JP2011226856A - 測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】信号の混信状態に依存せず、所定の測定精度から劣化することのない測定処理が可能な測定装置を得る。
【解決手段】測定対象物の状態を観測する複数のセンサ11〜1Lと、前記複数のセンサで観測されたデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、行列のランクが小さくなる高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求めるか、又はそれぞれの高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求め、測定処理時の所定値の比較により使用するデータを選択する統計・測定処理手段6,7,9,121と、を備えた。
【選択図】図1

Description

この発明は、並べて配置された複数のセンサで信号源等の測定対象物からの到来信号を受信し、例えば到来信号の入射角度(信号源の方位)を推定する測角装置等の測定装置(測定装置からの測定対象物の状態を測定する)に関する。
空間的に並べて配置された複数のセンサを用いる測角装置では、各センサで受信された観測データ間に存在する振幅差や位相差に基づいて到来信号の入射角度が推定される。並べて配置された複数のセンサを用いて到来信号の入射角度を推定するものとして、MUSIC(Multiple Signal Classification)法等を用いる測角装置が知られている(例えば、下記非特許文献1参照)。
測角装置でMUSIC法を実施する場合、全センサの受信特性を事前に計測する必要がある。上記受信特性は、全入射角度に対してセンサ各々の特性として定義される情報である。このような多量の情報を取得する計測作業は、実施困難となる場合があった。
下記非特許文献2に示されるVESPAは、少なくとも2つのセンサの受信特性を事前に計測するだけで、測角処理を実現する。よって、VESPAはMUSIC法より少数のセンサの受信特性しか計測しない測角方式として知られている。
VESPAやMUSIC法を用いる測角装置では、各センサで観測した観測データで観測データベクトルを形成し、複数の時刻で観測した観測データベクトルの統計処理を行う。とりわけVESPAによる測角装置の特徴としては、MUSIC法などより次数の高い統計処理を行うことが挙げられる。
H. Krim and M. Viberg著、"Two Decades of Array Signal Processing Research:The Parametric Approach"、IEEE Signal Processing Magazine、Vol.13、No.4、pp.67-94、Jul 1996 M. Dogan and J. Mendel著、"Application of Cumulants to Array Processing-Part I : Aperture Extension and Array Calibration"、IEEE Trans. Signal Processing、 Vol.43、No.5、pp.1200-1216、 May 1995 M. Mendel著、"Tutorial on higher-order statistics (spectra) in signal processing and system theory: theoretical results and some applications"、Proceedings of the IEEE、Vol.79、No.3、pp.278-305、Mar 1991 E. Gonen, J. M. Mendel and M. C. Dogan、"Applications of cumulants to array processing. IV. Direction Finding in coherent signals case"、IEEE Trans. Signal Proc.、Vol.45、No. 9、pp.2265-2276、Sep 1997
上記のような高次統計処理を実施する測定装置では、到来する信号の混信状態に依存して、測定精度が劣化する場合があった。
この発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、信号の混信状態に依存せず、所定の測定精度から劣化することのない測定処理が可能な測定装置を得ることを目的とする。
この発明は、測定対象物の状態を観測する複数のセンサと、前記複数のセンサで観測されたデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、行列のランクが小さくなる高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求めるか、又はそれぞれの高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求め、測定処理時の所定値の比較により使用するデータを選択する統計・測定処理手段と、を備えたことを特徴とする測定装置にある。
この発明では、信号の混信状態に依存せず、所定の測定精度から劣化することのない測定処理が可能となる。
この発明による測定装置の処理構成の一例を示す機能ブロック図である。 この発明による測定装置の処理構成の別の例を示す機能ブロック図である。 この発明による測定装置の処理構成のさらに別の例を示す機能ブロック図である。 この発明による測定装置の処理構成のさらに別の例を示す機能ブロック図である。 測角装置における基本的な処理構成を示す機能ブロック図である。 VESPAを用いる測角装置の処理構成を示す機能ブロック図である。 測角装置の処理構成の応用例を示した機能ブロック図である。 VESPAを用いる測角装置の処理構成の応用例を示した機能ブロック図である。 図8の測角装置を改良したこの発明に関連する測角装置の処理構成の一例を示した機能ブロック図である。 図8の測角装置を改良したこの発明に関連する測角装置の処理構成の別の例を示した機能ブロック図である。 図8の測角装置を改良したこの発明に関連する測角装置の処理構成の別の例を示した機能ブロック図である。 図6の測角装置を改良したこの発明に関連する測角装置の処理構成の一例を示した機能ブロック図である。
以下では、この測定装置が例えば、到来信号の入射角度を推定する測角装置である場合について説明する。
最初にこの発明の基本となりかつ上述するように部分的にこの発明に組み込まれる関連技術について説明する。図5は測角装置における基本的な処理構成を示す機能ブロック図である。図5の測角装置は、複数のセンサ(アンテナ等)11〜1Lにより観測したデータに基づき観測データベクトル形成部2で観測データベクトルを形成し、データ統計処理部3で観測データベクトルの統計処理を行う。データ統計処理部3で統計処理した統計処理結果は、測角処理部4で測角処理される。測角処理部4の処理結果は測角結果出力部5から例えば外部装置(図示省略)に出力される。
図6はVESPAを用いる測角装置の処理構成を示す機能ブロック図である。図5の測角装置と図6の測角装置を比較すると、図5におけるデータ統計処理部3が図6では4次キュムラント統計処理部6であることが特徴として挙げられる。上記非特許文献2では4次キュムラント統計処理部6とVESPA測角処理部7を合わせてVESPAとされているが、本願では説明の簡単のため、図6のように4次キュムラント統計処理部6とVESPA測角処理部7を分けて表示する。
図7は測角装置における応用的な処理構成を示す機能ブロック図である。図7の処理構成は、図5の処理構成において観測データベクトル形成部2とデータ統計処理部3の間に、データ帯域制限処理部8を追加している。データ帯域制限処理部8は、SNR(Signal to Noise Ratio)の増加と、データ統計処理部3で発生する処理演算量の低減を目的として追加される。データ帯域制限処理部8の代表的な内部処理は、観測データベクトルの要素それぞれについて時間サンプリングした時系列データをフーリエ変換する処理と、フーリエ変換したデータ列から電力の小さいデータを削除する処理で構成される。なお、データ帯域制限処理部8と同等の処理は、各センサ11〜1Lと観測データベクトル形成部2の間で実施することも可能であるが、ここでは自明であるものとして記載を省略する。
図5の処理構成と図7の処理構成の関係と同様に、図6のVESPAを用いる処理構成にデータ帯域制限処理部8を追加したものが図8の処理構成である。この発明が解決しようとする課題は、図8のような処理構成を用いた場合に発生しうるものである。VESPAは、上記非特許文献2や非特許文献3に記載されるように時間サンプリングしたデータ内に定常的に信号電力が存在することを想定し、観測データの統計処理に4次キュムラントを使用する。しかし図8の処理構成では、データ帯域制限処理部8の内部にフーリエ変換が存在するため、信号電力がデータ列内に局在する可能性がある。よって、入力データ内の電力分布がVESPAで想定する信号状態と異なるため、測角装置として所望の性能が得られない可能性が生じる。
課題を解決する手段として、この発明では、観測データの統計処理方法として、4次キュムラントだけでなく、図9のように4次モーメントなども使用できる機能を備えた測角装置を提供する。これは、上記のように信号電力がデータ列内に局在する場合、4次モーメントなどで統計処理を実施した方が非特許文献2に記載されるアルゴリズムの動作に適するためである。
しかし、実運用において多様な到来信号に対応することを想定する場合、統計処理を4次キュムラント、または4次モーメントの一方のみに統計処理を固定できない。よって、この発明の測角装置では、複数の統計処理方法が実施可能であることを特徴とする。
一方、4次キュムラントを使用するVESPAを用いる測角装置で所望の性能が得られない原因は、図8などにおけるデータ帯域制限処理部8の内部処理にフーリエ変換が存在するためである。よって、この発明では、統計処理の前段に観測データを変換する処理が存在することを特徴とする。観測データを変換する処理をフーリエ変換に限定していない理由は、逆フーリエ変換を使用した場合でもフーリエ変換を使用した場合と同様の効果が実現できるためである。
また、図8などにおけるデータ帯域制限処理部8には、内部処理としてデータ列から電力が小さいデータを削除するような処理が存在する。これは、雑音電力の削減と後段の統計処理での演算量の削減を目的とするものである。データ列に対して情報量を削減することによる不可逆な非線形演算を含むことがこの発明の特徴の一つとして挙げられる。
図10の処理構成のようにデータ帯域制限処理部8を実施後にデータ再変換処理部101で逆変換を行えば、4次キュムラントを使用するVESPAを用いる測角装置で所望の性能が得られる。ここで、仮にデータ帯域制限処理部8の内部処理がフーリエ変換であっても、データ再変換処理部101の内部処理が逆フーリエ変換に限定されない。データ帯域制限処理部8の内部処理がフーリエ変換であって、データ再変換処理部101の内部処理がフーリエ変換であっても、この発明の測角装置における処理機能に影響はない。同様に、データ帯域制限処理部8の内部処理が逆フーリエ変換であって、データ再変換処理部101の内部処理が逆フーリエ変換であっても、この発明の測角装置における処理機能に影響はない。
図10の測角装置において、データ帯域制限処理部8とデータ再変換処理部101の組合せによる効果が、帯域通過フィルタを使用する場合と同様の効果が得られる場合がある。よって、図11のように観測データベクトル形成部2と4次キュムラント統計処理部6の間にローパスフィルタ又はハイパスフィルタ又はバンドパスフィルタのいずれかにより構成するフィルタ処理部111を実施することも可能である。ただし、データ帯域制限処理部8とデータ再変換処理部101の組合せは、帯域通過フィルタよりも複雑な処理が実現しやすいため、図10と図11の構成は異なるものとする。
上記例では、データ帯域制限処理部8を用いることでデータ列内の信号電力が局在することにより、4次キュムラントを統計処理に使用するVESPAを用いる測角装置で所望の性能が得られない場合について示した。ここで、到来する信号の電力自体が時間的に局在する特性であるとすると、図6の測角装置であっても所望の性能が得られない場合がある。
上記のような場合を想定すると、図12のように観測データベクトル形成部2の次段の統計処理として4次モーメント統計処理部9を実施する処理構成もこの発明の特徴として挙げられる。
実施の形態1.
以下、この発明による測定装置の実施の形態を説明する。なお、上記説明のものと同一もしくは相当部分は同一符号で示し、重複する説明は省略する。
図1はこの発明による測定装置の処理構成を示す機能ブロック図である。この発明による測角装置は、複数の統計処理が実施可能とする特徴があるため、図1の測角装置のように複数の統計処理を実施できる。図1の測角装置では、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルを4次キュムラント統計処理部6と4次モーメント統計処理部9でそれぞれ統計処理を実施し、それぞれの統計処理結果を統計結果比較処理部121で比較を行う。例えば統計結果比較処理部121では、4次キュムラント統計処理部6の統計処理結果を固有値解析処理した固有値群と、4次モーメント統計処理部9の統計処理結果を固有値解析処理した固有値群とを固有値の大きさの相対関係で比較することにより、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルに含まれる信号が4次キュムラント統計処理部6と4次モーメント統計処理部9のどちらで統計処理することにより推定精度の劣化が回避できるかを判定できる。
この発明で課題で挙げる推定精度の劣化は、統計結果にVESPAで想定しない余分な成分が混入することで発生する。このため、推定精度が劣化する場合、統計結果の固有値群に余分な成分に依存する大きさを持つ固有値が発生する。4次キュムラント統計処理部6と4次モーメント統計処理部9の各々に基づく固有値群を比較すると、行列のランクとして差異が検出でき、ランクが小さくなる処理を選択することにより4次キュムラント統計処理部6と4次モーメント統計処理部9のどちらを用いるべきかが判定できる。
同様に、図2の測角装置のように、4次キュムラント統計処理部6の統計結果をVESPA測角処理部7で測角処理した測角結果と、4次モーメント統計処理部9の統計結果をVESPA測角処理部7で測角処理した測角結果とを、測角結果比較処理部131で比較することにより、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルに含まれる信号が4次キュムラント統計処理部6と4次モーメント統計処理部9のどちらで統計処理することにより推定精度の劣化が回避できるかを判定できる。
VESPA測角処理部7が固有値算出処理または特異値算出処理を含むことから、測角結果比較処理部131ではVESPA測角処理部7における処理結果としての固有値または特異値の大きさを比較することで統計結果比較処理部121と同様の判定が可能である。さらに、上記非特許文献4に基づけば、VESPA測角処理部7が一般化ステアリングベクトルを算出することが可能であることから、一般化ステアリングベクトルと事前に実測したステアリングベクトルを比較することによりベクトル相関度を基準として上記判定処理が可能である。
この発明で課題で挙げる推定精度の劣化が発生する場合、混信信号を混信前の状態へ分離する処理の精度も劣化する。分離する処理の劣化は、VESPAにおける一般化ステアリングベクトルの推定精度が劣化することを意味する。推定精度が劣化した一般化ステアリングベクトルは、測角処理で用いる目的でデータベース(図示省略)に保持する情報に基づくステアリングベクトルと比較すると、ベクトル相関値の低下が見られる。よって、ベクトル相関値の低下を基準に比較することで、4次キュムラント統計処理部6と4次モーメント統計処理部9のどちらを用いるべきかが判定できる。
さらに上記判定処理を同様に実施する測角装置として、この発明では2つ以上の統計処理を備える測角装置が実現できる。例えば、図3のように観測データベクトル形成部2の観測データベクトルを4次キュムラント統計処理部6で統計処理する機能と、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルをデータ帯域制限処理部8で処理してから4次モーメント統計処理部9で統計処理する機能とを備えた測角装置が実現できる。加えて、図4のように、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルを4次キュムラント統計処理部6で統計処理する機能と、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルをデータ帯域制限処理部8で処理してから4次モーメント統計処理部9で統計処理する機能と、観測データベクトル形成部2の観測データベクトルをデータ帯域制限処理部8で処理してから4次キュムラント統計処理部6で統計処理する機能とを備えた測角装置も実現できる。
このように複数の統計処理を備える測角装置は、VESPA測角処理部7を実施することに限定しても、図6と図8と図9と図10と図11と図12の測角装置において観測データベクトル形成部2の観測データベクトルを統計処理するまでの処理方法を複数組み合わせることで得られる。
また、統計結果比較処理部121や測角結果比較処理部131の判定結果を測角装置外部へ出力する(測角結果比較処理部131の場合、例えば図2の測角結果出力部5、統計結果比較処理部121の場合の出力部は図示省略)ことにより、測角処理を劣化させるような特性を有する信号を受信しているなどの情報を他の装置で用いることもできる。
なお、4次キュムラント統計処理部6、VESPA測角処理部7、4次モーメント統計処理部9、統計結果比較処理部121、測角結果比較処理部131が統計・測定処理手段を構成し、データ帯域制限処理部8、データ再変換処理部101、フィルタ処理部111がデータ帯域制限処理手段を構成し、観測データベクトル形成部2と共に例えばコンピュータで実現される。
この発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、各図に示された構成の可能な組み合わせを全て含むことは云うまでもなく、さらに統計処理の数や種類、統計処理のデータ帯域制限処理や測定(測角)処理との組み合わせも、図示されたものに限定されるものではない。さらに関連技術として記載された構成の可能な組み合わせも全て含む。さらに測角装置に限定されることなく、種々の測定装置に適用可能である。
11〜1L センサ、2 観測データベクトル形成部、3 データ統計処理部、4 測角処理部、5 測角結果出力部、6 4次キュムラント統計処理部、7 VESPA測角処理部、8 データ帯域制限処理部、9 4次モーメント統計処理部、101 データ再変換処理部、111 フィルタ処理部、121 統計結果比較処理部、131 測角結果比較処理部。

Claims (16)

  1. 測定対象物の状態を観測する複数のセンサと、
    前記複数のセンサで観測されたデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、行列のランクが小さくなる高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求めるか、又はそれぞれの高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求め、測定処理時の所定値の比較により使用するデータを選択する統計・測定処理手段と、
    を備えたことを特徴とする測定装置。
  2. 2種類以上の高次統計処理として4次キュムラント演算と4次モーメント演算を含むことを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
  3. 所望の高次統計処理に関し、高次統計処理を施す前に前記複数のセンサで観測されたデータ列に、データ変換を伴うデータの帯域制限処理を行うデータ帯域制限処理手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。
  4. データ帯域制限処理手段における帯域制限処理が、フーリエ変換に基づくデータ変換処理を含むことを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
  5. 観測されたデータ列を変換した変換後データ列に非線形処理を施すことを特徴とする請求項3又は4に記載の測定装置。
  6. 非線形処理として、変換後データ列からデータを削減することを特徴とする請求項5に記載の測定装置。
  7. データ帯域制限処理手段が、データ変換後のデータ列への再変換を含むことを特徴とする請求項3から6までのいずれか1項に記載の測定装置。
  8. 再変換において、フーリエ変換に基づく処理を含むことを特徴とする請求項7に記載の測定装置。
  9. データ帯域制限処理手段が、ローパスフィルタ又はハイパスフィルタ又はバンドパスフィルタを含むことを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
  10. 統計・測定処理手段が、前記複数のセンサで観測された同一のデータ列に2種類以上の高次統計処理を施すことを特徴とする請求項1から9までのいずれか1項に記載の測定装置。
  11. 統計・測定処理手段が、前記複数のセンサで観測されたデータ列を複数列に分配し、複数列に分配されたデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、データ帯域制限処理手段が、複数に分配されたデータ列のうちの所望のデータ列に高次統計処理を施す前に帯域制限処理を行うことを特徴とする請求項3から9までのいずれか1項に記載の測定装置。
  12. 帯域制限処理が施されたデータ列と施されないデータ列に同一の高次統計処理を施すことを特徴とする請求項11に記載の測定装置。
  13. 帯域制限処理が施されたデータ列と施されないデータ列に異なる高次統計処理を施すことを特徴とする請求項11に記載の測定装置。
  14. 統計・測定処理手段が、各高次統計処理結果を比較して行列のランクが小さくなる高次統計処理結果を選択することを特徴とする請求項10から13のいずれか1項に記載の測定装置。
  15. 統計・測定処理手段が、前記複数のセンサで観測された同一のデータ列に2種類以上の高次統計処理を施し、それぞれの高次統計処理結果に基づき前記測定対象物の状態の測定処理を行い特徴量を示すデータを求め、測定処理時の所定値の比較により使用するデータを選択することを特徴とする請求項10から13のいずれか1項に記載の測定装置。
  16. 選択結果を外部に出力する出力手段をさらに備えたことを特徴とする請求項14又は15に記載の測定装置。
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