JP5451267B2 - 偏光変調を用いる干渉計 - Google Patents
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Description
2 光ビーム
2A 第1の偏光方向を備えるセクション
2B 第2の偏光方向を備えるセクション
3 鏡
4 ポッケルスセル、偏光遅延発生器
5 基準面
6 基準本体
7 測定平面
8 被測定物体
10 基準ビーム
11 測定ビーム
12 検出器、位相解析器
14 第1のポッケルスセル
15 第2のポッケルスセル
21 光源
31 遅延ユニット
50 ポッケルスセル
51 異方性結晶
52 電極
53 電極
55 偏光フィルター
56 偏光フィルター
60 高周波数シャッター
61 シャッター
Claims (12)
- コヒーレント光ビームを生成するようになされた光源と、
光学的光ビームの位相差を解析するようになされた検出器と、
被測定物体を位置決めするための位置決め手段と、
前記光源から前記物体までの第1の光路と、
前記物体から前記検出器までの第2の光路と、
を備え、前記第1の光路および前記第2の光路は、前記物体に近接した共通セクションを有する、干渉計において、
基準面を有し、この基準面に入射する光の一部を透過および反射させるようになされ、かつ前記物体の近傍において両光路の前記共通セクションに配置されている本体を備え、および前記位置決め手段が、測定平面を有する前記被測定物体を、前記測定平面が前記基準面に実質的に平行に延在するように位置決めするようになされており、
前記第1の光路および前記第2の光路の前記共通セクションに光学偏光変調器が配置されており、かつ前記基準面と前記被測定物体との間の距離が、光速を前記光学偏光変調器の変調周波数によって割った値である変調周期距離の1/4の整数倍に等しいことを特徴とする干渉計。 - 前記光学偏光変調器と前記基準面との間の距離が、光速を前記光学偏光変調器の変調周波数によって割った値である変調周期距離の1/4の整数倍と等しいことを特徴とする請求項1に記載の干渉計。
- コヒーレント光ビームを生成するようになされた光源と、
光学的光ビームの位相差を解析するようになされた検出器と、
被測定物体を位置決めするための位置決め手段と、
前記光源から前記物体までの第1の光路と、
前記物体から前記検出器までの第2の光路と、
を備え、前記第1の光路および前記第2の光路は、前記物体に近接した共通セクションを有する、干渉計において、
前記第1の光路の非共通セクションには第1の光学偏光変調器が配置されており、前記第2の光路の非共通セクションには第2の光学偏光変調器が配置されており、かつ前記第1の光学偏光変調器の変調周波数が前記第2の光学偏光変調器の変調周波数と等しいことを特徴とする干渉計。 - 基準面を有し、この基準面に入射する光の一部を透過および反射させるようになされ、かつ前記物体の近傍において両光路の前記共通セクションに配置されている本体を備え、および前記位置決め手段が、測定平面を有する前記被測定物体を、前記測定平面が前記基準面に実質的に平行に延在するように位置決めするようになされていることを特徴とする請求項3に記載の干渉計。
- 前記第1の光学偏光変調器と前記第2の光学偏光変調器との間の位相差が、前記第1の光学偏光変調器と前記基準面との間の距離と、前記基準面と前記第2の光学偏光変調器との間の距離との合計の関数であることを特徴とする請求項4に記載の干渉計。
- 前記光学偏光変調器がポッケルスセルによって形成されることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか一項に記載の干渉計。
- コヒーレント光ビームを生成するようになされた光源と、
光学的光ビームの位相差を解析するようになされた検出器と、
被測定物体を位置決めするための位置決め手段と、
前記光源から前記物体までの第1の光路と、
前記物体から前記検出器までの第2の光路と、
を備え、前記第1の光路および前記第2の光路は、前記物体に近接した共通セクションを有する、干渉計において、
基準面を有し、この基準面に入射する光の一部を透過および反射させるようになされ、かつ前記物体の近傍において両光路の前記共通セクションに配置されている本体を備え、および前記位置決め手段が、測定平面を有する前記被測定物体を、前記測定平面が前記基準面に実質的に平行に延在するように位置決めするようになされており、
前記第1の光路の非共通セクションには光学偏光変調器が配置されており、前記第2の光路の非共通セクションにはシャッターが配置されており、前記光学偏光変調器の変調周波数が、光速を前記基準面と前記被測定物体との間の距離によって割った値に等しく、かつ前記シャッターの周波数が、前記光学偏光変調器の周波数またはこの値の整数倍に等しいことを特徴とする干渉計。 - 前記シャッターが閉じているデューティサイクルが、前記シャッターが開いているデューティサイクルの2倍以上であることを特徴とする請求項7に記載の干渉計。
- 前記シャッターおよび前記光学偏光変調器が双方とも「ポッケルスセル」によって形成されていることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の干渉計。
- コヒーレント光ビームを生成するようになされた光源と、
光学的光ビームの位相差を解析するようになされた検出器と、
被測定物体を位置決めするための位置決め手段と、
前記光源から前記物体までの第1の光路と、
前記物体から前記検出器までの第2の光路と、
を備え、前記第1の光路および前記第2の光路は、前記物体に近接した共通セクションを有する、干渉計において、
前記ビームが、デューティサイクルが0.5未満のパルスビームであり、前記光源からの前記ビームを、相互に直交的な偏光を有する第1のビームおよび第2のビームに分離させるようになされている光学偏光変調器が前記第1の光路に配置されており、および前記第1のビームに対して前記第2のビームを遅延させる手段が前記第1の経路に配置されている、ことを特徴とする干渉計。 - 基準面を有し、この基準面に入射する光の一部を透過および反射させるようになされ、かつ前記物体の近傍において両光路の前記共通セクションに配置されている本体を備え、および前記位置決め手段が、測定平面を有する前記被測定物体を、前記測定平面が前記基準面に実質的に平行に延在するように位置決めするようになされていることを特徴とする請求項10に記載の干渉計。
- 前記光源が、連続光ビームを生成するようになされており、かつ前記第1の光路にシャッターが配置されていることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の干渉計。
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