JP5512926B2 - Zオフセットmems装置および方法 - Google Patents

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Description

本発明は、ZオフセットMEMS装置および方法に関する。
標準的な微小電気機械システム(MEMS)加工技術は、z軸に(ウェハ表面から外に)対称であるがx軸およびy軸内で(ウェハ表面の面内で)変化しうる構造を作り出す。現在、z軸に非対称性を作り出すことは、スティクションプレート(stiction plate)を用いたたわみによって、あるいは選択的薄層化によって行われうる。スティクションプレートを用いたたわみは、z動作に感応性のある装置につながるが、z軸正負両方向の複数のzオフセットに対して容易には実施されず、追加ステップおよび追加の処理層も必要になり、それによってより費用がかかる。選択的薄層化は、櫛歯駆動(comb drive)の1組の歯をZ方向に薄くすることによって行われるが、これには、余分のマスクおよび追加のエッチングが必要となり、むしろ不正確でもある。非対称性をより容易に作り出す1つの方法は、z軸正負方向に非対称性をもたらすために、MEMS装置の機構層を密封する上下カバーを必要とする。MEMS装置のいくつかの用途は、露出した機構層を必要とし、上カバーは、これらの用途には不適合である。
米国特許出願第11/360,870号
したがって、MEMS装置内に、MEMS装置を完全に密封することなくzオフセットを容易に形成する方法が必要である。
第1の部分および第2の部分を有する機構層と機構層を取り付けるためのベースとを備える微小電気機械システム(MEMS)装置である。機構層はベースに接合され、次いで、導電性または半導電性の材料が、それがベースに接触するまで、第1および第2の部分の一方をz軸負方向にたわませるために使用される。次いで、その部分をベースに接合するために、電圧が導電性材料を通じて印加され、導電性材料は除去され、それによって、上カバーの必要なしにz軸非対称性を作る。
図1Aは、本発明に従って形成された実施例の機構層12の上面図である。機構層12は、壁5、6、7、8と、第1の可動部分14と、第2の可動部分16と、固定部分18とを含む。第1の可動部分14は、フレクシャ(flexure)15(ねじれフレクシャまたはヒンジ)によって壁7、8に取り付けられ、第2の可動部分16は、フレクシャ17によって壁7、8に取り付けられ、固定部分18は、フレクシャ19によって壁7、8に取り付けられる。
図1Bは、機構層48の代替実施形態の上面図である。機構層48は、壁50、52、54、56と、フレクシャ60によって壁54、56に取り付けられた可動部分64と、フレクシャ58によって壁54、56に取り付けられた固定部分62とを含む。
図2A、2B、および2Cは、本発明の一実施形態に従って形成された微小電気機械システム(MEMS)装置10の様々な中間構造の側面図を示す。図2Aは、図1Aの機構層12を示す。機構層12は、シリコンで製作される。上面21、ギャップ22、およびギャップ面23を有するベース20も示されている。ベース20は、ガラスで製作される。ギャップ22の深さは、固定部分18の所望のzオフセット距離に等しい。ギャップ22は、ウェットエッチングまたは当業者に知られている他のプロセスによって形成される。
図2Bは、機構層12を上面21に接合した後の機構層12およびベース20を示す。シリコン機構層12およびガラスベース20の場合、陽極接合が、機構層12を上面21に接合するために使用されうる。ベース20および機構層12が異なる材料で製作されるとき、当業者に知られている適切な接合技術が使用されうる。接合後、フレクシャ15および17により、可動部分14、16は動くことができる。
図2Cは、機構層12の固定部分18が、導電性または半導電性材料24、好ましくは高濃度ドープシリコンによって下方に変位してギャップ面23に接触した状態のベース20を示す。導電性材料24は、それが、固定部分18を変位させるが第1および第2の可動部分14、16を変位させないように使用できるような大きさおよび形状にされる。導電性材料24が固定部分18に接触し、かつ固定部分18がギャップ面23に接触している間、固定部分18のギャップ面23への接合を達成するために、電圧Vおよび圧力Pがベース20と固定部分18との間に印加される。接合後、導電性材料24は、図3の完成構造26を残して除去される(明瞭にするために壁7、8が示されていないことに留意されたい)。
図4に、本発明による実施例の方法のブロック図28が示されている。最初のブロック30では、ベースがマスキングされエッチングされて、ギャップを形成する。二番目のブロック32では、機構層がマスキングされエッチングされて、機構層の様々な構造を形成する。ブロック34では、機構層がベースに接合される。ブロック36では、機構層の一部分が、それがギャップ面に接触するまで、ベースのギャップの中へたわむ。ブロック38では、たわみ部分がベースに接合される。
本発明の方法は、上カバーを含むことなくz軸正負方向のオフセットを可能にするために、参照により本明細書に組み込まれている、2006年2月23日に出願した「Z OFFSET MEMS DEVICE」という名称の、同時係属の共有米国特許出願第11/360,870号において開示されている方法と組み合わされうることに留意されたい。z軸負方向のオフセットは、本発明の方法によってもたらされることができ、z軸正方向のオフセットは、「Z OFFSET MEMS DEVICE」出願の方法によってもたらされうる。
本発明の好ましい実施形態について、例示し説明してきたが、上述のように、本発明の精神および範囲から逸脱することなく、多くの変更を加えることができる。したがって、本発明の範囲は、好ましい実施形態の開示によって限定されるものではない。それよりも、本発明は、特許請求の範囲を参照することによって完全に決定されるべきである。
本発明に従って形成された機構層の一実施形態の上面図である。 本発明に従って形成された機構層の代替実施形態の上面図である。 本発明による方法で形成された中間構造を示す図である。 本発明による方法で形成された中間構造を示す図である。 本発明による方法で形成された中間構造を示す図である。 本発明によるMEMS装置の側面図である。 本発明による方法のブロック図である。
符号の説明
5 壁
6 壁
7 壁
8 壁
10 微小電気機械システム(MEMS)装置
12 機構層
14 第1の可動部分
15 フレクシャ
16 第2の可動部分
17 フレクシャ
18 固定部分
19 フレクシャ
20 ベース
21 上面
22 ギャップ
23 ギャップ面
24 導電性または半導電性材料
26 完成構造
28 方法
30 ブロック
32 ブロック
34 ブロック
36 ブロック
38 ブロック
48 機構層
50 壁
52 壁
54 壁
56 壁
58 フレクシャ
60 フレクシャ
62 固定部分
64 可動部分

Claims (5)

  1. 機構層(12)を有する微細電気機械システム(MEMS)装置(10)であって、前記機構層(12)は、
    第1の側方部分(14)と、
    第2の側方部分(16)と、
    第3の中央部分(18)とを含み、
    前記装置(10)はさらに、上面(21)を有しかつギャップ面(23)を有する前記上面(21)内にギャップ(22)を画定するベース(20)を含み、
    前記第3の部分(18)が、前記ギャップ(22)の中へたわめられ、前記ギャップ面(23)に接合され、
    前記第1の側方部分(14)、前記第2の側方部分(16)、および前記第3の中央部分(18)が、櫛歯構造を形成し、前記第2の側方部分(16)に関連する面に対して直交する方向の加速度を検知するようになされている、微細電気機械システム(MEMS)装置(10)。
  2. 請求項1に記載の装置(10)であって、前記ベース(20)がガラスで製作され、前記第3の部分(18)がシリコンで製作され、前記第3の部分(18)が前記ベース(20)に陽極接合される、装置(10)。
  3. 微細電気機械システム(MEMS)装置を製造する方法(28)であり、
    エッチング(30)によってベース(20)の2つの層(21)内にギャップ面(23)を有するギャップ(22)を形成するステップ(30)と、
    前記ベースの面に対して垂直なZ軸方向に関して、該Z軸の負方向にオフセットされた少なくとも1つの構造と、Z軸の正方向にオフセットされた少なくとも1つの構造とからなる機構層(12)であって、第1の側方部分(14)と、第2の側方部分(16)と、第3の中央部分(18)とを含んでいる、機構層(12)を形成するステップと、
    前記機構層の前記第3の中央部分を、該第3の中央部分が前記ベース(36)に接触するまで、前記ベース内のギャップの中へたわませるステップ(36)と、
    前記第3の中央部分を前記ベース(38)に接合させて、前記第1の側方部分(14)、前記第2の側方部分(16)、および前記第3の中央部分(18)が、前記第2の側方部分(16)に関連する面に対して直交する方向の加速度を検知するようになされた櫛歯構造を形成するようにさせるステップ(38)と、を含む方法(28)。
  4. 請求項3に記載の方法(28)であって、前記エッチングがウェットエッチングである方法。
  5. 前記MEMS装置が上カバーを含まない、請求項3に記載の方法。
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