JP5649679B2 - 光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像装置の制御方法、およびプログラム - Google Patents
光干渉断層撮像装置、光干渉断層撮像装置の制御方法、およびプログラム Download PDFInfo
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被検眼の複数の前眼部画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を異なる時間に取得する断層画像取得手段と、
前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学ヘッド部を移動する移動手段と、
前記複数の前眼部画像に基づいて前記移動手段により前記被検眼に対する追尾を行う手段と、
前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記光学ヘッド部の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学ヘッド部の移動を再開するように、前記追尾を行う手段の動作を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
<光干渉断層撮像装置の概略構成>
図1を参照して、第1実施形態に係る光干渉断層撮像装置の概略構成を説明する。光干渉断層撮像装置は、走査部を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、被検眼の断層画像を取得する。光断層画像撮像装置は、光学ヘッド部100と、分光器200と、制御部300とを備える。以下、光学ヘッド部100、分光器200、および制御部300の構成を順に説明する。
光学ヘッド部100は、被検眼Eの前眼Eaや、被検眼眼底Erの2次元像および断層画像を撮像するための測定光学系で構成されている。以下、光学ヘッド部100の内部について説明する。被検眼Eに対向して対物レンズ101−1が設置されており、その光軸上に設けられた、光路分離部と機能する第1ダイクロイックミラー102および第2ダイクロイックミラー103によって光路が分離される。すなわち、OCT光学系の測定光路L1、眼底観察光路と固視灯光路L2、および前眼観察光路L3に波長帯域ごとに分岐される。
制御部300は、光学ヘッド部100および分光器200の各部と接続されている。具体的には制御部300は、光学ヘッド部100内の赤外線CCD142と接続されており、被検眼Eの前眼部Eaの観察画像を生成可能に構成されている。また、制御部300は、光学ヘッド部100内のAPD115とも接続されており、被検眼Eの眼底Erの観察画像を生成可能にも構成されている。さらに、制御部300は、光学ヘッド部100内のヘッド駆動部140とも接続されており、光学ヘッド部100を被検眼Eに対して3次元的に駆動可能に構成されている。
次に図2のフローチャートを参照して、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置を用いた被検眼Eのアライメント方法を説明する。撮影に先立ち、まず検者は被検者を装置の前に着座させる。
次に図3のフローチャートを参照して、被検眼Eの状態を観察するために測定光を被検眼Eの眼底部Erに照射する際、被検眼Eの動きに伴って生じる測定光照射位置のずれを補正する眼底トラッキング方法を説明する。
次に、本実施形態の光干渉断層撮像装置を用いた断層画像の撮影方法について説明する。
ところで、複数の断層画像を撮影するために前述したような複数回の走査を行う場合、それら複数の走査に要する時間は1回の走査と比べて長くなる。例えば本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、眼底Er上でX方向に10mmの走査をY方向に0.078mmずつずらしながら128回繰り返すことができるものとする。そして、それら128回の走査によって128枚の断層画像を取得し、眼底Er上の10mm×10mmの範囲の三次元情報を生成することができる。そして、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、一枚の断層画像は合計1024のAスキャンから構成され、一つのAスキャンに要する時間は14.3マイクロ秒である。従って、一枚の断層画像を得るために1024×14.3マイクロ秒=14.6ミリ秒を必要とし、全128枚の断層画像を得るためには少なくとも14.6ミリ秒/枚×128枚=1.87秒を必要とする。
一枚の断層画像を取得するための走査を行っている間に眼底トラッキングを行った場合にも、撮影される断層画像には大きな影響が生じる。前述したように、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、一枚の断層画像を得るために14.6ミリ秒を必要とする。従って、複数枚の断層画像を撮影する場合、約14.6ミリ秒の周期で眼底Er上を複数回走査することになる。この周期は一枚の断層画像を形成するために必要なAスキャンの本数と、一つのAスキャンを取得するために必要となる時間に依存している。一方、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、眼底トラッキングによる走査位置の補正周期は33.3ミリ秒である。この周期は、補正のための位置ずれ量算出に用いられる眼底Erの観察画像の取得間隔に依存している。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (31)
- 被検眼の複数の前眼部画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を異なる時間に取得する断層画像取得手段と、
前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学ヘッド部を移動する移動手段と、
前記複数の前眼部画像に基づいて前記移動手段により前記被検眼に対する追尾を行う手段と、
前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記光学ヘッド部の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学ヘッド部の移動を再開するように、前記追尾を行う手段の動作を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する光路長差変更手段を更に有し、
前記制御手段が、前記光路長差の変更中において前記光学ヘッド部を移動し、前記撮影用の断層画像の取得を開始した後に前記光学ヘッド部の移動を停止するように、前記追尾を行う手段の動作を制御することを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮像装置。 - 前記撮影用の断層画像を取得するための信号を受け付ける受付手段を更に有し、
前記制御手段が、前記受付手段が前記信号を受け付けた後に前記撮影用の断層画像の取得を開始し、前記撮影用の断層画像を取得している間には前記光学ヘッド部の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学ヘッド部の移動を再開するように、前記追尾を行う手段の動作を制御することを特徴とする請求項1または2に記載の光干渉断層撮像装置。 - 前記被検眼に対して前記測定光を走査する走査手段を更に有し、
前記制御手段が、前記光学ヘッド部の移動を停止している間において、異なる時間における前記被検眼の複数の眼底画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。 - 被検眼へ照射した光の当該被検眼からの反射光を検出する検出手段と、
測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を異なる時間に取得する断層画像取得手段と、
前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学系を移動する移動手段と、
前記検出された反射光に基づいて前記移動手段を制御し、前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記光学系の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学系の移動を再開するように前記移動手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の異なる位置の複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
前記制御手段の制御下で前記取得された複数の断層画像から成る3次元画像を、表示手段に表示させる表示制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の略同一の円上の複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査手段による走査は前記被検眼において円形に反復実行され、前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
前記制御手段の制御下で前記取得された複数の断層画像を加算平均処理して生成された新たな断層画像を、表示手段に表示させる表示制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、異なる時間における前記被検眼の複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼を異なる時間に撮影して得た複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差が調整された後には前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 前記制御手段は、観察用の断層画像が取得された後に且つ記録用の断層画像が取得される際には前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項6乃至8の何れか1項に記載の光干渉断層撮像装置。
- 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の異なる位置の複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
前記制御手段の制御下で前記取得された複数の断層画像から成る3次元画像を、表示手段に表示させる表示制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の略同一の円上の複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査手段による走査は前記被検眼において円形に反復実行され、前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
前記制御手段の制御下で前記取得された複数の断層画像を加算平均処理して生成された新たな断層画像を、表示手段に表示させる表示制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、異なる時間における前記被検眼の複数の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差が調整された後には前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 前記制御手段は、観察用の断層画像が取得された後に且つ記録用の断層画像が取得される際には前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項10乃至12のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。
- 異なる時間における前記被検眼の複数の眼底画像を前記複数の画像として取得する眼底画像取得手段を更に備えることを特徴とする請求項6乃至13のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。
- 前記複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量を検出する検出手段を更に備え、
前記制御手段は、前記前記検出された移動量に基づいて前記走査手段による走査位置を補正するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項7乃至14のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。 - 被検眼の複数の前眼部画像を異なる時間に取得する画像取得工程と、
測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を異なる時間に取得する断層画像取得工程と、
前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学ヘッド部を移動する移動工程と、
前記複数の前眼部画像に基づいて前記移動工程により前記被検眼に対する追尾を行う工程と、
前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記光学ヘッド部の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学ヘッド部の移動を再開するように、前記追尾を行う工程での動作を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を変更する光路長差変更工程を更に有し、
前記制御工程では、前記光路長差の変更中において前記光学ヘッド部を移動し、前記撮影用の断層画像の取得を開始した後に前記光学ヘッド部の移動を停止するように、前記追尾を行う工程での動作を制御することを特徴とする請求項16に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記撮影用の断層画像を取得するための信号を受け付ける受付工程を更に有し、
前記制御工程では、前記受付工程で前記信号を受け付けた後に前記撮影用の断層画像の取得を開始し、前記撮影用の断層画像を取得している間には前記光学ヘッド部の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学ヘッド部の移動を再開するように、前記追尾を行う工程での動作を制御することを特徴とする請求項16または17に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記被検眼に対して前記測定光を走査手段により走査する走査工程を更に有し、
前記制御工程では、前記光学ヘッド部の移動を停止している間において、異なる時間における前記被検眼の複数の眼底画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項16乃至18のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 被検眼へ照射した光の当該被検眼からの反射光を検出する検出工程と、
測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の複数の断層画像を異なる時間に取得する断層画像取得工程と、
前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学系を移動する移動工程と、
前記検出された反射光に基づいて前記移動工程を制御し、前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記光学系の移動を停止し且つ前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記光学系の移動を再開するように前記移動工程を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の異なる位置の複数の断層画像を取得する取得工程と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御する制御工程と、
前記制御工程の制御下で前記取得された複数の断層画像から成る3次元画像を、表示手段に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の略同一の円上の複数の断層画像を取得する取得工程と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査手段による走査は前記被検眼において円形に反復実行され、前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御する制御工程と、
前記制御工程による制御下で前記取得された複数の断層画像を加算平均処理して生成された新たな断層画像を、表示手段に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、異なる時間における前記被検眼の複数の断層画像を取得する取得工程と、
前記被検眼を異なる時間に撮影して得た複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差が調整された後には前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記制御工程では、観察用の断層画像が取得された後に且つ記録用の断層画像が取得される際には前記走査位置の補正が前記走査手段による1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間で行われるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項21乃至23の何れか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
- 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の異なる位置の複数の断層画像を取得する取得工程と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御する制御工程と、
前記制御工程による制御下で前記取得された複数の断層画像から成る3次元画像を、表示手段に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、前記被検眼の略同一の円上の複数の断層画像を取得する取得工程と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記走査手段による走査は前記被検眼において円形に反復実行され、前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御する制御工程と、
前記制御工程による制御下で前記取得された複数の断層画像を加算平均処理して生成された新たな断層画像を、表示手段に表示させる表示制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、異なる時間における前記被検眼の複数の断層画像を取得する取得工程と、
前記被検眼を異なる時間に取得された複数の画像に基づいて前記走査手段による走査位置を補正し、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差が調整された後には前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記制御工程では、観察用の断層画像が取得された後に且つ記録用の断層画像が取得される際には前記走査位置の補正が前記走査手段による次の走査の開始時まで遅延されるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項25乃至27のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
- 異なる時間における前記被検眼の複数の眼底画像を前記複数の画像として取得する眼底画像取得工程を更に有することを特徴とする請求項21乃至28のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
- 前記複数の画像に基づいて前記被検眼の移動量を検出する検出工程を更に有し、
前記制御工程では、前記検出された移動量に基づいて前記走査手段による走査位置を補正するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項22乃至29のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 請求項16乃至30の何れか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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