JP5487314B2 - 暗視装置 - Google Patents

暗視装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5487314B2
JP5487314B2 JP2012534866A JP2012534866A JP5487314B2 JP 5487314 B2 JP5487314 B2 JP 5487314B2 JP 2012534866 A JP2012534866 A JP 2012534866A JP 2012534866 A JP2012534866 A JP 2012534866A JP 5487314 B2 JP5487314 B2 JP 5487314B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photomultiplier tube
night vision
housing
amplification
lens mechanism
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012534866A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2012039050A1 (ja
Inventor
貴志 杉本
悟 徳山
康久 古市
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Electro Wave Products Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Electro Wave Products Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Electro Wave Products Co Ltd filed Critical Toshiba Electro Wave Products Co Ltd
Publication of JPWO2012039050A1 publication Critical patent/JPWO2012039050A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5487314B2 publication Critical patent/JP5487314B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J31/00Cathode ray tubes; Electron beam tubes
    • H01J31/08Cathode ray tubes; Electron beam tubes having a screen on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted, or stored
    • H01J31/50Image-conversion or image-amplification tubes, i.e. having optical, X-ray, or analogous input, and optical output
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J43/00Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
    • H01J43/04Electron multipliers
    • H01J43/30Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for

Landscapes

  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Description

本発明の実施形態は、入射光を増幅し、可視化する暗視装置に関する。
暗視装置は、夜間又は暗闇の可視化をユーザに提供する。一般的に、暗視装置は、光電子増倍管を具備する。光電子増倍管は、微小な光を増幅する。暗視装置は、微小な光を増幅する目的を達成するために、極めて高い増幅率を持つ。昼間の光又は光源からの光などのような、裸眼でも視認可能な光が暗視装置に入射されると、入射された光の量が暗視装置の取り扱い許容値を超え、光電子増倍管が破損又は劣化する場合がある。
従来の暗視装置においては、光電子増倍管が破損及び劣化を防止するために、光センサを備える。光センサによって一定量を超える光が検出された場合に、暗視装置内部の光電子増倍管への電源供給は遮断される。
従来の暗視装置においては、暗視装置本体の外部に光センサが設置される。このため、光センサによって一定量を超える光が検出されてから光電子増倍管への電源供給が遮断されるまでの間に、光電子増倍管の劣化が生じ、光センサを用いた電源遮断の効果は劣化の進行を遅らせるに留まる。
また、一般的に、暗視装置の電源には電池が使用されている。使用時に電源の残量が不足することを防止するために、暗視装置は、ユーザに電源の残量の低下を通知する。暗視装置の役割から、電源の残量の低下は、周辺に存在する者に知られることなく、ユーザのみに対して通知されることが望ましい。
しかしながら、従来の暗視装置には、電源残量の低下を通知する機能を備えていないか、あるいは、LEDランプの発光によって電源残量の低下が通知される。このため、ユーザではない他の者によって、電源残量の低下を通知するための光が観察される可能性がある。
本発明の実施形態は、光電子増倍管の破損及び劣化を防止する暗視装置を提供することを目的とする。
実施形態によれば、暗視装置は、対物レンズ機構、光電子増倍管、接眼レンズ機構、電源、ハウジングを備える。対物レンズ機構は、入射光を受ける。光電子増倍管は、入射光を増幅し、可視出力イメージを生成する。接眼レンズ機構は、光電子増倍管からの可視出力イメージを出力する。電源は、光電子増倍管に対して電力を供給する。ハウジングは、対物レンズ機構、光電子増倍管、接眼レンズ機構、電源を配置する。光電子増倍管は、過大光を検出した場合に、増幅動作を抑制する増幅制御部を具備する。
図1は、実施形態に係る暗視装置の構成の一例を示すブロック図である。 図2は、実施形態に係る暗視装置の例を示す第1の外観図である。 図3は、実施形態に係る暗視装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図4は、実施形態に係る暗視装置の例を示す第2の外観図である。
以下、図面を参照しながら本発明の各実施の形態について説明する。
本実施形態では、光電子増倍管が過大光を検出し、過大光が検出された場合に増幅動作を抑制(例えば停止)することで、光電子増倍管の破損及び劣化を防止する暗視装置について説明する。
図1は、本実施形態に係る暗視装置1の構成の一例を示すブロック図である。
図2は、本実施形態に係る暗視装置1の例を示す第1の外観図である。図2(a)は、暗視装置1の第1の外観図のうちの側面図を示す。図2(b)は、暗視装置1の第1の外観図のうちの上面図を示す。図(c)は、暗視装置1の第1の外観図のうちの正面図を示す。
暗視装置1は、イメージ増幅機能2aと増幅制御機能2bとを備えた光電子増倍管(イメージ増幅機構)2を具備する。暗視装置1は、保護されるべき光電子増倍管2自体で光量検出(測定)を行う。光電子増倍管2は、この検出量に応じて内部回路により増幅動作を抑制する。また、暗視装置1は、光電子増倍管2のゲインを変動させることで、電源(例えばバッテリ)3に蓄積されている電力量(残り電力量)の低下をユーザに通知する。
暗視装置1は、対物レンズ機構4、光電子増倍管2、接眼レンズを備えた接眼レンズ機構(アイピースレンズ機構)5、電源3、制御部6、第1のハウジング7aと第2のハウジング7bとを備えたハウジング、赤外線照明装置8を具備する。
本実施形態に係る暗視装置1は、単眼式の暗視装置であるが、複眼式の暗視装置であってもよい。
対物レンズ機構4は、暗視装置1の使用環境における例えば低輝度光などのような入射光を受けるためのレンズを備える。
光電子増倍管2は、イメージ増幅機能2aと、増幅制御機能2bを具備する。本実施形態においては、増幅制御機能2bとして光電子増倍管2のオートシャットダウン機能が用いられる場合を例として説明する。しかしながら、光電子増倍管2をシャットダウンするのではなく、単に増幅動作を抑制又は停止する、増幅率を下げるなど、他の手法で光電子増倍管2の破損及び劣化を防止するとしてもよい。
イメージ増幅機能2aは、入射光を増幅し、可視出力イメージに変換する。イメージ増幅機能2aは、制御部6の信号処理部6bからの信号(制御命令)にしたがってゲインを変更する。
増幅制御機能2bは、入射光の光量、入射光の増幅、入射光の増幅後の光量のうちの少なくとも一つを含む抑制管理値が許容値(しきい値)より大きい場合に、光電子増倍管2をシャットダウンする。換言すれば、光電子増倍管2には、抑制管理値のうちの少なくとも一つが許容値を超えた場合に、自動で光電子増倍管2をシャットダウンさせるための回路が内部に組み込まれている。例えば、増幅制御機能2bは、入射光の光量、入射光の増幅、入射光の増幅後の光量の増加に伴なって変化(例えば増加)する光電子増倍管2内部の電流、電圧、又は消費電力などの値を検出し、許容量との比較を行う。
より具体的な例を挙げて光電子増倍管2について説明する。光電子増倍管2では、入射光に応じて光電陰極から光電子が放出される。放出された光電子は、ダイノードで増倍され、アノードで収集される。そこで、光電子増倍管2は、例えば、光電陰極から放出される光電子が許容値を超える場合に、直接的に光電子の放出を抑制又は停止する。また、光電子増倍管2は、例えば、アノードから出力される電流値が許容値を超える場合に、過大な光が入射されたと判断し、直接的に光電陰極又はダイノードに対する電力供給を遮断する。また、光電子増倍管2は、例えば、ダイノードの消費電力が許容値を超えた場合に、光電子増倍管2をシャットダウンする。
接眼レンズ機構5は、可視出力イメージをユーザに提供する機構である。
電源3は、制御部6経由で、赤外線照明装置8及び光電子増倍管2に電力を供給する。
制御部6は、光電子増倍管2のゲインを電気的に制御する。制御部6による光電子増倍管2に対するゲイン制御は、シリアル通信を用いて実行されるとしてもよい。
制御部6の検出部(電力残りセンサ)6aは、電源3の残り電力量を検出する。
制御部6の信号処理部6bは、検出された残り電力量に応じて光電子増倍管2のゲイン値を変更させる。
例えば、制御部6は、電源3に反応し、電源3に関する残り電力量が所定のしきい値以下か否か判断する。そして、制御部6は、残り電力量が所定のしきい値以下の場合に、光電子増倍管2のゲイン値を下げる。この場合、可視出力イメージは、電源3に関する残り電力量が少ない場合に、暗くなる。ユーザは、この可視出力イメージの光量の低下から残り電力量が少ないことを認識できる。
また、例えば、制御部6は、残り電力量が所定のしきい値以下の場合に、光電子増倍管2のゲイン値の増加及び減少を所定範囲で周期的に行う。これにより、ユーザに提供される可視出力イメージの明暗が周期的に変わり、ユーザは、電源3の残り電力量が少ないことを認識できる。
また、制御部6は、ユーザによる指示などにしたがって、電源3からの電力を赤外線照明装置8に供給する。
本実施形態において、制御部6は、例えば、電気回路基板に生成される電気回路で実現される。
第1のハウジング7aは、対物レンズ機構4、光電子増倍管2、接眼レンズ機構5を備えている。
第1のハウジング7aは、光学軸にそって、対物レンズ機構4、光電子増倍管2、接眼レンズ機構5を一列に整列させる。
本実施形態において、第1のハウジング7aは、円筒状に形成されている。
第2のハウジング7bは、電源3、制御部6、赤外線照明装置8を備える。第2のハウジング7bには、電源3を収納するスペースが形成される。
本実施形態において、第2のハウジング7bは、直方体状に形成されている。
第1のハウジング7a及び第2のハウジング7bは、金属ハウジングでもよく、非金属ハウジングでもよく、金属と非金属とが組み合わされていてもよい。
本実施形態において、第1のハウジング7aと第2のハウジング7bとは、光学軸にそって、連結される。
赤外線照明装置8は、制御部6経由で、電源3と接続される。本実施形態において、赤外線照明装置8は、第2のハウジング7bの前方に備えられている前方照射照明である。
赤外線照明装置8は、ユーザによる指示にしたがって又は自動で、赤外線を照射する。これにより、例えば、密室などのように、低輝度光すら観測されない状況であっても、暗視装置1は、照射された赤外線に対する反射光を観測し、暗視装置1のユーザに対して可視化出力イメージを提供する。
図5は、本実施形態に係る暗視装置1の動作の一例を示すフローチャートである。
ステップS1において、暗視装置1の電源3がONになる。
ステップS2において、暗視装置1の対物レンズ機構4は、入射光を受ける。
ステップS3において、暗視装置1の光電子増倍管2は、入射光の光量、増幅、増幅後の光量のうちの少なくとも一つを含む抑制管理値が許容値より大きいか判断する。
抑制管理値が許容値より大きい場合(抑制管理値が複数の値を含む場合には、複数の値のうちの少なくとも一つが許容値より大きい場合)、ステップS4において、暗視装置1の光電子増倍管2は、シャットダウンし、処理は終了する。
抑制管理値が許容値以下の場合(抑制管理値が複数の値を含む場合にには、複数の値の全てが許容値以下の場合)、ステップS5において、暗視装置1の光電子増倍管2は、入射光を増幅した可視出力イメージを生成する。
ステップS6において、暗視装置1の接眼レンズ機構5は、可視出力イメージをユーザに提供する。
ステップS7において、暗視装置1の制御部6の検出部6aは、電源3の残り電力量がしきい値以下か否か判断する。残り電力量がしきい値以下でない場合、処理はステップS9に移動する。
残り電力量がしきい値以下の場合、ステップS8において、暗視装置1の制御部6の信号処理部6bは、光電子増倍管2のゲイン値の変更を示す信号を光電子増倍管2に送り、光電子増倍管2は信号に基づいてゲイン値を変更する。
ステップS9において、暗視装置1の電源3がOFFにされた場合には、処理は終了し、ONが継続されている場合には、処理は、ステップS2に戻る。
以上説明した本実施形態においては、光電子増倍管2自体で過大な光量が検出され、過大な光量が検出された場合に光電子増倍管2自体で増幅動作の抑制が実行される。これにより、本実施形態においては、光電子増倍管2の外部で光量を測定する従来の方式よりも短時間で光電子増倍管2の増幅動作を停止することができ、光電子増倍管2の破損及び劣化を防止することができる。また、本実施形態においては、従来の方式のように、光センサ、及び電源3から光電子増倍管2へ供給される電力を遮断するための光電子増倍管2外部の遮断回路を備える必要がなくなり、装置構成を簡素化できる。
本実施形態においては、電源3の残り電力量がしきい値以下の場合に、光電子増倍管2のゲイン値が変更され、これによりユーザへの通知が行われる。したがって、本実施形態では、ユーザではない周辺の者に、電力量低下の通知が認識されることを防止することができる。
本実施形態において説明した各構成要素は、本実施形態の趣旨を逸脱しない範囲で、自由に組み合わせることができ、自由に分割することができる。例えば、制御部6は、検出部6aと信号処理部6bとに分離してもよい。例えば、第1のハウジング7aと第2のハウジング7bとは、組み合わせてもよい。
図4は、本実施形態に係る暗視装置1の例を示す第2の外観図である。図4(a)は、暗視装置1の第2の外観図のうちの上面図を示す。図4(b)は、暗視装置1の第2の外観図のうちの側面図を示す。図4(c)は、暗視装置1の第2の外観図のうちの底面図を示す。図4(d)は、暗視装置1の第2の外観図のうちの前面図を示す。図4(e)は、暗視装置1の第2の外観図のうちの背面図を示す。図4(f)〜(i)は、暗視装置1の第2の外観図のうちの斜視図を示す。
この図4において、第1のハウジング7aは上側に配置され、第2のハウジング7bは下側に配置される。
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

Claims (6)

  1. 入射光を受けるための対物レンズ機構と、
    前記入射光を増幅し、可視出力イメージを生成する光電子増倍管と、
    前記光電子増倍管からの前記可視出力イメージを出力するための接眼レンズ機構と、
    前記光電子増倍管に対して電力を供給する電源と、
    前記対物レンズ機構、前記光電子増倍管、前記接眼レンズ機構、電源を配置するハウジングと、
    前記電源に蓄積されている電力量に基づいて、前記光電子増倍管に対して、ゲイン値の変更を示す信号を送る制御部と
    を具備し、
    前記光電子増倍管は、過大光を検出した場合に、増幅動作を抑制する増幅制御部を具備し、前記信号に基づいて、ゲイン値を変更する
    暗視装置。
  2. 前記増幅制御部は、前記入射光の光量、前記入射光の増幅、前記入射光の増幅後の光量のうちの少なくとも一つが許容値より大きい場合に、前記光電子増倍管をシャットダウンする
    請求項1記載の暗視装置。
  3. 前記暗視装置は、単眼式であり、
    前記ハウジングは、光学軸にそって、前記対物レンズ機構、前記光電子増倍管、前記接眼レンズ機構、を一列に配置する
    請求項1記載の暗視装置。
  4. 前記制御部は、
    前記電源に蓄積されている電力量がしきい値以下であるか否かを検出する検出部と、
    前記検出部によって前記電力量が前記しきい値以下であることが検出された場合に、前記光電子増倍管のゲイン制御のための前記信号を前記光電子増倍管に送る信号処理部と
    を具備する
    請求項1記載の暗視装置。
  5. 前記ハウジングは、
    光学軸にそって、前記対物レンズ機構、前記光電子増倍管、前記接眼レンズ機構、を一列に配置する第1のハウジングと、
    前記電源と前記制御部とを配置する第2のハウジングと
    を具備し、
    前記第1のハウジングと前記第2のハウジングとは、前記光学軸にそって連結される
    請求項3記載の暗視装置。
  6. 前記第2のハウジングの前に備えられており、前方に赤外線を照射する赤外線照明部をさらに具備する請求項5記載の暗視装置。
JP2012534866A 2010-09-24 2010-09-24 暗視装置 Expired - Fee Related JP5487314B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2010/066493 WO2012039050A1 (ja) 2010-09-24 2010-09-24 暗視装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012039050A1 JPWO2012039050A1 (ja) 2014-02-03
JP5487314B2 true JP5487314B2 (ja) 2014-05-07

Family

ID=45873564

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012534866A Expired - Fee Related JP5487314B2 (ja) 2010-09-24 2010-09-24 暗視装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5487314B2 (ja)
WO (1) WO2012039050A1 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5263353A (en) * 1975-11-19 1977-05-25 Hitachi Cable Ltd Direct view type dark field device
JPH0638081A (ja) * 1992-07-13 1994-02-10 Hamamatsu Photonics Kk 暗視装置
JPH1188757A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Japan Radio Co Ltd 減光フィルタ及び減光フィルタを備えた暗視装置及びハレーション防止方法
JP2004069752A (ja) * 2002-08-01 2004-03-04 Keyence Corp 光電子増倍管のゲインリミッタ回路と共焦点顕微鏡システム
JP2007193321A (ja) * 2005-12-22 2007-08-02 Itt Manufacturing Enterprises Inc 光ファイバスクリーンを使用した暗視装置内におけるインジケータライトの表示
JP2008256522A (ja) * 2007-04-04 2008-10-23 Hamamatsu Photonics Kk 光電子増倍管の制御回路

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5263353A (en) * 1975-11-19 1977-05-25 Hitachi Cable Ltd Direct view type dark field device
JPH0638081A (ja) * 1992-07-13 1994-02-10 Hamamatsu Photonics Kk 暗視装置
JPH1188757A (ja) * 1997-09-12 1999-03-30 Japan Radio Co Ltd 減光フィルタ及び減光フィルタを備えた暗視装置及びハレーション防止方法
JP2004069752A (ja) * 2002-08-01 2004-03-04 Keyence Corp 光電子増倍管のゲインリミッタ回路と共焦点顕微鏡システム
JP2007193321A (ja) * 2005-12-22 2007-08-02 Itt Manufacturing Enterprises Inc 光ファイバスクリーンを使用した暗視装置内におけるインジケータライトの表示
JP2008256522A (ja) * 2007-04-04 2008-10-23 Hamamatsu Photonics Kk 光電子増倍管の制御回路

Also Published As

Publication number Publication date
WO2012039050A1 (ja) 2012-03-29
JPWO2012039050A1 (ja) 2014-02-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2016071992A1 (ja) 観察装置と内視鏡システム
JP2018064411A (ja) ソーラー外灯及びソーラー外灯の制御方法
JP6442522B2 (ja) 観察装置と内視鏡システム
US20100277895A1 (en) Solar-charged warning device
CN106711940B (zh) 用于微光夜视仪的保护电路
JP2012147860A (ja) 内視鏡装置及び内視鏡装置の安全管理方法
JP5487314B2 (ja) 暗視装置
JP2008212348A (ja) 内視鏡装置
US8368318B2 (en) Pocket tool with a light pointer
JP5898020B2 (ja) 光電センサ
JP2020194677A (ja) 光検出装置、照明点灯装置、及び照明システム
US10337683B2 (en) Head lamp apparatus for vehicle
JP2009153614A (ja) 光照射装置
CN212880222U (zh) 一种具有侦测功能的杀菌灯
KR20170095019A (ko) 조명등이 구비된 용접마스크
JP2012065385A (ja) 充電装置及び充電方法
JP2003215670A (ja) カメラのフラッシュ装置
JP6664077B2 (ja) 光照射装置
JP2005204910A (ja) 内視鏡装置
EP2744304A3 (en) Assembly for detecting the light emission of emergency light sources, particularly of the LED type
JP5302668B2 (ja) 光照射型美容装置
CN102836449A (zh) 光学设备中的防霉消霉装置及防霉消霉方法
CN203154360U (zh) 光学设备中的防霉消霉器、防霉消霉装置及光学设备
ES2365104T3 (es) Herramienta de bolsillo con puntero luminoso.
JP5185802B2 (ja) 光照射型美容装置

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140128

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140224

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5487314

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees