JP5802499B2 - Analysis equipment - Google Patents

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Description

本発明は、分析装置に関する。より詳しくは、流路に注入された試料の成分を光学的手法により検出する分析装置に関する。   The present invention relates to an analyzer. More specifically, the present invention relates to an analyzer that detects a component of a sample injected into a flow path by an optical technique.

近年、マイクロチップデバイス(マイクロ流体デバイス)を用いて、遺伝子解析、臨床診断、薬物スクリーニングなどの化学、生化学、薬学、医学、獣医学の分野における分析が行われている。   In recent years, analysis in the fields of chemistry, biochemistry, pharmacy, medicine, veterinary medicine such as gene analysis, clinical diagnosis, and drug screening has been performed using a microchip device (microfluidic device).

試料に含まれる特定成分の濃度もしくは量を分析する分析方法には、試料から特定成分を分離する分離工程と、分離された特定成分を検出する検出工程とを有する方法がある。例えば、キャピラリ電気泳動法を用いた分析方法においては、マイクロチップデバイスの分離流路に泳動液を充填し、さらに分離流路の一端寄りに試料を導入する。分離流路の両端に電圧を加えると、電気泳動により泳動液が正極側から負極側へと移動する電気浸透流が生じる。また、上記電圧が印加されることにより特定成分は、それぞれの電気泳動移動度に応じて移動しようとする。したがって、特定成分は、電気浸透流の速度ベクトルと電気泳動による移動の速度ベクトルとを合成した速度ベクトルにしたがって移動する。この移動によって、特定成分が他の成分から分離される。この分離された特定成分を例えば光学的手法によって検出することにより、特定成分の量や濃度を分析することができる。   An analysis method for analyzing the concentration or amount of a specific component contained in a sample includes a method having a separation step for separating the specific component from the sample and a detection step for detecting the separated specific component. For example, in an analysis method using capillary electrophoresis, an electrophoresis solution is filled in a separation channel of a microchip device, and a sample is introduced near one end of the separation channel. When a voltage is applied to both ends of the separation channel, an electroosmotic flow is generated in which the electrophoresis solution moves from the positive electrode side to the negative electrode side by electrophoresis. Further, when the voltage is applied, the specific component tends to move according to the electrophoretic mobility. Therefore, the specific component moves according to a velocity vector obtained by synthesizing the velocity vector of the electroosmotic flow and the velocity vector of movement by electrophoresis. This movement separates the specific component from the other components. By detecting the separated specific component by, for example, an optical method, the amount and concentration of the specific component can be analyzed.

特許文献1には、光軸合わせを不要とすると共に、測定感度の高い小型のマイクロ化学システムが記載されている。マイクロ化学システムは、流路内に液中試料が満たされた流路付き板状部材と、レンズ付き光ファイバと、励起光を照射すると共に検出光を照射する光源ユニットと、検出装置とを備え、レンズ付き光ファイバは、屈折率分布型ロッドレンズと、一端が屈折率分布型ロッドレンズに接続され、他端が光源ユニットに接続され、その中間にFCコネクターを有する光ファイバとから成る。FCコネクターは、FCプラグと、FCプラグを夫々固定するアダプタとから成り、アダプタにFCプラグを夫々ねじ込むことで接合される。   Patent Document 1 describes a small microchemical system that does not require optical axis alignment and has high measurement sensitivity. The microchemical system includes a plate-like member with a channel in which a sample in liquid is filled in a channel, an optical fiber with a lens, a light source unit that emits excitation light and irradiates detection light, and a detection device. The optical fiber with a lens includes a gradient index rod lens, an optical fiber having one end connected to the gradient index rod lens, the other end connected to the light source unit, and an FC connector in the middle. The FC connector includes an FC plug and an adapter for fixing the FC plug, and is joined by screwing the FC plug into the adapter.

特許文献2には、外部環境変化により熱レンズ信号強度が変化しても試料を正確に測定することができる熱レンズ分光分析システム及び熱レンズ信号補正方法が記載されている。熱レンズ分光分析システムは、中に液中試料が注入された溝を有するマイクロ化学チップと、液体試料に光ファイバを介して光源ユニットから伝播された励起光及び検出光を集光して熱レンズ信号を生成する屈折率分布型ロッドレンズと、励起光及び検出光の光量と熱レンズ信号強度を検出する光電変換器と、を備える。そして、熱レンズ信号強度の測定値、(励起光の所定光量/励起光の測定光量)、及び/又は第2の比(検出光の所定光量/検出光の測定光量)を積算することにより熱レンズ信号強度の測定値を補正する。   Patent Document 2 describes a thermal lens spectroscopic analysis system and a thermal lens signal correction method that can accurately measure a sample even if the thermal lens signal intensity changes due to a change in the external environment. The thermal lens spectroscopic analysis system includes a microchemical chip having a groove into which a sample in liquid is injected, and a thermal lens that collects excitation light and detection light propagated from the light source unit through the optical fiber to the liquid sample. A gradient index rod lens that generates a signal, and a photoelectric converter that detects the amounts of excitation light and detection light and thermal lens signal intensity. Then, the thermal lens signal intensity measurement value, (predetermined light amount of excitation light / measurement light amount of excitation light), and / or second ratio (predetermined light amount of detection light / measurement light amount of detection light) are integrated to add heat. Correct the measured value of the lens signal strength.

特許文献3には、光源からの光をマイクロチップに導く光ファイバを備えた分析装置が記載されている。その分析装置は、光源からの光をマイクロチップに導くための光ファイバの端部を保持するフェルールは、ホルダにおいてコイルバネに付勢された状態で上下方向に移動可能に保持され、マイクロチップに当接させられるに構成されている。   Patent Document 3 describes an analyzer including an optical fiber that guides light from a light source to a microchip. In the analyzer, a ferrule that holds an end portion of an optical fiber for guiding light from a light source to a microchip is held so as to be movable in a vertical direction in a state of being biased by a coil spring in the holder, and is applied to the microchip. It is configured to be touched.

特開2004−117302号公報JP 2004-117302 A 特開2006−300721号公報JP 2006-300721 A 国際公開第2010/010904号International Publication No. 2010/010904

上述する従来技術のように、光学的手法により分析を行う方法として、光照射位置や光の集光など、検出の精度を向上するための努力が多くなされてきた。しかしながら、光照射側の制御時における熱影響について考慮されているが、受光側の制御時における熱影響について考慮されていない。   As in the prior art described above, many efforts have been made to improve detection accuracy such as a light irradiation position and light collection as a method of performing analysis by an optical method. However, although the thermal effect at the time of control on the light irradiation side is considered, the thermal effect at the time of control on the light receiving side is not considered.

電気泳動法による分離においては、光照射による熱影響だけでなく、マイクロチップ(分離流路の両端)へ電圧を印加することによる発熱があり、マイクロチップデバイスが熱により変形し、分析の精度が低下する問題があった。特に樹脂製のマイクロチップデバイスの場合は変形が大きく問題となりやすい。   In electrophoretic separation, not only the thermal effects of light irradiation, but also the heat generated by applying a voltage to the microchip (both ends of the separation channel), the microchip device is deformed by heat, and the accuracy of the analysis is increased. There was a problem of lowering. In particular, in the case of a resin microchip device, deformation is likely to be a problem.

また、分析対象となる試料が血液やタンパク質などの場合、熱による変性が生じるおそれがあった。さらに、熱の影響により、マイクロチップデバイスの分離流路内で気泡が発生するなどして、分析の精度が低下するおそれもあった。   Further, when the sample to be analyzed is blood, protein, or the like, there is a possibility that heat denaturation may occur. Furthermore, there is a possibility that the accuracy of analysis may be reduced due to the generation of bubbles in the separation channel of the microchip device due to the influence of heat.

これらの熱の影響を抑制するため、マイクロチップデバイスを冷却制御することがあるが、この場合、その冷却制御によってマイクロチップデバイスの内部と外面との温度勾配が大きくなり、その結果、マイクロチップデバイスの変形が助長されることもあった。   In order to suppress the influence of these heats, the microchip device may be controlled to be cooled. In this case, the cooling control increases the temperature gradient between the inside and the outer surface of the microchip device. In some cases, this deformation was promoted.

また、試薬反応の過程で発熱することもあり、これを冷却する必要がある場合もある。試薬反応の発熱自体でマイクロチップデバイスの変形が生じ、さらに、マイクロチップを冷却制御する場合、内部の発熱部と冷却部との温度勾配により、マイクロチップデバイスの変形が助長されていた。   Also, heat may be generated during the reagent reaction, and it may be necessary to cool it. Deformation of the microchip device occurs due to the heat generated by the reagent reaction. Further, when cooling control of the microchip is performed, the deformation of the microchip device is promoted by the temperature gradient between the heat generation portion and the cooling portion inside.

試薬反応による測定法においては、マイクロチップデバイスの温度を調節しながら光学的手法による分析を行うことがある。例えば、酵素試薬を用いる場合は、マイクロチップデバイスの温度を反応性の高い摂氏37度前後に調節することが望ましい。この場合、マイクロチップの初期温度(例えば室温、気温摂氏20度前後)から摂氏37度に昇温する過程で、マイクロチップデバイスの変形が生じていた。   In a measurement method using a reagent reaction, an analysis by an optical method may be performed while adjusting the temperature of the microchip device. For example, when an enzyme reagent is used, it is desirable to adjust the temperature of the microchip device to around 37 degrees Celsius, which is highly reactive. In this case, the deformation of the microchip device occurred in the process of raising the temperature from the initial temperature of the microchip (for example, room temperature, temperature around 20 degrees Celsius) to 37 degrees Celsius.

以上のように、冷却、加熱を問わず、マイクロチップデバイスの内部から、または、外部から温度変化が生じると、その影響によりマイクロチップデバイスが変形するという問題があった。   As described above, there is a problem that when the temperature change occurs from the inside of the microchip device or from the outside regardless of cooling and heating, the microchip device is deformed due to the influence.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、熱影響を低減し測定精度の低下を防止することができる分析装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an analyzer that can reduce the thermal effect and prevent a decrease in measurement accuracy.

前記マイクロチップの一方側の面を支持すると共に前記マイクロチップの熱を放熱させる支持部材と、
前記マイクロチップの他方側の面に当接され、前記測光部に光を照射する第1の導光手段と、
前記支持部材に形成された貫通部へ挿入されて前記マイクロチップの一方側の面に当接され、前記測光部を介した光を受光する第2の導光手段と、
前記第1の導光手段を前記マイクロチップ側へ付勢する第1の付勢手段と、
前記第2の導光手段を前記マイクロチップ側へ付勢すると共に、前記第1の付勢手段よりも付勢力が小さい第2の付勢手段と、
を備えることを特徴とする。
A support member that supports one side of the microchip and dissipates heat from the microchip ;
A first light guide means that is in contact with the other surface of the microchip and irradiates light to the photometry unit;
A second light guiding means that is inserted into a penetrating portion formed in the support member and is brought into contact with a surface on one side of the microchip to receive light via the photometric portion;
First biasing means for biasing the first light guide means toward the microchip;
A second biasing means for biasing the second light guide means toward the microchip and having a biasing force smaller than that of the first biasing means;
It is characterized by providing.

好ましくは、前記第1の導光手段及び前記第2の導光手段の少なくとも一方は、光ファイバを含むことを特徴とする。 Preferably, at least one of the first light guiding means and the second light guiding means may comprise an optical fiber.

好ましくは、前記第1の導光手段及び前記第2の導光手段の少なくとも一方は、レンズ、フィルタ、ハウジングのいずれかを含み構成されることを特徴とする。 Preferably, at least one of the first light guide unit and the second light guide unit includes any one of a lens, a filter, and a housing.

好ましくは、前記第1の付勢手段及び前記第2の付勢手段の少なくとも一方は、弾性部材を有することを特徴とする。 Preferably, at least one of the first biasing means and the second biasing means is characterized by an elastic member.

さらに好ましくは、前記弾性部材は、バネ機構を備えることを特徴とする。   More preferably, the elastic member includes a spring mechanism.

好ましくは、前記受光手段は、フォトダイオードを含むことを特徴とする。   Preferably, the light receiving means includes a photodiode.

好ましくは、前記マイクロチップは、流路が形成された光透過性部材を有し、前記測光部は該流路であることを特徴とする。   Preferably, the microchip includes a light transmissive member in which a flow path is formed, and the photometric unit is the flow path.

さらに好ましくは、前記マイクロチップは、樹脂で形成されることを特徴とする。   More preferably, the microchip is formed of a resin.

好ましくは、光学分析の反射率、透過率、吸光度、蛍光または発光のうち、少なくともいずれか1つの指標を用いて分析を行うことを特徴とする。   Preferably, the analysis is performed using at least one of the indexes of reflectance, transmittance, absorbance, fluorescence, and luminescence of optical analysis.

本発明によれば、熱影響を低減し測定精度の低下を防止することができる。   According to the present invention, it is possible to reduce the influence of heat and prevent a decrease in measurement accuracy.

本発明の実施の形態に係る分析装置の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the analyzer which concerns on embodiment of this invention. 実施の形態に係るマイクロチップの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the microchip which concerns on embodiment. 図2AのY−Y線断面図である。It is the YY sectional view taken on the line of FIG. 2A. 実施の形態に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す部分拡大図である。It is the elements on larger scale which show an example of the analysis measurement part of the analyzer which concerns on embodiment. 実施の形態に係る検出部の、導光手段の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the light guide means of the detection part which concerns on embodiment. 実施の形態に係る導光手段の他の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows another example of the light guide means which concerns on embodiment. 実施の形態に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the analysis measurement part of the analyzer which concerns on embodiment. 実施の形態の変形例1に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the analysis measurement part of the analyzer which concerns on the modification 1 of embodiment. 実施の形態の変形例2に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the analysis measurement part of the analyzer which concerns on the modification 2 of embodiment. 実施の形態の変形例2に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the analysis measurement part of the analyzer which concerns on the modification 2 of embodiment. 実施の形態の変形例3に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the analysis measurement part of the analyzer which concerns on the modification 3 of embodiment. 実施の形態に係る分析装置の、マイクロチップの一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the microchip of the analyzer which concerns on embodiment. 図9AのZ−Z線断面図である。It is a ZZ line sectional view of Drawing 9A.

(実施の形態)
図1は、本発明の実施の形態に係る分析装置の概略構成図である。本実施の形態においては、分析装置1は、キャピラリ電気泳動法を用いて分析を行い、光学的手法により検出する。
(Embodiment)
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an analyzer according to an embodiment of the present invention. In the present embodiment, the analysis apparatus 1 performs analysis using capillary electrophoresis and detects it using an optical technique.

分析装置1は、貯液槽11、試料槽12、廃液槽13、分注部14、マイクロチップ20、電極24、25、検出部30を有する分析測定部40、流路51ないし流路53、三方バルブ55、56、制御部61および電源部62を備える。マイクロチップ20には、分離流路21、導入孔22および排出孔23(図2A参照)が形成されている。   The analysis apparatus 1 includes a liquid storage tank 11, a sample tank 12, a waste liquid tank 13, a dispensing unit 14, a microchip 20, electrodes 24 and 25, an analytical measurement unit 40 having a detection unit 30, a flow channel 51 to a flow channel 53, Three-way valves 55 and 56, a control unit 61 and a power supply unit 62 are provided. In the microchip 20, a separation channel 21, an introduction hole 22, and a discharge hole 23 (see FIG. 2A) are formed.

貯液槽11は、貯液L、例えば泳動液、精製水、洗浄液などが貯められる。泳動液は、バッファとして機能する液体であり、例えば、100mMりんご酸−アルギニンバッファ(pH5.0)+1.5%コンドロイチン硫酸Cナトリウムの水溶液がある。   The liquid storage tank 11 stores a liquid L, for example, an electrophoretic liquid, purified water, and a cleaning liquid. The electrophoresis solution is a liquid that functions as a buffer. For example, there is an aqueous solution of 100 mM malic acid-arginine buffer (pH 5.0) + 1.5% chondroitin sulfate C sodium.

試料槽12は、試料液Kが貯められる。試料液Kは、分析装置1で分析を行うための特定成分を含むサンプルである。試料液Kは、測定に適した処理、例えば、希釈や混合などが行われた状態に処理された液体である。   The sample tank 12 stores the sample liquid K. The sample liquid K is a sample containing a specific component for performing analysis by the analyzer 1. The sample liquid K is a liquid that has been processed into a state suitable for measurement, for example, diluted or mixed.

廃液槽13は、使用済みの液体を貯蔵するためのものである。分注部14は、試料槽12の試料液Kをマイクロチップ20の分離流路21へ注入することができる。   The waste liquid tank 13 is for storing a used liquid. The dispensing unit 14 can inject the sample liquid K in the sample tank 12 into the separation channel 21 of the microchip 20.

図2Aは、図1に示すマイクロチップの一例を示す平面図である。図2Bは図2AのY−Y線断面図である。   FIG. 2A is a plan view showing an example of the microchip shown in FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line YY of FIG. 2A.

マイクロチップ20は、微細な流路からなる分離流路21と、分離流路21へ溶液の導入・排出を行うための導入孔22および排出孔23を備える。マイクロチップ20は2枚の光透過性部材である樹脂基板を接合して形成される。マイクロチップ20は、例えば、シリコン樹脂、メタクリル酸メチル樹脂などのアクリル樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリカーボネート樹脂などの樹脂を材料とする。   The microchip 20 includes a separation flow path 21 composed of fine flow paths, and an introduction hole 22 and a discharge hole 23 for introducing and discharging a solution to and from the separation flow path 21. The microchip 20 is formed by joining two resin substrates that are light transmissive members. The microchip 20 is made of, for example, a resin such as an acrylic resin such as silicon resin or methyl methacrylate resin, a polystyrene resin, or a polycarbonate resin.

マイクロチップ20の分離流路21は、キャピラリ電気泳動法を用いた分析が行われる場である。分離流路21の断面は、直径が25ないし100μmの円形、または辺の長さが25ないし100μmの矩形であることが好ましい。キャピラリ電気泳動法を行うのに適した形状および寸法であればこれに限定されない。本実施の形態においては、分離流路21の長さは、30mm程度であるが、これに限定されるものではない。   The separation channel 21 of the microchip 20 is a place where analysis using capillary electrophoresis is performed. The cross section of the separation channel 21 is preferably a circle having a diameter of 25 to 100 μm or a rectangle having a side length of 25 to 100 μm. There is no limitation to this as long as the shape and size are suitable for performing capillary electrophoresis. In the present embodiment, the length of the separation channel 21 is about 30 mm, but is not limited thereto.

分離流路21は、導入孔22および排出孔23に通じている。導入孔22は、分離流路21の一端に設けられており、分注部14より試料液Kが導入される部分である。本実施の形態においては、導入孔22から試料液Kの他に、泳動液、精製水、洗浄液などの貯液Lの導入が可能である。排出孔23は、分離流路21の他端に設けられており、分離流路21に充填された試料液Kや貯液Lが排出される部分である。   The separation channel 21 communicates with the introduction hole 22 and the discharge hole 23. The introduction hole 22 is provided at one end of the separation channel 21 and is a portion into which the sample liquid K is introduced from the dispensing unit 14. In the present embodiment, in addition to the sample liquid K, the storage liquid L such as electrophoresis liquid, purified water, and cleaning liquid can be introduced from the introduction hole 22. The discharge hole 23 is provided at the other end of the separation channel 21 and is a portion from which the sample liquid K and the storage liquid L filled in the separation channel 21 are discharged.

また、分離流路21には、その両端に電極24と電極25が設けられている。本実施の形態においては、電極24は、導入孔22内に露出しており、電極25は、排出孔23内に露出している。   The separation channel 21 is provided with electrodes 24 and 25 at both ends thereof. In the present embodiment, the electrode 24 is exposed in the introduction hole 22, and the electrode 25 is exposed in the discharge hole 23.

図3は、実施の形態に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す部分拡大図である。図3は、図1のM−M線断面の概略を示す。   FIG. 3 is a partially enlarged view showing an example of an analysis measurement unit of the analysis apparatus according to the embodiment. FIG. 3 schematically shows a cross section taken along the line MM of FIG.

分析測定部40は、マイクロチップ20、検出部30、マイクロチップ支持台41および遮蔽壁42を備える。検出部30の一部である照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36は、マイクロチップ20と所定の距離を設けて、かつ光を遮る部材で隔てられた異なる空間に配置されることが好ましい。照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36は、図3に示すように別個に備えてもよいし、一体に形成し、照射・受光用制御ユニットとして備えてもよい。   The analysis measurement unit 40 includes a microchip 20, a detection unit 30, a microchip support base 41, and a shielding wall 42. It is preferable that the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 which are a part of the detection unit 30 are arranged in different spaces which are provided with a predetermined distance from the microchip 20 and separated by a light blocking member. . The irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 may be provided separately as shown in FIG. 3, or may be integrally formed and provided as an irradiation / light receiving control unit.

具体的には、例えばマイクロチップ20を遮蔽壁42の内部に配置し、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36を遮蔽壁42の外部に配置するように設計する。照射用制御ユニット35は光ファイバ33を介して照射用導光部31と接続し、受光用導光部32は光ファイバ34を介して受光用制御ユニット36と接続する。光ファイバ33、34は例えば石英ガラス光ファイバなどが用いられる。   Specifically, for example, the microchip 20 is arranged inside the shielding wall 42, and the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 are designed to be arranged outside the shielding wall 42. The irradiation control unit 35 is connected to the irradiation light guide 31 via the optical fiber 33, and the light receiving light guide 32 is connected to the light reception control unit 36 via the optical fiber 34. As the optical fibers 33 and 34, for example, quartz glass optical fibers are used.

図4Aは、実施の形態に係る検出部の、導光手段の一例を示す概略構成図である。照射用導光部31は、フェルール31a、ホルダ31b、コイルバネ31cおよびストッパ31dを備える。フェルール31aは、光ファイバ33の導光を妨げないように、その端部に固着されている。フェルール31aは、例えば、ジルコニアなどのセラミックで形成される。照射用導光部31のフェルール31aと光ファイバ33とを合わせて、光照射手段という。   FIG. 4A is a schematic configuration diagram illustrating an example of a light guide unit of the detection unit according to the embodiment. The irradiation light guide 31 includes a ferrule 31a, a holder 31b, a coil spring 31c, and a stopper 31d. The ferrule 31a is fixed to its end so as not to interfere with the light guide of the optical fiber 33. The ferrule 31a is made of ceramic such as zirconia, for example. The ferrule 31a of the irradiation light guide 31 and the optical fiber 33 are collectively referred to as light irradiation means.

照射用導光部31のストッパ31dは光ファイバ33に固定されることなく、コイルバネ31cの伸縮に合わせてスライドする。ストッパ31dを固定することで照射用導光部31のフェルール31aを、ストッパ31dに対してスライドさせることができる。   The stopper 31d of the irradiation light guide 31 is not fixed to the optical fiber 33 but slides in accordance with the expansion and contraction of the coil spring 31c. By fixing the stopper 31d, the ferrule 31a of the light guide 31 for irradiation can be slid with respect to the stopper 31d.

例えば、照射用導光部31がマイクロチップ20に接する際に、照射用導光部31の先端(フェルール31a)でマイクロチップ20に押し付ける力(力F1:図5参照)を付勢することができる位置に、照射用導光部31のストッパ31dを遮蔽壁42の一部に固定しておく。マイクロチップ20を分析装置1に配置したときに、コイルバネ31cは収縮する方向に力を受け、その復元力(力F1)をマイクロチップ20へ付勢することができる。   For example, when the irradiation light guide unit 31 is in contact with the microchip 20, a force (force F1: see FIG. 5) that presses against the microchip 20 at the tip (ferrule 31a) of the irradiation light guide unit 31 may be applied. The stopper 31d of the irradiation light guide 31 is fixed to a part of the shielding wall 42 at a position where it can be formed. When the microchip 20 is placed in the analyzer 1, the coil spring 31 c receives a force in the contracting direction, and the restoring force (force F <b> 1) can be urged to the microchip 20.

図4Bは、実施の形態に係る導光手段の他の一例を示す概略構成図である。図4Bの導光手段では、図4Aに示す照射用導光部31のホルダ31bがストッパ31dを兼ねた構成となっている。   FIG. 4B is a schematic configuration diagram illustrating another example of the light guide unit according to the embodiment. In the light guide unit of FIG. 4B, the holder 31b of the irradiation light guide unit 31 shown in FIG. 4A also serves as a stopper 31d.

照射用導光部31のホルダ31bは、フェルール31aおよび光ファイバ33に固定されることなく、コイルバネ31cの伸縮に合わせて光ファイバ33に対してスライドする。ホルダ31bを固定することで照射用導光部31のフェルール31aをスライドさせることができる。   The holder 31b of the irradiation light guide 31 is not fixed to the ferrule 31a and the optical fiber 33, but slides relative to the optical fiber 33 in accordance with the expansion and contraction of the coil spring 31c. By fixing the holder 31b, the ferrule 31a of the irradiation light guide 31 can be slid.

例えば、照射用導光部31がマイクロチップ20に接する際に、照射用導光部31の先端(フェルール31a)でマイクロチップ20に押し付ける力(力F1)を付勢することができる位置に、照射用導光部31のホルダ31bを遮蔽壁42の一部に固定しておく。マイクロチップ20を分析装置1に配置したときに、コイルバネ31cは収縮する方向に力を受け、その復元力(力F1)をマイクロチップ20へ付勢することができる。   For example, when the irradiation light guide unit 31 is in contact with the microchip 20, at the position where the force (force F1) that presses against the microchip 20 with the tip of the irradiation light guide unit 31 (ferrule 31a) can be urged. The holder 31 b of the irradiation light guide 31 is fixed to a part of the shielding wall 42. When the microchip 20 is placed in the analyzer 1, the coil spring 31 c receives a force in the contracting direction, and the restoring force (force F <b> 1) can be urged to the microchip 20.

照射用導光部31はフェルール31aの先端にレンズを備えていてもよい。照射用導光部31はレンズの他に、フィルタ、ハウジングのいずれかを含んで構成されていてもよい。   The irradiation light guide 31 may include a lens at the tip of the ferrule 31a. The irradiation light guide unit 31 may include either a filter or a housing in addition to the lens.

図4Aおよび図4Bはまた、受光用導光部32の構成を示す。受光用導光部32のフェルール32aと光ファイバ34を合わせて受光手段が構成される。   4A and 4B also show the configuration of the light receiving light guide 32. FIG. The light receiving means is configured by combining the ferrule 32 a of the light receiving light guide 32 and the optical fiber 34.

受光用導光部32は、マイクロチップ20へ圧力を加えない場合は、付勢手段を備える必要はなく、フェルール32aのみで形成されていてもよい。   In the case where no pressure is applied to the microchip 20, the light receiving light guide 32 need not be provided with an urging means, and may be formed only of the ferrule 32a.

受光用導光部32は、マイクロチップ20へ圧力を加える場合は、付勢手段を備える。付勢手段である弾性構造に関しては基本的に照射用導光部31と同じ構造となり、コイルバネ32cを有するバネ機構を備える。受光用導光部32はフェルール32aの先端にレンズを備えていてもよい。また、受光用導光部32はレンズの他に、フィルタ、ハウジングのいずれかを含んで構成されていてもよい。   The light receiving light guide 32 includes an urging unit when pressure is applied to the microchip 20. The elastic structure, which is an urging means, is basically the same as the irradiation light guide 31 and includes a spring mechanism having a coil spring 32c. The light receiving light guide 32 may include a lens at the tip of the ferrule 32a. Moreover, the light guide 32 for light reception may be configured to include either a filter or a housing in addition to the lens.

図3、図4Aおよび図4Bにおいて、照射用導光部31は、マイクロチップ20を挟み、マイクロチップ支持台41に対向する位置に備える場合を例に挙げて説明している。この場合、本実施の形態では照射用導光部31に付勢手段を備え、受光用導光部32においては照射用導光部31に備えた付勢手段より弱い力を有する付勢手段を備えることが好ましい。   3, 4 </ b> A, and 4 </ b> B, the case where the irradiation light guide unit 31 is provided at a position facing the microchip support base 41 with the microchip 20 interposed therebetween is described as an example. In this case, in this embodiment, the irradiating light guide 31 is provided with an urging means, and the light receiving light guide 32 has an urging means having a weaker force than the urging means provided in the irradiating light guide 31. It is preferable to provide.

照射用導光部31と受光用導光部32が反対の位置にある場合、すなわち受光用導光部32が、マイクロチップ20を挟み、マイクロチップ支持台41に対向する位置に備える場合は、マイクロチップ支持台41に対向する受光用導光部32に付勢手段を備える。より好ましくは照射用導光部31は受光用導光部32より弱い力を有する付勢手段を備える。いずれの場合においても、マイクロチップ支持台41に対向する位置の導光手段を用いて、マイクロチップ20をマイクロチップ支持台41へ押し付ける方向へ力を付勢できればよい。   When the light guide 31 for irradiation and the light guide 32 for light reception are in opposite positions, that is, when the light guide 32 for light reception is provided at a position facing the microchip support base 41 with the microchip 20 in between, The light receiving light guide 32 facing the microchip support base 41 is provided with a biasing means. More preferably, the irradiation light guide unit 31 includes an urging unit having a weaker force than the light reception light guide unit 32. In any case, it is sufficient that the force can be applied in the direction in which the microchip 20 is pressed against the microchip support base 41 by using the light guide means at a position facing the microchip support base 41.

分析装置1で分析する際に、分離流路21の両端の電極24、25に電圧を印加して電気泳動を行うため、マイクロチップ20そのものの温度が上昇する。マイクロチップ20の温度が上昇すると、分離流路21内の温度上昇により、緩衝液が所定の温度を超えて曇点が発生したり、測定対象が血液などの場合にタンパク質凝固などの変性が発生するなど、測定に悪影響を及ぼすため測定精度が低下する。また、マイクロチップ20そのものに微小な変形が生じて、受発光素子の相対位置、すなわち照射用導光部31と受光用導光部32との距離、が変動して測定精度が低下する。   When the analysis is performed by the analyzer 1, since electrophoresis is performed by applying a voltage to the electrodes 24 and 25 at both ends of the separation channel 21, the temperature of the microchip 20 itself rises. When the temperature of the microchip 20 rises, due to the temperature rise in the separation channel 21, the buffer solution exceeds a predetermined temperature and a cloud point is generated, or denaturation such as protein coagulation occurs when the measurement target is blood or the like. The measurement accuracy decreases because it adversely affects the measurement. In addition, micro deformation occurs in the microchip 20 itself, and the relative position of the light receiving and emitting elements, that is, the distance between the light guide 31 for irradiation and the light guide 32 for light reception fluctuates, and the measurement accuracy decreases.

したがって、できるだけマイクロチップ20の温度上昇を緩やかにし、できるだけ所定の温度を超えないようにすることが望ましく、マイクロチップ支持台41は熱伝導率の高いアルミなどの部材で形成して放熱しやすいよう構成する。さらに、例えばペルチェ素子を備えて冷却制御を実施するよう構成したり、あるいはファンモータによる空冷によって冷却制御を実施してもよい。   Therefore, it is desirable to moderate the temperature rise of the microchip 20 as much as possible and not to exceed a predetermined temperature as much as possible. The microchip support base 41 is formed of a member such as aluminum having high thermal conductivity so that heat can be easily radiated. Configure. Further, for example, a cooling control may be performed by providing a Peltier element, or the cooling control may be performed by air cooling by a fan motor.

電気泳動法以外の、例えば酵素反応試薬を適用した測定法であれば、試薬反応が環境温度影響を受けることを排除するため摂氏37度近辺に温調制御を実施するよう構成する場合がある。また、試薬反応の過程における発熱を抑制するために冷却制御を施す場合もある。   For example, a measurement method using an enzyme reaction reagent other than electrophoresis may be configured to perform temperature control near 37 degrees Celsius in order to eliminate the influence of the reagent reaction on environmental temperature. In some cases, cooling control is performed to suppress heat generation during the reagent reaction.

つまり、マイクロチップ20を測定する際には、測定セルまたはキャピラリ自体が温度変化し、その温度変化が測定精度に影響する場合や、また、その温度変化の抑制等の目的において所望の温度に制御する場合がある。これらの場合おいて、マイクロチップ20の内外部は温度変化の影響を受けて変形する。   That is, when the microchip 20 is measured, the temperature of the measurement cell or the capillary itself changes, and if the temperature change affects the measurement accuracy, or is controlled to a desired temperature for the purpose of suppressing the temperature change or the like. There is a case. In these cases, the inside and outside of the microchip 20 are deformed under the influence of temperature changes.

分析装置1で分析および測定する際には、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36を作動させ検出部30で検出を行う。このとき、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36は熱を発生するため、マイクロチップ20への熱影響がある。   When analyzing and measuring with the analyzer 1, the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 are operated and the detection unit 30 performs detection. At this time, since the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 generate heat, there is a thermal effect on the microchip 20.

その一方、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36は熱影響を受けやすい。マイクロチップ自体から、または、マイクロチップを温度制御するための要素からの熱影響によって、受光素子もしくは発光素子の特性、また、それらを駆動する制御回路の特性が変動することで、受光量または発光量の変動が生じ、測定値の誤差を引き起こす。一般的に、照射する光量は参照光のモニタリングによって補正可能だが、測定光そのものの受光量自体は直接的に補正できないため測定精度に影響する。   On the other hand, the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 are easily affected by heat. The characteristics of the light receiving element or the light emitting element and the characteristics of the control circuit that drives the light receiving element or the light emitting element are fluctuated by the thermal effect from the microchip itself or from the element for controlling the temperature of the microchip. Variations in quantity can cause measurement errors. In general, the amount of light to be irradiated can be corrected by monitoring the reference light, but the amount of light received by the measurement light itself cannot be corrected directly, which affects the measurement accuracy.

また、温度制御するための要素や、マイクロチップ自体から発せられる電気的ノイズの影響を受けることもある。さらに、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36の相互間でノイズの影響を受けることもある。   Moreover, it may be influenced by the element for temperature control and the electrical noise emitted from the microchip itself. Further, the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 may be affected by noise.

したがって、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36とマイクロチップ20とを隔離し、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36からマイクロチップ20への熱による影響や、マイクロチップ20から照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36への熱による影響を減らすことが好ましい。   Therefore, the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 are separated from the microchip 20, the influence of heat from the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 to the microchip 20, and the irradiation from the microchip 20. It is preferable to reduce the influence of heat on the control unit 35 and the light receiving control unit 36.

例えば、外部からの温度影響を受けにくい環境として、遮蔽壁42で囲む空間を設けておき、その遮蔽壁42内の空間にマイクロチップ20を備える。遮蔽壁42の外部に置かれた照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36からの熱は、遮蔽壁42の内部に置かれたマイクロチップ20へ伝わりにくく、マイクロチップ20への熱による影響を防止することができる。さらに、遮蔽壁42は光照射・受光の際の迷光を除去できる。遮蔽壁42は、マイクロチップ20の温度上昇を抑制し、測定への影響を低減させるだけでなく、迷光除去による測定精度が向上する効果もある。   For example, a space surrounded by the shielding wall 42 is provided as an environment that is not easily affected by temperature from the outside, and the microchip 20 is provided in the space inside the shielding wall 42. Heat from the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 placed outside the shielding wall 42 is difficult to be transmitted to the microchip 20 placed inside the shielding wall 42, and the influence of the heat on the microchip 20 is affected. Can be prevented. Further, the shielding wall 42 can remove stray light during light irradiation / light reception. The shielding wall 42 not only suppresses the temperature rise of the microchip 20 and reduces the influence on the measurement, but also has an effect of improving the measurement accuracy by removing the stray light.

さらに、例えば、光ファイバ33、34を介して照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36を照射用導光部31および受光用導光部32と接続する。光ファイバ33、34などの導光手段を用いることで、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36と照射用導光部31および受光用導光部32とを距離をあけて配設することができ、熱による影響を低減させることができる。また、光ファイバ33、34を用いることで、マイクロチップ20を分析測定箇所へ配置する際の作業性が良くなる。   Further, for example, the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 are connected to the irradiation light guide 31 and the light receiving light guide 32 via the optical fibers 33 and 34. By using light guiding means such as optical fibers 33 and 34, the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36, and the irradiation light guiding unit 31 and the light receiving light guiding unit 32 are arranged at a distance. And the influence of heat can be reduced. In addition, the use of the optical fibers 33 and 34 improves the workability when the microchip 20 is arranged at the analysis measurement location.

照射側だけでなく受光側についても光ファイバ34を備えることができる。例えば、受光用制御ユニット36の受光素子はフォトダイオードを用いる場合に、フォトダイオードの受光感度は温度特性を有するため、できるだけ受光用導光部32は熱の変化が少ないことが好ましい。受光側の光ファイバ34が備えられていない場合、受光用導光部32は受光用制御ユニット36で発生した熱を受け温度変化が生じ、受光する測定の精度が低下する。光ファイバ34を備えることで、受光用制御ユニット36が受光用導光部32へ与える熱による影響を少なくできるので、測定精度が低下するのを防止することができる。   The optical fiber 34 can be provided not only on the irradiation side but also on the light receiving side. For example, when a light receiving element of the light receiving control unit 36 uses a photodiode, the light receiving sensitivity of the photodiode has a temperature characteristic. Therefore, it is preferable that the light receiving light guide 32 has as little heat change as possible. When the optical fiber 34 on the light receiving side is not provided, the light receiving light guide portion 32 receives the heat generated by the light receiving control unit 36, changes in temperature, and the accuracy of light receiving measurement decreases. By providing the optical fiber 34, the influence of heat applied to the light guide 32 for light reception by the light reception control unit 36 can be reduced, so that the measurement accuracy can be prevented from being lowered.

分析測定部40は、遮蔽壁42の外部に、分離流路21の両端に形成された電極24、25を配置するように構成することが好ましい。照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36を遮蔽壁42の外部に配置することに加えて、電極24、25についても遮蔽壁42の外部に配置することで、より遮蔽壁42内の温度上昇を防止し、マイクロチップ20の温度上昇を低減させるので、結果として測定精度の低下を防止することができる。   The analysis measurement unit 40 is preferably configured to dispose the electrodes 24 and 25 formed at both ends of the separation channel 21 outside the shielding wall 42. In addition to arranging the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36 outside the shielding wall 42, the electrodes 24 and 25 are also arranged outside the shielding wall 42, so that the temperature inside the shielding wall 42 is further increased. And the temperature rise of the microchip 20 is reduced, and as a result, a decrease in measurement accuracy can be prevented.

検出部30は、照射用導光部31、受光用導光部32、光ファイバ33、34、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36を備える。検出部30は、分離流路21において試料液Kから分離された特定成分を分析するためのものである。検出部30の照射用導光部31および受光用導光部32は、分離流路21のうち、導入孔22よりも排出孔23に近い側の部分に設けられている。   The detection unit 30 includes an irradiation light guide unit 31, a light reception light guide unit 32, optical fibers 33 and 34, an irradiation control unit 35, and a light reception control unit 36. The detection unit 30 is for analyzing a specific component separated from the sample liquid K in the separation channel 21. The irradiation light guide unit 31 and the light receiving light guide unit 32 of the detection unit 30 are provided in a portion of the separation channel 21 closer to the discharge hole 23 than the introduction hole 22.

照射用導光部31は、光を照射するための光源を備えた照射用制御ユニット35と光ファイバ33を介して接続する。例えば光源は、LEDなどを用いる。   The irradiation light guide unit 31 is connected via an optical fiber 33 to an irradiation control unit 35 including a light source for irradiating light. For example, an LED or the like is used as the light source.

受光用導光部32は、光を受光するための受光部を備えた受光用制御ユニット36と光ファイバ34を介して接続する。例えば受光部は、フォトダイオードなどを用いる。受光用導光部32は、さらに、レンズなどの集光機能を先端に備えていてもよい。   The light receiving light guide 32 is connected to a light receiving control unit 36 having a light receiving part for receiving light through an optical fiber 34. For example, a photodiode or the like is used for the light receiving unit. The light receiving light guide 32 may further include a light collecting function such as a lens at the tip.

照射用導光部31と受光用導光部32は、マイクロチップ20を介して対向し、各々の光ファイバ33、34は同軸上となるように配設される。測定精度を向上させるために、照射用導光部31と受光用導光部32の光軸の中心のずれはできるだけ小さいことが好ましい。   The light guide 31 for irradiation and the light guide 32 for light reception are opposed to each other through the microchip 20, and the optical fibers 33 and 34 are arranged on the same axis. In order to improve the measurement accuracy, it is preferable that the deviation between the centers of the optical axes of the light guide 31 for irradiation and the light guide 32 for light reception is as small as possible.

照射用制御ユニット35は照射用導光部31を、受光用制御ユニット36は受光用導光部32を、それぞれ制御することにより、検出部30は、照射用導光部31からの光を試料液Kに照射し、透過光を受光用導光部32によって受光することにより吸光度を測定する。そして、制御部61の演算部(図示せず)で、吸光度から特定成分の抽出や特定成分の濃度が算出され、分析処理が完了する。以下、本実施の形態の分析測定における作用を説明する。   The control unit 35 for irradiation controls the light guide unit 31 for irradiation, and the control unit 36 for light reception controls the light guide unit 32 for light reception, so that the detection unit 30 samples the light from the light guide unit 31 for irradiation. The absorbance is measured by irradiating the liquid K and receiving the transmitted light by the light receiving light guide 32. Then, the calculation unit (not shown) of the control unit 61 calculates the extraction of the specific component and the concentration of the specific component from the absorbance, and the analysis process is completed. Hereafter, the effect | action in the analysis measurement of this Embodiment is demonstrated.

図5は、実施の形態に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。分析測定部40のマイクロチップ支持台41に、予め、マイクロチップ20を配設しておく。また、マイクロチップ20の分離流路21を挟むように、照射用導光部31および受光用導光部32は配設しておく。このとき照射用導光部31は、マイクロチップ20へ向けて所定の力の復元力(力F1)を付加し、マイクロチップ20をマイクロチップ支持台41へ押し付ける力(力F1)が働く。   FIG. 5 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an analysis measurement unit of the analysis apparatus according to the embodiment. The microchip 20 is disposed in advance on the microchip support base 41 of the analysis measurement unit 40. Further, the irradiation light guide 31 and the light receiving light guide 32 are disposed so as to sandwich the separation channel 21 of the microchip 20. At this time, the irradiation light guide unit 31 applies a restoring force (force F1) of a predetermined force toward the microchip 20, and a force (force F1) that presses the microchip 20 against the microchip support base 41 acts.

照射用導光部31は、流路の流れる方向で見たときに、導入孔22と排出孔23の間であって、中間よりやや排出孔23よりの位置に配設される。照射用導光部31は、マイクロチップ20の、特に分離流路21を押さえるように、付勢する力(力F1)を付加する。   The irradiation light guide unit 31 is disposed between the introduction hole 22 and the discharge hole 23 at a position slightly beyond the discharge hole 23 when viewed in the flow direction of the flow path. The irradiation light guide unit 31 applies an urging force (force F <b> 1) so as to press the separation channel 21 of the microchip 20.

分析装置1での分析・測定および検出の工程では、マイクロチップ20に以下のような影響がある。分析・測定の工程は、電気泳動により行うため、分離流路21の両端の電極24、25に電圧を印加する必要がある。その電圧で生じる電流によって、マイクロチップ20に温度上昇が起こる。検出の工程では、照射用導光部31から照射した光を受光用導光部32で受光し、演算処理により行うため、分離流路21へ光を照射する。このとき、光照射により熱が発生し、マイクロチップ20に温度上昇が起こる。   In the analysis / measurement and detection process in the analyzer 1, the microchip 20 has the following influence. Since the analysis / measurement process is performed by electrophoresis, it is necessary to apply a voltage to the electrodes 24 and 25 at both ends of the separation channel 21. The temperature generated in the microchip 20 is caused by the current generated by the voltage. In the detection step, the light emitted from the light guide 31 for irradiation is received by the light guide 32 for light reception, and the separation channel 21 is irradiated with light in order to perform arithmetic processing. At this time, heat is generated by light irradiation, and the temperature of the microchip 20 rises.

電圧の印加および光照射により、マイクロチップ20の分離流路21は温度上昇し、特に測光箇所近傍は温度上昇がより著しく発生する。マイクロチップ支持台41は熱伝導率の高いアルミなどの部材で形成して放熱しやすいよう構成されているので、マイクロチップ20の、マイクロチップ支持台41と対向しない側の面と比較して、マイクロチップ支持台41に接する側の面は、温度上昇が抑制される。その結果、マイクロチップ20の、マイクロチップ支持台41と対向しない側の面は温度上昇の影響を受けやすく、マイクロチップ20に熱膨張が発生し、マイクロチップ20は照射用導光部31側に向けて凸状に変形を生じる。   Due to the voltage application and the light irradiation, the temperature of the separation channel 21 of the microchip 20 rises, and the temperature rises more particularly in the vicinity of the photometric location. Since the microchip support base 41 is formed of a member such as aluminum having a high thermal conductivity and is configured to easily dissipate heat, compared to the surface of the microchip 20 on the side not facing the microchip support base 41, The surface on the side in contact with the microchip support base 41 is suppressed from rising in temperature. As a result, the surface of the microchip 20 on the side not facing the microchip support base 41 is easily affected by the temperature rise, and thermal expansion occurs in the microchip 20, and the microchip 20 is placed on the irradiation light guide 31 side. Deforms in a convex shape.

このとき、照射用導光部31はマイクロチップ20に当接し、かつ、コイルバネ31cの復元力によりマイクロチップ20へ所定の力(力F1)で付勢しており、マイクロチップ20が凸状へ変形しようとするのを防止する。マイクロチップ20が凸状に変形するのを防止することで分離流路21の変形を抑制する。分離流路の変形を防止し、流動特性の変化や、光透過方向の変化を防止することができ、結果として、測定精度の低下を防ぐことができる。また、照射用導光部31とマイクロチップ20は接したままの状態を維持でき、光の照射位置が一定となり、測定における光学距離が一定となるので、測定精度の低下を抑制することができる。   At this time, the irradiation light guide unit 31 is in contact with the microchip 20 and is biased to the microchip 20 by a predetermined force (force F1) by the restoring force of the coil spring 31c, so that the microchip 20 becomes convex. Preventing deformation. The deformation of the separation channel 21 is suppressed by preventing the microchip 20 from being deformed into a convex shape. The deformation of the separation channel can be prevented, and the change of flow characteristics and the change of the light transmission direction can be prevented. As a result, the measurement accuracy can be prevented from being lowered. In addition, the irradiation light guide unit 31 and the microchip 20 can be kept in contact with each other, the light irradiation position is constant, and the optical distance in measurement is constant, so that a decrease in measurement accuracy can be suppressed. .

照射用導光部31でマイクロチップ20に付勢する力を与えて、マイクロチップ20の変形を防止することができるので、熱による変形が起こりやすい素材のマイクロチップ20を用いることができる。マイクロチップ20は、ガラス製だけでなく、例えば、シリコン樹脂、メタクリル酸メチル樹脂などのアクリル樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリカーボネート樹脂などの樹脂製のものを用いてもよい。また、素材の強度が小さく変形しやすい素材に対しても、照射用導光部31でマイクロチップ20に所定の付勢する力を与え、マイクロチップ20の変形を防止できるので、マイクロチップ20の素材として用いることができる。   Since the irradiating light guide unit 31 can apply a biasing force to the microchip 20 to prevent the microchip 20 from being deformed, the microchip 20 that is easily deformed by heat can be used. The microchip 20 may be made of not only glass but also resin such as acrylic resin such as silicon resin and methyl methacrylate resin, polystyrene resin and polycarbonate resin. Further, even for a material that is small in strength and easily deformed, the irradiation light guide unit 31 can apply a predetermined biasing force to the microchip 20 to prevent the deformation of the microchip 20. It can be used as a material.

以下に、図1ないし図5を参照して、分析装置1を用いて分析する動作を説明する。   Hereinafter, with reference to FIG. 1 to FIG. 5, an operation of analyzing using the analyzer 1 will be described.

分析装置1の上述の各部の動作は、制御部61により制御される。一連の制御により、分析装置1による分析が行われる。制御部61は、例えばCPU、メモリ、入出力インターフェースなどによって構成される。   The operation of each of the above-described units of the analyzer 1 is controlled by the control unit 61. Analysis by the analyzer 1 is performed by a series of controls. The control unit 61 is configured by, for example, a CPU, a memory, an input / output interface, and the like.

分析装置1には、三方バルブ55、56が設けられている。三方バルブ55、56は、それぞれ3つの接続口を有しており、これらの接続口どうしの連通状態および遮断状態が、制御部61によって独立に制御される。   The analysis apparatus 1 is provided with three-way valves 55 and 56. The three-way valves 55 and 56 each have three connection ports, and the connection state and the cutoff state of these connection ports are independently controlled by the control unit 61.

貯液槽11および試料槽12は、三方バルブ55、56を介して流路51または流路53と接続している。制御部61によって開閉が制御されており、分離流路21との連通状態および遮断状態が独立に制御される。流路51はマイクロチップ20、すなわち分離流路21へ繋がり、流路53は廃液槽13に繋がる。   The liquid storage tank 11 and the sample tank 12 are connected to the flow path 51 or the flow path 53 via three-way valves 55 and 56. Opening and closing is controlled by the control unit 61, and a communication state and a blocking state with the separation channel 21 are independently controlled. The channel 51 is connected to the microchip 20, that is, the separation channel 21, and the channel 53 is connected to the waste liquid tank 13.

電源部62は、分離流路21においてキャピラリ電気泳動法による分析を行うための電圧を印加するためのものであり、正極である電極24および負極である電極25に接続されている。印加される電圧は、例えば、1.5kV程度であり、正極と負極は反対の極性を印加する機能を備えていてもよい。   The power supply unit 62 is for applying a voltage for performing analysis by capillary electrophoresis in the separation channel 21 and is connected to the electrode 24 as a positive electrode and the electrode 25 as a negative electrode. The applied voltage is, for example, about 1.5 kV, and the positive electrode and the negative electrode may have a function of applying opposite polarities.

電気泳動による分離は、具体的には、制御部61の指示により、正極である電極24および負極である電極25に電源部62から電圧を印加し、泳動液に電極24から電極25へと向かう電気浸透流を発生させる。このとき、特定成分には、固有の電気泳動移動度に応じて電極24から電極25に向かって移動が生じる。   Specifically, the separation by electrophoresis applies a voltage from the power supply unit 62 to the electrode 24 serving as the positive electrode and the electrode 25 serving as the negative electrode according to an instruction from the control unit 61, and travels from the electrode 24 to the electrode 25 to the electrophoresis solution. Generate electroosmotic flow. At this time, the specific component moves from the electrode 24 toward the electrode 25 in accordance with the inherent electrophoretic mobility.

制御部61の指示により、分析測定部40は、分離流路21の特定の位置において、例えば照射用導光部31からの光源から光を照射し、その透過光を受光用導光部32によって受光する。より詳しくは、照射用制御ユニット35に備えられたLEDなどの光源から光ファイバ33を介して照射用導光部31より波長が415nm近傍の光を照射し、その透過光を受光用導光部32から光ファイバ34を介して受光用制御ユニット36に備えられたフォトダイオードなどの受光部で受光する。分離流路21の特定の位置を特定成分が通過すると、受光部で受光する光(吸光度)が変化し、その変化より特定成分の濃度や量を検出することができる。   According to an instruction from the control unit 61, the analysis measurement unit 40 emits light from a light source from, for example, the irradiation light guide unit 31 at a specific position of the separation channel 21, and transmits the transmitted light by the light reception light guide unit 32. Receive light. More specifically, light having a wavelength of around 415 nm is irradiated from a light source 31 for irradiation from a light source such as an LED provided in the irradiation control unit 35 through the optical fiber 33, and the light transmitted through the light guide unit for light reception. The light is received by a light receiving unit such as a photodiode provided in the light receiving control unit 36 from the optical fiber 34 through the optical fiber 34. When a specific component passes through a specific position of the separation channel 21, the light (absorbance) received by the light receiving unit changes, and the concentration and amount of the specific component can be detected from the change.

マイクロチップ20は、電気泳動のために分離流路21へ電圧を印加すること、および測定のために光を照射することによる熱が付加され、温度上昇により変形が生じる。マイクロチップ支持台41は熱伝導率の高いアルミなどの部材で形成して放熱しやすいよう構成されているので、マイクロチップ20の、マイクロチップ支持台41と対向しない側の面と比較して、マイクロチップ支持台41に接する側の面は、温度上昇が抑制される。その結果、マイクロチップ20の、マイクロチップ支持台41と対向しない側の面は温度上昇の影響を受けやすく、マイクロチップ20に熱膨張が発生し、マイクロチップ20は照射用導光部31側に向けて凸状に変形を生じる。   Heat is applied to the microchip 20 by applying a voltage to the separation channel 21 for electrophoresis and irradiating light for measurement, and the microchip 20 deforms due to temperature rise. Since the microchip support base 41 is formed of a member such as aluminum having a high thermal conductivity and is configured to easily dissipate heat, compared to the surface of the microchip 20 on the side not facing the microchip support base 41, The surface on the side in contact with the microchip support base 41 is suppressed from rising in temperature. As a result, the surface of the microchip 20 on the side not facing the microchip support base 41 is easily affected by the temperature rise, and thermal expansion occurs in the microchip 20, and the microchip 20 is placed on the irradiation light guide 31 side. Deforms in a convex shape.

照射用導光部31で測定のために光を照射する際に、照射用導光部31はマイクロチップ20に当接し、かつ、マイクロチップ20を押し付けるように、照射用導光部31は力F1でマイクロチップ20へ付勢しながら光を照射する。より詳しくは、遮蔽壁42に固定されたストッパ31dでコイルバネ31cが押し縮められる。その復元力により、照射用導光部31の先端にあるフェルール31aはマイクロチップ20へ力F1で付勢し、マイクロチップ20の測定箇所上部の分離流路21を、マイクロチップ支持台41の方向へ押し付けることができる。   When the irradiation light guide unit 31 emits light for measurement, the irradiation light guide unit 31 is in contact with the microchip 20 and presses the microchip 20 so that the irradiation light guide unit 31 is in force. Light is irradiated while urging the microchip 20 with F1. More specifically, the coil spring 31c is compressed by the stopper 31d fixed to the shielding wall 42. Due to the restoring force, the ferrule 31a at the tip of the irradiation light guide 31 is biased to the microchip 20 by the force F1, and the separation channel 21 above the measurement location of the microchip 20 is moved in the direction of the microchip support base 41. Can be pressed.

マイクロチップ20は、凸状に変形した箇所を元に戻す方向に付勢力(力F1)を受け、マイクロチップ20の変形を防止することができる。分離流路21が変形せずに済むので、変形が原因となって発生する分離流路21内の流動特性の変化や照射などの光の透過方向の変化を防止し、結果として、測定精度の低下を防止することができる。また、照射用導光部31とマイクロチップ20は接したままの状態を維持でき、光の照射位置が一定となり、測定における光学距離が一定となるので、測定精度の低下を抑制することができる。   The microchip 20 receives an urging force (force F1) in a direction to return the portion deformed into a convex shape, and can prevent the microchip 20 from being deformed. Since the separation channel 21 does not need to be deformed, a change in flow characteristics in the separation channel 21 and a change in the light transmission direction such as irradiation caused by the deformation are prevented. As a result, the measurement accuracy is improved. A decrease can be prevented. In addition, the irradiation light guide unit 31 and the microchip 20 can be kept in contact with each other, the light irradiation position is constant, and the optical distance in measurement is constant, so that a decrease in measurement accuracy can be suppressed. .

また、マイクロチップ20は遮蔽壁42の内部に置かれ、照射用制御ユニット35および受光用制御ユニット36からの熱による影響を受けずに済む。その結果、マイクロチップ20の温度上昇を低減させることができ、測定精度の低下を防止する。また、遮蔽壁42があることで、分析測定部40での迷光除去効果が向上し、測定精度の向上に寄与する。   Further, the microchip 20 is placed inside the shielding wall 42 and is not affected by heat from the irradiation control unit 35 and the light receiving control unit 36. As a result, an increase in temperature of the microchip 20 can be reduced, and a reduction in measurement accuracy is prevented. Further, the presence of the shielding wall 42 improves the stray light removal effect in the analysis measurement unit 40 and contributes to improvement in measurement accuracy.

さらに、受光用導光部32と受光用制御ユニット36を光ファイバ34で連結し、受光用導光部32と受光用制御ユニット36との間に距離を設けることで、受光用導光部32は受光用制御ユニット36からの熱による影響を受けずに済む。その結果、受光用導光部32がフォトダイオードなどの温度により受光感度が変化する部材の場合であっても、測定精度の低下を防止することができる。   Further, the light guide 32 for light reception and the control unit 36 for light reception are connected by an optical fiber 34, and a distance is provided between the light guide 32 for light reception and the control unit 36 for light reception. Is not affected by heat from the light receiving control unit 36. As a result, even if the light receiving light guide portion 32 is a member such as a photodiode whose light receiving sensitivity changes depending on the temperature, it is possible to prevent a decrease in measurement accuracy.

この分析結果を、例えば記憶部(図示せず)に記憶するなどして、分析を終える。以上の工程により、分析装置1を用いた分析が完了する。   The analysis result is completed by storing the analysis result in a storage unit (not shown), for example. The analysis using the analyzer 1 is completed through the above steps.

図6は、実施の形態の変形例1に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。基本的な構造は実施の形態に係る分析装置1と同じであり、受光用導光部32は照射用導光部31の様に、付勢することが可能なものであって、照射用導光部31より付勢する力が小さいものを用いる。   FIG. 6 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an analysis measurement unit of the analyzer according to the first modification of the embodiment. The basic structure is the same as that of the analyzer 1 according to the embodiment, and the light guide 32 for light reception can be energized like the light guide 31 for irradiation. The thing with small force urged | biased from the optical part 31 is used.

電圧の印加および光照射により、マイクロチップ20の分離流路21は温度上昇し、特に測光箇所近傍は温度上昇がより著しく発生する。マイクロチップ支持台41は熱伝導率の高いアルミなどの部材で形成して放熱しやすいよう構成されているので、マイクロチップ20の、マイクロチップ支持台41と対向しない側の面と比較して、マイクロチップ支持台41に接する側の面は、温度上昇が抑制される。その結果、マイクロチップ20の、マイクロチップ支持台41と対向しない側の面は温度上昇の影響を受けやすく、マイクロチップ20に熱膨張が発生し、マイクロチップ20は照射用導光部31側に向けて凸状に変形を生じる。   Due to the voltage application and the light irradiation, the temperature of the separation channel 21 of the microchip 20 rises, and the temperature rises more particularly in the vicinity of the photometric location. Since the microchip support base 41 is formed of a member such as aluminum having a high thermal conductivity and is configured to easily dissipate heat, compared to the surface of the microchip 20 on the side not facing the microchip support base 41, The surface on the side in contact with the microchip support base 41 is suppressed from rising in temperature. As a result, the surface of the microchip 20 on the side not facing the microchip support base 41 is easily affected by the temperature rise, and thermal expansion occurs in the microchip 20, and the microchip 20 is placed on the irradiation light guide 31 side. Deforms in a convex shape.

このとき、照射用導光部31は所定の力(力F1)でマイクロチップ20へ付勢し、マイクロチップ20をマイクロチップ支持台41へ押し付けるように付勢し、凸状に変形するのを防止する。それと同時に受光用導光部32は、照射用導光部31の方向へ、すなわち受光用導光部32からマイクロチップ20へ向けて、所定の力(力F2)を付勢する。   At this time, the irradiation light guide 31 is urged toward the microchip 20 with a predetermined force (force F1), urges the microchip 20 to be pressed against the microchip support base 41, and is deformed into a convex shape. To prevent. At the same time, the light receiving light guide 32 urges a predetermined force (force F2) toward the irradiation light guide 31, that is, from the light receiving light guide 32 toward the microchip 20.

受光用導光部32にバネなどの付勢する機能を備えることで、マイクロチップ20の分離流路21を挟み込むように押し付けることができる。その結果、照射用導光部31とマイクロチップ20は密着するように当接し、かつ、照射用導光部31に対向する受光用導光部32とマイクロチップ20は密着するように当接し、照射用導光部31と受光用導光部32とマイクロチップ20は一体となるような形となり、位置関係(光学距離)が一定となるため、測定精度の低下を抑制することができる。   By providing the light receiving light guide portion 32 with a function of urging a spring or the like, the light receiving portion 32 can be pressed so as to sandwich the separation channel 21 of the microchip 20. As a result, the irradiation light guide unit 31 and the microchip 20 come into contact with each other, and the light receiving light guide unit 32 and the microchip 20 facing the irradiation light guide unit 31 come into contact with each other. The irradiation light guide 31, the light reception light guide 32, and the microchip 20 are integrated, and the positional relationship (optical distance) is constant, so that a reduction in measurement accuracy can be suppressed.

仮に、マイクロチップ20に生じた凸状変形を照射用導光部31で付勢する力(力F1)で抑制できずに、マイクロチップ20に若干の凸状変形が生じる場合であっても、受光用導光部32からマイクロチップ20へ所定の力(力F2)が付勢されるため、照射用導光部31と受光用導光部32とマイクロチップ20は一体のまま、それぞれが接した状態を維持することができる。その結果、位置関係(光学距離)が一定となるため、測定精度の低下を抑制することができる。   Even if the convex deformation generated in the microchip 20 cannot be suppressed by the force (force F1) urging the irradiation light guide unit 31 and a slight convex deformation occurs in the microchip 20, Since a predetermined force (force F2) is urged from the light receiving light guide 32 to the microchip 20, the irradiation light guide 31, the light receiving light guide 32, and the microchip 20 remain integrated with each other. Can be maintained. As a result, since the positional relationship (optical distance) is constant, a decrease in measurement accuracy can be suppressed.

なお、受光用導光部32で付勢する力(力F2)が付勢されていない場合については、上述の実施の形態の場合(図5参照のこと)に等しくなる。   Note that the case where the force (force F <b> 2) energized by the light receiving light guide 32 is not energized is equal to the case of the above-described embodiment (see FIG. 5).

図7Aおよび図7Bは、実施の形態の変形例2に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。基本的な構造は実施の形態に係る分析装置1と同じであり、照射用導光部31と受光用導光部32の位置が、上下に反転した場合である。具体的には、受光用導光部32は、マイクロチップ20を挟み、マイクロチップ支持台41に対向する位置に備えられ、照射用導光部31は、マイクロチップ支持台41側の位置に備えられる。図7Aは図5に対応し、図7Bは図6に対応する。   7A and 7B are schematic configuration diagrams illustrating an example of an analysis measurement unit of the analysis apparatus according to the second modification of the embodiment. The basic structure is the same as that of the analyzer 1 according to the embodiment, and the positions of the light guide 31 for irradiation and the light guide 32 for light reception are inverted up and down. Specifically, the light receiving light guide 32 is provided at a position facing the microchip support base 41 with the microchip 20 interposed therebetween, and the irradiation light guide 31 is provided at a position on the microchip support base 41 side. It is done. 7A corresponds to FIG. 5, and FIG. 7B corresponds to FIG.

本実施の形態では、図7Aのように、マイクロチップ支持台41へマイクロチップ20を付勢する付勢手段を備える必要がある。少なくとも受光用導光部32は所定の力(力F2)でマイクロチップ20を付勢する付勢手段を備える。   In the present embodiment, as shown in FIG. 7A, it is necessary to provide an urging means for urging the microchip 20 toward the microchip support base 41. At least the light receiving light guide 32 includes a biasing unit that biases the microchip 20 with a predetermined force (force F2).

また、図7Bのように、受光用導光部32だけでなく照射用導光部31にも付勢手段を備える場合、照射用導光部31の付勢する力(力F1)は受光用導光部32の付勢する力(力F2)より小さくなるように付勢手段を備える。受光用導光部32の付勢する力(力F2)を、照射用導光部31の付勢する力(力F1)より大きくすることで、マイクロチップ支持台41へマイクロチップ20を付勢することができる。   Further, as shown in FIG. 7B, when the urging means is provided not only for the light receiving light guide 32 but also for the irradiation light guide 31, the urging force (force F1) of the irradiation light guide 31 is for light reception. An urging means is provided so as to be smaller than the force (force F2) urged by the light guide unit 32. The microchip 20 is urged to the microchip support 41 by making the force (force F2) urging the light receiving light guide portion 32 larger than the force (force F1) urging the irradiation light guide portion 31. can do.

図8は、実施の形態の変形例3に係る分析装置の、分析測定部の一例を示す概略構成図である。基本的な構造は実施の形態に係る分析装置1と同じであり、マイクロチップ押さえ43を追加して備えた場合である。   FIG. 8 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an analysis measurement unit of the analysis apparatus according to the third modification of the embodiment. The basic structure is the same as that of the analyzer 1 according to the embodiment, and is a case where the microchip presser 43 is additionally provided.

マイクロチップ押さえ43は、マイクロチップ20のマイクロチップ支持台41への固定が不充分となる場合など、例えば、マイクロチップ20が樹脂などの軽量な部材で形成されマイクロチップ支持台41へ固持されにくい場合に備える。本発明においては、マイクロチップ押さえ43は、所定の力(力F3)で、マイクロチップ20をマイクロチップ支持台41へ押さえ付けることができるものを用いる。   For example, when the microchip 20 is insufficiently fixed to the microchip support base 41, the microchip 20 is formed of a lightweight member such as a resin and is not easily fixed to the microchip support base 41. Prepare for the case. In the present invention, a microchip presser 43 that can press the microchip 20 against the microchip support base 41 with a predetermined force (force F3) is used.

照射用導光部31はマイクロチップ20に当接し、マイクロチップ20へ所定の力(力F1)でマイクロチップ支持台41へ向けて付勢し、マイクロチップ押さえ43も所定の力(力F3)でマイクロチップ支持台41へ向けて付勢する。その結果、分析時においてマイクロチップ20に凸状の変形が生じる場合であっても、照射用導光部31とマイクロチップ押さえ43とで付勢され、変形が生じるのを抑制する。このとき、照射用導光部31で付勢する際の所定の力(力F1)は、照射用導光部31のみで付勢する場合よりも、小さくてよい。   The irradiation light guide unit 31 abuts on the microchip 20 and urges the microchip 20 toward the microchip support base 41 with a predetermined force (force F1), and the microchip presser 43 also has a predetermined force (force F3). Then, it is biased toward the microchip support base 41. As a result, even when convex deformation occurs in the microchip 20 at the time of analysis, the irradiation light guide unit 31 and the microchip presser 43 are energized to suppress the deformation. At this time, the predetermined force (force F <b> 1) when energizing with the irradiation light guide unit 31 may be smaller than when energizing only with the irradiation light guide unit 31.

また、受光用導光部32でも所定の力(力F2)で付勢する場合について、マイクロチップ押さえ43を備えない場合は、照射用導光部31で付勢する所定の力(力F1)は受光用導光部32で付勢する所定の力(力F2)より大きくなければならなかったが、同等であってもよい。マイクロチップ押さえ43があることで、マイクロチップ20をマイクロチップ支持台41へ向けて付勢し、マイクロチップ20に凸状変形が生じるのを抑制することが可能となる。その結果、マイクロチップ20の変形を押さえ、測定精度が低下するのを防止できる。さらに、照射用導光部31と受光用導光部32で、間にあるマイクロチップ20(測光箇所の分離流路21を含む)を挟み込むように固持し、光学距離を一定に保つことができ、より精度の高い測定をすることができる。   In the case where the light guide 32 for light reception is urged with a predetermined force (force F2), when the microchip presser 43 is not provided, the predetermined force (force F1) urged with the light guide 31 for irradiation is used. Must be greater than a predetermined force (force F2) urged by the light receiving light guide 32, but may be equivalent. With the microchip presser 43, the microchip 20 can be urged toward the microchip support base 41, and it is possible to suppress the convex deformation of the microchip 20. As a result, the deformation of the microchip 20 can be suppressed and the measurement accuracy can be prevented from being lowered. In addition, the light guide 31 for irradiation and the light guide 32 for light reception can be held so as to sandwich the microchip 20 (including the separation flow path 21 at the photometric location) between them, and the optical distance can be kept constant. , More accurate measurement can be performed.

図9Aは、本実施の形態に係る分析装置の、マイクロチップの一例を示す概略構成図である。マイクロチップ20は、検出部30を備える箇所の分離流路21の上部に、ガイド(凹部)26を備える。ガイド26は、間隙を有して、照射用導光部31を嵌合することができる。   FIG. 9A is a schematic configuration diagram showing an example of a microchip of the analyzer according to the present embodiment. The microchip 20 includes a guide (concave portion) 26 on the upper part of the separation channel 21 where the detection unit 30 is provided. The guide 26 has a gap, and can fit the irradiation light guide 31.

図9Bは、図9AのZ−Z線断面図である。ガイド26は、分離流路21上の、所定の位置に形成されており、照射用導光部31から分離流路21へ決まった位置へ光を照射することができる。その結果、ガイド26へ照射用導光部31を嵌合するだけで、位置あわせをすることなく所定の位置に光を照射でき、容易にマイクロチップ20をマイクロチップ支持台41へ配設することが可能となる。また、光を照射する位置が固定するため、測定における光学距離が一定となり、安定して測定をすることができる。   9B is a cross-sectional view taken along the line ZZ in FIG. 9A. The guide 26 is formed at a predetermined position on the separation channel 21 and can irradiate light to a predetermined position from the irradiation light guide 31 to the separation channel 21. As a result, it is possible to irradiate light to a predetermined position without positioning by simply fitting the light guide 31 for irradiation to the guide 26, and the microchip 20 can be easily disposed on the microchip support base 41. Is possible. In addition, since the position where light is irradiated is fixed, the optical distance in measurement is constant, and measurement can be performed stably.

また、ガイド26を備えたマイクロチップ20を用いることで、照射用導光部31でマイクロチップ20へ向けて付勢する力を加えるときに、接圧位置が固定されるので、安定して力を付加することが可能となる。所定の検出箇所に、ある一定の力で、マイクロチップ20に付加を加えることで、安定した測定、ここでは光の照射および受光を行うことができる。   In addition, by using the microchip 20 provided with the guide 26, the contact pressure position is fixed when a force for urging the microchip 20 by the irradiation light guide unit 31 is applied. Can be added. By applying an addition to the microchip 20 with a certain force at a predetermined detection location, stable measurement, in this case, light irradiation and light reception can be performed.

以上説明したように、実施の形態に係る分析装置によれば、熱影響を低減し測定精度の低下を防止することができる。   As described above, according to the analyzer according to the embodiment, it is possible to reduce the thermal effect and prevent the measurement accuracy from being lowered.

特定成分の検出において、マイクロチップの分離流路に光を照射する際に、光照射手段を用いて直接マイクロチップに付勢する力を加えることで、熱によるマイクロチップおよび分離流路の変形を防止することができ、分離流路内における流動特性の変化や照射などの光の透過方向の変化を防止し、測定精度の低下を防止することができる。また、光照射手段を用いて直接マイクロチップに付勢する力を加えることで、マイクロチップを挟み両側にある導光手段の間の距離を一定に保つことができ、光学距離が一定となり測定精度の低下を抑制する。   In the detection of a specific component, when irradiating light to the separation channel of the microchip, the microchip and the separation channel can be deformed by heat by applying a force that directly urges the microchip using the light irradiation means. It is possible to prevent changes in flow characteristics in the separation channel and changes in the light transmission direction such as irradiation, and it is possible to prevent a decrease in measurement accuracy. Also, by applying a force that directly urges the microchip using the light irradiation means, the distance between the light guide means on both sides of the microchip can be kept constant, and the optical distance becomes constant and the measurement accuracy Suppresses the decline.

さらに、マイクロチップ(分離流路)に当接するもしくは近接する導光手段と、受光用制御ユニットを光ファイバを用いて距離を遠ざけて配置することにより、フォトダイオードなどの受光部と受光用制御ユニットを遠ざけることができる。その結果、温度によるフォトダイオードの受光感度の変化を少なくし、測定精度の低下を防止することができる。   Further, by arranging the light guiding means that contacts or is close to the microchip (separation flow path) and the light receiving control unit using an optical fiber, the light receiving unit such as a photodiode and the light receiving control unit are arranged. Can be kept away. As a result, it is possible to reduce the change in the light receiving sensitivity of the photodiode due to the temperature and prevent the measurement accuracy from being lowered.

また、マイクロチップ(分離流路)に当接するもしくは近接する導光手段と、導光手段の光照射・受光用制御ユニットを隔離して備えることで、マイクロチップへの熱影響を低減し、緩衝液の曇点による測定精度の低下を防止できる。また、所定の温度以上で発生する試料の変性、例えば高温下でのタンパク質凝固が発生するのを低減させ、測定精度の低下を防止することができる。   In addition, the light guide means that comes into contact with or close to the microchip (separation flow path) and the light irradiation / light reception control unit of the light guide means are provided separately to reduce the thermal effect on the microchip and buffer A decrease in measurement accuracy due to the cloud point of the liquid can be prevented. In addition, it is possible to reduce the denaturation of the sample that occurs at a predetermined temperature or higher, for example, the occurrence of protein coagulation at a high temperature, and to prevent a decrease in measurement accuracy.

本実施の形態に係る分析装置において、上述した例に限定されるものではない。本発明に係る分析装置の具体的な構成は、種々に設計変更自在である。例えば、流路の構成や貯槽部の数、各機能部を配置する位置、各機能部の形状などを、分析装置の用途に合わせて設計することができる。分析装置での分析については、光学分析の反射率、透過率、吸光度、蛍光または発光のうち、少なくともいずれか1つの指標を用いる分析に適用することができる。   The analyzer according to the present embodiment is not limited to the example described above. The specific configuration of the analyzer according to the present invention can be varied in design in various ways. For example, the configuration of the flow path, the number of reservoirs, the position where each functional unit is arranged, the shape of each functional unit, and the like can be designed in accordance with the application of the analyzer. The analysis using the analyzer can be applied to an analysis using at least one of the reflectance, transmittance, absorbance, fluorescence, and luminescence of optical analysis.

本実施の形態で説明したマイクロチップへ生じる変形の例は一例である。分析装置の種類、分析方法、分析対象、用いるマイクロチップなど様々な要因により、マイクロチップの変形する形状、変形度合いや変形する向きなどは異なる。本実施の形態では、光照射手段および/または受光手段を用いて、マイクロチップを支持部材へ向けて押さえ付けるように付勢し、マイクロチップの変形を抑制することができればよく、上述の例に限定されない。また、付勢する力の大きさについても、マイクロチップの材質や分析温度、光照射手段で付勢する力と受光手段で付勢する力の差、および付勢する力の方向などを考慮して、任意に設定することができる。   The example of deformation that occurs in the microchip described in this embodiment is an example. Depending on various factors such as the type of analysis apparatus, analysis method, analysis target, and microchip used, the shape, degree of deformation, and direction of deformation of the microchip vary. In the present embodiment, it is only necessary to use the light irradiation means and / or the light receiving means to urge the microchip to be pressed toward the support member and to suppress the deformation of the microchip. It is not limited. In addition, the magnitude of the biasing force also takes into account the material of the microchip, the analysis temperature, the difference between the biasing force of the light irradiation means and the biasing force of the light receiving means, and the direction of the biasing force. Can be set arbitrarily.

分析に用いる導光手段で付勢する力は、コイルバネに限らず、板バネやその他弾性体を用いてよい。また、マイクロチップ(分離流路)に導光手段を配置する箇所は、上述した例に限定されない。配置する際に、光照射と受光の、光軸の同心度ができるだけ小さくなるように配置されることが好ましい。   The force urged by the light guide means used for analysis is not limited to a coil spring, and a leaf spring or other elastic body may be used. Further, the location where the light guiding means is arranged on the microchip (separation channel) is not limited to the above-described example. When arranging, it is preferable to arrange so that the concentricity of the optical axis between light irradiation and light reception is as small as possible.

マイクロチップは、樹脂製に限らず、ガラス製などであってもよい。また、マイクロチップに備える分離流路の本数は、1本に限らず複数であってもよい。分離流路の構成は、いわゆるストレート形状に限定されず、2つの流路が公差したクロスインジェクション形状であってもよい。   The microchip is not limited to resin but may be made of glass. Further, the number of separation channels provided in the microchip is not limited to one and may be plural. The configuration of the separation channel is not limited to a so-called straight shape, and may be a cross-injection shape in which two channels are toleranced.

1 分析装置
11 貯液槽
12 試料槽
13 廃液槽
14 分注部
20 マイクロチップ
21 分離流路
22 導入孔
23 排出孔
24、25 電極
26 ガイド(凹部)
30 検出部
31 照射用導光部
31a、32a フェルール
31b、32b ホルダ
31c、32c コイルバネ
31d、32d ストッパ
32 受光用導光部
33、34 光ファイバ
35 照射用制御ユニット
36 受光用制御ユニット
40 分析測定部
41 マイクロチップ支持台
42 遮蔽壁
43 マイクロチップ押さえ
51〜53 流路
55、56 三方バルブ
61 制御部
62 電源部
L 貯液
K 試料液
1 Analyzer
11 Liquid storage tank
12 Sample tank
13 Waste liquid tank
14 Dispensing part
20 microchip
21 Separation channel
22 Introduction hole
23 Discharge hole 24, 25 Electrode
26 Guide (recess)
30 detector
31 Irradiation light guide 31a, 32a Ferrule 31b, 32b Holder 31c, 32c Coil spring 31d, 32d Stopper
32 Light-receiving portion for light reception 33, 34 Optical fiber
35 Irradiation control unit
36 Control unit for light reception
40 Analysis measurement unit
41 Microchip support
42 Shielding wall
43 Microchip retainer 51-53 Flow path 55, 56 Three-way valve
61 Control unit
62 Power supply
L liquid storage
K sample solution

Claims (10)

測光部を有するマイクロチップと、
前記マイクロチップの一方側の面を支持すると共に前記マイクロチップの熱を放熱させる支持部材と、
前記マイクロチップの他方側の面に当接され、前記測光部に光を照射する第1の導光手段と、
前記支持部材に形成された貫通部へ挿入されて前記マイクロチップの一方側の面に当接され、前記測光部を介した光を受光する第2の導光手段と、
前記第1の導光手段を前記マイクロチップ側へ付勢する第1の付勢手段と、
前記第2の導光手段を前記マイクロチップ側へ付勢すると共に、前記第1の付勢手段よりも付勢力が小さい第2の付勢手段と、
を備えることを特徴とする分析装置。
A microchip having a photometric unit;
A support member that supports one side of the microchip and dissipates heat from the microchip ;
A first light guide means that is in contact with the other surface of the microchip and irradiates light to the photometry unit;
A second light guiding means that is inserted into a penetrating portion formed in the support member and is brought into contact with a surface on one side of the microchip to receive light via the photometric portion;
First biasing means for biasing the first light guide means toward the microchip;
A second biasing means for biasing the second light guide means toward the microchip and having a biasing force smaller than that of the first biasing means;
An analysis apparatus comprising:
測光部を有するマイクロチップと、A microchip having a photometric unit;
前記マイクロチップの一方側の面を支持すると共に前記マイクロチップの熱を放熱させる支持部材と、A support member that supports one side of the microchip and dissipates heat from the microchip;
前記支持部材に形成された貫通部へ挿入されて前記マイクロチップの一方側の面に当接され、前記測光部に光を照射する第1の導光手段と、A first light guiding means that is inserted into a penetrating portion formed in the support member and is brought into contact with a surface on one side of the microchip, and irradiates light to the photometric portion;
前記マイクロチップの他方側の面に当接され、前記測光部を介した光を受光する第2の導光手段と、A second light guide means which is in contact with the other surface of the microchip and receives light via the photometry unit;
前記第1の導光手段を前記マイクロチップ側へ付勢する第1の付勢手段と、First biasing means for biasing the first light guide means toward the microchip;
前記第2の導光手段を前記マイクロチップ側へ付勢すると共に、前記第1の付勢手段よりも付勢力が大きい第2の付勢手段と、Urging the second light guide means toward the microchip, and a second urging means having a larger urging force than the first urging means;
を備えることを特徴とする分析装置。An analysis apparatus comprising:
前記第1の導光手段及び前記第2の導光手段の少なくとも一方は、光ファイバを含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の分析装置。The analyzer according to claim 1 or 2, wherein at least one of the first light guide unit and the second light guide unit includes an optical fiber. 前記第1の導光手段及び前記第2の導光手段の少なくとも一方は、レンズ、フィルタ、ハウジングのいずれかを含み構成されることを特徴とする請求項1又は2に記載の分析装置。3. The analyzer according to claim 1, wherein at least one of the first light guide unit and the second light guide unit includes a lens, a filter, or a housing. 前記第1の付勢手段及び前記第2の付勢手段の少なくとも一方は、弾性部材を有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の分析装置。5. The analyzer according to claim 1, wherein at least one of the first urging unit and the second urging unit includes an elastic member. 前記弾性部材は、バネ機構を備えることを特徴とする請求項5に記載の分析装置。The analyzer according to claim 5, wherein the elastic member includes a spring mechanism. 前記第2の導光手段は、受光用制御ユニットに接続されており、The second light guiding means is connected to a light receiving control unit,
前記受光用制御ユニットは、フォトダイオードを含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の分析装置。The analyzer according to claim 1, wherein the light receiving control unit includes a photodiode.
前記マイクロチップは、流路が形成された光透過性部材を有し、前記測光部は該流路であることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の分析装置。The analyzer according to any one of claims 1 to 7, wherein the microchip includes a light-transmitting member in which a channel is formed, and the photometric unit is the channel. 前記マイクロチップは、樹脂で形成されることを特徴とする請求項8に記載の分析装置。The analyzer according to claim 8, wherein the microchip is made of a resin. 光学分析の反射率、透過率、吸光度、蛍光または発光のうち、少なくともいずれか1つの指標を用いて分析を行うことを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の分析装置。The analysis apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the analysis is performed using at least any one of an index among reflectance, transmittance, absorbance, fluorescence, and light emission of optical analysis.
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