JP5544669B2 - ガス噴射ユニット及びこれを利用する薄膜蒸着装置及び方法 - Google Patents

ガス噴射ユニット及びこれを利用する薄膜蒸着装置及び方法 Download PDF

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Description

本発明はガス噴射ユニット及びこれを利用する薄膜蒸着装置及び方法に関し、より詳細には反応ガスを噴射するガス噴射ユニットと、これを利用して薄膜を蒸着する装置及び方法に関する。
半導体素子の製造工程において、多様な種類の高品質の膜を形成させるために金属有機化合物を利用する金属有機物化学気相蒸着MOCVD方法が多く開発されている。金属有機物化学気相蒸着MOCVD方法は、液体状態の金属有機化合物を気化させた後に、生成された金属有機化合物の蒸気及びこれと反応する水素化合物のガスを蒸着しようとする基板へ供給し、高温に接触させることによって、ガス熱分解反応によって基板の上に金属薄膜を蒸着する工程である。
しかし、金属有機物化学気相蒸着MOCVD工程において、反応ガスを噴射するガス噴射部材が高温の熱に露出されれば、反応ガスが基板へ供給される前に高温の熱によって意図しない反応が生じ、ガス噴射部材に寄生的な蒸着(Parasitic Deposition)が発生する。このため、反応ガスが基板に均一に供給されないので、蒸着される金属薄膜の品質が低下される問題点があった。
韓国特許公開第10−2009−0086374号公報
本発明は、向上された品質の金属薄膜を蒸着できる薄膜蒸着装置及び方法と、これに使用されるガス噴射ユニットとを提供するためのものである。
本発明の目的はここに制限されなく、言及されないその他の目的は下の記載から当業者に明確に理解できる。
上記した課題を達成するために本発明の実施形態による薄膜蒸着装置は、処理室と、前記処理室内に配置され、前記基板を支持する基板支持ユニットと、前記基板支持ユニットによって支持された前記基板を加熱するヒーターと、前記処理室内で前記基板支持ユニットの上部に配置されるガス噴射ユニットを含み、前記ガス噴射ユニットは、反応ガスが流入される内部管と、前記内部管を囲み、前記内部管内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる外部管と、前記内部管内の反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する複数の噴射管と、を含む。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットは前記内部管及び前記外部管の長さ方向が上下方向となるように配置され得る。
本発明の実施形態によれば、前記基板支持ユニットは、板形状を有し、基板ホルダを収容する複数個の第1溝が上面の縁領域に円周方向に沿って形成された支持板と、前記支持板を回転させる回転駆動部材と、を含み、前記ガス噴射ユニットは前記支持板の中心領域の上部に配置され得る。
本発明の実施形態によれば、前記支持板の上面中心領域には第2溝が形成され、前記外部管の下端が前記第2溝の底面から離隔配置されるように前記外部管が前記第2溝に挿入され得る。
本発明の実施形態によれば、前記複数の噴射管は前記内部管の円周方向に沿って複数個が設けられ得る。
本発明の実施形態によれば、前記複数の噴射管の中で一部は互いに異なる高さに設けられ得る。
本発明の実施形態によれば、前記複数の噴射管は複数個のグループに分けられ、同一のグループに属する前記噴射管は前記内部管の同一の高さに円周方向に沿って設けられ、他のグループに属する前記噴射管は前記内部管の互いに異なる高さに円周方向に沿って設けられ得る。
本発明の実施形態によれば、前記複数個のグループの中でいずれか1つのグループに属する前記噴射管は前記支持板に隣接する領域に前記反応ガスを噴射するように設けられ、前記複数個のグループの中で他の1つのグループに属する前記噴射管は前記処理室の上部壁に隣接する領域へ前記反応ガスを噴射するように設けられ得る。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットは、第1反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第1ガス流入ポートと、第2反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第2ガス流入ポートと、をさらに包含できる。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットは、前記内部管に設けられる1つのガス流入ポートと、前記ガス流入ポートに連結されるメーンガス供給管と、前記メーンガス供給管から分岐された第1分岐管に連結され、第1反応ガスを供給する第1ガス供給源と、前記メーンガス供給源から分岐された第2分岐管に連結され、第2反応ガスを供給する第2ガス供給源と、をさらに包含できる。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットは、前記冷却流体が流入されるように前記外部管に設けられる冷却流体流入ポートと、前記冷却流体が排出されるように前記外部管に設けられる冷却流体流出ポートと、をさらに包含できる。
本発明の実施形態によれば、前記内部管と前記外部管との間の空間を、前記冷却流体流入ポートに連通される第1領域と、前記冷却流体流出ポートに連通される第2領域と、前記第1領域と前記第2領域とを連通させる第3領域に区画する分離板と、をさらに包含できる。
本発明の実施形態によれば、前記内部管は第1反応ガスが流入される第1内部管と、前記第1内部管を囲み、第2反応ガスが流入される第2内部管と、を含み、前記噴射管は、前記第1内部管内の前記第1反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する第1噴射管と、前記第2内部管内の前記第2反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する第2噴射管と、を包含できる。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットは、前記冷却流体が流入されるように前記外部管に設けられる冷却流体流入ポートと、前記冷却流体が排出されるように前記外部管に設けられる冷却流体流出ポートと、をさらに包含できる。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットは、前記外部管と前記第2内部管との間の空間を、前記冷却流体流入ポートに連通される第1領域と、前記冷却流体流出ポートに連通される第2領域と、前記第1領域と前記第2領域とを連通させる第3領域に区画する分離板と、をさらに包含できる。
上記した課題を達成するために本発明の実施形態による薄膜蒸着方法は、処理室内に基板をローディングすることと、前記基板を加熱することと、前記基板に反応ガスを噴射することと、を含み、前記反応ガスはガス噴射ユニットの内部管に流入され、前記内部管を囲む外部管内で流れる冷却流体によって冷却された後、前記内部管と前記外部管を連結する噴射管を通じて前記基板へ噴射される。
本発明の実施形態によれば、前記ガス噴射ユニットはその長さ方向が上下方向となるように配置され、前記反応ガスは水平方向に配置された前記噴射管を通じて前記基板に噴射され得る。
本発明の実施形態によれば、前記基板は支持板の縁領域に円周方向に沿って複数個がローディングされ、前記ガス噴射ユニットは前記支持板の中心領域の上部で前記反応ガスを噴射することができる。
本発明の実施形態によれば、前記支持板は中心軸を中心に回転し、前記複数個の基板各々は中心軸を中心に回転することができる。
本発明の実施形態によれば、前記反応ガスは第1反応ガスと、前記第1反応ガスと異なる成分の第2反応ガスと、を含み、前記第1及び第2反応ガスは独立的に前記内部管に流入されたあと、前記内部管で互いに混合され得る。
本発明の実施形態によれば、前記反応ガスは第1反応ガスと、前記第1反応ガスと異なる成分の第2反応ガスを含み、前記第1及び第2反応ガスは混合された状態に前記内部管に流入され得る。
本発明の実施形態によれば、前記反応ガスは第1反応ガス、及び前記第1反応ガスと異なる成分の第2反応ガスを含み、前記内部管は前記第1反応ガスが流入される第1内部管、及び前記第1内部管を囲み前記第2反応ガスが流入される第2内部管を含み、前記第1反応ガスは前記第1内部管と前記外部管を連結する第1噴射管を通じて噴射され、前記第2反応ガスは前記第2内部管と前記外部管を連結する第2噴射管を通じて噴射され得る。
上記した課題を達成するために本発明の実施形態によるガス噴射ユニットは、反応ガスが流入される内部管と、前記内部管を囲み、前記内部管内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる外部管と、前記内部管内の反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する噴射管を含む。
本発明の実施形態によれば、前記噴射管は前記内部管の円周方向に沿って複数個が設けられ、前記噴射管は複数個のグループに分けられ、同一のグループに属する前記噴射管は前記内部管の同一の高さに円周方向に沿って設けられ、他のグループに属する前記噴射管は前記内部管の互いに異なる高さに円周方向に沿って設けられ得る。
本発明の実施形態によれば、第1反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第1ガス流入ポートと、第2反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第2ガス流入ポートと、をさらに包含できる。
本発明によると、ガス噴射ユニットの内部管内の反応ガスを反応温度以下に冷却して、反応ガスの意図しない反応を防止することができる。
そして、本発明によると、蒸着される金属薄膜の品質を向上させることができる。
本発明の実施形態による薄膜蒸着装置を示す図面である。 図1のガス噴射ユニットと基板支持ユニットとの平面図である。 図1のガス噴射ユニットと基板支持ユニットとを拡大して示す図面である。 ガス噴射ユニットの一部を切開した斜視図である。 ガス噴射ユニットの平断面図である。 図3のガス噴射ユニットの他の実施形態を示す図面である。 ガス噴射ユニットと基板支持ユニットとの他の配置構造を示す図面である。 図3のガス噴射ユニットのその他の実施形態を示す図面である。 図3のガス噴射ユニットのその他の実施形態を示す図面である。
以下、添付図面を参照して本発明の望ましい実施形態によるガス噴射ユニット、及びこれを利用する薄膜蒸着装置及び方法を詳細に説明する。なお、各図面の構成要素に付する参照符号について、同一の構成要素に対しては他の図面においてもできるだけ同一の符号を付する。また、本発明の説明において、関連する公知構成又は機能に対する具体的な説明が本発明の要旨の理解を損なわせる場合には、その詳細な説明は省略する。
図1は本発明の実施形態による薄膜蒸着装置10を示す図面である。
薄膜蒸着装置10は、金属有機物化学気相蒸着MOCVD方法、即ち金属有機化合物と水素化合物とのガス熱分解反応を利用して、基板の上に薄膜を蒸着する。薄膜蒸着工程に使用される基板は、例えばLEDの製造工程の中でエピ(Epi)ウエハーを製造するために使用されるサファイア(Sapphire、Al2O3)及びシリコンカーバイドSiC基板、又は半導体集積回路ICを製造するために使用されるシリコンウエハー等である。
図1に示すように、本発明の実施形態による薄膜蒸着装置10は処理室100、排気ユニット200、基板支持ユニット300、加熱ユニット400、及びガス噴射ユニット500を含む。
処理室100は金属有機物化学気相蒸着MOCVD工程が進行される空間を提供する。処理室100は上部壁102、上部壁102の縁から下方向に延長された側壁104、及び側壁104の下端に結合された下部壁106を有する。上部壁102と下部壁106とは円板形状に設けられる。処理室100の側壁104には基板Sが搬入/搬出される通路105が形成される。通路105の入口側には通路105を開閉するドア110が設置される。ドア110は駆動器112に結合され、ドア110は駆動器112の作動によって通路105の長さ方向に垂直な方向に移動しながら通路105の入口を開閉する。
排気ユニット200は排気ライン210、排気部材220、及びバルブ230を含む。排気ライン210の一端は処理室100の下部壁106に形成された排気ホール107に連結され、排気ライン210の他端には排気部材220が連結される。排気部材220は処理室100の内部に負の圧力を加えるポンプである。排気部材220が処理室100内に負の圧力を加えると、処理室100内部の不必要な反応生成物及びキャリヤーガスが排気され、これを通じて処理室100内部の圧力が工程圧力として維持される。処理室100内の工程圧力は、例えば、数Torrの低真空から760Torrの大気圧に至る多様な範囲の圧力である。バルブ230は排気ホール107と排気部材220との間の排気ライン210の上に配置され、排気ライン210の内部空間を通じる反応生成物及びキャリヤーガスの流れを開閉する。
図2は図1のガス噴射ユニットと基板支持ユニットとの平面図である。図1及び図2に示すように、基板支持ユニット300は処理室100の内部に配置され、基板Sを支持する。基板支持ユニット300は支持板310と、回転駆動部材330とを含む。
支持板310は円板形状を有する。支持板310は電気的伝導性が優れた黒鉛材質で設けられ得る。支持板310の上面の縁領域には円周方向に沿って複数個の第1溝312が形成される。第1溝312は円模様の平面を有するように形成される。本実施形態では第1溝312が6個設けられた場合を例として説明したが、第1溝312はこれより多くてもよいし、或いは少なくてもよい。各々の第1溝312の中心は支持板320の中心を基準に同一円周上に位置する。
各々の第1溝312には基板Sを収容する基板ホルダ320が挿入配置される。基板ホルダ320は上部が開放された円筒形状を有する。基板ホルダ320は電気的伝導性が優れた黒鉛材質で設けられる。基板ホルダ320の側壁の外径は、基板ホルダ320と第1溝312との間にギャップが形成されるように、第1溝312の直径より小さく設けている。基板ホルダ320の側壁の内径は基板Sの直径より大きく設けている。基板ホルダ320はガスベアリングの原理によって中心軸を中心に回転され、基板ホルダ320の回転によって基板Sが回転される。第1溝312の底面には螺旋形状の溝313が設けられ、螺旋形状の溝313には図示略のガス供給部材からガスが供給される。供給ガスは螺旋形状の溝313に沿って流れながら、基板ホルダ320の下面に回転力を提供し、基板ホルダ320と第1溝312との間の空間を通じて排気される。
回転駆動部材330は支持板310を回転させるものであり、駆動軸332と駆動器334とを含む。駆動軸332は処理室100の下部壁106を貫通して挿入設置され、ベアリング333によって回転可能に支持される。駆動軸332の上端は支持板310の下面に連結され、駆動軸332の下端は駆動器334に連結される。駆動軸332は駆動器334によって発生された駆動力を支持板310へ伝達する。駆動器334は支持板310を回転させるための回転駆動力を提供することができ、また支持板310を上昇及び下降させるための直線駆動力を提供することもあり得る。これとは異なり、駆動軸332と駆動器334とを処理室100の内部に位置するように設けることもあり得る。
加熱ユニット400は支持板310の下に配置され、支持板310によって支持された基板Sを加熱する。加熱ユニット400としては、例えばRFコイルのような高周波加熱手段が使用される。ヒーターをなすRFコイルは同一水平面の上で駆動軸332を囲むように配置される。RFコイルに電力が供給されれば、支持板310はRFコイルによって誘導加熱され、支持板310の熱が基板ホルダ320を通じて基板Sへ伝達されることによって、基板Sが工程温度に加熱される。
ガス噴射ユニット500は支持板310の中心領域の上部に離隔配置され、支持板310によって支持された基板Sへ反応ガス、即ち金属有機化合物ガス及びこれと反応する水素化合物のガスを噴射する。金属有機化合物は例えばアルミニウム、ガリウム又はインジウム化合物であり、水素化合物は例えばアルシン(Arsene)、ホスフィン(Phosphine)又はアンモニア(Ammonia)である。金属有機化合物及び水素化合物は気体状態でキャリヤーガスと共にガス噴射ユニット500へ供給される。キャリヤーガスとしては水素又は窒素等が使用される。
図3は図1のガス噴射ユニットと基板支持ユニットとを拡大して示す図面であり、図4はガス噴射ユニットの一部を切開した斜視図であり、図5はガス噴射ユニットの平断面図である。
図3乃至図5に示すように、ガス噴射ユニット500は長さ方向が上下方向となるように整列され、支持板310の中心領域の上部に配置される。ガス噴射ユニット500は反応ガスが流入される内部管520、内部管520を囲み且つこの内部管520内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる外部管540、及び内部管520内の反応ガスを外部管540の外部へ噴射する複数の噴射管560を含む。
ところで、従来は、反応ガスを噴射するガス噴射部材が基板に加えられる高温の熱に露出され、反応ガスが基板へ供給される前に高温の熱によって意図されなかった反応が生じ、これによってガス噴射部材に寄生的な蒸着(Parasitic Deposition)が発生する問題点があった。しかし、本発明の実施形態によるガス噴射ユニット500では外部管540が内部管520を囲むように配置され、内部管520へ供給される反応ガスが外部管540を通じて流れる冷却流体によって冷却される構成を有するので、前記のような従来の問題点を解決することができる。
内部管520は中空の円筒形状を有する。即ち、内部管520は円板形状の上部壁521、上部壁521から下方向に延長された側壁522、及び側壁522の下端に結合される円板形状の下部壁523を包含する。上部壁521には第1ガス流入ポート524と第2ガス流入ポート525とが設けられる。第1ガス流入ポート524には金属有機化合物のガスを供給する第1ガス供給ライン526が連結され、第1ガス供給ライン526の他端には金属有機化合物のガス供給源527が連結される。第2ガス流入ポート525には水素化合物のガスを供給する第2ガス供給ライン528が連結され、第2ガス供給ライン528の他端には水素化合物のガス供給源529が連結される。第1ガス供給ライン526を通じて供給される金属有機化合物のガスと、第2ガス供給ライン528を通じて供給される水素化合物のガスとは、内部管520の内部で互いに混合される。
外部管540は内部管520を囲み、外部管540の内には内部管520内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる。外部管540は中空の円筒形状を有する。例えば、外部管540は環形の上部壁541、上部壁541の縁から下方向に延長された側壁542、及び側壁542の下端に結合された円板形状の下部壁543を有する。上部壁541の内周面は内部管520の上部壁521の縁に結合され、側壁542と下部壁543とは内部管520の側壁522と下部壁523から離隔される。
外部管540の上部壁541の一側には冷却流体流入ポート544が設けられ、冷却流体流入ポート544には冷却流体供給管545が連結される。外部管540の上部壁541の他側には冷却流体流出ポート546が設けられ、冷却流体流出ポート546には冷却流体回収管547が連結される。そして、冷却流体供給管545及び冷却流体回収管547の端部は温度調節部548に連結される。温度調節部548で温度が調節された冷却流体は冷却流体供給管545及び冷却流体流入ポート544を通じて外部管540へ供給される。冷却流体は内部管520と外部管540との間の空間を通じて流れながら、内部管520の内部に提供された反応ガスを冷却する。以後、冷却流体は冷却流体流出ポート546及び冷却流体回収管547を通じて温度調節部548に回収される。回収された冷却流体は再び温度が調節された状態で外部管540に供給される。冷却流体としては、例えば冷却水又は窒素ガスのような不活性ガスが使用される。
内部管520と外部管540との間の空間には分離板550a、550bが設けられる。分離板550a、550bは外部管540と内部管520との間の環形の空間を、冷却流体流入ポート544に連通される第1領域A1と、冷却流体流出ポート546に連通される第2領域A2とに区画するように、外部管540の上部壁541から下方向に長く延長される。第1領域A1と第2領域A2とは、内部管520の下部壁523と外部管540の下部壁543との間の第3領域A3を通じて連通される。
複数の噴射管560は、内部管520と外部管540とを連結し、内部管520内の反応ガスを外部管540の外部へ噴射する。複数の噴射管560は内部管520の円周方向に沿って複数個が設けられる。例えば、複数の噴射管560は第1グループの噴射管562、第2グループの噴射管564、及び第3グループの噴射管566を包む。第1グループの噴射管562は、内部管520の側壁522の下端に隣接する第1高さで、内部管520の円周方向に沿って複数個が設けられる。第2グループの噴射管564は、第1高さより高い第2高さで、内部管520の円周方向に沿って複数個が設けられる。第3グループの噴射管566は、第2高さより高い第3高さで、内部管520の円周方向に沿って複数個が設けられる。
第1乃至第3グループの噴射管562、564、566は内部管520の横方向に沿って同一の間隔で設けられる。これと異なり、第1乃至第3グループの噴射管562、564、566を、図6に示すように、内部管520の横方向に沿って異なる間隔(D2>D1)で設けてもよい。第1グループの噴射管562は支持板310に隣接する領域へ反応ガスを噴射し、第3グループの噴射管566は処理室(図1中の符号100)の上部壁102に隣接する領域へ反応ガスを噴射する。
図2及び図3を参照して、上述したような構成を有する薄膜蒸着装置を利用して基板S上に金属膜を蒸着する過程を、以下に説明する。
つまり、いずれか1つの基板ホルダ320に基板Sがローディングされた後、支持板310が回転しながら順次的に他の基板ホルダ320に基板Sがローディングされる。基板Sのローディングが完了されれば、支持板310は中心軸を中心に回転し、基板Sは基板ホルダ320がガスベアリングによって中心軸を中心に回転することによって回転される。そして、加熱ユニット400が支持板310を加熱し、支持板310の熱が基板ホルダ320を通じて基板Sへ伝達されることによって、基板Sが工程温度に加熱される。
以後、金属有機化合物のガスが第1ガス流入ポート524を通じて内部管520へ流入され、水素化合物のガスが第2ガス流入ポート525を通じて内部管520へ流入される。金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとは内部管520の内部で互いに混合される。
この時、外部管540には、内部管520の内部の金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとを冷却する冷却流体が流れる。冷却流体の温度は温度調節部548で調節され、温度が調節された冷却流体は冷却流体供給管545、冷却流体流入ポート544、外部管540、冷却流体流出ポート546、及び冷却流体回収管547を通じて持続的に循環される。内部管520の内部の金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとが冷却流体によって冷却されるので、金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとが基板Sへ噴射される前に反応することを防止することができる。
金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとは、内部管520で混合及び冷却された後、内部管520と外部管540とを連結する噴射管560を通じて、基板Sに噴射される。噴射管560が内部管520の円周方向に沿って設けられるので、金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとは、支持板310上にて円周方向にローディングされた基板Sに対して均一に噴射される。基板Sに噴射された金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとは、基板Sに加えた高温の熱によって分解されながら、基板S上に金属薄膜を蒸着する。
以下においては、基板支持ユニットとガス噴射ユニットとの他の実施形態について説明する。
図7はガス噴射ユニットと基板支持ユニットとの他の配置構造を示す図面である。図7に示すように、支持板310の上面中心領域には第2溝314が形成され、ガス噴射ユニット500の外部管540が第2溝314の底面から離隔配置されるように第2溝314へ挿入される。このような構成によって、噴射管560と支持板310との間の上下方向距離が短縮されるので、噴射管560が基板S上により均一に反応ガスを噴射して高品質の金属膜を蒸着することができる。
図8及び図9は図3のガス噴射ユニットの他の実施形態を示す図面である。図8及び図9では図3と同一の構成要素に対して同一の符号を付してこれに対する説明は省略する。以下では図3のガス噴射ユニットとの差異点についてのみ説明する。
図8に示すように、内部管520には1つのガス流入ポート524’が設けられる。ガス流入ポート524’にはメーンガス供給管526’が連結され、メーンガス供給管526’は第1分岐管526’−1と第2分岐管526’−2とに分岐される。第1分岐管526’−1には金属有機化合物のガスを供給する第1ガス供給源527’−1が連結され、第2分岐管526’−2には水素化合物のガスを供給する第2ガス供給源527’−2が連結される。金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとはメーンガス供給管526’で混合された後、内部管520のガス流入ポート524’に供給される。
図9に示すように、内部管520’は、第1内部管520’aと、この第1内部管520’aを囲む第2内部管520’bとを含む。第1内部管520’aには第2ガス流入ポート525が設けられ、第2ガス流入ポート525を通じて第1内部管520’aの内部に水素化合物のガスが供給される。第2内部管520’bには第1ガス流入ポート524が設けられ、第1ガス流入ポート524を通じて第2内部管520’bの内部に金属有機化合物のガスが供給される。金属有機化合物のガスと水素化合物のガスとは、独立された空間を有する第1内部管520’a又は第2内部管520’bに供給されるので、互いに混合されない状態に維持される。第1噴射管563は第1内部管520’aと外部管540とを連結して、第1内部管520’aの内部の水素化合物のガスを外部管540の外部へ噴射する。第2噴射管565は第2内部管520’bと外部管540を連結し、第2内部管520’bの内部の金属有機化合物のガスを外部管540の外部へ噴射する。
以上の説明は本発明の技術思想を例示的に説明したに過ぎず、当業者であれば本発明の本質から逸脱しない範囲内で多様な修正及び変形が可能である。したがって、開示した実施形態は本発明の技術思想を限定するものではなく単に説明するためのものであり、このような実施形態によって本発明の技術思想の範囲は限定されない。本発明の保護範囲は特許請求の範囲によって解釈されなければならず、それと同等な範囲内にある全て技術思想は本発明の権利範囲に含まれる。

Claims (20)

  1. 処理室と、
    前記処理室内に配置され、基板を支持する基板支持ユニットと、
    前記基板支持ユニットによって支持された前記基板を加熱するヒーターと、
    前記処理室内で前記基板支持ユニットの上部に配置されるガス噴射ユニットと、を含み、
    前記基板支持ユニットは、
    板形状を有し、基板ホルダを収容する複数個の第1溝が上面の縁領域に円周方向に沿って形成された支持板と、
    前記支持板を回転させる回転駆動部材と、を含み、
    前記ガス噴射ユニットは、
    反応ガスが流入される内部管と、
    前記内部管を囲み、前記内部管内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる外部管と、
    前記内部管内の反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する複数の噴射管と、を含み
    前記支持板の中心領域の上部に、前記内部管及び前記外部管の長さ方向が上下方向となるように配置され、
    前記支持板の上面中心領域には第2溝が形成され、
    前記外部管の下端が前記第2溝の底面から離隔配置されるように前記外部管が前記第2溝に挿入されることを特徴とする薄膜蒸着装置。
  2. 処理室と、
    前記処理室内に配置され、基板を支持する基板支持ユニットと、
    前記基板支持ユニットによって支持された前記基板を加熱するヒーターと、
    前記処理室内で前記基板支持ユニットの上部に配置されるガス噴射ユニットと、を含み、
    前記基板支持ユニットは、
    板形状を有し、基板ホルダを収容する複数個の第1溝が上面の縁領域に円周方向に沿って形成された支持板と、
    前記支持板を回転させる回転駆動部材と、を含み、
    前記ガス噴射ユニットは、
    反応ガスが流入される内部管と、
    前記内部管を囲み、前記内部管内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる外部管と、
    前記内部管内の反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する複数の噴射管と、を含み
    前記支持板の中心領域の上部に、前記内部管及び前記外部管の長さ方向が上下方向となるように配置され、
    前記複数の噴射管は、前記内部管の円周方向に沿って複数個が設けられることを特徴とする薄膜蒸着装置。
  3. 前記複数の噴射管の中で一部は、互いに異なる高さに設けられることを特徴とする請求項2に記載の薄膜蒸着装置。
  4. 前記複数の噴射管は複数個のグループに分けられ、
    同一のグループに属する前記噴射管は前記内部管の同一の高さに円周方向に沿って設けられ、
    他のグループに属する前記噴射管は前記内部管の互いに異なる高さに円周方向に沿って設けられることを特徴とする請求項2に記載の薄膜蒸着装置。
  5. 前記複数個のグループの中でいずれか1つのグループに属する前記噴射管は前記支持板に隣接する領域へ前記反応ガスを噴射するように設けられ、
    前記複数個のグループの中で他の1つのグループに属する前記噴射管は前記処理室の上部壁に隣接する領域へ前記反応ガスを噴射するように設けられることを特徴とする請求項4に記載の薄膜蒸着装置。
  6. 前記ガス噴射ユニットは、
    第1反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第1ガス流入ポートと、
    第2反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第2ガス流入ポートと、をさらに含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の薄膜蒸着装置。
  7. 前記ガス噴射ユニットは、
    前記内部管に設けられる1つのガス流入ポートと、
    前記ガス流入ポートに連結されるメーンガス供給管と、
    前記メーンガス供給管から分岐された第1分岐管に連結され、第1反応ガスを供給する第1ガス供給源と、
    前記メーンガス供給管から分岐された第2分岐管に連結され、第2反応ガスを供給する第2ガス供給源と、をさらに含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の薄膜蒸着装置。
  8. 前記ガス噴射ユニットは、
    前記冷却流体が流入されるように前記外部管に設けられる冷却流体流入ポートと、
    前記冷却流体が排出されるように前記外部管に設けられる冷却流体流出ポートと、をさらに含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の薄膜蒸着装置。
  9. 前記ガス噴射ユニットは、
    前記内部管と前記外部管との間の空間を、前記冷却流体流入ポートに連通される第1領域と、前記冷却流体流出ポートに連通される第2領域と、前記第1領域と前記第2領域とを連通させる第3領域とに区画する分離板をさらに含むことを特徴とする請求項8に記載の薄膜蒸着装置。
  10. 前記内部管は、
    第1反応ガスが流入される第1内部管と、
    前記第1内部管を囲み、第2反応ガスが流入される第2内部管と、を含み、
    前記噴射管は、
    前記第1内部管内の前記第1反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する第1噴射管と、
    前記第2内部管内の前記第2反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する第2噴射管と、を含むことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の薄膜蒸着装置。
  11. 前記ガス噴射ユニットは、
    前記冷却流体が流入されるように前記外部管に設けられる冷却流体流入ポートと、
    前記冷却流体が排出されるように前記外部管に設けられる冷却流体流出ポートと、をさらに含むことを特徴とする請求項10に記載の薄膜蒸着装置。
  12. 前記ガス噴射ユニットは、
    前記外部管と前記第2内部管との間の空間を、前記冷却流体流入ポートに連通される第1領域と、前記冷却流体流出ポートに連通される第2領域と、前記第1領域と前記第2領域を連通させる第3領域とに区画する分離板をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の薄膜蒸着装置。
  13. 処理室内に基板をローディングすることと、
    前記基板を加熱することと、
    前記基板に反応ガスを噴射することと、を含み、
    前記反応ガスは、ガス噴射ユニットの内部管に流入され、前記内部管を囲む外部管内で流れる冷却流体によって冷却された後、前記内部管と前記外部管とを連結する噴射管を通じて前記基板へ噴射され、
    前記ガス噴射ユニットは、その長さ方向が上下方向となるように配置され、
    前記反応ガスは、水平方向に配置された前記噴射管を通じて前記基板に噴射されることを特徴とする薄膜蒸着方法。
  14. 前記基板は支持板の縁領域に円周方向に沿って複数個がローディングされ、前記ガス噴射ユニットは前記支持板の中心領域の上部で前記反応ガスを噴射することを特徴とする請求項13に記載の薄膜蒸着方法。
  15. 前記支持板は中心軸を中心に回転し、
    前記複数個の基板の各々は中心軸を中心に回転することを特徴とする請求項14に記載の薄膜蒸着方法。
  16. 前記反応ガスは第1反応ガス、及び前記第1反応ガスと異なる成分の第2反応ガスを含み、
    前記第1及び第2反応ガスは独立的に前記内部管に流入された後、前記内部管で互いに混合されることを特徴とする請求項15に記載の薄膜蒸着方法。
  17. 前記反応ガスは第1反応ガス、及び前記第1反応ガスと異なる成分の第2反応ガスを含み、
    前記第1及び第2反応ガスは混合された状態で前記内部管へ流入されることを特徴とする請求項15に記載の薄膜蒸着方法。
  18. 前記反応ガスは第1反応ガス、及び前記第1反応ガスと異なる成分の第2反応ガスを含み、
    前記内部管は前記第1反応ガスが流入される第1内部管、及び前記第1内部管を囲み前記第2反応ガスが流入される第2内部管を含み、
    前記第1反応ガスは、前記第1内部管と前記外部管を連結する第1噴射管を通じて噴射され、前記第2反応ガスは、前記第2内部管と前記外部管を連結する第2噴射管を通じて噴射されることを特徴とする請求項15に記載の薄膜蒸着方法。
  19. 反応ガスが流入される内部管と、
    前記内部管を囲み、前記内部管内の反応ガスを冷却する冷却流体が流れる外部管と、
    前記内部管内の反応ガスを前記外部管の外部へ噴射する噴射管を含み、
    前記噴射管は前記内部管の円周方向に沿って複数個が設けられ、
    前記噴射管は複数個のグループに分けられ、
    同一のグループに属する前記噴射管は前記内部管の同一の高さに円周方向に沿って設けられ、
    他のグループに属する前記噴射管は前記内部管の互いに異なる高さに円周方向に沿って設けられることを特徴とするガス噴射ユニット。
  20. 第1反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第1ガス流入ポートと、
    第2反応ガスが流入されるように前記内部管に設けられる第2ガス流入ポートと、をさらに含むことを特徴とする請求項19に記載のガス噴射ユニット。
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