pixel electrode 9a, an alignment film 16 is formed so as to cover the pixel electrode 9a.

対向基板20上には、ITO等の透明材料からなる対向電極21が複数の画素電極9aと対向するように形成されている。また対向基板20上には、画像表示領域100においてカラー表示を行うために、開口領域及び非開口領域の一部を含む領域に、図2には図示しないカラーフィルターが形成されるようにしてもよい。対向基板20の対向面上における、対向電極21上には、配向膜22が形成されている。   On the counter substrate 20, a counter electrode 21 made of a transparent material such as ITO is formed so as to face the plurality of pixel electrodes 9a. On the counter substrate 20, in order to perform color display in the image display region 100, a color filter (not shown in FIG. 2) may be formed in a region including a part of the opening region and the non-opening region. Good. An alignment film 22 is formed on the counter electrode 21 on the counter surface of the counter substrate 20.

本実施形態に係る電気光学装置は、その動作時には、液晶層50に対してTFTアレイ基板10側から光源光が入射され、この入射した光源光を液晶層50の配向状態に応じて透過し、対向基板20側に表示光として出射することにより、画像表示領域100において画像を表示する。   When the electro-optical device according to the present embodiment operates, light source light is incident on the liquid crystal layer 50 from the TFT array substrate 10 side, and the incident light source light is transmitted according to the alignment state of the liquid crystal layer 50. An image is displayed in the image display region 100 by emitting the display light to the counter substrate 20 side.

尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基板10上には、上述したデータ線駆動回路101、走査線駆動回路104等の駆動回路に加えて、画像信号線上の画像信号をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回路、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよい。   In addition to the above-described drive circuits such as the data line drive circuit 101 and the scanning line drive circuit 104, the image signal on the image signal line is sampled on the TFT array substrate 10 shown in FIGS. Sampling circuit that supplies lines, precharge circuit that supplies pre-charge signals of a predetermined voltage level to multiple data lines in advance of image signals, inspection of quality, defects, etc. of the electro-optical device during production or shipment An inspection circuit or the like may be formed.

次に、本実施形態に係る電気光学装置の画素部の電気的な構成について、図3を参照して説明する。ここに図3は、本実施形態に係る電気光学装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図である。   Next, an electrical configuration of the pixel portion of the electro-optical device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of various elements, wirings, and the like in a plurality of pixels formed in a matrix forming the image display area of the electro-optical device according to this embodiment.

図3において、画像表示領域100を構成するマトリクス状に形成された複数の画素の各々には、画素電極9a及びTFT30が形成されている。TFT30は、画素電極9aに電気的に接続されており、本実施形態に係る電気光学装置の動作時に画素電極9aをスイッチング制御する。画像信号が供給されるデータ線6aは、TFT30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、・・・、Snは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。   In FIG. 3, a pixel electrode 9 a and a TFT 30 are formed in each of a plurality of pixels formed in a matrix that forms the image display region 100. The TFT 30 is electrically connected to the pixel electrode 9a, and performs switching control of the pixel electrode 9a during the operation of the electro-optical device according to the present embodiment. The data line 6a to which the image signal is supplied is electrically connected to the source of the TFT 30. The image signals S1, S2,..., Sn to be written to the data lines 6a may be supplied line-sequentially in this order, or may be supplied for each group to a plurality of adjacent data lines 6a. May be.

TFT30のゲートには、走査線11が電気的に接続されており、本実施形態に係る電気光学装置は、所定のタイミングで、走査線11にパルス的に走査信号G1、G2、・・・、Gmを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、・・・、Snが所定のタイミングで書き込まれる。画素電極9aを介して電気光学物質の一例としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、・・・、Snは、対向基板に形成された対向電極との間で一定期間保持される。   The scanning line 11 is electrically connected to the gate of the TFT 30, and the electro-optical device according to the present embodiment pulses the scanning signals G 1, G 2,. Gm is applied in this order in a line sequential manner. The pixel electrode 9a is electrically connected to the drain of the TFT 30, and the image signal S1, S2,... Supplied from the data line 6a is closed by closing the switch of the TFT 30 serving as a switching element for a certain period. Sn is written at a predetermined timing. A predetermined level of image signals S1, S2,..., Sn written in the liquid crystal as an example of the electro-optical material via the pixel electrode 9a is held for a certain period with the counter electrode formed on the counter substrate. The

液晶層50(図2参照)を構成する液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。例えば、ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として電気光学装置からは画像信号に応じたコントラストをもつ光が出射される。   The liquid crystal constituting the liquid crystal layer 50 (see FIG. 2) modulates light and enables gradation display by changing the orientation and order of the molecular assembly depending on the applied voltage level. For example, in the normally white mode, the transmittance for incident light is reduced according to the voltage applied in units of each pixel. In the normally black mode, the transmittance is applied in units of each pixel. As a result, the transmittance for incident light is increased, and light having a contrast corresponding to an image signal is emitted from the electro-optical device as a whole.

ここで保持された画像信号がリークすることを防ぐために、画素電極9aと対向電極21(図2参照)との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付加されている。蓄積容量70は、画像信号の供給に応じて各画素電極9aの電位を一時的に保持する保持容量として機能する容量素子である。蓄積容量70の一方の電極は、画素電極9aと並列してTFT30のドレインに電気的に接続され、他方の電極は、定電位となるように、電位固定の容量線300に電気的に接続されている。蓄積容量70によれば、画素電極9aにおける電位保持特性が向上し、コントラスト向上やフリッカーの低減といった表示特性の向上が可能となる。   In order to prevent the image signal held here from leaking, a storage capacitor 70 is added in parallel with the liquid crystal capacitor formed between the pixel electrode 9a and the counter electrode 21 (see FIG. 2). The storage capacitor 70 is a capacitive element that functions as a storage capacitor that temporarily holds the potential of each pixel electrode 9a in response to supply of an image signal. One electrode of the storage capacitor 70 is electrically connected to the drain of the TFT 30 in parallel with the pixel electrode 9a, and the other electrode is electrically connected to the capacitor line 300 having a fixed potential so as to have a constant potential. ing. According to the storage capacitor 70, the potential holding characteristic of the pixel electrode 9a is improved, and the display characteristics such as improvement of contrast and reduction of flicker can be improved.

次に、本実施形態に係る電気光学装置のより具体的な構成について、図4を参照して説明する。ここに図4は、第1実施形態に係る電気光学装置の具体的な構成を示す断面図である。尚、図4においては、各層・各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、該各層・各部材ごとに縮尺を異ならしめてある。   Next, a more specific configuration of the electro-optical device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a specific configuration of the electro-optical device according to the first embodiment. In FIG. 4, the scale of each layer / member is different for each layer / member so that each layer / member can be recognized on the drawing.

図4において、本実施形態に係る電気光学装置は、TFTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50を挟持してなる。TFTアレイ基板10上には、図3を参照して説明した画素部の各回路要素が、パターン化され、積層された導電膜として構築されている。より具体的には、TFTアレイ基板10上には、走査線11、TFT30を構成する半導体層30a、データ線6、及び画素電極9が下層側からこの順に積層されている。また、走査線11と半導体層30aとの間には下地絶縁膜40が設けられ、半導体層30aとデータ線6との間には第1層間絶縁膜41が設けられ、データ線6と画素電極9との間には第2層間絶縁膜42が設けられている。尚、ここでは図示しない導電層や遮光層、層間絶縁膜等が存在するように構成されてもよい。   4, the electro-optical device according to this embodiment includes a liquid crystal layer 50 sandwiched between a TFT array substrate 10 and a counter substrate 20. On the TFT array substrate 10, each circuit element of the pixel portion described with reference to FIG. 3 is structured as a conductive film that is patterned and laminated. More specifically, the scanning line 11, the semiconductor layer 30a constituting the TFT 30, the data line 6, and the pixel electrode 9 are stacked in this order from the lower layer side on the TFT array substrate 10. Further, a base insulating film 40 is provided between the scanning line 11 and the semiconductor layer 30a, a first interlayer insulating film 41 is provided between the semiconductor layer 30a and the data line 6, and the data line 6 and the pixel electrode are provided. 9 is provided with a second interlayer insulating film 42. Here, a conductive layer, a light shielding layer, an interlayer insulating film, etc. (not shown) may be present.

半導体層30aは、本発明の「半導体素子」の一例であり、例えばポリシリコン等を含んで構成されている。半導体層30aは、例えばソース領域、ドレイン領域、並びにソース領域及びドレイン領域間に位置するチャネル領域を有するように構成される。また半導体層30aは、不純物の打ち込み濃度を調整することによって、LDD(Lightly Doped Drain)領域を有するように構成されてもよい。   The semiconductor layer 30a is an example of the “semiconductor element” in the present invention, and includes, for example, polysilicon. The semiconductor layer 30a is configured to have, for example, a source region, a drain region, and a channel region located between the source region and the drain region. Further, the semiconductor layer 30a may be configured to have an LDD (Lightly Doped Drain) region by adjusting the impurity implantation concentration.

走査線11は、例えば半導体層30aの上層側にゲート絶縁膜等を介して対向するように設けられるゲート電極(図示せず)とコンタクトホールによって電気的に接続される。TFT30は、走査線11と電気的に接続されたゲート電極及び半導体層30aによって構成される。或いは、TFT30は、走査線11のうち半導体層30aのチャネル領域に対向する部分がTFT30のゲート電極として機能するような、ボトムゲート型のTFTとして構成されてもよい。走査線11は、遮光性を有する材料を含んで構成されており、半導体層30aに対して光源光が入射してしまうことを防止する機能を有している。即ち、本実施形態に係る走査線11は、本発明の「下側遮光層」の一例である。   For example, the scanning line 11 is electrically connected by a contact hole to a gate electrode (not shown) provided to face the upper layer side of the semiconductor layer 30a via a gate insulating film or the like. The TFT 30 includes a gate electrode electrically connected to the scanning line 11 and a semiconductor layer 30a. Alternatively, the TFT 30 may be configured as a bottom gate type TFT in which a portion of the scanning line 11 facing the channel region of the semiconductor layer 30 a functions as the gate electrode of the TFT 30. The scanning line 11 includes a light-shielding material and has a function of preventing light source light from entering the semiconductor layer 30a. That is, the scanning line 11 according to the present embodiment is an example of the “lower light shielding layer” in the present invention.

データ線6は、例えばアルミ等の導電材料を含んで構成されており、第1層間絶縁膜41に開孔されたコンタクトホールを介して半導体層30aのソース領域に電気的に接続されている。   The data line 6 includes a conductive material such as aluminum, and is electrically connected to the source region of the semiconductor layer 30a through a contact hole opened in the first interlayer insulating film 41.

画素電極9は、第1層間絶縁膜41及び第2層間42に開孔されたコンタクトホールを介して半導体層30aのドレイン領域に電気的に接続されている。   The pixel electrode 9 is electrically connected to the drain region of the semiconductor layer 30 a through a contact hole opened in the first interlayer insulating film 41 and the second interlayer 42.

走査線11、半導体層30a及びデータ線6は、TFTアレイ基板10上における画素毎の開口領域を除く非開口領域に設けられている。尚、開口領域とは、画像表示領域100(図1参照)内において画素毎に表示に寄与する光を出射する領域であり、非開口領域は、画像表示領域100のうち開口領域を除く領域、即ち、画像表示領域100内において画素毎に表示に寄与する光が出射しない領域である。非開口領域は、典型的には、画素毎の開口領域を互いに隔てる格子状の平面形状を有している。   The scanning line 11, the semiconductor layer 30a, and the data line 6 are provided in a non-opening area on the TFT array substrate 10 excluding an opening area for each pixel. The open area is an area that emits light contributing to display for each pixel in the image display area 100 (see FIG. 1), and the non-open area is an area of the image display area 100 excluding the open area, That is, it is an area where light contributing to display is not emitted for each pixel in the image display area 100. The non-opening region typically has a lattice-like planar shape that separates the opening regions for each pixel from each other.

本実施形態では特に、TFTアレイ基板10にマイクロレンズ部200が設けられている。マイクロレンズ部200は、TFTアレイ基板10の画素電極9等が設けられた側の基板面(即ち、TFTアレイ基板10における入射光が入射される基板面とは異なる基板面)に、複数のマイクロレンズ210が形成されてなる。   In this embodiment, in particular, the microlens unit 200 is provided on the TFT array substrate 10. The microlens unit 200 includes a plurality of microlenses on a substrate surface of the TFT array substrate 10 on which the pixel electrodes 9 and the like are provided (that is, a substrate surface different from the substrate surface on which incident light is incident on the TFT array substrate 10). A lens 210 is formed.

ここでマイクロレンズ部200の製造工程について、図5から図8を参照して説明する。ここに図5から図7は夫々、第1実施形態に係る電気光学装置の製造プロセスを、順を追って示す工程断面図である。また図8は、第1実施形態に係る電気光学装置の各部材の位置関係を示す断面図である。   Here, a manufacturing process of the microlens unit 200 will be described with reference to FIGS. FIGS. 5 to 7 are process cross-sectional views sequentially showing the manufacturing process of the electro-optical device according to the first embodiment. FIG. 8 is a cross-sectional view showing the positional relationship of each member of the electro-optical device according to the first embodiment.

図5から図7において、マイクロレンズ部200の製造工程では、先ずTFTアレイ基板10の一部である第1層10aに、マイクロレンズ210をなす曲面がパターニングされる。続いて、第1層10a上にマイクロレンズ210をなす曲面が形成されると、その上から、第1層10aとは異なる屈折率を有する第2層10bが積層される。第2層10bの表面は、例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学機械研磨)処理等の平坦化処理によって平坦化される。平坦化された第2層10bの上層には、図4に示したように走査線11、半導体30a、データ線6a等の各部材が積層される。   5 to 7, in the manufacturing process of the microlens unit 200, first, the curved surface forming the microlens 210 is patterned on the first layer 10 a that is a part of the TFT array substrate 10. Subsequently, when the curved surface forming the microlens 210 is formed on the first layer 10a, the second layer 10b having a refractive index different from that of the first layer 10a is laminated thereon. The surface of the second layer 10b is flattened by a flattening process such as a CMP (Chemical Mechanical Polishing) process. Each member such as the scanning line 11, the semiconductor 30a, and the data line 6a is laminated on the flattened second layer 10b as shown in FIG.

図8において、本実施形態に係る電気光学装置では特に、マイクロレンズ部200は、マイクロレンズ210の焦点距離をf、画素のピッチをp、マイクロレンズ210から走査線11までの距離をl、走査線11の幅をwとした場合に、非開口領域となる部分で下記の式(1)を満たす部分を有するように形成されている。   In FIG. 8, particularly in the electro-optical device according to the present embodiment, the microlens unit 200 scans the microlens 210 with the focal length f, the pixel pitch p, the distance from the microlens 210 to the scanning line 11, and the scanning. When the width of the line 11 is w, it is formed so as to have a portion that satisfies the following formula (1) in a portion that becomes a non-opening region.

f≦pl/w ・・・(1)
このように構成すれば、マイクロレンズ210を透過した光源光が半導体素子30aに入射しないように、その光路を制御することができる。つまり、半導体素子30aに光源光が入射することによって、光リーク電流が発生してしまうことを防止することが出来る。尚、マイクロレンズの焦点距離fは、例えばマイクロレンズの材料、厚み及び表面の曲率等を変更することによって、適宜調整することができる。
f ≦ pl / w (1)
If comprised in this way, the optical path can be controlled so that the light source light which permeate | transmitted the micro lens 210 may not inject into the semiconductor element 30a. That is, it is possible to prevent the light leakage current from being generated when the light source light is incident on the semiconductor element 30a. The focal length f of the microlens can be adjusted as appropriate by changing the material, thickness, surface curvature, etc. of the microlens, for example.

更に、上述したマイクロレンズ部200によれば、TFTアレイ基板10の一方の基板面側から非開口領域に入射しようとする光を、画素毎の開口領域に向かうように屈折して集光させることができる。例えば、TFTアレイ基板10に入射された光は、図4中の矢印で示すような方向に屈折される。従って、光源から入射される光の利用効率(言い換えれば、各画素における光透過率)を高めることができる。   Furthermore, according to the microlens unit 200 described above, light that is about to enter the non-opening region from one substrate surface side of the TFT array substrate 10 is refracted and condensed toward the opening region for each pixel. Can do. For example, the light incident on the TFT array substrate 10 is refracted in a direction as indicated by an arrow in FIG. Therefore, the utilization efficiency of light incident from the light source (in other words, the light transmittance in each pixel) can be increased.

次に、本実施形態に係る電気光学装置によってもたらされる更なる効果について、図4に加えて、図9及び図10を参照して説明する。ここに図9及び図10は夫々、比較例に係る電気光学装置の構成を示す断面図である。   Next, further effects brought about by the electro-optical device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 9 and 10 in addition to FIG. 9 and 10 are cross-sectional views illustrating the configuration of the electro-optical device according to the comparative example.

先ず図9に示すように、マイクロレンズ部200が対向基板20側に設けられている比較例を考える。尚、光源光は、TFTアレイ基板10側からではなく、対向基板20側から入射されるものとする。   First, as shown in FIG. 9, consider a comparative example in which the microlens unit 200 is provided on the counter substrate 20 side. It is assumed that the light source light is incident not from the TFT array substrate 10 side but from the counter substrate 20 side.

図9に示す比較例に係る電気光学装置では、TFTアレイ基板10側と対向基板20とを互いに張り合わせる際に、相対的な位置関係が正確になるようにアライメント誤差を考慮することが求められる。即ち、対向基板20側のマイクロレンズ部200と、TFTアレイ基板10側の非開口領域を規定する部材との相対的な位置関係を調整することが求められる。   In the electro-optical device according to the comparative example shown in FIG. 9, when the TFT array substrate 10 side and the counter substrate 20 are attached to each other, it is required to consider alignment errors so that the relative positional relationship is accurate. . That is, it is required to adjust the relative positional relationship between the microlens portion 200 on the counter substrate 20 side and the member that defines the non-opening region on the TFT array substrate 10 side.

一方、図4に示した本実施形態に係る電気光学装置では、TFTアレイ基板10上にマイクロレンズ部200が設けられているため、このようなアライメント誤差を考慮する必要がない。よって、マイクロレンズ部200の位置合わせを極めて高い精度で行うことが可能となる。マイクロレンズ部200の位置合わせ精度を高めることで、各画素における光透過率を向上させることが可能となる。   On the other hand, in the electro-optical device according to this embodiment shown in FIG. 4, since the microlens portion 200 is provided on the TFT array substrate 10, it is not necessary to consider such an alignment error. Therefore, the alignment of the microlens unit 200 can be performed with extremely high accuracy. By increasing the alignment accuracy of the microlens unit 200, the light transmittance in each pixel can be improved.

更に、図9に示す比較例に係る電気光学装置では、対向基板20上に、例えばブラックマトリクス等の遮光膜23を設けることが求められる。一方、図4に示した本実施形態に係る電気光学装置では、図9に示すような遮光膜23は設けられない(言い換えれば、対向基板20側には少なくとも対向電極21及び配向膜を設ければよい)ので、装置の製造が容易となり、製造プロセスにおける工程数の削減や歩留まりの向上を図ることも可能となる。   Furthermore, in the electro-optical device according to the comparative example illustrated in FIG. 9, it is required to provide a light shielding film 23 such as a black matrix on the counter substrate 20. On the other hand, in the electro-optical device according to this embodiment shown in FIG. 4, the light shielding film 23 as shown in FIG. 9 is not provided (in other words, at least the counter electrode 21 and the alignment film are provided on the counter substrate 20 side). Therefore, the device can be easily manufactured, and the number of steps in the manufacturing process can be reduced and the yield can be improved.

次に、図10に示すように、マイクロレンズ部200がTFTアレイ基板10側と別体として設けられている比較例を考える。即ち、マイクロレンズ部200がマイクロレンズ基板500として設けられ、マイクロレンズ基板500がTFTアレイ基板10に貼付けられて構成される場合を考える。   Next, consider a comparative example in which the microlens portion 200 is provided separately from the TFT array substrate 10 side as shown in FIG. That is, a case where the microlens unit 200 is provided as the microlens substrate 500 and the microlens substrate 500 is attached to the TFT array substrate 10 is considered.

図10に示す比較例に係る電気光学装置では、マイクロレンズ部200がマイクロレンズ基板500として設けられているため、マイクロレンズ基板500をTFTアレイ基板10に貼り合わせる際に、アライメント誤差を考慮することが求められてしまう。即ち、図10に示す比較例においても、図9で示す比較例と同様の問題が発生してしまう。   In the electro-optical device according to the comparative example illustrated in FIG. 10, since the microlens unit 200 is provided as the microlens substrate 500, an alignment error is taken into account when the microlens substrate 500 is bonded to the TFT array substrate 10. Is required. That is, the same problem as the comparative example shown in FIG. 9 also occurs in the comparative example shown in FIG.

更に、図10で示す比較例に係る電気光学装置では、マイクロレンズ基板500の厚さ分だけ、マイクロレンズ210と走査線11(即ち、非開口領域を規定する部材)との距離が大きくなってしまう。この距離が大きくなってしまうと、上述したアライメント誤差はより大きなものとなってしまう。これに対し、図4に示した本実施形態に係る電気光学装置では、マイクロレンズ210と走査線11との距離を比較的小さいものとすることが可能である。従って、マイクロレンズ部200の位置合わせを極めて高い精度で行うことが可能となる。   Furthermore, in the electro-optical device according to the comparative example shown in FIG. 10, the distance between the microlens 210 and the scanning line 11 (that is, the member that defines the non-opening region) is increased by the thickness of the microlens substrate 500. End up. As this distance increases, the alignment error described above becomes larger. On the other hand, in the electro-optical device according to the present embodiment shown in FIG. 4, the distance between the microlens 210 and the scanning line 11 can be made relatively small. Therefore, the alignment of the micro lens unit 200 can be performed with extremely high accuracy.

以上説明したように、第1実施形態に係る電気光学装置によれば、マイクロレンズの開口領域及び非開口領域に対する位置精度を高めることで、極めて効果的に光の利用効率を高めることができる。従って、表示画像の品質を向上させることが可能である。   As described above, according to the electro-optical device according to the first embodiment, the use efficiency of light can be extremely effectively increased by increasing the positional accuracy of the microlens with respect to the opening region and the non-opening region. Therefore, the quality of the display image can be improved.

<第2実施形態>
次に、第2実施形態に係る電気光学装置について、図11及び図12を参照して説明する。ここに図11は、第2実施形態に係る電気光学装置の具体的な構成を示す断面図であり、図12は、第2実施形態に係る電気光学装置の変形例を示す断面図である。尚、第2実施形態は、上述の第1実施形態と比べて、マイクロレンズ部の一部の構成が異なり、その他の構成については概ね同様である。このため第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分について詳細に説明し、その他の重複する部分については適宜説明を省略する。
Second Embodiment
Next, an electro-optical device according to a second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 11 is a cross-sectional view showing a specific configuration of the electro-optical device according to the second embodiment, and FIG. 12 is a cross-sectional view showing a modification of the electro-optical device according to the second embodiment. The second embodiment differs from the first embodiment described above in the configuration of a part of the microlens unit, and the other configurations are substantially the same. Therefore, in the second embodiment, portions different from the first embodiment will be described in detail, and descriptions of other overlapping portions will be omitted as appropriate.

図11において、第2実施形態に係る電気光学装置は、TFTアレイ基板10にマイクロレンズ部200を2つ備えて構成されている。具体的には、TFTアレイ基板10には、第1のマイクロレンズ層200a及び第2のマイクロレンズ層200bが形成されている。尚、第1のマイクロレンズ層200aは凸レンズ、第2のマイクロレンズ層200bは凹レンズとして形成されている。   In FIG. 11, the electro-optical device according to the second embodiment is configured by including two microlens portions 200 on the TFT array substrate 10. Specifically, the TFT array substrate 10 is formed with a first microlens layer 200a and a second microlens layer 200b. The first microlens layer 200a is formed as a convex lens, and the second microlens layer 200b is formed as a concave lens.

マイクロレンズ部200が2つの層を有することで、図11中の矢印で示すように、第1のマイクロレンズ層200aで集光した光を、第2のマイクロレンズ層200bで拡散させるような構成も実現可能である。焦点距離が短くなるようにレンズの集光度を上げればレンズ層の厚さを薄くすることができるが、集光を強くすると出射した光の広がりが大きくなる。これに対して第1のマイクロレンズ層200aで強く集光し、第2のマイクロレンズ層200bで平行に戻すような構成にすれば、一層のマイクロレンズ層のみで形成する場合と比べて全体としてマイクロレンズ部200の厚さを薄くすることが可能となる。   Since the microlens part 200 has two layers, the light condensed by the first microlens layer 200a is diffused by the second microlens layer 200b as shown by the arrows in FIG. Is also feasible. If the condensing degree of the lens is increased so that the focal length is shortened, the thickness of the lens layer can be reduced. However, if condensing is strengthened, the spread of the emitted light is increased. On the other hand, if the configuration is such that the first microlens layer 200a condenses strongly and the second microlens layer 200b returns to the parallel state, as a whole, as compared to the case where only one microlens layer is formed. It is possible to reduce the thickness of the microlens unit 200.

仮にマイクロレンズ部200が厚くなりすぎると、マイクロレンズ210の焦点距離等の誤差が大きくなる可能性が高くなるおそれがある。これに対し、第2実施形態に係る電気光学装置では、マイクロレンズ部200の厚さを薄くすることができるため、マイクロレンズ210の位置合わせが極めて好適に行えるようになる。   If the microlens portion 200 becomes too thick, there is a possibility that an error such as a focal length of the microlens 210 may increase. On the other hand, in the electro-optical device according to the second embodiment, since the thickness of the microlens portion 200 can be reduced, the alignment of the microlens 210 can be performed very suitably.

図12に示すように、第1のマイクロレンズ層200a及び第2のマイクロレンズ層200bは、共に凸レンズとして形成されてもよい。マイクロレンズ210の屈折率は、マイクロレンズ210を境界とする2つの材料の屈折率の違いによって決定される。従って、マイクロレンズの形状は、適宜設定可能であり、第1のマイクロレンズ層200a及び第2のマイクロレンズ層200bが共に凹レンズとして形成されてもよいし、第1のマイクロレンズ層200aは凹レンズ、第2のマイクロレンズ層200bは凸レンズとして形成されてもよい。   As shown in FIG. 12, both the first microlens layer 200a and the second microlens layer 200b may be formed as convex lenses. The refractive index of the microlens 210 is determined by the difference in refractive index between the two materials having the microlens 210 as a boundary. Therefore, the shape of the microlens can be set as appropriate, and both the first microlens layer 200a and the second microlens layer 200b may be formed as concave lenses, or the first microlens layer 200a may be a concave lens, The second microlens layer 200b may be formed as a convex lens.

以上説明したように、第2実施形態に係る電気光学装置によれば、2層のマイクロレンズ層を有することで、より効果的に光の利用効率を高めることができる。従って、表示画像の品質をより高く向上させることが可能である。   As described above, according to the electro-optical device according to the second embodiment, the use efficiency of light can be more effectively increased by including the two microlens layers. Therefore, it is possible to improve the quality of the display image higher.

<第3実施形態>
次に、第3実施形態に係る電気光学装置について、図13を参照して説明する。ここに図13は、第3実施形態に係る電気光学装置の具体的な構成を示す断面図である。尚、第3実施形態は、上述の第1実施形態と比べて、マイクロレンズ部の一部の構成が異なり、その他の構成については概ね同様である。このため第3実施形態では、第1実施形態と異なる部分について詳細に説明し、その他の重複する部分については適宜説明を省略する。
<Third Embodiment>
Next, an electro-optical device according to a third embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 13 is a cross-sectional view showing a specific configuration of the electro-optical device according to the third embodiment. Note that the third embodiment differs from the first embodiment described above in a part of the configuration of the microlens unit, and the other configurations are substantially the same. Therefore, in the third embodiment, portions different from the first embodiment will be described in detail, and description of other overlapping portions will be omitted as appropriate.

図13において、第3実施形態に係る電気光学装置は、マイクロレンズ部200が、一の画素に対して複数のマイクロレンズ210を有するように構成されている。よって、上述した第1及び第2実施形態と比べると、小さめのマイクロレンズ210が、多く形成されているような構成とされている。   In FIG. 13, the electro-optical device according to the third embodiment is configured such that the microlens unit 200 has a plurality of microlenses 210 for one pixel. Therefore, as compared with the first and second embodiments described above, the configuration is such that many smaller microlenses 210 are formed.

マイクロレンズ210の大きさを小さくすることで、同様の曲面であっても、マイクロレンズ210の焦点距離を小さくすることができる。従って、焦点距離の誤差を小さくすることができる。加えて、マイクロレンズ210は、比較的大きいものを一つ形成するより、小さいものを多く形成する方が容易である。従って、製造工程の簡単化も実現できる。   By reducing the size of the microlens 210, the focal length of the microlens 210 can be reduced even with a similar curved surface. Accordingly, the focal length error can be reduced. In addition, it is easier to form many small microlenses 210 than to form one relatively large one. Therefore, the manufacturing process can be simplified.

以上説明したように、第3実施形態に係る電気光学装置によれば、より効果的に光の利用効率を高めることができると共に、製造工程の簡単化も実現可能である。   As described above, according to the electro-optical device according to the third embodiment, the light use efficiency can be increased more effectively, and the manufacturing process can be simplified.

<電子機器>
次に、上述した電気光学装置である液晶装置を各種の電子機器に適用する場合について説明する。ここに図14は、プロジェクターの構成例を示す平面図である。以下では、この液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクターについて説明する。
<Electronic equipment>
Next, the case where the liquid crystal device which is the above-described electro-optical device is applied to various electronic devices will be described. FIG. 14 is a plan view showing a configuration example of the projector. Hereinafter, a projector using the liquid crystal device as a light valve will be described.

図14に示されるように、プロジェクター1100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット1102が設けられている。このランプユニット1102から射出された投射光は、ライトガイド1104内に配置された4枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミラー1108によってRGBの3原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル1110R、1110B及び1110Gに入射される。   As shown in FIG. 14, a lamp unit 1102 including a white light source such as a halogen lamp is provided inside the projector 1100. The projection light emitted from the lamp unit 1102 is separated into three primary colors of RGB by four mirrors 1106 and two dichroic mirrors 1108 arranged in the light guide 1104, and serves as a light valve corresponding to each primary color. The light enters the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G.

液晶パネル1110R、1110B及び1110Gの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるR、G、Bの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム1112に3方向から入射される。このダイクロイックプリズム1112においては、R及びBの光が90度に屈折する一方、Gの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ1114を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。   The configurations of the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G are the same as those of the liquid crystal device described above, and are driven by R, G, and B primary color signals supplied from the image signal processing circuit. The light modulated by these liquid crystal panels enters the dichroic prism 1112 from three directions. In the dichroic prism 1112, R and B light is refracted at 90 degrees, while G light travels straight. Therefore, as a result of the synthesis of the images of the respective colors, a color image is projected onto the screen or the like via the projection lens 1114.

ここで、各液晶パネル1110R、1110B及び1110Gによる表示像について着目すると、液晶パネル1110Gによる表示像は、液晶パネル1110R、1110Bによる表示像に対して左右反転することが必要となる。   Here, paying attention to the display images by the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G, the display image by the liquid crystal panel 1110G needs to be horizontally reversed with respect to the display images by the liquid crystal panels 1110R and 1110B.

尚、液晶パネル1110R、1110B及び1110Gには、ダイクロイックミラー1108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルターを設ける必要はない。   Since light corresponding to the primary colors R, G, and B is incident on the liquid crystal panels 1110R, 1110B, and 1110G by the dichroic mirror 1108, it is not necessary to provide a color filter.

尚、図14を参照して説明した電子機器の他にも、モバイル型のパーソナルコンピュータや、携帯電話、液晶テレビや、ビューファインダー型、モニタ直視型のビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳、電卓、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた装置等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。   In addition to the electronic device described with reference to FIG. 14, a mobile personal computer, a mobile phone, an LCD TV, a viewfinder type, a monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic device Examples include notebooks, calculators, word processors, workstations, videophones, POS terminals, and devices with touch panels. Needless to say, the present invention can be applied to these various electronic devices.

また、本発明は上述の各実施形態で説明した液晶装置以外にも反射型液晶装置(LCOS)、プラズマディスプレイ(PDP)、電界放出型ディスプレイ(FED、SED)、有機ELディスプレイ、デジタルマイクロミラーデバイス(DMD)、電気泳動装置等にも適用可能である。   In addition to the liquid crystal devices described in the above embodiments, the present invention includes a reflective liquid crystal device (LCOS), a plasma display (PDP), a field emission display (FED, SED), an organic EL display, and a digital micromirror device. (DMD), electrophoresis apparatus and the like are also applicable.

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置、及び該電気光学装置を備えた電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the spirit or idea of the invention that can be read from the claims and the entire specification, and an electro-optical device with such a change. In addition, an electronic apparatus including the electro-optical device is also included in the technical scope of the present invention.

6a…データ線、9a…画素電極、10…TFTアレイ基板、11…走査線、20…対向基板、21…対向電極、30…TFT、30a…半導体層、40…下地絶縁膜、41…第1層間絶縁膜、42…第2層間絶縁膜、50…液晶層、100…画像表示領域、200…マイクロレンズ部、210…マイクロレンズ。   6a ... data line, 9a ... pixel electrode, 10 ... TFT array substrate, 11 ... scanning line, 20 ... counter substrate, 21 ... counter electrode, 30 ... TFT, 30a ... semiconductor layer, 40 ... base insulating film, 41 ... first Interlayer insulating film, 42 ... second interlayer insulating film, 50 ... liquid crystal layer, 100 ... image display region, 200 ... microlens portion, 210 ... microlens.

Claims (9)

基板と、
前記基板において、前記基板の第1面に形成されたスイッチング素子と、
前記基板において、前記基板の前記第1面に形成された遮光性の配線と、
前記基板に形成された複数の層からなるマイクロレンズ部と、を有し、
前記遮光性の配線は前記スイッチング素子からみて光源光の入射する側に前記スイッチング素子を覆うように設けられ、
前記マイクロレンズ部は、
屈折率が第1屈折率であり前記基板からなる第1層と、
前記第1層と前記遮光性の配線との間に形成され、前記第1屈折率とは異なる第2屈折率である第2層と、
前記第2層と前記遮光性の配線との間に形成され、前記第2屈折率とは異なる第3屈折率である第3層と、を含み、
前記マイクロレンズ部は、前記第1面とは反対側である第2面から入射した光の少なくとも一部が、前記第1層と前記第2との間で集光され、かつ、前記第2層と前記第3層との間で拡散されるように形成されていることを特徴とする電気光学装置。
A substrate,
In the substrate, a switching element formed on the first surface side of the substrate;
In the substrate, a light-shielding wiring formed on the first surface side of the substrate;
A microlens portion comprising a plurality of layers formed on the substrate,
The light-shielding wiring is provided so as to cover the switching element on the incident side of the light source light as viewed from the switching element,
The microlens part is
A first layer refractive index that Do from the substrate Ri first refractive index der,
A second layer formed between the first layer and the light-shielding wiring and having a second refractive index different from the first refractive index;
A third layer formed between the second layer and the light-shielding wiring and having a third refractive index different from the second refractive index,
In the microlens part, at least a part of light incident from the second surface side opposite to the first surface side is condensed between the first layer and the second layer , and An electro-optical device formed to be diffused between the second layer and the third layer.
請求項1に記載の電気光学装置において、
前記マイクロレンズ部の前記第1層は、前記第1面から前記第2面に向けて凹むように形成され、
前記第2屈折率は、前記第1屈折率よりも大きいことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1.
The first layer of the microlens part is formed so as to be recessed from the first surface side toward the second surface side ,
The electro-optical device, wherein the second refractive index is larger than the first refractive index.
請求項1または2に記載の電気光学装置において、
前記マイクロレンズ部の前記第2層は、前記第2面から前記第1面に向けて突出するように形成され、
前記第3屈折率は、前記第2屈折率よりも大きいことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
The second layer of the microlens part is formed so as to protrude from the second surface side toward the first surface side ,
The electro-optical device, wherein the third refractive index is larger than the second refractive index.
請求項1または2に記載の電気光学装置において、
前記マイクロレンズ部の前記第2層は、前記第1面から前記第2面に向けて凹むように形成され、
前記第3屈折率は、前記第2屈折率よりも小さいことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
The second layer of the microlens part is formed so as to be recessed from the first surface side toward the second surface side ,
The electro-optical device, wherein the third refractive index is smaller than the second refractive index.
請求項1乃至4のいずれか一項に記載の電気光学装置において、
前記マイクロレンズ部は、前記第1層と前記第2層との間で第1レンズを形成し、前記第2層と前記第3層との間で第2レンズを形成していることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
The microlens unit forms a first lens between the first layer and the second layer, and forms a second lens between the second layer and the third layer. An electro-optical device.
請求項5に記載の電気光学装置において、
前記マイクロレンズ部は、前記第1レンズの曲率と前記第2レンズの曲率とが同じ曲率となるように形成されていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 5.
The electro-optical device is characterized in that the microlens portion is formed such that the curvature of the first lens and the curvature of the second lens are the same.
請求項1乃至6のいずれか一項に記載の電気光学装置において、
前記マイクロレンズ部は、前記第1屈折率と前記第3屈折率とが同じ屈折率になるように形成されていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 6,
The electro-optical device, wherein the microlens unit is formed so that the first refractive index and the third refractive index are the same.
請求項1乃至7のいずれか一項に記載の電気光学装置において、
前記基板の前記第1面に形成された画素電極と、
前記基板に対向配置された対向基板と、
前記基板と前記対向基板との間に形成された液晶と、を有し、
前記基板の前記第2面に垂直な方向から、前記第2面の前記遮光性の配線と重なる部分に入射した光の少なくとも一部は、前記第1層と前記第2層との間で集光され、かつ、前記第2層と前記第3層との間で拡散されて、前記対向基板から出射することを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
A pixel electrode formed on the first surface side of the substrate,
A counter substrate disposed opposite to the substrate;
A liquid crystal formed between the substrate and the counter substrate;
At least part of the light incident on the portion overlapping the light-shielding wiring on the second surface side from a direction perpendicular to the second surface side of the substrate is between the first layer and the second layer. The electro-optical device is characterized in that the light is condensed and diffused between the second layer and the third layer and emitted from the counter substrate.
請求項1乃至8のいずれか一項に記載の電気光学装置と、
前記第2面に光を照射する光源と、を有することを特徴とする電子機器。
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 8,
An electronic device comprising: a light source that irradiates light on the second surface side .
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