JP5534123B1 - Defect inspection method and defect inspection apparatus - Google Patents
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Abstract
欠陥検査方法は、電磁超音波探触子において互いに隣接して一部が重なり合うように配列された複数のコイルに対して高周波信号を与えて、検査対象物に超音波振動を発生させる第1工程と;前記超音波振動のBエコーを前記複数のコイルのそれぞれで受信する第2工程と;前記超音波振動のFエコーを前記複数のコイルのそれぞれで受信する第3工程と;前記複数のコイルのそれぞれで受信された前記Bエコーの信号強度を、前記複数のコイルの稼働状態に基づいて補正する第4工程と;前記Fエコーの信号強度と補正後の前記Bエコーの信号強度との比率を、前記複数のコイルのそれぞれについて計算し、その計算結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する第5工程と;を有する。
The defect inspection method is a first step in which a high frequency signal is given to a plurality of coils arranged so as to partially overlap each other in the electromagnetic ultrasonic probe to generate ultrasonic vibrations on the inspection object. A second step of receiving the ultrasonic vibration B echo by each of the plurality of coils; a third step of receiving the ultrasonic vibration F echo by each of the plurality of coils; and the plurality of coils. A fourth step of correcting the signal intensity of the B echo received at each of the plurality of coils based on operating states of the plurality of coils; a ratio between the signal intensity of the F echo and the signal intensity of the B echo after correction Is calculated for each of the plurality of coils, and an internal defect of the inspection object is evaluated based on the calculation result.
Description
本発明は、欠陥検査方法及び欠陥検査装置に関する。
本願は、2012年12月20日に、日本に出願された特願2012−278563号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。The present invention relates to a defect inspection method and a defect inspection apparatus.
This application claims priority on December 20, 2012 based on Japanese Patent Application No. 2012-278563 for which it applied to Japan, and uses the content here.
従来から、非破壊検査法の一つとして、鉄鋼材料等の検査対象物の内部欠陥(介在物、内部割れ、水素系欠陥等)を、電磁超音波を利用して、非接触で検査する電磁超音波探傷法が知られている。例えば、下記特許文献1及び2には、上記の電磁超音波探傷法によって検査対象物の内部欠陥を検査するために用いられる電磁超音波探触子(EMAT)が開示されている。
Conventionally, as one of the non-destructive inspection methods, electromagnetic defects have been inspected in a non-contact manner using electromagnetic ultrasonic waves for internal defects (inclusions, internal cracks, hydrogen defects, etc.) of inspection objects such as steel materials. Ultrasonic flaw detection is known. For example,
下記特許文献1に開示された電磁超音波探触子は、永久磁石と、探傷パルスの形成及び反射パルスの受信に適合したインダクタンスコイルとを備える。また、下記特許文献2に開示された電磁超音波探触子は、被検材にバイアス磁場を与えるための磁化器と、超音波を被検材に送信し、被検材で反射した超音波を受信するための複数のセンサコイルとを備える。
The electromagnetic ultrasonic probe disclosed in the following Patent Document 1 includes a permanent magnet and an inductance coil adapted to form flaw detection pulses and receive reflected pulses. An electromagnetic ultrasonic probe disclosed in
一般的に、電磁超音波探傷法では、日本工業規格(JIS G 0801)に従って、Fエコー(欠陥エコー)の高さ(信号強度)に基づいて内部欠陥を評価(等級分類)する。しかしながら、Fエコーは、検査対象物の表面とコイルとのギャップに依存して変動する。 In general, in the electromagnetic ultrasonic flaw detection method, internal defects are evaluated (classified) based on the height (signal intensity) of F echoes (defect echoes) in accordance with Japanese Industrial Standards (JIS G 0801). However, the F echo varies depending on the gap between the surface of the inspection object and the coil.
例えば、検査対象物の表面とコイルとのギャップが0.5mmから0mmに変化すると、Fエコーの信号強度は約3dB増大する。また、例えば、検査対象物の表面とコイルとのギャップが0.5mmから1.0mmに変化すると、Fエコーの信号強度は約3dB低下する。従って、検査対象物とコイルとのギャップを所定の値に保持できない場合、Fエコーに基づいて内部欠陥の評価を正確に行うことが困難となる。 For example, when the gap between the surface of the inspection object and the coil changes from 0.5 mm to 0 mm, the signal intensity of the F echo increases by about 3 dB. For example, when the gap between the surface of the inspection object and the coil changes from 0.5 mm to 1.0 mm, the signal intensity of the F echo decreases by about 3 dB. Therefore, when the gap between the inspection object and the coil cannot be maintained at a predetermined value, it is difficult to accurately evaluate the internal defect based on the F echo.
従来では、上記のようなFエコーのギャップ依存性に起因する内部欠陥の誤評価を防止するために、Fエコーの信号強度とBエコー(底面エコー)の信号強度との比率(F/B比率)に基づいて内部欠陥を評価する方法が採用される。検査対象物の表面とコイルとのギャップが変化すると、Fエコー及びBエコーの信号強度が変化するが、F/B比率を計算することによって、両エコーに含まれるギャップ起因の変化量が相殺される。その結果、ギャップ変化に関係なく、正確な内部欠陥の評価を行うことができる。 Conventionally, in order to prevent the erroneous evaluation of the internal defect due to the gap dependency of the F echo as described above, the ratio between the signal intensity of the F echo and the signal intensity of the B echo (bottom echo) (F / B ratio) ) Based on the internal defect is adopted. When the gap between the surface of the object to be inspected and the coil changes, the signal intensity of the F echo and B echo changes, but by calculating the F / B ratio, the amount of change caused by the gap contained in both echoes is canceled out. The As a result, accurate evaluation of internal defects can be performed regardless of gap changes.
しかしながら、従来の電磁超音波探触子において、電磁超音波を送受信するコイルが複数配列されるような構成が採用される場合(特に、互いに隣接して一部が重なり合うように複数のコイルが配列される場合)、任意のコイルが、これに隣接するコイルが本来受信すべき電磁超音波の反射波(Fエコー及びBエコー)を受信する可能性がある。 However, in the case of adopting a configuration in which a plurality of coils for transmitting and receiving electromagnetic ultrasonic waves are arranged in a conventional electromagnetic ultrasonic probe (particularly, a plurality of coils are arranged so as to partially overlap each other. When this is done, there is a possibility that an arbitrary coil receives reflected electromagnetic waves (F echo and B echo) that should be received by the adjacent coil.
本願発明者による研究の結果、任意のコイルが受信する隣接Fエコー(隣接するコイルが本来受信すべきFエコー)の信号強度は、無視できるほどに小さいが、任意のコイルが受信する隣接Bエコー(隣接するコイルが本来受信すべきBエコー)の信号強度は、無視できないほど大きいことが判明した。 As a result of research by the present inventor, the signal intensity of the adjacent F echo received by any coil (the F echo that the adjacent coil should originally receive) is negligibly small, but the adjacent B echo received by the arbitrary coil It has been found that the signal intensity of the (B echo that should be received by the adjacent coil) is so large that it cannot be ignored.
つまり、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度には隣接するコイルが本来受信すべきBエコー(隣接Bエコー)の信号強度が加わっている。ここで、仮に、全てのコイルについてBエコーの信号強度が同じように増大するのならば、F/B比率も全てのコイルについて同じように変化するので、F/B比率に基づく内部欠陥評価に支障はない(F/B比率と比較すべき評価基準値を変更すれば良いだけである)。 That is, the signal intensity of the B echo (adjacent B echo) that should be received by the adjacent coil is added to the signal intensity of the B echo received by any coil. Here, if the B echo signal intensity increases in the same way for all coils, the F / B ratio also changes in the same way for all coils. There is no hindrance (it is only necessary to change the evaluation standard value to be compared with the F / B ratio).
しかしながら、Bエコーの信号強度の増大量は、各コイルの稼働状態に応じて変化する。具体的には、例えば、任意のコイルの両側に隣接する2つのコイルが正常に稼働している場合、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度には、その両側に隣接する2つのコイルが本来受信すべきBエコーの信号強度が加わる。 However, the amount of increase in the B echo signal intensity varies depending on the operating state of each coil. Specifically, for example, when two coils adjacent to both sides of an arbitrary coil are operating normally, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil includes two adjacent coils on both sides. The signal intensity of the B echo that should be received by the coil is added.
また、例えば、任意のコイルの両側に隣接する2つのコイルのうち、片方のコイルが故障等の原因で稼働していない場合、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度には、その両側に隣接する2つのコイルのうち、片方のコイルが本来受信すべきBエコーの信号強度のみが加わる。さらに、例えば、任意のコイルの両側に隣接する2つのコイルの両方が稼働していない場合、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度は増大しない(つまり、任意のコイルが本来受信すべきBエコーの信号強度のみが得られる)。 In addition, for example, when one of the two coils adjacent to both sides of an arbitrary coil is not operating due to a failure or the like, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil includes Of the two coils adjacent to both sides, only the signal intensity of the B echo that should be received by one of the coils is added. Further, for example, when both of two coils adjacent to both sides of an arbitrary coil are not operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil does not increase (that is, the arbitrary coil originally receives). Only the signal strength of the power B echo is obtained).
なお、例えば、複数配列されたコイルのうち、端部に位置するコイルについては、隣接するコイルが1つのみである。端部以外のコイルは、2つの隣接するコイルが本来受信すべきBエコーを受信するが、端部に位置するコイルは、1つの隣接するコイルが本来受信すべきBエコーのみを受信する。従って、端部に配置されたコイルと、端部以外に配置されたコイルとでは、Bエコーの信号強度の増大量が必然的に異なる。これは、端部に位置するコイルで受信されるBエコーの信号強度は、そのコイルに隣接する1つのコイルの稼働状態にのみ依存することを意味する。 For example, among the coils arranged in a plurality, the coil located at the end has only one adjacent coil. The coils other than the end receive B echoes that should be received by two adjacent coils, but the coil located at the end receives only the B echo that should be received by one adjacent coil. Therefore, the amount of increase in the B echo signal intensity inevitably differs between the coil disposed at the end and the coil disposed at the end other than the end. This means that the signal intensity of the B echo received by the coil located at the end depends only on the operating state of one coil adjacent to the coil.
このように、各コイルの稼働状態に応じてBエコーの信号強度の増大量がコイル毎に異なる場合、安全のために、Bエコーの信号強度が最も低いコイルを基準にして内部欠陥の評価を行う方法も考えられる。しかしながら、この方法を採用すると、Bエコーの信号強度が高い他のコイルに関しては、内部欠陥を過大評価することになる。その結果、余分な検査が行われることによって検査工程の効率が低下するという問題が発生する可能性がある。
以上のように、従来の電磁超音波探触子において、互いに隣接して一部が重なり合うように複数のコイルが配列されるような構成が採用される場合、検査対象物の内部欠陥を正確に評価することは困難であった。As described above, when the amount of increase in the B echo signal intensity differs depending on the operating state of each coil, for the sake of safety, internal defects are evaluated with reference to the coil having the lowest B echo signal intensity. A way to do it is also conceivable. However, when this method is employed, the internal defect is overestimated for other coils having a high B echo signal intensity. As a result, there is a possibility that the efficiency of the inspection process decreases due to the extra inspection being performed.
As described above, in a conventional electromagnetic ultrasonic probe, when a configuration in which a plurality of coils are arranged adjacent to each other so as to partially overlap each other, the internal defect of the inspection object is accurately determined. It was difficult to evaluate.
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、電磁超音波探触子において、互いに隣接して一部が重なり合うように複数のコイルが配列されるような構成が採用される場合であっても、検査対象物の内部欠陥を正確に評価可能な欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described circumstances. In an electromagnetic ultrasonic probe, a configuration in which a plurality of coils are arranged so as to be adjacent to each other and partially overlap each other is employed. Even if it exists, it aims at providing the defect inspection method and defect inspection apparatus which can evaluate the internal defect of an inspection target object correctly.
本発明は、上記課題を解決して係る目的を達成するために、以下のような手段を採用する。すなわち、
(1)本発明の一態様に係る欠陥検査方法は、電磁超音波探触子において互いに隣接して一部が重なり合うように配列された複数のコイルに対して高周波信号を与えて、検査対象物に超音波振動を発生させる第1工程と;前記超音波振動のBエコーを前記複数のコイルのそれぞれで受信する第2工程と;前記超音波振動のFエコーを前記複数のコイルのそれぞれで受信する第3工程と;前記複数のコイルのそれぞれで受信された前記Bエコーの信号強度を、前記複数のコイルの稼働状態に基づいて補正する第4工程と;前記Fエコーの信号強度と補正後の前記Bエコーの信号強度との比率を、前記複数のコイルのそれぞれについて計算し、その計算結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する第5工程と;を有する。
The present invention employs the following means in order to solve the above problems and achieve the object. That is,
(1) In the defect inspection method according to one aspect of the present invention, a high-frequency signal is applied to a plurality of coils arranged adjacent to each other and partially overlapping in an electromagnetic ultrasonic probe, A first step of generating ultrasonic vibrations in the second step; a second step of receiving the B echoes of the ultrasonic vibrations by each of the plurality of coils; and a F echo of the ultrasonic vibrations by each of the plurality of coils. A fourth step of correcting the signal intensity of the B echo received by each of the plurality of coils based on an operating state of the plurality of coils; and a signal intensity of the F echo and after the correction And calculating a ratio of the B echo to the signal intensity of each of the plurality of coils, and evaluating an internal defect of the inspection object based on the calculation result.
(2)上記(1)に記載の欠陥検査方法において、前記第4工程では、任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第1の補正値で補正しても良い。また、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第2の補正値で補正しても良い。さらに、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第3の補正値で補正しても良い。 (2) In the defect inspection method according to (1), in the fourth step, when only one coil adjacent to an arbitrary coil is operating, the B echo received by the arbitrary coil May be corrected with the first correction value. When two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil may be corrected with the second correction value. Furthermore, when two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil may be corrected with a third correction value.
(3)上記(2)に記載の欠陥検査方法において、前記第1の補正値は前記第2の補正値よりも小さくても良い。また、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している場合は、前記第3の補正値をゼロに設定して、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を補正しなくても良い。 (3) In the defect inspection method according to (2), the first correction value may be smaller than the second correction value. Further, when two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the third correction value is set to zero to correct the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil. It is not necessary.
(4)上記(3)に記載の欠陥検査方法が、前記第1工程の前に、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第1の補正値を取得する工程と;前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第2の補正値を取得する工程と;を更に有していても良い。 (4) In the defect inspection method according to (3), the B received by the arbitrary coil in a state where two coils adjacent to the arbitrary coil are operating before the first step. Based on the difference between the signal strength of the echo and the signal strength of the B echo received by the arbitrary coil while only one coil adjacent to the arbitrary coil is operating, the first correction Obtaining a value; signal strength of the B echo received by the arbitrary coil in a state where the two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, and the two coils adjacent to the arbitrary coil And a step of obtaining the second correction value based on a difference from the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil in a state where is not in operation.
(5)本発明の一態様に係る欠陥検査装置は、互いに隣接して一部が重なり合うように配列された複数のコイルを含む電磁超音波探触子と;前記複数のコイルのそれぞれに、検査対象物に超音波振動を発生させるための高周波信号を供給すると共に、前記複数のコイルのそれぞれの出力信号に基づいて、前記複数のコイルのそれぞれで受信された、前記超音波振動のFエコー及びBエコーの信号強度を算出し、その算出結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する演算装置と;を備える。前記演算装置は、前記複数のコイルの稼働状態を判定する稼働状態判定部と、前記複数のコイルの稼働状態に基づいて、前記複数のコイルのそれぞれで受信された前記Bエコーの信号強度を補正する補正実行部と、前記Fエコーの信号強度と補正後の前記Bエコーの信号強度との比率を、前記複数のコイルのそれぞれについて計算する比率演算部と、前記比率演算部による前記比率の計算結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する欠陥評価部と、を備える。 (5) A defect inspection apparatus according to one aspect of the present invention includes an electromagnetic ultrasonic probe including a plurality of coils arranged adjacent to each other and partially overlapping each other; an inspection is performed on each of the plurality of coils. A high-frequency signal for generating ultrasonic vibrations on the object is supplied, and an F echo of the ultrasonic vibrations received by each of the plurality of coils based on output signals of the plurality of coils, and An arithmetic unit that calculates the signal intensity of the B echo and evaluates the internal defect of the inspection object based on the calculation result. The arithmetic device corrects the signal intensity of the B echo received by each of the plurality of coils based on an operation state determination unit that determines an operation state of the plurality of coils and an operation state of the plurality of coils. A correction execution unit for calculating the ratio of the F echo signal intensity to the corrected B echo signal intensity for each of the plurality of coils, and the ratio calculation by the ratio calculation unit. A defect evaluation unit that evaluates an internal defect of the inspection object based on the result.
(6)上記(5)に記載の欠陥検査装置において、前記補正実行部は、前記稼働状態判定部が、任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働していると判定した場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第1の補正値で補正しても良い。また、前記補正実行部は、前記稼働状態判定部が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していないと判定した場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第2の補正値で補正しても良い。さらに、前記補正実行部は、前記稼働状態判定部が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していると判定した場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第3の補正値で補正しても良い。 (6) In the defect inspection apparatus according to (5) above, when the operation state determination unit determines that only one coil adjacent to an arbitrary coil is operating, the correction execution unit The signal intensity of the B echo received by an arbitrary coil may be corrected with the first correction value. In addition, when the operation state determination unit determines that two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating, the correction execution unit determines the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil. May be corrected with the second correction value. Further, when the operation state determination unit determines that two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the correction execution unit determines the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil. May be corrected with the third correction value.
(7)上記(6)に記載の欠陥検査装置において、前記第1の補正値は前記第2の補正値よりも小さくても良い。また、前記補正実行部は、前記稼働状態判定部が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していると判定した場合は、前記第3の補正値をゼロに設定して、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を補正しなくても良い。 (7) In the defect inspection apparatus according to (6), the first correction value may be smaller than the second correction value. Further, when the operation state determination unit determines that two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the correction execution unit sets the third correction value to zero, and The signal intensity of the B echo received by an arbitrary coil may not be corrected.
(8)上記(7)に記載の欠陥検査装置において、前記演算装置が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第1の補正値を取得し、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第2の補正値を取得する補正値取得部を更に備えていても良い。 (8) In the defect inspection apparatus according to (7), the arithmetic unit receives the B echo signal received by the arbitrary coil in a state where two coils adjacent to the arbitrary coil are operating. The first correction value is obtained based on a difference between the intensity and the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil in a state where only one coil adjacent to the arbitrary coil is operating. The signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil while the two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, and the two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating. A correction value acquisition unit that acquires the second correction value based on a difference from the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil in a state may be further provided.
(9)上記(8)に記載の欠陥検査装置において、前記演算装置は、前記補正値取得部が取得した前記第1の補正値及び前記第2の補正値を記憶する補正値記憶部をさらに備えていても良い。 (9) In the defect inspection apparatus according to (8), the arithmetic device further includes a correction value storage unit that stores the first correction value and the second correction value acquired by the correction value acquisition unit. You may have.
上記態様によれば、電磁超音波探触子において、互いに隣接して一部が重なり合うように複数のコイルが配列されるような構成が採用される場合であっても、検査対象物の内部欠陥を正確に評価することが可能となる。 According to the above aspect, even in the case where a configuration in which a plurality of coils are arranged so as to partially overlap each other adjacent to each other is adopted in the electromagnetic ultrasonic probe, the internal defect of the inspection object Can be accurately evaluated.
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
Exemplary embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, in this specification and drawing, about the component which has the substantially same function structure, duplication description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.
[1.電磁超音波装置の構成例]
まず、図1及び図2を参照して、本発明の一実施形態に係る欠陥検査装置(電磁超音波装置:EMAT)100の構成について説明する。図1は、欠陥検査装置100の構成を示す模式図である。欠陥検査装置100は、互いに隣接して一部が重なり合うように配列された複数(例えば8個)のコイルを含む電磁超音波探触子102と、アンプ104(図1において図示省略)と、メジャーリングロール106と、先端検出センサー108と、演算装置110と、表示装置120と、警報装置130とを備えている。[1. Configuration example of electromagnetic ultrasonic device]
First, the configuration of a defect inspection apparatus (electromagnetic ultrasonic apparatus: EMAT) 100 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration of the
検査対象物である鋼板200は、通板テーブル上に載置されて、通板テーブルのローラの駆動によって図1中の矢印A1方向に搬送される。電磁超音波探触子102は、上記8個のコイルによる電磁超音波の送受信によって、鋼板200の内部欠陥202を検出するものであり、鋼板200の幅方向に複数個が配置されている。
図1に示すように、例えば、電磁超音波探触子102は、鋼板200の搬送方向に2列に配置されており、搬送方向の上流側と下流側の列にそれぞれ8個の電磁超音波探触子102が配置されている。また、図1に示すように、上流側と下流側の列の8個の電磁超音波探触子102は、鋼板200の幅方向の位置がそれぞれ異なるように配置されており、上流側の隣接する電磁超音波探触子102の中間に下流側の電磁超音波探触子102が位置している。
このように複数の電磁超音波探触子102を千鳥状に配置することで、上流側の電磁超音波探触子102では検出できない電磁超音波探触子102間に位置する内部欠陥202を、下流側の電磁超音波探触子102で確実に検出することができる。A
As shown in FIG. 1, for example, the electromagnetic
By arranging a plurality of electromagnetic
図2は、図1の矢印A2方向から見た状態を示す模式図である。図2に示すように、電磁超音波探触子102は、鋼板200の上部に近接して配置される。電磁超音波探触子102の底面からは鋼板200に向けて空気が供給されており、この空気によって電磁超音波探触子102の底面と鋼板200との間のギャップが0.5mm程度となるように調整されている。また、アンプ104は電磁超音波探触子102の上部に配置され、電磁超音波探触子102から出力される検出信号(正確には、電磁超音波探触子102に設けられた各コイルの出力信号)を増幅する。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a state seen from the direction of arrow A2 in FIG. As shown in FIG. 2, the electromagnetic
電磁超音波探触子102は、各コイルによって鋼板200の表面に超音波振動を発生させ、鋼板200の底面で反射した超音波が静磁場下で振動することにより発生した渦電流を各コイルで検知する。これにより、底面で反射した超音波振動のエコーレベル(Bエコー)が検出される。また、鋼板200に図1に示す内部欠陥202が生じている場合は、内部欠陥202において超音波振動が反射し、内部欠陥202で反射した超音波振動が電磁超音波探触子102によって検知される。内部欠陥202が生じている場合は、反射した超音波振動のエコーレベル(Fエコー)が変化するため、Bエコーの信号強度に対するFエコーの信号強度の比率(F/B比率)に基づいて内部欠陥202を評価(等級分類)することができる。
The electromagnetic
演算装置110は、各電磁超音波探触子102に対して高周波電流(高周波信号)を供給する機能を有する。つまり、演算装置110は、各電磁超音波探触子102に設けられた8個のコイルのそれぞれに、鋼板200に超音波振動を発生させるための高周波電流を供給する。
また、この演算装置110は、各電磁超音波探触子102の出力信号(つまり、各電磁超音波探触子102に設けられた各コイルの出力信号)に基づいて、各コイルのそれぞれで受信された超音波振動のFエコー及びBエコーの信号強度を算出し、その算出結果に基づいて鋼板200の内部欠陥202を評価する。
The
In addition, the
より具体的には、この演算装置110は、補正値取得部112と、稼働状態判定部114と、補正実行部116と、F/B演算部(比率演算部)117と、欠陥評価部118と、補正値記憶部119とを備えている。
More specifically, the
稼働状態判定部114は、各電磁超音波探触子102ごとに、8個のコイル全ての稼働状態を判定する。具体的には、この稼働状態判定部114は、Fエコー及びBエコーを検出できなかったコイルを故障(つまり、非稼働状態)と判定する自己診断機能を有している。
補正実行部116は、稼働状態判定部114による各コイルの稼働状態の判定結果に基づいて、各コイルのそれぞれで受信されたBエコーの信号強度を補正する。
詳細は後述するが、この補正実行部116は、稼働状態判定部114が、8個のコイルのうち、任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働していると判定した場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度を第1の補正値で補正する。
また、補正実行部116は、稼働状態判定部114が、上記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していないと判定した場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度を第2の補正値で補正する。
さらに、補正実行部116は、稼働状態判定部114が、上記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していると判定した場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度を第3の補正値で補正する。
なお、上記の各補正は、各電磁超音波探触子102の全てについて行われる。The operating
The
Although details will be described later, the
Further, when the operating
Further, when the operation
Note that each of the above corrections is performed for all the electromagnetic
F/B演算部117は、Fエコーの信号強度と補正後のBエコーの信号強度とのF/B比率を、各コイルのそれぞれについて計算する。なお、このF/B比率の計算は、各電磁超音波探触子102の全てについて行われる。欠陥評価部118は、F/B演算部117によるF/B比率の計算結果に基づいて鋼板200の内部欠陥202を評価する。
The F /
補正値取得部112は、8個のコイルのうち、任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度と、上記任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している状態で上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度との差分に基づいて、上記第1の補正値を取得する。
また、この補正値取得部112は、上記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度と、上記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない状態で上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度との差分に基づいて、上記第2の補正値を取得する。
補正値記憶部119は、補正値取得部112が取得した上記の第1の補正値及び第2の補正値を記憶する。
なお、上記の第1の補正値及び第2の補正値の取得は、実際の欠陥検査に先立って、予め、1つの電磁超音波探触子102と検査対象物である鋼板200のサンプルとを用いて実験的に行われる。第1の補正値及び第2の補正値の取得方法の詳細については後述する。The correction
In addition, the correction
The correction
In addition, acquisition of said 1st correction value and said 2nd correction value is carried out in advance before the actual defect inspection, one electromagnetic
表示装置120は、演算装置110による内部欠陥202の評価結果に基づいて、内部欠陥202の評価結果(等級分類)を表示する。また、警報装置130は、内部欠陥202のF/B比率が基準値を超えた場合に警報を発する。基準値を超える内部欠陥202が検出された鋼板200は、通常の搬送経路を離れて、更なる詳細な検査が行われる。
The
図3Aは、鋼板200の搬送方向の探傷位置とFエコー及びBエコーの信号強度との関係を示している。また、図3Bは、探傷位置とF/B比率との関係を示している。図3Aに示すように、鋼板200に内部欠陥202が発生している場合、内部欠陥202の大きさに応じてFエコーの信号強度が上昇し、Bエコーの信号強度が低下する。
FIG. 3A shows the relationship between the flaw detection position in the conveying direction of the
その結果、図3Bに示すように、内部欠陥202が発生している探傷位置では、内部欠陥202が発生していない探傷位置に比べてF/B比率が増加する。そして、内部欠陥202が大きい程、F/B比率が増加する。従って、F/B比率に基づいて、内部欠陥202が発生しているか否かを検知することができ、更に、その内部欠陥202の大きさ及び位置を評価することができる。
As a result, as shown in FIG. 3B, the F / B ratio increases at the flaw detection position where the
また、電磁超音波探触子102と鋼板200表面とのギャップが変化すると、Bエコー及びFエコーの信号強度は変化するが、F/B比率を計算することによってギャップの変化によるBエコー及びFエコーの信号強度の変化量を相殺することができる。更に、F/B比率に基づいて内部欠陥202を評価することで、Fエコー及びBエコーにノイズが含まれていた場合であっても、ノイズ分を相殺することができ、内部欠陥202を高精度に評価することができる。
Further, when the gap between the electromagnetic
鋼板200の幅方向に複数配置された電磁超音波探触子102から出力される検出信号は、演算装置110に伝送される。また、鋼板200の先端からの位置を計測するメジャーリングロール106から出力される位置信号も演算装置110に伝送される。
先端検出センサー108は、鋼板200の先端位置を検出し、その先端位置はメジャーリングロール106が鋼板200の位置を検出する際の基準となる。演算装置110は、F/B比率の信号と位置信号との同期をとり、図4に示すような、鋼板200における内部欠陥202の発生位置を示す欠陥マップを作成する。Detection signals output from the plurality of electromagnetic
The
1つの電磁超音波探触子102の鋼板幅方向の幅は100mm程度であり、隣合う電磁超音波探触子102間の距離をゼロにすることはできない。このため、未検出領域を無くすために、上述のように電磁超音波探触子102は鋼板200の搬送方向に2列に配置され、鋼板200の幅方向の位置が2列で互いに異なるように、いわゆる千鳥配置で配置されている。
The width in the steel plate width direction of one electromagnetic
演算装置110は、このように配置された複数の電磁超音波探触子102から出力される検出信号と、加減速を有して鋼板200を搬送する通板テーブル上を移動する鋼板200の位置とを同期させることで、正確な欠陥位置を認識し、図4に示すような欠陥マップを作成する。これにより、鋼板200の搬送方向のどの位置にどの程度の大きさの内部欠陥202が発生しているかを瞬時に把握することができる。
The
[2.隣接するコイルが検出値に与える影響]
図5は、電磁超音波探触子102によって鋼板200に発生した超音波振動が鋼板200の内部を伝播する様子を示す模式図である。上記のように、各電磁超音波探触子102ごとに、例えば8個のコイルが、互いに隣接して一部が重なるように配列されている。図5では、8個のコイルのうち、3つのコイル1〜3のみを代表的に図示している。各コイル1〜3は、同期をとって超音波の送受信を同時に行っている。[2. Effect of adjacent coil on detection value]
FIG. 5 is a schematic diagram showing a state in which ultrasonic vibration generated in the
図6は、3つのコイル1〜3を図5の矢印A3方向から見た平面図である。図5では、図示の便宜上から、3つのコイル1〜3が一定間隔で重なり合うことなく配置されているように図示されているが、実際には図6に示すように、3つのコイル1〜3は、互いに隣接して一部が重なり合うように配置されている。また、3つのコイル1〜3を含む8個のコイルは、不図示のプリント基板(FPC)上に一列に配置されている。 6 is a plan view of the three coils 1 to 3 as viewed from the direction of arrow A3 in FIG. In FIG. 5, for convenience of illustration, the three coils 1 to 3 are illustrated as being arranged at regular intervals without overlapping, but in reality, as illustrated in FIG. 6, the three coils 1 to 3 are illustrated. Are arranged adjacent to each other and partially overlap each other. Eight coils including three coils 1 to 3 are arranged in a line on a printed circuit board (FPC) (not shown).
図5に示すように、電磁超音波探触子102には、コイル1〜3に対応して永久磁石102aが設けられている。例えばコイル2に着目すると、コイル2に高周波電流が供給されることにより、鋼板200の表面に高周波で変動する磁場M1が発生する。そして、鋼板200の表面には、この磁場M1を打ち消す方向に誘導電流I1が発生する。そして、永久磁石102aによる静磁場M2内の導体(鋼板200)に電流I1が流れることによりローレンツ力Fが発生する。このローレンツ力Fは、コイル2に流れる高周波電流に同期して変動するので、ローレンツ力Fにより鋼板200の表面が振動して超音波振動が発生する。As shown in FIG. 5, the electromagnetic
図5に示すように、コイル2が発生させた超音波振動は鋼板200の底面で反射する。底面で反射したコイル2の超音波のエコーレベル(Bエコー)は、超音波振動を発生したコイル2で受信されるとともに、コイル2に隣接するコイル1,3でも受信される。これは、超音波が広がりをもって遠方に伝播すること、及び、図6に示すように隣接するコイル同士が一部重なっていることに起因する。
As shown in FIG. 5, the ultrasonic vibration generated by the
また、内部欠陥202で反射した超音波振動のエコーレベル(Fエコー)もコイル2によって受信される。コイル2は、反射した超音波が永久磁石102の静磁場下で振動することにより発生した渦電流を検出することで、反射波(Fエコー及びBエコー)を受信する。
The echo level (F echo) of the ultrasonic vibration reflected by the
コイル1,3はコイル2と同期して超音波の送受信を行うので、コイル2は、自身が発生させた超音波振動のBエコーに加えて、隣接する2つのコイル1,3の双方が発生させた超音波振動のBエコーも受信する。
Since the
一方、例えば、コイル1が、8つのコイルの端部に位置している場合、コイル1に隣接するコイルはコイル2のみである。従って、コイル1は、自身が発生させた超音波振動のBエコーに加えて、隣接する1つのコイル2が発生させた超音波振動のBエコーを受信する。その結果、コイル2で受信されたBエコーの信号強度よりも、コイル1で受信されたBエコーの信号強度のほうが小さくなる。
On the other hand, for example, when the coil 1 is located at the end of eight coils, the coil adjacent to the coil 1 is only the
鋼板200に内部欠陥202が生じている場合は、内部欠陥202において超音波振動が反射して、Fエコーが各コイルで受信される。内部欠陥202が超音波振動を受ける面積は、鋼板200の底面が超音波振動を受ける面積よりも小さいので、Fエコーについては隣接するコイルの超音波の影響は小さくなる。また、コイルが受信するまでのFエコーの伝播距離はBエコーよりも短いので、Fエコーに対する隣接するコイルの影響は小さくなる。従って、コイル1〜3のそれぞれで受信されるFエコーの信号強度は、ほぼ同レベルである。
このように、任意のコイルが受信する隣接Fエコー(隣接するコイルが本来受信すべきFエコー)の信号強度は、無視できるほどに小さいが、任意のコイルが受信する隣接Bエコー(隣接するコイルが本来受信すべきBエコー)の信号強度は、無視できないほど大きい。When the
As described above, the signal intensity of the adjacent F echo received by any coil (the F echo that the adjacent coil is supposed to receive) is negligibly small, but the adjacent B echo (adjacent coil) received by the arbitrary coil is small. The signal intensity of the B echo that should be received by the user is so large that it cannot be ignored.
従って、F/B比率に基づいて内部欠陥202を評価した場合、コイル1で受信されたBエコーの信号強度が、コイル2、3で受信されたBエコーの信号強度よりも小さくなるので、コイル1の方がコイル2、3よりもF/B比率が過大となる。
Therefore, when the
このように、電磁超音波探触子102において、複数のコイルが互いに隣接して一部が重なり合うように配置されているので、任意のコイルは、自身が本来受信すべきBエコーに加えて、これに隣接する他のコイルが本体受信すべきBエコーをも受信する。また、他のコイルから発生した電場の影響を受けるため、各コイルの超音波発生タイミングをずらすことができない。従って、任意のコイルは、これに隣接するコイルが本来受信すべきBエコーを必ず受信してしまう。
In this way, in the electromagnetic
内部欠陥202の過小評価は、内部欠陥202を検出することができず、不良のある鋼板200の流出に繋がる。このため、内部欠陥202として認識する基準のサイズを設定し、内部欠陥202の基準のサイズを最も低いF/B比率の値として検出したコイルのF/B比率を判定しきい値として使用する。
これにより、他のコイルで基準のサイズを検出したときのF/B比率は判定しきい値以上となり、内部欠陥202が過小評価により検出されない事態を確実に防ぐことができる。図5に示す例では、コイル2のF/B比率がコイル1F/B比率よりも低いので、コイル2が基準のサイズを検出したときのF/B比率が判定しきい値となる。この場合、少なくともコイル1のF/B比率は、コイル2のF/B比率よりも大きくなるので、コイル1のF/B比率に基づく評価を行うと、内部欠陥202を過大評価することになる。従って、端部に位置するコイル1のF/B比率に基づいて内部欠陥202を正常に評価することが困難となる。
The underestimation of the
Thereby, the F / B ratio when the reference size is detected by another coil is equal to or greater than the determination threshold value, and it is possible to reliably prevent the situation in which the
[3.本実施形態の具体的構成例]
本実施形態では、任意コイルに対する隣接コイルの影響を抑えるため、各コイルの稼働状態に応じて、各コイルで受信されたBエコーの信号強度に補正を加える。図7は、8個のコイルをch1〜ch8として示し、各chにおける超音波の送信をオン(ON:稼働状態)またはオフ(OFF:非稼働状態)させた場合の14通りの例(水準1〜14)を示している。コイルch4は、Bエコーを検出するデータ採取対象のコイルであり、常にオンである。図8は、図7に示す水準1〜14のそれぞれについて、データ採取対象chであるコイルch4のBエコーの信号強度を実測した値(dB)を示す特性図である。
[3. Specific configuration example of the embodiment]
In this embodiment, in order to suppress the influence of the adjacent coil on the arbitrary coil, the signal intensity of the B echo received by each coil is corrected according to the operating state of each coil. FIG. 7 shows eight coils as ch1 to ch8, and 14 examples when the transmission of ultrasonic waves in each ch is turned on (ON: operating state) or turned off (OFF: non-operating state) (level 1). To 14). The coil ch4 is a data collection target coil for detecting the B echo, and is always on. FIG. 8 is a characteristic diagram showing a value (dB) obtained by actually measuring the signal intensity of the B echo of the coil ch4 that is the data collection target ch for each of the levels 1 to 14 shown in FIG.
図7の水準1では、8つのコイル(ch1〜8)の超音波送信を全てオンとした場合を示している。水準2は、左端のコイルch1のみオフとし、他のコイルをオンとした場合を示している。水準3は、両端のコイルch1及びch8をオフとし、他のコイルをオンとした場合を示している。水準4以降の水準8までは、コイルch4からより離れたコイルから順次にオフにしている。また、水準9では、コイルch4以外を全てオフにした場合を示している。更に、水準9以降は、ch3、ch5よりも外側のコイルの1つを順次にオンとした場合を示している。
Level 1 in FIG. 7 shows a case where all the ultrasonic transmissions of the eight coils (ch1 to 8) are turned on.
本実施形態においては、図8に示すように、ch4に隣接する2つのch3,5がオンである場合(水準1〜6)と比較すると、ch4に隣接するch3,5の1つがオンの場合(水準7、8)はBエコーの信号強度に2dBの低下が生じることが判明した。また、ch4に隣接するchが2つともオフの場合(水準9〜14)は、Bエコーの信号強度に4dBの低下が生じることが判明した。 In the present embodiment, as shown in FIG. 8, when one of ch3 and 5 adjacent to ch4 is on as compared to the case where two ch3 and 5 adjacent to ch4 are on (levels 1 to 6). (Levels 7 and 8) were found to cause a 2 dB drop in the B echo signal intensity. It was also found that when both the channels adjacent to ch4 are off (levels 9 to 14), the signal intensity of the B echo is reduced by 4 dB.
また、図7ではデータ採取対象のコイルをch4としているが、両端に位置するch1またはch8で検出した場合、ch1またはch8は隣接するコイルが1個のみであるので、隣接するコイルの1つが常にオフ(非稼働状態)である場合と等価である。従って、コイルch1においては、隣接するコイルch2がオンであってもBエコーの信号強度に2dBの低下が生じる。
また、コイルch1については、隣接するコイルch2がオフの場合はBエコーの信号強度に4dBの低下が生じる。同様に、コイルch8については、隣接するコイルch7がオンであってもBエコーの信号強度に2dBの低下が生じ、隣接するコイルch7がオフの場合は4dBの低下が生じる。このように、端部に位置するコイルについては、隣接するコイルが正常であってもBエコーの信号強度に低下が生じることが判る。In FIG. 7, the data collection target coil is ch4. However, when ch1 or ch8 is detected at both ends, ch1 or ch8 has only one adjacent coil, so one of the adjacent coils is always present. Equivalent to the case of off (non-operating state). Therefore, in the coil ch1, even if the adjacent coil ch2 is on, the signal intensity of the B echo is reduced by 2 dB.
For the coil ch1, when the adjacent coil ch2 is off, the signal intensity of the B echo is reduced by 4 dB. Similarly, for the coil ch8, even if the adjacent coil ch7 is on, the signal intensity of the B echo is reduced by 2 dB, and when the adjacent coil ch7 is off, the reduction is 4 dB. As described above, regarding the coil located at the end portion, it can be seen that the signal intensity of the B echo is lowered even if the adjacent coil is normal.
内部欠陥202を評価する際に、Bエコーの信号強度の4dBの差は、軽度の欠陥と中程度の欠陥と違い程度に相当する。JIS G 0801相当の基準で内部欠陥202の評価を行う場合には、この差は実運用上無視することができないレベルである。従って、Bエコーの信号強度の差が内部欠陥202の評価レベルに影響を与えるため、信号強度の過大評価を確実に抑えることが必要である。
When evaluating the
以上の結果から、本実施形態では、各コイルの稼働状態に応じて、各コイルで受信されたBエコーの信号強度を補正する。これにより、各コイルで受信されたBエコーの信号強度が均一化され、F/B比率に基づいて評価した場合の内部欠陥202の検出レベルの誤差を解消して、内部欠陥202の評価を安定化させることが可能である。
From the above results, in the present embodiment, the signal intensity of the B echo received by each coil is corrected according to the operating state of each coil. As a result, the signal intensity of the B echo received by each coil is made uniform, the error of the detection level of the
具体的には、図8に示す例では、任意のコイルに隣接するコイルの1つのみが稼働状態(オン)の場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に2dBを加算し、上記任意のコイルに隣接するコイルの2つが非稼働状態(オフ)の場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に4dBを加算する。 Specifically, in the example shown in FIG. 8, when only one of the coils adjacent to an arbitrary coil is in an operating state (ON), 2 dB is added to the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil. If two of the coils adjacent to the arbitrary coil are in a non-operating state (off), 4 dB is added to the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil.
上述したように、各電磁超音波探触子102の両端に位置するコイルch1,ch8については、隣接するコイルが1つのみであるので、隣接する1つのコイルが常にオフ(非稼働状態)である場合と等価である。従って、コイルch1に隣接するコイルch2がオンの場合、コイルch1で受信されたBエコーの信号強度に2dBを加算し、コイルch1に隣接するコイルch2がオフの場合は、コイルch1で受信されたBエコーの信号強度に4dBを加算する。コイルch8で受信されたBエコーの信号強度についても同様の補正を行う。
As described above, with respect to the coils ch1 and ch8 located at both ends of each electromagnetic
コイルがオフになる要因としては、例えば、電磁超音波探触子102を鋼板200上に配置する際に、電磁超音波探触子102と鋼板200が接触した際の衝撃でコイルが断線する場合ことが考えられる。このような要因で任意のコイルがオフとなった場合であっても、Bエコーの信号強度に上述した補正を行うことで、欠陥検査を継続的に行うことが可能である。
For example, when the electromagnetic
なお、上述した基準レベルの内部欠陥202を人工的に形成したプレート(検査対象物のサンプル)を探傷することで、コイルの断線を検知することができる。この際、断線したコイルではFエコーが受信されないので、Fエコーが受信されないコイルに断線が生じたと診断することができる。
It is to be noted that the disconnection of the coil can be detected by flaw-detecting the plate (sample to be inspected) in which the above-described
以上のように、本実施形態によれば、各コイルで受信されたBエコーの信号強度が正常な値(均一な値)となるので、正常でない信号強度(均一でない信号強度)によって内部欠陥202の過大評価が行われてしまうことを確実に抑止することが可能となる。
As described above, according to the present embodiment, the signal intensity of the B echo received by each coil becomes a normal value (uniform value), and therefore the
なお、上記実施形態では、任意のコイルに隣接するコイルの1つがオフの場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に2dBを加算し、上記任意のコイルに隣接するコイルの2つがオフの場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に4dBを加算するという補正を行ったが、これらの補正量は装置に適合させて適宜設定することができる。具体的には、予め水準1〜14について図8の特性を取得し、任意のコイルに隣接するコイルの1つがオフの場合と、任意のコイルに隣接するコイルの2つがオフの場合とのそれぞれにおいて、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の低下量を測定しておき、低下量に合わせた補正量を設定する。 In the above embodiment, when one of the coils adjacent to an arbitrary coil is off, 2 dB is added to the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil, and the coil adjacent to the arbitrary coil is added. When the two were off, correction was performed by adding 4 dB to the signal intensity of the B echo received by the above-mentioned arbitrary coil, but these correction amounts can be appropriately set according to the apparatus. Specifically, the characteristics of FIG. 8 are acquired in advance for levels 1 to 14, and each of a case where one of the coils adjacent to an arbitrary coil is off and a case where two of the coils adjacent to the arbitrary coil are off, respectively. , The reduction amount of the signal intensity of the B echo received by an arbitrary coil is measured, and a correction amount according to the reduction amount is set.
また、上記実施形態では、各電磁超音波探触子102ごとに、8個のコイルが一列に配置されている場合を例に挙げて説明したが、コイル数は8個に限定されない。また、複数のコイルが複数の列に配置されていても良く、また、複数のコイルがマトリクス状に配置されていても良い。電磁超音波探触子102の数も2列×8個に限定されない。これらの場合においても、任意のコイルに隣接する各コイルをオン/オフして、隣接する各コイルのオン/オフ状態と、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の低下量との相関を予め取得しておくことで、各コイルの稼働状態に応じて、各コイルで受信されたBエコーの信号強度を補正することができる。
In the above-described embodiment, the case where eight coils are arranged in a row for each electromagnetic
また、上記実施形態では、任意のコイルに隣接するコイルの2つが稼働している場合を基準として、任意のコイルに隣接するコイルの1つが非稼働の場合は、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に2dBを加算し、任意のコイルに隣接するコイルの2つが非稼働の場合は、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に4dBを加算するという補正を行った。 Moreover, in the said embodiment, when one of the coils adjacent to an arbitrary coil is non-operating on the basis of the case where two of the coils adjacent to an arbitrary coil are operating, B received by an arbitrary coil Correction was performed by adding 2 dB to the echo signal intensity and adding 4 dB to the B echo signal intensity received by the arbitrary coil when two of the coils adjacent to the arbitrary coil are not operating.
これに対し、任意のコイルに隣接するコイルの2つが稼働していない場合を基準として補正を行っても良い。この場合、任意のコイルに隣接するコイルの1つが非稼働の場合は、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度から2dBを減算し、任意のコイルに隣接するコイルの2つが非稼働の場合は、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度から4dBを減算する。この場合においても、電磁超音波探触子102が備える各コイルで受信されたBエコーの信号強度を均一にすることができる。しかしながら、前記した隣接するコイルの2つが稼働している場合が一般的である。よって、若干補正演算処理(計算時間等)が多くなる傾向がある。
On the other hand, you may correct | amend on the basis of the case where two of the coils adjacent to arbitrary coils are not operating. In this case, when one of the coils adjacent to an arbitrary coil is not operating, 2 dB is subtracted from the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil, and two of the coils adjacent to the arbitrary coil are not operating. In this case, 4 dB is subtracted from the signal intensity of the B echo received by an arbitrary coil. Even in this case, the signal intensity of the B echo received by each coil included in the electromagnetic
上記のように、演算装置110は、補正値取得部112と、稼働状態判定部114と、補正実行部116と、F/B演算部117と、欠陥評価部118と、補正値記憶部119とを備えている。
As described above, the
補正値取得部112は、事前に水準1〜14について図8の特性を取得し、任意のコイルに隣接するコイルの1つがオフの状態で、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の低下量を第1の補正値として取得する。また、補正値取得部112は、任意のコイルに隣接するコイルの2つがオフの状態で任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の低下量を第2の補正値として取得する。
補正値記憶部119は、補正値取得部112が取得した第1の補正値及び第2の補正値を記憶する。
なお、前述のように、第1の補正値及び第2の補正値の取得は、実際の欠陥検査に先立って、予め、1つの電磁超音波探触子102と鋼板200のサンプルとを用いて実験的に行われる。The correction
The correction
As described above, the acquisition of the first correction value and the second correction value is performed using one electromagnetic
稼働状態判定部114は、各電磁超音波探触子102ごとに、8つのコイルch1〜ch8の稼働状態を判定する。
補正実行部116は、稼働状態判定部114による各コイルの稼働状態判定結果に応じて補正を実行する。上述の例では、補正実行部116は、任意のコイルに隣接するコイルの1つのみが稼働している場合は、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に、第1の補正値として予め設定した値である2dBを加算する。
また、補正実行部116は、任意のコイルに隣接するコイルの2つが稼働していない場合は、上位任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に、第2の補正値として予め設定した値である4dBを加算する。
また、補正実行部116は、任意のコイルに隣接するコイルが2つとも稼働している場合は、第3の補正値をゼロに設定して、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度を補正しない。なお、上記の各補正は、各電磁超音波探触子102の全てについて行われる。The operating
The
Further, when two of the coils adjacent to an arbitrary coil are not operating, the
The
F/B演算部117は、Fエコーの信号強度と補正後のBエコーの信号強度との比率(F/B比率)を、各コイルのそれぞれについて計算する。なお、このF/B比率の計算は、各電磁超音波探触子102の全てについて行われる。欠陥評価部118は、F/B演算部117によるF/B比率の計算結果に基づいて鋼板200の内部欠陥202を評価する。
The F /
なお、図1に示す演算装置110の構成要素は、回路(ハードウェア)、またはCPUなどの中央演算処理装置とこれを機能させるためのプログラム(ソフトウェア)によって構成することができる。 1 can be configured by a circuit (hardware) or a central processing unit such as a CPU and a program (software) for causing it to function.
[4.本実施形態に係るBエコーの信号強度の補正処理]
図9は、本実施形態に係るBエコーの信号強度の補正処理を示すフローチャートである。先ず、ステップS10では、補正値取得部112が、実際の欠陥検査に先立って、事前に水準1〜14について図8の特性を取得し、任意のコイルに隣接するコイルの1つがオフの状態で上記任意のコイルで受信されたBエコーの受信強度の低下量を第1の補正値として取得し、任意のコイルに隣接するコイルの2つがオフの状態で上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の低下量を第2の補正値として取得する。[4. B Echo Signal Strength Correction Process According to this Embodiment]
FIG. 9 is a flowchart showing a process for correcting the signal intensity of the B echo according to the present embodiment. First, in step S10, the correction
次のステップS12〜S14では、稼働状態判定部114が、各電磁超音波探触子102ごとに、8つのコイルch1〜ch8のそれぞれの稼働状態を判定する。具体的には、先ずステップS12では、任意のコイルに隣接する2つのコイルの双方が非稼働であるか否かを判定し、2つのコイルの双方が非稼働でない場合はステップS14へ進む。2つのコイルの双方が非稼働の場合は、ステップS20へ進み、補正実行部116が、第2の補正値(4dB)を、任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に加算する。
In the next steps S12 to S14, the operation
ステップS14では、稼働状態判定部114が、各電磁超音波探触子102ごとに、任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが非稼働であるか否かを判定し、隣接する1つのコイルのみが非稼働の場合はステップS18へ進む。ステップS18では、補正実行部116が、第1の補正値(2dB)を、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度に加算する。
In step S <b> 14, the operating
ステップS14において、隣接する1つのコイルが非稼働でない場合は、ステップS16へ進む。この場合、隣接する2つのコイルの双方が稼働しているため、ステップS16では、上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の補正は行わない。換言すれば、ステップS16へ進んだ場合は、補正実行部116は第3の補正値をゼロに設定して上記任意のコイルで受信されたBエコーの信号強度の補正は行わない。ステップS16,S18,S20の後は処理を終了する。
In step S14, when one adjacent coil is not inactive, the process proceeds to step S16. In this case, since both of the two adjacent coils are operating, in step S16, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is not corrected. In other words, when the process proceeds to step S16, the
以上説明したように、本実施形態によれば、隣接するコイルの影響によるBエコーの信号強度の低下を補償することが可能となり、各コイルで受信されたBエコーの信号強度を正常化し、均一化することが可能となる。これにより、内部欠陥202の過検出による不合格判定を確実に削減することができる。また、隣接するコイルが少ない末端のコイルにおいてもS/N比を向上させることができ、疑似欠陥による不合格判定を大幅に削減することが可能となる。
As described above, according to the present embodiment, it is possible to compensate for the decrease in the signal intensity of the B echo due to the influence of adjacent coils, normalize the signal intensity of the B echo received by each coil, and make it uniform. Can be realized. Thereby, the rejection determination by the overdetection of the
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 The preferred embodiments of the present invention have been described in detail above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to such examples. It is obvious that a person having ordinary knowledge in the technical field to which the present invention pertains can come up with various changes or modifications within the scope of the technical idea described in the claims. Of course, it is understood that these also belong to the technical scope of the present invention.
100 欠陥検査装置
102 電磁超音波探触子
104 アンプ
106 メジャーリングロール
108 先端検出センサー
110 演算装置
112 補正値取得部
114 稼働状態判定部
116 補正判定部
117 F/B演算部(比率演算部)
118 欠陥評価部
119 補正値記憶部
120 表示装置
130 警報装置
200 鋼板(検査対象物)
202 内部欠陥
1〜3、ch1〜ch8 コイルDESCRIPTION OF
118
202 Internal defect 1-3, ch1-ch8 coil
Claims (9)
電磁超音波探触子において互いに隣接して一部が重なり合うように配列された複数のコイルに対して高周波信号を与えて、検査対象物に超音波振動を発生させる第1工程と;
前記超音波振動のBエコーを前記複数のコイルのそれぞれで受信する第2工程と;
前記超音波振動のFエコーを前記複数のコイルのそれぞれで受信する第3工程と;
前記複数のコイルのそれぞれで受信された前記Bエコーの信号強度を、前記複数のコイルの稼働状態に基づいて補正する第4工程と;
前記Fエコーの信号強度と補正後の前記Bエコーの信号強度との比率を、前記複数のコイルのそれぞれについて計算し、その計算結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する第5工程と;
を有することを特徴とする欠陥検査方法。
A first step of generating ultrasonic vibrations on an object to be inspected by applying a high-frequency signal to a plurality of coils arranged so as to partially overlap each other in the electromagnetic ultrasonic probe;
A second step of receiving the B echo of the ultrasonic vibration by each of the plurality of coils;
A third step of receiving an F echo of the ultrasonic vibration by each of the plurality of coils;
A fourth step of correcting the signal intensity of the B echo received by each of the plurality of coils based on an operating state of the plurality of coils;
A fifth step of calculating a ratio between the signal intensity of the F echo and the corrected signal intensity of the B echo for each of the plurality of coils, and evaluating an internal defect of the inspection object based on the calculation result When;
A defect inspection method characterized by comprising:
任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第1の補正値で補正し、
前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第2の補正値で補正し、
前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第3の補正値で補正する、
ことを特徴とする請求項1に記載の欠陥検査方法。In the fourth step,
When only one coil adjacent to an arbitrary coil is operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is corrected with the first correction value,
When two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is corrected with a second correction value,
When two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is corrected with a third correction value.
The defect inspection method according to claim 1.
前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している場合は、前記第3の補正値をゼロに設定して、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を補正しないことを特徴とする請求項2に記載の欠陥検査方法。The first correction value is smaller than the second correction value;
When two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the third correction value is set to zero, and the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is not corrected. The defect inspection method according to claim 2, wherein:
前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第1の補正値を取得する工程と;
前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第2の補正値を取得する工程と;
を更に有することを特徴とする請求項3に記載の欠陥検査方法。Before the first step,
The signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil while two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, and the state where only one coil adjacent to the arbitrary coil is operating Obtaining the first correction value based on a difference from the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil in the step;
In the state where the two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil, and the two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating Obtaining the second correction value based on a difference from the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil;
The defect inspection method according to claim 3, further comprising:
前記複数のコイルのそれぞれに、検査対象物に超音波振動を発生させるための高周波信号を供給すると共に、前記複数のコイルのそれぞれの出力信号に基づいて、前記複数のコイルのそれぞれで受信された、前記超音波振動のFエコー及びBエコーの信号強度を算出し、その算出結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する演算装置と;
を備え、
前記演算装置は、
前記複数のコイルの稼働状態を判定する稼働状態判定部と、
前記複数のコイルの稼働状態に基づいて、前記複数のコイルのそれぞれで受信された前記Bエコーの信号強度を補正する補正実行部と、
前記Fエコーの信号強度と補正後の前記Bエコーの信号強度との比率を、前記複数のコイルのそれぞれについて計算する比率演算部と、
前記比率演算部による前記比率の計算結果に基づいて前記検査対象物の内部欠陥を評価する欠陥評価部と、
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。An electromagnetic ultrasound probe including a plurality of coils arranged adjacent to each other and partially overlapping;
Each of the plurality of coils is supplied with a high-frequency signal for generating ultrasonic vibration in the inspection object, and received by each of the plurality of coils based on the output signal of each of the plurality of coils. An arithmetic device that calculates the signal intensity of the F echo and the B echo of the ultrasonic vibration and evaluates an internal defect of the inspection object based on the calculation result;
With
The arithmetic unit is:
An operation state determination unit for determining operation states of the plurality of coils;
A correction execution unit for correcting the signal intensity of the B echo received by each of the plurality of coils based on the operating state of the plurality of coils;
A ratio calculation unit that calculates a ratio between the signal intensity of the F echo and the signal intensity of the corrected B echo for each of the plurality of coils;
A defect evaluation unit that evaluates internal defects of the inspection object based on the calculation result of the ratio by the ratio calculation unit;
A defect inspection apparatus comprising:
前記稼働状態判定部が、任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働していると判定した場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第1の補正値で補正し、
前記稼働状態判定部が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していないと判定した場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第2の補正値で補正し、
前記稼働状態判定部が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していると判定した場合は、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を第3の補正値で補正する
ことを特徴とする請求項5に記載の欠陥検査装置。The correction execution unit
When the operating state determination unit determines that only one coil adjacent to an arbitrary coil is operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is corrected with a first correction value. And
When the operating state determination unit determines that two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is corrected with a second correction value. And
When the operating state determination unit determines that two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil is corrected with a third correction value. The defect inspection apparatus according to claim 5, wherein:
前記補正実行部は、前記稼働状態判定部が、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していると判定した場合は、前記第3の補正値をゼロに設定して、前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度を補正しないことを特徴とする請求項6に記載の欠陥検査装置。The first correction value is smaller than the second correction value;
When the operation state determination unit determines that two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, the correction execution unit sets the third correction value to zero, and The defect inspection apparatus according to claim 6, wherein the signal intensity of the B echo received by the coil is not corrected.
前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する1つのコイルのみが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第1の補正値を取得し、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働している状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度と、前記任意のコイルに隣接する2つのコイルが稼働していない状態で前記任意のコイルで受信された前記Bエコーの信号強度との差分に基づいて、前記第2の補正値を取得する補正値取得部を更に備えることを特徴とする請求項7に記載の欠陥検査装置。The arithmetic unit is:
The signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil while two coils adjacent to the arbitrary coil are operating, and the state where only one coil adjacent to the arbitrary coil is operating The first correction value is acquired based on the difference from the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil in the state where the two coils adjacent to the arbitrary coil are operating. The difference between the signal intensity of the B echo received by an arbitrary coil and the signal intensity of the B echo received by the arbitrary coil when two coils adjacent to the arbitrary coil are not operating. The defect inspection apparatus according to claim 7, further comprising a correction value acquisition unit that acquires the second correction value based on the correction value acquisition unit.
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