JP5470456B2 - Lighting inspection device - Google Patents

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Description

本発明は、点灯検査装置に関する。特に、液晶パネルの点灯を検査する装置に関する。
なお、本出願は２０１０年６月１７日に出願された日本国特許出願２０１０−１３８５９３号に基づく優先権を主張しており、その出願の全内容は本明細書中に参照として組み入れられている。The present invention relates to a lighting inspection apparatus. In particular, the present invention relates to an apparatus for inspecting lighting of a liquid crystal panel.
In addition, this application claims the priority based on the Japan patent application 2010-138593 for which it applied on June 17, 2010, The whole content of the application is integrated in this specification as a reference. .

液晶表示装置（ＬＣＤ）の構成部品である液晶パネルは、一対のガラス基板を所定のギャップを確保した状態で対向させた構造を有している。液晶パネルは、自発光しない構成部品であり、外部光源としてのバックライト装置と組み合わせて使用される。また、液晶パネルは、一対のガラス基板間に液晶層を有するとともに、両ガラス基板の対向面にそれぞれスイッチング素子と画素電極とを設けた構成となっている。両ガラス基板の外面側には、一対の偏光板が貼り付けられるようになっている。   A liquid crystal panel, which is a component of a liquid crystal display device (LCD), has a structure in which a pair of glass substrates are opposed to each other with a predetermined gap secured. The liquid crystal panel is a component that does not emit light, and is used in combination with a backlight device as an external light source. The liquid crystal panel has a liquid crystal layer between a pair of glass substrates, and has a configuration in which switching elements and pixel electrodes are provided on opposite surfaces of both glass substrates. A pair of polarizing plates is attached to the outer surface side of both glass substrates.

液晶表示装置に画像を表示させる場合、バックライト装置を点灯させるとともに、各スイッチング素子に電圧を印加することによって液晶の配向を制御、すなわち、光学特性を制御する。すると、バックライト装置から照射された光は、液晶層を透過する際にその配向状態に応じて偏光状態が変化し、それによって、液晶パネルに所定の画像が表示される。
If the image is displayed on the liquid crystal display device, together with lighting the backlight device, it controls the orientation of liquid crystal by indicia pressurizing the voltage to each of the switching elements, i.e., to control the optical characteristics. Then, when the light emitted from the backlight device passes through the liquid crystal layer, the polarization state changes according to the alignment state, and thereby a predetermined image is displayed on the liquid crystal panel.

液晶パネルを製造する過程では、例えば、所定のスイッチング素子または画素電極に欠陥があったり、液晶層中に異物が混入していたり、また、偏光板を貼り付ける際にガラス基板との間に異物が侵入するなどの問題が生じることがある。これらの問題に起因して、所定の画素が常時光を遮る黒点欠陥などの欠陥が液晶パネルに生じるおそれがある。したがって、これらの欠陥を製造過程で検出することを目的として、点灯検査装置が用いられている（例えば、特許文献１、２）。   In the process of manufacturing a liquid crystal panel, for example, a predetermined switching element or pixel electrode is defective, a foreign substance is mixed in the liquid crystal layer, or a foreign substance is placed between the polarizing plate and the glass substrate. May cause problems such as intrusion. Due to these problems, there is a risk that defects such as a black spot defect in which a predetermined pixel always blocks light will occur in the liquid crystal panel. Therefore, a lighting inspection apparatus is used for the purpose of detecting these defects in the manufacturing process (for example, Patent Documents 1 and 2).

特許文献１に開示された点灯検査装置を図１に示す。図１に示した点灯検査装置１０００は、液晶パネル（不図示）を検査する検査部１０１と、検査部１０１に液晶パネルを受け渡す受渡部１０２とから構成されている。検査部１０１および受渡部１０２は、筐体１０５内に設けられている。検査部１０１には、プローブユニット１０３が配置されている。プローブユニット１０３のプローブは、液晶パネルの電極に接触させ、電気信号を与えるものであり、それによって、液晶パネルを点灯させて検査を行う。受渡部１０２には、液晶パネルの搬送装置１０４が配置されている。   The lighting inspection apparatus disclosed in Patent Document 1 is shown in FIG. A lighting inspection apparatus 1000 shown in FIG. 1 includes an inspection unit 101 that inspects a liquid crystal panel (not shown), and a delivery unit 102 that delivers the liquid crystal panel to the inspection unit 101. The inspection unit 101 and the delivery unit 102 are provided in the housing 105. A probe unit 103 is disposed in the inspection unit 101. The probe of the probe unit 103 is brought into contact with the electrode of the liquid crystal panel and gives an electric signal, and thereby the liquid crystal panel is turned on for inspection. The delivery unit 102 is provided with a liquid crystal panel transport device 104.

特開２００９−２５１５２９号公報JP 2009-251529 A 特開２００７−２５１３２号公報JP 2007-25132 A

図１に示した点灯検査装置１０００では、製造ラインを移動する液晶パネルを、受渡部１０２の搬送装置１０４によって検査部１０１に導入し、そして、検査後は搬送装置１０４によって点灯検査装置１０００の外に戻される。一方、液晶パネル製造ラインの上に点灯検査装置を配置して、製造ラインを移動する液晶パネルを検査する点灯検査装置も存在する。本願発明者は、図２に示すような点灯検査装置２０００の動作を検討した。   In the lighting inspection apparatus 1000 shown in FIG. 1, the liquid crystal panel moving on the production line is introduced into the inspection unit 101 by the transport device 104 of the delivery unit 102, and after the inspection, the transport device 104 removes the outside of the lighting inspection device 1000. Returned to On the other hand, there is also a lighting inspection device that arranges a lighting inspection device on a liquid crystal panel production line and inspects a liquid crystal panel moving on the production line. This inventor examined operation | movement of the lighting test | inspection apparatus 2000 as shown in FIG.

本願発明者が検討した図２に示した構成の場合、液晶パネル１１０はコロコンベア１２０によって製造ライン１２５上を移動して（矢印１５０）、点灯検査装置２０００に到達する。次いで、液晶パネル１１０は、複数の電極端子１３１を備えた検査ステージ１３０にセットされて、液晶パネル１１０の点灯検査が実行される。点灯検査装置２０００では、異なるサイズの液晶パネル１１０の点灯検査に対応できるように、検査ステージ１３０は変形することができる。具体的には、上側の電極端子１３１が設けられたステージ上部ユニット１３２は、ステージ支柱ユニット１３５に対して上下方向１５５に移動させることができ、それによって検査ステージ１３０を所望のパネルサイズに対応するように変形させることができる。点灯検査装置２０００で検査が終わった液晶パネル１１０は、製造ライン１２５の下流側に移動していく（矢印１５１）。   In the case of the configuration shown in FIG. 2 studied by the present inventor, the liquid crystal panel 110 moves on the production line 125 by the roller conveyor 120 (arrow 150) and reaches the lighting inspection device 2000. Next, the liquid crystal panel 110 is set on an inspection stage 130 including a plurality of electrode terminals 131, and a lighting inspection of the liquid crystal panel 110 is performed. In the lighting inspection device 2000, the inspection stage 130 can be modified so that the lighting inspection of the liquid crystal panels 110 of different sizes can be supported. Specifically, the stage upper unit 132 provided with the upper electrode terminal 131 can be moved in the vertical direction 155 with respect to the stage support unit 135, thereby corresponding to the desired panel size of the inspection stage 130. Can be deformed. The liquid crystal panel 110 that has been inspected by the lighting inspection device 2000 moves to the downstream side of the production line 125 (arrow 151).

図３（ａ）は、パネルサイズに応じて変形可能な検査ステージ１３０を含む点灯検査装置２０００の構成を示している。検査ステージ１３０を変形する場合、液晶パネル１１０に駆動信号を入力するための点灯治具１３３はパネル機種に応じて取り替える。ここで、点灯治具１３３をつけたまま、検査ステージ１３０を大きいサイズから小さいサイズに変形させてしまうと、ステージ上部ユニット１３２と点灯治具１３３とは干渉してしまう。その干渉を防ぐため、インターロック機構として、下側にセンサー１６０を取り付けて、点灯治具１３３が存在するか否かを監視している。   FIG. 3A shows a configuration of a lighting inspection apparatus 2000 including an inspection stage 130 that can be deformed according to the panel size. When the inspection stage 130 is deformed, the lighting jig 133 for inputting a drive signal to the liquid crystal panel 110 is replaced according to the panel model. Here, if the inspection stage 130 is deformed from a large size to a small size with the lighting jig 133 attached, the stage upper unit 132 and the lighting jig 133 interfere with each other. In order to prevent the interference, as an interlock mechanism, a sensor 160 is attached on the lower side to monitor whether or not the lighting jig 133 exists.

しかしながら、点灯治具１３３が２個に分割されていた場合、下側の点灯治具１３３ｂのみを取り外し、上側の点灯治具１３３ａの取り外しを忘れてしまう可能性がある。このとき、図３（ｂ）に示すように、上側の点灯治具１３３ａが付いた状態で検査ステージ１３０を変形させてしまうと（矢印１５７）、下側の点灯治具１３３ｂは取り外されているので、インターロック機構が作動しない。したがって、検査ステージ１３０のステージ上部ユニット１３２と点灯治具１３３ａとが干渉（１６５）してしまう。   However, when the lighting jig 133 is divided into two parts, there is a possibility that only the lower lighting jig 133b is removed and the upper lighting jig 133a is forgotten to be removed. At this time, as shown in FIG. 3B, if the inspection stage 130 is deformed with the upper lighting jig 133a attached (arrow 157), the lower lighting jig 133b is removed. Therefore, the interlock mechanism does not work. Therefore, the stage upper unit 132 of the inspection stage 130 and the lighting jig 133a interfere (165).

ここで、点灯治具１３３がどのように分割されるかは、パネル機種ごとに決定されるものであり、それゆえに、センサー１６０をどの位置に付ければよいかは一義的には定まらないことが多い。また、点灯治具１３３を分割せずに全て一体物で作製すれば、常にセンサー１６０で点灯治具１３３の存在を検出させることができる。しかしながら、点灯治具１３３を一体物で作製すると重くなるという欠点が生じるとともに、加工精度も低下してしまう。したがって、このような欠点があるがゆえに、検査ステージ１３０を変形させる場合、センサー１６０によるインターロック機構が存在していても、点灯治具１３３の取り外しは慎重に行う必要があり、点灯検査における作業の負担の一つとなっている。   Here, how the lighting jig 133 is divided is determined for each panel model, and therefore it is not uniquely determined where the sensor 160 should be attached. Many. Further, if the lighting jig 133 is made as a single unit without being divided, the sensor 160 can always detect the presence of the lighting jig 133. However, when the lighting jig 133 is manufactured as a single piece, there is a disadvantage that the lighting jig 133 becomes heavy, and the processing accuracy is also lowered. Therefore, because of such drawbacks, when the inspection stage 130 is deformed, it is necessary to carefully remove the lighting jig 133 even if there is an interlock mechanism by the sensor 160. Is one of the burdens.

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その主な目的は、点灯検査における検査ステージの変形作業を簡便に実行することができる点灯検査装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a point, and a main object of the present invention is to provide a lighting inspection apparatus capable of easily performing a deformation operation of an inspection stage in a lighting inspection.

本発明に係る点灯検査装置は、表示パネルの点灯を検査する点灯検査装置であり、表示パネルがセットされる検査ステージと、前記検査ステージにセットされる前記表示パネルに接触する複数の点灯治具とを備え、前記検査ステージは、支柱ユニットと、前記支柱ユニットに連結された上部ユニットとを含み、前記上部ユニットは、前記検査ステージのサイズを変化するように移動可能に前記支柱ユニットに連結されており、前記上部ユニットの下方における前記支柱ユニットの内壁には、前記複数の点灯治具として上側点灯治具と下側点灯治具とが設けられており、前記上側点灯治具には、前記下側点灯治具への橋渡しとなるプレートが取り付けられている。
ある好適な実施形態において、前記点灯検査装置は、前記上側点灯治具および前記下側点灯治具の少なくとも一方を検知するセンサーを備え、前記表示パネルは、液晶パネルであり、前記液晶パネルは、搬送ラインによって運ばれて前記検査ステージにセットされる。
ある好適な実施形態において、前記プレートは、前記上側点灯治具の一部に固定されており、前記下側点灯治具の一部は、前記プレートによって押さえられている。A lighting inspection apparatus according to the present invention is a lighting inspection apparatus that inspects lighting of a display panel, and an inspection stage on which the display panel is set, and a plurality of lighting jigs that are in contact with the display panel set on the inspection stage The inspection stage includes a support unit and an upper unit connected to the support unit, and the upper unit is connected to the support unit to be movable so as to change the size of the inspection stage. An upper lighting jig and a lower lighting jig are provided as the plurality of lighting jigs on the inner wall of the support unit below the upper unit. A plate serving as a bridge to the lower lighting jig is attached.
In a preferred embodiment, the lighting inspection device includes a sensor that detects at least one of the upper lighting jig and the lower lighting jig, the display panel is a liquid crystal panel, and the liquid crystal panel is It is carried by the transfer line and set on the inspection stage.
In a preferred embodiment, the plate is fixed to a part of the upper lighting jig, and a part of the lower lighting jig is pressed by the plate.

本発明によれば、検査ステージの上部ユニットが検査ステージのサイズを変化するように移動可能に支柱ユニットに連結されている点灯検査装置において、支柱ユニットの内壁に上側点灯治具と下側点灯治具とが設けられ、上側点灯治具には、下側点灯治具への橋渡しとなるプレートが取り付けられている。したがって、プレートが取り付けられていることによって、上側点灯治具を取り外した後でないと、下側点灯治具を取り外すことができない。それゆえに、上側点灯治具の取り外し忘れによる上部ユニットとの干渉を回避することができる。その結果、点灯検査における検査ステージの変形作業を簡便に実行することが可能となる。   According to the present invention, in the lighting inspection apparatus in which the upper unit of the inspection stage is movably connected to the column unit so as to change the size of the inspection stage, the upper lighting jig and the lower lighting jig are attached to the inner wall of the column unit. A plate serving as a bridge to the lower lighting jig is attached to the upper lighting jig. Therefore, since the plate is attached, the lower lighting jig cannot be removed unless the upper lighting jig is removed. Therefore, interference with the upper unit due to forgetting to remove the upper lighting jig can be avoided. As a result, it is possible to easily execute the deformation work of the inspection stage in the lighting inspection.

点灯検査装置１０００の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the lighting test | inspection apparatus 1000. FIG. 点灯検査装置２０００の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation | movement of the lighting test | inspection apparatus 2000. FIG. （ａ）は、点灯検査装置２０００の構成を示す斜視図である。（ｂ）は、点灯検査装置２０００のステージ上部ユニットと点灯治具とが干渉する様子を示す斜視図である。(A) is a perspective view which shows the structure of the lighting test | inspection apparatus 2000. FIG. (B) is a perspective view which shows a mode that the stage upper unit and lighting jig | tool of the lighting test | inspection apparatus 2000 interfere. 本発明の実施形態に係る点灯検査装置１００の構成を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the structure of the lighting test | inspection apparatus 100 which concerns on embodiment of this invention. 上側点灯治具および下側点灯治具の接続を分解した斜視図である。It is the perspective view which decomposed | disassembled the connection of an upper side lighting jig and a lower side lighting jig. 液晶パネル１０の構成を模式的に示す断面図である。2 is a cross-sectional view schematically showing a configuration of a liquid crystal panel 10. FIG. 点灯検査装置１００の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation | movement of the lighting test | inspection apparatus. 表示パネル１０がセットされた状態の点灯検査装置１００の断面図である。It is sectional drawing of the lighting test | inspection apparatus 100 of the state in which the display panel 10 was set. 点灯検査装置１００の改変例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically the modification of the lighting test | inspection apparatus 100. FIG.

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。以下の図面においては、説明の簡潔化のために、実質的に同一の機能を有する構成要素を同一の参照符号で示す。なお、本発明は以下の実施形態に限定されない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following drawings, components having substantially the same function are denoted by the same reference numerals for the sake of brevity. In addition, this invention is not limited to the following embodiment.

図４は、表示パネルの点灯を検査する点灯検査装置１００の構成を模式的に示している。本実施形態の点灯検査装置１００は、表示パネル（不図示）がセットされる検査ステージ３０と、検査ステージ３０にセットされる表示パネルに接触する複数の点灯治具３３とから構成されている。   FIG. 4 schematically shows a configuration of a lighting inspection apparatus 100 that inspects lighting of the display panel. The lighting inspection apparatus 100 according to the present embodiment includes an inspection stage 30 on which a display panel (not shown) is set, and a plurality of lighting jigs 33 that are in contact with the display panel set on the inspection stage 30.

本実施形態の検査ステージ３０は、支柱ユニット３５と、支柱ユニット３５に連結された上部ユニット３２を含んでいる。図示した例の支柱ユニット３５は、鉛直方向９０に延びており、そして、上部ユニット３２は、支柱ユニット３５から垂直方向（すなわち、水平方向）に延びている。また、上部ユニット３２の下方には、支柱ユニット３５から垂直方向（水平方向）に延びた下部ユニット３４が設けられている。   The inspection stage 30 of this embodiment includes a support unit 35 and an upper unit 32 connected to the support unit 35. The column unit 35 of the illustrated example extends in the vertical direction 90, and the upper unit 32 extends from the column unit 35 in the vertical direction (that is, in the horizontal direction). Also, below the upper unit 32, a lower unit 34 extending in the vertical direction (horizontal direction) from the support unit 35 is provided.

上部ユニット３２は、検査ステージ３０のサイズを変化するように移動可能に支柱ユニット３５に連結されている。具体的には、検査される表示パネル（例えば、液晶パネル）のサイズに応じて、上部ユニット３２は、上下方向５５に沿って移動することができる。すなわち、上部ユニット３２を移動させることによって、表示パネルのサイズに合わせて、検査ステージ３０のサイズを変化させることができる。   The upper unit 32 is connected to the column unit 35 so as to be movable so as to change the size of the inspection stage 30. Specifically, the upper unit 32 can move along the vertical direction 55 according to the size of a display panel (for example, a liquid crystal panel) to be inspected. That is, by moving the upper unit 32, the size of the inspection stage 30 can be changed according to the size of the display panel.

本実施形態の構成では、支柱ユニット３５の内壁３５ａに点灯治具３３が設けられている。具体的には、支柱ユニット３５の内壁３５ａのうち、上部ユニット３２の下方における領域に、上側点灯治具３３ａと下側点灯治具３３ｂとが配置されている。支柱ユニット３５の内壁３５ａは、検査ステージ３０にセットされる表示パネルの方を向いた面である。支柱ユニット３５の内壁３５ａに配置された上側点灯治具３３ａと下側点灯治具３３ｂとは、表示パネルの電極端子に接触させる部材である。   In the configuration of the present embodiment, the lighting jig 33 is provided on the inner wall 35 a of the column unit 35. Specifically, the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b are arranged in a region below the upper unit 32 in the inner wall 35a of the column unit 35. The inner wall 35 a of the column unit 35 is a surface facing the display panel set on the inspection stage 30. The upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b arranged on the inner wall 35a of the column unit 35 are members that are brought into contact with the electrode terminals of the display panel.

上側点灯治具３３ａには、下側点灯治具３３ｂへの橋渡しとなるプレート４０が取り付けられている。図５は、上側点灯治具３３ａおよび下側点灯治具３３ｂの接続を分解した斜視図である。この例では、プレート４０は、上側点灯治具３３ａの一部に固定されており、下側点灯治具３３ｂの一部は、プレート４０によって押さえられている。このプレート４０を設けた構成によって、上側点灯治具３３ａを取り外した後でないと、下側点灯治具３３ｂを取り外すことができない。   A plate 40 that serves as a bridge to the lower lighting jig 33b is attached to the upper lighting jig 33a. FIG. 5 is an exploded perspective view of the connection of the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b. In this example, the plate 40 is fixed to a part of the upper lighting jig 33 a and a part of the lower lighting jig 33 b is pressed by the plate 40. With the configuration in which the plate 40 is provided, the lower lighting jig 33b cannot be removed unless the upper lighting jig 33a is removed.

したがって、点灯検査装置１００において下側点灯治具３３ｂを検知するセンサー６０を設けておき、センサー６０によって下側点灯治具３３ｂの存在を検知することによって、上側点灯治具３３ａの存在を確認することができる。具体的には、上側点灯治具３３ａを取り外さないと、下側点灯治具３３ｂを取り外すことはできないので、センサー６０によって下側点灯治具３３ｂが存在していないことが確認されたならば、それによって、上側点灯治具３３ａが存在していないことを確認することができる。センサー６０は、例えば、透過型フォトセンサーを用いることができる。   Accordingly, a sensor 60 for detecting the lower lighting jig 33b is provided in the lighting inspection apparatus 100, and the presence of the upper lighting jig 33a is confirmed by detecting the presence of the lower lighting jig 33b by the sensor 60. be able to. Specifically, since the lower lighting jig 33b cannot be removed unless the upper lighting jig 33a is removed, if the sensor 60 confirms that the lower lighting jig 33b does not exist, Thereby, it can be confirmed that the upper lighting jig 33a does not exist. As the sensor 60, for example, a transmissive photosensor can be used.

上側点灯治具３３ａが存在していないことが確認できたら、上側点灯治具３３ａと上部ユニット３２は互いに干渉することはないので、上下方向５５に（特に、下方向に）移動させて、検査ステージ３０のサイズを変化させることができる。その結果、本実施形態の点灯検査装置１００によれば、点灯検査における検査ステージ３０の変形作業を簡便に実行することができる。すなわち、点灯治具３３が図４に示すように２個に分割されていた場合でも、下側点灯治具３３ｂのみを取り外し、上側点灯治具３３ａの取り外しを忘れてしまう可能性を排除することができる。したがって、上側点灯治具３３ａの取り外し忘れによる上部ユニット３２との干渉を回避することができる。   If it can be confirmed that the upper lighting jig 33a does not exist, the upper lighting jig 33a and the upper unit 32 do not interfere with each other. The size of the stage 30 can be changed. As a result, according to the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment, the deformation work of the inspection stage 30 in the lighting inspection can be easily performed. That is, even when the lighting jig 33 is divided into two as shown in FIG. 4, the possibility of removing only the lower lighting jig 33b and forgetting to remove the upper lighting jig 33a is eliminated. Can do. Therefore, interference with the upper unit 32 due to forgetting to remove the upper lighting jig 33a can be avoided.

本実施形態のプレート４０は、金属（例えば、鉄、アルミニウムなど）から構成されているが、下側点灯治具３３ｂを押さえることができるのであれば、金属以外の材料（樹脂など）であっても構わない。また、プレート４０は、上側点灯治具３３ａを取り外す前に下側点灯治具３３ｂが取り外されないように、下側点灯治具３３ｂを押さえるものであるので、プレート４０によって下側点灯治具３３ｂを強く押さえる必要はない。具体的には、上側点灯治具３３ａを取り外す前に下側点灯治具３３ｂが取り外されない程度に、下側点灯治具３３ｂを押さえていればよい。あるいは、上側点灯治具３３ａを取り外す前に下側点灯治具３３ｂを取り外すことができないようにプレート４０を橋渡しして配置するのであれば、下側点灯治具３３ｂとプレート４０とは接触していなくてもよい場合もある。   The plate 40 of the present embodiment is made of metal (for example, iron, aluminum, etc.), but if it can hold down the lower lighting jig 33b, it is made of a material other than metal (such as resin). It doesn't matter. Further, since the plate 40 holds the lower lighting jig 33b so that the lower lighting jig 33b is not removed before removing the upper lighting jig 33a, the lower lighting jig 33b is pressed by the plate 40. There is no need to hold down strongly. Specifically, the lower lighting jig 33b may be pressed to such an extent that the lower lighting jig 33b is not removed before the upper lighting jig 33a is removed. Alternatively, if the plate 40 is bridged and arranged so that the lower lighting jig 33b cannot be removed before the upper lighting jig 33a is removed, the lower lighting jig 33b and the plate 40 are in contact with each other. There may be no need.

図４及び図５に示した例では、上側点灯治具３３ａは、支柱ユニット３５に固定される固定部３８ａと、固定部３８ａから延びた接触部３７ａとを含んでいる。同様に、下側点灯治具３３ｂは、支柱ユニット３５に固定される固定部３８ｂと、固定部３８ｂから延びた接触部３７ｂとを含んでいる。接触部３７ａ、３７ｂには、表示パネル（例えば、液晶パネル）の電極端子に接続されるプローブ部を有している。また、プレート４０は、上側点灯治具３３ａの固定部３８ａの内面側（表示パネル側）の領域に固定されており、下側点灯治具３３ｂの固定部３８ｂの内面側（表示パネル側）の領域まで延びている。なお、プレート４０の上側点灯治具３３ａ側は固定されているが、プレート４０の下側点灯治具３３ｂ側は固定されていない。したがって、図５に示すように、プレート４０と下側点灯治具３３ｂとは分離できるようになっている。   In the example shown in FIGS. 4 and 5, the upper lighting jig 33a includes a fixing portion 38a fixed to the support unit 35 and a contact portion 37a extending from the fixing portion 38a. Similarly, the lower lighting jig 33b includes a fixed portion 38b fixed to the column unit 35 and a contact portion 37b extending from the fixed portion 38b. The contact portions 37a and 37b have probe portions connected to electrode terminals of a display panel (for example, a liquid crystal panel). The plate 40 is fixed to the inner surface side (display panel side) region of the fixing portion 38a of the upper lighting jig 33a, and the inner surface side (display panel side) of the fixing portion 38b of the lower lighting jig 33b. It extends to the area. The upper lighting jig 33a side of the plate 40 is fixed, but the lower lighting jig 33b side of the plate 40 is not fixed. Therefore, as shown in FIG. 5, the plate 40 and the lower lighting jig 33b can be separated.

図６は、本実施形態の点灯検査装置１００で点灯検査される表示パネル１０を示している。図６に示した表示パネル１０は、液晶パネルである。液晶パネル１０は、概して、全体として矩形の形状を有しており、一対の透光性基板（ガラス基板）１１および１２から構成されている。両基板１１および１２は、互いに対向して配置され、その間には液晶層１４が設けられている。液晶層１４は、基板１１および１２の間の電界印加に伴って光学特性が変化する液晶材料からなる。基板１１および１２の外縁部には、シール剤１５が設けられて、液晶層１４を封止している。また、両基板１１および１２の外面には、それぞれ偏光板１７および１８が貼り付けられている。本実施形態では、両基板１１および１２のうち、表側がカラーフィルタ基板（ＣＦ基板）１１であり、一方、裏側がアレイ基板１２である。
FIG. 6 shows the display panel 10 to be inspected for lighting by the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment. The display panel 10 shown in FIG. 6 is a liquid crystal panel. The liquid crystal panel 10 generally has a rectangular shape as a whole, and is composed of a pair of translucent substrates (glass substrates) 11 and 12. Both the substrates 11 and 12 are arranged to face each other, and a liquid crystal layer 14 is provided between them. The liquid crystal layer 14 is made of a liquid crystal material optically characteristic changes with the electric field is applied between the substrate 11 and 12. A sealing agent 15 is provided on the outer edge portions of the substrates 11 and 12 to seal the liquid crystal layer 14. Further, polarizing plates 17 and 18 are attached to the outer surfaces of both the substrates 11 and 12, respectively. In the present embodiment, among the substrates 11 and 12, the front side is the color filter substrate (CF substrate) 11, while the back side is the array substrate 12.

図６に示した液晶パネル１０には、電極端子（不図示）が形成されており、その電極端子に、点灯検査装置１００の電極端子（プローブ）を接触させて検査する。液晶パネル１０のサイズは、例えば２０インチから６０インチであるが、それらのサイズに限定されるものではない。また、本実施形態の点灯検査装置１００で検査される表示パネル１０は、液晶パネルに限らず、プラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ）、有機ＥＬパネルなどの他の表示パネルであっても構わない。   The liquid crystal panel 10 shown in FIG. 6 has electrode terminals (not shown) formed thereon, and the electrode terminals (probes) of the lighting inspection device 100 are brought into contact with the electrode terminals for inspection. The size of the liquid crystal panel 10 is, for example, 20 inches to 60 inches, but is not limited to these sizes. Further, the display panel 10 inspected by the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment is not limited to a liquid crystal panel, and may be another display panel such as a plasma display panel (PDP) or an organic EL panel.

図７は、本実施形態の点灯検査装置１００によって表示パネル１０を点灯検査する様子を示す図である。図７に示すように、表示パネル（液晶パネル）１０はコンベア（例えば、コロコンベア）２０によって製造ライン（搬送ライン）２５を移動して（矢印５０）、点灯検査装置１００に到達する。なお、表示パネル１０をコンベア２０の上を移動させる場合、表示パネル１０を支える支持部（不図示）を製造ライン２５に設けておくことが好ましい。   FIG. 7 is a diagram showing a state in which the display panel 10 is inspected for lighting by the lighting inspection apparatus 100 of the present embodiment. As shown in FIG. 7, the display panel (liquid crystal panel) 10 moves on a production line (conveyance line) 25 by a conveyor (for example, a roller conveyor) 20 (arrow 50) and reaches the lighting inspection apparatus 100. In addition, when moving the display panel 10 on the conveyor 20, it is preferable to provide the support part (not shown) which supports the display panel 10 in the manufacturing line 25. FIG.

次いで、表示パネル１０は、複数の電極端子（プローブ部）３１および複数の点灯治具３３（３３ａ、３３ｂ）を備えた検査ステージ３０にセットされる。そして、電極端子３１及び点灯治具３３を表示パネルの電極端子（不図示）に接触させた状態で、液晶パネル１０の点灯検査を実行する。   Next, the display panel 10 is set on an inspection stage 30 including a plurality of electrode terminals (probe units) 31 and a plurality of lighting jigs 33 (33a, 33b). Then, the lighting inspection of the liquid crystal panel 10 is performed in a state where the electrode terminal 31 and the lighting jig 33 are in contact with the electrode terminal (not shown) of the display panel.

図８は、点灯検査装置１００に表示パネル１０が導入された際の様子を示す断面図である。この図では、製造ライン２５の上流側から下流側に向けて表示パネル１０および点灯検査装置１００を表している。なお、点灯治具３３（３３ａ、３３ｂ）は表しているが、支柱ユニット３５は表していない。図８に示した構成において、製造ライン２５によって流れてきた表示パネル１０が点灯検査装置１００に導入されると、上部ユニット３２を下方向５７に下げて、点灯検査装置１００の検査ステージ３０にセットする。次いで、電極端子３１および点灯治具３３（３３ａ、３３ｂ）を表示パネル１０の電極端子（不図示）に接触させ、その状態で表示パネル１０の点灯検査を実行する。   FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state when the display panel 10 is introduced into the lighting inspection apparatus 100. In this figure, the display panel 10 and the lighting inspection device 100 are shown from the upstream side to the downstream side of the production line 25. Although the lighting jig 33 (33a, 33b) is shown, the support unit 35 is not shown. In the configuration shown in FIG. 8, when the display panel 10 flowing through the production line 25 is introduced into the lighting inspection device 100, the upper unit 32 is lowered in the downward direction 57 and set on the inspection stage 30 of the lighting inspection device 100. To do. Next, the electrode terminal 31 and the lighting jig 33 (33a, 33b) are brought into contact with electrode terminals (not shown) of the display panel 10, and a lighting inspection of the display panel 10 is executed in this state.

図８に示した例では、上部ユニット３２は、可動部３２ａと固定部３２ｂとから構成されており、可動部３２ａと固定部３２ｂとの間には溝部３２ｃが設けられている。上部ユニット３２を下方向５７に下げて溝部３２ｃに表示パネル１０を挿入した後、可動部３２ａを固定部３２ｂの方に移動させることによって、可動部３２ａと固定部３２ｂとで表示パネル１０を挟み込む。このようにして、可動部３２ａの電極端子３１を表示パネル１０の電極端子（不図示）に接触させる。   In the example shown in FIG. 8, the upper unit 32 includes a movable portion 32a and a fixed portion 32b, and a groove portion 32c is provided between the movable portion 32a and the fixed portion 32b. After the upper unit 32 is lowered in the downward direction 57 and the display panel 10 is inserted into the groove 32c, the movable part 32a is moved toward the fixed part 32b, thereby sandwiching the display panel 10 between the movable part 32a and the fixed part 32b. . In this way, the electrode terminal 31 of the movable portion 32a is brought into contact with the electrode terminal (not shown) of the display panel 10.

また、下部ユニット３４も同様に、可動部３４ａと固定部３４ｂとから構成されており、可動部３４ａと固定部３４ｂとの間には溝部３４ｃが設けられている。製造ライン２５を流れてきた表示パネル１０は溝部３４ｃに挿入され、次いで、可動部３４ａを固定部３４ｂの方に移動させることによって、可動部３４ａと固定部３４ｂとで表示パネル１０を挟み込む。このようにして、可動部３４ａの電極端子３１を表示パネル１０の電極端子（不図示）に接触させる。さらに、表示パネル１０が検査ステージ３０にセットされた状態で、表示パネル１０の電極端子に点灯治具３３（３３ａ、３３ｂ）を接触させる。具体的には、点灯治具３３の接触部３７（プローブ部）を、表示パネル１０の電極端子に接触させる。このように、表示パネル１０の電極端子に、点灯検査装置１００の電極端子３１および点灯治具３３を接触させた状態で表示パネル１０の点灯検査を実行することができる。検査された表示パネル１０は、検査結果が記録された後、図７に示すように製造ライン２５の下流に移動していく（矢印５１）。   Similarly, the lower unit 34 includes a movable portion 34a and a fixed portion 34b, and a groove portion 34c is provided between the movable portion 34a and the fixed portion 34b. The display panel 10 that has flowed through the production line 25 is inserted into the groove 34c, and then the movable part 34a is moved toward the fixed part 34b, thereby sandwiching the display panel 10 between the movable part 34a and the fixed part 34b. In this way, the electrode terminal 31 of the movable portion 34a is brought into contact with the electrode terminal (not shown) of the display panel 10. Further, with the display panel 10 set on the inspection stage 30, the lighting jig 33 (33a, 33b) is brought into contact with the electrode terminals of the display panel 10. Specifically, the contact portion 37 (probe portion) of the lighting jig 33 is brought into contact with the electrode terminal of the display panel 10. In this way, the lighting inspection of the display panel 10 can be executed in a state where the electrode terminals 31 of the lighting inspection device 100 and the lighting jig 33 are in contact with the electrode terminals of the display panel 10. After the inspection result is recorded, the inspected display panel 10 moves downstream of the production line 25 as shown in FIG. 7 (arrow 51).

なお、表示パネル１０が液晶パネルの場合、表示パネル１０を点灯させるには、バックライトが必要であるので、点灯検査装置１００には、表示パネル１０の点灯用のバックライトユニット（不図示）が設けられている。一方、表示パネル１０がＰＤＰ、有機ＥＬパネルの場合には、点灯検査装置１００にバックライトユニットを設けなくても、表示パネル１０の点灯検査を実行することができる。また、図８では、上部ユニット３２の可動部３２ａおよび下部ユニット３４の可動部３４ａに電極端子３１を配置した例を示したが、電極端子３１の配置例はそれに限らない。例えば、固定部（３２ｂ、３４ｂ）に電極端子３１を設けることも可能であるし、可動部（３２ａ、３４ａ）と固定部（３２ｂ、３４ｂ）の両方に電極端子３１を設けることも可能である。   When the display panel 10 is a liquid crystal panel, a backlight is required to turn on the display panel 10. Therefore, the lighting inspection device 100 includes a backlight unit (not shown) for lighting the display panel 10. Is provided. On the other hand, when the display panel 10 is a PDP or an organic EL panel, the lighting inspection of the display panel 10 can be executed without providing the backlight unit in the lighting inspection device 100. Moreover, although the example which has arrange | positioned the electrode terminal 31 in the movable part 32a of the upper unit 32 and the movable part 34a of the lower unit 34 was shown in FIG. 8, the example of arrangement | positioning of the electrode terminal 31 is not restricted to it. For example, the electrode terminal 31 can be provided in the fixed part (32b, 34b), or the electrode terminal 31 can be provided in both the movable part (32a, 34a) and the fixed part (32b, 34b). .

図４に示した構成例では、２つの点灯治具３３ａ、３３ｂ（すなわち、上側点灯治具３３ａ、下側点灯治具３３ｂ）を有する点灯検査装置１００を示したが、本実施形態の構成はそれに限定されない。例えば、図９に示すように、点灯治具３３は、３つ又はそれ以上にすることも可能である。図９に示した構成例では、上側点灯治具３３ａ、中央点灯治具３３ｃ、下側点灯治具３３ｂの３つの点灯治具３３を有する点灯検査装置１００を示している。プレート４０は、上側点灯治具３３ａに固定されており、プレート４０は、中央点灯治具３３ｃおよび下側点灯治具３３ｂを押さえるように延びている。プレート４０は、上側点灯治具３３ａには固定されているが、中央点灯治具３３ｃおよび下側点灯治具３３ｂには固定されていない。検査ステージ３０のサイズを変化する際には、プレート４０の存在によって、上側点灯治具３３ａを取り外してからでないと、中央点灯治具３３ｃおよび下側点灯治具３３ｂを取り外すことができない。したがって、センサー６０によって下側点灯治具３３ｂを監視していれば、上部ユニット３２を移動させてよいかどうか判断することができる。   In the configuration example illustrated in FIG. 4, the lighting inspection apparatus 100 including the two lighting jigs 33a and 33b (that is, the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b) is illustrated. It is not limited to it. For example, as shown in FIG. 9, the number of lighting jigs 33 can be three or more. The configuration example shown in FIG. 9 shows a lighting inspection apparatus 100 having three lighting jigs 33, that is, an upper lighting jig 33a, a central lighting jig 33c, and a lower lighting jig 33b. The plate 40 is fixed to the upper lighting jig 33a, and the plate 40 extends so as to press the center lighting jig 33c and the lower lighting jig 33b. The plate 40 is fixed to the upper lighting jig 33a, but is not fixed to the central lighting jig 33c and the lower lighting jig 33b. When changing the size of the inspection stage 30, the center lighting jig 33c and the lower lighting jig 33b cannot be removed unless the upper lighting jig 33a is removed due to the presence of the plate 40. Therefore, if the lower lighting jig 33b is monitored by the sensor 60, it can be determined whether or not the upper unit 32 can be moved.

また、上述した実施形態の点灯検査装置１００では、支柱ユニット３５が鉛直方向９０に延びるように構成したが、それに限定されない。例えば、支柱ユニット３５が鉛直方向９０に対して斜めに延びるようにして、検査ステージ３０を鉛直方向９０から傾斜させた構成にしても構わない。さらには、ここでの上側点灯治具３３ａおよび下側点灯治具３３ｂの「上側」「下側」は、移動可能な上部ユニット３２に対しての便宜的なものであるので、支柱ユニット３５が水平方向に延びるように、検査ステージ３０が水平方向にした構成にしても構わない。加えて、「上側」「下側」は便宜的なものであるので、上部ユニット３２を基準にして、上側点灯治具３３ａを第１点灯治具３３ａのような表現にしても構わない。   Moreover, in the lighting inspection apparatus 100 of the above-described embodiment, the support unit 35 is configured to extend in the vertical direction 90, but is not limited thereto. For example, the inspection stage 30 may be inclined from the vertical direction 90 so that the column unit 35 extends obliquely with respect to the vertical direction 90. Furthermore, since the “upper side” and “lower side” of the upper lighting jig 33a and the lower lighting jig 33b here are convenient for the movable upper unit 32, the column unit 35 is The inspection stage 30 may be configured in the horizontal direction so as to extend in the horizontal direction. In addition, since “upper side” and “lower side” are convenient, the upper lighting jig 33a may be expressed as the first lighting jig 33a with the upper unit 32 as a reference.

以上、本発明を好適な実施形態により説明してきたが、こうした記述は限定事項ではなく、勿論、種々の改変が可能である。   As mentioned above, although this invention was demonstrated by suitable embodiment, such description is not a limitation matter and of course various modifications are possible.

本発明によれば、点灯検査における検査ステージの変形作業を簡便に実行することができる点灯検査装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the lighting test | inspection apparatus which can perform simply the deformation | transformation work of the test | inspection stage in a lighting test can be provided.

１０ 表示パネル（液晶パネル）
１１ ＣＦ基板
１２ アレイ基板
１４ 液晶層
１５ シール剤
１７、１８ 偏光板
２５ 製造ライン（搬送ライン）
３０ 検査ステージ
３１ 電極端子
３２ 上部ユニット
３２ａ 可動部
３２ｂ 固定部
３２ｃ 溝部
３３ 点灯治具
３３ａ 上側点灯治具
３３ｂ 下側点灯治具
３３ｃ 中央点灯治具
３４ 下部ユニット
３４ａ 可動部
３４ｂ 固定部
３４ｃ 溝部
３５ 支柱ユニット
３５ａ 支柱ユニットの内壁
３７ 接触部
３８ 固定部
４０ プレート
６０ センサー
１００ 点灯検査装置
１０１ 検査部
１０２ 受渡部
１０３ プローブユニット
１０４ 搬送装置
１０５ 筐体
１１０ 液晶パネル
１２０ コロコンベア
１２５ 製造ライン
１３０ 検査ステージ
１３１ 電極端子
１３２ ステージ上部ユニット
１３３ 点灯治具
１３５ ステージ支柱ユニット
１６０ センサー
１０００ 点灯検査装置
２０００ 点灯検査装置10 Display panel (liquid crystal panel)
11 CF substrate 12 Array substrate 14 Liquid crystal layer 15 Sealant 17, 18 Polarizing plate 25 Production line (conveyance line)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Inspection stage 31 Electrode terminal 32 Upper unit 32a Movable part 32b Fixed part 32c Groove part 33 Lighting jig 33a Upper lighting jig 33b Lower lighting jig 33c Central lighting jig 34 Lower unit 34a Movable part 34b Fixed part 34c Groove part 35 Column Unit 35a Inner wall of support unit 37 Contact portion 38 Fixing portion 40 Plate 60 Sensor 100 Lighting inspection device 101 Inspection portion 102 Delivery portion 103 Probe unit 104 Transport device 105 Housing 110 Liquid crystal panel 120 Roller conveyor 125 Production line 130 Inspection stage 131 Electrode terminal 132 Stage upper unit 133 Lighting jig 135 Stage support unit 160 Sensor 1000 Lighting inspection device 2000 Lighting inspection device

Claims (3)

表示パネルの点灯を検査する点灯検査装置であって、
表示パネルがセットされる検査ステージと、
前記検査ステージにセットされる前記表示パネルに接触する複数の点灯治具と
を備え、
前記検査ステージは、
支柱ユニットと、
前記支柱ユニットに連結された上部ユニットと
を含み、
前記上部ユニットは、前記検査ステージのサイズを変化するように移動可能に前記支柱ユニットに連結されており、
前記上部ユニットの下方における前記支柱ユニットの内壁には、前記複数の点灯治具として上側点灯治具と下側点灯治具とが設けられており、
前記上側点灯治具には、前記下側点灯治具への橋渡しとなるプレートが取り付けられている、点灯検査装置。A lighting inspection device for inspecting lighting of a display panel,
An inspection stage on which the display panel is set, and
A plurality of lighting jigs in contact with the display panel set on the inspection stage,
The inspection stage is:
A strut unit,
And an upper unit connected to the support unit,
The upper unit is connected to the support unit so as to be movable so as to change the size of the inspection stage,
An upper lighting jig and a lower lighting jig are provided as the plurality of lighting jigs on the inner wall of the column unit below the upper unit,
The lighting inspection apparatus, wherein a plate serving as a bridge to the lower lighting jig is attached to the upper lighting jig. 前記点灯検査装置は、前記下側点灯治具を検知するセンサーを備え、
前記表示パネルは、液晶パネルであり、
前記液晶パネルは、搬送ラインによって運ばれて前記検査ステージにセットされることを特徴とする、請求項１に記載の点灯検査装置。The lighting inspection device includes a sensor that detects the lower lighting jig,
The display panel is a liquid crystal panel,
The lighting inspection apparatus according to claim 1, wherein the liquid crystal panel is carried by a conveyance line and set on the inspection stage. 前記プレートは、前記上側点灯治具の一部に固定されており、
前記下側点灯治具の一部は、前記プレートによって押さえられている、請求項１または２に記載の点灯検査装置。The plate is fixed to a part of the upper lighting jig,
The lighting inspection apparatus according to claim 1, wherein a part of the lower lighting jig is pressed by the plate.
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