JP5511479B2 - 測定装置 - Google Patents
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Description
以下、この発明による測定装置の実施の形態を説明する。なお、上記説明のものと同一もしくは相当部分は同一符号で示し、重複する説明は省略する。
Claims (16)
- 測定対象物の状態を観測する複数のセンサと、
前記複数のセンサで観測されたデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、行列のランクが小さくなる高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求めるか、又はそれぞれの高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求め、測定処理時の所定値の比較により使用するデータを選択する統計・測定処理手段と、
を備えたことを特徴とする測定装置。 - 2種類以上の高次統計処理として4次キュムラント演算と4次モーメント演算を含むことを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 所望の高次統計処理に関し、高次統計処理を施す前に前記複数のセンサで観測されたデータ列に、データ変換を伴うデータの帯域制限処理を行うデータ帯域制限処理手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。
- データ帯域制限処理手段における帯域制限処理が、フーリエ変換に基づくデータ変換処理を含むことを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
- 観測されたデータ列を変換した変換後データ列に非線形処理を施すことを特徴とする請求項3又は4に記載の測定装置。
- 非線形処理として、変換後データ列からデータを削減することを特徴とする請求項5に記載の測定装置。
- データ帯域制限処理手段が、データ変換後のデータ列への再変換を含むことを特徴とする請求項3から6までのいずれか1項に記載の測定装置。
- 再変換において、フーリエ変換に基づく処理を含むことを特徴とする請求項7に記載の測定装置。
- データ帯域制限処理手段が、ローパスフィルタ又はハイパスフィルタ又はバンドパスフィルタを含むことを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
- 統計・測定処理手段が、前記複数のセンサで観測された同一のデータ列に2種類以上の高次統計処理を施すことを特徴とする請求項1から9までのいずれか1項に記載の測定装置。
- 統計・測定処理手段が、前記複数のセンサで観測されたデータ列を複数列に分配し、複数列に分配されたデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、データ帯域制限処理手段が、複数に分配されたデータ列のうちの所望のデータ列に高次統計処理を施す前に帯域制限処理を行うことを特徴とする請求項3から9までのいずれか1項に記載の測定装置。
- 帯域制限処理が施されたデータ列と施されないデータ列に同一の高次統計処理を施すことを特徴とする請求項11に記載の測定装置。
- 帯域制限処理が施されたデータ列と施されないデータ列に異なる高次統計処理を施すことを特徴とする請求項11に記載の測定装置。
- 統計・測定処理手段が、各高次統計処理結果を比較して行列のランクが小さくなる高次統計処理結果を選択することを特徴とする請求項10から13のいずれか1項に記載の測定装置。
- 統計・測定処理手段が、前記複数のセンサで観測された同一のデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、それぞれの高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求め、測定処理時の所定値の比較により使用するデータを選択することを特徴とする請求項10から13のいずれか1項に記載の測定装置。
- 選択結果を外部に出力する出力手段をさらに備えたことを特徴とする請求項14又は15に記載の測定装置。
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