JP5595211B2 - 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5595211B2 JP5595211B2 JP2010230098A JP2010230098A JP5595211B2 JP 5595211 B2 JP5595211 B2 JP 5595211B2 JP 2010230098 A JP2010230098 A JP 2010230098A JP 2010230098 A JP2010230098 A JP 2010230098A JP 5595211 B2 JP5595211 B2 JP 5595211B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- dimensional shape
- measurement
- phase information
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010230098A JP5595211B2 (ja) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010230098A JP5595211B2 (ja) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012083233A JP2012083233A (ja) | 2012-04-26 |
JP2012083233A5 JP2012083233A5 (enrdf_load_stackoverflow) | 2013-11-28 |
JP5595211B2 true JP5595211B2 (ja) | 2014-09-24 |
Family
ID=46242249
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010230098A Active JP5595211B2 (ja) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5595211B2 (enrdf_load_stackoverflow) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2593800T3 (es) * | 2012-10-31 | 2016-12-13 | Vitronic Dr.-Ing. Stein Bildverarbeitungssysteme Gmbh | Procedimiento y patrón de luz para medir la altura o el curso de la altura de un objeto |
JP6254849B2 (ja) * | 2014-01-17 | 2017-12-27 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法 |
KR101940936B1 (ko) * | 2014-09-11 | 2019-01-21 | 사이버옵틱스 코포레이션 | 3-차원 형상측정에서 복수 카메라 및 광원으로부터의 포인트 클라우드 병합 |
US10955235B2 (en) | 2016-03-22 | 2021-03-23 | Mitsubishi Electric Corporation | Distance measurement apparatus and distance measurement method |
KR102595391B1 (ko) * | 2016-12-07 | 2023-10-31 | 매직 아이 인코포레이티드 | 조정 가능한 초점 이미징 센서를 포함한 거리 센서 |
JP7028623B2 (ja) | 2017-12-07 | 2022-03-02 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
JPWO2023195394A1 (enrdf_load_stackoverflow) * | 2022-04-05 | 2023-10-12 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08136222A (ja) * | 1994-11-12 | 1996-05-31 | Omron Corp | 三次元計測方法およびその装置 |
JP3595736B2 (ja) * | 1999-07-14 | 2004-12-02 | 株式会社オプトン | 非接触形状測定方法 |
JP4255865B2 (ja) * | 2003-03-31 | 2009-04-15 | 株式会社ミツトヨ | 非接触三次元形状測定方法及び装置 |
JP5252820B2 (ja) * | 2007-03-27 | 2013-07-31 | パナソニック株式会社 | 3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置 |
JP2009168789A (ja) * | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Hideo Fujii | 3次元形状計測方法およびそのシステム |
JP2010133840A (ja) * | 2008-12-05 | 2010-06-17 | Nokodai Tlo Kk | 形状測定装置及び形状測定方法 |
JP5395507B2 (ja) * | 2009-05-21 | 2014-01-22 | キヤノン株式会社 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム |
-
2010
- 2010-10-12 JP JP2010230098A patent/JP5595211B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012083233A (ja) | 2012-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5395507B2 (ja) | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム | |
JP5595211B2 (ja) | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム | |
JP5362087B2 (ja) | 距離情報を決定するための方法、距離マップを決定するための方法、コンピュータ装置、撮影システム、コンピュータプログラム | |
KR101233013B1 (ko) | 화상 촬영 장치 및 그 거리 연산 방법과 합초 화상 취득 방법 | |
KR20130032368A (ko) | 삼차원 계측장치, 삼차원 계측방법 및 기억매체 | |
JP2015203652A (ja) | 情報処理装置および情報処理方法 | |
CN107483815B (zh) | 运动物体的拍摄方法和装置 | |
JP7378219B2 (ja) | 撮像装置、画像処理装置、制御方法、及びプログラム | |
US11512946B2 (en) | Method and system for automatic focusing for high-resolution structured light 3D imaging | |
JP2016080393A (ja) | 三次元計測装置、三次元計測方法及びプログラム | |
JP2014013144A (ja) | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、構造物の製造方法および構造物製造システム | |
JP2009181024A (ja) | 合焦装置、光学機器 | |
JP2012141206A (ja) | 三次元計測装置、三次元計測方法、およびプログラム | |
JP6700818B2 (ja) | 画像処理装置、撮像装置、および画像処理方法 | |
JP2007322259A (ja) | エッジ検出方法、装置、及びプログラム | |
JP2010181247A (ja) | 形状測定装置及び形状測定方法 | |
JP2018173338A (ja) | 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法 | |
WO2013035847A1 (ja) | 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、形状測定プログラム、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
KR102040629B1 (ko) | 카메라를 이용한 거리 측정 장치 | |
CN109741384B (zh) | 深度相机的多距离检测装置及方法 | |
US11037316B2 (en) | Parallax calculation apparatus, parallax calculation method, and control program of parallax calculation apparatus | |
JP6381206B2 (ja) | 画像処理装置、その制御方法およびプログラム | |
JP6075835B2 (ja) | 距離情報取得装置、撮像装置、距離情報取得方法、及び、プログラム | |
JP2019083580A (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、プログラム | |
EP3070432B1 (en) | Measurement apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131011 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131011 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140328 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140411 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140606 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140707 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140805 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5595211 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |