JP5524308B2 - 構造光照明を用いる光学撮像システム - Google Patents
構造光照明を用いる光学撮像システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5524308B2 JP5524308B2 JP2012222014A JP2012222014A JP5524308B2 JP 5524308 B2 JP5524308 B2 JP 5524308B2 JP 2012222014 A JP2012222014 A JP 2012222014A JP 2012222014 A JP2012222014 A JP 2012222014A JP 5524308 B2 JP5524308 B2 JP 5524308B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical system
- optical
- coherent
- objective
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/082—Condensers for incident illumination only
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/48—Laser speckle optics
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/58—Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
光路を形成するコヒーレント光を出力するコヒーレント光源、
光路上に配置され、コヒーレント光を受け取る空間光変調器であって、そのパターンが、選ばれた位相及び方位にある複数本の回折コヒーレント光ビームを発生するように構成される空間光変調器、
光路上に配置され、複数本の回折コヒーレント光ビームが交差して構造光パターンを形成する、少なくとも1つの像面を形成する複数枚の光学レンズ、
回折コヒーレント光ビームのコヒーレンス性を崩すように構成された、共役像平面の1つに配置された回転または振動するディフューザー、
コヒーレンスが崩された複数本の回折光ビームを受け取る対物光学系、及び
試料を載せる、対物光学系の前方焦平面近傍に配置された、対物光学系近傍にあるステージ、
を備える光学系を開示する。
試料に近い第1の側及び試料から遠い第2の側を有する対物光学系、
対物光学系の第1の側に配置されたステージであって、対物光学系に向かう方向及び対物光学系から離れる方向に移動するように、またステージの対物レンズに近い側の表面上に試料を載せるように構成された、ステージ、
対物光学系の面上に入射光ビームを反射するため及び像記録デバイスに試料からの散乱光を送るための、光路上に配置された50/50ビームスプリッター、
対物光学系を通過する光路を形成するコヒーレント光を放射するコヒーレント光源、
光路上に配置され、対物光学系の焦平面にコヒーレント光の構造光パターンを発生するように構成された、空間光変調器、
光路上に配置された複数枚の光学レンズ及びミラーであって、構造光パターンの少なくとも1つの共役像平面がそれによって光路上に形成される複数枚の光学レンズ及びミラー、
及び
コヒーレント光のコヒーレンスを崩すように構成され、少なくとも1つの共役像平面に配置された、回転ディフューザー、
を有する光学顕微鏡を備える、非コヒーレント構造光照明を用いる光学撮像システムを開示する。
(1)構造光パターンの横方向周期性が回折限界に近づき得るように、+1次及び−1次の回折ビームの入射位置は対物光学系の周縁の近くでなければならない、及び
(2)共役像平面に形成される構造光パターンを試料が置かれる像平面において見ることができるように、3本の回折ビームは漸次集中されて、対物光学系の後方焦平面に集束されるべきである、
によって決定される。
31 コヒーレント光源
32 SLM
33,46 回転ディフューザー
34 マスク
35 ステージ
36 共役像平面
36' 対物レンズの後方焦平面
37,47 対物光学系
40,50 光学撮像システム
41 He-Neレーザ
42 ビームエキスパンダー
43 ステージ
44 位相限定SLM
44a パターン付標的
45a,45b,45c,45d,45e レンズ
47 対物光学系
48 対物光学系の後方焦平面
49 CCDカメラ
55' 1/4波長板
55a,55b,55c,55d レンズ
411 50/50ビームスプリッター
412 チューブレンズ
413 リレーレンズ
414 光学顕微鏡
Claims (27)
- 非コヒーレント構造光照明を用いる光学撮像システムにおいて、
光学顕微鏡であり、
試料に近い第1の側、試料から遠い第2の側、前方焦平面及び後方焦平面を有する対物光学系であって、前記前方焦平面は前記試料に重なるものである対物光学系と、
前記対物光学系の前記第1の側に配置されたステージであって、前記対物光学系に向かう方向及び前記対物光学系から離れる方向に移動するように、また前記ステージの前記対物光学系に近い側の表面に試料を載せるように構成された、ステージと、
を備えた光学顕微鏡、
前記対物光学系の前記第2の側上に入射光ビームを反射するため及び撮像記録デバイスに前記試料からの散乱光を送るための、光路上に配置された50/50ビームスプリッター、
前記対物光学系を通る光路を形成するコヒーレント光を放射するコヒーレント光源、
前記光路上に配置され、前記対物光学系の前記前方焦平面に前記コヒーレント光からの構造光パターンを形成するように構成された、空間光変調器、
前記光路上に配置された複数枚の光学レンズであって、前記構造光パターンの少なくとも1つの共役像平面がそれによって前記光路上に形成される光学レンズ、
及び
前記コヒーレント光のコヒーレンスを崩すように構成され、前記少なくとも1つの共役像平面に配置された、回転ディフューザー、
を備えることを特徴とするシステム。 - 前記光路上に配置された1/4波長板をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記試料から散乱された光を受け取るように構成された、前記対物光学系の前記第2の側に配置された電荷結合素子カメラをさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記空間光変調器が、パターン付物体、光回折格子または液晶空間光変調器を含むことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記空間光変調器が複数のピクセルを有し、前記ピクセルの内の一部が入射光ビームの位相をシフトさせるために制御されることを特徴とする請求項4に記載のシステム。
- 前記光変調器が前記コヒーレント光源から少なくとも、0次、+1次及び−1次の回折ビームを発生するように構成されることを特徴とする請求項4に記載のシステム。
- 前記構造光照明パターンが、複数本の光ビームの交差によるかまたはパターン付物体の前記照明からの投影によって形成されることを特徴とする請求項4に記載のシステム。
- 前記空間変調器が前記構造光パターンの位相及び方位を変えることを特徴とする請求項4に記載のシステム。
- 方位が相異なる前記構造光パターンが実質的に同等の周期性を有することを特徴とする請求項4に記載のシステム。
- 前記構造光パターンが二次元パターンまたは三次元パターンを含むことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記複数枚のレンズが、3本の回折ビームが交差する少なくとも1つの共役像平面が前記光路上に形成されるような、特定の位置に配置されることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記複数枚のレンズが、前記空間光変調器からの前記+1次回折ビーム及び前記−1次回折ビームが前記対物光学系の縁端に近づくような、特定の位置に配置されることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記複数枚のレンズが、前記空間光変調器の前記回折ビームが前記対物光学系の前記後方焦平面上に集束されるような、特定の位置に配置されることを特徴とする請求項12に記載のシステム。
- 前記回転ディフューザーが、前記光源に対して透明であり、光コヒーレンスを崩すための、粗表面を有するかまたは光学コーティングを表面に有する、プレートまたは磨りガラスを有することを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記ディフューザーが前記光路を軸にして連続的に360°回転することを特徴とする請求項14に記載のシステム。
- 前記ディフューザーが前記光路を軸にして急速にまた連続的に振動することを特徴とする請求項14に記載のシステム。
- 前記ステージが、前記対物光学系に向かうかまたは前記対物系から離れる方向に移動するように、圧電変換器によって制御されることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 非コヒーレント構造光照明を発生する光学系において、前記光学系が、
光路を形成するコヒーレント光を出力するコヒーレント光源、
前記光路上に配置され、前記コヒーレント光を受け取る空間光変調器であって、複数本の回折コヒーレント光ビームを発生し、前記光ビームが交差する構造光パターンを形成するように構成される空間光変調器、
前記光路上に配置され、前記複数本の回折コヒーレント光ビームが交差する少なくとも1つの像平面を形成する、複数枚の光学レンズ、
前記共役像平面の1つに配置され、前記回折コヒーレント光ビームのコヒーレンスを有効に崩すように構成された、回転ディフューザー、
コヒーレンスが強度に崩されている前記複数本の回折光ビームを受け取る対物光学系、及び
試料を載せ、前記対物光学系の前方焦平面近傍に配置された、前記対物光学系の近傍にあるステージ、
を備えることを特徴とする光学系。 - 前記空間光変調器が、パターン付物体、光回折格子または液晶空間光変調器を含むことを特徴とする請求項18に記載の光学系。
- 前記構造光パターンが、複数本の光ビームの交差によるかまたはパターン付物体の照明からの投影によって形成されることを特徴とする請求項19に記載の光学系。
- 前記光変調器が前記コヒーレント光源から少なくとも、0次、+1次及び−1次の回折ビームを発生することを特徴とする請求項18に記載の光学系。
- 前記回転ディフューザーが、前記光源に対して透明であり、光コヒーレンスを崩すための、粗表面を有するかまたは光学コーティングを表面に有する、プレートまたは磨りガラスを有することを特徴とする請求項18に記載の光学系。
- 前記ディフューザーが前記光路を軸にして連続的に360°回転することを特徴とする請求項22に記載の光学系。
- 前記ディフューザーが前記光路を軸にして急速にまた連続的に振動することを特徴とする請求項22に記載の光学系。
- 前記構造光パターンが二次元パターンまたは三次元パターンを含むことを特徴とする請求項18に記載の光学系。
- 前記複数枚の光学レンズが、前記空間光変調器からの前記+1次回折ビーム及び前記−1次回折ビームが前記対物光学系の縁端に近づくような、特定の位置に配置されることを特徴とする請求項18に記載の光学系。
- 前記複数枚のレンズが、前記空間光変調器からの前記回折ビームが前記対物光学系の後方焦平面上に集束されるような、特定の位置に配置されることを特徴とする請求項26に記載の光学系。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201161548894P | 2011-10-19 | 2011-10-19 | |
US61/548,894 | 2011-10-19 | ||
US13/408,803 | 2012-02-29 | ||
US13/408,803 US9599805B2 (en) | 2011-10-19 | 2012-02-29 | Optical imaging system using structured illumination |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013088808A JP2013088808A (ja) | 2013-05-13 |
JP5524308B2 true JP5524308B2 (ja) | 2014-06-18 |
Family
ID=48135776
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012222014A Active JP5524308B2 (ja) | 2011-10-19 | 2012-10-04 | 構造光照明を用いる光学撮像システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9599805B2 (ja) |
JP (1) | JP5524308B2 (ja) |
TW (1) | TWI460468B (ja) |
Families Citing this family (57)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014020911A1 (ja) * | 2012-08-01 | 2014-02-06 | 株式会社ニコン | 観察装置 |
DE102012017920B4 (de) * | 2012-09-11 | 2023-11-30 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optikanordnung und Lichtmikroskop |
CN108761752A (zh) | 2012-10-30 | 2018-11-06 | 加州理工学院 | 傅立叶重叠关联成像系统、设备和方法 |
US10652444B2 (en) | 2012-10-30 | 2020-05-12 | California Institute Of Technology | Multiplexed Fourier ptychography imaging systems and methods |
US9864184B2 (en) | 2012-10-30 | 2018-01-09 | California Institute Of Technology | Embedded pupil function recovery for fourier ptychographic imaging devices |
US20140235948A1 (en) * | 2013-02-19 | 2014-08-21 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Method for single-fiber microscopy using intensity-pattern sampling and optimization-based reconstruction |
US9194811B1 (en) * | 2013-04-01 | 2015-11-24 | Kla-Tencor Corporation | Apparatus and methods for improving defect detection sensitivity |
DK2997353T3 (da) | 2013-05-15 | 2023-01-16 | The Administrators Of The Tulane Educational Fund | Mikroskopi af en vævsprøve under anvendelse af struktureret belysning |
CA2919985A1 (en) | 2013-07-31 | 2015-02-05 | California Institute Of Technology | Aperture scanning fourier ptychographic imaging |
AU2014308673A1 (en) | 2013-08-22 | 2016-03-03 | California Institute Of Technology | Variable-illumination Fourier ptychographic imaging devices, systems, and methods |
JP6194710B2 (ja) * | 2013-09-11 | 2017-09-13 | 株式会社ニコン | 構造化照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 |
CN105814402B (zh) * | 2013-11-27 | 2018-11-06 | 苏州大学 | 连续可调结构光照明的超分辨显微成像方法与系统 |
TWI502223B (zh) * | 2014-01-03 | 2015-10-01 | Univ Nat Taiwan | 具有任意相位與振幅元件之部分任意雷射照明系統及裝置 |
US11468557B2 (en) | 2014-03-13 | 2022-10-11 | California Institute Of Technology | Free orientation fourier camera |
US10162161B2 (en) | 2014-05-13 | 2018-12-25 | California Institute Of Technology | Ptychography imaging systems and methods with convex relaxation |
JP6413364B2 (ja) * | 2014-06-06 | 2018-10-31 | 株式会社ニコン | 照明光学系及び顕微鏡装置 |
US20170142393A1 (en) * | 2014-06-27 | 2017-05-18 | Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. | Structured Light Imaging System and Method |
KR101688873B1 (ko) * | 2014-09-03 | 2016-12-23 | 고려대학교 산학협력단 | 광 간섭 단층 영상 촬영 장치 |
WO2016106379A1 (en) | 2014-12-22 | 2016-06-30 | California Institute Of Technology | Epi-illumination fourier ptychographic imaging for thick samples |
JP2018508741A (ja) | 2015-01-21 | 2018-03-29 | カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー | フーリエ・タイコグラフィー・トモグラフィー |
JP2018511815A (ja) | 2015-01-26 | 2018-04-26 | カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー | アレイレベルのフーリエ・タイコグラフィ撮像 |
WO2016123508A1 (en) * | 2015-01-29 | 2016-08-04 | The Regents Of The University Of California | Patterned-illumination systems adopting a computational illumination |
CA2979392A1 (en) * | 2015-03-13 | 2016-09-22 | California Institute Of Technology | Correcting for aberrations in incoherent imaging system using fourier ptychographic techniques |
US9993149B2 (en) | 2015-03-25 | 2018-06-12 | California Institute Of Technology | Fourier ptychographic retinal imaging methods and systems |
US9891175B2 (en) | 2015-05-08 | 2018-02-13 | Kla-Tencor Corporation | System and method for oblique incidence scanning with 2D array of spots |
CN106290398A (zh) * | 2015-05-15 | 2017-01-04 | 高准精密工业股份有限公司 | 光学系统以及应用该光学系统的受测标的的类别判断方法 |
US10228550B2 (en) | 2015-05-21 | 2019-03-12 | California Institute Of Technology | Laser-based Fourier ptychographic imaging systems and methods |
DE102016114115A1 (de) * | 2015-07-29 | 2017-02-02 | Georg-August-Universität Göttingen Stiftung Öffentlichen Rechts, Universitätsmedizin | Fluoreszenz-Mikroskop |
TWI567364B (zh) * | 2015-09-08 | 2017-01-21 | 財團法人工業技術研究院 | 結構光產生裝置、量測系統及其方法 |
EP3144888A1 (en) * | 2015-09-17 | 2017-03-22 | Thomson Licensing | An apparatus and a method for generating data representing a pixel beam |
CN108700460B (zh) | 2015-12-21 | 2020-11-03 | 威里利生命科学有限责任公司 | 成像系统和成像方法 |
GB2547929B (en) * | 2016-03-03 | 2018-02-21 | Daqri Holographics Ltd | Display system |
US10627614B2 (en) | 2016-04-11 | 2020-04-21 | Verily Life Sciences Llc | Systems and methods for simultaneous acquisition of multiple planes with one or more chromatic lenses |
US10539786B2 (en) | 2016-05-27 | 2020-01-21 | Verily Life Sciences Llc | Rotatable prisms for controlling dispersion magnitude and orientation and methods of use |
US10241337B2 (en) | 2016-05-27 | 2019-03-26 | Verily Life Sciences Llc | Tunable spectral slicer and methods of use |
WO2017205857A1 (en) | 2016-05-27 | 2017-11-30 | Verily Life Sciences Llc | Systems and methods for 4-d hyperspectrial imaging |
EP3465158B1 (en) * | 2016-05-27 | 2020-11-25 | Verily Life Sciences LLC | Spatial light modulator based hyperspectral confocal microscopes and methods of use |
JP6795624B2 (ja) | 2016-05-27 | 2020-12-02 | ヴェリリー ライフ サイエンシズ エルエルシー | 空間光変調器ベースのハイパースペクトル共焦点顕微鏡および使用方法 |
US10568507B2 (en) | 2016-06-10 | 2020-02-25 | California Institute Of Technology | Pupil ptychography methods and systems |
US11092795B2 (en) | 2016-06-10 | 2021-08-17 | California Institute Of Technology | Systems and methods for coded-aperture-based correction of aberration obtained from Fourier ptychography |
CN106872034B (zh) * | 2017-01-13 | 2018-11-13 | 清华大学 | 快速三维多光谱显微成像系统 |
CN106842529B (zh) * | 2017-01-23 | 2019-03-01 | 清华大学 | 快速三维显微成像系统 |
CN107315176B (zh) * | 2017-06-29 | 2019-04-26 | 清华大学深圳研究生院 | 一种强大气散射条件下的成像装置及方法 |
US11287627B2 (en) * | 2017-06-30 | 2022-03-29 | Chrysanthe Preza | Multi-focal light-sheet structured illumination fluorescence microscopy system |
DE102017212465A1 (de) | 2017-07-20 | 2017-09-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messsystem und Messverfahren für fotolithographische Anwendungen |
TWI638136B (zh) | 2017-08-18 | 2018-10-11 | 財團法人工業技術研究院 | 三維影像量測系統 |
US10754140B2 (en) | 2017-11-03 | 2020-08-25 | California Institute Of Technology | Parallel imaging acquisition and restoration methods and systems |
WO2019148024A1 (en) | 2018-01-26 | 2019-08-01 | Park Jong Kang | Systems and methods to reduce scattering in temporal focusing multiphoton microscopy |
TWI651543B (zh) * | 2018-08-10 | 2019-02-21 | 光焱科技股份有限公司 | 基於結構光照明技術的光學系統及其應用方法 |
KR102278782B1 (ko) * | 2019-09-16 | 2021-07-20 | 주식회사 스몰머신즈 | 능동 가변 스펙클 조명 대면적 고해상도 영상 기기 및 이를 이용한 이미징 방법 |
WO2021122471A1 (en) * | 2019-12-17 | 2021-06-24 | Testa Ilaria | Imaging system |
DE102020108117B4 (de) * | 2020-03-24 | 2023-06-15 | Evident Technology Center Europe Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops |
WO2021252850A1 (en) * | 2020-06-12 | 2021-12-16 | Weedetect Llc | Imaging system and process |
CN112485899B (zh) * | 2020-12-04 | 2023-03-28 | 上海交通大学医学院附属第九人民医院 | 一种设置紧凑型结构光光路的方法 |
WO2022151469A1 (zh) * | 2021-01-18 | 2022-07-21 | 中国科学院生态环境研究中心 | 纳米颗粒散射光共聚焦成像的装置和方法 |
CN114815282B (zh) * | 2022-05-25 | 2023-12-29 | 中国计量大学 | 一种角向径向关联光源实现超分辨的装置 |
CN115290601B (zh) * | 2022-10-09 | 2023-01-24 | 之江实验室 | 一种宽谱非相干光散斑自相关成像探测的低冗余模拟方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3107388B2 (ja) | 1990-09-06 | 2000-11-06 | 日本ケミコン株式会社 | 固体電解コンデンサの端子構造 |
US5633714A (en) * | 1994-12-19 | 1997-05-27 | International Business Machines Corporation | Preprocessing of image amplitude and phase data for CD and OL measurement |
DE19923295C2 (de) * | 1999-05-21 | 2001-09-13 | Leica Microsystems | Optisches System |
US7202466B2 (en) * | 2003-08-25 | 2007-04-10 | Cadent Ltd. | Apparatus and method for providing high intensity non-coherent light and for speckle reduction |
WO2006058187A2 (en) | 2004-11-23 | 2006-06-01 | Robert Eric Betzig | Optical lattice microscopy |
WO2007043314A1 (ja) | 2005-10-13 | 2007-04-19 | Nikon Corporation | 顕微鏡装置 |
US7670027B2 (en) | 2006-01-31 | 2010-03-02 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Laser illuminator |
JP2007233371A (ja) | 2006-01-31 | 2007-09-13 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | レーザ照明装置 |
WO2008076979A1 (en) * | 2006-12-18 | 2008-06-26 | Zygo Corporation | Sinusoidal phase shifting interferometry |
DE102008034137A1 (de) | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Microlmaging Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Betreiben eines Mikroskops |
DE102007055530A1 (de) | 2007-11-21 | 2009-05-28 | Carl Zeiss Ag | Laserstrahlbearbeitung |
WO2009115108A1 (en) | 2008-03-19 | 2009-09-24 | Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg | A method and an apparatus for localization of single dye molecules in the fluorescent microscopy |
US8558998B2 (en) | 2008-06-16 | 2013-10-15 | The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate | Fourier domain sensing |
JP4288323B1 (ja) | 2008-09-13 | 2009-07-01 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 顕微鏡装置及びそれを用いた蛍光観察方法 |
US8830573B2 (en) | 2009-11-10 | 2014-09-09 | California Institute Of Technology | Optical phase conjugation 4Pi microscope |
WO2011072175A2 (en) | 2009-12-09 | 2011-06-16 | Applied Precision, Inc. | Method and system for fast three-dimensional structured-illumination-microscopy imaging |
US8705043B2 (en) | 2009-12-14 | 2014-04-22 | Academia Sinica | Height measurement by correlating intensity with position of scanning object along optical axis of a structured illumination microscope |
DE102010062341B4 (de) | 2010-12-02 | 2023-05-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Erhöhung der Tiefendiskriminierung optisch abbildender Systeme |
US9867525B2 (en) | 2011-04-01 | 2018-01-16 | Nanyang Technological University | High sensitivity temporal focusing widefield multiphoton endoscope capable of deep imaging |
TWI540400B (zh) | 2011-06-06 | 2016-07-01 | Seereal Technologies Sa | And a method and a device for generating a thin body grating stack and a beam combiner for a monolithic display |
-
2012
- 2012-02-29 US US13/408,803 patent/US9599805B2/en active Active
- 2012-09-18 TW TW101134082A patent/TWI460468B/zh active
- 2012-10-04 JP JP2012222014A patent/JP5524308B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201317621A (zh) | 2013-05-01 |
US9599805B2 (en) | 2017-03-21 |
US20130100525A1 (en) | 2013-04-25 |
TWI460468B (zh) | 2014-11-11 |
JP2013088808A (ja) | 2013-05-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5524308B2 (ja) | 構造光照明を用いる光学撮像システム | |
JP4820750B2 (ja) | 複数の位相コントラストフィルタによる所望波面の生成 | |
JP6961241B2 (ja) | ディジタルホログラフィック顕微鏡 | |
JP4688866B2 (ja) | 所望の3次元電磁気フィールドの生成 | |
JP5170084B2 (ja) | 3次元顕微鏡および3次元画像取得方法 | |
JP5412394B2 (ja) | 標本観察装置 | |
EP2592459B1 (en) | Holographic microscope and method for processing microscopic subject hologram image | |
US8848200B2 (en) | Systems and methods for suppressing coherent structured illumination artifacts | |
JP5364203B2 (ja) | 観察装置 | |
US20100135547A1 (en) | Optical sectioning microscopy | |
KR102416784B1 (ko) | 임의의 입사각에서의 코히어런트 회절 영상 | |
JP4917404B2 (ja) | 位相物体の可視化方法とその顕微鏡システム | |
JP6270615B2 (ja) | 標本像データ生成装置、及び、標本像データ生成方法 | |
JP4100553B2 (ja) | 動的形状及び動的位置の同時測定装置及び同時測定方法 | |
WO2017213171A1 (ja) | 光学情報検知装置及び顕微鏡システム | |
JP2012202860A (ja) | パターン検査装置およびパターン検査方法 | |
JP7432227B2 (ja) | 位相イメージング装置、位相イメージング方法 | |
JP2015230439A (ja) | 照明光学系、顕微鏡装置、及び照明方法 | |
KR102272366B1 (ko) | 위상 정보 추출과 입체 영상 구성 방법 및 장치 | |
JP6259491B2 (ja) | 光照射装置、顕微鏡装置、レーザ加工装置、及び光照射方法 | |
JPH04286932A (ja) | ホログラフィック光学素子の評価方法およびその装置 | |
JP6436753B2 (ja) | 位相差干渉顕微装置 | |
USPC | Related U‘s ‘Application Data samples. The optical lmagmg system usmg mcoherent'struc | |
JP2022176144A (ja) | 第2のホログラフィック光学素子を形成するための露光装置及び方法 | |
Shabani | Three-Dimensional (3D) Image Formation and Reconstruction for Structured Illumination Microscopy Using a 3D Tunable Pattern |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131210 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140401 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140409 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5524308 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |