JP5488875B2 - 波形表示装置 - Google Patents
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複数の測定チャネルを備え、前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号の振幅に基づき、前記測定チャネル間のスキューを自動的に補正するスキュー補正手段を設けた波形表示装置において、
前記スキュー補正手段は、
前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号をデジタル信号に変換する第1、第2のA/D変換器と、これらA/D変換器の出力信号をそれぞれ正規化する第1、第2の正規化回路と、これら第1、第2の正規化回路の出力信号を減算する第1の減算器と、前記一方の正規化回路の出力信号に所定の遅延時間を与えるNサンプル遅延回路と、このNサンプル遅延回路の出力信号と他方の正規化回路の出力信号を減算する第2の減算器と、これら第1、第2の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差の進み/遅れを判定する遅延進み/遅れ判定回路と、この遅延進み/遅れ判定回路の出力信号と前記第1の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差を求める遅延差検出回路を含むことを特徴とする。
複数の測定チャネルを備え、前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号の振幅に基づき、前記測定チャネル間のスキューを自動的に補正するスキュー補正手段を設けた波形表示装置において、
前記スキュー補正手段は、
前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号をデジタル信号に変換する第1、第2のA/D変換器と、これら第1、第2のA/D変換器の出力信号を比較してその比較結果に基づき前記第1、第2のA/D変換器の基準電圧に反映させてこれらA/D変換器の出力信号を正規化する比較回路と、前記第1、第2のA/D変換器の出力信号を減算する第1の減算器と、前記一方のA/D変換器の出力信号に所定の遅延時間を与えるNサンプル遅延回路と、このNサンプル遅延回路の出力信号と他方のA/D変換器の出力信号を減算する第2の減算器と、これら第1、第2の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差の進み/遅れを判定する遅延進み/遅れ判定回路と、この遅延進み/遅れ判定回路の出力信号と前記第1の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差を求める遅延差検出回路を含むことを特徴とする。
前記スキュー補正手段によるスキュー自動補正機能を選択的にオン/オフするように構成されたことを特徴とする。
sinα+sinβ=2×sin((α+β)/2)×cos((α-β)/2) (1)
次に示すような式2が得られる。
sinωt−sin(ωt+θ)=−2×sin(θ/2)×cos(ωt+θ/2) (2)
Vrms=2×sin(θ/2)/√2 (3)
θ=2×sin-1(√2×Vrms/2) (4)
(|θ|<=π/2)
となり、遅延差の絶対値は、
|t|=θ/ω (5)
となる。
2a,2b 信号経路
3a,3b A/D変換器
4 データ処理部
4a 第1の実効値変換回路
4b 第1の正規化回路
4c 第1の減算器
4d 第2の減算器
4e 第2の実効値変換回路
4f 第2の正規化回路
4g Nサンプル遅延回路
4h 第3の実効値変換回路
4i 遅延進み/遅れ判定回路
4j 遅延差検出回路
4k 第4の実効値変換回路
4m 比較回路
5 表示処理部
6 表示器
Claims (3)
- 複数の測定チャネルを備え、前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号の振幅に基づき、前記測定チャネル間のスキューを自動的に補正するスキュー補正手段を設けた波形表示装置において、
前記スキュー補正手段は、
前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号をデジタル信号に変換する第1、第2のA/D変換器と、これらA/D変換器の出力信号をそれぞれ正規化する第1、第2の正規化回路と、これら第1、第2の正規化回路の出力信号を減算する第1の減算器と、前記一方の正規化回路の出力信号に所定の遅延時間を与えるNサンプル遅延回路と、このNサンプル遅延回路の出力信号と他方の正規化回路の出力信号を減算する第2の減算器と、これら第1、第2の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差の進み/遅れを判定する遅延進み/遅れ判定回路と、この遅延進み/遅れ判定回路の出力信号と前記第1の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差を求める遅延差検出回路を含むことを特徴とする波形表示装置。 - 複数の測定チャネルを備え、前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号の振幅に基づき、前記測定チャネル間のスキューを自動的に補正するスキュー補正手段を設けた波形表示装置において、
前記スキュー補正手段は、
前記各測定チャネルで測定された共通の正弦波信号をデジタル信号に変換する第1、第2のA/D変換器と、これら第1、第2のA/D変換器の出力信号を比較してその比較結果に基づき前記第1、第2のA/D変換器の基準電圧に反映させてこれらA/D変換器の出力信号を正規化する比較回路と、前記第1、第2のA/D変換器の出力信号を減算する第1の減算器と、前記一方のA/D変換器の出力信号に所定の遅延時間を与えるNサンプル遅延回路と、このNサンプル遅延回路の出力信号と他方のA/D変換器の出力信号を減算する第2の減算器と、これら第1、第2の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差の進み/遅れを判定する遅延進み/遅れ判定回路と、この遅延進み/遅れ判定回路の出力信号と前記第1の減算器の出力信号に基づき前記測定チャネル間における遅延差を求める遅延差検出回路を含むことを特徴とする波形表示装置。 - 前記スキュー補正手段によるスキュー自動補正機能を選択的にオン/オフするように構成されたことを特徴とする請求項1または請求項2記載の波形表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009183565A JP5488875B2 (ja) | 2009-08-06 | 2009-08-06 | 波形表示装置 |
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JP2009183565A JP5488875B2 (ja) | 2009-08-06 | 2009-08-06 | 波形表示装置 |
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JP2011038786A JP2011038786A (ja) | 2011-02-24 |
JP5488875B2 true JP5488875B2 (ja) | 2014-05-14 |
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JP2009183565A Active JP5488875B2 (ja) | 2009-08-06 | 2009-08-06 | 波形表示装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP5488875B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
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US11237190B2 (en) * | 2019-01-21 | 2022-02-01 | Tektronix, Inc. | Automatic detection of logical path segments in a measurement population |
CN110376539B (zh) * | 2019-06-17 | 2021-07-02 | 中国科学院电工研究所 | 一种校准示波器通道的测量延时方法、装置及校准设备 |
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2009
- 2009-08-06 JP JP2009183565A patent/JP5488875B2/ja active Active
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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