JP5743170B2 - 超高速マルチモード質量分析のための飛行時間に基づく質量顕微鏡システム - Google Patents
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- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 title claims description 22
- 150000002500 ions Chemical group 0.000 claims description 148
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 42
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 36
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 35
- 238000005011 time of flight secondary ion mass spectroscopy Methods 0.000 claims description 24
- 238000002042 time-of-flight secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 claims description 24
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 23
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 20
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 19
- 239000003814 drug Substances 0.000 claims description 17
- 229940079593 drug Drugs 0.000 claims description 15
- 239000002207 metabolite Substances 0.000 claims description 14
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 13
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 12
- 150000002632 lipids Chemical class 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000001840 matrix-assisted laser desorption--ionisation time-of-flight mass spectrometry Methods 0.000 claims description 6
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 6
- 108090000765 processed proteins & peptides Proteins 0.000 claims description 6
- 102000004196 processed proteins & peptides Human genes 0.000 claims description 4
- 108700026220 vif Genes Proteins 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 89
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 description 27
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 15
- 201000010099 disease Diseases 0.000 description 14
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 14
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 13
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 12
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 12
- 238000011160 research Methods 0.000 description 12
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 6
- 238000013399 early diagnosis Methods 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 4
- 238000001574 biopsy Methods 0.000 description 4
- 201000011510 cancer Diseases 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 4
- 238000000018 DNA microarray Methods 0.000 description 3
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000002493 microarray Methods 0.000 description 3
- 239000002547 new drug Substances 0.000 description 3
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 2
- 239000000090 biomarker Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000001613 neoplastic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000011127 radiochemotherapy Methods 0.000 description 2
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 2
- 208000017667 Chronic Disease Diseases 0.000 description 1
- 238000009007 Diagnostic Kit Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 229920001222 biopolymer Polymers 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000000701 chemical imaging Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002512 chemotherapy Methods 0.000 description 1
- 230000001684 chronic effect Effects 0.000 description 1
- 210000001072 colon Anatomy 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009509 drug development Methods 0.000 description 1
- 238000007876 drug discovery Methods 0.000 description 1
- 230000002526 effect on cardiovascular system Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000001215 fluorescent labelling Methods 0.000 description 1
- 238000002290 gas chromatography-mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000010562 histological examination Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000004879 molecular function Effects 0.000 description 1
- 238000013365 molecular weight analysis method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002773 nucleotide Substances 0.000 description 1
- 125000003729 nucleotide group Chemical group 0.000 description 1
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 1
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 210000002966 serum Anatomy 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002560 therapeutic procedure Methods 0.000 description 1
- 238000004627 transmission electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000003643 water by type Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0004—Imaging particle spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0409—Sample holders or containers
- H01J49/0418—Sample holders or containers for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI] plates or surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/14—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers
- H01J49/142—Ion sources; Ion guns using particle bombardment, e.g. ionisation chambers using a solid target which is not previously vapourised
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
- H01J49/164—Laser desorption/ionisation, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/406—Time-of-flight spectrometers with multiple reflections
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/408—Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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Description
また、前記質量顕微鏡システム100は、前記試料に照射されたレーザービームまたはイオンビームにより発生する二次イオンが円滑に検出されるように収集するイオン光学部組立体(ion optics assembly)50を含むことを特徴とする。
この際、前記イオン光学部組立体50は、少なくとも1つの抽出器(extractor)および少なくとも1つのアインツェルレンズ(einzel lens)を含んでなるイオン光学部51と、管状に形成され、前記イオン光学部51と同軸上に配置されるように前記イオン光学部51の後端に設けられたソース組立体支持台(source assembly support)52と、板状に形成され、前記ソース組立体支持台52と同軸上に配置されるマウンティングプレート(mounting plate)53と、管状に形成され、前記マウンティングプレート53の中心部を貫通して前記イオン光学部51と同軸上に配置されるように設けられた接地電場遮蔽管54と、前記接地電場遮蔽管54の後端に設けられ、前記イオン光学部51により収集されて前記接地電場遮蔽管54を通過して飛行してきた二次イオンを案内して通過させるイオンゲート(ion gate)55と、を含むことを特徴とする。この際、前記イオン光学部組立体50は、前記マウンティングプレート53に設けられたリフレクトロン支持台56により支持され、前記イオンゲート55の後側に少なくとも1つのイオンミラー(ion mirror)が積層配置された形態に形成されるリフレクトロン(reflectron)57をさらに含むことを特徴とする。
また、前記イオン光学部51は、内部が空洞の管状胴体に形成され、一側が円錐状に形成されており、二次イオンが通過するように、円錐の頂点位置に軸方向に貫通した通孔を有し、前記円錐の頂点部分が前記試料に近接配置される外側抽出器(outer extractor)511と、内部が空洞の管状胴体に形成され、一側が半球状に形成されており、二次イオンが通過するように、半球の中心部分に軸方向に貫通した通孔を有し、前記外側抽出器511の内側に一部が挿入されて前記外側抽出器511と同軸上に配置された第1内側抽出器(1st inner extractor)512と、二次イオンが通過するように、中心部に軸方向に貫通した通孔を有する柱状に形成され、前記第1内側抽出器512と同軸上に配置されており、前記第1内側抽出器512とは連結され、前記外側抽出器511とは絶縁スペーサー513により離隔配置された第2内側抽出器(2nd inner extractor)514と、二次イオンが通過するように、中心部に形成された通孔を有する板状に形成され、前記第2内側抽出器514の後側で絶縁スペーサー515により離隔されて同軸上に配置された第1接地電極516と、二次イオンが通過するように、中心部に形成された通孔を有し、前記第1接地電極516の後側で離隔されて同軸上に配置されたアインツェルレンズ(einzel lens)517と、二次イオンが通過するように、中心部に形成された通孔を有する板状に形成され、前記アインツェルレンズ517の後側で離隔されて同軸上に配置された第2接地電極518と、を含むことを特徴とする。
110 レーザー入力部
120 イオン銃組立体
130 試料導入チャンバ
131 試料導入部
140 試料プレート
150 試料プレート操作部
160 CCDカメラ
170 ソースレンズ組立体
180 リニアモード位置測定TOF検出器
190 リフレクトロンモード位置測定TOF検出器
50 イオン光学部組立体
51 イオン光学部
52 ソース組立体支持台
53 マウンティングプレート
54 接地電場遮蔽管
55 イオンゲート
56 リフレクトロン支持台
57 リフレクトロン
511 外側抽出器
512 第1内側抽出器
513 絶縁スペーサー
514 第2内側抽出器
515 絶縁スペーサー
516 第1接地電極
517 アインツェルレンズ
518 第2接地電極
Claims (10)
- 試料の質量化学分析を実行する質量顕微鏡システム100であって、
低分子量の試料から高分子量の試料までの全ての試料の分析が可能であるように、前記試料上に、レーザービーム、イオンビーム、または、レーザービームおよびイオンビームから選択される何れか1つをデフォーカス(defocus)された状態で照射し、前記試料のイメージを撮影するとともに、レーザービームまたはイオンビームが照射された時に前記試料から発生する二次イオンの位置を飛行時間(TOF、time‐of‐flight)に基づいて測定して検出することにより、顕微鏡モード(microscope mode)で前記試料の質量イメージング分析を実行し、
前記試料に照射された前記レーザービームまたは前記イオンビームにより発生する前記二次イオンが円滑に検出されるように前記二次イオンを収集するイオン光学部組立体(ion optics assembly)50を含み、
前記イオン光学部組立体50は、
少なくとも1つの抽出器(extractor)および少なくとも1つのアインツェルレンズ(einzel lens)を含んでなるイオン光学部51と、
管状に形成され、前記イオン光学部51と同軸上に配置されるように前記イオン光学部51の後端に設けられたソース組立体支持台(source assembly support)52と、
板状に形成され、前記ソース組立体支持台52と同軸上に配置されたマウンティングプレート(mounting plate)53と、
管状に形成され、前記マウンティングプレート53の中心部を貫通して前記イオン光学部51と同軸上に配置された接地電場遮蔽管54と、
前記接地電場遮蔽管54の後端に設けられ、前記イオン光学部51により収集されて前記接地電場遮蔽管54を通過して飛行してきた前記二次イオンを案内して通過させるイオンゲート(ion gate)55と、
前記マウンティングプレート53に設けられたリフレクトロン支持台56により支持され、前記イオンゲート55の後側に少なくとも1つのイオンミラー(ion mirror)が積層配置された形態に形成されたリフレクトロン(reflectron)57と、を含み、
前記イオン光学部51は、
内部が空洞の管状胴体に形成され、一側が円錐状に形成されており、二次イオンが通過するように、円錐の頂点位置に軸方向に貫通した通孔を有し、前記円錐の頂点部分が前記試料に近接配置される外側抽出器(outer extractor)511と、
内部が空洞の管状胴体に形成され、一側が半球状に形成されており、二次イオンが通過するように、半球の中心部分に軸方向に貫通した通孔を有し、前記外側抽出器511の内側に一部が挿入されて前記外側抽出器511と同軸上に配置された第1内側抽出器(1st inner extractor)512と、
前記二次イオンが通過するように、中心部に軸方向に貫通した通孔を有する柱状に形成され、前記第1内側抽出器512と同軸上に配置されており、前記第1内側抽出器512とは連結され、前記外側抽出器511とは絶縁スペーサー513により離隔配置された第2内側抽出器(2nd inner extractor)514と、
前記二次イオンが通過するように、中心部に形成された通孔を有する板状に形成され、前記第2内側抽出器514の後側で絶縁スペーサー515により離隔されて同軸上に配置された第1接地電極516と、
前記二次イオンが通過するように、中心部に形成された通孔を有し、前記第1接地電極516の後側で離隔されて同軸上に配置されたアインツェルレンズ(einzel lens)517と、
前記二次イオンが通過するように、中心部に形成された通孔を有する板状に形成され、前記アインツェルレンズ517の後側で離隔されて同軸上に配置された第2接地電極518と、を含むことを特徴とする、超高速マルチモード質量分析のための飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。 - 前記高分子量の試料は、遺伝子、タンパク質、ポリマーから選択される少なくとも何れか1つであることを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
- 前記低分子量の試料は、薬物、代謝体、脂質、ペプチドから選択される少なくとも何れか1つであることを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
- レーザービームを照射する場合には、マトリックス支援レーザー脱離イオン化−飛行時間(MALDI‐TOF)方式を用いて前記二次イオンの位置を検出することを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
- イオンビームを照射する場合には、飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF‐SIMS)方式を用いて前記二次イオンの位置を検出することを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
- 前記試料から発生する前記二次イオンの位置を測定するために、ディレイライン検出器(delay‐line detector)を含む時間位置同時検出器を用いることを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
- 前記試料から発生する前記二次イオンの位置を測定する時に、リニア(linear)方式およびリフレクトロン(reflectron)方式の両方を用いることを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
- 試料にレーザービームを照射するレーザー入力部(LASER input)110と、
試料にイオンビームを照射するイオン銃組立体(ion gun assembly)120と、
試料導入部131を介して前記試料が導入される試料導入チャンバ(sample inlet chamber)130と、
前記試料が配置される試料プレート(sample plate)140と、
前記試料プレート140の位置を調節する試料プレート操作部(sample plate manipulator)150と、
前記試料のイメージを撮影するCCDカメラ160と、
前記試料に照射される前記レーザービームまたは前記イオンビームの焦点を調節するソースレンズ組立体(source lens assembly)170と、
前記試料から発生する前記二次イオンの位置を測定する位置測定TOF検出器と、
を含むことを特徴とする、請求項1に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。 - 前記位置測定TOF検出器は、
前記試料から発生する前記二次イオンの位置をリニア方式で測定するリニアモード位置測定TOF検出器(linear mode position sensitive TOF detector)180と、
前記試料から発生する前記二次イオンの位置をリフレクトロン方式で測定するリフレクトロンモード位置測定TOF検出器(reflectron mode position sensitive TOF detector)190と、を含むことを特徴とする、請求項8に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。 - 前記位置測定TOF検出器は前記イオン光学部組立体50を含むことを特徴とする、請求項8に記載の飛行時間に基づく質量顕微鏡システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110045281A KR101790534B1 (ko) | 2011-05-13 | 2011-05-13 | 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템 |
KR10-2011-0045281 | 2011-05-13 | ||
PCT/KR2012/003463 WO2012157867A2 (ko) | 2011-05-13 | 2012-05-03 | 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014514591A JP2014514591A (ja) | 2014-06-19 |
JP5743170B2 true JP5743170B2 (ja) | 2015-07-01 |
Family
ID=47177430
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014511282A Expired - Fee Related JP5743170B2 (ja) | 2011-05-13 | 2012-05-03 | 超高速マルチモード質量分析のための飛行時間に基づく質量顕微鏡システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8772713B1 (ja) |
JP (1) | JP5743170B2 (ja) |
KR (1) | KR101790534B1 (ja) |
DE (1) | DE112012002078B4 (ja) |
WO (1) | WO2012157867A2 (ja) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB201507363D0 (en) | 2015-04-30 | 2015-06-17 | Micromass Uk Ltd And Leco Corp | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US9754772B2 (en) | 2015-09-02 | 2017-09-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Charged particle image measuring device and imaging mass spectrometry apparatus |
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-
2011
- 2011-05-13 KR KR1020110045281A patent/KR101790534B1/ko active IP Right Grant
-
2012
- 2012-05-03 DE DE112012002078.2T patent/DE112012002078B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2012-05-03 US US14/117,116 patent/US8772713B1/en active Active
- 2012-05-03 JP JP2014511282A patent/JP5743170B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-05-03 WO PCT/KR2012/003463 patent/WO2012157867A2/ko active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012157867A2 (ko) | 2012-11-22 |
DE112012002078T5 (de) | 2014-06-18 |
US20140183354A1 (en) | 2014-07-03 |
JP2014514591A (ja) | 2014-06-19 |
US8772713B1 (en) | 2014-07-08 |
DE112012002078B4 (de) | 2017-10-26 |
KR20120127054A (ko) | 2012-11-21 |
WO2012157867A3 (ko) | 2013-01-17 |
KR101790534B1 (ko) | 2017-10-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131118 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141010 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |