JP5636476B2 - 電子デバイスケーシングの製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、電子デバイスケーシングの製造方法に関し、特に断熱効果を有するケーシングの製造方法に関するものである。
携帯用電子デバイスなどの多くの電子デバイスのケーシングは、一般的に、ユーザの身体と直接的に接触するため、電子デバイスケーシングの温度が高すぎる場合、ユーザに不快感を与える。従って、電子デバイスケーシングの内側には、通常、ケーシングの過熱を防止するための断熱層が設けられている。
従来の断熱層は、一般には、スポンジ、ゴムを採用している。しかし、このような材料は以下の欠点を有する。第一に、スポンジ、ゴムの断熱効果は良好ではない。第二に、スポンジ、ゴムは高温にあまり耐えられず、変形し易い。第三に、スポンジ、ゴムは湿度の影響を受けやすいため、一旦湿ると大幅に断熱性能が失われる。第四に、スポンジ、ゴムが断熱効果を有するためには一定の厚さ(約5mm)を必要とするため、薄型化に不利である。従って、小型電子デバイスに適用することができない。
前記課題を解決するために、本発明は、断熱効果に優れた薄型電子デバイスケーシングの製造方法を提供する。
本発明に係る電子デバイスケーシングの製造方法は、カバー及びモールドを提供し、該カバーが上表面を有し、該モールドが底面を有し、該モールドの底面にモールドの内方に向けて凹んだ凹部が形成されるステップと、前記モールドを前記カバーに覆設し、且つ前記モールドの底面を前記カバーの上表面に貼合し、これにより、前記モールドの凹部及び前記カバーの上表面が空間を囲むステップと、エアロゲル溶液を前記空間内に充填し、その後、空間内に充填されたエアロゲル溶液を乾燥させるステップと、エアロゲル溶液が完全に乾燥した後、前記モールドを前記カバーから除去するステップと、を備える。
従来の技術と比べて、本発明に係る電子デバイスケーシングの製造方法において、先ず、凹部を有するモールドを提供し、次に、カバーをモールドの凹部の一側に貼合し、次に、エアロゲル溶液を凹部とカバーとからなる空間内に充填し、最後に、空間内に充填されたエアロゲル溶液を乾燥することによってエアロゲル層をカバーの上表面に成型する。これにより、製造された電子デバイスケーシングは、断熱効果に優れ、且つ比較的に薄い。また、容易にエアロゲル材料を成型することができる。
本発明の実施形態に係る電子デバイスケーシングの斜視図である。 本発明の実施形態に係る電子デバイスケーシングの製造方法における各ステップを示す図である。 本発明の実施形態に係る電子デバイスケーシングの製造方法における各ステップを示す図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
図1を参照すると、本発明の実施形態に係るケーシング1は、カバー10及び該カバー10に設置されたエアロゲル層20を備える。カバー10は薄い板状であり、且つ上表面11を有する。
エアロゲル層20はシート状を呈し、カバー10の上表面11上に設置される。本実施形態において、エアロゲル層20は、カバー10の上表面11上に直接的に貼設される。また、エアロゲル層20は、電子デバイスの他の構造上に設置することもでき、設置後は該他の構造をカバー10の上表面11上に設置させる。
エアロゲル層20が設置されるケーシング1は、以下の利点を有する。
利点aとして、エアロゲルの熱伝導率は空気の熱伝導率より低いので、エアロゲル層20が熱源とカバー10との間に位置する場合、その断熱効果は良好である。
利点bとして、エアロゲル層20は容易に高温下で劣化しない。
利点cとして、エアロゲル層20は防水性を有するので、高湿度の場合であっても、断熱効果に影響を与えない。
利点dとして、エアロゲル層20の密度は低いので、ケーシング1の薄型化及び軽量化の設計を満たし、且つその断熱能力に影響を与えない。
前記ケーシング1は、以下のステップ1〜ステップ4によって製造する。
ステップ1において、図2を参照すると、カバー10及びモールド30を提供する。カバー10は薄い板状であり、上表面11を有する。モールド30は直方体を呈し、且つ底面31を有する。また、底面31の中央には、モールド30の内方に向けて凹んだ凹部32が形成されており、凹部32は案内溝33を介してモールド30の外部と連通する。
ステップ2において、図3を併せて参照すると、モールド30をカバー10の上方に覆設する。この際、モールド30の底面31は、カバー10の上表面11に貼合される。これにより、モールド30の凹部32及びカバー10の上表面11は空間40を囲み、該空間40は案内溝33を介してモールド30の外部と連通する。
ステップ3において、エアロゲル溶液を案内溝33を介して空間40内に充填する。その後、空間40内に充填されたエアロゲル溶液を乾燥させる。本実施形態において、空間40内に充填されたエアロゲル溶液は超臨界乾燥法によって乾燥させられる。これにより、乾燥した後のエアロゲル溶液が、三次元多孔質構造を有することを確実なものとすることができる。
ステップ4において、エアロゲル溶液が完全に乾燥した後、モールド30をカバー10から除去して、カバー10の上表面11に緊密に貼合されたエアロゲル層20を得る。
また、実際の状況に基づいてエアロゲル層20のサイズ及び形状を変更することができる。この時、モールド30の凹部32の形状を変更して空間40の形状を改変するだけで良い。
本発明に係るケーシング1の製造方法において、先ず、凹部32を有するモールド30を提供する。次に、カバー10をモールド30の凹部32の一側に貼合し、次に、エアロゲル溶液を凹部32とカバー10とからなる空間40内に充填する。最後に、空間40内に充填されたエアロゲル溶液を乾燥することにより、エアロゲル層20をカバー10の上表面11に成型する。また、この方法は、エアロゲル材料を容易に成型することができる。
1 ケーシング
10 カバー
11 上表面
20 エアロゲル層
30 モールド
31 底面
32 凹部
33 案内溝
40 空間

Claims (3)

  1. カバー及びモールドを提供し、該カバーが上表面を有し、該モールドが底面を有し、該モールドの底面にモールドの内方に向けて凹んだ凹部が形成されるステップと、
    前記モールドを前記カバーに覆設し、且つ前記モールドの底面を前記カバーの上表面に貼合し、これにより、前記モールドの凹部及び前記カバーの上表面が空間を囲むステップと、
    エアロゲル溶液を前記空間内に充填し、その後、空間内に充填されたエアロゲル溶液を乾燥させるステップと、
    エアロゲル溶液が完全に乾燥した後、前記モールドを前記カバーから除去するステップと、
    を備えることを特徴とする電子デバイスケーシングの製造方法。
  2. 前記凹部は前記モールドの底面の中央に形成され、前記モールドの底面には、前記凹部からモールドの外部に延伸された案内溝がさらに形成され、エアロゲル溶液は前記案内溝を介して空間内に充填されることを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスケーシングの製造方法。
  3. 前記空間内に充填されたエアロゲル溶液が、超臨界乾燥法によって乾燥させられることを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスケーシングの製造方法。
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