JP5587036B2 - プローブ制御システム - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 48
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 1
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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Description
前記回動アーム211、221を三角柱(位置初期調整装置4)の稜41に移動させてから、前記回動アーム211、221が前記第一位置に位置するように、前記接触部212及び接触部222を前記三角柱の側面42、43に沿って前記三角柱の底面44へ移動させて前記回動アーム211、221を回動させる。前記接触部212及び接触部222を分離するため、前記プローブ制御システム1の前記回動アーム211、221の回動に対する制御が利用される。
本実施形態において、前記位置初期調整装置4によって分離された前記接触部212と接触部222との間の距離が最大距離である。勿論、前記回動アーム211、221が前記第一位置に位置する場合、前記接触部212と接触部222との距離が前記最大距離より小さくてもよい。前記位置初期調整装置4は、前記プローブ制御システム1が前記回動アーム211、221の前記初期位置から前記第一位置までの動作を自動的に制御できるようにするため、人為的操作を必要としない。
以上の式(1)に基づいて以下式(2)得ることができる。
3 信号分析装置
4 位置初期調整装置
5 電子装置
6 操作平面
12 制御装置
14 マニピュレーター
20 プローブ
21、22 スタイラス
23 本体
24 信号出力端
41 稜
42、43 斜面
44 底面
124 入力手段
126 演算手段
128 命令手段
210、220 連接部
211、221 回動アーム
212、222 接触部
230 端面
Claims (5)
- 回動可能な連接部と、前記連接部から湾曲して延伸されて形成された回動アームと、前記連接部に平行するように前記回動アームから延伸されて形成された接触部と、をそれぞれ備える一方、対称に装着される第一スタイラス及び第二スタイラスを備えるプローブと、
マニピュレーターと、
前記回動アームの長さ、前記2つの連接部の間の距離と前記2つの接触部の間の予定距離との差に基づいて、前記マニピュレーターで前記2つのスタイラスのうちの1つのスタイラスの連接部を回動軸として他のスタイラスの回動角度を確定して、前記第一スタイラス及び前記第二スタイラスの接触部の間の距離を予定距離に調整する制御装置と、を備える
ことを特徴とするプローブ制御システム。 - 前記制御装置は、その内部に記憶されている下記の式によって回動角度を確定する
ことを特徴とする請求項1に記載のプローブ制御システム。
式:α=cos−1「(|d1−Δd|/2)/d2」
(ただし、αは、前記回動角度の補角を示し、d1は、前記2つの連接部の間の距離を示し、d2は、前記回動アームの長さを示し、Δdは、前記2つの接触部の間の予定距離を示す。) - 前記制御装置は、コンピューターであり、
前記式が記憶される演算手段と、前記2つの接触部の間の距離の予定値を前記演算手段に入力する入力手段と、前記演算手段からの受信に基づいて前記マニピュレーターの動作を制御する命令手段と、を備える
ことを特徴とする請求項2に記載のプローブ制御システム。 - 前記プローブは、前記第一スタイラス及び前記第二スタイラスが装着される本体をさらに備え、
前記2つの連接部の各自由端は、前記本体の端面に垂直に挿入され、
前記マニピュレーターが、前記第二スタイラスの連接部を回動軸として前記本体及び前記第一スタイラスを回動させ、且つ、前記第一スタイラスの連接部を回動軸として前記本体及び前記第二スタイラスを回動させる
ことを特徴とする請求項1に記載のプローブ制御システム。 - 前記プローブ制御システムは、三角柱である位置初期調整装置を備え、
前記制御装置は、前記2つの接触部を三角柱の稜から三角柱の2つの側面に沿って三角柱の底面へ移動するように前記マニピュレーターを制御して、前記2つの接触部の間の距離を最大距離にする
ことを特徴とする請求項1に記載のプローブ制御システム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN200910302928.4A CN101907644B (zh) | 2009-06-04 | 2009-06-04 | 电子探棒控制系统 |
CN200910302928.4 | 2009-06-04 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010281815A JP2010281815A (ja) | 2010-12-16 |
JP5587036B2 true JP5587036B2 (ja) | 2014-09-10 |
Family
ID=43263160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010124073A Expired - Fee Related JP5587036B2 (ja) | 2009-06-04 | 2010-05-31 | プローブ制御システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8089267B2 (ja) |
JP (1) | JP5587036B2 (ja) |
CN (1) | CN101907644B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105388336B (zh) * | 2015-10-16 | 2018-05-08 | 昆山龙腾光电有限公司 | 示波器探头辅助测试装置 |
CN106093600A (zh) * | 2016-08-02 | 2016-11-09 | 苏州茂特斯自动化设备有限公司 | 用于检测产品发射信号强度的信号检测平台 |
WO2018154586A1 (en) * | 2017-02-27 | 2018-08-30 | Posit Systems Ltd | Robot-assisted hardware testing |
CN114371350A (zh) * | 2020-10-15 | 2022-04-19 | 普源精电科技股份有限公司 | 差分探头及其控制方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6041869U (ja) * | 1983-08-29 | 1985-03-25 | 日立電子株式会社 | プリント基板検査装置 |
JP3392963B2 (ja) * | 1994-11-09 | 2003-03-31 | 古河電池株式会社 | 電圧測定具 |
US6404215B1 (en) * | 2000-08-21 | 2002-06-11 | Tektronix, Inc. | Variable spacing probe tip adapter for a measurement probe |
US6831452B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-12-14 | Agilent Technologies, Inc. | Systems and methods for wideband single-end probing of variabily spaced probe points |
DE10320381B4 (de) * | 2003-05-06 | 2010-11-04 | Scorpion Technologies Ag | Platinentestvorrichtung mit schrägstehend angetriebenen Kontaktiernadeln |
US20060267605A1 (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-30 | Yang Kei-Wean C | Differential measurement probe having a ground clip system for the probing tips |
TWI321820B (en) * | 2006-08-25 | 2010-03-11 | Star Techn Inc | Integrated circuits probing apparatus having a temperature-adjusting mechanism |
CN101241162B (zh) * | 2007-02-08 | 2010-06-16 | 西安航力航电技术发展有限公司 | 电缆检测仪 |
CN201218817Y (zh) * | 2008-04-25 | 2009-04-08 | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 | 自动信号测量平台 |
TW201132444A (en) * | 2010-03-17 | 2011-10-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Welding apparatus |
-
2009
- 2009-06-04 CN CN200910302928.4A patent/CN101907644B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-08-25 US US12/546,703 patent/US8089267B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-05-31 JP JP2010124073A patent/JP5587036B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010281815A (ja) | 2010-12-16 |
US20100308798A1 (en) | 2010-12-09 |
CN101907644A (zh) | 2010-12-08 |
US8089267B2 (en) | 2012-01-03 |
CN101907644B (zh) | 2013-11-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130307 |
|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
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