JP6486427B2 - 光干渉断層撮像装置およびその制御方法 - Google Patents
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被検眼の複数の眼底画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する制御手段と、を有する。
まず、第1の実施形態について、図面を用いて説明する。
図1を参照して、第1実施形態に係る光干渉断層撮像装置の概略構成を説明する。光干渉断層撮像装置は、走査部を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、被検眼の断層画像を取得する。光断層画像撮像装置は、光学ヘッド部100と、分光器200と、制御部300とを備える。以下、光学ヘッド部100、分光器200、および制御部300の構成を順に説明する。
光学ヘッド部100は、被検眼Eの前眼Eaや、被検眼眼底Erの2次元像および断層画像を撮像するための測定光学系で構成されている。以下、光学ヘッド部100の内部について説明する。被検眼Eに対向して対物レンズ101−1が設置されており、その光軸上に設けられた、光路分離部と機能する第1ダイクロイックミラー102および第2ダイクロイックミラー103によって光路が分離される。すなわち、OCT光学系の測定光路L1、眼底観察光路と固視灯光路L2、および前眼観察光路L3に波長帯域ごとに分岐される。
制御部300は、光学ヘッド部100および分光器200の各部と接続されている。具体的には制御部300は、光学ヘッド部100内の赤外線CCD142と接続されており、被検眼Eの前眼部Eaの観察画像を生成可能に構成されている。また、制御部300は、光学ヘッド部100内のAPD115とも接続されており、被検眼Eの眼底Erの観察画像を生成可能にも構成されている。さらに、制御部300は、光学ヘッド部100内のヘッド駆動部140とも接続されており、光学ヘッド部100を被検眼Eに対して3次元的に駆動可能に構成されている。
次に図2のフローチャートを参照して、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置を用いた被検眼Eのアライメント方法を説明する。撮影に先立ち、まず検者は被検者を装置の前に着座させる。
次に図3のフローチャートを参照して、被検眼Eの状態を観察するために測定光を被検眼Eの眼底部Erに照射する際、被検眼Eの動きに伴って生じる測定光照射位置のずれを補正する眼底トラッキング方法を説明する。
次に、本実施形態の光干渉断層撮像装置を用いた断層画像の撮影方法について説明する。
ところで、複数の断層画像を撮影するために前述したような複数回の走査を行う場合、それら複数の走査に要する時間は1回の走査と比べて長くなる。例えば本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、眼底Er上でX方向に10mmの走査をY方向に0.078mmずつずらしながら128回繰り返すことができるものとする。そして、それら128回の走査によって128枚の断層画像を取得し、眼底Er上の10mm×10mmの範囲の三次元情報を生成することができる。そして、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、一枚の断層画像は合計1024のAスキャンから構成され、一つのAスキャンに要する時間は14.3マイクロ秒である。従って、一枚の断層画像を得るために1024×14.3マイクロ秒=14.6ミリ秒を必要とし、全128枚の断層画像を得るためには少なくとも14.6ミリ秒/枚×128枚=1.87秒を必要とする。
一枚の断層画像を取得するための走査を行っている間に眼底トラッキングを行った場合にも、撮影される断層画像には大きな影響が生じる。前述したように、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、一枚の断層画像を得るために14.6ミリ秒を必要とする。従って、複数枚の断層画像を撮影する場合、約14.6ミリ秒の周期で眼底Er上を複数回走査することになる。この周期は一枚の断層画像を形成するために必要なAスキャンの本数と、一つのAスキャンを取得するために必要となる時間に依存している。一方、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置では、眼底トラッキングによる走査位置の補正周期は33.3ミリ秒である。この周期は、補正のための位置ずれ量算出に用いられる眼底Erの観察画像の取得間隔に依存している。
次に、第2の実施形態について、図14を用いて説明する。なお、図14は、第2の実施形態に係る光干渉断層撮影装置の一例を示す図である。ここで、図14は、図1とほぼ同様であるが、光路L2の代わりに光路L16が配置されている。
次に、第2の実施形態について、図15を用いて説明する。なお、図15は、第3の実施形態に係る眼底トラッキング制御の一例を表すフローチャートである。また、被検眼のアライメント、眼底のトラッキング、断層画像の撮影も、第1の実施形態と同様に行う。
次に、第4の実施形態について、説明する。装置の構成は、第1の実施形態と同様であるため省略する。被検眼のアライメント、眼底のトラッキング、断層画像の撮影も第1の実施形態と同様に行う。
次に、第5の実施形態について、説明する。本実施形態の装置の構成は第2の実施形態と同様であるため省略する。本実施形態は、図15において、眼底の移動量の検出と一緒に被検眼の瞬きの検出とメモリへの保存、読み出しを行う。さらに、ステップS1401の条件を「眼底の移動量が閾値以上、または被検眼の瞬きを検出」に変更する。これ以外の制御は、第3の実施形態と同様である。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (21)
- 被検眼の複数の眼底画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 被検眼の複数の眼底画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する制御手段と、
前記被検眼へ照射した光の前記被検眼の前眼部からの戻り光を検出する検出手段と、
前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学系を移動する移動手段と、を有し、
前記制御手段が、前記被検眼の撮影用の断層画像を取得していない間には前記検出された戻り光を用いた前記光学系の移動を実行し且つ前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記検出された戻り光を用いた前記光学系の移動を停止するように前記移動手段を制御することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 前記制御手段が、前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記検出された戻り光を用いた前記光学系の移動を再開するように前記移動手段を制御することを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮像装置。
- 前記制御手段の制御下で前記取得された複数の断層画像を加算平均処理して生成された新たな断層画像を、表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
前記断層画像取得手段が、前記干渉光を用いて、前記走査手段による円形に反復実行された複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。 - 被検眼の複数の眼底画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
前記複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む少なくとも1つの走査を再度実行するように前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記複数の眼底画像の少なくとも1つにおいて失敗が生じたことを検出する検出手段を更に有し、
前記制御手段が、前記失敗が生じたことが検出された場合には、前記失敗が生じた走査位置の走査を含む少なくとも1つの走査を再度実行するように前記走査手段を制御することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。 - 被検眼の複数の眼底画像を異なる時間に取得する画像取得手段と、
走査手段を介して測定光が照射された前記被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する断層画像取得手段と、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記複数の眼底画像の少なくとも1つにおいて失敗が生じたことを検出する検出手段と、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する移動量取得手段と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記失敗が生じたことが検出された場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記失敗が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 前記検出手段は、前記複数の眼底画像における前記被検眼の着目領域の検出結果を用いて、前記失敗が生じたことを検出することを特徴とする請求項6または7に記載の光干渉断層撮像装置。
- 前記検出手段は、前記複数の眼底画像を用いて前記被検眼の瞬きを検出することにより、前記失敗が生じたことを検出することを特徴とする請求項6または7に記載の光干渉断層撮像装置。
- 前記移動量取得手段が、前記複数の眼底画像を用いて前記被検眼の回転量を前記移動量として取得し、
前記制御手段は、前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の回転量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置の制御方法であって、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する工程と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置の制御方法であって、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する工程と、
前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する工程と、
前記被検眼へ照射した光の前記被検眼の前眼部からの戻り光を検出する工程と、
前記被検眼の撮影用の断層画像を取得していない間には前記検出された戻り光を用いた前記測定光の光路と前記参照光の光路とを含む光学系の移動を実行し且つ前記被検眼の撮影用の断層画像を取得している間には前記検出された戻り光を用いた前記光学系の移動を停止するように前記光学系を移動する移動手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記移動手段を制御する工程において、前記撮影用の断層画像の取得が終了したら前記検出された戻り光を用いた前記光学系の移動を再開するように前記移動手段を制御することを特徴とする請求項12に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
- 前記走査手段を制御する工程における制御下で前記取得された複数の断層画像を加算平均処理して生成された新たな断層画像を、表示手段に表示させる工程を更に有し、
前記干渉光を用いて、前記走査手段による円形に反復実行された複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像が取得されることを特徴とする請求項11乃至13のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置の制御方法であって、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する工程と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記被検眼の移動量が閾値を超えた場合には、前記被検眼の移動が生じた走査位置の走査を含む少なくとも1つの走査を再度実行するように前記走査手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記複数の眼底画像の少なくとも1つにおいて失敗が生じたことを検出する工程を更に有し、
前記走査手段を制御する工程において、前記失敗が生じたことが検出された場合には、前記失敗が生じた走査位置の走査を含む少なくとも1つの走査を再度実行するように前記走査手段を制御することを特徴とする請求項11乃至15のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 走査手段を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、前記測定光に対応する参照光とを干渉させて得た干渉光を用いて、前記走査手段による複数の走査に対応する前記被検眼の複数の断層画像を取得する光干渉断層撮像装置の制御方法であって、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記複数の眼底画像の少なくとも1つにおいて失敗が生じたことを検出する工程と、
異なる時間に取得された前記被検眼の複数の眼底画像を用いて、前記被検眼の移動量を取得する工程と、
前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の移動量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御し、前記失敗が生じたことが検出された場合には、前記複数の眼底画像の取得レートと前記複数の眼底画像の取得レートよりも速い前記複数の断層画像の取得レートとによって定まる前記走査手段による走査の回数であって、前記失敗が生じた走査位置の走査を含む前記回数の複数の走査を再度実行するように前記走査手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 前記検出する工程において、前記複数の眼底画像における前記被検眼の着目領域の検出結果を用いて、前記失敗が生じたことを検出することを特徴とする請求項16または17に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
- 前記検出する工程において、前記複数の眼底画像を用いて前記被検眼の瞬きを検出することにより、前記失敗が生じたことを検出することを特徴とする請求項16または17に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。
- 前記移動量を取得する工程において、前記複数の眼底画像を用いて前記被検眼の回転量を前記移動量として取得し、
前記走査手段を制御する工程において、前記走査手段による1つの走査の途中で取得される前記被検眼の回転量を用いて走査位置が補正されるタイミングを前記1つの走査の途中から前記1つの走査の終了時と次の走査の開始時との間に遅延させることにより、前記1つの走査の終了時と前記次の走査の開始時との間で走査位置が補正されるように前記走査手段を制御することを特徴とする請求項11乃至19のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法。 - 請求項11乃至20のいずれか1項に記載の光干渉断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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