JP5482535B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents

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Description

本発明は、画像処理装置及び画像処理方法に関する。
従来、画像処理の際に、注目画素の多値画像データを二値化し、二値化前後の誤差を周辺の未処理画素に拡散させる誤差拡散処理を行う画像処理装置が知られている。このような画像処理装置は、高解像度画像に対して誤差拡散処理を行う場合には、処理量が大変多く、ハードウェアに対する処理負荷が大きいものである。
このような問題に鑑み、従来の画像処理装置では、複数の画素をブロック化し、ブロックを構成する各画素の階調を加算し、加算したブロックに対してディザ処理を行ってブロック内を二値化し、二値化の際に生じた誤差を周辺のブロックに拡散させるものがある(特許文献1)。
ところが、このような誤差拡散処理が行われることによれば、演算量が低減されるので処理負荷は軽減されるが、文字を出力する場合において、輪郭部分(エッジ部)がぼやけてしまい、画質が低下するという問題がある。
このような問題に対し、従来の画像処理装置において、複数の画素をブロックにて読み込み、ブロック内における白画素及び黒画素の存在を判定し、ブロック内における白画素及び黒画素以外の画素の画素値(階調値)の平均を求めて階調変換を行い、これをブロック内の各画素の面積階調パターンに変換し、ブロックの読み込み時において白画素及び黒画素であった画素位置には、強制的に白画素あるいは黒画素に変換するようにしたものがある(特許文献2)。
特開2002−262089号公報 特開2002−252764号公報
しかしながら、上記特許文献2に記載の画像処理装置では、エッジ部の尖鋭性は図られるようになるが、このようなエッジ部の再現はソリッド画像のデータに限られてしまい、中間調画像では、細線や文字を再現する場合において、輪郭がぼやけて表れてしまう。
本発明の課題は、処理負荷を軽減するとともに、中間調であっても、細線や文字などの高精細部における再現性の向上を図ることができる画像処理装置及び画像処理方法を提供することである。
以上の課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、画像処理装置において、
多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化部と、
前記ブロック化部によってブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出部と、
前記画素ブロック平均値算出部によって算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換部と、
前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出部と、
前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、階調値の高い順にドットの出力が行われる、前記画素ブロックと同一サイズの第1の画素出力順パターンを設定する画素出力順パターン設定部と、
前記画素ブロックと同一サイズの画素出力順パターンであって、それぞれドットの出力順序が予め定められた複数の第2の画素出力順パターンが記憶された画素出力順パターン記憶部と、
前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記画素出力順パターン設定部によって設定された前記第1の画素出力順パターンを選択し、前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記画素出力順パターン記憶部に記憶された前記複数の第2の画素出力順パターンから何れかを選択する画素出力順パターン選択部と、
前記階調変換部によって得られた階調値から、前記画素出力順パターン選択部によって選択された画素出力順パターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成部と、
前記階調変換部による階調値の平均値の量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散部と、
を備えることを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の画像処理装置において、
前記画素出力順パターン選択部は、前記エッジ検出部により、前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記複数の第2の画素出力順パターンから何れかについて無作為に選択することを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、画像処理装置において、
多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化部と、
前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出部と、
前記画素ブロックと同一サイズのディザパターンであって、前記画素ブロックの画素毎に対応して閾値が定められた複数のディザパターンが記憶されたディザパターン記憶部と、
前記ブロック化部によってブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出部と、
前記画素ブロック平均値算出部によって算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換部と、
前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記ディザパターン記憶部に記憶されたディザパターンのうち、閾値が何れも同一である第1のディザパターンを選択し、前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記ディザパターン記憶部に記憶されたディザパターンのうち、ドットの出力順序が所定の順序となるように、前記画素ブロックにおける画素毎に対応して定められた閾値がそれぞれ異なる第2のディザパターンを選択するディザパターン選択部と、
前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記ブロック化部によってブロック化された画素ブロックのそれぞれの画素の階調値を、前記ディザパターン選択部によって選択された第1のディザパターンに従って量子化して前記画素ブロックの画像データを生成し、前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記階調変換部によって得られた階調値の平均値から、前記ディザパターン選択部によって選択された第2のディザパターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成部と、
前記階調変換部及び前記画像データ生成部による量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散部と、
を備えることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の画像処理装置において、
前記ディザパターンに設定された閾値を2値化閾値としたことを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項1〜4の何れか一項に記載の画像処理装置において、
前記エッジ検出部は、前記画素ブロックにおける最大階調値である画素の階調値と最小階調値である画素の階調値との差と、所定のエッジ検出閾値との関係に基づき、前記エッジ部の検出を行うことを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項1〜5の何れか一項に記載の画像処理装置において、
前記画素ブロックは、n個(nは自然数)の画素によって構成され、
前記量子化閾値は、前記階調変換部によって量子化後の前記画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値がn+1値化されるように定められていることを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、請求項1〜6の何れか一項に記載の画像処理装置において、
前記画素ブロックを構成する画素の属性を示す属性情報を入力し、該属性情報を判定する属性情報判定部を備え、
前記エッジ検出部は、前記属性情報判定部による判定結果、前記画素ブロックに文字属性である属性情報が含まれていることを条件として、前記画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うことを特徴とする。
請求項8に記載の発明は、画像処理方法において、
多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化工程と、
前記ブロック化工程においてブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出工程と、
前記画素ブロック平均値算出工程において算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換工程と、
前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出工程と、
前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、階調値の高い順にドットの出力が行われる、前記画素ブロックと同一サイズの第1の画素出力順パターンを設定する画素出力順パターン設定工程と、
前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記画素出力順パターン設定工程において設定された前記第1の画素出力順パターンを選択し、前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、画素出力順パターン記憶部に記憶された、前記画素ブロックと同一サイズの画素出力順パターンであって、それぞれドットの出力順序が予め定められた複数の第2の画素出力順パターンから何れかを選択する画素出力順パターン選択工程と、
前記階調変換工程において得られた階調値から、前記画素出力順パターン選択工程において選択された画素出力順パターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成工程と、
前記階調変換工程における階調値の平均値の量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散工程と、
を含むことを特徴とする。
請求項9に記載の発明は、画像処理方法において、
多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化工程と、
前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出工程と、
前記ブロック化工程においてブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出工程と、
前記画素ブロック平均値算出工程において算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換工程と、
前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、ディザパターン記憶部に記憶された、前記画素ブロックと同一サイズのディザパターンであって、前記画素ブロックの画素毎に対応して閾値が定められた複数のディザパターンのうち、閾値が何れも同一である第1のディザパターンを選択し、前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記ディザパターン記憶部に記憶されたディザパターンのうち、ドットの出力順序が所定の順序となるように、前記画素ブロックにおける画素毎に対応して定められた閾値がそれぞれ異なる第2のディザパターンを選択するディザパターン選択工程と、
前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記ブロック化工程においてブロック化された画素ブロックのそれぞれの画素の階調値を、前記ディザパターン選択工程において選択された第1のディザパターンに従って量子化して前記画素ブロックの画像データを生成し、前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記階調変換工程において得られた階調値の平均値から、前記ディザパターン選択工程において選択された第2のディザパターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成工程と、
前記階調変換工程及び前記画像データ生成工程における量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散工程と、
を含むことを特徴とする。
本発明によれば、処理負荷を軽減するとともに、中間調であっても、細線や文字などの高精細部における再現性の向上を図ることができる。
第1の実施の形態における画像形成装置の内部構成を示すブロック図である。 第1のブロックディザの生成過程について説明する図である。 第2のブロックディザの構成について説明する図である。 拡散係数パターンを示す図である。 第1の実施の形態における画像変換処理について説明するフローチャートである。 画像処理の過程について説明する図である。 第1の実施の形態における画像変換処理の別の態様について説明するフローチャートである。 第2の実施の形態における画像形成装置の内部構成を示すブロック図である。 画像処理の過程について説明する図である。 第2のブロックディザの構成について説明する図である。 第2の実施の形態における画像変換処理について説明するフローチャートである。 画像処理の過程について説明する図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。ただし、発明の範囲は図示例に限定されない。なお、以下の説明において、同一の機能及び構成を有するものについては、同一の符号を付し、その説明を省略する。
(第1の実施の形態)
図1に示すように、画像処理装置としての画像形成装置1は、例えば、CPU(Central Processing Unit)10と、ROM(Read Only Memory)11と、RAM(Random Access Memory)12と、画像読取部13と、画像処理部14と、メモリ制御部15と、画像メモリ16と、画像形成部17と、搬送部18と、操作部19と、通信部20とを備えて構成され、各部はバス21により相互に接続される。
CPU10は、画像形成装置1の各部を中央制御する。CPU10は、ROM11に記憶された各種システムプログラム、後述する画像変換処理を実行するための画像変換プログラム等のアプリケーションプログラムの中から指定されたプログラムをRAM12に展開し、当該展開されたプログラムと、CPU10との協働により各種処理が実行される。
ROM11は、CPU10によって実行される、画像形成装置1の動作に係る各種機能を実現するための各種プログラムと、当該各種プログラムの実行時に使用される各種データを記憶する。特に、ROM11は、画像変換プログラム、画像処理部14での階調値の量子化の際に使用する量子化閾値のデータ、画像処理部14でのエッジ部判定の際に使用するエッジ検出閾値のデータ、誤差拡散処理で使用する拡散係数パターンのデータ等を記憶している。
RAM12は、CPU10によって実行される各種制御プログラムをプログラム格納エリアに展開し、入力されたデータや、各種制御プログラムの実行時に生じる処理結果等のデータをワークエリアに一時的に記憶する。
画像読取部13は、スキャナ等により構成され、スキャナにより原稿の画像情報を読み取って画像データを生成する。具体的に、画像読取部13は、透明なコンタクトガラスに載置された原稿を、光源からの照明により走査し、その反射光をCCD(Charge Coupled Device)により結像して光電変換することにより多値の画像データを生成し、画像処理部14に出力する。
画像処理部14は、入力された多値の画像データに対し、変倍処理、フィルタ処理、ガンマ変換処理等の各種画像処理を施す。また、画像処理部14は、ブロック化部14a、画素ブロック平均値算出部14b、階調変換部14c、エッジ検出部14d、画素出力順パターン生成部14e、画素出力順パターン記憶部14f、画素出力順パターン選択部14g、画像データ生成部14h、誤差拡散部14i、属性情報判定部14jを有している。
ブロック化部14aは、入力した画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックに変換する。本実施の形態では、ブロック化部14aは、各画素ブロックのサイズが2×2=4画素単位となるようにブロック化を行う。なお、ブロック化後の画素ブロックのサイズについては任意に設定することができる。また、画像データにおいて全て同一サイズの画素ブロックにてブロック化するものに限らず、領域によってサイズを異ならせるようにするものであってもよい。
画素ブロック平均値算出部14bは、ブロック化部14aによってブロック化された画素ブロックを構成する画素の多値の階調値の平均値を算出する。具体的には、例えば、画素ブロックを構成する画素の多値の階調値が、それぞれ「0」、「120」、「192」、「255」である場合、当該画素ブロックの階調値の平均値は「142」となる。なお、後述するように、算出された画素ブロックの階調値の平均値に対しては、誤差拡散部14iによって拡散された量子化誤差が加算される。
階調変換部14cは、画素ブロック平均値算出部14bにて算出された処理対象の画素ブロック(注目画素ブロック)の多値の階調値の平均値を、階調数が減少するように変換(量子化)する。具体的には、階調変換部14cは、ROM11に記憶された量子化閾値のデータを読み出して量子化閾値THR0〜THR3を画像処理部14内部の閾値レジスタ(図示略)に保持し、注目画素ブロックの多値(256値)の階調値の平均値を、閾値レジスタに保持された量子化閾値THR0〜THR3との比較によって変換する。この量子化閾値は、例えば、「THR0=32」、「THR1=96」、「THR2=160」、「THR3=224」に設定されている。そして、階調変換部14cは、量子化閾値THR0〜THR3により、注目画素ブロックの階調値の平均値を以下の条件に従って5値に量子化する。
注目画素の階調値<THR0 → 階調値=0
THR0≦注目画素の階調値<THR1 → 階調値=64
THR1≦注目画素の階調値<THR2 → 階調値=128
THR2≦注目画素の階調値<THR3 → 階調値=192
THR3≦注目画素の階調値 → 階調値=255
例えば、注目画素ブロックの階調値の平均値が「142」であれば、量子化後の階調値は「128」となる。
なお、画素ブロックの多値の階調値の平均値の量子化後の階調数は、次式(1)により求められたものとすると、出力する画素ブロックの階調再現に合わせた量子化閾値が設定できるので好ましい。なお、次式(1)における(n)の値は自然数とする。
画素ブロックの多値の階調値の平均値の量子化後の階調数
=画素ブロック数(n)+1 …(1)
本実施の形態では、画素ブロック数(n)=4ゆえ、画素ブロックの多値の階調値の平均値の量子化後の階調数は5としている。
なお、本実施の形態では、画素ブロックの多値の階調値の平均値を5値に量子化するため、量子化閾値としてTHR0〜THR3の4つの値を用いるものとするが、量子化閾値の設定数はこの数に限定されるものではない。また、各閾値も任意に設定することができる。また、閾値に限らず、ROM11に記憶された階調変換LUTを用いて変換するようにしてもよい。
エッジ検出部14dは、注目画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づき、注目画素ブロックにエッジ部が含まれているか否かを判定して、エッジ部の検出を行うものである。具体的には、エッジ検出部14dは、ROM11に記憶されたエッジ検出閾値のデータを読み出してエッジ検出閾値THR4を画像処理部14内部の閾値レジスタに保持し、注目画素ブロックを構成する各画素のうち、最大階調値である画素と最小階調値である画素を特定して、これらの画素の階調値の差分を算出する。そして、エッジ検出部14dは、この階調値の差分がエッジ検出閾値THR4以上であると判定した場合に、エッジ部を含んでいることを検出する。なお、エッジ検出閾値THR4は、ユーザの好みに応じて任意に設定することができるが、「32」〜「64」の範囲で設定するのが好ましい。本実施の形態において、文字のエッジ部を明瞭にさせたい場合には、エッジ検出閾値THR4を小さく設定すればよく、例えば、淡い階調の文字のエッジ部を明瞭にさせたい場合には、エッジ検出閾値THR4を「32」に設定すると効果的である。また、例えば、淡い階調の文字のエッジ部を明瞭にさせるとともに、画像における階調の淡い境界線から、淡い階調の画像内部への階調の移行を自然に行わせるようにする場合には、エッジ検出閾値THR4を「64」に近い数値に設定すると効果的である。
画素出力順パターン生成部14eは、注目画素ブロックと同サイズのブロックディザ(第1のブロックディザ)の生成を行う。具体的には、画素出力順パターン生成部14eは、注目画素ブロックを構成する各画素の階調値の高い順にドットが出力されるようなブロックディザを生成する。例えば、図2に示すように、注目画素ブロックにおける左上に配置される画素の階調値が「0」、右上に配置される画素の階調値が「120」、左下に配置される画素の階調値が「192」、右下に配置される画素の階調値が「255」の場合、右下、左下、右上、左上の順にドットが出力されるブロックディザが生成される。なお、生成されたブロックディザは、例えば、所定の図示しないメモリ領域に保持される。
画素出力順パターン記憶部14fは、画素ブロックと同一サイズのブロックディザ(第2のブロックディザ)が記憶されるものである。具体的には、画素出力順パターン記憶部14fには、図3に示されるように、ドットの出力順序が予め定められたブロックディザが複数種類記憶されている。
画素出力順パターン選択部14gは、エッジ検出部14dにおけるエッジ部の検出結果に応じてブロックディザを選択するものである。具体的には、エッジ検出部14dにて注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されたときには、画素出力順パターン生成部14eにて生成された第1のブロックディザを読み出し、エッジ検出部14dにて注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されないときには、画素出力順パターン記憶部14fから、1つの第2のブロックディザを無作為に読み出す。なお、第2のブロックディザの選択方法としては、例えば、図示しない乱数発生器からサンプリング値を抽出し、このサンプリング値に対応するブロックディザを選択することにより実現することができる。あるいは、乱数発生器を用いず、ソフトウェア乱数によってサンプリング値を発生させ、これに基づいてブロックディザの選択を行うようにしてもよい。
画像データ生成部14hは、階調変換部14cによって得られた注目画素ブロックにおける階調値から、画素出力順パターン選択部14gによって選択されたブロックディザに従ってドットが出力されるように画素ブロックを生成するブロックディザ処理を行い、その結果を出力する。具体的には、画像データ生成部14hは、例えば、階調変換部14cにおいて量子化された注目画素ブロックにおける階調値が「128」であるとき、図2に示される第1のブロックディザが画素出力順パターン選択部14gにより選択された場合、当該注目画素ブロックを構成する各画素に対して2値のデータに変換すると、当該注目画素ブロックにおける右下と左下の各画素については、ドットオンとなる値に変換され、右上と左上の各画素については、ドットオフとなる値に変換される。
誤差拡散部14iは、階調変換部14cでの階調値の量子化前後における注目画素ブロックの階調値の誤差値を画像処理部14内のバッファメモリ(図示略)に保持し、その誤差値を、多値画像データの未処理の周辺画素ブロックに拡散し、画素ブロック平均値算出部14bによって算出された各周辺画素ブロックの階調値の平均値に対して加算する誤差拡散処理を行う。具体的には、誤差拡散部14iは、ROM11に記憶された拡散係数パターンのデータを読み出して画像処理部14内部の係数パターンレジスタ(図示略)にユーザ選択可能に保持し、注目画素ブロックの誤差値に、係数パターンレジスタに保持されたユーザ選択後の拡散係数パターンに示された各係数を乗算し、その乗算値を各周辺画素ブロックの量子化前の階調値の平均値に加算する。
ここで、拡散係数パターンの例について説明する。ROM11には、図4に示すような複数の異なる拡散係数パターン(係数パターン1〜5)のデータが記憶されている。この係数パターン1〜5の一つに基づいて、注目画素ブロック「*」の量子化前後の階調値の誤差が周辺画素ブロックの各拡散係数に乗算されて当該周辺画素ブロックの量子化前の階調値の平均値に加算される。この拡散係数パターンはユーザの操作により選択設定が可能である。
属性情報判定部14jは、画素ブロックを構成する各画素の属性情報を判定する。ここで、属性情報とは、例えば、クライアントコンピュータなどから送信されたPDL(Page Description Language)で記述された画像データに基づいて解釈された画素毎の属性を示すデータであって、この属性には、文字・下地・イメージなどがある。この属性情報は、各画素の階調値を示すデータとともに画像処理部14に入力される情報である。
本実施の形態では、ブロック化部14a、画素ブロック平均値算出部14b、階調変換部14c、エッジ検出部14d、画素出力順パターン生成部14e、画素出力順パターン選択部14g、画像データ生成部14h、属性情報判定部14jについては、CPU10とROM11に記憶されているプログラムとの協働によるソフトウェア処理によって実現する構成としたが、画像処理部14内等にこれら各部を機能させるための回路や専用のプロセッサ等を備えて実現するようにしてもよい。
また、画素出力順パターン記憶部14fは、画像処理部14内に備えられるものの他、ROM11等、画像処理部14外に備えられていてもよい。
メモリ制御部15は、画像データの読み出し及び書き込みの際の画像メモリ16へのアクセスを制御する。画像メモリ16は、揮発性、不揮発性の記録媒体で構成されており、画像処理部14で処理された画像データを記憶する。
画像形成部17は、CPU10からの印刷制御信号に従って、所定の印刷方式(例えば、電子写真方式、インクジェット方式、熱転写方式等)で、転写紙に画像を形成する。搬送部18は、複数のローラにより画像形成前及び形成後の転写紙の搬送を行う。
操作部19は、数字キーやスタートキー等の各種機能キー、LCD(Liquid Crystal Display)等の表示画面と一体に構成されるタッチパネルを備えて構成されており、キー操作に対応する操作信号、タッチパネルでの入力操作に応じた操作信号をCPU10に出力する。
通信部20は、NIC(Network Interface Card)等により構成され、PC(Personal Computer)、プリントサーバ等の外部機器と画像データ等の情報の送受信を介する。
次に、以上のようにして構成された画像形成装置1において実行される画像変換処理について図5を参照しながら説明する。この画像変換処理は、画像読取部13や通信部20から画像データが入力されたときに実行される処理である。
先ず、CPU10は、画像形成装置1に入力された画像データを画像処理装置15に送信し、ブロック化部14aによって、画素のブロック化を行って画素ブロックの生成を行う(ステップS100)。
そして、CPU10は、生成された画素ブロックのうち、最初に処理を行う画素ブロックを注目画素ブロックとして読み込み(ステップS101)、画素ブロック平均値算出部14bにて、当該注目画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する(ステップS102)。本実施の形態においては、画像データを構成する左上の画素ブロックを最初に処理を行う画素ブロックとし、主走査方向及び副走査方向に順次処理を行うようにしている。なお、画素ブロックの処理順序は上記のものに限定されない。
次に、CPU10は、画素出力順パターン生成部14eにて、注目画素ブロックに対応する第1のブロックディザを作成する(ステップS103)。
そして、CPU10は、属性情報判定部14jにて、注目画素ブロックを構成する各画素の属性情報を参照する(ステップS104)。
そして、CPU10は、注目画素ブロックを構成する何れかの画素の属性情報に文字であることを示す文字属性が含まれているか否かを判定する(ステップS105)。CPU10は、文字属性が含まれていると判定したときは(ステップS105:Y)、上述のようにして、エッジ検出部14dにて、最大階調値と最小階調値との差分がエッジ検出閾値THR4以上であるか否かを判定する(ステップS106)。
CPU10は、差分がエッジ検出閾値THR4以上であると判定したときは(ステップS106:Y)、画素出力順パターン選択部14gにて、ステップS103において、画素出力順パターン生成部14eによって生成された第1のブロックディザを読み出す(ステップS107)。
また、CPU10は、ステップS105において、文字属性が含まれていると判定しないとき(ステップS105:N)、あるいは、ステップS106において、差分がエッジ検出閾値THR4以上であると判定しないときは(ステップS106:N)、画素出力順パターン選択部14gにて、画素出力順パターン記憶部14fに記憶された複数の第2のブロックディザから何れかを無作為に選択して読み出す(ステップS108)。
次に、CPU10は、階調変換部14cにて、ステップS102において算出された注目画素ブロックにおける階調値の平均値の量子化を行う(ステップS109)。
そして、CPU10は、画像データ生成部14hにて、ステップS109において得られた注目画素ブロックにおける量子化された階調値から、ステップS107又はステップS108によって選択されたブロックディザに従ってドットが出力されるように上述したブロックディザ処理を行い、その結果の出力を行う(ステップS110)。
そして、CPU10は、誤差拡散部14iにて、ステップS109において生じた量子化誤差を、未処理の周辺画素ブロックに拡散する(ステップS111)。
そして、CPU10は、全画素ブロックについてステップS101〜ステップ111の処理が行われたか否かを判定し(ステップ112)、全画素ブロックについて処理が行われたと判定したときは(ステップS112:Y)、この処理を終了する一方、全画素ブロックについて処理が行われたと判定しないときは(ステップS112:N)、注目画素ブロックとして処理する画素ブロックを移行してステップS101の処理を実行する。
以上のように構成された画像形成装置1において実施される画像データの処理手順について、図6を参照しながら説明する。
先ず、入力した画像データについて、ブロック化部14aによって2×2=4画素毎にブロック化される。そして、ブロック化された画像データのうちの1の画素ブロックを注目画素ブロックとして読み込む。なお、この説明において、注目画素ブロックとして、エッジ部を含み、左上の画素の階調値が「0」、右上の画素の階調値が「120」、左下の画素の階調値が「192」、右下の画素の階調値が「255」である画素ブロックを例に説明する。
次に、画素ブロック平均値算出部14bによって注目画素ブロックを構成する画素の階調値の平均化が行われ、その結果、注目画素ブロックにおける画素の階調値の平均値として「142」が算出される。
その後、階調変換部14cによって注目画素ブロックにおける画素の階調値の平均値が256値から5値に量子化され、その結果、注目画素ブロックにおける量子化された階調値は「128」となる。
そして、画像データ生成部14hによって、量子化された階調値から、図2に示すようにして作成された第1のブロックディザに従ってドットが出力されるようにブロックディザ処理が行われ、その結果、注目画素ブロックにおける右下の画素及び左下の画素についてはドットオンとなる一方、左上の画素及び右上の画素についてはドットオフとなるように注目画素ブロックにおける各画素の階調値が2値化される。
なお、注目画素ブロックにエッジ部が含まれない場合は、画素出力順パターン記憶部14fに記憶された第2のブロックディザのうちの何れかが選択され、選択された第2のブロックディザに従ってブロックディザ処理が行われる。
なお、本実施の形態では、注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されたときには、画素出力順パターン生成部14eによって第1のブロックディザを生成し、これに基づいてブロックディザ処理を行うようにしたが、第1のブロックディザとして、例えば、画素出力順パターン記憶部14fに記憶されたブロックディザから最適なものを選択し、これに基づいてブロックディザ処理を行うようにしても同様の結果を得ることができる。
また、第1の実施の形態では、図5に示すように、ステップS104において、注目画素ブロックを構成する各画素の属性情報を参照し、ステップS105において、注目画素ブロックを構成する何れかの画素の属性情報に文字であることを示す文字属性が含まれているか否かの判定を行い、文字属性が含まれていると判定された場合にエッジ検出を行うようにしたが、図7に示すように、ステップS104及びステップS105の処理を実行しないで、すなわち、文字属性が含まれているか否かの判定を行わないでエッジ検出を行うようにしてもよい。このようにすれば、処理負荷は図5に示すものよりも多少大きくなるが、文字領域のエッジ部だけでなく、イメージ画像等の境界部分についても再現性の向上を図ることができるようになる。なお、他の処理については、図5に示すものと同様であるため、説明を省略する。
(第2の実施の形態)
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。本発明の第2の実施の形態では、図8に示すように、第1の実施の形態における画像処理部14を構成する画素出力順パターン生成部14e、画素出力順パターン記憶部14f及び画素出力順パターン選択部14gを、ディザパターン記憶部14k及びディザパターン選択部14mに変更したものである。なお、第2の実施の形態においては、第1の実施の形態と相違する部分のみ説明し、その他については説明を省略する。
第2の実施の形態において、画素ブロック平均値算出部14bは、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにエッジ部が含まれていると判定しないことを条件に注目画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値の算出を行う。すなわち、画素ブロック平均値算出部14bは、エッジ部が含まれる画素ブロックに対しては画素の階調値の平均値を算出せず、エッジ部が含まれない画素ブロックに対してのみ画素の階調値の平均値の算出を行う。なお、エッジ部が含まれる画素ブロックに対しても階調値の平均値の算出を行うようにしてもよい。
階調変換部14cは、エッジ部が含まれない画素ブロックに対してのみ画素ブロックの階調値の平均値の量子化を行う点以外は、第1の実施の形態と同様である。
ディザパターン記憶部14kは、画素ブロックと同一サイズの複数のブロックディザが記憶されるものである。第2の実施の形態におけるブロックディザは、第1の実施の形態とは異なり、各画素に対応して2値化閾値がそれぞれ設定されている。ディザパターン記憶部14kに記憶されるブロックディザは、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されたときに選択されるブロックディザ(第1のブロックディザ)と、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されないときに選択されるブロックディザ(第2のブロックディザ)とを含んでいる。
第1のブロックディザは、注目画素ブロックの読み込み時における各画素の階調値に対して2値化するために、例えば、図9に示すようなディザパターンによって構成されている。すなわち、全ての画素の階調値に対して同一のディザ閾値によって2値化されるように構成されている。なお、本実施の形態において、ディザ閾値を「128」としたが、他の値としてもよい。
第2のブロックディザは、第1の実施の形態と同様に、階調変換部14cによって量子化された注目画素ブロックの階調値の平均値に対して、ドットの出力順序が所定の順序となるように、例えば、図10に示すような、各画素に対してそれぞれ異なるディザ閾値が割り当てられて2値化されるようなディザパターンにより構成されている。また、図10に示すように、ディザパターン記憶部14kには、それぞれディザ閾値の配置の異なる複数の第2ブロックディザが記憶されている。
ディザパターン選択部14mは、エッジ検出部14dにおけるエッジ部の検出結果に応じて、ディザパターン記憶部14kより第1のブロックディザ及び第2のブロックディザから何れか1つを選択して読み出すものである。すなわち、ディザパターン選択部14mは、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されたときは第1のブロックディザを読み出し、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されないときは複数の第2のブロックディザから何れかを読み出す。なお、第2のブロックディザの選択については無作為に行われ、その選択方法については、第1の実施の形態と同様である。
画像データ生成部14hは、エッジ検出部14dにおけるエッジ部の検出結果に応じた内容のブロックディザ処理を実行し、その結果を出力する。具体的には、画像データ生成部14hは、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されたときは、注目画素ブロックの読み込み時における各画素の階調値から、ディザパターン選択部14mによって選択された、上述した第1のブロックディザに従ってドットが出力されるようにブロックディザ処理を実行し、注目画素ブロックを構成する各画素の階調値についてそれぞれ256値から2値に量子化する。例えば、図9に示すように、注目画素ブロックの読み込み時における左上に配置される画素の階調値が「0」、右上に配置される画素の階調値が「120」、左下に配置される画素の階調値が「192」、右下に配置される画素の階調値が「255」であり、第1のブロックディザが適用され、当該注目画素ブロックを構成する各画素に対して2値のデータに量子化した場合には、当該注目画素ブロックにおける右下と左下の各画素については、ドットオンとなる値に変換され、右上と左上の各画素については、ドットオフとなる値に変換される。ここで、量子化したときに画素毎に量子化誤差が生じるが、これらの量子化誤差は合計され、誤差拡散部14iにより周辺の画素ブロックに対して拡散される。
また、画像データ生成部14hは、エッジ検出部14dによって注目画素ブロックにおいてエッジ部が検出されないときは、階調変換部14cによって得られた注目画素ブロックにおける階調値から、ディザパターン選択部14mによって選択された第2のブロックディザに従ってドットが出力されるように画素ブロックを生成するブロックディザ処理を行い、その結果を出力する。具体的には、画像データ生成部14hは、例えば、階調変換部14cにおいて5値に量子化された注目画素ブロックにおける階調値が「64」であり、ディザパターン選択部14mによって、左上の画素のディザ閾値が「255」、右上の画素のディザ閾値が「128」、左下の画素のディザ閾値が「192」、右下の画素のディザ閾値が「64」である第2のブロックディザが選択され、当該注目画素ブロックを構成する各画素に対してさらに2値のデータに量子化した場合には、当該注目画素ブロックにおける右下の画素について、ドットオンとなる値に変換され、その他の画素については、ドットオフとなる値に変換される。なお、このとき、量子化誤差が生じないように、第2のブロックディザにおけるディザ閾値を5値に対応して設定しているが、2値に量子化した際に誤差が生じるようなディザ閾値が設定されていてもよい。この場合、上述したようにして、周辺の画素ブロックに対して誤差拡散するのが好ましい。
誤差拡散部14iは、階調変換部14cでの階調値の量子化前後における注目画素ブロックの階調値の誤差値、及び、画像データ生成部14hでのブロックディザ処理の際に生じた注目画素ブロックにおける階調値の合計の誤差値を、画像処理部14内のバッファメモリ(図示略)に保持し、その誤差値を、多値画像データの未処理の周辺画素ブロックに拡散する。その他の点については、第1の実施の形態と同様である。
次に、以上のようにして構成された第2の実施の形態における画像形成装置1において実行される画像変換処理について図11を参照しながら説明する。この画像変換処理は、第1の実施の形態と同様、画像読取部13や通信部20から画像データが入力されたときに実行される処理である。
先ず、CPU10は、画像形成装置1に入力された画像データを画像処理装置15に送信し、ブロック化部14aによって、画素のブロック化を行って画素ブロックの生成を行う(ステップS200)。
次に、CPU10は、生成された画素ブロックのうち、最初に処理を行う画素ブロックを注目画素ブロックとして読み込み(ステップS201)、属性情報判定部14jにて、注目画素ブロックを構成する各画素の属性情報を参照する(ステップS202)。
そして、CPU10は、注目画素ブロックを構成する何れかの画素の属性情報に文字であることを示す文字属性が含まれているか否かを判定する(ステップS203)。CPU10は、文字属性が含まれていると判定したときは(ステップS203:Y)、上述のようにして、エッジ検出部14dにて、最大階調値と最小階調値との差分がエッジ検出閾値THR4以上であるか否かを判定する(ステップS204)。
CPU10は、差分がエッジ検出閾値THR4以上であると判定したときは(ステップS204:Y)、ディザパターン選択部14mにて、ディザパターン記憶部14kから第1のブロックディザを選択して読み出す(ステップS205)。
そして、CPU10は、画像データ生成部14hにて、注目画素ブロックの読み込み時における各画素の階調値から、ステップS205よって選択された第1のブロックディザに従ってドットが出力されるように上述したブロックディザ処理を行い、その結果の出力を行う(ステップS206)。
また、CPU10は、ステップS203において、文字属性が含まれていると判定しないとき(ステップS203:N)、あるいは、ステップS204において、差分がエッジ検出閾値THR4以上であると判定しないときは(ステップS204:N)、画素ブロック平均値算出部14bにて、注目画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する(ステップS207)。
次に、CPU10は、階調変換部14cにて、ステップS207において算出された注目画素ブロックにおける階調値の平均値の量子化を行う(ステップS208)。
そして、CPU10は、ディザパターン選択部14mにて、ディザパターン記憶部14kに記憶された複数の第2のブロックディザから何れかを無作為に選択して読み出す(ステップS209)。
そして、CPU10は、画像データ生成部14hにて、ステップS208において得られた注目画素ブロックにおける量子化された階調値から、ステップS209によって選択された第2のブロックディザに従ってドットが出力されるように上述したブロックディザ処理を行い、その結果の出力を行う(ステップS210)。
そして、CPU10は、誤差拡散部14iにて、ステップS206及びステップS208において生じた量子化誤差を、未処理の周辺画素ブロックに拡散する(ステップS211)。
そして、CPU10は、全画素ブロックについてステップS201〜ステップ211の処理が行われたか否かを判定し(ステップS212)、全画素ブロックについて処理が行われたと判定したときは(ステップS212:Y)、この処理を終了する一方、全画素ブロックについて処理が行われたと判定しないときは(ステップS212:N)、注目画素ブロックとして処理する画素ブロックを移行してステップS201の処理を実行する。
以上のように構成された画像形成装置1において実施される画像データの処理手順について、図12を参照しながら説明する。
先ず、入力した画像データについて、ブロック化部14aによって2×2=4画素毎にブロック化される。そして、ブロック化された画像データのうちの1の画素ブロックを注目画素ブロックとして読み込む。なお、この説明において、注目画素ブロックとして、エッジ部を含まず、左上の画素の階調値が「70」、右上の画素の階調値が「100」、左下の画素の階調値が「80」、右下の画素の階調値が「75」である画素ブロックを例に説明する。
次に、画素ブロック平均値算出部14bによって注目画素ブロックを構成する画素の階調値の平均化が行われ、その結果、注目画素ブロックにおける画素の階調値の平均値として「81」が算出される。
その後、階調変換部14cによって注目画素ブロックにおける画素の階調値の平均値が256値から5値に量子化され、その結果、注目画素ブロックにおける量子化された階調値は「64」となる。
そして、ディザパターン記憶部14fに記憶された第2のブロックディザのうちの何れかが選択される。なお、この例では、図12に示すように、左上の画素のディザ閾値が「255」、右上の画素のディザ閾値が「128」、左下の画素のディザ閾値が「192」、右下の画素のディザ閾値が「64」である第2のブロックディザが選択されたものとして説明する。
そして、画像データ生成部14hによって、量子化された階調値から、選択された第2のブロックディザに従ってドットが出力されるようにブロックディザ処理が行われ、その結果、注目画素ブロックにおける右下の画素についてはドットオンとなる一方、その他の画素についてはドットオフとなるように注目画素ブロックにおける各画素の階調値が2値化される。
なお、注目画素ブロックにエッジ部が含まれる場合の画像データの処理手順については、図9を参照して上述した通りとなる。
なお、本実施の形態では、注目画素ブロックにエッジ部が含まれている場合に、階調値を256値から2値に量子化されるようにディザ閾値を設定したが、3値やそれ以上の値に量子化されるようにディザ閾値を設定してもよい。
また、第2の実施の形態においても、第1の実施の形態と同様に、属性情報に拘わらずエッジ部の検出を行うようにしてもよい。
以上説明したように、本発明の第1の実施の形態によれば、ブロック化部14aは、多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとする。そして、画素ブロック平均値算出部14bは、ブロック化部14aによってブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する。そして、階調変換部14cは、画素ブロック平均値算出部14bによって算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値THR0〜THR3に基づいて量子化する。そして、エッジ検出部14dは、画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行う。そして、画素出力順パターン生成部14eは、画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、階調値の高い順にドットの出力が行われる、画素ブロックと同一サイズの第1のブロックディザを設定する。そして、画素出力順パターン記憶部14fは、画素ブロックと同一サイズのブロックディザであって、それぞれドットの出力順序が予め定められた複数の第2のブロックディザを記憶する。そして、画素出力順パターン選択部14gは、エッジ検出部14dによって画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、画素出力順パターン生成部14eによって生成された第1のブロックディザを選択する。そして、画素出力パターン選択部14gは、エッジ検出部14dによって画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、画素出力順パターン記憶部14fに記憶された複数の第2のブロックディザから何れかを選択する。そして、画像データ生成部14hは、階調変換部14cによって得られた階調値から、画素出力パターン選択部14gによって選択されたブロックディザに従ってドットが出力されるように画素ブロックの画像データを生成する。そして、誤差拡散部14iは、階調変換部14cによる階調値の平均値の量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する。その結果、画像処理の高速化が可能となって処理負荷を軽減するとともに、エッジ部に沿ったドットの出力が可能となり、中間調であっても、細線や文字などの高精細部における再現性の向上を図ることができる。また、高精細で高階調な誤差拡散画像を生成することができる。
また、本発明の第1の実施の形態によれば、画素出力パターン選択部14gは、エッジ検出部14dにより、画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、複数の第2のブロックディザから何れかについて無作為に選択する。その結果、エッジ部でない非エッジ部に対し、モアレ・パターン化が発生しない階調再現に適した処理を実施することができるようになる。
また、本発明の第2の実施の形態によれば、ブロック化部14aは、多値の画像データを所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとする。そして、エッジ検出部14dは、画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行う。そして、ディザパターン記憶部14kは、画素ブロックと同一サイズのディザブロックであって、画素ブロックの画素毎に対応して閾値が定められた複数のディザパターンを記憶する。そして、画素ブロック平均値算出部14bは、ブロック化部14aによってブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する。そして、階調変換部14cは、画素ブロック平均値算出部14bによって算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値THR0〜THR3に基づいて量子化する。そして、ディザパターン選択部14mは、エッジ検出部14dによって画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、ディザパターン記憶部14kに記憶されたブロックディザのうち、敷地が何れも同一である第1のブロックディザを選択する。そして、ディザパターン選択部14mは、エッジ検出部14dによって画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、ディザパターン記憶部14kに記憶されたブロックディザのうち、ドットの出力順序が所定の順序となるように、画素ブロックにおける画素毎に対応して定められた閾値がそれぞれ異なる第2のブロックディザを選択する。そして、画像データ生成部14hは、エッジ検出部14dによって画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、ブロック化部14aによってブロック化された画素ブロックのそれぞれの画素の階調値を、ディザパターン選択部14mによって選択された第1のブロックディザに従って量子化して画素ブロックの画像データを生成する。そして、画像データ生成部14hは、エッジ検出部14dによって画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、階調変換部14cによって得られた階調値の平均値から、ディザパターン選択部14mによって選択された第2のブロックディザに従ってドットが出力されるように画素ブロックの画像データを生成する。そして、誤差拡散部14iは、階調変換部14c及び画像データ生成部14hによる量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺画素ブロックに対して拡散する。その結果、画像処理の高速化が可能となって処理負荷を軽減するとともに、エッジ部に沿ったドットの出力が可能となり、中間調であっても、細線や文字などの高精細部における再現性の向上を図ることができる。また、高精細で高階調な誤差拡散画像を生成することができる。
また、本発明の第2の実施の形態によれば、ブロックディザに設定された閾値を2値化閾値としたので、階調値の変換を簡素に行うことができるとともに、高精細なエッジの再現が可能となる。
また、本発明の第1及び第2の実施の形態によれば、エッジ検出部14dは、画素ブロックにおける最大階調値である画素の階調値と最小階調値である画素の階調値との差と、所定のエッジ検出閾値THR4との関係に基づき、エッジ部の検出を行う。その結果、エッジ部の検出を簡素な方法により実施することができる。
また、本発明の第1及び第2の実施の形態によれば、画素ブロックは、n個(nは自然数)の画素によって構成される。そして、量子化閾値THR0〜THR3は、階調変換部14cによって量子化後の画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値がn+1値化されるように定められている。その結果、出力する画素ブロックにおいて再現可能な階調に合わせた高精細な画像を生成することができる。
また、本発明の第1及び第2の実施の形態によれば、属性情報判定部14jは、画素ブロックを構成する画素の属性を示す属性情報を入力し、該属性情報を判定する。そして、エッジ検出部14dは、属性情報判定部14jによる判定結果、画素ブロックに文字情報である属性情報が含まれていることを条件として、画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行う。その結果、文字領域のエッジ部を対象とした高精細部における再現性を向上させることができる。
なお、本発明の実施の形態における記述は、本発明に係る画像処理装置の一例であり、これに限定されるものではない。画像処理装置を構成する各機能部の細部構成及び細部動作に関しても適宜変更可能である。
また、本発明の実施の形態では、最大階調値と最小階調値との差分と所定の閾値との関係に基づいてエッジ部の検出を行うようにしたが、他の方法によってエッジ部の検出を行うようにしてもよく、例えば、属性情報に基づき、下地と文字、下地とイメージあるいは文字とイメージが隣接していることを判定することによってエッジ部の検出を行うようにしてもよい。
また、本発明の実施の形態では、第2のブロックディザを無作為に選択するようにしたが、所定の順序にて選択されるように構成してもよい。この場合、モアレやパターン化が生じないように配慮するのが好ましい。
また、本実施の形態では、本発明に係るプログラムのコンピュータ読み取り可能な媒体としてハードディスクや半導体の不揮発性メモリ等を使用した例を開示したが、この例に限定されない。その他のコンピュータ読み取り可能な媒体として、CD−ROM等の可搬型記録媒体を適用することが可能である。また、本発明に係るプログラムのデータを通信回線を介して提供する媒体として、キャリアウェーブ(搬送波)も適用される。
1 画像形成装置
10 CPU
14 画像処理部
14a ブロック化部
14b 画素ブロック平均値算出部
14c 階調変換部
14d エッジ検出部
14e 画素出力順パターン生成部
14f 画素出力順パターン記憶部
14g 画素出力順パターン選択部
14h 画素データ生成部
14i 誤差拡散部
14j 属性情報判定部
14k ディザパターン記憶部
14m ディザパターン選択部

Claims (9)

  1. 多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化部と、
    前記ブロック化部によってブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出部と、
    前記画素ブロック平均値算出部によって算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換部と、
    前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出部と、
    前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、階調値の高い順にドットの出力が行われる、前記画素ブロックと同一サイズの第1の画素出力順パターンを設定する画素出力順パターン設定部と、
    前記画素ブロックと同一サイズの画素出力順パターンであって、それぞれドットの出力順序が予め定められた複数の第2の画素出力順パターンが記憶された画素出力順パターン記憶部と、
    前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記画素出力順パターン設定部によって設定された前記第1の画素出力順パターンを選択し、前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記画素出力順パターン記憶部に記憶された前記複数の第2の画素出力順パターンから何れかを選択する画素出力順パターン選択部と、
    前記階調変換部によって得られた階調値から、前記画素出力順パターン選択部によって選択された画素出力順パターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成部と、
    前記階調変換部による階調値の平均値の量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散部と、
    を備えることを特徴とする画像処理装置。
  2. 前記画素出力順パターン選択部は、前記エッジ検出部により、前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記複数の第2の画素出力順パターンから何れかについて無作為に選択することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
  3. 多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化部と、
    前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出部と、
    前記画素ブロックと同一サイズのディザパターンであって、前記画素ブロックの画素毎に対応して閾値が定められた複数のディザパターンが記憶されたディザパターン記憶部と、
    前記ブロック化部によってブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出部と、
    前記画素ブロック平均値算出部によって算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換部と、
    前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記ディザパターン記憶部に記憶されたディザパターンのうち、閾値が何れも同一である第1のディザパターンを選択し、前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記ディザパターン記憶部に記憶されたディザパターンのうち、ドットの出力順序が所定の順序となるように、前記画素ブロックにおける画素毎に対応して定められた閾値がそれぞれ異なる第2のディザパターンを選択するディザパターン選択部と、
    前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記ブロック化部によってブロック化された画素ブロックのそれぞれの画素の階調値を、前記ディザパターン選択部によって選択された第1のディザパターンに従って量子化して前記画素ブロックの画像データを生成し、前記エッジ検出部によって前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記階調変換部によって得られた階調値の平均値から、前記ディザパターン選択部によって選択された第2のディザパターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成部と、
    前記階調変換部及び前記画像データ生成部による量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散部と、
    を備えることを特徴とする画像処理装置。
  4. 前記ディザパターンに設定された閾値を2値化閾値としたことを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。
  5. 前記エッジ検出部は、前記画素ブロックにおける最大階調値である画素の階調値と最小階調値である画素の階調値との差と、所定のエッジ検出閾値との関係に基づき、前記エッジ部の検出を行うことを特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載の画像処理装置。
  6. 前記画素ブロックは、n個(nは自然数)の画素によって構成され、
    前記量子化閾値は、前記階調変換部によって量子化後の前記画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値がn+1値化されるように定められていることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載の画像処理装置。
  7. 前記画素ブロックを構成する画素の属性を示す属性情報を入力し、該属性情報を判定する属性情報判定部を備え、
    前記エッジ検出部は、前記属性情報判定部による判定結果、前記画素ブロックに文字属性である属性情報が含まれていることを条件として、前記画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うことを特徴とする請求項1〜6の何れか一項に記載の画像処理装置。
  8. 多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化工程と、
    前記ブロック化工程においてブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出工程と、
    前記画素ブロック平均値算出工程において算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換工程と、
    前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出工程と、
    前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、階調値の高い順にドットの出力が行われる、前記画素ブロックと同一サイズの第1の画素出力順パターンを設定する画素出力順パターン設定工程と、
    前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記画素出力順パターン設定工程において設定された前記第1の画素出力順パターンを選択し、前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、画素出力順パターン記憶部に記憶された、前記画素ブロックと同一サイズの画素出力順パターンであって、それぞれドットの出力順序が予め定められた複数の第2の画素出力順パターンから何れかを選択する画素出力順パターン選択工程と、
    前記階調変換工程において得られた階調値から、前記画素出力順パターン選択工程において選択された画素出力順パターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成工程と、
    前記階調変換工程における階調値の平均値の量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散工程と、
    を含む画像処理方法。
  9. 多値の画像データを、所定の複数画素単位でブロック化して画素ブロックとするブロック化工程と、
    前記画素ブロックを構成する各画素の階調値に基づいて、当該画素ブロックにおけるエッジ部の検出を行うエッジ検出工程と、
    前記ブロック化工程においてブロック化された画素ブロックを構成する画素の階調値の平均値を算出する画素ブロック平均値算出工程と、
    前記画素ブロック平均値算出工程において算出された階調値の平均値を、予め定められた量子化閾値に基づいて量子化する階調変換工程と、
    前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、ディザパターン記憶部に記憶された、前記画素ブロックと同一サイズのディザパターンであって、前記画素ブロックの画素毎に対応して閾値が定められた複数のディザパターンのうち、閾値が何れも同一である第1のディザパターンを選択し、前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記ディザパターン記憶部に記憶されたディザパターンのうち、ドットの出力順序が所定の順序となるように、前記画素ブロックにおける画素毎に対応して定められた閾値がそれぞれ異なる第2のディザパターンを選択するディザパターン選択工程と、
    前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出したときに、前記ブロック化工程においてブロック化された画素ブロックのそれぞれの画素の階調値を、前記ディザパターン選択工程において選択された第1のディザパターンに従って量子化して前記画素ブロックの画像データを生成し、前記エッジ検出工程において前記画素ブロックにおけるエッジ部を検出しないときに、前記階調変換工程において得られた階調値の平均値から、前記ディザパターン選択工程において選択された第2のディザパターンに従ってドットが出力されるように前記画素ブロックの画像データを生成する画像データ生成工程と、
    前記階調変換工程及び前記画像データ生成工程における量子化前後における誤差を、当該処理を行った画素ブロックの周辺の画素ブロックに対して拡散する誤差拡散工程と、
    を含む画像処理方法。
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