JP5581269B2 - 渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法 - Google Patents

渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5581269B2
JP5581269B2 JP2011121222A JP2011121222A JP5581269B2 JP 5581269 B2 JP5581269 B2 JP 5581269B2 JP 2011121222 A JP2011121222 A JP 2011121222A JP 2011121222 A JP2011121222 A JP 2011121222A JP 5581269 B2 JP5581269 B2 JP 5581269B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eddy current
current
excitation
information
coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011121222A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012247377A (ja
Inventor
久 遠藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2011121222A priority Critical patent/JP5581269B2/ja
Publication of JP2012247377A publication Critical patent/JP2012247377A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5581269B2 publication Critical patent/JP5581269B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

本発明は、検査対象物におけるきずや材質変化等の特性変化を評価する渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法に関する。
渦電流検査法は、渦電流プローブの励磁コイルに時間的に電流値が変動する電流(励磁電流)を供給して時間的に電流値が変動する磁束を生成し、渦電流プローブを検査対象物である金属体に近接させることによって渦電流を発生させ、その渦電流の変化を検出信号として得る方法である。渦電流は検査対象物の導電率や透磁率等で変化することから、検査対象物におけるきずや材質変化等の特性変化を非接触で評価することが可能である。詳しく説明すると、例えば渦電流プローブを用いてきずが存在しない健全な標準試験片等に対して測定した基準検出信号を予め取得し、検査対象物に対して測定した検出信号と基準検出信号との差分を画面上で表示する。検査者は、表示画面を見て検査対象物の特性変化を確認することができる。
上記の方法で発生する渦電流の強度は、励磁コイルが設置されている検査対象物の表面より、指数関数的に減少する性質をもつ。そのため渦電流検査法では、一般に検査対象物の深部の特性変化を測定することが困難とされている。測定可能な深さの範囲は、従来式(1)で表現される表皮深さδ(単位:m)を指標に、試験周波数f(単位:Hz)が設定される。
δ=(πfσμ)-1/2 …(1)
ここで、πは円周率(3.14159・・・)、σは検査対象物の導電率(単位:S/m)、μは検査対象物の透磁率(単位:H/m)である。この表皮深さδは、検査対象物表面における渦電流強度の1/e(e:自然対数 2.73・・・)となる深さである。式(1)において検査対象物に係る値、すなわち導電率σ及び透磁率μは固定であるため、周波数fが大きければ、表皮深さδは小さくなり、周波数fが小さくなれば、表皮深さδは大きくなる。渦電流の強度は検査の感度に関係するため、表面検査は高周波数,深部検査では低周波数を検査の条件とするのが一般的であるが、低周波を用いた場合においても、検出信号は、検査対象物表面の状態の情報が主要であるため、深部の磁場情報が乏しい。
このような問題に対し、試験周波数を低くする検査のみならず、特許文献1に記載されているようにSQUID(超電導量子干渉素子)磁束計などの高い磁場分解能を有する磁場検出素子を用いるアプローチや、特許文献2に記載されているように励磁コイル寸法やその配置を工夫して、深部の検査感度を向上させた渦電流検査プローブが提案されている。
特開2007−132923号公報 特開2006−10665号公報
しかしながら、上記従来技術には以下のような改善の余地があった。特許文献1記載のものでは、検出信号データのきずによる変化量が多くなっても、測定範囲決定の鍵となる渦電流分布が測定対象箇所まで十分に行き届かないため、測定可能なきず範囲の拡大に直接結びつかない。
また、特許文献2記載のものは、複数の励磁コイルの間隔を変更することで、深い位置の渦電流の効果を取得できる渦電流プローブを提供しているが、プローブ形状は、検出コイルを中心に対称で、直棒型となるため、適用できる検査対象物の形状が限られる可能性がある。
本発明の目的は、複数の励磁コイルの渦電流組合せを用いて、適用する検査対象物の形状に依存せず、検査対象物の深部など測定箇所に適した渦電流を生成し、きずや材質変化等の特性変化を評価する渦電流検査装置及び方法を提供することにある。
(1)上記目的を達成するために、本発明は、複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査装置及び方法において、所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定する励磁電流分布決定手段と、各励磁コイルの励磁電流波形を制御する励磁電流制御手段と、前記励磁電流波形を通電した励磁コイルより生成する磁場により渦電流を発生し、この渦電流による磁場及びその変化を渦電流信号として取得する渦電流信号取得手段と、前記渦電流信号取得手段で取得される渦電流信号に基づき渦電流信号評価手段とを有する。
(2)上記(1)において、好ましくは、前記励磁電流分布決定手段は、所望の渦電流の情報を検査者が入力し設定することを可能とする渦電流情報入力部と、渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流情報のデータを生成する渦電流データ生成部と、前記渦電流データ生成部で生成した各励磁コイルが発生する渦電流情報のデータを演算する渦電流データ演算部を備え、前記渦電流情報入力部で設定した所望の渦電流の情報と合致する各励磁コイルの励磁電流条件を算出する励磁電流条件算出部と、前記励磁電流条件算出部で算出した各励磁コイルの励磁電流条件を記憶する励磁電流条件記憶部と、を備える。
(3)上記(2)において、好ましくは、前記渦電流情報入力部は、渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面と、前記検査対象物の図面の上に渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスとを有する。
(4)上記(2)において、好ましくは、前記渦電流データ生成部は、前記渦電流情報入力部で設定した複数の励磁コイルと、検査対象物に基づき、各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成する。
(5)上記(2)において、好ましくは、前記渦電流データ演算部は、前記渦電流データ生成部で生成した各励磁コイルが発生させる渦電流情報を、組合せ演算する。
(6)上記(2)において、好ましくは、前記励磁電流条件算出部は、前記渦電流情報入力部で設定した所望の渦電流の情報と、前記渦電流データ演算部で組合せ演算した渦電流情報との一致度を評価し、前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出する。
(7)上記(2)において、好ましくは、前記励磁電流条件記憶部は、前記励磁電流条件算出部で得られる各コイルの励磁電流の電流波形を記憶し、電気信号として出力する。
(8)上記(1)において、好ましくは、励磁電流制御手段は、渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続されている電流源と、前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報と、前記電流源が出力している励磁電流状態の情報とを、送受信する励磁電流情報送受信部と、を備える。
(9)上記(8)において、好ましくは、前記電流源は、各励磁コイルに通電されている電流値を、前記励磁電流情報送受信部へ送信し、前記励磁電流送受信部は、通電されている電流値と、前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報を読み出し比較する比較部と、前記比較部による比較結果の偏差を補正する励磁電流情報を前記電流源へ送信する機能を備える。
(10)上記(8)において、好ましくは、前記励磁電流情報送受信部は、前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報と、各励磁コイルに通電されている電流値との偏差をあらかじめ予測し、前記偏差を補正した励磁電流情報を前記電流源へ送信する機能を備える。
(11)上記(1)において、好ましくは、前記渦電流信号取得手段は、前記励磁電流制御手段で励磁コイルに通電する磁場で渦電流を発生し、この渦電流による磁場情報を取得する磁場検出素子と、前記磁場検出素子の磁場情報を記憶する記憶部と、で構成する。
(12)上記(11)において、好ましくは、前記画像情報生成部は、前記励磁電流分布決定で設定される検査対象物の図面と合成した画像情報を生成し、前記表示部は、前記画像情報を表示する。
(13)上記(11)において、好ましくは、前記画像情報生成部は、前記励磁電流分布決定で設定される検査対象物の図面に基づき、検査対象物の断面を検査者が指定する入力部を備え、前記入力部で指定された検査対象物の断面の画像情報を生成し、前記表示部は、前記画像情報を表示する。
(14)また、上記目的を達成するために、本発明は、複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査装置で、渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面上で所望の渦電流の情報を、渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスを用いて入力し設定し、渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成し、各励磁コイルが発生する前記渦電流情報を組合せ演算したデータと、前記の所望の渦電流の情報との一致度を計算し、前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出し、所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定し、渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続した電流源に、前記電流条件を送信し、励磁コイルを駆動して検査する。
かかる装置により、検査者が指定する検査対象物の検査箇所に渦電流を効率よく発生させ、きず検出感度を向上することができる。
(15)また、上記目的を達成するために、本発明は、複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査方法であって、渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面上で所望の渦電流の情報を、渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスを用いて入力し設定し、渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成し、各励磁コイルが発生する前記渦電流情報を組合せ演算したデータと、前記の所望の渦電流の情報との一致度を計算し、前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出し、所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定し、渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続した電流源に、前記電流条件を送信し、励磁コイルを駆動して検査する検査方法であって、励磁コイルに通電する磁場で渦電流を発生させ、この渦電流による磁場情報を磁場検出素子で取得し、前記磁場情報を演算して画像情報を生成し、前記画像情報のうち、検査者が指定する検査対象物の断面を表示画面に表示する。
かかる方法により、前記画像情報に基づき検査対象物のきず及びその寸法を検査することができる。
(16)また、上記目的を達成するために、本発明は、複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査方法であって、渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面上で所望の渦電流の情報を、渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスを用いて入力し設定し、渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成し、各励磁コイルが発生する前記渦電流情報を組合せ演算したデータと、前記の所望の渦電流の情報との一致度を計算し、前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出し、所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定し、渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続した電流源に、前記電流条件を送信し、励磁コイルを駆動して検査する検査方法であって、励磁コイルに通電する磁場で渦電流を発生させ、この渦電流による磁場情報を磁場検出素子で取得し、前記磁場情報を演算して画像情報を生成し、前記画像情報のうち、検査者が指定する検査対象物の断面を表示画面に表示する。
かかる方法により、前記画像情報に基づき検査対象物の特性変化を検査することができる。
本発明によれば、複数の励磁コイルの渦電流組合せを用いて、適用する検査対象物の形状に依存せず、検査対象物の深部など測定箇所に適した渦電流を生成し、きずや材質変化等の特性変化を評価することができる。
本発明の第1の実施形態による渦電流検査装置の構成図である。 本発明の実施形態の渦電流プローブの一例である。 本発明の実施形態の渦電流情報入力手段の一例の概要図である。 所望の渦電流の情報を設定する画面の一形態を図示したものである。 本発明の第2の実施形態による渦電流検査装置の構成図である。 本発明の第3の実施形態による渦電流検査装置の構成図である。 本発明の第3の実施形態によるきず可視化の一例の概要図である。 本発明の第4の実施形態による渦電流検査装置の構成図である。 本発明の第4の実施形態による材質変化可視化の一例の概要図である。
以下、各実施例について説明する。
本発明の第1の実施形態を図1〜図3により説明する。なお、図1〜図3において、同一符号は、同一部分を示している。
まず、図1〜図3を用いて、検査手順について説明する。図1は、本実施形態における渦電流検査装置の全体構成を表すブロック図である。図2は、本実施形態における渦電流検査装置で駆動する励磁コイルの一例を説明することを目的に、検査装置に接続されている渦電流プローブの概要図を示したものである。ただし、図2に示す例は、本発明の実施形態を限定するものではない。
複数の励磁コイルを有する渦電流プローブ1の各励磁コイル2を駆動するために、第1に、励磁電流分布決定手段で所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定する。
励磁電流分布決定手段は、所望の渦電流の情報を検査者が入力し設定することを可能とする渦電流情報入力部と、渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流情報のデータを生成する渦電流データ生成部と、前記渦電流データ生成部で生成した各励磁コイルが発生する渦電流情報のデータを演算する渦電流データ演算部を備えており、前記渦電流情報入力部で設定した所望の渦電流の情報と合致する各励磁コイルの励磁電流条件を算出する励磁電流条件算出部と、前記励磁電流条件算出部で算出した各励磁コイルの励磁電流条件を記憶する励磁電流条件記憶部と、を備えている。
渦電流情報入力部は、本実施例では、所望の渦電流の情報を検査者が入力する部分である。図3(a)は、渦電流情報入力部の一形態を図示したものである。これから検査に使用する渦電流プローブ1と、検査対象物3と、きず4等の特性変化を、計算機でモデル化し表示画面5に表示する。検査者は、入力デバイスであるキーボード6,ポインティングデバイス7などで、モデルを選択することができる。図3(b)は、所望の渦電流の情報を設定する画面の一形態を図示したものである。検査対象物のモデルの一部を画面上で指定し、渦電流の強度とその発生箇所を指定する。
渦電流データ生成部は、渦電流情報入力部で設定した複数の励磁コイルと、検査対象物に基づき、各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成する部分である。電磁場解析手法は、例えば、有限要素法,有限差分法,有限体積法,境界要素法など、渦電流場に関するマクスウェルの電磁方程式を解く数値解法を用い、渦電流プローブを構成する各励磁コイルが単独に励磁した場合の渦電流分布を計算し、渦電流データとして記憶部へ記録する。検査対象物の材質が銅やアルミなどの線形材料であるとき、渦電流の強度は、励磁電流の値に対して比例関係にある。渦電流データ計算の際、励磁電流の値を1Aとすれば、その定数倍の時の渦電流分布は、励磁電流の値を1Aで計算したときの渦電流データの定数倍で近似することができ、後述の渦電流組合せ計算が容易になる。
渦電流データ演算部は、渦電流データ生成部で生成した各励磁コイルに起因する渦電流データの線形和を演算し、組合せデータを生成する部分である。励磁電流の値を1Aで生成したデータであれば、単純に定数倍して渦電流データの割合を決め、組み合わせることができる。
励磁電流条件算出部は、渦電流情報入力部で設定した渦電流分布を満足するための励磁条件を算出する部分である。渦電流データ演算部において組み合わされた複数の励磁コイルによる渦電流分布を用いて、渦電流プローブを構成する各励磁コイルの励磁電流の条件を決定する。励磁電流の条件、すなわち、励磁電流値,位相,通電時間,周波数は、パラメタ探査手法を用いて決定することができる。パラメタ探査手法は、例えば、遺伝的アルゴリズムによる方法,ニューラルネットワークによる方法,不適切線形システム方程式を解くことにより導出する方法を用いる。これらパラメタ探査手法によって得られた励磁条件より、渦電流情報入力部で設定した渦電流分布と比較し、最終的な励磁条件とする。両者の誤差が大きいときは、励磁コイルの個数を増やすなど渦電流データの個数を多くし、さらにパラメタ探査を繰り返すことで、最適な励磁条件を算出する。
励磁電流条件記憶部は、励磁電流条件算出部で算出された励磁条件を記憶し、励磁電流手段が取得可能とする出力部を有している。
第2に、励磁電流制御手段で各励磁コイルの励磁電流波形を制御する。
励磁電流制御手段は、渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続されている電流源と、前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報と、前記電流源が出力している励磁電流状態の情報とを、送受信する励磁電流情報送受信部と、を備えている。
電流源は、各励磁コイルに通電されている電流値を、前記励磁電流情報送受信部へ送信し、励磁電流情報送受信部は、通電されている電流値と、励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報を読み出し比較する比較部と、この比較部による比較結果の偏差を補正する励磁電流情報を前記電流源へ送信する機能を備えている。
各励磁コイルは、独立に接続されている電流源に従って励磁されるが、励磁コイルが同時に励振したとき、相互インダクタンスにより、励磁電流の条件に誤差を生む可能性がある。これに対し、電流源には、励磁コイルに通電されている励磁電流をリアルタイムで計測する機能を搭載し、励磁電流情報送受信部で、励磁電流分布決定手段で決定されている励磁条件との比較及び、その偏差を導出する部分を備え、偏差が起こった場合、これを補正して電流源へ情報を送る機能を備える。こうすることで、励磁電流分布決定手段で決定されている励磁条件を満たすことが容易となる。
第3に、渦電流信号取得手段で前記励磁電流波形を通電した励磁コイルより生成する磁場により渦電流を発生し、この渦電流による磁場及びその変化を渦電流信号として取得する。
渦電流信号取得手段では、渦電流による磁場情報を取得する磁場検出素子と、磁場検出素子の磁場情報を記憶する記憶部とで構成している。磁場検出素子は、コイルセンサ,ホールセンサ,MIセンサ,GMRセンサなどを用いる。特に時間変動の小さい励磁電流を扱う場合、磁場の時間微分値を出力電圧とするコイルセンサは、感度が低く、検査対象物深部の測定には不向きであるといわれている。これに対して、MIセンサ,GMRセンサ,ホールセンサは、磁場そのものを出力電圧に変換するため、検査対象物深部の測定には優位であると考えられている。
第4に、渦電流信号評価手段で、前記渦電流信号取得手段で取得される渦電流信号に基づき渦電流信号を評価する。
渦電流信号評価手段は、渦電流信号取得手段より得られる渦電流信号を演算して画像情報を生成する画像情報生成部と、前記画像情報に基づき検査対象物のきずや材質変化などの特性変化を表示する表示部とで構成している。
画像情報生成部は、励磁電流分布決定手段で設定される検査対象物の図面や、検査に用いた渦電流プローブと合成した画像情報を生成し、表示部は、表示することができる。ここで表示する画像は、空間軸や時間軸を二次元グラフの横軸にして、渦電流信号をプロットしたもの、二次元画像の縦軸,横軸をそれぞれ2方向のことなる空間軸として、渦電流信号の値を画像の輝度値としてプロットしたもの、三次元のCADやコンピュータグラフィックスを用いて、渦電流信号を画像の濃淡としてプロットしたものを表示画面に出力することができる。
また、渦電流情報入力部と同様に入力デバイスを用いて検査者が、表示画面中の画像を操作することで、渦電流信号をあらゆる断面角度から観察することが可能となる。
本発明の第2の実施形態を図4により説明する。なお、図4において、同一符号は、同一部分を示している。
本実施例は、励磁電流制御手段において、各励磁コイルの電流制御を励磁電流制御素子11を用いて実現し、電流源の個数を削減したものである。励磁電流制御素子は、抵抗,コンデンサ,インダクタ、その他電流振幅と位相を調整することが可能な演算増幅器などの集積回路を用いる。この場合、励磁電流制御素子の選定は、駆動する複数の励磁コイル間の相互インダクタンスをあらかじめ計算し、励磁電流決定手段で決定した励磁電流条件と一致するように決定する。
本発明の第3の実施形態を図5〜図6により説明する。なお、図5〜図6において、同一符号は、同一部分を示している。
本実施例は、渦電流信号評価手段の画像情報生成部で生成した画像を検査者が操作する入力デバイスを用いて抽出し、きず形状の可視化を行った例である。きず形状の可視化は、渦電流信号をもとに、電磁場解析技術を用いて算出することができる。本発明においては、検査対象物のモデルを計算機などに取り込み、抽出した画像と照らし合わせることができ、深いきずの評価が容易となる。また、モデル作成において有限要素法に代表した任意形状のモデルの取り扱いを可能とする。そのため、検査対象物の形状に制限がない。
本発明の第4の実施形態を図7〜図8により説明する。なお、図7〜図8において、同一符号は、同一部分を示している。
本実施例は、渦電流信号評価手段の画像情報生成部で生成した画像を検査者が操作する入力デバイスを用いて抽出し、材質変化の可視化を行った例である。材質変化の可視化は、渦電流信号をもとに、電磁場解析技術を用いて算出することができる。本発明においては、検査対象物のモデルを計算機などに取り込み、抽出した画像と照らし合わせることができ、深いきずの評価が容易となる。また、モデル作成において有限要素法に代表した任意形状のモデルの取り扱いを可能とする。そのため、検査対象物の形状に制限がない。
以上より、本発明では、複数の励磁コイルの電流を制御し、適用する検査対象物の形状に依存せず、検査対象物の深部など測定箇所に適した渦電流を生成し、きずや材質変化等の特性変化を評価することを可能とする渦電流検査装置及び方法を提供することができる。
1 渦電流プローブ
2 励磁コイル
3 検査対象物
4 きず
5 表示画面
6 キーボード
7 ポインティングデバイス
8 ポインタ
9 渦電流強度入力枠
10 渦電流設定箇所
13 抽出断面
14 きず可視化画面
15 材質変化可視化画面

Claims (12)

  1. 複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査装置において、
    所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定する励磁電流分布決定手段と、
    各励磁コイルの励磁電流波形を制御する励磁電流制御手段と、
    前記励磁電流波形を通電した励磁コイルより生成する磁場により渦電流を発生し、この渦電流による磁場及びその変化を渦電流信号として取得する渦電流信号取得手段と、
    前記渦電流信号取得手段で取得される渦電流信号に基づき評価する渦電流信号評価手段を備えるとともに、
    前記励磁電流分布決定手段は、
    所望の渦電流の情報を検査者が入力し設定することを可能とする渦電流情報入力部と、
    渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流情報のデータを生成する渦電流データ生成部と、
    前記渦電流データ生成部で生成した各励磁コイルが発生する渦電流情報のデータを演算する渦電流データ演算部を備え、
    前記渦電流情報入力部で設定した所望の渦電流の情報と合致する各励磁コイルの励磁電流条件を算出する励磁電流条件算出部と、
    前記励磁電流条件算出部で算出した各励磁コイルの励磁電流条件を記憶する励磁電流条件記憶部と、
    を備えることを特徴とする渦電流検査装置。
  2. 請求項1記載の渦電流検査装置において、
    前記渦電流情報入力部は、
    渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面と、
    前記検査対象物の図面の上に渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスとを有することを特徴とする渦電流検査装置。
  3. 請求項1記載の渦電流検査装置において、
    前記渦電流データ生成部は、
    前記渦電流情報入力部で設定した複数の励磁コイルと、検査対象物に基づき、
    各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、
    電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成することを特徴とする渦電流検査装置。
  4. 請求項1記載の渦電流検査装置において、
    前記渦電流データ演算部は、
    前記渦電流データ生成部で生成した各励磁コイルが発生させる渦電流情報を、
    組合せ演算することを特徴とする渦電流検査装置。
  5. 請求項1記載の渦電流検査装置において、
    前記励磁電流条件算出部は、
    前記渦電流情報入力部で設定した所望の渦電流の情報と、
    前記渦電流データ演算部で組合せ演算した渦電流情報との一致度を評価し、
    前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出することを特徴とする渦電流検査装置。
  6. 請求項1記載の渦電流検査装置において、
    前記励磁電流条件記憶部は、
    前記励磁電流条件算出部で得られる各コイルの励磁電流の電流波形を記憶し、電気信号として出力することを特徴とする渦電流検査装置。
  7. 請求項1記載の渦電流検査装置において、
    前記励磁電流制御手段は、
    渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続されている電流源と、
    前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報と、前記電流源が出力している励磁電流状態の情報とを、送受信する励磁電流情報送受信部と、
    を備えることを特徴とする渦電流検査装置。
  8. 請求項7記載の渦電流検査装置において、
    前記電流源は、
    各励磁コイルに通電されている電流値を、前記励磁電流情報送受信部へ送信し、
    前記励磁電流情報送受信部は、
    通電されている電流値と、前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報を読み出し比較する比較部と、
    前記比較部による比較結果の偏差を補正する励磁電流情報を前記電流源へ送信する機能を備えることを特徴とする渦電流検査装置。
  9. 請求項7記載の渦電流検査装置において、
    前記励磁電流情報送受信部は、
    前記励磁電流分布決定手段で決定された各励磁コイルの励磁電流条件の情報と、
    各励磁コイルに通電されている電流値との偏差をあらかじめ予測し、
    前記偏差を補正した励磁電流情報を前記電流源へ送信する機能を備えることを特徴とする渦電流検査装置。
  10. 複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査方法において、
    渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面上で所望の渦電流の情報を、渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスを用いて入力して設定し、
    渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、
    電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成し、
    各励磁コイルが発生する前記渦電流情報を組合せ演算したデータと、
    前記の所望の渦電流の情報との一致度を計算し、
    前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出し、
    所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定し、
    渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続した電流源に、前記電流条件を送信し、励磁コイルを駆動して検査することを特徴とする渦電流検査方法。
  11. 複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査方法において、
    渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面上で所望の渦電流の情報を、渦電流の強度及びその発生箇所とを検査者が入力し設定可能な入力デバイスを用いて入力し設定し、
    渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、
    電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成し、
    各励磁コイルが発生する前記渦電流情報を組合せ演算したデータと、
    前記の所望の渦電流の情報との一致度を計算し、
    前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出し、
    所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定し、
    渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続した電流源に、前記電流条件を送信し、励磁コイルを駆動して検査する検査方法であって、
    励磁コイルに通電する磁場で渦電流を発生させ、この渦電流による磁場情報を磁場検出素子で取得し、
    前記磁場情報を演算して画像情報を生成し、
    前記画像情報のうち、検査者が指定する検査対象物の断面を表示画面に表示し、
    前記画像情報に基づき検査対象物のきず及びその寸法を検査する渦電流検査方法。
  12. 複数の励磁コイルを有するプローブを用いた渦電流検査方法において、
    渦電流プローブを構成する複数の励磁コイルと、検査対象物の図面とを選択し表示する表示画面上で所望の渦電流の情報を、渦電流の強度及びその発生箇所とを
    検査者が入力し設定可能な入力デバイスを用いて入力し設定し、
    渦電流プローブを構成する各励磁コイルが発生させる渦電流分布及び時間変化の情報を、
    電磁場解析手法を用いて独立に計算したデータを生成し、
    各励磁コイルが発生する前記渦電流情報を組合せ演算したデータと、
    前記の所望の渦電流の情報との一致度を計算し、
    前記一致度に基づき各励磁コイルの励磁電流を変更した渦電流情報の組合せデータを算出する過程より各励磁コイルの励磁電流条件を算出し、
    所望の渦電流を生成する各励磁コイルの電流条件を決定し、
    渦電流プローブの各励磁コイルに独立に接続した電流源に、前記電流条件を送信し、励磁コイルを駆動して検査する検査方法であって、
    励磁コイルに通電する磁場で渦電流を発生させ、この渦電流による磁場情報を磁場検出素子で取得し、
    前記磁場情報を演算して画像情報を生成し、
    前記画像情報のうち、検査者が指定する検査対象物の断面を表示画面に表示し、
    前記画像情報に基づき検査対象物の特性変化を検査する渦電流検査方法。
JP2011121222A 2011-05-31 2011-05-31 渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法 Expired - Fee Related JP5581269B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011121222A JP5581269B2 (ja) 2011-05-31 2011-05-31 渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011121222A JP5581269B2 (ja) 2011-05-31 2011-05-31 渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012247377A JP2012247377A (ja) 2012-12-13
JP5581269B2 true JP5581269B2 (ja) 2014-08-27

Family

ID=47467924

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011121222A Expired - Fee Related JP5581269B2 (ja) 2011-05-31 2011-05-31 渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5581269B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6472314B2 (ja) * 2015-04-17 2019-02-20 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法
WO2017158864A1 (ja) * 2016-03-16 2017-09-21 株式会社Ihi 導電性複合材料の検査方法及び導電性複合材料の検査装置
US11766824B2 (en) 2017-05-26 2023-09-26 Ihi Corporation Apparatus for producing three-dimensional multilayer model, method for producing three-dimensional multilayer model, and flaw detector
JP7215076B2 (ja) * 2018-10-26 2023-01-31 株式会社Ihi クリープ余寿命診断方法及びクリープ余寿命診断システム

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61128157A (ja) * 1984-11-27 1986-06-16 Kubota Ltd 欠陥検出方法及び装置
JPH0750074B2 (ja) * 1987-02-13 1995-05-31 株式会社日立製作所 減肉検査可能な渦電流探傷装置
JP3154563B2 (ja) * 1992-08-20 2001-04-09 三菱重工業株式会社 渦電流発生回路
JPH06242076A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Toshiba Corp 電磁気探傷装置
JP4327745B2 (ja) * 2005-02-18 2009-09-09 株式会社日立製作所 渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置
US20090091318A1 (en) * 2007-09-11 2009-04-09 Benoit Lepage Phased scan eddy current array probe and a phased scanning method which provide complete and continuous coverage of a test surface without mechanical scanning

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012247377A (ja) 2012-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Hughes et al. Near electrical resonance signal enhancement (NERSE) in eddy-current crack detection
RU2593677C2 (ru) Электромагнитный датчик и его калибровка
Bernieri et al. Multifrequency excitation and support vector machine regressor for ECT defect characterization
JP5946086B2 (ja) 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法
JP5581269B2 (ja) 渦電流検査装置及びそれを用いた検査方法
TWI403752B (zh) 一種交流磁導率量測裝置及其方法
JP5462576B2 (ja) 渦電流探傷装置及びその信号処理方法
JP2009079984A (ja) 渦流検査装置及び渦流検査方法
CN110187000B (zh) 一种电磁无损检测双相钢微观组织的方法
US12099033B2 (en) Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method
JP2012002633A (ja) 渦電流検査装置および検査方法
KR20200020939A (ko) 표면 특성 평가 방법, 표면 특성 평가 장치 및 표면 특성 평가 시스템
JP2007040865A (ja) 硬化層深さ・未焼入れ・異材判定の非破壊測定法
Wei et al. Theoretical and experimental evaluation of rotational magnetic induction tomography
Hamel et al. A LabVIEW-based real-time acquisition system for crack detection in conductive materials
US7019518B2 (en) Non-contacting apparatus and method for measurement of ferromagnetic metal thickness
JP6551885B2 (ja) 非破壊検査装置及び非破壊検査方法
Brauer et al. Defect detection in conducting materials using eddy current testing techniques
JP2005127963A (ja) 非破壊検査方法及びその装置
JP7095817B2 (ja) 機械的特性の計測装置、機械的特性の計測方法、物質の製造設備、物質の管理方法および物質の製造方法
US20230251226A1 (en) Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method
JP7473114B2 (ja) 外場応答分布可視化装置及び外場応答分布可視化方法
Mierczak et al. Determining residual stress depth profiles using the magnetic Barkhausen effect
Maddox et al. Imaging corrosion under insulation with a mechanically-translatable atomic magnetometer
Shenoy et al. Nonlinear Eddy Current Technique for Fatigue Detection and Classification in Martensitic Stainless-Steel Samples

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140225

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140617

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140714

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees