JP5482560B2 - 測光装置、撮像装置、およびフリッカの検出方法 - Google Patents
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Description
式1において、S[n](ms)は、検出対象のフリッカの周期における位相の時間を示し、t[n]は、蓄積開始からの経過時間を示す。また、式1において、(A_MOD_B)は、AをBで除した際の余りを示す関数を示し、Tは、検出対象のフリッカの周期(ここでは100Hz=10ms)を示す。
同様に、プロットP2およびP4を結ぶ直線は、次式により求められる。
さらに、2つの直線の交点のx座標であるS0は、次式により求められる。
S0y=(S[min4]×B[min2]−S[min2]×B[min4])÷(S[min4]−S[min2])−(S[min3]×B[min1]−S[min1]×B[min3])÷(S[min3]−S[min1])・・・(式5)
S0x=(B[min3]−B[min1])÷(S[min3]−S[min1])−(B[min4]−B[min2])÷(S[min4]−S[min2])・・・(式6)
なお、上述した方法の他に、S0の値を次式により簡易に求めても良い。
特に、プロットが密である場合には、このように簡易にS0の値を用いると良い。
式8において、B1は、サインカーブをY方向にフィッティングさせるための係数である。このB1の値は、例えば、図10に示した各プロットのうち、縦軸の値が最大であるプロットP1(図10におけるn=9のプロット)の縦軸の値と等しい値である。また、式8におけるTは、式1で説明したTである。
Claims (6)
- 複数回の測光を行う測光部と、
基準時間から前記複数回の測光のそれぞれが行われるまでの経過時間を、特定の周期における位相に変換する変換部と、
前記位相に対する前記測光の出力値の関係と、前記特定の周期との相関を検出する検出部と、
前記検出部により検出した相関が所定の基準よりも高い場合に、前記特定の周期のフリッカが、前記測光部による測光出力に含まれると判定する判定部と
を備えることを特徴とする測光装置。 - 請求項1に記載の測光装置において、
前記変換部は、前記経過時間を前記特定の周期に相当する時間で除した際の余りに基づいて、前記特定の周期における位相に変換する
ことを特徴とする測光装置。 - 請求項1に記載の測光装置において、
前記測光部は、測光対象である領域を複数の領域に分割して測光し、
前記検出部は、前記測光部による出力に基づいて、前記測光対象から高輝度領域を抽出し、抽出した前記高輝度領域に対応する前記出力値を用いて前記相関を検出する
ことを特徴とする測光装置。 - 請求項3に記載の測光装置において、
前記測光部による測光結果に基づいて、前記測光対象に含まれる特定部分を追尾する追尾部を備え、
前記検出部は、前記特定部分に対応する前記出力値を用いて前記相関を検出する
ことを特徴とする測光装置。 - 請求項1から請求項4の何れか1項に記載の測光装置と、前記測光装置による測光結果に基づいて露出演算を行う演算部と、前記演算部による演算結果に基づいて被写体像を撮像する撮像部とを備えた撮像装置であって、
前記検出部は、前記演算部による演算の対象となる前記測光結果を用いて前記相関を検出する
ことを特徴とする撮像装置。 - 複数回の測光を行う測光部を備えた測光装置においてフリッカを検出する検出方法であって、
基準時間から前記複数回の測光のそれぞれが行われるまでの経過時間を、特定の周期における位相に変換する変換ステップと、
前記位相に対する前記測光の出力値の関係と、前記特定の周期との相関を検出する検出ステップと、
前記検出ステップにおいて検出した相関が所定の基準よりも高い場合に、前記特定の周期のフリッカが、前記測光部による測光出力に含まれると判定する判定ステップと
を備えることを特徴とする検出方法。
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