JP5523759B2 - 量子カスケードレーザ - Google Patents

量子カスケードレーザ Download PDF

Info

Publication number
JP5523759B2
JP5523759B2 JP2009179531A JP2009179531A JP5523759B2 JP 5523759 B2 JP5523759 B2 JP 5523759B2 JP 2009179531 A JP2009179531 A JP 2009179531A JP 2009179531 A JP2009179531 A JP 2009179531A JP 5523759 B2 JP5523759 B2 JP 5523759B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emission
level
layer
quantum
relaxation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009179531A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011035139A (ja
Inventor
和上 藤田
正道 山西
忠孝 枝村
直大 秋草
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP2009179531A priority Critical patent/JP5523759B2/ja
Priority to EP10804180.7A priority patent/EP2461435B1/en
Priority to PCT/JP2010/058308 priority patent/WO2011013432A1/ja
Priority to US12/782,255 priority patent/US8654809B2/en
Publication of JP2011035139A publication Critical patent/JP2011035139A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5523759B2 publication Critical patent/JP5523759B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/3401Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers
    • H01S5/3402Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers intersubband lasers, e.g. transitions within the conduction or valence bands
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/0014Measuring characteristics or properties thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/305Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure
    • H01S5/3086Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure doping of the active layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/305Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure
    • H01S5/3086Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure doping of the active layer
    • H01S5/309Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure doping of the active layer doping of barrier layers that confine charge carriers in the laser structure, e.g. the barriers in a quantum well structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/3407Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers characterised by special barrier layers

Description

本発明は、量子井戸構造でのサブバンド間遷移を利用した量子カスケードレーザに関するものである。
中赤外の波長領域(例えば波長5〜30μm)の光は、分光分析分野において重要な波長領域となっている。このような波長領域での高性能な半導体光源として、近年、量子カスケードレーザ(QCL:Quantum Cascade Laser)が注目を集めている(例えば、特許文献1〜8、非特許文献1〜7参照)。
量子カスケードレーザは、半導体量子井戸構造中に形成されるサブバンドによる準位構造を利用し、サブバンド間での電子遷移によって光を生成するモノポーラタイプのレーザ素子であり、量子井戸構造で構成され活性領域となる量子井戸発光層を多段にカスケード結合することによって、高効率、高出力動作を実現することが可能である。また、この量子井戸発光層のカスケード結合は、発光上準位へと電子を注入するための電子注入層を用い、量子井戸発光層と注入層とを交互に積層することによって実現される。
米国特許第5457709号公報 米国特許第5745516号公報 米国特許第6751244号公報 米国特許第6922427号公報 特開平8−279647号公報 特開2008−177366号公報 特開2008−60396号公報 特開平10−4242号公報
M. Beck et al.,"Continuous Wave Operation of a Mid-Infrared Semiconductor Laser at RoomTemperature", Science Vol.295 (2002) pp.301-305 J. S. Yu et al.,"High-Power Continuous-Wave Operation of a 6μm Quantum-Cascade Laser atRoom Temperature", Appl. Phys. Lett. Vol.83 (2003) pp.2503-2505 A. Evans et al.,"Continuous-Wave Operation of λ〜4.8μm Quantum-Cascade Lasers at RoomTemperature", Appl. Phys. Lett. Vol.85 (2004) pp.2166-2168 A. Tredicucci et al., "AMultiwavelength Semiconductor Laser", Nature Vol.396 (1998) pp.350-353 A. Wittmann et al.,"Heterogeneous High-Performance Quantum-Cascade Laser Sources forBroad-Band Tuning", IEEE J. Quantum Electron. Vol.44 (2008) pp.1083-1088 A. Wittmann et al.,"High-Performance Bound-To-Continuum Quantum-Cascade Lasers for Broad-GainApplications", IEEE J. Quantum Electron. Vol.44 (2008) pp.36-40 R. Maulini et al.,"Broadband Tuning of External Cavity Bound-to-Continuum Quantum-CascadeLasers", Appl. Phys. Lett. Vol.84 (2004) pp.1659-1661
上記した量子カスケードレーザでは、レーザ発振に成功した当初は素子の駆動温度は極低温に限られていたが、2002年には M. Beck らによって発振波長9.1μmでの室温CW動作が達成された(非特許文献1:M. Beck et al., Science Vol.295 (2002) pp.301-305)。また、その後、M. Razeghiらのグループによって発振波長6μm、及び4.8μmにおいても室温CW動作が達成された(非特許文献2:J. S. Yu et al., Appl. Phys.Lett. Vol.83 (2003) pp.2503-2505、非特許文献3:A. Evans et al., Appl. Phys. Lett.Vol.85 (2004) pp.2166-2168)。現在では、3.8〜11.5μmの広い波長範囲で室温連続発振が達成され、既に実用化の段階に到達している。
量子カスケードレーザの室温連続発振の達成後、レーザ素子を外部共振器(EC:ExternalCavity)とともに用いることで、広い波長領域で単一モード発振をする量子カスケードレーザを作製する試みが行われている。また、単一波長をスキャン可能な室温CW動作の分布帰還(DFB:DistributedFeed Back)型量子カスケードレーザの開発も進められている。
ここで、広い波長範囲で単一モード発振を達成するためには、広い波長範囲で発光可能な発光層構造を採用する必要がある。現在、室温CW動作(RT−CW)を実現している量子カスケードレーザの発光層構造では、ピークゲインが重視された、エレクトロルミネッセンス(EL)の発光の半値幅(FWHM)が狭いものが主に用いられている。通常の単一準位間でのサブバンド間遷移を用いた場合、波長などの様々な条件に依存するが、発光半値幅は、一般的には15〜25meV程度(例えば、波長8μm付近で20meV程度)であり、波数では120〜200cm−1程度である。
一方、ELの広い発光半値幅を有する量子カスケードレーザの活性層構造として、超格子構造(chirped superlattice)を利用した活性層構造がある(非特許文献4:A.Tredicucci et al., Nature Vol.396 (1998) pp.350-353)。この構造では、発光に関わる発光上準位及び発光下準位を、それぞれ多数の準位(サブバンド)から構成されるミニバンドとし、ミニバンド−ミニバンド間の電子遷移による発光を利用する。このような超格子構造によれば、発光上位ミニバンド内の複数の準位から発光下位ミニバンド内の複数の準位へと発光遷移が起こるため、必然的に広い発光半値幅が得られる。
しかしながら、このような構造では、発光上準位にミニバンドを用いているために、特定の準位へ選択的にキャリアを注入することが難しく、その結果、レーザ素子として良好な特性が得られないという問題がある。また、この超格子構造で得られる広い発光半値幅は、上記したように複数の準位から複数の準位への遷移によるものであるため、発光遷移の制御が困難であるという問題もある。
すなわち、ミニバンド内での複数の準位は、それぞれ準位のエネルギーで20meV程度離れている。このため、ミニバンド−ミニバンド間の全体での発光は、いくつかの孤立した発光の重ね合わせとなっており、しかも、その発光強度は、動作電界に依存したそれぞれの準位間の遷移強度で決まっている。したがって、このような超格子による活性層構造から得られる発光スペクトルは、上記の非特許文献4に示されているように、それぞれの準位間の遷移が明確に分離できる不均一なスペクトルとなる。
このように不均一な広がりのスペクトルを有する発光形態では、その発光半値幅が広くても、上記したEC型やDFB型などの量子カスケードレーザに組み込んだときに、選択された波長以外での発振の可能性が排除できない。したがって、超格子による活性層構造は、EC型やDFB型などでの広帯域単一軸モード光源には適していないと考えられる。実際、非特許文献4では、超格子活性層構造を用いて、同時に複数の波長の発振が確認されており、単一軸モード動作には至っていない。
これに対して、高い性能と同時に広い発光帯域を実現している発光層構造として、サブバンドからミニバンドへの遷移形態を有するBTC(Bound to Continuum)活性層構造がある(特許文献4:米国特許第6922427号公報)。BTC構造では、室温CW動作が可能な他の構造と比べて1.5倍以上の広い発光半値幅が実現されている。また、このようなBTC構造での発光遷移は、超格子構造のようなミニバンド−ミニバンド間の遷移ではなく、共通の単一の上準位からの遷移であるため、発振と同時に1つの発光遷移に利得が固定され、複数の波長での発振は発生しない。
現在では、さらに2つの波長のBTC構造を組み合わせることにより、292cm−1(7.66μm〜9.87μm)の広い波長範囲において、外部共振器型量子カスケードレーザ(EC−QCL)のパルス動作での波長スキャンを達成している。また、CW動作においても、201cm−1(8.0μm〜9.6μm)の広帯域で、EC−QCLでの波長スキャンを達成している(非特許文献5:A. Wittmann et al., IEEE J. Quantum Electron. Vol.44 (2008)pp.1083-1088)。
しかしながら、上記したBTC活性層構造における発光遷移では、後述するように、その動作電圧によって発光半値幅(ELのFWHM)が大きく変化するため、安定した波長スキャンという観点で課題を有している。また、サブバンド−ミニバンド間の遷移を利用しているため、ミニバンド内の各準位(各サブバンド)への遷移強度の制御が難しく、また、発振に寄与しない準位に遷移する発光も存在するなどの問題がある。
本発明は、以上の問題点を解決するためになされたものであり、広い波長範囲での発光を好適に得ることが可能な量子カスケードレーザを提供することを目的とする。
このような目的を達成するために、本発明による量子カスケードレーザは、(1)半導体基板と、(2)半導体基板上に設けられ、量子井戸発光層及び注入層からなる単位積層体が多段に積層されることで量子井戸発光層と注入層とが交互に積層されたカスケード構造が形成された活性層とを備え、(3)活性層に含まれる単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、第1発光上準位と、第1発光上準位よりも高いエネルギー準位である第2発光上準位と、単一の発光下準位と、発光下準位よりも低いエネルギー準位である緩和準位とを有し、量子井戸発光層及び注入層は、それぞれ量子井戸層及び量子障壁層を含む所定の量子井戸構造を有して形成され、量子井戸発光層は、前段の注入層側から、第1障壁層、第1井戸層、第2障壁層、及び第2井戸層を少なくとも含んで形成され、第1発光上準位、第2発光上準位、及び発光下準位は、量子井戸発光層内の準位であるとともに、第1井戸層は、量子井戸発光層における最も前段の注入層側の第1井戸層が単一量子井戸層として存在した場合の基底準位が第2発光上準位に対応するように、量子井戸発光層における他の井戸層よりも薄い層厚を有し、第1障壁層は、単位積層体中で最も厚い障壁層である注入障壁層であり、第2障壁層は、第1発光上準位及び第2発光上準位のエネルギー間隔が縦光学フォノンのエネルギー以上となる層厚よりも厚く、かつ、注入障壁層よりも薄い層厚を有し、(4)量子井戸発光層における第1発光上準位及び第2発光上準位から発光下準位への電子のサブバンド間遷移によって光が生成されるとともに、サブバンド間遷移を経た電子は、発光下準位から緩和準位へと緩和され、緩和準位を介して注入層から後段の単位積層体の量子井戸発光層へと注入され、活性層に含まれる単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、第1発光上準位と、第2発光上準位とを少なくとも含む複数の発光上準位を有し、複数の発光上準位のそれぞれから発光下準位へのサブバンド間遷移による発光強度について、最も弱い発光が、最も強い発光の1/5以上の発光強度を有し、複数の発光上準位の全体のエネルギー幅は、縦光学フォノンのエネルギーよりも小さく設定されていることを特徴とする。
上記した量子カスケードレーザでは、発光層及び注入層から構成される単位積層体でのサブバンド準位構造において、発光に関わる準位として、第1、第2発光上準位の2つの発光上準位と、単一の発光下準位とを設けている。このように、2つまたはそれ以上のサブバンドを発光上準位として用いることにより、広い波長範囲での発光を実現することができる。また、2つの上準位からの発光遷移が単一で共通の下準位へと集中する準位構造では、第1、第2発光上準位の結合の強さ、2準位のエネルギー差等の設計により、発光遷移によって得られる発光スペクトルなどの特性を好適に制御することができる。
また、上記構成では、そのサブバンド準位構造において、第1、第2発光上準位、及び発光下準位に加えて、発光下準位よりも低いエネルギーの緩和準位が設けられている。このような構成では、量子井戸発光層でのサブバンド間の発光遷移を経た電子は、緩和準位への緩和によって発光下準位から引き抜かれる。これにより、発光層において反転分布を効率的に形成することができる。以上により、広い波長範囲での発光を好適に得ることが可能な量子カスケードレーザが実現される。なお、上記のような単位積層体でのサブバンド準位構造は、活性層を構成する単位積層体での量子井戸構造の設計によって制御することが可能である。
ここで、発光下準位からの電子の引き抜きについては、単位積層体において、サブバンド間遷移を経た電子は、縦光学(LO:Longitudinal Optical)フォノン散乱によって発光下準位から緩和準位へと緩和されることが好ましい。このように、発光下準位と緩和準位とのエネルギー差がLOフォノンのエネルギーに対応するように設定された構成では、発光層でのサブバンド間の発光遷移を経た電子は、LOフォノン散乱を介して発光下準位から高速に引き抜かれることとなる。したがって、発光層における効率的な反転分布の形成、及びそれによるレーザ動作の低閾値化を実現することができる。
あるいは、活性層に含まれる単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、緩和準位として機能する緩和ミニバンドを有し、単位積層体において、サブバンド間遷移を経た電子は、縦光学フォノン散乱によって発光下準位から緩和ミニバンドへと緩和され、緩和ミニバンドを介して注入層から後段の単位積層体の量子井戸発光層へと注入される構成を用いても良い。
上記構成では、単位積層体でのサブバンド準位構造において、発光下準位よりも低いエネルギー準位からなる緩和ミニバンドを設けている。そして、発光下準位と緩和ミニバンドとの間のエネルギー差がLOフォノンのエネルギーに対応するように準位構造を構成している。このような構成では、発光層でのサブバンド間の発光遷移を経た電子は、LOフォノン散乱、及びミニバンド内での緩和を介して発光下準位から高速に引き抜かれることとなる。したがって、発光層における効率的な反転分布の形成、及びそれによるレーザ動作の低閾値化を実現して、そのレーザ動作性能を特に向上することが可能となる。
また、サブバンド間遷移を経た電子の緩和にミニバンドを利用していることにより、発光下準位からの電子の緩和構造の設計が容易化されるとともに、レーザ素子の製造時における特性の安定化、及び歩留まりの向上を実現することが可能となる。
単位積層体のサブバンド準位構造における発光上準位については、より一般には、第1発光上準位と、第2発光上準位とを少なくとも含む複数(2つまたは3つ以上)の発光上準位を有する構成とすることができる。また、このような構成において、複数の発光上準位のそれぞれから発光下準位へのサブバンド間遷移による発光強度について、最も弱い発光が、最も強い発光の1/5以上の発光強度を有することが好ましい。この場合、複数の発光上準位は、その全体としてエネルギーに幅を持つ1本の発光上準位のように振舞う。これにより、量子カスケードレーザから出力される発光において、均一な広がりを有する発光スペクトルを得ることが可能となる。
また、活性層に含まれる単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、第1発光上準位と、第2発光上準位とを少なくとも含む複数の発光上準位を有し、複数の発光上準位の全体のエネルギー幅は、LOフォノンのエネルギーよりも小さく設定されていることが好ましい。これにより、複数の発光上準位から発光下準位への発光遷移において、良好な特性が得られる。また、複数の発光上準位が第1、第2発光上準位の2つの準位である場合、上記条件は、それらの2準位間のエネルギー間隔をLOフォノンのエネルギーよりも小さく設定することに相当する。
また、活性層に含まれる単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、第1発光上準位と、第2発光上準位とを少なくとも含む複数の発光上準位を有し、前段の注入層の緩和準位からの電子は、複数の発光上準位のうちで最も低いエネルギー準位を除くエネルギー準位へと注入されることが好ましい。これにより、複数の発光上準位からなる上位ミニバンド内でのキャリア分布のエネルギー依存性を均一化することができる。
本発明の量子カスケードレーザによれば、活性層を構成する単位積層体でのサブバンド準位構造において、発光に関わる準位として、第1、第2発光上準位の2つの発光上準位と、単一の発光下準位と、発光下準位よりも低いエネルギーの緩和準位とを設け、第1発光上準位及び第2発光上準位から発光下準位への電子のサブバンド間遷移によって光を生成するとともに、サブバンド間遷移を経た電子が、発光下準位から緩和準位へと緩和される構成とすることにより、広い波長範囲での発光を好適に得ることが可能となる。
量子カスケードレーザの基本構成を概略的に示す図である。 量子カスケードレーザの活性層におけるサブバンド準位構造の一例について示す図である。 量子カスケードレーザの活性層におけるサブバンド準位構造の他の例について示す図である。 量子カスケードレーザの構成の一例を示す図である。 活性層を構成する単位積層体の構成の一例を示す図である。 活性層における1周期分の単位積層体の構造の一例を示す図表である。 量子カスケードレーザで得られる発光スペクトルを示すグラフである。 量子カスケードレーザで得られる発光スペクトルを示すグラフである。 発光半値幅の電圧依存性を示すグラフである。 第1発光上準位と第2発光上準位とのエネルギー間隔の第1井戸層の層厚への依存性を示すグラフである。 発光遷移の双極子モーメントの第1井戸層の層厚への依存性を示すグラフである。 第1発光上準位と第2発光上準位とのエネルギー間隔の第2障壁層の層厚への依存性を示すグラフである。 活性層を構成する単位積層体の構成の他の例を示す図である。 活性層における1周期分の単位積層体の構造の他の例を示す図表である。
以下、図面とともに本発明による量子カスケードレーザの好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。
図1は、本発明による量子カスケードレーザの基本構成を概略的に示す図である。本実施形態の量子カスケードレーザ1Aは、半導体量子井戸構造におけるサブバンド間の電子遷移を利用して光を生成するモノポーラタイプのレーザ素子である。この量子カスケードレーザ1Aは、半導体基板10と、半導体基板10上に形成された活性層15とを備えて構成されている。
活性層15は、光の生成に用いられる量子井戸発光層と、発光層への電子の注入に用いられる電子注入層とが交互かつ多段に積層されたカスケード構造を有する。具体的には、量子井戸発光層及び注入層からなる半導体積層構造を1周期分の単位積層体16とし、この単位積層体16が多段に積層されることで、カスケード構造を有する活性層15が構成されている。量子井戸発光層及び注入層を含む単位積層体16の積層数は適宜設定されるが、例えば数100程度である。また、活性層15は、半導体基板10上に直接に、あるいは他の半導体層を介して形成される。
図2は、図1に示した量子カスケードレーザの活性層におけるサブバンド準位構造について示す図である。図2に示すように、活性層15に含まれる複数の単位積層体16のそれぞれは、量子井戸発光層17と、電子注入層18とによって構成されている。これらの発光層17及び注入層18は、後述するように、それぞれ量子井戸層及び量子障壁層を含む所定の量子井戸構造を有して形成される。これにより、単位積層体16中においては、量子井戸構造によるエネルギー準位構造であるサブバンド準位構造が形成される。
本実施形態による量子カスケードレーザ1Aにおいて活性層15を構成している単位積層体16は、図2に示すように、そのサブバンド準位構造において、サブバンド間遷移による発光に関わる準位として、第1発光上準位Lup1と、第1発光上準位よりも高いエネルギー準位である第2発光上準位Lup2と、単一の発光下準位Llowとを有している。このような準位構造において、2つの発光上準位Lup1、Lup2は、好ましくは、動作電界の条件下で、それぞれの準位のエネルギー位置が一致し、波動関数が結合(アンチクロッシング)するように設計される。この場合、これらの2つの上準位は、エネルギーに幅を持つ1本の発光上準位のように振舞う。
また、図2に示すサブバンド準位構造では、これらの2つの発光上準位、及び1つの発光下準位に加えて、発光下準位Llowよりも低いエネルギー準位として緩和準位Lが設けられている。この緩和準位Lは、発光遷移後の電子を発光下準位Llowから引き抜くための準位であり、好ましくは、発光下準位Llowと緩和準位Lとのエネルギー差がLOフォノンのエネルギーELOとなるように設定される。また、注入層18内の基底準位である緩和準位Lは、好ましくは、動作電界の条件下で、後段の単位積層体での発光層17bにおける第2発光上準位Lup2と強く結合するように設計される。
また、図2に示す単位積層体16では、発光層17と、前段の単位積層体での注入層18aとの間に、注入層18aから発光層17へと注入される電子に対する注入障壁(injection barrier)層が設けられている。また、発光層17と、注入層18との間に、発光層17から注入層18への電子に対する抽出障壁(exitbarrier)層が設けられている。これらの障壁層は、発光層17及び注入層18を含む活性層15の具体的な積層構造及びサブバンド準位構造により、必要に応じて設けられる。
このようなサブバンド準位構造において、前段の注入層18aでの緩和準位Lからの電子eは、注入障壁を介して発光層17へと注入され、これによって、緩和準位Lと結合している第2発光上準位Lup2が強く励起される。また、このとき、電子−電子散乱などの高速散乱過程を介して、第1発光上準位Lup1にも充分な電子が供給され、2つの発光上準位Lup1、Lup2の両方に充分なキャリアが供給される。
第1発光上準位Lup1及び第2発光上準位Lup2に注入された電子は、単一で共通の発光下準位Llowへと発光遷移し、このとき、上準位Lup1、Lup2と下準位Llowとのサブバンド準位間のエネルギー差に相当する波長の光hνが生成、放出される。また、このとき、上記したように、2つの上準位がエネルギーに幅を持つ1本の発光上準位のように振舞うため、得られる発光スペクトルは、均一な広がりを有するスペクトルとなる。
発光下準位Llowへと遷移した電子は、LOフォノン散乱などの緩和過程によって緩和準位Lへと緩和される。このように、緩和準位Lを利用して発光下準位Llowから電子を引き抜くことにより、2つの上準位Lup1、Lup2と単一の下準位Llowとの間で、レーザ発振を実現するための反転分布が形成される。また、発光下準位Llowから緩和準位Lへと緩和された電子は、抽出障壁及び注入層18を介して、緩和準位Lから後段の発光層17bでの発光上準位Lup1、Lup2へとカスケード的に注入される。
このような電子の注入、発光遷移、及び緩和を活性層15を構成する複数の単位積層体16で繰り返すことにより、活性層15においてカスケード的な光の生成が起こる。すなわち、量子井戸発光層17及び注入層18を多数交互に積層することにより、電子は積層体16をカスケード的に次々に移動するとともに、各積層体16でのサブバンド間遷移の際に光hνが生成される。また、このような光がレーザ1Aの光共振器において共振されることにより、所定波長のレーザ光が生成される。
本実施形態による量子カスケードレーザ1Aの効果について説明する。
図1及び図2に示した量子カスケードレーザ1Aでは、発光層17及び注入層18から構成される単位積層体16でのサブバンド準位構造において、発光に関わる準位として、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2の2つの発光上準位と、単一の発光下準位Llowとを設けている。このように、2つまたはそれ以上のサブバンドを発光上準位として用いることにより、広い波長範囲での発光を実現することができる。
また、2つの上準位Lup1、Lup2からの発光遷移が単一で共通の下準位Llowへと集中する図2の準位構造では、準位構造の具体的な条件、例えば第1、第2発光上準位の結合の強さ、2準位のエネルギー差などの設計により、発光遷移によって得られる発光スペクトルなどの特性を好適に制御することができる。
特に、動作電界の条件下で、2つの発光上準位Lup1、Lup2の波動関数が強く結合するように設計した場合、これらの2つの上準位は、上述したように、エネルギーに幅を持つ1本の発光上準位のように振舞う。このとき、得られる発光スペクトルは、超格子構造のような不均一なスペクトルとはならず、均一な広がりを有するスペクトルとなる。このような発光スペクトルは、例えばEC型やDFB型などの広帯域単一軸モード光源に適している。また、通常の半導体レーザにおいて良く知られているように、準位間の高速の電子−電子散乱のために、レーザ発振時に利得スペクトルのホールバーニングは生じないこととなり、このため、単一軸モード発振を維持することが可能になる。
また、図2に示したサブバンド準位構造では、上記した第1、第2発光上準位、及び発光下準位に加えて、発光下準位よりも低いエネルギーの緩和準位Lが設けられている。このような構成では、量子井戸発光層17でのサブバンド間の発光遷移を経た電子は、緩和準位Lへの緩和によって発光下準位Llowから引き抜かれる。これにより、発光層17において反転分布を効率的に形成することができる。以上により、広い波長範囲での発光を好適に得ることが可能な量子カスケードレーザ1Aが実現される。
なお、上記のような単位積層体16でのサブバンド準位構造は、活性層15を構成する単位積層体16での量子井戸構造の設計によって制御することが可能である。また、発光に関わる準位のうち、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2については、それらの2準位間のエネルギー間隔をLOフォノンのエネルギーよりも小さく設定することが好ましい。これにより、2つの発光上準位、及び1つの発光下準位を用いたサブバンド間の発光遷移を好適に実現することができる。
ここで、単位積層体16のサブバンド準位構造における発光上準位については、より一般には、第1発光上準位Lup1と、第2発光上準位Lup2とを少なくとも含む複数(2つまたは3つ以上)の発光上準位を有する構成とすることができる。また、このような構成において、複数の発光上準位のそれぞれから発光下準位Llowへのサブバンド間遷移による発光強度について、最も弱い発光が、最も強い発光の1/5以上の発光強度を有することが好ましい。この場合、上述したように、複数の発光上準位が、その全体としてエネルギーに幅を持つ1本の発光上準位のように振舞う構成を、確実に実現することができる。これにより、量子カスケードレーザから出力される発光において、より均一な広がりを有する発光スペクトルを得ることが可能となる。
また、第1、第2発光上準位を少なくとも含む複数の発光上準位の全体のエネルギー幅(最も高いエネルギー準位と最も低いエネルギー準位とのエネルギー差)は、LOフォノンのエネルギーよりも小さく設定されていることが好ましい。これにより、複数の発光上準位から発光下準位への発光遷移において、良好な特性が得られる。また、複数の発光上準位が第1、第2発光上準位の2つの準位である場合、上記条件は、それらの2準位間のエネルギー間隔をLOフォノンのエネルギーよりも小さく設定することに相当する。ここで、発光のエネルギー間隔が離れていると、それぞれの遷移が分離できるようになり、例えば室温では、およそ25〜30meVほどで明確に不均一に広がることとなる。また、発光上準位が3つ以上の場合、エネルギー幅が広くなると、注入層から発光上準位への注入効率、あるいは電子の均一な分布などの点で問題が生じる場合がある。これに対して、上記したように、複数の発光上準位の全体のエネルギー幅を、LOフォノンのエネルギーよりも小さく設定することにより、良好な特性を得ることができる。
また、複数の発光上準位を有する上記構成において、前段の注入層18aの緩和準位Lからの電子は、複数の発光上準位のうちで最も低いエネルギー準位を除くエネルギー準位へと注入されることが好ましい。これにより、複数の発光上準位からなる上位ミニバンド内でのキャリア分布のエネルギー依存性を均一化することができる。
発光下準位Llowからの電子の引き抜きについては、単位積層体16において、サブバンド間遷移を経た電子は、LOフォノン散乱によって発光下準位Llowから緩和準位Lへと緩和されることが好ましい。このように、発光下準位と緩和準位とのエネルギー差がLOフォノンのエネルギーELOに対応するように設定された構成では、発光層17でのサブバンド間の発光遷移を経た電子は、LOフォノン散乱を介して発光下準位から高速に引き抜かれることとなる。したがって、発光層17における効率的な反転分布の形成、及びそれによるレーザ動作の低閾値化を実現することができる。
また、活性層15に含まれる単位積層体16でのサブバンド準位構造における発光下準位Llowからの電子の引き抜き構造については、単一のサブバンドからなる緩和準位Lを設ける構成に限らず、様々な構成を用いることが可能である。そのような構成の例としては、緩和準位Lへの2段階のLOフォノン散乱によって電子を引き抜くダブルフォノン共鳴構造を用いることができる。
あるいは、発光下準位Llowからの電子の引き抜き構造として、単位積層体16のサブバンド準位構造において、緩和準位として機能する緩和ミニバンドを設けるフォノン共鳴ミニバンド緩和(SPC:Single Phonon Resonance-Continuum)活性層構造を用いることも可能である(特許文献6:特開2008−177366号公報)。このような活性層構造は、本願発明者が、独自の量子カスケードレーザの素子構造として開発をすすめているものである。
図3は、図1に示した量子カスケードレーザの活性層におけるサブバンド準位構造の他の例について示す図である。図3は、電子の引き抜き構造として、上記したSPC構造を用いた場合の準位構造を示している。なお、図3に示すサブバンド準位構造において、第1発光上準位Lup1、第2発光上準位Lup2、及び発光下準位Llowについては、図2に示した準位構造と同様である。
本構成例における単位積層体16は、そのサブバンド準位構造において、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2と、発光下準位Llowとに加えて、発光下準位Llowよりも低いエネルギー準位であって緩和準位として機能する複数の準位(複数のサブバンド)からなる緩和ミニバンドMBを有している。このミニバンドMBは、発光下準位LlowとミニバンドMBとの間のエネルギー差がLOフォノンのエネルギーELOとなるように設定されている。
このようなサブバンド準位構造において、発光下準位Llowへと遷移した電子は、LOフォノン散乱によって緩和ミニバンドMBへと高速で緩和され、さらに、ミニバンドMB内で高速緩和される。このように、発光下準位LlowからLOフォノン散乱及びミニバンド内での緩和を介して高速で電子を引き抜くことにより、2つの上準位Lup1、Lup2と単一の下準位Llowとの間で、レーザ発振を実現するための反転分布が形成される。
また、本準位構造においては、緩和ミニバンドMBは、図3に示すように、量子井戸発光層17でのミニバンドと、注入層18でのミニバンドとが結合したバンド構造を有している。このような構成において、発光下準位Llowから緩和ミニバンドMBへと緩和された電子は、抽出障壁及び注入層18を介して、ミニバンドMBから、後段の発光層17bでの発光上準位Lup1、Lup2へとカスケード的に注入される。
図3に示した構成では、単位積層体16でのサブバンド準位構造において、発光下準位Llowよりも低いエネルギー準位からなる緩和ミニバンドMBを設けている。そして、発光下準位Llowと緩和ミニバンドMBとの間のエネルギー差がLOフォノンのエネルギーELOに対応するように準位構造を構成し、サブバンド間遷移を経た電子が、LOフォノン散乱によって発光下準位Llowから緩和ミニバンドMBへと緩和され、ミニバンドMBを介して注入層18から後段の単位積層体の量子井戸発光層17bへと注入される構成としている。
このようなSPC構造では、発光層17でのサブバンド間の発光遷移を経た電子は、LOフォノン散乱、及びミニバンドMB内での緩和を介して、発光下準位Llowから高速に引き抜かれることとなる。したがって、発光層17における効率的な反転分布の形成、及びそれによるレーザ動作の低閾値化を実現して、そのレーザ動作性能が特に向上されたレーザ素子を実現することが可能となる。
また、サブバンド間遷移を経た電子の緩和に複数のサブバンドを含むミニバンドMBを利用していることにより、発光下準位Llowからの電子の緩和構造の設計が容易化されるとともに、レーザ素子の製造時における特性の安定化、及び歩留まりの向上を実現することが可能となる。このようなサブバンド準位構造は、第1、第2発光上準位及び発光下準位と同様に、活性層15を構成する単位積層体16での量子井戸構造の設計によって制御することが可能である。
ここで、図3に示したサブバンド準位構造における発光下準位Llowについては、緩和ミニバンドMBにおける一のサブバンド(ミニバンドMB内で最も高いエネルギーのサブバンド)を他のサブバンドからLOフォノンのエネルギーELO分だけ高エネルギー側に分離させ、その分離された準位を発光下準位Llowとする構成を用いることができる。これにより、発光下準位Llowと、緩和ミニバンドMBとを含む準位構造を好適に実現することができる。
また、活性層15の量子井戸構造については、図2、図3に示したように、単位積層体16において、発光層17と注入層18との間に抽出障壁層が設けられていることが好ましい。これにより、注入層18から発光層17への電子の波動関数の染み出しを抑制することができ、発光層17での発光遷移の効率を向上することが可能となる。すなわち、このように電子の波動関数の染み出しを抑制することにより、レーザ発振に寄与する光学遷移が、確実に第1、第2発光上準位Lup1、Lup2、及び下準位Llowのサブバンド間で行われ、下準位LlowからのキャリアがLOフォノン散乱などの緩和過程によって、緩和準位Lあるいは緩和ミニバンドMBへと緩和することとなる。
また、サブバンド準位構造において緩和ミニバンドMBを用いる場合、図3に示したように、緩和ミニバンドMBは、発光層17でのミニバンドと、注入層18でのミニバンドとが結合したバンド構造を有することが好ましい。このように、発光層17のミニバンドと注入層18のミニバンドとを強く結合させることにより、発光層17から注入層18への電子のトンネル時間を非常に短くすることができる。
本発明による量子カスケードレーザの構成について、活性層での量子井戸構造を含む素子構造の具体例とともにさらに説明する。図4は、量子カスケードレーザの具体的な構成の一例を示す図である。また、図5は、図4に示した量子カスケードレーザにおける活性層を構成する単位積層体の構成の一例を示す図である。
本構成例における活性層15の量子井戸構造では、発振波長を8.7μm(発振エネルギー:142meV)、動作電界を41kV/cmとして設計された例を示している。図5においては、活性層15での発光層17及び注入層18による多段の繰返し構造のうちの一部について、その量子井戸構造及びサブバンド準位構造を示している。また、図4及び図5に示した素子構造は、例えば、分子線エピタキシー(MBE)法、または有機金属気相エピタキシー(MOVPE)法による結晶成長で形成することができる。
図4に示す量子カスケードレーザ1Bの半導体積層構造では、半導体基板10としてn型InP単結晶基板50を用いている。そして、このInP基板50上に、基板側から順に、厚さ300nmのInGaAs下部コア層51、単位積層体16が多段に積層された活性層15、厚さ300nmのInGaAs上部コア層52、厚さ3.5μmのInPクラッド層53、及び厚さ10nmのInGaAsコンタクト層54が順次積層されることで、量子カスケードレーザ1Bの素子構造が形成されている。
本構成例における活性層15は、量子井戸発光層17及び電子注入層18を含む単位積層体16が33周期で積層されて構成されている。また、1周期分の単位積層体16は、図5に示すように、11個の量子井戸層161〜164、181〜187、及び11個の量子障壁層171〜174、191〜197が交互に積層された量子井戸構造として構成されている。
これらの単位積層体16の各半導体層のうち、量子井戸層は、In0.53Ga0.47As層によって構成されている。また、量子障壁層は、Al0.52In0.48As層によって構成されている。これにより、活性層15は、InP基板50に格子整合するInGaAs/InAlAs量子井戸構造によって構成されている。
また、このような単位積層体16において、発光層17と注入層18とについては、図5に示す積層構造において、4層の井戸層161〜164、及び障壁層171〜174からなる積層部分が、主に発光層17として機能する部分となっている。また、7層の井戸層181〜187、及び障壁層191〜197からなる積層部分が、主に注入層18として機能する部分となっている。
また、発光層17の各半導体層のうちで、1段目の量子障壁層171が、前段の注入層と、発光層17との間に位置し、前段の注入層から発光層17への電子に対する注入障壁層となっている。同様に、注入層18の各半導体層のうちで、1段目の量子障壁層191が、発光層17と、注入層18との間に位置し、発光層17から注入層18への電子に対する抽出障壁層となっている。図6に、活性層15における1周期分の単位積層体16の具体的な構造の一例を示す。
このような構成において、単位積層体16は、その図5に示すサブバンド準位構造において、第1発光上準位(準位3)Lup1、第2発光上準位(準位4)Lup2、発光下準位(準位2)Llow、及び緩和準位(準位1)である緩和ミニバンドMBを有している。具体的には、図5に示す準位構造において、レーザ動作に寄与する準位は12個あり、緩和準位として機能する緩和ミニバンドMBには複数の準位が対応している。また、発光層17及び注入層18での井戸層、障壁層のそれぞれの層厚は、量子力学に基づいて設計されている。
図5に示した単位積層体16における量子井戸構造の具体的な設計手順について説明する。まず、レーザ素子での発振波長を与えるために、第1発光上準位(準位3)Lup1と発光下準位(準位2)Llowとの間のエネルギー間隔、及び発光下準位からの電子の引き抜き構造を決定する。上記したサブバンド準位構造では、単一の発光下準位Llowは孤立した準位である必要があるため、ミニバンドを用いることはできない。また、発光下準位からの電子の引き抜き、緩和構造については、本構成例では、上記した緩和ミニバンドMBによるSPC構造を用いている。
第1発光上準位Lup1と発光下準位Llowとのエネルギー間隔は、発光層17内の井戸層161、162、163、164の井戸幅、障壁層172、173、174の厚さ、及び動作電界によって決まる。また、動作電界は、予想される1周期当たりの積層体の膜厚及び電圧降下量に基づいて設定される。本構成例では、上述したように、動作電界を41kV/cmとしている。
ここで、発光波長を決める井戸層161〜164の井戸幅、及び障壁層172〜174の厚さは、それぞれの準位の波動関数が敏感にそれぞれの量子井戸層と障壁層との影響を受けているため、単独では決定することができない。このため、これらの半導体層については、数値計算を用いて量子力学的に各層の層厚を決定する。また、次の設計ステップで第2発光上準位Lup2の準位位置を決定する際に、設計波長は再び変化する。そのため、ここでは、はじめに量子井戸層162、163、164、及び障壁層173、174の構成を大まかに決定する。
次に、第2発光上準位(準位4)Lup2を設定するための量子井戸層161の井戸幅を決定する。この井戸層161の層厚は、井戸層161が単一量子井戸層として存在した場合の基底準位が第2発光上準位Lup2に対応するため、必然的に発光層17における他の井戸層よりも薄くなる。また、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2は、動作電界の条件下において波動関数が結合し、充分に重なっている必要がある。このため、井戸層161の厚さは、井戸層161における基底準位と、第1発光上準位Lup1とが、動作電界においてほぼ同じエネルギーになるように設定される。
また、障壁層172の厚さは、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2が結合している状態におけるアンチクロッシングの大きさ(完全に結合しているときの準位3、準位4間のエネルギー差ΔE43)を決定している。アンチクロッシングの大きさは、障壁層172が薄ければ大きく、また、障壁層172が厚ければ小さくなる。
本発明による量子カスケードレーザは、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2から発光下準位Llowへの遷移を制御することによって、広い発光半値幅を実現するものである。このため、障壁層172の厚さが適切でない場合には、そのような機能が損なわれることとなる。すなわち、障壁層172が薄すぎる場合には、ΔE43が大きくなるため、発光下準位Llowへの遷移は、第1発光上準位Lup1もしくは第2発光上準位Lup2のどちらかからの遷移に偏り、発光半値幅は狭いものとなる。仮に偏らずに発光したとしても、その発光スペクトルはミニバンド間遷移の場合のように不均一なものとなる。
一方、障壁層172が厚すぎる場合は、ΔE43が小さくなりすぎるが、それ以前に、注入障壁層171よりも厚い障壁層がカスケード構造内に存在すると、キャリアの輸送が困難となり、レーザ動作そのものが損なわれる可能性がある。これらの観点から、障壁層172の厚さは、注入障壁層171よりは薄い層厚で、適切に設定する必要がある。図5に示した構成例では、この障壁層172の厚さを2.7nmに設定することで、発光上準位Lup1、Lup2のエネルギー差ΔE43を15meVとしている。
これらの設計過程において、設計波長、及び各準位の間隔等は常に変化するが、そのたびに微調整を行うことにより、発光層17内のすべての量子井戸層、障壁層の厚さを決定する。最終的に、発光層17内の井戸層161、162、163、164の層厚は、それぞれ3.1nm、7.5nm、5.8nm、5.2nmとした。また、障壁層172、173、174の層厚は、それぞれ2.7nm、0.7nm、1.5nmとした。
続いて、電子注入層18の設計を行う。本構成例では、この注入層18の構造として、FunnelInjector(特許文献8:特開平10−4242号公報)を用いた。このように、Funnel Injectorを用いることにより、次周期に近づくにしたがって、ミニバンドMBのエネルギー幅を狭くして、第2発光上準位Lup2への電子の注入効率を高めることができる。このような準位構造は、注入層18内において、発光層17側から次周期の発光層17bに近づくにしたがって、量子井戸層の層厚を薄くし、障壁層の層厚を厚くすることによって実現することができる。
図5に示した構造では、注入層18の設計は、まず次周期の発光層17bと隣り合っている量子井戸層187の設計から行う必要がある。これは、井戸層187に存在する準位の波動関数(動作電界での注入層18内の基底準位)を、動作電界以下のどの電界においても、発光上準位に追従する状態にしておく必要があるためである。
このような状態を実現するためには、井戸層187の層厚は井戸層161よりも若干厚く(数Å程度)する必要がある。本構成例では、発光層17の井戸層161の厚さ3.1nmに対して、注入層18の井戸層187の厚さを3.3nmに設定している。これにより、緩和ミニバンドMBからの電子の注入によって、第2発光上準位Lup2を励起することが可能となり、広い発光半値幅が実現可能となる。
ここで、例えば井戸層187を井戸層161よりも6Å(0.6nm、2原子層)ほど厚くした場合を考えると、低電界の条件下において、井戸層187内の緩和準位は、井戸層161内の第2発光上準位Lup2よりも低エネルギーとなるのみでなく、第1発光上準位Lup1よりもさらに低エネルギーに位置することとなる。このような準位構造では、動作電界に近づいたときに、電子が先に第1発光上準位Lup1に注入され、広い発光半値幅を得ることが困難となる。
井戸層187の層厚の決定後、従来と同様の方法によって、注入層18内の他の量子井戸層、障壁層の層厚を決定する。はじめに、発光層17に隣接する抽出障壁層191の厚さを決定する。抽出障壁層191は、厚すぎると発光層17内から注入層18への電子の流れが損なわれるが、薄すぎると発光層17内の波動関数と強く結合して大きく影響を与えるため、注意深く設計する必要がある。
注入層18を構成する各半導体層のうちで、抽出障壁層191側の井戸層、障壁層の厚さについては、発光層17内に存在する準位からの電子がすべて、注入層18内で形成されるミニバンドに輸送可能なように設計する。一方、次周期の注入障壁層171側の井戸層、障壁層の厚さについては、注入層18からの電子が次周期の第2発光上準位Lup2のみに注入され、それよりも高エネルギー側の準位には注入されないように、緩和ミニバンドMBを充分に狭窄する必要がある。
以上の点を考慮した設計の結果、注入層18内の井戸層181〜187の層厚は、それぞれ4.1nm、3.8nm、3.5nm、3.4nm、3.4nm、3.4nm、3.3nmに設定した。また、障壁層191〜197の層厚は、それぞれ2.0nm、1.5nm、1.6nm、1.7nm、2.0nm、2.3nm、2.8nmに設定した。
最後に、量子井戸発光層17における注入障壁層171の層厚を決定する。この障壁層171は、多段の単位積層体16のカスケード構造における各周期の結合の強さを決定するものであり、投入できる最大電流を決定している。波動関数の結合の強さはアンチクロッシングギャップによって決定されるが、本構成例では、アンチクロッシングギャップを7.3meVとし、従来技術と同等の電流を投入可能なように設計を行った。このときの注入障壁層171の厚さは3.7nmとなる。
上記のように設計した構成例による量子カスケードレーザの特性等について、図7〜図12を参照して説明する。
図7は、量子カスケードレーザで得られる発光スペクトルの動作電圧依存性を示すグラフである。このグラフにおいて、横軸は発光エネルギー(meV)を示し、縦軸は発光強度(a.u.)を示している。ここでは、動作温度を300K、繰返し周波数を100kHz、パルス幅を500nsecとしたときの動作例を示している。また、グラフA1、A2、A3、A4は、それぞれ印加電圧が4.5V、6.3V、7.9V、9.2Vのときの発光スペクトルを示している。これらのグラフに示すように、活性層において上記の準位構造を採用することにより、その発光スペクトルにおいて広い発光半値幅が得られていることがわかる。
図8は、各種構造を有する量子カスケードレーザで得られる発光スペクトルを示すグラフである。このグラフにおいて、グラフB1は、上記構成例による本発明の活性層構造を用いた場合の発光スペクトルを示している。また、グラフB2は、発光上準位を単一とした従来のSPC構造を用いた場合の発光スペクトルを示している。また、グラフB3は、BTC構造を用いた場合の発光スペクトルを示している。
図8において、グラフB1、B2を比較すると、上記した新規構造によるグラフB1では、観測されている発光半値幅(FWHM)は最大で29.5meVであり、グラフB2に示す従来のSPC構造での発光半値幅17meVと比べて、非常に広い発光半値幅が実現されている。また、グラフB1、B3を比較すると、BTC構造のグラフB3では、高エネルギー側にスペクトルの裾があるが、新規構造のグラフB1では、そのようなスペクトルの裾は存在しないことがわかる。これは、上記した新規構造では、発光遷移を所望の準位間同士の遷移のみに制御可能であることを示している。
図9は、発光半値幅の電圧依存性を示すグラフである。このグラフにおいて、横軸は印加電圧(V)を示し、縦軸は発光半値幅に対応するFWHM(meV)を示している。また、グラフ(データプロット)C1、C2、C3は、それぞれ上記した新規構造、従来のSPC構造、及びBTC構造を用いた場合の発光半値幅の電圧依存性を示している。これらのグラフに示すように、BTC構造では、電圧の増大に伴って発光半値幅が単調に減少しているのに対して、新規構造では、発光半値幅は動作電圧5V〜8.5Vの範囲においてほぼ一定である。これは、DFB型、EC型などのレーザ素子への適用を考慮すると、上記した新規構造が、非常に大きな優位性を有していることを示すものである。
上記構成による量子カスケードレーザでは、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2から発光下準位Llowへの発光遷移について、2つの準位Lup1、Lup2のそれぞれから充分な遷移強度が得られるときに、はじめて充分な特性、機能が得られる。このため、2つの準位は、動作状態では常に充分に結合されている必要がある。2つの準位の結合が弱くなると、波動関数が別々の量子井戸層に局在し始め、遷移強度を示す双極子モーメントが減少することとなる。
ここで、図10は、第1発光上準位Lup1と第2発光上準位Lup2とのエネルギー間隔の第1井戸層の層厚への依存性を示すグラフである。このグラフにおいて、横軸は発光層17における第1井戸層161の層厚(nm)を示し、縦軸は第1、第2発光上準位のエネルギー間隔ΔE43(meV)を示している。
また、図11は、発光遷移の双極子モーメントの第1井戸層の層厚への依存性を示すグラフである。このグラフにおいて、横軸は図10と同様に発光層17における第1井戸層161の層厚(nm)を示し、縦軸は第1発光上準位Lup1から発光下準位Llowへの発光遷移の双極子モーメント、及び第2発光上準位Lup2から発光下準位Llowへの発光遷移の双極子モーメントを示している。
図5、図6に示した構成例において、発光層17の第1井戸層161の層厚は3.1nmである。これに対して、図10のグラフに示すように、井戸層161の層厚を変化させると、上記構成例の3.1nmに対して厚くした場合、及び薄くした場合ともに、2つの発光上準位のエネルギー間隔が大きくなることがわかる。すなわち、井戸層161の層厚を3.1nmに設定したときに、2つの準位が最も結合した状態になっている。
また、図11のグラフに示すように、同じように井戸層161の層厚を変化させたときに、上記構成例の3.1nmにおいて、第1、第2発光上準位Lup1、Lup2のそれぞれから、ほぼ等しい強度で発光が得られていることがわかる。上記構成による量子カスケードレーザでは、このように、2つの発光上準位のエネルギー間隔ΔE43が適切に設定され、かつ、それらの2つの上準位の双方から発光下準位への充分な遷移強度が得られるように、単位積層体16における量子井戸構造、及びそれによるサブバンド準位構造を設計することが好ましい。
ここで、実際の量子カスケードレーザからの発光強度は、双極子モーメントの2乗(遷移強度の2乗)、及び発光エネルギーによって決まるものである。上記構成例の設計状態であるΔE43=15meVでは、遷移強度の2乗の比(発光強度の比)が5:1よりも大きくなると、一方の発光強度が弱いために、全体として発光の半値幅を広くすることができない。これらの条件を考えると、上記構成例における第1井戸層161の層厚については、図10、図11においてそれぞれR1、R2によって示す範囲内で設定することが好ましい。
図12は、第1発光上準位Lup1と第2発光上準位Lup2とのエネルギー間隔の第2障壁層の層厚への依存性を示すグラフである。このグラフにおいて、横軸は発光層17における第2障壁層172の層厚(nm)を示し、縦軸は第1、第2発光上準位のエネルギー間隔ΔE43(meV)を示している。
図5、図6に示した構成例において、発光層17の第2障壁層172の層厚は2.7nmである。これに対して、図12のグラフに示すように、障壁層172の層厚を変化させると、エネルギー間隔ΔE43を与える2準位のアンチクロッシングが変化する。この点も、上記の量子カスケードレーザの構造を規定する上で重要な要素である。図12に示した例では、第2障壁層172の層厚は、ΔE43がLOフォノンのエネルギー以上となる1.8nmよりも厚く、かつ、単位積層体16中で最も厚い障壁層である注入障壁層よりも薄い厚さに設定することが好ましい。
以上のように、2つの発光上準位を有する構成では、上記のように規定される第2障壁層172の層厚と、2つの上準位のそれぞれから下準位へと充分な遷移強度を与えるための第1井戸層161の層厚とを適切に設定することが重要である。なお、好適な構成条件を満たすための第1井戸層161の層厚の許容範囲は、第2障壁層172の層厚に依存して常に変化するが、第2障壁層172が薄ければ許容範囲は大きくなり、厚ければ小さくなる傾向にある。発光波長を8.7μmとした上記構成例では、2つの上準位がほぼ同じ双極子モーメントを与える層厚から、およそ±2〜3原子層(0.4〜1.0nm)以内が許容範囲となる。ただし、このような条件は、発光エネルギー、半導体材料系等の具体的な構成によって異なるものとなる。
本発明による量子カスケードレーザの構成について、他の具体例とともにさらに説明する。図13は、量子カスケードレーザにおける活性層を構成する単位積層体の構成の他の例を示す図である。また、図14は、図13に示した活性層15における1周期分の単位積層体の具体的な構造を示している。図13、図14に示す構成は、図5、図6に示した構成の変形例に相当するものである。
本構成例において、1周期分の単位積層体16は、図13に示すように、12個の量子井戸層261〜265、281〜287、及び12個の量子障壁層271〜275、291〜297が交互に積層された量子井戸構造として構成されている。また、図13に示す積層構造において、5層の井戸層261〜265、及び障壁層271〜275からなる積層部分が、主に発光層17として機能する部分となっている。また、7層の井戸層281〜287、及び障壁層291〜297からなる積層部分が、主に注入層18として機能する部分となっている。
このような構成において、単位積層体16は、そのサブバンド準位構造において、3つの発光上準位Lup、発光下準位Llow、及び緩和準位である緩和ミニバンドMBを有している。すなわち、図13に示す構造では、発光層17において井戸層及び障壁層を1層ずつ追加することによって、発光上準位を、第1、第2、第3発光上準位の3つの準位からなる上位ミニバンドとする準位構造が実現されている。
このように、単位積層体16のサブバンド準位構造における発光上準位については、第1、第2発光上準位を少なくとも含む3つ以上の準位を設ける構成とすることも可能である。また、このような構成においても、各準位のエネルギー間隔、波動関数の形状、遷移強度等の条件については、発光層17を構成する量子井戸層、障壁層の層厚によって制御することが可能である。
また、発光上準位が2つまたは3つ以上の準位からなる構成では、上述したように、複数の発光上準位のそれぞれからのサブバンド間遷移による発光強度について、最も弱い発光が、最も強い発光の1/5以上の発光強度を有することが好ましい。また、複数の発光上準位の全体のエネルギー幅は、LOフォノンのエネルギーよりも小さく設定されていることが好ましい。
また、前段の注入層の緩和準位からの電子は、複数の発光上準位のうちで最も低いエネルギー準位を除くエネルギー準位へと注入されることが好ましい。具体的には、発光上準位として低エネルギー側から第1、第2発光上準位の2つの準位が設けられている場合には、高エネルギー側の第2発光上準位に電子が注入されることが好ましい。また、低エネルギー側から第1、第2、第3発光上準位の3つの準位が設けられている場合には、最も高エネルギー側の第3発光上準位、または中間の第2発光上準位に電子が注入されることが好ましい。
図13、図14に示した構成例では、具体的には、3つの発光上準位Lupのそれぞれから発光下準位Llowへの発光遷移の双極子モーメントは、高エネルギー準位側からそれぞれ1.24nm、1.53nm、1.26nmであり、それぞれの上準位から、広い利得スペクトルを与えるために必要な充分大きい遷移強度が得られている。また、各発光上準位から発光下準位への発光遷移のエネルギーは、それぞれ134.3meV、147.5meV、158.4meVであり、これらの3つの準位によって構成される上位ミニバンドのエネルギー幅は24.1meVである。
本発明による量子カスケードレーザは、上記した実施形態及び構成例に限られるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上記した構成例では、半導体基板としてInP基板を用い、活性層をInGaAs/InAlAsによって構成した例を示したが、量子井戸構造でのサブバンド間遷移による発光遷移が可能であって上記したサブバンド準位構造を実現可能なものであれば、具体的には様々な構成を用いて良い。
このような半導体材料系については、上記したInGaAs/InAlAs以外にも、例えばGaAs/AlGaAs、InAs/AlSb、GaN/AlGaN、SiGe/Siなど、様々な材料系を用いることが可能である。また、半導体の結晶成長方法についても、様々な方法を用いて良い。
また、量子カスケードレーザの活性層における積層構造、及びレーザ素子全体としての半導体積層構造については、図4〜図6、図13、図14に示した構造以外にも様々な構造を用いて良い。一般には、量子カスケードレーザは、半導体基板と、半導体基板上に設けられた上記構成の活性層とを備えて構成されていれば良い。また、上記構成例では、InP基板に対して格子整合する構成について説明したが、例えばInP基板に対して格子不整合を導入した構成を用いることも可能である。この場合、素子設計の自由度の増大、効率的なキャリア閉じ込め、及び発振波長の短波長化が可能となる。
本発明は、広い波長範囲での発光を好適に得ることが可能な量子カスケードレーザとして利用可能である。
1A、1B…量子カスケードレーザ、10…半導体基板、15…活性層、16…単位積層体、17…量子井戸発光層、18…注入層、50…InP基板、51…InGaAs下部コア層、52…InGaAs上部コア層、53…InPクラッド層、54…InGaAsコンタクト層、Lup1…第1発光上準位、Lup2…第2発光上準位、Llow…発光下準位、L…緩和準位、MB…緩和ミニバンド。

Claims (4)

  1. 半導体基板と、
    前記半導体基板上に設けられ、量子井戸発光層及び注入層からなる単位積層体が多段に積層されることで前記量子井戸発光層と前記注入層とが交互に積層されたカスケード構造が形成された活性層とを備え、
    前記活性層に含まれる前記単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、第1発光上準位と、前記第1発光上準位よりも高いエネルギー準位である第2発光上準位と、単一の発光下準位と、前記発光下準位よりも低いエネルギー準位である緩和準位とを有し、
    前記量子井戸発光層及び前記注入層は、それぞれ量子井戸層及び量子障壁層を含む量子井戸構造を有して形成され、前記量子井戸発光層は、前段の注入層側から、第1障壁層、第1井戸層、第2障壁層、及び第2井戸層を少なくとも含んで形成され、
    前記第1発光上準位、前記第2発光上準位、及び前記発光下準位は、前記量子井戸発光層内の準位であるとともに、前記第1井戸層は、前記量子井戸発光層における最も前段の注入層側の前記第1井戸層が単一量子井戸層として存在した場合の基底準位が前記第2発光上準位に対応するように、前記量子井戸発光層における他の井戸層よりも薄い層厚を有し、
    前記第1障壁層は、前記単位積層体中で最も厚い障壁層である注入障壁層であり、前記第2障壁層は、前記第1発光上準位及び前記第2発光上準位のエネルギー間隔が縦光学フォノンのエネルギー以上となる層厚よりも厚く、かつ、前記注入障壁層よりも薄い層厚を有し、
    前記量子井戸発光層における前記第1発光上準位及び前記第2発光上準位から前記発光下準位への電子のサブバンド間遷移によって光が生成されるとともに、前記サブバンド間遷移を経た電子は、前記発光下準位から前記緩和準位へと緩和され、前記緩和準位を介して前記注入層から後段の単位積層体の量子井戸発光層へと注入され、
    前記活性層に含まれる前記単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、前記第1発光上準位と、前記第2発光上準位とを少なくとも含む複数の発光上準位を有し、
    前記複数の発光上準位のそれぞれから前記発光下準位へのサブバンド間遷移による発光強度について、最も弱い発光が、最も強い発光の1/5以上の発光強度を有し、
    前記複数の発光上準位の全体のエネルギー幅は、縦光学フォノンのエネルギーよりも小さく設定されていることを特徴とする量子カスケードレーザ。
  2. 前段の注入層の緩和準位からの電子は、前記複数の発光上準位のうちで最も低いエネルギー準位を除くエネルギー準位へと注入されることを特徴とする請求項1記載の量子カスケードレーザ。
  3. 前記単位積層体において、前記サブバンド間遷移を経た電子は、縦光学フォノン散乱によって前記発光下準位から前記緩和準位へと緩和されることを特徴とする請求項1または2記載の量子カスケードレーザ。
  4. 前記活性層に含まれる前記単位積層体は、そのサブバンド準位構造において、前記緩和準位として機能する緩和ミニバンドを有し、
    前記単位積層体において、前記サブバンド間遷移を経た電子は、縦光学フォノン散乱によって前記発光下準位から前記緩和ミニバンドへと緩和され、前記緩和ミニバンドを介して前記注入層から後段の単位積層体の量子井戸発光層へと注入されることを特徴とする請求項1または2記載の量子カスケードレーザ。
JP2009179531A 2009-07-31 2009-07-31 量子カスケードレーザ Active JP5523759B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009179531A JP5523759B2 (ja) 2009-07-31 2009-07-31 量子カスケードレーザ
EP10804180.7A EP2461435B1 (en) 2009-07-31 2010-05-17 Quantum cascade laser
PCT/JP2010/058308 WO2011013432A1 (ja) 2009-07-31 2010-05-17 量子カスケードレーザ
US12/782,255 US8654809B2 (en) 2009-07-31 2010-05-18 Quantum cascade laser

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009179531A JP5523759B2 (ja) 2009-07-31 2009-07-31 量子カスケードレーザ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011035139A JP2011035139A (ja) 2011-02-17
JP5523759B2 true JP5523759B2 (ja) 2014-06-18

Family

ID=43526950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009179531A Active JP5523759B2 (ja) 2009-07-31 2009-07-31 量子カスケードレーザ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8654809B2 (ja)
EP (1) EP2461435B1 (ja)
JP (1) JP5523759B2 (ja)
WO (1) WO2011013432A1 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011243781A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Hamamatsu Photonics Kk 量子カスケードレーザ
JP5941655B2 (ja) * 2011-10-28 2016-06-29 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
US9548590B2 (en) 2011-11-29 2017-01-17 Thorlabs Quantum Electronics, Inc. Quantum cascade laser design with stepped well active region
CN104380072A (zh) 2012-04-24 2015-02-25 Skf公司 轴承组件的声发射测量
US9484715B2 (en) 2013-05-23 2016-11-01 Hamamatsu Photonics K.K. Quantum-cascade laser
CN105765804B (zh) * 2013-11-30 2019-06-18 统雷量子电子有限公司 量子级联激光器
JP6259325B2 (ja) * 2014-03-12 2018-01-10 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
JP6309094B2 (ja) * 2014-06-04 2018-04-11 シャープ株式会社 量子カスケードレーザ
JP6559000B2 (ja) 2015-07-29 2019-08-14 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
JP6506663B2 (ja) 2015-08-31 2019-04-24 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
JP2017050308A (ja) 2015-08-31 2017-03-09 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
JP6371332B2 (ja) * 2016-05-20 2018-08-08 シャープ株式会社 量子カスケードレーザ

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5457709A (en) 1994-04-04 1995-10-10 At&T Ipm Corp. Unipolar semiconductor laser
US5509025A (en) 1994-04-04 1996-04-16 At&T Corp. Unipolar semiconductor laser
US5727010A (en) 1996-03-20 1998-03-10 Lucent Technologies Inc. Article comprising an improved quantum cascade laser
JP3159946B2 (ja) * 1996-11-06 2001-04-23 ルーセント テクノロジーズ インコーポレイテッド 量子カスケードレーザを有する物品
US5745516A (en) 1996-11-06 1998-04-28 Lucent Technologies Inc. Article comprising a unipolar superlattice laser
US6137817A (en) * 1998-06-12 2000-10-24 Lucent Technologies Inc. Quantum cascade laser
US6148012A (en) * 1998-10-21 2000-11-14 Lucent Technologies Inc. Multiple wavelength quantum cascade light source
US6324199B1 (en) * 1998-11-18 2001-11-27 Lucent Technologies Inc. Intersubband light source with separate electron injector and reflector/extractor
EP1195865A1 (fr) 2000-08-31 2002-04-10 Alpes Lasers SA Laser à cascades quantiques
EP1189317A1 (fr) 2000-09-13 2002-03-20 Alpes Lasers SA Laser à cascade quantique à excitation par des phonons optiques
JP4494721B2 (ja) * 2003-02-13 2010-06-30 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
JP4250573B2 (ja) * 2004-07-16 2009-04-08 キヤノン株式会社 素子
JP2008060396A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Hamamatsu Photonics Kk 量子カスケードレーザ
JP5641667B2 (ja) 2007-01-18 2014-12-17 浜松ホトニクス株式会社 量子カスケードレーザ
JP5127430B2 (ja) * 2007-12-25 2013-01-23 キヤノン株式会社 レーザ素子

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011035139A (ja) 2011-02-17
US8654809B2 (en) 2014-02-18
WO2011013432A1 (ja) 2011-02-03
EP2461435A4 (en) 2017-11-22
US20110026556A1 (en) 2011-02-03
EP2461435B1 (en) 2020-12-30
EP2461435A1 (en) 2012-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5523759B2 (ja) 量子カスケードレーザ
JP5641667B2 (ja) 量子カスケードレーザ
JP5248881B2 (ja) 量子カスケードレーザ
US8514903B2 (en) Quantum cascade laser
JP2010278326A (ja) 量子カスケードレーザ
JP2008060396A (ja) 量子カスケードレーザ
JP5941655B2 (ja) 量子カスケードレーザ
US9484715B2 (en) Quantum-cascade laser
US7558305B2 (en) Intersubband mid-infrared electroluminescent semiconductor devices
JP2011035138A (ja) 半導体発光素子
JP5771120B2 (ja) 量子カスケードレーザの製造方法
WO2010082405A1 (ja) 量子カスケードレーザ
KR100842288B1 (ko) 인터밴드 터널링 부밴드 천이 반도체 레이저
JP2011151249A (ja) 量子カスケードレーザ
JP2009123955A (ja) 量子カスケードレーザ
Vurgaftman et al. Physics of interband cascade lasers
JP2009239093A (ja) 量子カスケードレーザ
Liang et al. Novel cascade diode lasers based on type-I quantum wells
JP2021166234A (ja) 量子カスケードレーザー素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120507

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130226

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130425

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20131105

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140129

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20140205

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140408

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140409

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5523759

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250