JP5764970B2 - ダスト計 - Google Patents
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Description
(1)大気採取箇所にサンプリングパイプ14の流入端を配置する。一方、β線源24から放射され、濾紙32を透過してβ線検出器26に到達するβ線強度を測定し、この測定値I0を演算制御部40に記憶する。
(2)ポンプ18を所定時間作動させて所定量の大気を吸引した後、ポンプ18を停止させる。これにより大気中のダストが濾別され、濾紙32の上面にダストの沈着層44が形成される。この状態において濾紙32及びダストの沈着層44を透過してβ線検出器26に到達するβ線源24からのβ線強度を測定する。得られた測定値Iは演算制御部40に送られ、この測定値Iと予め記憶されている測定値I0とを用いてダスト濃度が算出され、表示部42に表示される。ダスト濃度Cの算出は下記式により行われる。
C=[A/(μQt)]・ln(I0/I)
C:ダスト濃度(g/cm2)
A:捕集面積(cm2)
μ:質量吸収係数(cm2/g)
Q:気相通過流量(cm3/min)
t:捕集時間(min)
I:濾紙及びダストを透過したβ線強度
I0:濾紙のみを透過したβ線強度
(3)その後、ブロック6、8を上下に開くとともに、ピンチローラ36を駆動して濾紙32を所定距離前方に移動させる。これにより沈着層44がガス流路10外に移動し、ガス流路10内にはダストが沈着していない新たな濾紙部分が供給され、この状態においてブロック6、8間の間隙が閉じられて最初の状態に復帰する。以後、同様の操作が繰り返されてダスト濃度が測定され続けるが、これらの動作は全て演算制御部40の制御により行われる。
(A)上下ブロック間に校正用具を手作業で配置する場合、校正用具の支持板や等価膜が濾紙に接触して、濾紙の位置が変化することがある。濾紙の密度及び質量は場所によってムラがあるため、上記のように濾紙の位置が変化すると測定値に影響を与え、等価膜校正の再現性が悪くなる。
(B)前述した測定セルは、通常は下ブロックを上下動させて上下ブロックの開閉を行うが、上下ブロック間に校正用具を配置しやすくするために上下ブロックを大きく開くようにすると、上下動する下ブロックの動きによって濾紙の位置が変化することがある。このように濾紙の位置が変化すると、(A)と同様に等価膜校正の再現性が悪くなる。
開閉可能な上下ブロックを有するとともに、内部にガス流路及びβ線照射路が形成され、前記ガス流路を流れる気相中のダストを上下ブロックで挟持した濾紙上に吸引捕集するとともに、前記β線照射路を通して濾紙にβ線を照射することにより、ダスト捕集前後における濾紙の透過β線強度を計測する測定セルを備え、
ダスト捕集前における濾紙のみの透過β線強度を計測した後、上下ブロックを開いた状態で、透孔を有する支持板に前記透孔を覆って等価膜を固着した校正用具を上下ブロック間に手作業で挿入し、次いで上下ブロックを閉じて濾紙及び等価膜を透過した透過β線強度を計測することにより等価膜校正を行うダスト計であって、
下ブロックの上面に濾紙が配置される部分を含む領域に、深さが濾紙の厚さより大きい第1凹部と、前記第1凹部内におけるガス流路の周囲に前記第1凹部より深い第2凹部とを形成し、濾紙が前記第1凹部の底面に接触するようにするとともに、
上ブロックの下面のガス流路の周囲に、前記第2凹部の平面形状より小さい底面形状を有する凸部を形成し、濾紙のみを透過した透過β線強度を計測するときに、前記凸部が濾紙を下ブロックに対して押圧するとともに、濾紙及び等価膜を透過した透過β線強度を計測するときに、前記凸部が等価膜を濾紙及び下ブロックに対して押圧することを特徴とするダスト計を提供する。
さらに、上ブロックに形成した凸部が濾紙を下ブロックに対して押圧することにより、濾紙及び下ブロックが密着した状態で濾紙のみの透過β線強度を測定することができるとともに、上記凸部が等価膜を濾紙及び下ブロックに対して押圧することにより、等価膜、濾紙及び下ブロックが密着した状態で濾紙及び等価膜の透過β線強度を測定することができ、等価膜校正の再現性を向上させることができる。
102 上ブロック
104 下ブロック
106 ガス流路
108 テープ状濾紙
110 校正用具
112 金属製支持板
114 透孔
116 等価膜
118 第1凹部
120 第2凹部
124 凸部
Claims (2)
- 開閉可能な上下ブロックを有するとともに、内部にガス流路及びβ線照射路が形成され、前記ガス流路を流れる気相中のダストを上下ブロックで挟持した濾紙上に吸引捕集するとともに、前記β線照射路を通して濾紙にβ線を照射することにより、ダスト捕集前後における濾紙の透過β線強度を計測する測定セルを備え、
ダスト捕集前における濾紙のみの透過β線強度を計測した後、上下ブロックを開いた状態で、透孔を有する支持板に前記透孔を覆って等価膜を固着した校正用具を上下ブロック間に手作業で挿入し、次いで上下ブロックを閉じて濾紙及び等価膜を透過した透過β線強度を計測することにより等価膜校正を行うダスト計であって、
下ブロックの上面に濾紙が配置される部分を含む領域に、深さが濾紙の厚さより大きい第1凹部と、前記第1凹部内におけるガス流路の周囲に前記第1凹部より深い第2凹部とを形成し、濾紙が前記第1凹部の底面に接触するようにするとともに、
上ブロックの下面のガス流路の周囲に、前記第2凹部の平面形状より小さい底面形状を有する凸部を形成し、濾紙のみを透過した透過β線強度を計測するときに、前記凸部が濾紙を下ブロックに対して押圧するとともに、濾紙及び等価膜を透過した透過β線強度を計測するときに、前記凸部が等価膜を濾紙及び下ブロックに対して押圧することを特徴とするダスト計。 - 下ブロックの校正用具を挿入する入口部分の前側上端部が、上ブロックの同部分の前側下端部よりも前方に突出していることを特徴とする請求項1に記載のダスト計。
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JP2011040023A JP5764970B2 (ja) | 2011-02-25 | 2011-02-25 | ダスト計 |
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