JP5745125B2 - Liquid crystal display - Google Patents

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Description

本発明は、液晶表示装置に関する。   The present invention relates to a liquid crystal display device.

液晶を用いた表示装置は、CRTに代わるフラットパネルディスプレイの一つとして、低消費電力や薄型であるという特徴を活かした製品への応用が盛んにされている。   Display devices using liquid crystals are actively applied to products that take advantage of their low power consumption and thinness as one of flat panel displays that replace CRTs.

液晶表示装置(Liquid Crystal Display:LCD)には、単純マトリックス型LCDと、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor:TFT)をスイッチング素子として用いるTFT−LCDとがある。TFT−LCDは、携帯性、表示品位の点においてCRTや単純マトリックス型LCDより優れており、ノート型パソコン等に広く実用化されている。一般的に、TFT−LCDでは、TFTがアレイ状に形成されたTFTアレイ基板と対向基板との間に液晶層が挟持される。そして、TFTアレイ基板および対向基板の外側にはそれぞれ偏光板が設けられ、さらに一方の側には光源が設けられている。このような構成により、TFT−LCDは良好な表示が得られる。   Liquid crystal displays (LCDs) include simple matrix LCDs and TFT-LCDs that use thin film transistors (TFTs) as switching elements. TFT-LCDs are superior to CRTs and simple matrix LCDs in terms of portability and display quality, and are widely put into practical use in notebook personal computers and the like. In general, in a TFT-LCD, a liquid crystal layer is sandwiched between a TFT array substrate in which TFTs are formed in an array and a counter substrate. A polarizing plate is provided outside the TFT array substrate and the counter substrate, and a light source is provided on one side. With such a configuration, a good display can be obtained on the TFT-LCD.

TFT−LCDには、光源として内蔵されたバックライトの光を透過させることにより画像表示を行う透過型の他に、外部から入射した光を反射板で反射させることにより画像表示を行う反射型がある。また、TFT−LCDには、透過型と反射型の両者の機能を兼ね備えた半透過型がある。半透過型の液晶表示装置は、周囲光が明るい場合は外光の反射を利用し、暗い場合はバックライトを利用するため、屋内と屋外の両方の環境下で良好な表示特性を得ることができる。近年では、モバイル用表示装置の増加に伴い、携帯電話、携帯音楽プレーヤー等の小型ディスプレイや、携帯映像プレーヤー、PDA、車載用ナビゲーション等の中型ディスプレイ向けに半透過型TFT−LCDパネルの需要が大きくなってきている。   In addition to a transmissive type that displays an image by transmitting light from a backlight built in as a light source, a TFT-LCD includes a reflective type that displays an image by reflecting light incident from the outside with a reflector. is there. In addition, the TFT-LCD includes a transflective type having both functions of a transmissive type and a reflective type. A transflective liquid crystal display device uses external light reflection when ambient light is bright, and uses backlight when it is dark, so it can obtain good display characteristics in both indoor and outdoor environments. it can. In recent years, with the increase in mobile display devices, there is a great demand for transflective TFT-LCD panels for small displays such as mobile phones and portable music players, and medium-sized displays such as portable video players, PDAs and car navigation systems. It has become to.

TFT−LCDでは、TFTアレイ基板を作製するにあたり、半導体技術を用いてガラス基板上にTFTをアレイ状に形成する必要があり、多くの工程数を必要とする。そのため、製造に必要となる装置の数が多くなり、製造コストが高くなるという問題がある。特に、半透過型TFT−LCDでは、反射画素電極と透過画素電極の両方を形成する必要があるため、通常の透過型TFT−LCDや反射型TFT−LCDに比べて工程数が多くなり製造コストが増大してしまう。   In the TFT-LCD, when manufacturing a TFT array substrate, it is necessary to form TFTs in an array on a glass substrate using a semiconductor technology, which requires a large number of processes. Therefore, there is a problem that the number of devices required for manufacturing increases and the manufacturing cost increases. In particular, in a transflective TFT-LCD, it is necessary to form both a reflective pixel electrode and a transmissive pixel electrode. Therefore, the number of processes is increased compared to a normal transmissive TFT-LCD and a reflective TFT-LCD, and the manufacturing cost is increased. Will increase.

そこで、例えば特許文献1には、半透過型TFT−LCDのTFTアレイ基板製造に用いるフォトマスク数を削減する技術が開示されている。特許文献1では、ハーフトーン露光技術を用いて、画素電極の反射画素電極と透過画素電極とを1回のフォトリソグラフィーで形成している。これにより、従来6回のフォトリソグラフィープロセスで形成していたTFTアレイ基板を特許文献1は5回のフォトリソグラフィープロセスで形成することができ、フォトマスク数を削減できる。   Thus, for example, Patent Document 1 discloses a technique for reducing the number of photomasks used for manufacturing a TFT array substrate of a transflective TFT-LCD. In Patent Document 1, the reflection pixel electrode and the transmission pixel electrode of the pixel electrode are formed by one photolithography using a halftone exposure technique. Accordingly, in Patent Document 1, a TFT array substrate that has been conventionally formed by six photolithography processes can be formed by five photolithography processes, and the number of photomasks can be reduced.

特開2005−215277号公報JP 2005-215277 A

特許文献1の方法で、反射画素電極と透過画素電極とを1回のフォトリソグラフィーで形成する場合、透過画素電極となる透明導電層と反射画素電極となる反射金属層とを成膜した後、まず、膜厚差を有するレジストパターンを形成する。この膜厚差を有するレジストパターンをマスクとして、反射金属層をエッチングする。次に、酸素プラズマ処理により、膜厚差を有するレジストパターンの薄膜部を除去する。その後、反射金属層と、薄膜部の除去されたレジストパターンとをマスクとして透明導電層をエッチングする。そして、薄膜部の除去されたレジストパターンをマスクとして反射金属層を再度エッチングする。これにより、透過画素部の反射金属層が除去されて、反射画素電極と透過画素電極とが形成される。   When the reflective pixel electrode and the transmissive pixel electrode are formed by a single photolithography by the method of Patent Document 1, after forming the transparent conductive layer to be the transmissive pixel electrode and the reflective metal layer to be the reflective pixel electrode, First, a resist pattern having a film thickness difference is formed. The reflective metal layer is etched using the resist pattern having this film thickness difference as a mask. Next, the thin film portion of the resist pattern having a film thickness difference is removed by oxygen plasma treatment. Thereafter, the transparent conductive layer is etched using the reflective metal layer and the resist pattern from which the thin film portion has been removed as a mask. Then, the reflective metal layer is etched again using the resist pattern from which the thin film portion has been removed as a mask. As a result, the reflective metal layer in the transmissive pixel portion is removed, and a reflective pixel electrode and a transmissive pixel electrode are formed.

一般的に、膜厚差を有するレジストパターンの薄膜部を除去するには、例えば酸素プラズマ処理など、ドライエッチャーによりレジストを酸化分解する灰化除去(アッシング)を行われる。しかしながら、特許文献1の方法では、透明導電層が表面に露出した状態でアッシングを行うことになるため、異常放電が生じることがある。異常放電により、透明導電層だけでなく、その下に設けられた有機膜にまでもダメージを与えてしまう。また、さらに下層に設けられた配線が断線する等の不良を引き起こすこともある。   In general, in order to remove a thin film portion of a resist pattern having a difference in film thickness, ashing removal (ashing) for oxidizing and decomposing the resist by a dry etcher such as oxygen plasma treatment is performed. However, in the method of Patent Document 1, ashing is performed in a state where the transparent conductive layer is exposed on the surface, and thus abnormal discharge may occur. The abnormal discharge damages not only the transparent conductive layer but also the organic film provided therebelow. In addition, the wiring provided in the lower layer may cause a failure such as disconnection.

一方、これとは別に、アッシング時の異常放電を未然に防ぐために、アッシング前に露出している透明導電層を予め除去しておく方法がある。具体的には、膜厚差を有するレジストパターンをマスクとして透明導電層と反射金属層とをエッチングしてからアッシングを行い、薄膜部の除去されたレジストパターンをマスクとして反射金属層を再度エッチングする。この方法においても、特許文献1と同様に、反射画素電極と透過画素電極とを1回のフォトリソグラフィーで形成できる。   On the other hand, in order to prevent abnormal discharge during ashing, there is a method in which the transparent conductive layer exposed before ashing is removed in advance. Specifically, the transparent conductive layer and the reflective metal layer are etched using a resist pattern having a film thickness difference as a mask, and then ashing is performed, and the reflective metal layer is etched again using the resist pattern from which the thin film portion has been removed as a mask. . Also in this method, similarly to Patent Document 1, the reflective pixel electrode and the transmissive pixel electrode can be formed by one photolithography.

しかしながら、この方法では、透明導電層が除去されることでその下の有機膜が表面に露出してしまう。半透過型液晶表示装置では、良好な散乱特性を得るために、表面に凹凸パターンを有する有機膜が画素電極の下層に設けられている。この露出した部分の有機膜は、膜厚差を有するレジストパターンの薄膜部を除去するためのアッシングによって、レジストパターン同様に膜減りする。従って、有機膜の膜厚は、透明導電層に覆われた部分と覆われていない部分とで、大きく異なることとなる。   However, in this method, the transparent conductive layer is removed, and the underlying organic film is exposed on the surface. In the transflective liquid crystal display device, an organic film having a concavo-convex pattern on the surface is provided below the pixel electrode in order to obtain good scattering characteristics. The exposed portion of the organic film is reduced in thickness in the same manner as the resist pattern by ashing for removing the thin film portion of the resist pattern having a film thickness difference. Therefore, the film thickness of the organic film differs greatly between the portion covered by the transparent conductive layer and the portion not covered.

このようにして形成されたTFTアレイ基板を用いた従来の液晶表示装置の断面図を図19に示す。図19において、TFTアレイ基板10と対向基板30とが互いに対向して配置されている。そして、これら両基板を貼り合わせるシール材37との間の空間に液晶層36が狭持されている。シール材37は液晶表示装置の表示領域を囲うように枠状に形成されている。   FIG. 19 shows a cross-sectional view of a conventional liquid crystal display device using the TFT array substrate thus formed. In FIG. 19, the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are arranged to face each other. The liquid crystal layer 36 is held in a space between the sealing material 37 for bonding these two substrates. The sealing material 37 is formed in a frame shape so as to surround the display area of the liquid crystal display device.

TFTアレイ基板10は、基板の上にゲート配線(不図示)及びソース配線(不図示)がそれぞれ絶縁膜(不図示)を介して形成されている。そして、これらゲート配線、ソース配線、絶縁膜などの上層に、有機膜18が設けられている。有機膜18上には、透過画素電極191と反射画素電極192とが積層された画素電極19が各画素に形成されている。この画素電極19がマトリクス状に配置された領域が表示領域41となる。有機膜18は、上述したように、透明導電層に覆われた部分と覆われていない部分とで膜厚が異なっている。そのため、透明導電層に覆われていない部分、すなわち画素間領域や額縁領域42では、画素領域よりも有機膜18の膜厚が薄い。   In the TFT array substrate 10, gate wirings (not shown) and source wirings (not shown) are formed on the substrate via insulating films (not shown). An organic film 18 is provided on the upper layer of the gate wiring, source wiring, insulating film, and the like. On the organic film 18, a pixel electrode 19 in which a transmissive pixel electrode 191 and a reflective pixel electrode 192 are stacked is formed in each pixel. A region where the pixel electrodes 19 are arranged in a matrix is a display region 41. As described above, the film thickness of the organic film 18 is different between the portion covered with the transparent conductive layer and the portion not covered. Therefore, the film thickness of the organic film 18 is thinner than the pixel region in the portion not covered with the transparent conductive layer, that is, in the inter-pixel region and the frame region 42.

対向基板30は、基板上にBM32、色材33、及び対向電極34等が形成されている。そして、対向電極34の上には、対向するTFTアレイ基板10とのギャップを決定する柱状スペーサ35が設けられている。柱状スペーサ35は、表示領域41と額縁領域42とに形成される。具体的には、表示領域41では、反射画素電極192と対向する部分に配設されている。一方、額縁領域42では、表示領域41の外側からシール材37の内側にかけての領域に配設されている。しかし、この部分の有機膜18は前述のように画素領域よりも膜厚が薄くなっているため、図19に示すように、両基板間の間隔を均一に保つことができず、ギャップ不良となる。このギャップ不良により、表示領域41の周辺部では表示むらなどの表示不良(周辺ギャップむら)が発生し、液晶表示装置の表示品位を劣化させてしまう。   In the counter substrate 30, a BM 32, a color material 33, a counter electrode 34, and the like are formed on the substrate. A columnar spacer 35 for determining a gap with the opposing TFT array substrate 10 is provided on the counter electrode 34. The columnar spacers 35 are formed in the display area 41 and the frame area 42. Specifically, in the display area 41, the display area 41 is disposed in a portion facing the reflective pixel electrode 192. On the other hand, in the frame area 42, the frame area 42 is disposed in an area extending from the outside of the display area 41 to the inside of the sealing material 37. However, since the organic film 18 in this portion is thinner than the pixel region as described above, the gap between the two substrates cannot be kept uniform as shown in FIG. Become. Due to this gap defect, display defects such as display unevenness (peripheral gap unevenness) occur in the periphery of the display area 41, and the display quality of the liquid crystal display device is deteriorated.

近年、液晶パネルに求められる薄型化、軽量化を実現するために、用いられるガラス基板はTFTアレイ基板10、対向基板30ともにますます薄くなり、機械的強度が弱くなってきている。ひいては、現在ではまだ主流ではないが、プラスティック基板が用いられることもある。このような状況下で、TFTアレイ基板10と対向基板30とを貼り合わせてパネル化する際にかかるセル内外からの圧力により基板が変形し、両基板間の間隔を均一に保つことがますます困難な状況となってきている。   In recent years, in order to realize the reduction in thickness and weight required for liquid crystal panels, both the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 have become thinner and the mechanical strength has become weaker. As a result, a plastic substrate is sometimes used although it is not mainstream at present. Under such circumstances, the substrate is deformed by the pressure from inside and outside the cell when the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are bonded to form a panel, and the distance between the two substrates can be kept uniform. It has become a difficult situation.

本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、表示品位の優れた液晶表示装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide a liquid crystal display device having excellent display quality.

本発明の一態様にかかる液晶表示装置は、透過画素電極と、前記透過画素電極上の一部に形成された反射画素電極とを含む画素電極を有する液晶表示装置であって、表示領域に前記画素電極が形成されたアレイ基板と、前記アレイ基板と対向配置された対向基板と、前記表示領域の外側の額縁領域に、前記表示領域を囲むよう枠状に形成され、前記アレイ基板と前記対向基板とを貼り合わせるシール材と、前記表示領域に形成され、前記画素電極の下に設けられた画素用厚膜部、前記額縁領域の前記シール材の内側に形成されたパッド用厚膜部、及び前記表示領域と前記額縁領域とにまたがって形成され、前記画素用厚膜部と前記パッド用厚膜部との間に設けられた領域間薄膜部、を有する有機膜と、前記パッド用厚膜部を有するギャップ保持用パッドと、前記対向基板上の、前記画素用電極に対向する位置と、前記ギャップ保持用パッドに対向する位置とに、形成されている柱状スペーサと、を備える。   A liquid crystal display device according to an aspect of the present invention is a liquid crystal display device having a pixel electrode including a transmissive pixel electrode and a reflective pixel electrode formed on a part of the transmissive pixel electrode. An array substrate on which pixel electrodes are formed, a counter substrate disposed opposite to the array substrate, and a frame region outside the display region so as to surround the display region, and is opposed to the array substrate. A sealing material for bonding the substrate; a pixel thick film portion formed in the display region and provided under the pixel electrode; a pad thick film portion formed inside the sealing material in the frame region; And an organic film having an inter-region thin film portion formed between the display film region and the frame region and provided between the pixel thick film portion and the pad thick film portion, and the pad thickness Gap retention with film part It comprises a use pads, on the counter substrate, and a position facing the pixel electrode, and the position facing the gap retaining pad, a columnar spacer formed, the.

本発明によれば、表示品位の優れた液晶表示装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a liquid crystal display device with excellent display quality.

実施の形態1に係る液晶表示装置の構成を示す正面図である。1 is a front view illustrating a configuration of a liquid crystal display device according to a first embodiment. 実施の形態1に係るTFTアレイ基板の画素構成を示す平面図である。2 is a plan view showing a pixel configuration of a TFT array substrate according to Embodiment 1. FIG. 図2のIII−III断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line III-III in FIG. 2. 実施の形態1に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を示す拡大平面図である。FIG. 3 is an enlarged plan view showing the configuration of the periphery of the display area of the liquid crystal display panel according to Embodiment 1 and the outside thereof. 図4のV−V断面図である。It is VV sectional drawing of FIG. 実施の形態1に係るTFTアレイ基板の製造工程を示した断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the TFT array substrate according to the first embodiment. FIG. 実施の形態1に係るTFTアレイ基板の製造工程を示した断面図である。5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the TFT array substrate according to the first embodiment. FIG. 実施の形態1の別の実施例に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を示す拡大平面図である。FIG. 6 is an enlarged plan view showing a configuration of the periphery of the display area of the liquid crystal display panel according to another example of Embodiment 1 and the outside thereof. 実施の形態1の別の実施例に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display region and the outside of the liquid crystal display panel according to another example of Embodiment 1. 実施の形態2に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of the liquid crystal display panel according to Embodiment 2. 実施の形態2に係るTFTアレイ基板の製造工程を示した断面図である。12 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the TFT array substrate according to the second embodiment. FIG. 実施の形態2に係るTFTアレイ基板の製造工程を示した断面図である。12 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the TFT array substrate according to the second embodiment. FIG. 実施の形態3に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of the liquid crystal display panel according to Embodiment 3. 実施の形態3の別の実施例に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of a liquid crystal display panel according to another example of Embodiment 3. 実施の形態4に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of the liquid crystal display panel according to Embodiment 4. 実施の形態4の別の実施例に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of a liquid crystal display panel according to another example of Embodiment 4. 実施の形態5に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of the liquid crystal display panel according to Embodiment 5. 実施の形態6に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area and the outside of the liquid crystal display panel according to Embodiment 6. 従来例に係る液晶表示パネルの表示領域周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which showed typically the display area periphery part of the liquid crystal display panel which concerns on a prior art example, and the structure of the outer side.

以下に、本発明の好ましい実施の形態を説明する。以下の説明は、本発明の実施の形態を説明するものであり、本発明が以下の実施形態に限定されるものではない。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。また、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。尚、各図において同一の符号を付されたものは同様の要素を示しており、適宜、説明が省略されている。   The preferred embodiments of the present invention will be described below. The following description explains the embodiment of the present invention, and the present invention is not limited to the following embodiment. For clarity of explanation, the following description and drawings are omitted and simplified as appropriate. For the sake of clarification, duplicate explanation is omitted as necessary. In addition, what attached | subjected the same code | symbol in each figure has shown the same element, and description is abbreviate | omitted suitably.

実施の形態1.
始めに、図1を用いて、本実施の形態に係る液晶表示装置について説明する。図1は、本実施の形態1に係る液晶表示装置の構成を示す正面図である。本実施の形態に係る液晶表示装置は、1つの画素に透過領域と反射領域とを有する半透過型の液晶表示装置である。この液晶表示装置の全体構成については、以下に述べる第1〜第6の実施形態で共通である。
Embodiment 1 FIG.
First, the liquid crystal display device according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a front view showing the configuration of the liquid crystal display device according to the first embodiment. The liquid crystal display device according to this embodiment is a transflective liquid crystal display device having a transmissive region and a reflective region in one pixel. The overall configuration of the liquid crystal display device is common to the first to sixth embodiments described below.

本発明に係る液晶表示装置は、液晶表示パネル1を備えている。液晶表示パネル1は、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistors:TFT)アレイ基板10と対向基板30とが互いに対向して配置されている。   The liquid crystal display device according to the present invention includes a liquid crystal display panel 1. In the liquid crystal display panel 1, a thin film transistor (TFT) array substrate 10 and a counter substrate 30 are arranged to face each other.

TFTアレイ基板10には、表示領域41と表示領域41を囲むように設けられた額縁領域42とが設けられている。この表示領域41には、複数のゲート配線(走査信号線)12と複数のソース配線(映像信号線)16とが形成されている。複数のゲート配線12は平行に設けられている。同様に、複数のソース配線16は平行に設けられている。ゲート配線12とソース配線16とは、互いに交差するように形成されている。ゲート配線12とソース配線16とは直交している。隣接するゲート配線12とソース配線16とで囲まれた領域が画素49となる。従って、TFTアレイ基板10では、画素49がマトリクス状に配列される。   The TFT array substrate 10 is provided with a display area 41 and a frame area 42 provided so as to surround the display area 41. In the display area 41, a plurality of gate lines (scanning signal lines) 12 and a plurality of source lines (video signal lines) 16 are formed. The plurality of gate lines 12 are provided in parallel. Similarly, the plurality of source lines 16 are provided in parallel. The gate wiring 12 and the source wiring 16 are formed so as to cross each other. The gate wiring 12 and the source wiring 16 are orthogonal to each other. A region surrounded by the adjacent gate wiring 12 and source wiring 16 is a pixel 49. Therefore, in the TFT array substrate 10, the pixels 49 are arranged in a matrix.

更に、TFTアレイ基板10の額縁領域42に、制御回路45が搭載されたフレキシブル基板47、及び制御回路46が搭載されたフレキシブル基板48が接続されている。ゲート配線12は、表示領域41から額縁領域42まで延設されている。そして、ゲート配線12は、TFTアレイ基板10の端部で、ゲート配線端子(ゲート端子)44を介して制御回路46と接続される。ソース配線16も同様に、表示領域41から額縁領域42まで延設されている。そして、ソース配線16は、TFTアレイ基板10の端部で、ソース配線端子(ソース端子)43を介して制御回路45と接続される。   Further, a flexible substrate 47 on which a control circuit 45 is mounted and a flexible substrate 48 on which a control circuit 46 is mounted are connected to the frame region 42 of the TFT array substrate 10. The gate line 12 extends from the display area 41 to the frame area 42. The gate wiring 12 is connected to the control circuit 46 through a gate wiring terminal (gate terminal) 44 at the end of the TFT array substrate 10. Similarly, the source line 16 extends from the display area 41 to the frame area 42. The source wiring 16 is connected to the control circuit 45 via a source wiring terminal (source terminal) 43 at the end of the TFT array substrate 10.

制御回路45、46に外部からの各種信号が供給される。制御回路46は外部からの制御信号に基づいて、ゲート信号(走査信号)をゲート配線12に供給する。このゲート信号によって、ゲート配線12が順次選択されていく。制御回路45は外部からの制御信号や、表示データに基づいて表示信号をソース配線16に供給する。これにより、表示データに応じた表示電圧を各画素49に供給することができる。なお、制御回路45は、液晶表示パネル1、フレキシブル基板47、及びFPC(Flexible Printed Circuit)(図示せず)の上に分割されて搭載されてもよい。同様に、制御回路46は、液晶表示パネル1、フレキシブル基板48、及びFPCの上に分割されて搭載されてもよい。さらに、制御回路45、46の一部は、TFTアレイ基板10の上に形成されてもよい。   Various signals are supplied to the control circuits 45 and 46 from the outside. The control circuit 46 supplies a gate signal (scanning signal) to the gate wiring 12 based on an external control signal. By this gate signal, the gate lines 12 are sequentially selected. The control circuit 45 supplies a display signal to the source line 16 based on an external control signal or display data. As a result, a display voltage corresponding to the display data can be supplied to each pixel 49. The control circuit 45 may be divided and mounted on the liquid crystal display panel 1, the flexible substrate 47, and an FPC (Flexible Printed Circuit) (not shown). Similarly, the control circuit 46 may be divided and mounted on the liquid crystal display panel 1, the flexible substrate 48, and the FPC. Further, part of the control circuits 45 and 46 may be formed on the TFT array substrate 10.

画素49内には、少なくとも1つのTFT50が形成されている。TFT50はソース配線16とゲート配線12の交差点近傍に配置される。例えば、このTFT50が画素電極に表示電圧を供給する。即ち、ゲート配線12からのゲート信号によって、スイッチング素子であるTFT50がオンする。これにより、ソース配線16から、TFT50のドレイン電極に接続された画素電極に表示電圧が印加される。そして、画素電極と対向電極との間に、表示電圧に応じた電界が生じる。なお、TFTアレイ基板10の表面には、配向膜(図示せず)が形成されている。画素49内の詳細な構成については後述する。   In the pixel 49, at least one TFT 50 is formed. The TFT 50 is disposed near the intersection of the source line 16 and the gate line 12. For example, the TFT 50 supplies a display voltage to the pixel electrode. That is, the TFT 50 which is a switching element is turned on by the gate signal from the gate wiring 12. As a result, a display voltage is applied from the source line 16 to the pixel electrode connected to the drain electrode of the TFT 50. An electric field corresponding to the display voltage is generated between the pixel electrode and the counter electrode. An alignment film (not shown) is formed on the surface of the TFT array substrate 10. A detailed configuration in the pixel 49 will be described later.

一方、対向基板30は、例えば、カラーフィルタ基板であり、視認側に配置される。対向基板30には、カラーフィルタ(色材)、ブラックマトリクス(BM)、対向電極、及び配向膜等が形成されている。対向基板30の詳細な構成については後述する。なお、対向電極は、TFTアレイ基板10側に配置される場合もある。TFTアレイ基板10と対向基板30とは、シール材37を介して貼り合わされている。シール材37は、表示領域41を囲むよう枠状に設けられている。そして、TFTアレイ基板10と対向基板30との間に液晶層36が狭持される。即ち、TFTアレイ基板10と対向基板30との間には液晶が導入されている。更に、TFTアレイ基板10と対向基板30との外側の面には、偏光板、及び位相差板等が設けられる。また、液晶表示パネル1の反視認側には、バックライトユニット等が配設される。   On the other hand, the counter substrate 30 is a color filter substrate, for example, and is disposed on the viewing side. On the counter substrate 30, a color filter (color material), a black matrix (BM), a counter electrode, an alignment film, and the like are formed. The detailed configuration of the counter substrate 30 will be described later. The counter electrode may be disposed on the TFT array substrate 10 side. The TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are bonded together with a sealing material 37 interposed therebetween. The sealing material 37 is provided in a frame shape so as to surround the display area 41. A liquid crystal layer 36 is sandwiched between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30. That is, liquid crystal is introduced between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30. Further, a polarizing plate, a phase difference plate, and the like are provided on the outer surfaces of the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30. Further, a backlight unit or the like is disposed on the non-viewing side of the liquid crystal display panel 1.

画素電極と対向電極との間の電界によって、液晶が駆動される。即ち、基板間の液晶の配向方向が変化する。これにより、液晶層を通過する光の偏光状態が変化する。即ち、偏光板を通過して直線偏光となった光は液晶層によって、偏光状態が変化する。具体的には、透過領域では、TFTアレイ基板側に設けられた偏光板によって、バックライトユニットからの光が直線偏光になる。そして、この直線偏光がTFTアレイ基板10側の位相差板、液晶層、及び対向基板30側の位相差板を通過することによって、偏光状態が変化する。一方、反射領域では、液晶表示パネルの視認側から入射した外光が、対向基板2側の偏光板によって直線偏光になる。そして、この光が、対向基板30側の位相差板、及び液晶層を往復することによって、偏光状態が変化する。   The liquid crystal is driven by the electric field between the pixel electrode and the counter electrode. That is, the alignment direction of the liquid crystal between the substrates changes. As a result, the polarization state of the light passing through the liquid crystal layer changes. That is, the polarization state of light that has been linearly polarized after passing through the polarizing plate is changed by the liquid crystal layer. Specifically, in the transmissive region, light from the backlight unit becomes linearly polarized light by the polarizing plate provided on the TFT array substrate side. The linearly polarized light passes through the retardation plate on the TFT array substrate 10 side, the liquid crystal layer, and the retardation plate on the counter substrate 30 side, so that the polarization state changes. On the other hand, in the reflection region, external light incident from the viewing side of the liquid crystal display panel is linearly polarized by the polarizing plate on the counter substrate 2 side. And this light changes a polarization state by reciprocating the phase difference plate and the liquid crystal layer on the counter substrate 30 side.

そして、偏光状態によって、対向基板30側の偏光板を通過する光量が変化する。即ち、バックライトユニットから液晶表示パネル1を透過する透過光、及び液晶表示パネル1で反射される反射光のうち、視認側の偏光板を通過する光の光量が変化する。液晶の配向方向は、印加される表示電圧によって変化する。従って、表示電圧を制御することによって、視認側の偏光板を通過する光量を変化させることができる。即ち、画素ごとに表示電圧を変えることによって、所望の画像を表示することができる。   The amount of light passing through the polarizing plate on the counter substrate 30 side changes depending on the polarization state. That is, the amount of light passing through the polarizing plate on the viewing side among the transmitted light transmitted through the liquid crystal display panel 1 from the backlight unit and the reflected light reflected by the liquid crystal display panel 1 changes. The alignment direction of the liquid crystal changes depending on the applied display voltage. Therefore, the amount of light passing through the viewing-side polarizing plate can be changed by controlling the display voltage. That is, a desired image can be displayed by changing the display voltage for each pixel.

次に、TFTアレイ基板10の画素構成について、図2及び図3を用いて詳細に説明する。図2は、本実施の形態1に係るTFTアレイ基板10の画素構成を示す平面図である。図3は、図2のIII−III断面図である。図2は、TFTアレイ基板10上の画素49の1つを示す平面図である。TFTアレイ基板10上には、このような画素49がマトリクス状に複数配置されている。なお、ここでは、チャネルエッチ型のTFT50が形成されている場合について例示的に説明をする。   Next, the pixel configuration of the TFT array substrate 10 will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 2 is a plan view showing a pixel configuration of the TFT array substrate 10 according to the first embodiment. 3 is a cross-sectional view taken along the line III-III in FIG. FIG. 2 is a plan view showing one of the pixels 49 on the TFT array substrate 10. A plurality of such pixels 49 are arranged in a matrix on the TFT array substrate 10. Here, a case where a channel etch type TFT 50 is formed will be described as an example.

図2及び図3において、TFTアレイ基板10は、ガラスやプラスチック等の透明な絶縁性の基板11上に、その一部がゲート電極121を構成するゲート配線12が形成されている。よって、ゲート配線12は、TFT50のゲート電極121と電気的に接続されている。   2 and 3, the TFT array substrate 10 is formed with a gate wiring 12 partially forming a gate electrode 121 on a transparent insulating substrate 11 such as glass or plastic. Therefore, the gate wiring 12 is electrically connected to the gate electrode 121 of the TFT 50.

また、基板11上には、補助容量電極122がゲート配線12と同じ層によって形成されている。補助容量電極122は、ゲート配線12と離間して設けられ、ゲート配線12と平行して延在している。すなわち、隣接するゲート配線12の間に補助容量電極122が配設されている。ここでは、補助容量電極122は、画素49の反射領域に配設されている。補助容量電極122は、後述する画素電極19との間で安定した表示を可能とするための保持容量を構成する。保持容量は、各画素49に接続されるTFT50がオフになった後もTFT50からの駆動電圧を保持する。   On the substrate 11, the auxiliary capacitance electrode 122 is formed of the same layer as the gate wiring 12. The auxiliary capacitance electrode 122 is provided apart from the gate line 12 and extends in parallel with the gate line 12. That is, the auxiliary capacitance electrode 122 is disposed between the adjacent gate lines 12. Here, the auxiliary capacitance electrode 122 is disposed in the reflection region of the pixel 49. The auxiliary capacity electrode 122 constitutes a storage capacity for enabling stable display with the pixel electrode 19 described later. The storage capacitor holds the drive voltage from the TFT 50 even after the TFT 50 connected to each pixel 49 is turned off.

ゲート配線12、ゲート電極121、及び補助容量電極122は、例えば膜厚250nmのMoによって形成されている。   The gate wiring 12, the gate electrode 121, and the auxiliary capacitance electrode 122 are made of, for example, Mo having a thickness of 250 nm.

これらゲート配線12、ゲート電極121、及び補助容量電極122を覆うようにゲート絶縁膜13が設けられている。ゲート絶縁膜13は、例えば膜厚400nmのSiNにより形成されている。ゲート絶縁膜13を介してゲート電極121の対面には、半導体層14が設けられている。半導体層14は、例えば膜厚130nmのアモルファスシリコン(a−Si(i))などにより形成されている。   A gate insulating film 13 is provided so as to cover the gate wiring 12, the gate electrode 121, and the auxiliary capacitance electrode 122. The gate insulating film 13 is made of, for example, SiN having a thickness of 400 nm. A semiconductor layer 14 is provided on the opposite side of the gate electrode 121 through the gate insulating film 13. The semiconductor layer 14 is formed of, for example, amorphous silicon (a-Si (i)) having a thickness of 130 nm.

また、半導体層14上の両端に、導電性不純物がドーピングされたオーミックコンタクト膜15がそれぞれ形成されている。オーミックコンタクト膜15に対応する半導体層14の領域は、ソース・ドレイン領域となる。具体的には、図3中の左側のオーミックコンタクト膜15に対応する半導体層14の領域がソース領域となる。そして、図3中の右側のオーミックコンタクト膜15に対応する半導体層14の領域がドレイン領域となる。このように、半導体層14の両端にはソース・ドレイン領域が形成されている。そして、半導体層14のソース・ドレイン領域に挟まれた領域がチャネル領域となる。半導体層14のチャネル領域上には、オーミックコンタクト膜15は形成されていない。オーミックコンタクト膜15は、例えば、リン(P)等の不純物が高濃度にドーピングされた、n型アモルファスシリコン(a−Si(n))などにより50nmの膜厚で形成されている。   In addition, ohmic contact films 15 doped with conductive impurities are respectively formed on both ends of the semiconductor layer 14. The region of the semiconductor layer 14 corresponding to the ohmic contact film 15 becomes a source / drain region. Specifically, the region of the semiconductor layer 14 corresponding to the left ohmic contact film 15 in FIG. 3 becomes the source region. The region of the semiconductor layer 14 corresponding to the right ohmic contact film 15 in FIG. 3 becomes the drain region. Thus, source / drain regions are formed at both ends of the semiconductor layer 14. A region sandwiched between the source / drain regions of the semiconductor layer 14 becomes a channel region. The ohmic contact film 15 is not formed on the channel region of the semiconductor layer 14. The ohmic contact film 15 is formed with a film thickness of 50 nm using, for example, n-type amorphous silicon (a-Si (n)) doped with an impurity such as phosphorus (P) at a high concentration.

オーミックコンタクト膜15の上に、ソース電極161及びドレイン電極162が形成されている。具体的には、ソース領域側のオーミックコンタクト膜15上に、ソース電極161が形成されている。そして、ドレイン領域側のオーミックコンタクト膜15の上に、ドレイン電極162が形成されている。このように、チャネルエッチ型のTFT50が構成されている。そして、ソース電極161及びドレイン電極162は、半導体層14のチャネル領域の外側へ延在するように形成されている。すなわち、ソース電極161及びドレイン電極162は、オーミックコンタクト膜15と同様、半導体層14のチャネル領域上には形成されない。   A source electrode 161 and a drain electrode 162 are formed on the ohmic contact film 15. Specifically, the source electrode 161 is formed on the ohmic contact film 15 on the source region side. A drain electrode 162 is formed on the ohmic contact film 15 on the drain region side. In this way, the channel etch type TFT 50 is configured. The source electrode 161 and the drain electrode 162 are formed so as to extend outside the channel region of the semiconductor layer 14. That is, the source electrode 161 and the drain electrode 162 are not formed on the channel region of the semiconductor layer 14 like the ohmic contact film 15.

ソース電極161は、半導体層14のチャネル領域の外側へ延在し、ソース配線16と繋がっている。よって、ソース配線16は、TFT50のソース電極161と電気的に接続されている。ソース配線16は、ゲート絶縁膜13上に形成され、基板11上においてゲート配線12と交差する方向に直線的に延在するように配設されている。したがって、ソース配線16は、ゲート配線12との交差部において分岐してからゲート配線12に沿って延在し、ソース電極161となる。なお、図2には図示していないが、図3に示すように、半導体層14と同層のパターン及びオーミックコンタクト膜15と同層のパターンからなる積層膜をゲート配線12とソース配線16の交差部に配設してもよい。これにより、ゲート配線12とソース配線12との間の絶縁耐性を向上できる。   The source electrode 161 extends outside the channel region of the semiconductor layer 14 and is connected to the source wiring 16. Therefore, the source wiring 16 is electrically connected to the source electrode 161 of the TFT 50. The source wiring 16 is formed on the gate insulating film 13 and is arranged on the substrate 11 so as to extend linearly in a direction intersecting with the gate wiring 12. Therefore, the source line 16 branches at the intersection with the gate line 12 and then extends along the gate line 12 to become the source electrode 161. Although not shown in FIG. 2, as shown in FIG. 3, a stacked film having a pattern of the same layer as the semiconductor layer 14 and a pattern of the same layer as the ohmic contact film 15 is formed of the gate wiring 12 and the source wiring 16. You may arrange | position in a cross | intersection part. Thereby, the insulation tolerance between the gate wiring 12 and the source wiring 12 can be improved.

一方、ドレイン電極162は、半導体層14のチャネル領域の外側へ延在し、TFT50の外側へと延在する延在部を有している。ソース電極161、ドレイン電極162、及びソース配線16は、例えば膜厚300nmのMoによって形成されている。   On the other hand, the drain electrode 162 has an extending portion that extends to the outside of the channel region of the semiconductor layer 14 and extends to the outside of the TFT 50. The source electrode 161, the drain electrode 162, and the source wiring 16 are made of, for example, Mo with a film thickness of 300 nm.

これらソース電極161、ドレイン電極162、及びソース配線16を覆うように、層間絶縁膜17が設けられている。よって、層間絶縁膜17は、TFT50を覆っている。
層間絶縁膜17は、膜厚100nmのSiNにより形成されている。さらに、層間絶縁膜17の上に、有機膜18が積層されている。TFT50のドレイン電極162上には、有機膜18及び層間絶縁膜17にコンタクトホール181が設けられている。コンタクトホール181は、有機膜18及び層間絶縁膜17を貫通し、TFT50のドレイン電極162に到達する。
An interlayer insulating film 17 is provided so as to cover the source electrode 161, the drain electrode 162, and the source wiring 16. Therefore, the interlayer insulating film 17 covers the TFT 50.
The interlayer insulating film 17 is made of SiN having a thickness of 100 nm. Further, an organic film 18 is laminated on the interlayer insulating film 17. A contact hole 181 is provided in the organic film 18 and the interlayer insulating film 17 on the drain electrode 162 of the TFT 50. The contact hole 181 passes through the organic film 18 and the interlayer insulating film 17 and reaches the drain electrode 162 of the TFT 50.

有機膜18は、画素電極19を形成するための下地層となる有機樹脂膜であり、ソース配線16、ゲート配線12、補助容量電極122や、TFT50などによって生じた基板11上の凹凸を平坦化する。本実施の形態にかかる液晶表示装置は半透過型であり、画素49は透過領域及び反射領域を有している。反射領域では、反射光を適切な散乱分布とするため、有機膜18の表面に凹凸パターン185が形成されている。なお、後述する画素電極19に覆われていない領域の有機膜18は、画素電極19に覆われた領域より膜厚が薄くなっている。ここでは、画素電極19に覆われた領域の有機膜18の膜厚は、例えば3600nm程度である。   The organic film 18 is an organic resin film serving as a base layer for forming the pixel electrode 19, and planarizes unevenness on the substrate 11 caused by the source wiring 16, the gate wiring 12, the auxiliary capacitance electrode 122, the TFT 50, and the like. To do. The liquid crystal display device according to the present embodiment is a transflective type, and the pixel 49 has a transmissive region and a reflective region. In the reflection region, an uneven pattern 185 is formed on the surface of the organic film 18 in order to make the reflected light have an appropriate scattering distribution. Note that the organic film 18 in a region not covered with the pixel electrode 19 described later has a smaller film thickness than the region covered with the pixel electrode 19. Here, the film thickness of the organic film 18 in the region covered with the pixel electrode 19 is, for example, about 3600 nm.

有機膜18の上には、コンタクトホール181を介してドレイン電極162と接続する画素電極19が設けられている。画素電極19は、透過領域では透過画素電極191の単層構造であり、反射領域では透過画素電極191の上に反射画素電極192が積層された積層構造となっている。すなわち、透過画素電極191は、透過領域と反射領域の両方に設けられている。透過画素電極191は、ここでは、例えばITO、IZO、ITZO、ITSO等の透明導電層によって80nmの膜厚に形成されている。一方、反射画素電極192は、反射領域のみに設けられている。反射画素電極192は、ここでは例えば、膜厚50nmのMo膜の上に膜厚300nmのAlCu膜が積層された反射金属層によって形成されている。また、液晶層36との仕事関数を透過領域と反射領域との間で調整するため、画素電極19は、図3に示すように上部透明導電層193を反射画素電極192上にさらに積層した構成としてもよい。この場合、上部透明導電層193は、例えば膜厚5nmのITO、IZO、ITZO、ITSO等の透明導電層によって形成される。   A pixel electrode 19 connected to the drain electrode 162 through the contact hole 181 is provided on the organic film 18. The pixel electrode 19 has a single-layer structure of the transmissive pixel electrode 191 in the transmissive region, and has a laminated structure in which the reflective pixel electrode 192 is laminated on the transmissive pixel electrode 191 in the reflective region. That is, the transmissive pixel electrode 191 is provided in both the transmissive region and the reflective region. Here, the transmissive pixel electrode 191 is formed to a thickness of 80 nm by a transparent conductive layer such as ITO, IZO, ITZO, ITSO, or the like. On the other hand, the reflective pixel electrode 192 is provided only in the reflective region. Here, for example, the reflective pixel electrode 192 is formed of a reflective metal layer in which an AlCu film having a thickness of 300 nm is laminated on a Mo film having a thickness of 50 nm. Further, in order to adjust the work function with the liquid crystal layer 36 between the transmissive region and the reflective region, the pixel electrode 19 has a configuration in which an upper transparent conductive layer 193 is further laminated on the reflective pixel electrode 192 as shown in FIG. It is good. In this case, the upper transparent conductive layer 193 is formed of a transparent conductive layer made of ITO, IZO, ITZO, ITSO or the like having a thickness of 5 nm, for example.

続いて、液晶表示パネル1の表示領域41周辺部とその外側の構成について図4及び図5を用いて説明する。図4は、本実施の形態1に係る液晶表示パネル1の表示領域41周辺部とその外側の構成を示す拡大平面図である。また、図5は、図4のV−V断面図であり、本実施の形態1に係る液晶表示パネル1の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示している。なお、図4では、説明の便宜上のため、TFTアレイ基板10側の構成のみが記載されており、対向基板30側の構成については省略している。また、図5では、TFTアレイ基板10の構成は模式的に記載されており、ゲート配線12、ソース配線16、TFT50等の構成要素が適宜省略して記載されている。   Next, the configuration of the periphery of the display area 41 of the liquid crystal display panel 1 and the outside thereof will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is an enlarged plan view showing the configuration of the periphery of the display area 41 and the outside of the liquid crystal display panel 1 according to the first embodiment. FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line V-V in FIG. 4, schematically showing the configuration of the periphery of the display area 41 of the liquid crystal display panel 1 according to Embodiment 1 and the outside thereof. In FIG. 4, only the configuration on the TFT array substrate 10 side is shown for convenience of explanation, and the configuration on the counter substrate 30 side is omitted. In FIG. 5, the configuration of the TFT array substrate 10 is schematically described, and components such as the gate wiring 12, the source wiring 16, and the TFT 50 are omitted as appropriate.

図4及び図5において、図2及び図3で詳述したとおり、TFTアレイ基板10の基板11上には、ゲート配線12、ソース配線16、TFT50などの上層に、有機膜18が配設されている。この有機膜18は、表示領域41から額縁領域42まで基板11上の略全面にわたって形成されている。有機膜18の上には、透過画素電極191と反射画素電極192との積層からなる画素電極19が、各画素49に形成されている。そして、図5に示すように、この画素電極19が設けられた領域(画素領域)では、図19に示した従来例と同様、隣接する画素電極19間の領域(画素間領域)よりも有機膜18の膜厚が厚くなっている。すなわち、表示領域41では、画素領域に有機膜18の厚膜部、画素間領域に有機膜18の薄膜部がそれぞれ形成される。   4 and 5, as described in detail in FIGS. 2 and 3, the organic film 18 is disposed on the substrate 11 of the TFT array substrate 10 in an upper layer such as the gate wiring 12, the source wiring 16, and the TFT 50. ing. The organic film 18 is formed over substantially the entire surface of the substrate 11 from the display area 41 to the frame area 42. On the organic film 18, a pixel electrode 19 formed by stacking a transmissive pixel electrode 191 and a reflective pixel electrode 192 is formed in each pixel 49. As shown in FIG. 5, the region (pixel region) in which the pixel electrode 19 is provided is more organic than the region between adjacent pixel electrodes 19 (inter-pixel region) as in the conventional example shown in FIG. The film 18 is thick. That is, in the display region 41, the thick film portion of the organic film 18 is formed in the pixel region, and the thin film portion of the organic film 18 is formed in the inter-pixel region.

また、有機膜18には、表示領域41の外側の額縁領域42に、画素間領域と同様の薄膜部が形成されている。ここで、本実施の形態では、この額縁領域42のうち、表示領域41の外側からシール材37の内側にかけての領域内に、画素領域と同様の有機膜18の厚膜部が設けられている。そして、この有機膜18の厚膜部の上には、透過画素電極191と同層の透明導電層191dが形成されている。このように、本実施の形態では、有機膜18の厚膜部の上に透明導電層191dが積層されたギャップ保持用パッド20が、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域に設けられている。   In the organic film 18, a thin film portion similar to the inter-pixel region is formed in the frame region 42 outside the display region 41. Here, in the present embodiment, a thick film portion of the organic film 18 similar to the pixel region is provided in the frame region 42 in the region from the outside of the display region 41 to the inside of the sealing material 37. . A transparent conductive layer 191 d that is the same layer as the transmissive pixel electrode 191 is formed on the thick film portion of the organic film 18. As described above, in the present embodiment, the gap holding pad 20 in which the transparent conductive layer 191 d is laminated on the thick film portion of the organic film 18 is provided in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. It has been.

ギャップ保持用パッド20は、例えば図4に示すように、枠状のシール材37の各辺に沿って、帯状に形成されている。   For example, as shown in FIG. 4, the gap holding pad 20 is formed in a strip shape along each side of the frame-shaped sealing material 37.

このようなTFTアレイ基板10の対面には、シール材37を介して対向基板30が貼り合わされている。図5に示すように、対向基板30は、基板31のTFTアレイ基板10と対向する面に、顔料あるいはクロム等の金属から成り光を遮光するブラックマトリクス32が形成されている。ブラックマトリクス32は、ソース配線16及びゲート配線12と対向する領域に設けられており、その形状は格子状になっている。また、ブラックマトリクス32は、表示領域41を囲むように枠状に形成されている。そして、ブラックマトリクス32間を埋めるように顔料あるいは染料からなる色材33が形成されている。色材33は例えばR(赤)、G(緑)、B(青)のカラーフィルタである。   The counter substrate 30 is bonded to the facing surface of the TFT array substrate 10 with a sealing material 37 interposed therebetween. As shown in FIG. 5, the counter substrate 30 is formed with a black matrix 32 made of a metal such as a pigment or chromium on the surface of the substrate 31 facing the TFT array substrate 10 to block light. The black matrix 32 is provided in a region facing the source wiring 16 and the gate wiring 12 and has a lattice shape. The black matrix 32 is formed in a frame shape so as to surround the display area 41. A color material 33 made of a pigment or a dye is formed so as to fill the space between the black matrices 32. The color material 33 is, for example, an R (red), G (green), or B (blue) color filter.

さらにブラックマトリクス32及び色材33を覆うように、対向電極34が形成されている。対向電極34は、TFTアレイ基板10の画素電極19との間に電界を生じさせ、液晶層36の液晶を駆動する。なお、色材33と対向電極34との間にSiN等からなる保護膜が設けられていてもよい。保護膜は、対向電極34と同様、対向基板30の基板31上全体に形成される。対向電極34の上には、柱状スペーサ35が設けられている。柱状スペーサ35は、TFTアレイ基板10と対向基板30とシール材37とに囲まれた空間において表示領域41と額縁領域42とに設けられ、両基板間のギャップを保持する。
表示領域41に設けられた柱状スペーサ35は、反射画素電極192と対向する部分に配設されている。額縁領域42に設けられた柱状スペーサ35は、ギャップ保持用パッド20と対向する部分に配設されている。柱状スペーサ35は、樹脂等の材料によって形成され、柱状の形状を有している。表示領域41の柱状スペーサ35は、表示領域41と額縁領域42とで同じ高さに形成されている。
Further, a counter electrode 34 is formed so as to cover the black matrix 32 and the color material 33. The counter electrode 34 generates an electric field between the pixel electrode 19 of the TFT array substrate 10 and drives the liquid crystal of the liquid crystal layer 36. A protective film made of SiN or the like may be provided between the color material 33 and the counter electrode 34. Similar to the counter electrode 34, the protective film is formed on the entire substrate 31 of the counter substrate 30. A columnar spacer 35 is provided on the counter electrode 34. The columnar spacer 35 is provided in the display area 41 and the frame area 42 in a space surrounded by the TFT array substrate 10, the counter substrate 30, and the sealing material 37, and maintains a gap between the two substrates.
The columnar spacers 35 provided in the display area 41 are disposed in a portion facing the reflective pixel electrode 192. The columnar spacers 35 provided in the frame region 42 are disposed in a portion facing the gap holding pad 20. The columnar spacer 35 is formed of a material such as resin and has a columnar shape. The columnar spacers 35 in the display area 41 are formed at the same height in the display area 41 and the frame area 42.

上記のように構成された本実施の形態にかかる液晶表示パネル1は、互いに対向するTFTアレイ基板10の表面と対向基板30の表面との間の距離が、ギャップ保持用パッド20部と画素領域とでほぼ同等となる。従って、ギャップ保持用パッド20部と対向する位置に設けられた柱状スペーサ35によって、両基板間の間隔を表示領域41と同等に保つことができ、両基板間の間隔が液晶表示パネル1全体にわたって均一に保たれる。このように、ギャップ保持用パッド20は、液晶表示パネル1において、表示領域の外側における基板間隔を画素電極19上の基板間隔に応じて調整する機能を有する。   In the liquid crystal display panel 1 according to the present embodiment configured as described above, the distance between the surface of the TFT array substrate 10 and the surface of the counter substrate 30 facing each other is such that the gap holding pad 20 part and the pixel region And almost the same. Therefore, the distance between the substrates can be kept equal to the display area 41 by the columnar spacer 35 provided at the position facing the gap holding pad 20 portion, and the distance between the substrates can be maintained over the entire liquid crystal display panel 1. It is kept uniform. Thus, the gap holding pad 20 has a function of adjusting the substrate interval outside the display area in the liquid crystal display panel 1 according to the substrate interval on the pixel electrode 19.

次に、本実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法について図6及び図7を用いて説明する。図6及び図7は、本実施の形態1に係るTFTアレイ基板10の製造工程を示した断面図である。なお、図6及び図7の各図において右側には、図2のIII−III断面に相当する画素49内の断面図を示している。また、図6及び図7の各図において左側には、ゲート端子44部、ソース端子43部、及びギャップ保持用パッド20部の断面図を記している。   Next, a method for manufacturing the liquid crystal display device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 6 and 7 are cross-sectional views showing manufacturing steps of the TFT array substrate 10 according to the first embodiment. 6 and 7, the right side of each drawing shows a cross-sectional view inside the pixel 49 corresponding to the III-III cross section of FIG. 2. 6 and 7, the left side is a sectional view of the gate terminal 44, the source terminal 43, and the gap holding pad 20.

まず初めに、ガラスなどの透明絶縁性基板からなる基板11上に、ゲート電極121等となる電極膜を成膜する。例えば、スパッタ装置等を用いて、膜厚250nmのMoを基板11全面に成膜する。次に、写真製版工程(フォトリソグラフィープロセス)によって、この電極膜の上にレジストパターンを形成する。そして、このレジストパターンから露出した電極膜をウェットエッチング処理等により除去して、電極膜をパターニングする。その後、レジスト剥離処理を行い、レジストパターンを除去すると、図6(a)に示すように、ゲート配線12、ゲート電極121、補助容量電極122、及びゲート端子44が形成される。   First, an electrode film to be the gate electrode 121 or the like is formed on the substrate 11 made of a transparent insulating substrate such as glass. For example, Mo having a thickness of 250 nm is formed on the entire surface of the substrate 11 using a sputtering apparatus or the like. Next, a resist pattern is formed on the electrode film by a photolithography process (a photolithography process). Then, the electrode film exposed from the resist pattern is removed by wet etching or the like, and the electrode film is patterned. Thereafter, a resist stripping process is performed to remove the resist pattern, whereby the gate wiring 12, the gate electrode 121, the auxiliary capacitance electrode 122, and the gate terminal 44 are formed as shown in FIG.

これらゲート配線12、ゲート電極121、補助容量電極122、及びゲート端子44を覆うように、ゲート絶縁膜13を成膜する。例えば、CVD装置を用いて、ゲート絶縁膜13として膜厚400nmのSiNを基板11全面に成膜する。続いて、ゲート絶縁膜13の上に、半導体層14とオーミックコンタクト膜15とをこの順に成膜する。例えば、CVD装置を用いて、半導体層14として膜厚130nmのa−Si(i)を基板11全面に成膜した後、リン(P)等の不純物を添加した膜厚50nmのa−Si(n)をオーミックコンタクト膜15として基板11全面に成膜する。   A gate insulating film 13 is formed so as to cover the gate wiring 12, the gate electrode 121, the auxiliary capacitance electrode 122, and the gate terminal 44. For example, using a CVD apparatus, SiN having a film thickness of 400 nm is formed on the entire surface of the substrate 11 as the gate insulating film 13. Subsequently, the semiconductor layer 14 and the ohmic contact film 15 are formed in this order on the gate insulating film 13. For example, a 130-nm-thick a-Si (i) film is formed as the semiconductor layer 14 over the entire surface of the substrate 11 by using a CVD apparatus, and then a 50-nm-thick a-Si (doped with an impurity such as phosphorus (P)). n) is formed as an ohmic contact film 15 on the entire surface of the substrate 11.

その後、写真製版工程により、オーミックコンタクト膜15の上にレジストパターンを形成する。そして、ドライエッチング処理等により、オーミックコンタクト膜15及び半導体層14を島状にパターニングする。レジストパターンを除去すると、図6(b)に示すように、ゲート絶縁膜13を介してゲート電極121の対面に半導体層14及びオーミックコンタクト膜15が形成される。なお、図6(b)のように、ゲート配線12のうち、ソース配線16との交差部となる領域上に、半導体層14及びオーミックコンタクト膜15の積層パターンを形成してもよい。   Thereafter, a resist pattern is formed on the ohmic contact film 15 by a photolithography process. Then, the ohmic contact film 15 and the semiconductor layer 14 are patterned in an island shape by a dry etching process or the like. When the resist pattern is removed, as shown in FIG. 6B, the semiconductor layer 14 and the ohmic contact film 15 are formed on the opposite surface of the gate electrode 121 with the gate insulating film 13 interposed therebetween. As shown in FIG. 6B, a stacked pattern of the semiconductor layer 14 and the ohmic contact film 15 may be formed on a region of the gate wiring 12 that intersects with the source wiring 16.

次に、半導体層14及びオーミックコンタクト膜15を覆うように、ソース電極161、ドレイン電極162等となる電極膜を成膜する。例えば、スパッタ装置等を用いて、膜厚300nmのMoを基板11全面に成膜する。次に、写真製版工程によって、この電極膜の上にレジストパターンを形成する。そして、ウェットエッチング処理等により、この電極膜をパターニングする。これにより、ソース配線16、ソース電極161、ドレイン電極162、及びソース端子43が形成される。続いて、ソース電極161又はドレイン電極162に覆われず表面に露出したオーミックコンタクト膜15を、ドライエッチング処理等により除去する。これにより、ソース電極161とドレイン電極162の間の半導体層14が露出し、チャネル領域が形成される。その後、レジスト剥離処理を行い、レジストパターンを除去すると、図6(c)に示すような構成となる。   Next, an electrode film to be the source electrode 161, the drain electrode 162, and the like is formed so as to cover the semiconductor layer 14 and the ohmic contact film 15. For example, Mo having a film thickness of 300 nm is formed on the entire surface of the substrate 11 using a sputtering apparatus or the like. Next, a resist pattern is formed on the electrode film by a photolithography process. Then, this electrode film is patterned by wet etching or the like. Thereby, the source wiring 16, the source electrode 161, the drain electrode 162, and the source terminal 43 are formed. Subsequently, the ohmic contact film 15 which is not covered with the source electrode 161 or the drain electrode 162 and exposed on the surface is removed by a dry etching process or the like. As a result, the semiconductor layer 14 between the source electrode 161 and the drain electrode 162 is exposed, and a channel region is formed. Thereafter, a resist stripping process is performed to remove the resist pattern, resulting in a configuration as shown in FIG.

次に、ソース配線16、ソース電極161、ドレイン電極162、及びソース端子43を覆うように、層間絶縁膜17を成膜する。例えば、CVD装置を用いて、層間絶縁膜17として膜厚100nmのSiNを基板11全面に成膜する。続いて、層間絶縁膜17の上に、感光性を有する有機膜18を平坦部の膜厚が3600nm程度となるように塗布する。その後、写真製版工程を行い、有機膜18をパターニングする。これにより、ドレイン電極162、ゲート端子44、及びソース端子43上の有機膜18が除去されて開口部が形成されるとともに、反射領域の有機膜18に凹凸パターン185が形成される。   Next, the interlayer insulating film 17 is formed so as to cover the source wiring 16, the source electrode 161, the drain electrode 162, and the source terminal 43. For example, a 100 nm-thickness SiN film is formed as the interlayer insulating film 17 on the entire surface of the substrate 11 using a CVD apparatus. Subsequently, an organic film 18 having photosensitivity is applied on the interlayer insulating film 17 so that the film thickness of the flat portion is about 3600 nm. Thereafter, a photolithography process is performed to pattern the organic film 18. Thereby, the organic film 18 on the drain electrode 162, the gate terminal 44, and the source terminal 43 is removed to form an opening, and an uneven pattern 185 is formed in the organic film 18 in the reflective region.

その後、この有機膜18をマスクとして、ドライエッチング等により層間絶縁膜17及びゲート絶縁膜13をパターニングする。これにより、図6(d)に示すように、ドレイン電極162上の層間絶縁膜17が除去され、ドレイン電極162に到達するコンタクトホール181が形成される。また、ソース端子43上の層間絶縁膜17が除去され、ソース端子43に到達するコンタクトホール182が形成される。さらに、ゲート端子44上の層間絶縁膜17及びゲート絶縁膜13が除去され、ゲート端子44に到達するコンタクトホール183が形成される。   Thereafter, using the organic film 18 as a mask, the interlayer insulating film 17 and the gate insulating film 13 are patterned by dry etching or the like. As a result, as shown in FIG. 6D, the interlayer insulating film 17 on the drain electrode 162 is removed, and a contact hole 181 reaching the drain electrode 162 is formed. Further, the interlayer insulating film 17 on the source terminal 43 is removed, and a contact hole 182 reaching the source terminal 43 is formed. Further, the interlayer insulating film 17 and the gate insulating film 13 on the gate terminal 44 are removed, and a contact hole 183 reaching the gate terminal 44 is formed.

次に、有機膜18上に、透過画素電極191となる透明導電層191dと、反射画素電極192となる反射金属層192dとを順次成膜する。例えば、スパッタ装置を用いて、透明導電層191dとして膜厚80nmのITOを基板11全面に成膜する。透明導電層191dには、ITOの他に、IZO、ITZO、ITSO等を用いることができる。そして、反射金属層として膜厚50nmのMo、膜厚300nmのAlCuを基板11全面にこの順で成膜する。ここでは、連続して、膜厚5nmのITOを上部透明導電層193として基板11全面に成膜する。なお、上部透明導電層193には、ITOの他に、IZO、ITZO、ITSO等を用いることができる。これにより、図6(e)に示すように、コンタクトホール181、182、183は、透明導電層191d、反射金属層192d、及び上部透明導電層193によって覆われる。   Next, a transparent conductive layer 191d to be a transmissive pixel electrode 191 and a reflective metal layer 192d to be a reflective pixel electrode 192 are sequentially formed on the organic film 18. For example, an ITO film having a thickness of 80 nm is formed on the entire surface of the substrate 11 as the transparent conductive layer 191d using a sputtering apparatus. In addition to ITO, IZO, ITZO, ITSO, or the like can be used for the transparent conductive layer 191d. Then, Mo having a thickness of 50 nm and AlCu having a thickness of 300 nm are formed in this order on the entire surface of the substrate 11 as a reflective metal layer. Here, ITO having a film thickness of 5 nm is continuously formed on the entire surface of the substrate 11 as the upper transparent conductive layer 193. For the upper transparent conductive layer 193, IZO, ITZO, ITSO or the like can be used in addition to ITO. Thereby, as shown in FIG. 6E, the contact holes 181, 182, and 183 are covered with the transparent conductive layer 191d, the reflective metal layer 192d, and the upper transparent conductive layer 193.

続いて、上部透明導電層193の上にレジストをスピンコート法などにより塗布した後、ハーフトーン等の複数階調露光を用いた写真製版工程によって、膜厚差を有するレジストパターン25を形成する。画素領域では、透過画素電極部の膜厚が反射画素電極部の膜厚より薄くなるようにレジストパターン25を形成する。すなわち、レジストパターン25は、画素49の反射画素電極部に厚膜部25a、透過画素電極部に薄膜部25bが設けられている。このとき、本実施の形態では、ゲート端子部及びソース端子部に厚膜部25aと、ギャップ保持用パッド部に薄膜部25bとなるレジストパターン25を形成する。   Subsequently, after applying a resist on the upper transparent conductive layer 193 by spin coating or the like, a resist pattern 25 having a film thickness difference is formed by a photolithography process using multi-tone exposure such as halftone. In the pixel region, the resist pattern 25 is formed so that the thickness of the transmissive pixel electrode portion is smaller than the thickness of the reflective pixel electrode portion. That is, the resist pattern 25 is provided with a thick film portion 25 a in the reflective pixel electrode portion of the pixel 49 and a thin film portion 25 b in the transmissive pixel electrode portion. At this time, in this embodiment, a resist pattern 25 is formed which becomes a thick film portion 25a in the gate terminal portion and the source terminal portion and a thin film portion 25b in the gap holding pad portion.

そして、このレジストパターン25をマスクとして、ウェットエッチング処理などによって、上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dを、順次もしくは一括でパターニングする。これにより、図7(f)に示すように、レジストパターン25に覆われない領域の上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dが除去され、有機膜18が露出する。   Then, using the resist pattern 25 as a mask, the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d are sequentially or collectively patterned by wet etching or the like. Thereby, as shown in FIG. 7F, the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d in the region not covered with the resist pattern 25 are removed, and the organic film 18 is exposed.

次に、アッシング処理を行ってレジストパターン25の薄膜部25bを除去する。レジストパターン25の厚膜部25aは、膜厚が薄くなり、レジストパターン25cとして残存する。すなわち、図7(g)に示すように、薄膜部25bの除去されたレジストパターン25は、レジストパターン25cとなる。これにより、ギャップ保持用パターン部上のレジストパターン25が除去される。また、上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dから露出した部分の有機膜18は、このときのアッシング処理によって同時に膜減りし、有機膜18に薄膜部が形成される。このとき、本実施の形態では、ギャップ保持用パッド部の有機膜18は、上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dによって覆われているので、膜減りしない。このようにして、ギャップ保持用パッド部に画素領域と同様の厚膜部が設けられた有機膜18が形成される。   Next, an ashing process is performed to remove the thin film portion 25b of the resist pattern 25. The thick film portion 25a of the resist pattern 25 becomes thin and remains as a resist pattern 25c. That is, as shown in FIG. 7G, the resist pattern 25 from which the thin film portion 25b has been removed becomes a resist pattern 25c. As a result, the resist pattern 25 on the gap holding pattern portion is removed. In addition, the organic film 18 exposed from the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d is simultaneously reduced by the ashing process, and a thin film portion is formed in the organic film 18. At this time, in the present embodiment, the organic film 18 in the gap holding pad portion is covered with the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d, and thus the film is not reduced. In this manner, the organic film 18 in which the thick film portion similar to the pixel region is provided in the gap holding pad portion is formed.

アッシング後、レジストパターン25cをマスクとしてウェットエッチング処理等を行い、上部透明導電層193及び反射金属層192dを選択的にパターニングする。これにより、透過画素電極部とギャップ保持用パッド部の上部透明導電層193及び反射金属層192dが除去され、透明導電層191dが露出する。その後、レジスト剥離液を用いてレジストパターン25cを除去する。これにより、図7(h)に示すように、透過画素電極191上の一部に反射画素電極192と上部透明導電層193が積層された画素電極19が形成される。また、コンタクトホール182、183を介してソース端子43及びゲート端子44と接続するソース端子パッド及びゲート端子パッドが、透明導電層191d、反射金属層192d、及び上部透明導電層193の積層膜によって形成される。さらに、有機膜18の厚膜部の上に透明導電層191dが積層されたギャップ保持用パッド20が形成される。   After ashing, wet etching or the like is performed using the resist pattern 25c as a mask to selectively pattern the upper transparent conductive layer 193 and the reflective metal layer 192d. As a result, the upper transparent conductive layer 193 and the reflective metal layer 192d of the transmissive pixel electrode portion and the gap holding pad portion are removed, and the transparent conductive layer 191d is exposed. Thereafter, the resist pattern 25c is removed using a resist stripping solution. As a result, as shown in FIG. 7H, the pixel electrode 19 in which the reflective pixel electrode 192 and the upper transparent conductive layer 193 are laminated on a part of the transmissive pixel electrode 191 is formed. The source terminal pad and the gate terminal pad connected to the source terminal 43 and the gate terminal 44 through the contact holes 182 and 183 are formed by a laminated film of the transparent conductive layer 191d, the reflective metal layer 192d, and the upper transparent conductive layer 193. Is done. Further, a gap holding pad 20 in which a transparent conductive layer 191 d is laminated on the thick film portion of the organic film 18 is formed.

上記方法で上部透明導電層193及び反射金属層192dをパターニングすることにより、上部透明導電層193及び反射画素電極192のパターン端部が透過画素電極191のパターン端部の内側となるように画素電極19が階段状に形成される。すなわち、反射画素電極192が透過画素電極191からはみ出して庇状(オーバーハング形状)とならない。よって、画素電極19が庇形状であることに起因する後続工程の不良発生を防止できる。以上の工程を経て本実施の形態に係るTFTアレイ基板10が完成する。   By patterning the upper transparent conductive layer 193 and the reflective metal layer 192d by the above method, the pixel electrode is such that the pattern end portions of the upper transparent conductive layer 193 and the reflective pixel electrode 192 are inside the pattern end portion of the transmissive pixel electrode 191. 19 is formed in steps. That is, the reflective pixel electrode 192 does not protrude from the transmissive pixel electrode 191 and does not have a bowl shape (overhang shape). Therefore, it is possible to prevent the occurrence of defects in subsequent processes due to the pixel electrode 19 having a bowl shape. The TFT array substrate 10 according to this embodiment is completed through the above steps.

このように作製したTFTアレイ基板10の上に、転写法等により配向膜を形成する。次に、配向膜に熱を加え硬化させた後、この配向膜に対して、液晶層36との接触面に一方向にミクロな傷をつける配向処理(ラビング処理)を施す。   An alignment film is formed on the TFT array substrate 10 thus manufactured by a transfer method or the like. Next, after the alignment film is cured by applying heat, the alignment film is subjected to an alignment process (rubbing process) that makes micro scratches in one direction on the contact surface with the liquid crystal layer 36.

一方、別の基板31上に、写真製版工程によりブラックマトリクス32を形成する。ブラックマトリクス32は、顔料を含む樹脂あるいはクロム等の金属を用いることができる。ブラックマトリクス32の上からブラックマトリクス32間を埋めるように、色材33を写真製版工程により形成する。色材33は、顔料あるいは染料からなる感光性樹脂を用いることができる。そして、ここでは、ブラックマトリクス32及び色材33を覆うように、SiN等の保護膜を基板31の略全面に形成する。この保護膜の上に、対向電極34を基板31の略全面に形成する。対向電極34として、ITO等からなる透明導電膜が用いられる。   On the other hand, a black matrix 32 is formed on another substrate 31 by a photolithography process. For the black matrix 32, a resin containing a pigment or a metal such as chromium can be used. The color material 33 is formed by a photolithography process so as to fill the space between the black matrixes 32 from above the black matrix 32. As the color material 33, a photosensitive resin made of a pigment or a dye can be used. Here, a protective film such as SiN is formed on substantially the entire surface of the substrate 31 so as to cover the black matrix 32 and the color material 33. A counter electrode 34 is formed on the entire surface of the substrate 31 on the protective film. As the counter electrode 34, a transparent conductive film made of ITO or the like is used.

このように対向電極34が設けられた対向基板30上に、TFTアレイ基板10と同様、配向膜を形成し、ラビング処理を行う。そして、配向膜の上に、柱状スペーサ35となるフォトレジスト(観光性樹脂)を塗布する。そして、写真製版工程によってフォトレジストをパターニングし、柱状スペーサ35を形成する。このとき、後述する基板貼り合わせ工程において、TFTアレイ基板10の反射画素電極192に対向する位置と、ギャップ保持用パッド20に対向する位置とに、柱状スペーサ35を形成しておく。以上のような工程を経て、柱状スペーサ35を有する対向基板30が形成される。   In the same manner as the TFT array substrate 10, an alignment film is formed on the counter substrate 30 provided with the counter electrode 34, and a rubbing process is performed. Then, a photoresist (tourist resin) to be the columnar spacer 35 is applied on the alignment film. Then, the photoresist is patterned by a photolithography process to form columnar spacers 35. At this time, columnar spacers 35 are formed at positions facing the reflective pixel electrodes 192 of the TFT array substrate 10 and positions facing the gap holding pads 20 in the substrate bonding step described later. Through the steps described above, the counter substrate 30 having the columnar spacers 35 is formed.

次に、シール材37を塗布して、TFTアレイ基板10と対向基板30とを貼り合せる(基板貼り合わせ工程)。このとき、柱状スペーサ35が反射画素電極192及びギャップ保持用パッド20に対向する位置に配置されるよう、TFTアレイ基板10と対向基板30とを貼り合せる。TFTアレイ基板10と対向基板30とを貼り合わせた後、真空注入法等により、液晶注入口から液晶を注入する(液晶注入工程)。そして、液晶注入口を封止する(封止工程)。このようにして、本実施の形態の液晶表示パネル1が完成する。   Next, the sealing material 37 is applied and the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are bonded together (substrate bonding step). At this time, the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are bonded so that the columnar spacer 35 is disposed at a position facing the reflective pixel electrode 192 and the gap holding pad 20. After the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are bonded together, liquid crystal is injected from a liquid crystal injection port by a vacuum injection method or the like (liquid crystal injection step). Then, the liquid crystal injection port is sealed (sealing step). In this way, the liquid crystal display panel 1 of the present embodiment is completed.

このように、本実施の形態では、対向基板30の柱状スペーサ35がTFTアレイ基板10の反射画素電極192及びギャップ保持用パッド20と対向配置され、両基板間の間隔を保持する。そのため、基板貼り合わせ工程、液晶注入工程、及び封止工程を通してTFTアレイ基板10と対向基板30との間に圧力が加わるが、両基板間の間隔を液晶表示パネル1全体にわたり均一に保つことができる。   As described above, in the present embodiment, the columnar spacer 35 of the counter substrate 30 is disposed so as to face the reflective pixel electrode 192 and the gap holding pad 20 of the TFT array substrate 10, and holds the distance between the two substrates. Therefore, pressure is applied between the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 through the substrate bonding step, the liquid crystal injection step, and the sealing step, but the distance between the substrates can be kept uniform throughout the liquid crystal display panel 1. it can.

その後、TFTアレイ基板10及び対向基板30の外側に、偏光板を貼着する。そして、制御基板を実装して、バックライトユニット等を取り付ける。以上の工程を経て、本実施の形態に係る液晶表示装置が完成する。   Thereafter, a polarizing plate is attached to the outside of the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30. And a control board is mounted and a backlight unit etc. are attached. Through the above steps, the liquid crystal display device according to this embodiment is completed.

このように、本実施の形態では、TFTアレイ基板10上の表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域に、透過画素電極191と同層の透明導電層191dを設けてギャップ保持用パッド20を形成する。これにより、透明導電層191dの下には、反射画素電極192の下と同様、有機膜18の厚膜部が形成される。そして、反射画素電極192及びギャップ保持用パッド20の対面に対向基板30の柱状スペーサ35が位置するように両基板を貼り合わせる。これにより、ギャップ保持用パッド20上では、対向基板30表面との距離が反射画素電極192上とほぼ同等となり、これらの部分で柱状スペーサ35が両基板間の間隔を保持することとなる。よって、両基板間の間隔は、表示領域41の外側と内側とで同等となる。従って、表示領域41の周辺部に発生する表示むらを抑制することができ、表示品位の優れた液晶表示装置を提供できる。   As described above, in the present embodiment, the transparent conductive layer 191d that is the same layer as the transmissive pixel electrode 191 is provided in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37 on the TFT array substrate 10 to provide a gap holding pad. 20 is formed. As a result, a thick film portion of the organic film 18 is formed under the transparent conductive layer 191d as in the case of under the reflective pixel electrode 192. Then, both substrates are bonded together so that the columnar spacer 35 of the counter substrate 30 is located on the opposite side of the reflective pixel electrode 192 and the gap holding pad 20. Thus, the distance from the surface of the counter substrate 30 on the gap holding pad 20 is substantially the same as that on the reflective pixel electrode 192, and the columnar spacer 35 holds the distance between the substrates at these portions. Therefore, the distance between the two substrates is the same between the outside and inside of the display area 41. Therefore, display unevenness occurring in the periphery of the display area 41 can be suppressed, and a liquid crystal display device with excellent display quality can be provided.

なお、上記説明では、ギャップ保持用パッド20をシール材37の各辺に沿って帯状に形成して、1つのギャップ保持用パッド20に複数の柱状スペーサ35を対向配置させたが、ギャップ保持用パッド20の形状はこれに限定されるものではない。図8は、本実施の形態1の別の実施例に係る液晶表示パネル2の表示領域41周辺部とその外側の構成を示す拡大平面図である。また、図9は、本実施の形態1の別の実施例に係る液晶表示パネル2の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。なお、図8では、TFTアレイ基板10側の構成のみが記載されており、対向基板30側の構成については省略している。また、図9では、TFTアレイ基板10の構成は模式的に記載されている。例えば図8及び図9に示すように、柱状スペーサ35が内包できる程度の大きさでギャップ保持用パッド20を形成して、1つのギャップ保持用パッド20に柱状スペーサ35のそれぞれを対向配置させてもよい。   In the above description, the gap holding pad 20 is formed in a strip shape along each side of the sealing material 37, and the plurality of columnar spacers 35 are arranged opposite to each gap holding pad 20. The shape of the pad 20 is not limited to this. FIG. 8 is an enlarged plan view showing the configuration of the periphery of the display region 41 and the outside of the liquid crystal display panel 2 according to another example of the first embodiment. FIG. 9 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery and the outside of the display area 41 of the liquid crystal display panel 2 according to another example of the first embodiment. In FIG. 8, only the configuration on the TFT array substrate 10 side is shown, and the configuration on the counter substrate 30 side is omitted. In FIG. 9, the configuration of the TFT array substrate 10 is schematically shown. For example, as shown in FIGS. 8 and 9, the gap holding pad 20 is formed to a size that can contain the columnar spacer 35, and each of the columnar spacers 35 is disposed opposite to the gap holding pad 20. Also good.

実施の形態2.
本実施の形態に係る液晶表示装置について、図10を用いて説明する。本実施の形態にかかる液晶表示装置の基本的構成は、実施の形態1と同様であるため、同様の内容については、説明を省略する。本実施の形態では、ギャップ保持用パッド20の構成が実施の形態1と異なっている。図10は、本実施の形態2に係る液晶表示パネル3の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。図10では、図4のV−V断面図に相当する断面が記載されている。
Embodiment 2. FIG.
A liquid crystal display device according to this embodiment will be described with reference to FIGS. Since the basic configuration of the liquid crystal display device according to the present embodiment is the same as that of the first embodiment, the description of the same contents is omitted. In the present embodiment, the configuration of the gap holding pad 20 is different from that of the first embodiment. FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area 41 and the outside of the liquid crystal display panel 3 according to the second embodiment. 10, a cross section corresponding to the VV cross sectional view of FIG. 4 is shown.

図10において、図5と同じ構成部分については同一の符号を付し、差異について説明する。図10に示すように、実施の形態1と同様、TFTアレイ基板10上における表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域にギャップ保持用パッド20が設けられている。本実施の形態では、ギャップ保持用パッド20は、有機膜18の厚膜部の上に、透過画素電極191と同層の透明導電層191dと、反射画素電極192と同層の反射金属層192dとが積層された構成となっている。なお、画素電極19が仕事関数を調整するための上部透明導電層193を反射画素電極192上に有する構成の場合は、ギャップ保持用パッド20は、反射金属層192dの上に上部透明導電層193がさらに積層された構成となる。   10, the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and differences will be described. As shown in FIG. 10, as in the first embodiment, a gap holding pad 20 is provided on the TFT array substrate 10 in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. In the present embodiment, the gap holding pad 20 has a transparent conductive layer 191d in the same layer as the transmissive pixel electrode 191 and a reflective metal layer 192d in the same layer as the reflective pixel electrode 192 on the thick film portion of the organic film 18. Are laminated. In the case where the pixel electrode 19 has an upper transparent conductive layer 193 for adjusting the work function on the reflective pixel electrode 192, the gap holding pad 20 is disposed on the reflective metal layer 192d. Are further laminated.

そして、対向基板30の柱状スペーサ35がTFTアレイ基板10の反射画素電極192とギャップ保持用パッド20とに対向配置されるように、TFTアレイ基板10と対向基板30とがシール材37を介して貼り合わされている。   Then, the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are interposed via the sealing material 37 so that the columnar spacers 35 of the counter substrate 30 are disposed opposite to the reflective pixel electrode 192 and the gap holding pad 20 of the TFT array substrate 10. It is pasted together.

次に、本実施の形態に係る液晶表示装置の製造方法について図11及び図12を用いて説明する。図11及び図12は、本実施の形態2に係るTFTアレイ基板10の製造工程を示した断面図である。なお、図11及び図12の各図において右側には、図6及び図7と同様、図2のIII−III断面に相当する画素49内の断面図を示している。また、図11及び図12の各図において左側には、ゲート端子44部、ソース端子43部、及びギャップ保持用パッド20部の断面図を記している。本実施の形態では、ギャップ保持用パッド20の形成工程が実施の形態1と異なっていて、それ以外の工程については実施の形態1と同様であるため説明を省略する。   Next, a method for manufacturing the liquid crystal display device according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 11 and 12 are cross-sectional views showing the manufacturing process of the TFT array substrate 10 according to the second embodiment. 11 and 12, on the right side, as in FIGS. 6 and 7, a cross-sectional view inside the pixel 49 corresponding to the III-III cross section of FIG. 2 is shown. 11 and 12, the left side is a cross-sectional view of the gate terminal 44 part, the source terminal 43 part, and the gap holding pad 20 part. In the present embodiment, the gap holding pad 20 forming step is different from that in the first embodiment, and the other steps are the same as those in the first embodiment, and thus the description thereof is omitted.

実施の形態1と同様、初めに、ゲート電極121となる電極膜を基板11全面に成膜する。写真製版、エッチング、レジスト除去の工程を経て、この電極膜をパターニングする。これにより、ゲート配線12、ゲート電極121、補助容量電極122、及びゲート端子44が基板11上に形成され、図11(a)の構成とする。これらを覆うように、ゲート絶縁膜13、半導体層14、及びオーミックコンタクト膜15を成膜する。その後、写真製版工程により、半導体層14及びオーミックコンタクト膜15をパターニングして、図11(b)の構成とする。   As in the first embodiment, first, an electrode film to be the gate electrode 121 is formed over the entire surface of the substrate 11. This electrode film is patterned through the steps of photolithography, etching, and resist removal. As a result, the gate line 12, the gate electrode 121, the auxiliary capacitance electrode 122, and the gate terminal 44 are formed on the substrate 11, and the structure shown in FIG. A gate insulating film 13, a semiconductor layer 14, and an ohmic contact film 15 are formed so as to cover them. Thereafter, the semiconductor layer 14 and the ohmic contact film 15 are patterned by a photolithography process to obtain the configuration of FIG.

次に、これらを覆う電極膜を、実施の形態1と同様に成膜する。そして、写真製版、エッチングの工程を経て、ソース配線16、ソース電極161、ドレイン電極162、及びソース端子43を形成する。続いて、実施の形態1と同様に、ソース電極161とドレイン電極162間のオーミックコンタクト膜15をエッチングにより除去して、チャネル領域を形成する。その後、レジスト除去工程を経て、図11(c)の構成となる。   Next, an electrode film covering these is formed in the same manner as in the first embodiment. Then, the source wiring 16, the source electrode 161, the drain electrode 162, and the source terminal 43 are formed through photolithography and etching processes. Subsequently, as in Embodiment 1, the ohmic contact film 15 between the source electrode 161 and the drain electrode 162 is removed by etching to form a channel region. Thereafter, the structure shown in FIG. 11C is obtained through a resist removal step.

チャネル領域の形成後、実施の形態1と同様、これらの上に層間絶縁膜17を形成する。続いて、層間絶縁膜17の上に、写真製版工程によって、凹凸パターン185と開口部とを有する有機膜18を形成する。この有機膜18をマスクとして、エッチングを行う。これにより、図11(d)のように、ドレイン電極162に到達するコンタクトホール181、ゲート端子44に到達するコンタクトホール183、及びソース端子43に到達するコンタクトホール182が形成される。   After the channel region is formed, an interlayer insulating film 17 is formed thereon as in the first embodiment. Subsequently, an organic film 18 having an uneven pattern 185 and an opening is formed on the interlayer insulating film 17 by a photolithography process. Etching is performed using the organic film 18 as a mask. Thus, as shown in FIG. 11D, a contact hole 181 reaching the drain electrode 162, a contact hole 183 reaching the gate terminal 44, and a contact hole 182 reaching the source terminal 43 are formed.

そして、実施の形態1と同様、有機膜18上に、透明導電層191d及び反射金属層192dを順次成膜する。実施の形態1と同様に、ここでは、反射金属層192dの上にさらに上部透明導電層193を成膜する。これにより、図11(e)に示すように、コンタクトホール181、182、183は、透明導電層191d、反射金属層192d、及び上部透明導電層193によって覆われる。   As in the first embodiment, a transparent conductive layer 191d and a reflective metal layer 192d are sequentially formed on the organic film 18. As in the first embodiment, an upper transparent conductive layer 193 is further formed on the reflective metal layer 192d here. As a result, as shown in FIG. 11E, the contact holes 181, 182, and 183 are covered with the transparent conductive layer 191d, the reflective metal layer 192d, and the upper transparent conductive layer 193.

続いて、上部透明導電層193の上にレジストをスピンコート法などにより塗布した後、ハーフトーン等の複数階調露光を用いた写真製版工程によって、膜厚差を有するレジストパターン25を形成する。本実施の形態では、図12(f)に示すように、反射画素電極部、ゲート端子部、ソース端子部、及びギャップ保持用パッド部にレジストパターン25の厚膜部25aを形成する。また、透過画素電極部にレジストパターン25の薄膜部25bを形成する。すなわち、ギャップ保持用パッド部には、実施の形態1では薄膜部25bを形成したが、本実施の形態では厚膜部25aを形成する。   Subsequently, after applying a resist on the upper transparent conductive layer 193 by spin coating or the like, a resist pattern 25 having a film thickness difference is formed by a photolithography process using multi-tone exposure such as halftone. In the present embodiment, as shown in FIG. 12F, a thick film portion 25a of the resist pattern 25 is formed on the reflective pixel electrode portion, the gate terminal portion, the source terminal portion, and the gap holding pad portion. Further, a thin film portion 25b of the resist pattern 25 is formed on the transmissive pixel electrode portion. That is, the thin film portion 25b is formed in the gap holding pad portion in the first embodiment, but the thick film portion 25a is formed in the present embodiment.

そして、このレジストパターン25をマスクとして、ウェットエッチング処理などによって、上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dを、順次もしくは一括でパターニングする。これにより、図12(f)に示すように、レジストパターン25に覆われない領域の上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dが除去され、有機膜18が露出する。   Then, using the resist pattern 25 as a mask, the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d are sequentially or collectively patterned by wet etching or the like. As a result, as shown in FIG. 12F, the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d in the region not covered with the resist pattern 25 are removed, and the organic film 18 is exposed.

次に、アッシング処理を行ってレジストパターン25の薄膜部25bを除去する。薄膜部25bの除去されたレジストパターン25は、図12(g)に示すように、レジストパターン25cとなる。これにより、ギャップ保持用パターン部上のレジストパターンの厚膜部25aは、膜厚が薄くなり、レジストパターン25cとして残存する。また、上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dから露出した部分の有機膜18は、このときのアッシング処理によって同時に膜減りし、有機膜18に薄膜部が形成される。このとき、本実施の形態では、ギャップ保持用パッド部の有機膜18は、上部透明導電層193、反射金属層192d、及び透明導電層191dによって覆われているので、膜減りしない。このようにして、ギャップ保持用パッド部に画素領域と同様の厚膜部が設けられた有機膜18が形成される。   Next, an ashing process is performed to remove the thin film portion 25b of the resist pattern 25. The resist pattern 25 from which the thin film portion 25b has been removed becomes a resist pattern 25c as shown in FIG. As a result, the thick film portion 25a of the resist pattern on the gap holding pattern portion becomes thin and remains as the resist pattern 25c. In addition, the organic film 18 exposed from the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d is simultaneously reduced by the ashing process, and a thin film portion is formed in the organic film 18. At this time, in the present embodiment, the organic film 18 in the gap holding pad portion is covered with the upper transparent conductive layer 193, the reflective metal layer 192d, and the transparent conductive layer 191d, and thus the film is not reduced. In this manner, the organic film 18 in which the thick film portion similar to the pixel region is provided in the gap holding pad portion is formed.

アッシング後、レジストパターン25cをマスクとしてウェットエッチング処理等を行い、上部透明導電層193及び反射金属層192dを選択的にパターニングする。これにより、透過画素電極部の上部透明導電層193及び反射金属層192dが除去され、透明導電層191dが露出する。その後、レジスト剥離液を用いてレジストパターン25cを除去する。これにより、図12(h)に示すように、透過画素電極191上の一部に反射画素電極192と上部透明導電層193が積層された画素電極19が形成される。また、コンタクトホール182、183を介してソース端子43及びゲート端子44と接続するソース端子パッド及びゲート端子パッドが、透明導電層191d、反射金属層192d、及び上部透明導電層193の積層膜によって形成される。さらに、有機膜18の厚膜部の上に透明導電層191d、反射金属層192d、及び上部透明導電層193が積層されたギャップ保持用パッド20が形成される。   After ashing, wet etching or the like is performed using the resist pattern 25c as a mask to selectively pattern the upper transparent conductive layer 193 and the reflective metal layer 192d. As a result, the upper transparent conductive layer 193 and the reflective metal layer 192d of the transmissive pixel electrode portion are removed, and the transparent conductive layer 191d is exposed. Thereafter, the resist pattern 25c is removed using a resist stripping solution. As a result, as shown in FIG. 12H, a pixel electrode 19 in which the reflective pixel electrode 192 and the upper transparent conductive layer 193 are laminated on a part of the transmissive pixel electrode 191 is formed. The source terminal pad and the gate terminal pad connected to the source terminal 43 and the gate terminal 44 through the contact holes 182 and 183 are formed by a laminated film of the transparent conductive layer 191d, the reflective metal layer 192d, and the upper transparent conductive layer 193. Is done. Further, a gap holding pad 20 in which a transparent conductive layer 191d, a reflective metal layer 192d, and an upper transparent conductive layer 193 are laminated on the thick film portion of the organic film 18 is formed.

以上の工程を経て本実施の形態に係るTFTアレイ基板10が完成する。以降の工程については、実施の形態1と同様であるため、説明を省略する。   The TFT array substrate 10 according to this embodiment is completed through the above steps. Since the subsequent steps are the same as those in the first embodiment, description thereof is omitted.

このように、本実施の形態では、TFTアレイ基板10上の表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域に、画素電極19を構成する導電層と同じ導電層を設けてギャップ保持用パッド20を形成する。これにより、ギャップ保持用パッド20の導電層の下には、反射画素電極192の下と同様、有機膜18の厚膜部が形成される。そして、反射画素電極192及びギャップ保持用パッド20の対面に対向基板30の柱状スペーサ35が位置するように両基板を貼り合わせる。これにより、ギャップ保持用パッド20上では、対向基板30表面との距離が反射画素電極192上とほぼ同等となり、これらの部分で柱状スペーサ35が両基板間の間隔を保持することとなる。よって、両基板間の間隔は、表示領域41の外側と内側とで同等となる。従って、表示領域41の周辺部に発生する表示むらを抑制することができ、表示品位の優れた液晶表示装置を提供できる。   As described above, in this embodiment, the same conductive layer as the conductive layer constituting the pixel electrode 19 is provided in the region outside the display region 41 on the TFT array substrate 10 and inside the sealing material 37 to provide a gap holding pad. 20 is formed. As a result, a thick film portion of the organic film 18 is formed under the conductive layer of the gap holding pad 20 in the same manner as under the reflective pixel electrode 192. Then, both substrates are bonded together so that the columnar spacer 35 of the counter substrate 30 is located on the opposite side of the reflective pixel electrode 192 and the gap holding pad 20. Thus, the distance from the surface of the counter substrate 30 on the gap holding pad 20 is substantially the same as that on the reflective pixel electrode 192, and the columnar spacer 35 holds the distance between the substrates at these portions. Therefore, the distance between the two substrates is the same between the outside and inside of the display area 41. Therefore, display unevenness occurring in the periphery of the display area 41 can be suppressed, and a liquid crystal display device with excellent display quality can be provided.

実施の形態3.
本実施の形態に係る液晶表示装置について、図13を用いて説明する。本実施の形態にかかる液晶表示装置の基本的構成は、実施の形態1と同様であるため、同様の内容については、説明を省略する。本実施の形態では、ギャップ保持用パッド20の構成が実施の形態1、2と異なっている。図13は、本実施の形態3に係る液晶表示パネル4の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。
Embodiment 3 FIG.
A liquid crystal display device according to this embodiment will be described with reference to FIGS. Since the basic configuration of the liquid crystal display device according to the present embodiment is the same as that of the first embodiment, the description of the same contents is omitted. In the present embodiment, the configuration of the gap holding pad 20 is different from those of the first and second embodiments. FIG. 13 is a cross-sectional view schematically showing the periphery of the display area 41 of the liquid crystal display panel 4 according to the third embodiment and the configuration outside thereof.

図13において、図5と同じ構成部分については同一の符号を付し、差異について説明する。本実施の形態では、図13に示すように、対向基板30上における表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域にギャップ保持用パッド20が設けられている。すなわち、ギャップ保持用パッド20は、TFTアレイ基板10側ではなく、対向基板30側に設けられている。よって、図19に示す従来例と同様、TFTアレイ基板10の表示領域41の外側には、画素間領域と同じ有機膜18の薄膜部が形成される。   In FIG. 13, the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and differences will be described. In the present embodiment, as shown in FIG. 13, the gap holding pad 20 is provided on the counter substrate 30 outside the display area 41 and inside the sealing material 37. That is, the gap holding pad 20 is provided not on the TFT array substrate 10 side but on the counter substrate 30 side. Therefore, as in the conventional example shown in FIG. 19, the same thin film portion of the organic film 18 as the inter-pixel region is formed outside the display region 41 of the TFT array substrate 10.

ギャップ保持用パッド20は、基板31上に複数の色材33が積層して形成され、これらを覆うように対向電極34が形成されている。ここでは、ギャップ保持用パッド20に、赤(R)、緑(G)、青(B)3色の色材33が積層されているが、積層される色材33の数は、対向基板30のギャップ保持用パッド20表面と対向するTFTアレイ基板10表面との間の距離に応じて適宜決定される。すなわち、TFTアレイ基板10と対向基板30との互いに対向する側の表面間の距離が、対向基板30のギャップ保持用パッド20上と、TFTアレイ基板10の反射画素電極192上と同等となるように、ギャップ保持用パッド20に積層する色材33が決定される。   The gap holding pad 20 is formed by laminating a plurality of color materials 33 on a substrate 31, and a counter electrode 34 is formed so as to cover them. Here, three color materials 33 of red (R), green (G), and blue (B) are laminated on the gap holding pad 20. The number of the color materials 33 to be laminated is the counter substrate 30. The distance is appropriately determined according to the distance between the surface 20 of the gap holding pad 20 and the surface of the TFT array substrate 10 facing it. That is, the distance between the opposing surfaces of the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 is equivalent to the gap holding pad 20 of the counter substrate 30 and the reflective pixel electrode 192 of the TFT array substrate 10. In addition, the color material 33 to be stacked on the gap holding pad 20 is determined.

ギャップ保持用パッド20の形状は、実施の形態1と同様、特に限定されるものではない。例えば、実施の形態1において説明したように、シール材37の各辺に沿って帯状に形成して、1つのギャップ保持用パッド20の上に複数の柱状スペーサ35を設けてもよい。また、柱状スペーサ35が内包できる程度の大きさでギャップ保持用パッド20を形成して、1つのギャップ保持用パッド20に柱状スペーサ35のそれぞれを設けてもよい。なお、対向基板30が、表示領域41内において色材33と対向電極34の間に保護膜が設けられる構成の場合は、保護膜を表示領域41より延在してギャップ保持用パッド20にも形成する。   The shape of the gap holding pad 20 is not particularly limited as in the first embodiment. For example, as described in the first embodiment, a plurality of columnar spacers 35 may be provided on one gap holding pad 20 by being formed in a strip shape along each side of the sealing material 37. Alternatively, the gap holding pad 20 may be formed in a size that allows the columnar spacer 35 to be included, and each of the columnar spacers 35 may be provided on one gap holding pad 20. In the case where the counter substrate 30 has a configuration in which a protective film is provided between the color material 33 and the counter electrode 34 in the display area 41, the protective film extends from the display area 41 and is also applied to the gap holding pad 20. Form.

このようにギャップ保持用パッド20が設けられた対向基板30の対向電極34上には、柱状スペーサ35が、反射画素電極192に対向する位置と、ギャップ保持用パッド20上とに設けられている。そして、対向基板30の柱状スペーサ35がTFTアレイ基板10の反射画素電極192、及び表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域とに対向配置されるように、TFTアレイ基板10と対向基板30とがシール材37を介して貼り合わされている。   Thus, on the counter electrode 34 of the counter substrate 30 provided with the gap holding pad 20, the columnar spacer 35 is provided on the position facing the reflective pixel electrode 192 and on the gap holding pad 20. . The TFT array substrate 10 and the counter substrate are arranged so that the columnar spacers 35 of the counter substrate 30 are disposed to face the reflective pixel electrode 192 of the TFT array substrate 10 and the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. 30 are bonded to each other through a sealing material 37.

なお、ギャップ保持用パッド20は上記構成に限られるものではない。図14は、本実施の形態3の別の実施例に係る液晶表示パネル5の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。図14に示すように、ギャップ保持用パッド20には、色材33と基板31との間にブラックマトリクス32が形成されていてもよい。ここでは、ギャップ保持用パッド20に、ブラックマトリクス32上に2色の色材33が積層されているが、積層される色材33の数は、前述したように、対向基板30のギャップ保持用パッド20表面と対向するTFTアレイ基板10表面との間の距離に応じて適宜決定される。   The gap holding pad 20 is not limited to the above configuration. FIG. 14 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display region 41 of the liquid crystal display panel 5 according to another example of the third embodiment and the outside thereof. As shown in FIG. 14, a black matrix 32 may be formed between the color material 33 and the substrate 31 in the gap holding pad 20. Here, the two color materials 33 are laminated on the black matrix 32 on the gap holding pad 20, but the number of the color materials 33 to be laminated is as described above for holding the gap of the counter substrate 30. It is determined appropriately according to the distance between the surface of the pad 20 and the surface of the TFT array substrate 10 facing the pad 20 surface.

このように、本実施の形態では、対向基板30上の表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域に、ブラックマトリクス32及び色材33のうち少なくとも2層以上を積層させてギャップ保持用パッド20を形成する。これにより、ギャップ保持用パッド20における対向基板30の基板31表面からの高さは、表示領域41内における高さより高くなる。すなわち、ギャップ保持用パッド20上におけるTFTアレイ基板10表面との距離が、反射画素電極192上における対向基板30表面との距離とほぼ同等となり、これらの部分で柱状スペーサ35が両基板間の間隔を保持することとなる。よって、両基板間の間隔は、表示領域41の外側と内側とで同等となる。従って、表示領域41の周辺部に発生する表示むらを抑制することができ、表示品位の優れた液晶表示装置を提供できる。   As described above, in the present embodiment, at least two layers of the black matrix 32 and the color material 33 are stacked on the area outside the display area 41 and inside the sealing material 37 on the counter substrate 30 to maintain the gap. The pad 20 is formed. Thus, the height of the gap holding pad 20 from the surface of the counter substrate 30 on the substrate 31 is higher than the height in the display area 41. That is, the distance from the surface of the TFT array substrate 10 on the gap holding pad 20 is substantially the same as the distance from the surface of the counter substrate 30 on the reflective pixel electrode 192, and the columnar spacers 35 are spaced from each other at these portions. Will be held. Therefore, the distance between the two substrates is the same between the outside and inside of the display area 41. Therefore, display unevenness occurring in the periphery of the display area 41 can be suppressed, and a liquid crystal display device with excellent display quality can be provided.

実施の形態4.
本実施の形態に係る液晶表示装置について、図15を用いて説明する。本実施の形態にかかる液晶表示装置の基本的構成は、実施の形態1と同様であるため、同様の内容については、説明を省略する。本実施の形態では、TFTアレイ基板10の構成が実施の形態1と異なっている。図15は、本実施の形態4に係る液晶表示パネル6の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。
Embodiment 4 FIG.
A liquid crystal display device according to this embodiment will be described with reference to FIG. Since the basic configuration of the liquid crystal display device according to the present embodiment is the same as that of the first embodiment, the description of the same contents is omitted. In the present embodiment, the configuration of the TFT array substrate 10 is different from that of the first embodiment. FIG. 15 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area 41 and the outside of the liquid crystal display panel 6 according to the fourth embodiment.

図15において、図5と同じ構成部分については同一の符号を付し、差異について説明する。図15に示すように、TFTアレイ基板10の表示領域41の外側には、図19に示す従来例と同様、画素間領域と同じ有機膜18の薄膜部が形成される。本実施の形態では、TFTアレイ基板10の画素電極19の上に、平坦化膜21がさらに形成されている。平坦化膜21は、画素電極19や有機膜18を覆うように形成され、TFTアレイ基板10上に生じた凹凸を平坦化する。平坦化膜21は、枠状のシール材37よりも内側の領域において表示領域41より大きく形成される。すなわち、シール材37の下には平坦化膜21が設けられていない。このように、平坦化膜21は、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域において、実施の形態1と同様、ギャップ保持用パッド20として機能する。平坦化膜21は、有機絶縁膜、無機絶縁膜などの平坦化膜によって形成されている。   15, the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and differences will be described. As shown in FIG. 15, the thin film portion of the organic film 18 that is the same as the inter-pixel region is formed outside the display region 41 of the TFT array substrate 10 as in the conventional example shown in FIG. In the present embodiment, a planarizing film 21 is further formed on the pixel electrode 19 of the TFT array substrate 10. The planarizing film 21 is formed so as to cover the pixel electrode 19 and the organic film 18, and planarizes unevenness generated on the TFT array substrate 10. The planarizing film 21 is formed to be larger than the display area 41 in an area inside the frame-shaped sealing material 37. That is, the planarizing film 21 is not provided under the sealing material 37. As described above, the planarization film 21 functions as the gap holding pad 20 in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37 as in the first embodiment. The planarizing film 21 is formed of a planarizing film such as an organic insulating film or an inorganic insulating film.

このように平坦化膜21が設けられたTFTアレイ基板10は、反射画素電極192、及び表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域とに対向基板30の柱状スペーサ35が対向配置されるように、シール材37を介して対向基板30と貼り合わされている。   In the TFT array substrate 10 provided with the planarizing film 21 in this way, the columnar spacers 35 of the counter substrate 30 are disposed to face the reflective pixel electrode 192 and the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. As described above, the counter substrate 30 is bonded with the sealant 37 interposed therebetween.

なお、平坦化膜21は上記形状に限られるものではない。図16は、本実施の形態4の別の実施例に係る液晶表示パネル7の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。図16に示すように、平坦化膜21は、有機膜18の薄膜部を埋めるような形状で形成されていてもよい。但し、この場合も、前述したように、シール材37の下の平坦化膜21は除去されている。   The planarizing film 21 is not limited to the above shape. FIG. 16 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display area 41 and the outside of the liquid crystal display panel 7 according to another example of the fourth embodiment. As shown in FIG. 16, the planarization film 21 may be formed in a shape that fills the thin film portion of the organic film 18. However, also in this case, as described above, the planarizing film 21 under the sealing material 37 is removed.

以上のように、本実施の形態では、TFTアレイ基板10の画素電極19の上から平坦化膜21をさらに形成する。このとき、有機膜18の薄膜部上に設けられた平坦化膜21表面の基板11からの高さが、透過画素電極191表面の基板11からの高さ以上となるように平坦化膜21を形成する。これにより、基板11からの表面の高さが、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域と、反射画素電極192上とでほぼ同等となり、これらの部分で柱状スペーサ35がTFTアレイ基板10と対向基板30の間の間隔を保持することとなる。よって、両基板間の間隔は、表示領域41の外側と内側とで同等となる。従って、表示領域41の周辺部に発生する表示むらを抑制することができ、表示品位の優れた液晶表示装置を提供できる。   As described above, in the present embodiment, the planarization film 21 is further formed on the pixel electrode 19 of the TFT array substrate 10. At this time, the planarization film 21 is formed such that the height of the surface of the planarization film 21 provided on the thin film portion of the organic film 18 from the substrate 11 is equal to or higher than the height of the surface of the transmissive pixel electrode 191 from the substrate 11. Form. As a result, the height of the surface from the substrate 11 is substantially equal between the region outside the display region 41 and the region inside the sealing material 37 and the reflective pixel electrode 192, and the columnar spacer 35 is located at these portions on the TFT array substrate. The distance between 10 and the counter substrate 30 is maintained. Therefore, the distance between the two substrates is the same between the outside and inside of the display area 41. Therefore, display unevenness occurring in the periphery of the display area 41 can be suppressed, and a liquid crystal display device with excellent display quality can be provided.

実施の形態5.
本実施の形態に係る液晶表示装置について、図17を用いて説明する。本実施の形態にかかる液晶表示装置の基本的構成は、実施の形態1と同様であるため、同様の内容については、説明を省略する。本実施の形態では、TFTアレイ基板10の構成が実施の形態1と異なっている。図17は、本実施の形態5に係る液晶表示パネル8の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。
Embodiment 5 FIG.
A liquid crystal display device according to this embodiment will be described with reference to FIGS. Since the basic configuration of the liquid crystal display device according to the present embodiment is the same as that of the first embodiment, the description of the same contents is omitted. In the present embodiment, the configuration of the TFT array substrate 10 is different from that of the first embodiment. FIG. 17 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display region 41 and the outside of the liquid crystal display panel 8 according to the fifth embodiment.

図17において、図5と同じ構成部分については同一の符号を付し、差異について説明する。図17に示すように、本実施の形態では、有機膜18と透過画素電極191との間に無機絶縁膜22がさらに形成されている。そのため、本実施の形態の有機膜18には、実施の形態1〜4と異なり、薄膜部が設けられていない。すなわち、透過画素電極191と反射画素電極192をパターニングするためのマスクとして形成された膜厚差を有するレジストパターンのアッシング時に、有機膜18が無機絶縁膜22に覆われており膜減りしない。従って、有機膜18上に無機絶縁膜22を設けることにより、アッシング時に有機膜18が膜減りして薄膜部が形成されることを防止できる。この無機絶縁膜22は、例えばCVD装置を用いて膜厚100nmのSiNなどを基板11全面に成膜すればよい。   In FIG. 17, the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and differences will be described. As shown in FIG. 17, in this embodiment, an inorganic insulating film 22 is further formed between the organic film 18 and the transmissive pixel electrode 191. Therefore, unlike the first to fourth embodiments, the organic film 18 of the present embodiment is not provided with a thin film portion. That is, the organic film 18 is covered with the inorganic insulating film 22 and is not reduced during ashing of a resist pattern having a film thickness difference formed as a mask for patterning the transmissive pixel electrode 191 and the reflective pixel electrode 192. Therefore, by providing the inorganic insulating film 22 on the organic film 18, it is possible to prevent the organic film 18 from being reduced during ashing and forming a thin film portion. The inorganic insulating film 22 may be formed on the entire surface of the substrate 11 by using, for example, a CVD apparatus to form SiN having a thickness of 100 nm.

このように無機絶縁膜22が設けられたTFTアレイ基板10は、反射画素電極192、及び表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域とに対向基板30の柱状スペーサ35が対向配置されるように、シール材37を介して対向基板30と貼り合わされている。   In the TFT array substrate 10 provided with the inorganic insulating film 22 as described above, the columnar spacers 35 of the counter substrate 30 are disposed to face the reflective pixel electrode 192 and the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. As described above, the counter substrate 30 is bonded with the sealant 37 interposed therebetween.

以上のように、本実施の形態では、TFTアレイ基板10の有機膜18と透過画素電極191との間に無機絶縁膜22をさらに形成する。これにより、透過画素電極191と反射画素電極192とを1回の写真製版で形成する際のアッシングによって、有機膜18が膜減りして薄膜部が形成されることを防止できる。すなわち、基板11からの表面の高さが、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域と、反射画素電極192上とでほぼ同等となり、これらの部分で柱状スペーサ35がTFTアレイ基板10と対向基板30の間の間隔を保持することとなる。よって、両基板間の間隔は、表示領域41の外側と内側とで同等となる。従って、表示領域41の周辺部に発生する表示むらを抑制することができ、表示品位の優れた液晶表示装置を提供できる。   As described above, in this embodiment, the inorganic insulating film 22 is further formed between the organic film 18 and the transmissive pixel electrode 191 of the TFT array substrate 10. Accordingly, it is possible to prevent the organic film 18 from being reduced and a thin film portion from being formed by ashing when the transmissive pixel electrode 191 and the reflective pixel electrode 192 are formed by one photolithography. That is, the height of the surface from the substrate 11 is substantially the same between the area outside the display area 41 and the area inside the sealing material 37 and the reflective pixel electrode 192, and the columnar spacer 35 is located at these portions in the TFT array substrate 10. And the distance between the counter substrate 30 are maintained. Therefore, the distance between the two substrates is the same between the outside and inside of the display area 41. Therefore, display unevenness occurring in the periphery of the display area 41 can be suppressed, and a liquid crystal display device with excellent display quality can be provided.

実施の形態6.
本実施の形態に係る液晶表示装置について、図18を用いて説明する。本実施の形態にかかる液晶表示装置の基本的構成は、実施の形態1と同様であるため、同様の内容については、説明を省略する。本実施の形態では、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域の構成が実施の形態1と異なっている。図18は、本実施の形態6に係る液晶表示パネル9の表示領域41周辺部とその外側の構成を模式的に示した断面図である。
Embodiment 6 FIG.
A liquid crystal display device according to this embodiment will be described with reference to FIG. Since the basic configuration of the liquid crystal display device according to the present embodiment is the same as that of the first embodiment, the description of the same contents is omitted. In the present embodiment, the configuration of the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37 is different from that in the first embodiment. FIG. 18 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the periphery of the display region 41 and the outside of the liquid crystal display panel 9 according to the sixth embodiment.

図18において、図5と同じ構成部分については同一の符号を付し、差異について説明する。図18に示すように、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域のTFTアレイ基板10には、ギャップ保持用パッド20が設けられていない。よって、図19に示す従来例と同様、TFTアレイ基板10の表示領域41の外側には、画素間領域と同じ有機膜18の薄膜部が形成される。   18, the same components as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and differences will be described. As shown in FIG. 18, the gap holding pad 20 is not provided on the TFT array substrate 10 in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. Therefore, as in the conventional example shown in FIG. 19, the same thin film portion of the organic film 18 as the inter-pixel region is formed outside the display region 41 of the TFT array substrate 10.

そして、本実施の形態では、高さの異なる柱状スペーサ35、35aが対向基板30に設けられている。柱状スペーサ35aは、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域に形成され、表示領域41において反射画素電極192と対向配置される柱状スペーサ35よりも高さが高い。すなわち、表示領域41の外側では、有機膜18の膜厚が画素領域よりも薄くなっているため、対向基板30表面からTFTアレイ基板10表面までの間隔が画素領域よりも広くなる。従って、両基板11、31が液晶表示パネル9全体にわたって平行に対向配置されるように、それぞれの間隔に応じた高さの柱状スペーサ35、35aが形成される。すなわち、表示領域41の外側における基板間隔と画素電極19上の基板間隔の差に応じて、柱状スペーサ35aを柱状スペーサ35より高く形成する。これら柱状スペーサ35、35aは、それぞれ別々の写真製版工程によって形成すればよい。   In this embodiment, columnar spacers 35 and 35 a having different heights are provided on the counter substrate 30. The columnar spacer 35 a is formed in a region outside the display region 41 and inside the sealing material 37, and has a height higher than that of the columnar spacer 35 disposed to face the reflective pixel electrode 192 in the display region 41. That is, outside the display area 41, the film thickness of the organic film 18 is thinner than that of the pixel area, so that the distance from the surface of the counter substrate 30 to the surface of the TFT array substrate 10 is wider than that of the pixel area. Accordingly, the columnar spacers 35 and 35a having a height corresponding to the distance between the substrates 11 and 31 are formed so that the substrates 11 and 31 are opposed in parallel over the entire liquid crystal display panel 9. That is, the columnar spacer 35 a is formed higher than the columnar spacer 35 in accordance with the difference between the substrate interval outside the display region 41 and the substrate interval on the pixel electrode 19. These columnar spacers 35 and 35a may be formed by separate photolithography processes.

このように柱状スペーサ35、35aが設けられた対向基板30は、TFTアレイ基板10と対向配置され、シール材37を介して貼り合わされている。   Thus, the counter substrate 30 provided with the columnar spacers 35 and 35 a is disposed so as to face the TFT array substrate 10, and is bonded via a seal material 37.

以上のように、本実施の形態では、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域に設けられる柱状スペーサ35aが、表示領域41において反射画素電極192と対向配置される柱状スペーサ35よりも高さが高くなるように、それぞれの間隔に応じて形成する。これにより、表示領域41の外側かつシール材37の内側の領域ではTFTアレイ基板10表面と対向基板30表面との間の間隔が反射画素電極192上よりも広いまま、両基板が保持される。すなわち、透過画素電極191と反射画素電極192とを1回の写真製版で形成する際のアッシングで有機膜18が膜減りした分を相殺するように、高さの高い柱状スペーサ35aによって両基板間が保持される。よって、TFTアレイ基板10と対向基板30とは、表示領域41の内側及び外側において平行に対向配置された液晶表示パネル9となる。従って、表示領域41の周辺部に発生する表示むらを抑制することができ、表示品位の優れた液晶表示装置を提供できる。   As described above, in the present embodiment, the columnar spacers 35 a provided in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37 are more than the columnar spacers 35 disposed opposite to the reflective pixel electrode 192 in the display region 41. It forms according to each space | interval so that height may become high. As a result, both the substrates are held while the distance between the surface of the TFT array substrate 10 and the surface of the counter substrate 30 is wider than that on the reflective pixel electrode 192 in the region outside the display region 41 and inside the sealing material 37. That is, the columnar spacers 35a having a high height are used to offset the reduction in the thickness of the organic film 18 by ashing when the transmissive pixel electrode 191 and the reflective pixel electrode 192 are formed by one photolithography. Is retained. Therefore, the TFT array substrate 10 and the counter substrate 30 are the liquid crystal display panel 9 that is disposed to face each other in parallel inside and outside the display region 41. Therefore, display unevenness occurring in the periphery of the display area 41 can be suppressed, and a liquid crystal display device with excellent display quality can be provided.

なお、実施の形態1〜6では、チャネルエッチ型のTFT50が形成された液晶表示装置について説明したが、トップゲート型など他のTFT50が設けられていてもよい。また、焼きつき防止の目的で反射画素電極192の上に上部透明導電層193を設けた構成について例示的に説明をしたが、上部透明導電層193が設けられていなくても同様の効果を奏することができる。さらに、対向基板30上に柱状スペーサを設ける構成に限定されない。TFTアレイ基板10上に柱状スペーサを設ける構成でも同様の効果を奏することができる。   Although the liquid crystal display device in which the channel etch type TFT 50 is formed has been described in the first to sixth embodiments, another TFT 50 such as a top gate type may be provided. Further, the configuration in which the upper transparent conductive layer 193 is provided on the reflective pixel electrode 192 for the purpose of preventing burn-in has been exemplarily described, but the same effect can be obtained even if the upper transparent conductive layer 193 is not provided. be able to. Further, the present invention is not limited to a configuration in which columnar spacers are provided on the counter substrate 30. A similar effect can be achieved by a configuration in which columnar spacers are provided on the TFT array substrate 10.

以上の説明は、本発明の実施の形態を説明するものであり、本発明が以上の実施の形態に限定されるものではない。また、当業者であれば、以上の実施の形態の各要素を、本発明の範囲において、容易に変更、追加、変換することが可能である。   The above description describes the embodiment of the present invention, and the present invention is not limited to the above embodiment. Moreover, those skilled in the art can easily change, add, and convert each element of the above embodiment within the scope of the present invention.

1、2、3、4、5、6、7、8、9 液晶表示パネル、
10 TFTアレイ基板、12 ゲート配線、13 ゲート絶縁膜、
14 半導体層、15 オーミックコンタクト膜、16 ソース配線、
17 層間絶縁膜、18 有機膜、19 画素電極、
20 ギャップ保持用パッド、21 平坦化膜、22 無機絶縁膜、
25 レジストパターン、25a 厚膜部、25b 薄膜部、
25c レジストパターン、30 対向基板、31 基板、
32 ブラックマトリクス、33 色材、34 対向電極、
35、35a 柱状スペーサ、36 液晶層、37 シール材、
41 表示領域、42 額縁領域、43 ソース端子、
44 ゲート端子、45、46 制御回路、
47、48 フレキシブル基板、49 画素、50 TFT、
121 ゲート電極、122 補助容量電極、
161 ソース電極、162 ドレイン電極、
181、182、183 コンタクトホール、185 凹凸パターン、
191 透過画素電極、191d 透明導電層、
192 反射画素電極、192d 反射金属層、
193 上部透明導電層
1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9 liquid crystal display panel,
10 TFT array substrate, 12 gate wiring, 13 gate insulating film,
14 semiconductor layer, 15 ohmic contact film, 16 source wiring,
17 interlayer insulation film, 18 organic film, 19 pixel electrode,
20 Gap retaining pad, 21 Planarizing film, 22 Inorganic insulating film,
25 resist pattern, 25a thick film part, 25b thin film part,
25c resist pattern, 30 counter substrate, 31 substrate,
32 black matrix, 33 color material, 34 counter electrode,
35, 35a Columnar spacer, 36 liquid crystal layer, 37 sealing material,
41 display area, 42 frame area, 43 source terminal,
44 gate terminal, 45, 46 control circuit,
47, 48 Flexible substrate, 49 pixels, 50 TFT,
121 gate electrode, 122 auxiliary capacitance electrode,
161 source electrode, 162 drain electrode,
181, 182, 183 contact hole, 185 uneven pattern,
191 transparent pixel electrode, 191d transparent conductive layer,
192 reflective pixel electrode, 192d reflective metal layer,
193 Upper transparent conductive layer

Claims (6)

透過画素電極と、前記透過画素電極上の一部に形成された反射画素電極とを含む画素電極を有する液晶表示装置であって、
表示領域に前記画素電極が形成されたアレイ基板と、
前記アレイ基板と対向配置された対向基板と、
前記表示領域の外側の額縁領域に、前記表示領域を囲むよう枠状に形成され、前記アレイ基板と前記対向基板とを貼り合わせるシール材と、
前記表示領域に形成され、前記画素電極の下に設けられた画素用厚膜部、
前記額縁領域の前記シール材の内側に形成されたパッド用厚膜部、及び
前記表示領域と前記額縁領域とにまたがって形成され、前記画素用厚膜部と前記パッド用厚膜部との間に設けられた領域間薄膜部、
を有する有機膜と、
前記パッド用厚膜部を有するギャップ保持用パッドと、
前記対向基板上の、前記画素電極に対向する位置と、前記ギャップ保持用パッドに対向する位置とに、形成されている柱状スペーサと、を備え
前記有機膜は、前記額縁領域に形成されたパッド間薄膜部をさらに備え、
前記パッド間薄膜部は、互いに隣接する前記パッド用厚膜部の間に設けられ、かつ透明導電層及び反射金属層で覆われていない
液晶表示装置。
A liquid crystal display device having a pixel electrode including a transmissive pixel electrode and a reflective pixel electrode formed on a part of the transmissive pixel electrode,
An array substrate on which the pixel electrode is formed in a display area;
A counter substrate disposed opposite to the array substrate;
A seal material that is formed in a frame shape so as to surround the display region in a frame region outside the display region, and bonds the array substrate and the counter substrate;
A pixel thick film portion formed in the display region and provided under the pixel electrode;
A pad thick film portion formed inside the seal material in the frame region, and formed between the display region and the frame region, and between the pixel thick film portion and the pad thick film portion. The inter-region thin film portion provided in the
An organic film having
A gap holding pad having the thick film portion for the pad;
A columnar spacer formed on the counter substrate at a position facing the pixel electrode and a position facing the gap holding pad ;
The organic film further includes a thin film portion between pads formed in the frame region,
The inter-pad thin film portion is provided between the pad thick film portions adjacent to each other and is not covered with a transparent conductive layer and a reflective metal layer .
Liquid crystal display device.
前記ギャップ保持用パッドは、前記パッド用厚膜部の上に形成された、前記透過画素電極と同じ透明導電層を備え、
前記領域間薄膜部は、透明導電層で覆われていない、
請求項1に記載の液晶表示装置。
The gap holding pad includes the same transparent conductive layer as the transmissive pixel electrode formed on the pad thick film portion,
The inter-region thin film portion is not covered with a transparent conductive layer,
The liquid crystal display device according to claim 1.
前記ギャップ保持用パッドは、前記透明導電層の上に形成された、前記反射画素電極と同じ反射金属層をさらに備え、
前記領域間薄膜部は、反射金属層で覆われていない、
請求項2に記載の液晶表示装置。
The gap holding pad further includes a reflective metal layer formed on the transparent conductive layer, the same reflective metal layer as the reflective pixel electrode,
The inter-region thin film portion is not covered with a reflective metal layer,
The liquid crystal display device according to claim 2.
前記ギャップ保持用パッドに対向する位置に形成されている前記柱状スペーサの内、複数の前記柱状スペーサが、1つの前記ギャップ保持用パッドに対向配置されている、
請求項1〜3のいずれかに記載の液晶表示装置。
Among the columnar spacers formed at positions facing the gap holding pads, a plurality of the columnar spacers are arranged to face one gap holding pad.
The liquid crystal display device according to claim 1.
前記ギャップ保持用パッドは、前記シール材の各辺に沿って帯状に形成されている、
請求項に記載の液晶表示装置。
The gap holding pad is formed in a strip shape along each side of the sealing material.
The liquid crystal display device according to claim 4 .
前記ギャップ保持用パッドに対向する位置に形成されている前記柱状スペーサは、それぞれ1つの前記ギャップ保持用パッドに対向配置されている。
請求項1〜3のいずれかに記載の液晶表示装置。
The columnar spacers formed at positions facing the gap holding pads are respectively arranged to face one gap holding pad.
The liquid crystal display device according to claim 1.
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