JP5501043B2 - 容量変化型変位計 - Google Patents

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本発明は、サーボ型加速度ピックアップや傾斜計等、計測対象の変位をコンデンサの可動極に力学的に作用させて、当該コンデンサの容量変化を検出することにより前記変位を計測する容量変化型変位計に関する。
容量変化型変位計は、高周波キャリア信号を変位検出する変位検出用コンデンサの容量値により変調をかけ、その変調信号を復調することにより変位を検出する方式をとることがある。この場合、復調回路には検出感度が高いトランジスタをベース接地で用いたベース接地型検波回路を用いることが多い。
特開平成08‐178955号公報
しかし、上述したベース接地型検波回路の検出値は、トランジスタの温度特性がそのまま反映されて敏感に温度変化するという問題がある。
本発明は以上の従来技術における問題に鑑みてなされたものであって、容量変化型変位計のベース接地型検波回路の検出値の温度依存により変化する成分を除去して計測精度を向上し、安定させることを課題とする。
以上の課題を解決するための請求項1記載の発明は、計測対象の変位を変位検出用コンデンサの可動極に力学的に作用させて、当該変位検出用コンデンサの容量変化を検出することにより前記変位を計測する容量変化型変位計において、
変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第1のトランジスタ(Q1)を有する第1のベース接地型検波回路、及び、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第2のトランジスタ(Q2)を有する第2のベース接地型検波回路を含み、前記第1のベース接地型検波回路の出力信号と前記第2のベース接地型検波回路の出力信号の差動信号を、前記変位を示す変位検出信号として出力する第1組の回路と、
変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第3のトランジスタ(Q3)を有する第3のベース接地型検波回路、及び、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第4のトランジスタ(Q4)を有する第4のベース接地型検波回路を含み、前記第3のベース接地型検波回路の出力信号と前記第4のベース接地型検波回路の出力信号の差動信号を、前記変位を示す変位検出信号として出力する第2組の回路と、
前記第1のトランジスタ(Q1)と、前記第3のトランジスタ(Q3)とは同等の温度変化特性を有し、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を当該キャリア信号の相互逆位相で検出し、
前記第2のトランジスタ(Q2)と、前記第4のトランジスタ(Q4)とは同等の温度変化特性を有し、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を当該キャリア信号の相互逆位相で検出する容量変化型変位計である。
請求項2記載の発明は、前記第1組の回路が出力する前記差動信号(OUT1)と、前記第2組の回路が出力する前記差動信号(OUT2)とを相互に減算して出力することで、前記第1のベース接地型検波回路の出力信号と前記第3のベース接地型検波回路の出力信号とが相互に減算され、前記第2のベース接地型検波回路の出力信号と前記第4のベース接地型検波回路の出力信号とが相互に減算された差動信号を出力するオペアンプ(U1)を備えた請求項1に記載の容量変化型変位計である。
本発明によれば、同等の温度変化特性を有する1対のベース接地型検波回路の出力信号をオペアンプで相互に減算して出力することにより、温度依存により変化する成分を除去することができるので、容量変化型変位計の計測精度を向上し、安定させることができるという効果がある。
本発明一実施形態の容量変化型変位計に係る電気回路の回路図である。 本発明一実施形態の容量変化型変位計に係る電気回路の出力OUT1,2,3のオフセット電圧の異なる温度毎による時間変化を示すグラフである。 本発明一実施形態の容量変化型変位計に係る電気回路の出力OUT3のオフセット電圧の異なる温度毎による時間変化を示すグラフである。 比較例の容量変化型変位計に係る電気回路図である。 比較例の容量変化型変位計に係る電気回路の出力OUT1のオフセット電圧の異なる温度毎による時間変化を示すグラフである。
以下に本発明の一実施形態につき図面を参照して説明する。以下は本発明の一実施形態であって本発明を限定するものではない。
図1に示すように本実施形態の容量変化型変位計は、図4に示す比較例と同様に、可動極を有する変位検出用コンデンサと変位検出用リファレンスコンデンサの2つのコンデンサC1,C2を備える。コンデンサC1,C2のうち一方が可動極を有するコンデンサで、他方がリファレンスコンデンサである。
発振器により生成された数MHzのキャリア信号V4がコンデンサC1,C2に入力される。コンデンサC1,抵抗R5,コンデンサC3を介して導電するキャリア信号をトランジスタQ1等から構成されるベース接地型検波回路で検出する一方、コンデンサC2,抵抗R6,コンデンサC4を介して導電するキャリア信号をトランジスタQ2等から構成されるベース接地型検波回路で検出し、両検波部の出力信号の差動信号が電極OUT1に出力される。
本回路は、変位検出用コンデンサの可動極の変位が0であれば、リファレンスコンデンサの容量と変位検出用コンデンサの容量とが一致し、前記差動信号が0となる。変位検出用コンデンサの可動極に変位があれば、変位検出用コンデンサの容量が変化してリファレンスコンデンサの容量と変位検出用コンデンサの容量と間に容量差が生じるので、前記差動信号がその変位を示す変位検出信号として出力される。
なお、以上のコンデンサC1,C2を、2つの固定極版の間に力学的作用を受ける可動極版を備えたコンデンサに置き換え、一方の固定極と可動極と間の容量変化及び他方の固定極と可動極と間の容量変化をそれぞれ検出してこの両者の差動信号を出力するプッシュプル方式の構成を実施してもよい。
本実施形態の容量変化型変位計は図4に示す比較例と異なり、コンデンサC1を介して導電するキャリア信号を検出するトランジスタQ1等から構成されるベース接地型検波回路、及び、コンデンサC2を介して導電するキャリア信号を検出するトランジスタQ2等から構成されるベース接地型検波回路からなる回路と同様の回路をもう一組有する。すなわち、トランジスタQ1等から構成されるベース接地型検波回路と対を構成するように、トランジスタQ3等から構成されるベース接地型検波回路を備え、トランジスタQ2等から構成されるベース接地型検波回路と対を構成するように、トランジスタQ4等から構成されるベース接地型検波回路を備える。
トランジスタQ1とトランジスタQ3とは同等の温度変化特性を有し、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を当該キャリア信号の相互逆位相で検出する。
トランジスタQ2とトランジスタQ4とは同等の温度変化特性を有し、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を当該キャリア信号の相互逆位相で検出する。
図1に示すようにトランジスタQ1とトランジスタQ2とで検出した信号の出力OUT1と、トランジスタQ3とトランジスタQ4とで検出した信号の出力OUT2とがオペアンプU1で減算されて出力OUT3として出力される。
以上の本発明実施形態(図1)と比較例(図4)について、0,20,40,60,80,100[℃]における各出力のオフセット電圧の時間変化を、電気回路シミュレータにより求めた。
図5に示すように比較例(図4)にあっては、温度上昇に伴ってオフセット電圧が上昇している。これはPNP型トランジスタQ1とNPN型トランジスタQ2とに温度特性の不一致があることを示している。
図2に示すように本発明実施形態(図1)にあっては、出力OUT1,2については、比較例(図4)と同様の分布となったが、出力OUT3が非常に低いレベルとなった。同一温度における出力OUT1,2の値はほぼ重なった。出力OUT3のみを縦軸の尺度を変えて図3に示した。図3に示すように、出力OUT3も温度による変化は認められる。
しかし、比較例(図4)において、20[℃]で52[mV]出ていたオフセット電圧が本発明実施形態(図1)においては20[℃]で15[μV]となり、1000倍以上の安定化が得られた。
このような効果を得るためには、トランジスタQ1とQ2のバランスや、トランジスタQ3とQ4のバランスは重要でなく、相殺されるトランジスタQ1とQ3のバランスや、トランジスタQ2とQ4のバランスが重要であり、従ってトランジスタQ1とQ3とが均等な温度特性に、トランジスタQ2とQ4とが均等な温度特性になることが重要である。この点を踏まえて電子部品の選択とその実装に留意する。
以上のように構成される本実施形態の容量変化型変位計によれば、同等の温度変化特性を有する1対のベース接地型検波回路の出力信号をオペアンプU1で相互に減算して出力することにより、温度依存により変化する成分を除去することができるので、容量変化型変位計の計測精度を向上し、安定させることができる。
なお、本発明の実施にあたり、以上の変位検出用コンデンサ、1対のベース接地型検波回路、オペアンプ等の回路要素を同一機器に構成する必要はなく、異なる機器に構成して相互に接続することにより回路を構成してもよい。例えば、ベース接地型検波回路の出力をオペアンプに伝達する通信システムをこれらの間に介在させて実施することも可能である。どの部分にどのような信号伝達手段を介在させようが、変位検出用コンデンサ、1対のベース接地型検波回路及びその出力信号を相互に減算するオペアンプ等を備えた本発明の容量変化型変位計を構成できる。
U1 オペアンプ
V4 キャリア信号
Q1 PNP型トランジスタ
Q2 NPN型トランジスタ
Q3 PNP型トランジスタ
Q4 NPN型トランジスタ

Claims (2)

  1. 計測対象の変位を変位検出用コンデンサの可動極に力学的に作用させて、当該変位検出用コンデンサの容量変化を検出することにより前記変位を計測する容量変化型変位計において、
    変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第1のトランジスタを有する第1のベース接地型検波回路、及び、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第2のトランジスタを有する第2のベース接地型検波回路を含み、前記第1のベース接地型検波回路の出力信号と前記第2のベース接地型検波回路の出力信号の差動信号を、前記変位を示す変位検出信号として出力する第1組の回路と、
    変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第3のトランジスタを有する第3のベース接地型検波回路、及び、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を検出する第4のトランジスタを有する第4のベース接地型検波回路を含み、前記第3のベース接地型検波回路の出力信号と前記第4のベース接地型検波回路の出力信号の差動信号を、前記変位を示す変位検出信号として出力する第2組の回路と、
    前記第1のトランジスタと、前記第3のトランジスタとは同等の温度変化特性を有し、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を当該キャリア信号の相互逆位相で検出し、
    前記第2のトランジスタと、前記第4のトランジスタとは同等の温度変化特性を有し、変位検出用コンデンサを導電するキャリア信号を当該キャリア信号の相互逆位相で検出する容量変化型変位計。
  2. 前記第1組の回路が出力する前記差動信号と、前記第2組の回路が出力する前記差動信号とを相互に減算して出力することで、前記第1のベース接地型検波回路の出力信号と前記第3のベース接地型検波回路の出力信号とが相互に減算され、前記第2のベース接地型検波回路の出力信号と前記第4のベース接地型検波回路の出力信号とが相互に減算された差動信号を出力するオペアンプを備えた請求項1に記載の容量変化型変位計。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50131444A (ja) * 1974-04-03 1975-10-17
JPS6165114A (ja) * 1984-09-06 1986-04-03 Yokogawa Hokushin Electric Corp 容量式変換装置
JPS62144020A (ja) * 1985-12-18 1987-06-27 Yokogawa Electric Corp 容量式変位変換装置
JPS62287705A (ja) * 1986-06-06 1987-12-14 Toshiba Corp Btl増幅回路
JPH0697170B2 (ja) * 1988-06-30 1994-11-30 株式会社三協精機製作所 センサの駆動回路
JP2796348B2 (ja) * 1989-04-21 1998-09-10 株式会社日立製作所 出力回路
JPH0626312U (ja) * 1992-08-28 1994-04-08 安藤電気株式会社 高周波信号電力検波回路
JP3129531B2 (ja) * 1992-09-04 2001-01-31 株式会社日立製作所 広帯域増幅回路
JP3216455B2 (ja) * 1994-12-22 2001-10-09 株式会社村田製作所 容量型静電サーボ加速度センサ
JPH11308048A (ja) * 1998-04-21 1999-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波発振回路
JP4376212B2 (ja) * 2005-06-22 2009-12-02 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 容量値変化検出装置、および容量値変化検出方法

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