JP5441797B2 - Retainer and substrate storage container - Google Patents

Retainer and substrate storage container Download PDF

Info

Publication number
JP5441797B2
JP5441797B2 JP2010087128A JP2010087128A JP5441797B2 JP 5441797 B2 JP5441797 B2 JP 5441797B2 JP 2010087128 A JP2010087128 A JP 2010087128A JP 2010087128 A JP2010087128 A JP 2010087128A JP 5441797 B2 JP5441797 B2 JP 5441797B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holding
retainer
elastic
elastic holding
holding piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010087128A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2011222587A (en
Inventor
正人 細井
公徳 冨永
孝行 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Polymer Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Polymer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Polymer Co Ltd filed Critical Shin Etsu Polymer Co Ltd
Priority to JP2010087128A priority Critical patent/JP5441797B2/en
Publication of JP2011222587A publication Critical patent/JP2011222587A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5441797B2 publication Critical patent/JP5441797B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)

Description

本発明は、半導体ウェーハやガラスウェーハ等からなる基板を収納、保管、搬送、輸送等する際に使用されるリテーナ及び基板収納容器に関するものである。   The present invention relates to a retainer and a substrate storage container used for storing, storing, transporting, transporting, etc., a substrate made of a semiconductor wafer, a glass wafer, or the like.

従来の基板収納容器は、図示しないが、複数枚の半導体ウェーハを上下に並べて整列収納する容器本体と、この容器本体の開口した正面を開閉する蓋体とを備え、蓋体の半導体ウェーハに対向する裏面に、複数枚の半導体ウェーハを保持するフロントリテーナが装着されている(特許文献1、2参照)。   Although not shown, the conventional substrate storage container includes a container main body for arranging and storing a plurality of semiconductor wafers in an up-and-down manner, and a lid that opens and closes the front surface of the container main body. A front retainer for holding a plurality of semiconductor wafers is mounted on the back surface (see Patent Documents 1 and 2).

容器本体は、正面の開口したフロントオープンボックスに成形され、SEMI標準規格で定められた厚さの半導体ウェーハを水平に収納するよう機能する。また、フロントリテーナは、蓋体の裏面に装着されて半導体ウェーハに対向するリテーナ本体を備え、このリテーナ本体に、複数枚の半導体ウェーハの前部周縁を保持溝で保持する複数の弾性保持片が配列形成されている。各弾性保持片は、弾性を有する線条に形成されてその先端部に保持溝が切り欠かれている。この保持溝は、半導体ウェーハの回転を防止する観点から、半導体ウェーハの標準的な厚さに対応する寸法に調整されている。   The container body is formed in a front open box having a front opening and functions to horizontally store a semiconductor wafer having a thickness defined by the SEMI standard. The front retainer includes a retainer body that is mounted on the back surface of the lid and faces the semiconductor wafer, and the retainer body has a plurality of elastic holding pieces that hold the front peripheral edges of the plurality of semiconductor wafers with holding grooves. An array is formed. Each elastic holding piece is formed in a wire having elasticity, and a holding groove is cut out at a tip portion thereof. The holding groove is adjusted to a dimension corresponding to the standard thickness of the semiconductor wafer from the viewpoint of preventing the rotation of the semiconductor wafer.

このような構成の基板収納容器は、半導体部品の生産工程において、局所的なクリーン環境に設置された加工装置のロードポート装置に位置決めして搭載され、容器本体から蓋体が取り外された後、容器本体に収納された半導体ウェーハが出し入れされて各種の処理や加工が順次施される。   The substrate storage container having such a configuration is positioned and mounted on a load port device of a processing apparatus installed in a local clean environment in a semiconductor component production process, and after the lid is removed from the container body, The semiconductor wafer stored in the container body is taken in and out, and various processing and processing are sequentially performed.

ところで、半導体の生産工場においては、標準的な厚さの半導体ウェーハを受け入れた後、生産工程内で半導体ウェーハの表面に電子回路を形成するため、各種の加工が施される。一般的には、半導体ウェーハの表面に電子回路が形成されるまで、略同一寸法の半導体ウェーハが使用され、半導体ウェーハの裏面がバックグラインドされて半導体部品の厚さに対応するよう薄くされ、この薄い半導体ウェーハが個片に切断されることにより、半導体部品が生産される。この場合、同一仕様のフロントリテーナを備えた基板収納容器を使用して半導体部品を生産することができる。   By the way, in a semiconductor production factory, after accepting a semiconductor wafer having a standard thickness, various processes are performed in order to form an electronic circuit on the surface of the semiconductor wafer within the production process. Generally, a semiconductor wafer having substantially the same dimensions is used until an electronic circuit is formed on the surface of the semiconductor wafer, and the back surface of the semiconductor wafer is back-ground and thinned to correspond to the thickness of the semiconductor component. A semiconductor component is produced by cutting a thin semiconductor wafer into pieces. In this case, a semiconductor component can be produced using a substrate storage container having a front retainer of the same specification.

特開2005‐320028号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2005-320028 特開2006‐332261号公報JP 2006-332261 A

しかしながら、特殊な半導体部品を生産する場合には、加工途中の半導体ウェーハに別の半導体ウェーハを貼着して積層構造の半導体ウェーハを形成し、この積層構造の半導体ウェーハを次工程に供給する生産方式が採用されることがある。   However, when producing special semiconductor parts, a semiconductor wafer with a laminated structure is formed by attaching another semiconductor wafer to a semiconductor wafer that is being processed, and the semiconductor wafer with this laminated structure is supplied to the next process. A method may be adopted.

この場合、積層構造の半導体ウェーハが別の半導体ウェーハを貼着した分厚くなるので、従来のフロントリテーナに積層構造の半導体ウェーハを保持させようとすると、半導体ウェーハの厚さ方向の中心がずれることになる。この結果、積層構造の半導体ウェーハを適切に保持することができず、半導体ウェーハが回転したり、位置ずれするという問題が生じる。   In this case, the thickness of the laminated semiconductor wafer is increased by attaching another semiconductor wafer, so if the conventional front retainer is used to hold the laminated semiconductor wafer, the center of the semiconductor wafer in the thickness direction will shift. Become. As a result, a semiconductor wafer having a laminated structure cannot be appropriately held, and there is a problem that the semiconductor wafer rotates or is displaced.

このような問題を解消する手段としては、積層構造の半導体ウェーハを保持可能な専用のフロントリテーナを使用する方法が考えられるが、そうすると、標準的な通常のフロントリテーナと専用のフロントリテーナとを生産方式に応じて交換しなければならず、作業の煩雑化や複雑化を招くおそれがある。また、専用のフロントリテーナを予め用意しなければならなくなるので、部品点数が増大することとなる。   As a means to solve such problems, a method of using a dedicated front retainer that can hold a semiconductor wafer having a laminated structure can be considered. However, if this is done, a standard normal front retainer and a dedicated front retainer are produced. It must be exchanged according to the method, and there is a risk of complicating and complicating the work. In addition, since a dedicated front retainer must be prepared in advance, the number of parts increases.

本発明は上記に鑑みなされたもので、厚さの異なる複数枚の基板を保持することができ、作業の煩雑化や複雑化、部品点数の増大を防ぐことのできるリテーナ及び基板収納容器を提供することを目的としている。   The present invention has been made in view of the above, and provides a retainer and a substrate storage container that can hold a plurality of substrates having different thicknesses and can prevent complicated and complicated operations and an increase in the number of components. The purpose is to do.

本発明においては上記課題を解決するため、厚さの異なる第一、第二の基板を保持可能なリテーナであって、
第一の基板を半導体ウェーハとするとともに、第二の基板を複数枚が貼り合わされた積層半導体ウェーハとし、
第一、第二の基板に対向するリテーナ本体と、このリテーナ本体に設けられて第一の基板の周縁部を保持溝で保持する第一の弾性保持片と、リテーナ本体に設けられて第二の基板の周縁部を保持溝で保持する第二の弾性保持片とを含み、第二の弾性保持片の保持溝を第一の弾性保持片の保持溝よりも広く形成し、第二の弾性保持片の保持溝の中心位置を第一の弾性保持片の保持溝の中心位置よりも高くなるよう形成したことを特徴としている。
In the present invention, in order to solve the above problem, a retainer capable of holding the first and second substrates having different thicknesses,
The first substrate is a semiconductor wafer, and the second substrate is a laminated semiconductor wafer in which a plurality of substrates are bonded,
A retainer body facing the first and second substrates, a first elastic holding piece provided on the retainer body and holding the peripheral edge of the first substrate by a holding groove, and a retainer body provided with a second And a second elastic holding piece for holding the peripheral edge of the substrate by the holding groove, the holding groove of the second elastic holding piece is formed wider than the holding groove of the first elastic holding piece, and the second elasticity The center position of the holding groove of the holding piece is formed to be higher than the center position of the holding groove of the first elastic holding piece .

なお、第二の弾性保持片の長さを、第一の弾性保持片の長さよりも短縮することができる。
また、第一の弾性保持片の保持溝を断面略V字形に形成するとともに、第二の弾性保持片の保持溝を断面略台形に形成し、第二の弾性保持片の保持溝が第二の基板の周縁部を保持する際、第一の弾性保持片の保持溝に第二の基板の周縁部を案内させることができる。
The length of the second elastic holding piece can be made shorter than the length of the first elastic holding piece.
The holding groove of the first elastic holding piece is formed in a substantially V-shaped cross section, the holding groove of the second elastic holding piece is formed in a substantially trapezoidal cross section, and the holding groove of the second elastic holding piece is the second When holding the peripheral edge of the second substrate, the peripheral edge of the second substrate can be guided in the holding groove of the first elastic holding piece.

また、リテーナ本体を、間隔をおいて対向する一対の縦桟の間に一対の横桟を架設するとともに、この一対の横桟を間隔をおいて対向させてその間に連結桟を架設することにより形成し、縦桟に第一の弾性保持片を設け、連結桟には第二の弾性保持片を設けることが可能である。   In addition, the retainer body is constructed by installing a pair of horizontal beams between a pair of vertical beams facing each other with a space therebetween, and by linking a pair of horizontal beams with a space between them and a connecting beam between them. It is possible to form and provide a first elastic holding piece on the vertical beam and a second elastic holding piece on the connecting beam.

また、リテーナ本体を、間隔をおいて対向する一対の縦桟の間に一対の横桟を架設するとともに、この一対の横桟を間隔をおいて対向させることにより形成し、一対の縦桟に複数の第一、第二の弾性保持片を交互に並べ設け、この複数の第一、第二の弾性保持片に高さ方向の可撓性をそれぞれ付与することが可能である。   In addition, the retainer body is formed by installing a pair of horizontal beams between a pair of vertical beams facing each other with a space therebetween, and by causing the pair of horizontal beams to face each other with a space therebetween. It is possible to alternately provide a plurality of first and second elastic holding pieces and to impart flexibility in the height direction to the plurality of first and second elastic holding pieces.

また、本発明においては上記課題を解決するため、厚さの異なる第一、第二の基板を上下に並べて略水平に収納可能な容器本体と、この容器本体の開口部を開閉する蓋体とを備えたものであって、
蓋体の第一、第二の基板に対向する対向面に、請求項1ないし5いずれかに記載のリテーナを取り付けたことを特徴としている。
Further, in the present invention, in order to solve the above-mentioned problem, a container main body capable of storing the first and second substrates having different thicknesses vertically and stored substantially horizontally, and a lid for opening and closing the opening of the container main body, With
The retainer according to any one of claims 1 to 5 is attached to opposing surfaces of the lid that face the first and second substrates.

ここで、特許請求の範囲における厚さの異なる第一、第二の基板には、少なくともφ200、300、450mmの半導体ウェーハが含まれる。また、リテーナのリテーナ本体は、板体でも良いし、枠体でも良い。第一、第二の弾性保持片は、単数複数を特に問うものではない。第一の弾性保持片は、縦桟から第一、第二の基板方向に伸びる第一の弾性片を備え、この第一の弾性片に、第一、第二の半導体ウェーハの周縁部に対向する保持ブロックが形成され、この保持ブロックに保持溝が切り欠かれることが好ましい。 Here, the first and second substrates having different thicknesses in the claims include semiconductor wafers of at least φ200 , 300 , and 450 mm. The retainer main body of the retainer may be a plate or a frame. The first and second elastic holding pieces are not particularly limited. The first elastic holding piece includes a first elastic piece extending from the vertical rail toward the first and second substrates, and is opposed to the first elastic piece and the peripheral edge of the first and second semiconductor wafers. Preferably, a holding block is formed, and a holding groove is cut out in the holding block.

第二の弾性保持片は、連結桟あるいは縦桟から第一、第二の基板方向に伸びる第二の弾性片を備え、この第二の弾性片に、第一、第二の半導体ウェーハの周縁部に対向する保持ブロックが形成され、この保持ブロックに保持溝が切り欠かれることが好ましい。これら第一、第二の弾性保持片の保持溝は、中心位置が高さ方向に相異することが好ましい。さらに、容器本体は、透明、不透明、半透明のいずれでも良い。   The second elastic holding piece includes a second elastic piece extending from the connecting beam or the vertical beam to the first and second substrate directions, and the second elastic piece includes a peripheral edge of the first and second semiconductor wafers. It is preferable that a holding block facing the portion is formed, and a holding groove is cut out in the holding block. These holding grooves of the first and second elastic holding pieces preferably have different center positions in the height direction. Furthermore, the container body may be transparent, opaque, or translucent.

本発明によれば、第一、第二の基板の周縁部とリテーナとが接近すると、第一の弾性保持片は、保持溝を第一、第二の基板の周縁部に接触させ、保持溝の谷部に第一、第二の基板の周縁部を案内する。また、第二の弾性保持片は、保持溝を第一、第二の基板の周縁部に接近させ、この保持溝を第一、第二の基板の周縁部に隙間をおいて対向させる。   According to the present invention, when the peripheral portions of the first and second substrates approach the retainer, the first elastic holding piece brings the holding grooves into contact with the peripheral portions of the first and second substrates, and the holding grooves The peripheral edge portions of the first and second substrates are guided to the valley portion. The second elastic holding piece makes the holding groove approach the peripheral edge portions of the first and second substrates, and makes the holding groove face the peripheral edge portions of the first and second substrates with a gap.

第一、第二の基板の周縁部とリテーナとがさらに接近すると、第一の弾性保持片は、保持溝に第一の基板の周縁部を位置決めして保持させ、保持溝の谷部近傍に第二の基板の周縁部を案内して接触させる。また、第二の弾性保持片は、保持溝の谷部に第一、第二の基板の周縁部を案内し、第二の基板の周縁部を位置決めして保持する。   When the peripheral portion of the first and second substrates and the retainer further approach each other, the first elastic holding piece causes the holding groove to position and hold the peripheral portion of the first substrate in the vicinity of the valley portion of the holding groove. Guide and contact the peripheral edge of the second substrate. The second elastic holding piece guides the peripheral edge portions of the first and second substrates to the valley portions of the holding grooves, and positions and holds the peripheral edge portion of the second substrate.

本発明によれば、厚さの異なる複数枚の基板を適切に保持することができ、しかも、作業の煩雑化や複雑化、部品点数の増大を有効に防ぐことができるという効果がある。また、第一の基板を半導体ウェーハとし、第二の基板を複数枚が貼り合わされた積層半導体ウェーハとするので、第二の弾性保持片の保持溝に積層半導体ウェーハの周縁部を適切に保持させることができる。したがって、積層半導体ウェーハの厚さ方向の中心がずれることが少なく、積層半導体ウェーハが回転したり、位置ずれするのを有効に防ぐことができる。また、積層半導体ウェーハを保持可能な専用のリテーナを使用する必要がないので、専用のリテーナを生産方式に応じて交換する手間を省くことができる。 According to the present invention, it is possible to appropriately hold a plurality of substrates having different thicknesses, and to effectively prevent complicated and complicated operations and an increase in the number of parts. Also, since the first substrate is a semiconductor wafer and the second substrate is a laminated semiconductor wafer in which a plurality of substrates are bonded, the peripheral edge of the laminated semiconductor wafer is appropriately held in the holding groove of the second elastic holding piece. be able to. Therefore, the center of the laminated semiconductor wafer in the thickness direction is hardly displaced, and the laminated semiconductor wafer can be effectively prevented from rotating or being displaced. Moreover, since it is not necessary to use a dedicated retainer capable of holding the laminated semiconductor wafer, it is possible to save the trouble of replacing the dedicated retainer according to the production method.

また、第一、第二の弾性保持片の保持溝の形状や幅が異なり、第二の弾性保持片の保持溝が広いので、この保持溝に積層半導体ウェーハの前部周縁を適切、かつ安定して保持させることができる。したがって、積層半導体ウェーハの厚さ方向の中心がずれることがなく、積層半導体ウェーハが回転したり、位置ずれしてパーティクルが発生し、第一、第二の半導体ウェーハが汚染するのを有効に防止することができる。In addition, the shape and width of the holding grooves of the first and second elastic holding pieces are different, and the holding groove of the second elastic holding piece is wide, so that the front peripheral edge of the laminated semiconductor wafer is properly and stably placed in this holding groove. Can be held. Therefore, the center of the laminated semiconductor wafer in the thickness direction is not shifted, and the laminated semiconductor wafer is effectively prevented from rotating or misaligned to generate particles and contaminating the first and second semiconductor wafers. can do.

また、第二の弾性保持片の長さを、第一の弾性保持片の長さよりも短縮すれば、第二の弾性保持片の保持力を増大させることができるので、例え第二の基板が第一の基板よりも厚くても、第二の基板を適切に保持することが可能になる。   Also, if the length of the second elastic holding piece is made shorter than the length of the first elastic holding piece, the holding force of the second elastic holding piece can be increased. Even if it is thicker than the first substrate, the second substrate can be appropriately held.

また、リテーナ本体を、間隔をおいて対向する一対の縦桟の間に一対の横桟を架設するとともに、この一対の横桟を間隔をおいて対向させてその間に連結桟を架設すれば、リテーナ本体の強度や剛性を向上させることができる。また、縦桟に第一の弾性保持片を設け、連結桟に第二の弾性保持片を設ければ、第一、第二の弾性保持片を異なる箇所に配置することが可能になる。   In addition, when the retainer body is installed with a pair of horizontal beams between a pair of vertical beams facing each other with a gap therebetween, and with a pair of horizontal beams facing each other with a gap between them, a connecting beam is installed between them. The strength and rigidity of the retainer body can be improved. Further, if the first elastic holding piece is provided on the vertical beam and the second elastic holding piece is provided on the connecting beam, the first and second elastic holding pieces can be arranged at different locations.

また、リテーナ本体を、間隔をおいて対向する一対の縦桟の間に一対の横桟を架設するとともに、この一対の横桟を間隔をおいて対向させることにより形成し、一対の縦桟に複数の第一、第二の弾性保持片を交互に並べ設ければ、連結桟を省略してリテーナ本体の構成の簡素化を図ることが可能になる。さらに、第一、第二の弾性保持片の保持溝が例え高さ方向にずれても、第一、第二の弾性保持片を高さ方向に撓ませてずれた位置に追従させることができるので、異なる厚さの第一、第二の基板の安定した保持が期待できる。   In addition, the retainer body is formed by installing a pair of horizontal beams between a pair of vertical beams facing each other with a space therebetween, and by causing the pair of horizontal beams to face each other with a space therebetween. If a plurality of first and second elastic holding pieces are alternately arranged, the connecting bar can be omitted and the structure of the retainer body can be simplified. Furthermore, even if the holding grooves of the first and second elastic holding pieces are displaced in the height direction, the first and second elastic holding pieces can be bent in the height direction to follow the displaced positions. Therefore, stable holding of the first and second substrates having different thicknesses can be expected.

本発明に係るリテーナ及び基板収納容器の実施形態を模式的に示す分解斜視説明図である。It is an exploded perspective explanatory view showing typically an embodiment of a retainer and a substrate storage container concerning the present invention. 本発明に係るリテーナの実施形態におけるフロントリテーナを模式的に示す正面説明図である。It is front explanatory drawing which shows typically the front retainer in embodiment of the retainer which concerns on this invention. 本発明に係るリテーナの実施形態におけるフロントリテーナ下部を模式的に示す拡大正面説明図である。It is an expansion front explanatory view showing typically the front retainer lower part in the embodiment of the retainer concerning the present invention. 図3のIV‐IV線断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line IV-IV in FIG. 3. 本発明に係るリテーナの実施形態における第一、第二の弾性保持片の保持溝の位置関係を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically the positional relation of the holding groove of the 1st and 2nd elastic holding piece in the embodiment of the retainer concerning the present invention. 本発明に係るリテーナ及び基板収納容器の実施形態における容器本体の正面に蓋体が近接して対向した状態を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically the state where a lid body adjoined and opposed to the front of a container main part in an embodiment of a retainer and a substrate storage container concerning the present invention. 図6における第一、第二の弾性保持片の保持ブロックに第一の半導体ウェーハが保持された状態を模式的に示す断面説明図である。FIG. 7 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which the first semiconductor wafer is held by the holding blocks of the first and second elastic holding pieces in FIG. 6. 図6における第一、第二の弾性保持片の保持ブロックに第二の半導体ウェーハが保持された状態を模式的に示す断面説明図である。FIG. 7 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which the second semiconductor wafer is held by the holding blocks of the first and second elastic holding pieces in FIG. 6. 本発明に係るリテーナ及び基板収納容器の実施形態における容器本体の正面に蓋体が圧入された状態を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically the state where the lid was press-fitted in the front of the container body in the embodiment of the retainer and the substrate storage container according to the present invention. 図9における第一、第二の弾性保持片の保持ブロックに第一の半導体ウェーハが保持された状態を模式的に示す断面説明図である。FIG. 10 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which the first semiconductor wafer is held by the holding blocks of the first and second elastic holding pieces in FIG. 9. 図9における第一、第二の弾性保持片の保持ブロックに第二の半導体ウェーハが保持された状態を模式的に示す断面説明図である。FIG. 10 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which the second semiconductor wafer is held by the holding blocks of the first and second elastic holding pieces in FIG. 9. 本発明に係るリテーナ及び基板収納容器の実施形態における容器本体の正面に圧入された蓋体が施錠機構により施錠された状態を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically the state where the lid pressed in the front of the container main part in the embodiment of the retainer and substrate storage container concerning the present invention was locked by the locking mechanism. 図12における第一、第二の弾性保持片の保持ブロックに第一の半導体ウェーハが保持された状態を模式的に示す断面説明図である。FIG. 13 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which the first semiconductor wafer is held by the holding blocks of the first and second elastic holding pieces in FIG. 12. 図12における第一、第二の弾性保持片の保持ブロックに第二の半導体ウェーハが保持された状態を模式的に示す断面説明図である。FIG. 13 is an explanatory cross-sectional view schematically showing a state in which the second semiconductor wafer is held by the holding blocks of the first and second elastic holding pieces in FIG. 12. 本発明に係るリテーナの第2の実施形態におけるフロントリテーナの上部を模式的に示す拡大正面説明図である。It is an expansion front explanatory view showing typically the upper part of the front retainer in the 2nd embodiment of the retainer concerning the present invention. 本発明に係るリテーナの第2の実施形態における第一、第二の弾性保持片の断面を模式的に示す断面説明図である。It is a section explanatory view showing typically the section of the 1st and 2nd elastic maintenance piece in a 2nd embodiment of a retainer concerning the present invention. 本発明に係るリテーナの第2の実施形態における第一、第二の弾性保持片の他の断面を模式的に示す断面説明図である。It is sectional explanatory drawing which shows typically the other cross section of the 1st, 2nd elastic holding piece in 2nd Embodiment of the retainer which concerns on this invention.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明すると、本実施形態における基板収納容器は、図1ないし図14に示すように、厚さの異なる複数枚の第一、第二の半導体ウェーハW1・W2を上下に並べて整列収納する容器本体1と、この容器本体1の開口した正面2を開閉する着脱自在の蓋体20とを備え、蓋体20の第一、第二の半導体ウェーハW1・W2に対向する裏面23に、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2を弾発的に保持可能なフロントリテーナ40を装着するようにしている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIGS. 1 to 14, the substrate storage container in the present embodiment includes a plurality of first and second semiconductor wafers having different thicknesses. A container body 1 that stores W1 and W2 in an aligned manner and a detachable lid body 20 that opens and closes an open front surface 2 of the container body 1 is provided, and the first and second semiconductor wafers W1 of the lid body 20 are provided. A front retainer 40 capable of elastically holding the first and second semiconductor wafers W1 and W2 is mounted on the back surface 23 facing W2.

第一、第二の半導体ウェーハW1・W2は、図1や図6に示すように、例えばシリコンウェーハからなり、第一の半導体ウェーハW1が標準的な厚さでφ300mmの半導体ウェーハとされる。この第一の半導体ウェーハW1は、φ300mmタイプの場合、775μmの厚さに形成される。これに対し、第二の半導体ウェーハW2は、加工途中の薄い第一の半導体ウェーハW1に別の第一の半導体ウェーハW1が貼着して積層されたφ300mmの積層半導体ウェーハであり、第一の半導体ウェーハW1の約2倍の厚さを有する。   As shown in FIGS. 1 and 6, the first and second semiconductor wafers W1 and W2 are made of, for example, a silicon wafer, and the first semiconductor wafer W1 is a semiconductor wafer having a standard thickness of φ300 mm. The first semiconductor wafer W1 is formed to a thickness of 775 μm in the case of the φ300 mm type. On the other hand, the second semiconductor wafer W2 is a φ300 mm laminated semiconductor wafer in which another first semiconductor wafer W1 is bonded to the thin first semiconductor wafer W1 that is being processed and laminated. The thickness is about twice that of the semiconductor wafer W1.

容器本体1と蓋体20とは、所定の樹脂を含有する成形材料により複数の部品がそれぞれ射出成形され、この複数の部品の組み合わせで構成される。この成形材料の所定の樹脂としては、例えば力学的性質や耐熱性等に優れるポリカーボネート、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルイミド、ポリブチレンテレフタレート、ポリアセタール、液晶ポリマー、あるいは環状オレフィン樹脂等があげられる。この所定の樹脂には、カーボン、カーボン繊維、金属繊維、カーボンナノチューブ、導電性ポリマー、帯電防止剤、又は難燃剤等が必要に応じて選択的に添加される。   The container body 1 and the lid body 20 are each formed by combining a plurality of parts by injection molding a plurality of parts from a molding material containing a predetermined resin. Examples of the predetermined resin of the molding material include polycarbonate, polyether ether ketone, polyether imide, polybutylene terephthalate, polyacetal, liquid crystal polymer, and cyclic olefin resin that are excellent in mechanical properties and heat resistance. Carbon, carbon fiber, metal fiber, carbon nanotube, conductive polymer, antistatic agent, flame retardant or the like is selectively added to the predetermined resin as necessary.

容器本体1は、図1に示すように、正面2の開口したフロントオープンボックスタイプに形成され、開口した横長の正面2を水平横方向に向けた状態で加工装置のロードポート装置上に位置決めして搭載されたり、洗浄槽の洗浄液により洗浄される。この容器本体1の内部両側、すなわち、両側壁3の内面には、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2を水平に支持する左右一対の支持片4が対設され、この一対の支持片4が容器本体1の上下方向に所定のピッチで配列される。   As shown in FIG. 1, the container body 1 is formed in a front open box type having an opening in the front surface 2, and is positioned on the load port device of the processing apparatus with the opened horizontally long front surface 2 facing in the horizontal horizontal direction. Or is washed with a cleaning solution in a cleaning tank. A pair of left and right support pieces 4 for horizontally supporting the first and second semiconductor wafers W1 and W2 are provided on both inner sides of the container body 1, that is, on the inner surfaces of both side walls 3, and the pair of support pieces. 4 are arranged at a predetermined pitch in the vertical direction of the container body 1.

各支持片4は、例えば平面略半円弧形に湾曲形成され、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の側部周縁を位置決めして水平に支持するよう機能する。また、容器本体1の底板5の前部両側と後部中央とには、基板収納容器、具体的には容器本体1を高精度に位置決めする複数の位置決め具が配設される。   Each support piece 4 is curved, for example, in a plane semi-circular arc shape, and functions to position and horizontally support the peripheral edges of the first and second semiconductor wafers W1 and W2. A plurality of positioning tools for positioning the substrate storage container, specifically, the container main body 1 with high accuracy, are arranged on both sides of the front portion and the rear center of the bottom plate 5 of the container main body 1.

容器本体1の底板5には、複数の位置決め具をそれぞれ露出させるボトムプレート6が水平に螺着される。このボトムプレート6には、複数の識別孔が穿孔され、この複数の識別孔に着脱自在の情報識別パッドが選択的に挿入されることにより、基板収納容器の種類や第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の枚数等が加工装置等に識別される。   A bottom plate 6 that exposes a plurality of positioning tools is horizontally screwed to the bottom plate 5 of the container body 1. The bottom plate 6 is provided with a plurality of identification holes, and a detachable information identification pad is selectively inserted into the plurality of identification holes, so that the type of the substrate storage container and the first and second semiconductors The number of wafers W1 and W2 and the like are identified by a processing apparatus or the like.

容器本体1の天板7には、工場の天井搬送機構に把持される搬送用のトップフランジ8が水平に装着され、容器本体1の両側壁3の外面には、指等を干渉させることのできるグリップ部9がそれぞれ装着される。また、容器本体1の正面2の内周縁には、蓋体20用の複数の係止穴10が間隔をおいて凹み形成され、容器本体1の背面壁内面には、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の後部周縁を保持するリアリテーナやリアサポートが必要に応じ選択的に形成される。   The top plate 7 of the container main body 1 is horizontally mounted with a transport top flange 8 gripped by a factory ceiling transport mechanism, and a finger or the like can interfere with the outer surfaces of the side walls 3 of the container main body 1. A grip portion 9 that can be mounted is mounted. In addition, a plurality of locking holes 10 for the lid 20 are formed in the inner peripheral edge of the front surface 2 of the container body 1 at intervals. A rear retainer and a rear support for holding the rear periphery of the semiconductor wafers W1 and W2 are selectively formed as necessary.

蓋体20は、図1に示すように、容器本体1の開口した正面2内に嵌合する横長の筐体21と、この筐体21の開口した正面を被覆する表面プレート25と、これら筐体21と表面プレート25との間に介在される施錠機構27とを備え、ロードポート装置の蓋体開閉装置により取り付け取り外しされる。この蓋体20の筐体21は、基本的には枠形の周壁を備えた浅底の断面略皿形に形成され、周壁の上下両側部には、施錠機構27用の貫通孔22がそれぞれ穿孔されており、各貫通孔22が容器本体1の係止穴10に対向する。   As shown in FIG. 1, the lid 20 includes a horizontally long casing 21 that fits in the open front surface 2 of the container body 1, a surface plate 25 that covers the open front face of the casing 21, and these casings. A locking mechanism 27 interposed between the body 21 and the surface plate 25 is provided, and is attached and detached by a lid opening / closing device of the load port device. The casing 21 of the lid body 20 is basically formed in a shallow cross-sectional plate shape having a frame-shaped peripheral wall, and through holes 22 for the locking mechanism 27 are formed on both upper and lower sides of the peripheral wall. The through holes 22 are opposed to the locking holes 10 of the container body 1.

筐体21の裏面23周縁部には枠形の嵌合溝が形成され、この嵌合溝には、容器本体1の正面2内に圧接するガスケット24が密嵌される。このガスケット24は、例えば耐熱性や耐候性等に優れるフッ素ゴム、シリコーンゴム、各種の熱可塑性エラストマー(例えば、オレフィン系、ポリエステル系、ポリスチレン系等)等を成形材料として弾性変形可能な枠形に成形される。   A frame-shaped fitting groove is formed in the peripheral portion of the back surface 23 of the housing 21, and a gasket 24 that is pressed into the front surface 2 of the container body 1 is tightly fitted in the fitting groove. The gasket 24 has a frame shape that can be elastically deformed using, for example, fluoro rubber, silicone rubber, various thermoplastic elastomers (for example, olefin-based, polyester-based, polystyrene-based, etc.) having excellent heat resistance, weather resistance, and the like as molding materials. Molded.

表面プレート25は、筐体21の開口した正面に対応する横長の平板に形成され、左右両側部に、施錠機構27用の操作口26がそれぞれ穿孔されており、ロードポート装置の蓋体開閉装置に搭載された後に操作キーが挿入される。また、施錠機構27は、表面プレート25の操作口26を貫通した蓋体開閉装置の操作キーにより回転操作される左右一対の回転プレート28と、各回転プレート28の回転に伴い上下方向にスライドする複数のスライドプレート29と、各スライドプレート29のスライドに伴い筐体21の貫通孔22から突出して容器本体1の係止穴10に係止する複数の係止爪30とを備えて構成される。   The surface plate 25 is formed in a horizontally long flat plate corresponding to the open front of the housing 21, and operation ports 26 for the locking mechanism 27 are formed in the left and right sides, respectively, and the lid opening / closing device of the load port device An operation key is inserted after being installed in the. The locking mechanism 27 slides up and down as the pair of left and right rotating plates 28 are rotated by operating keys of the lid opening / closing device penetrating the operation opening 26 of the surface plate 25 and each rotating plate 28 rotates. A plurality of slide plates 29 and a plurality of locking claws 30 that protrude from the through holes 22 of the housing 21 and are locked to the locking holes 10 of the container body 1 as the slide plates 29 slide are configured. .

フロントリテーナ40は、所定の成形材料、例えばポリエーテルエーテルケトン、ポリブチレンテレフタレート、ポリブチレンナフタレート、ポリエステル系熱可塑性エラストマー等により成形される。   The front retainer 40 is molded from a predetermined molding material such as polyether ether ketone, polybutylene terephthalate, polybutylene naphthalate, polyester-based thermoplastic elastomer or the like.

フロントリテーナ40は、図1ないし図3等に示すように、蓋体20の筐体裏面23に着脱自在に装着されて複数枚の第一、第二の半導体ウェーハW1・W2に対向する縦長のリテーナ本体41と、このリテーナ本体41に設けられて第一の半導体ウェーハW1の前部周縁を保持溝49で水平に保持する複数の第一の弾性保持片46と、リテーナ本体41に設けられ、第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を保持溝53で水平に保持する複数の第二の弾性保持片50とを備えて構成される。   As shown in FIG. 1 to FIG. 3 and the like, the front retainer 40 is detachably mounted on the housing rear surface 23 of the lid 20 so as to face the plurality of first and second semiconductor wafers W1 and W2. A retainer body 41, a plurality of first elastic holding pieces 46 provided on the retainer body 41 and horizontally holding the front peripheral edge of the first semiconductor wafer W1 by the holding grooves 49, and the retainer body 41 are provided. A plurality of second elastic holding pieces 50 that hold the front peripheral edge of the second semiconductor wafer W2 horizontally with the holding grooves 53 are provided.

リテーナ本体41は、図1ないし図3、図4、図6に示すように、間隔をおいて相対向する左右一対の縦桟42の上下両端部間に横桟43がそれぞれ水平に架設され、この上下一対の相対向する横桟43の中央部間に上下方向に伸びる剛性確保用の連結桟44が架設されており、各縦桟42に、蓋体20の厚さ方向に撓む複数の第一の弾性保持片46が所定の間隔で上下に並べて一体形成されるとともに、連結桟44の両側部に、蓋体20の厚さ方向に撓む複数の第二の弾性保持片50がそれぞれ所定の間隔で上下に並べて一体形成される。   As shown in FIGS. 1 to 3, 4, and 6, the retainer main body 41 has horizontal bars 43 that are horizontally installed between upper and lower ends of a pair of left and right vertical bars 42 that face each other at intervals. A connecting rail 44 for securing rigidity extending in the vertical direction is provided between the center portions of the pair of upper and lower opposed horizontal rails 43, and each vertical rail 42 is bent in the thickness direction of the lid body 20. The first elastic holding pieces 46 are integrally formed one above the other at a predetermined interval, and a plurality of second elastic holding pieces 50 that are bent in the thickness direction of the lid 20 are respectively formed on both sides of the connecting bar 44. They are integrally formed side by side at a predetermined interval.

複数の縦桟42と横桟43とは、それぞれ断面略矩形に形成され、少なくとも各縦桟42には、蓋体20の筐体裏面23に対する複数の取付片45が間隔をおいて一体形成される。また、第一、第二の弾性保持片46・50は、第二の弾性保持片50が保持力増大の観点から第一の弾性保持片46よりも短く形成され、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の高さ位置に追従して変形する。   The plurality of vertical bars 42 and the horizontal bars 43 are each formed in a substantially rectangular cross section, and at least the vertical bars 42 are integrally formed with a plurality of attachment pieces 45 with respect to the housing rear surface 23 of the lid 20 at intervals. The Further, the first and second elastic holding pieces 46 and 50 are formed shorter than the first elastic holding piece 46 from the viewpoint of increasing the holding force of the second elastic holding piece 50, and the first and second semiconductors Deforms following the height position of the wafers W1 and W2.

各第一の弾性保持片46は、図2ないし図4、図6に示すように、縦桟42から第一、第二の半導体ウェーハW1・W2や連結桟44方向に傾斜しながら板片状に伸びる第一の弾性片47を備え、この第一の弾性片47の先端部に、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁に対向する保持ブロック48が一体形成されており、この保持ブロック48に断面略V字形の保持溝49が切り欠かれる。   As shown in FIGS. 2 to 4 and 6, each first elastic holding piece 46 is in the form of a plate while being inclined from the vertical beam 42 toward the first and second semiconductor wafers W 1 and W 2 and the connecting beam 44. The first elastic piece 47 extending in the direction is provided, and a holding block 48 that is opposed to the front peripheral edge of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 is integrally formed at the tip of the first elastic piece 47. A holding groove 49 having a substantially V-shaped cross section is cut out in the holding block 48.

断面略V字形の保持溝49は、相対する一対の斜面で第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁を挟持するとともに、狭い鋭利な谷部49aに薄い第一の半導体ウェーハW1の前部周縁を上下前後に位置決め保持するよう機能する。   The holding groove 49 having a substantially V-shaped cross section sandwiches the front peripheral edge of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 with a pair of opposed slopes, and is thin in the narrow sharp valley portion 49a. It functions to position and hold the front edge of the front and rear.

各第二の弾性保持片50は、図2ないし図4、図6に示すように、連結桟44の側面から第一、第二の半導体ウェーハW1・W2や縦桟42方向に傾斜しながら板片状に伸びる第二の弾性片51を備え、この第二の弾性片51の先端部に、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁に対向する保持ブロック52が一体形成されており、この保持ブロック52に断面略台形の保持溝53が切り欠かれる。   As shown in FIGS. 2 to 4 and 6, each second elastic holding piece 50 is a plate inclined from the side surface of the connecting bar 44 toward the first and second semiconductor wafers W 1 and W 2 and the vertical bar 42. A second elastic piece 51 extending in the form of a piece is provided, and a holding block 52 is formed integrally with the front edge of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 at the tip of the second elastic piece 51. A holding groove 53 having a substantially trapezoidal cross section is cut out in the holding block 52.

断面略台形の保持溝53は、相対する一対の斜面で第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁を挟持するとともに、第一の弾性保持片46の保持溝49よりも広く平坦な谷部53aに第一の半導体ウェーハW1の前部周縁を遊嵌し、厚い第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を位置決め保持するよう機能する。   The holding groove 53 having a substantially trapezoidal cross section sandwiches the front peripheral edges of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 with a pair of opposed slopes, and is wider and flatter than the holding groove 49 of the first elastic holding piece 46. It functions to loosely fit the front peripheral edge of the first semiconductor wafer W1 to the trough 53a and to position and hold the front peripheral edge of the thick second semiconductor wafer W2.

第一、第二の弾性保持片46・50の保持溝49・53は、図5に示すように、第一の弾性保持片46の保持溝49の中心位置よりも第二の弾性保持片50の保持溝53の中心位置がやや高くなるよう設定される。   As shown in FIG. 5, the holding grooves 49 and 53 of the first and second elastic holding pieces 46 and 50 have a second elastic holding piece 50 that is more than the center position of the holding groove 49 of the first elastic holding piece 46. The center position of the holding groove 53 is set to be slightly higher.

上記構成において、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2を整列収納した容器本体1の開口した正面2に蓋体20を嵌合してシール状態に閉鎖する場合には図6に示すように、先ず、容器本体1の開口した正面2に蓋体20がロードポート装置の蓋体開閉装置により近接して対向し、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁にフロントリテーナ40が接近する。   In the above configuration, when the lid 20 is fitted to the open front surface 2 of the container body 1 in which the first and second semiconductor wafers W1 and W2 are aligned and stored, and closed in a sealed state, as shown in FIG. First, the lid 20 is opposed to the front surface 2 of the container body 1 in the proximity of the lid opening / closing device of the load port device, and the front retainer 40 is disposed on the front peripheral edges of the first and second semiconductor wafers W1 and W2. Approaches.

この際、第一の弾性保持片46は、保持溝49の斜面を第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁に接近させて摺接し、保持溝49の最も深い谷部49aに第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁を案内する(図7参照)。これに対し、第二の弾性保持片50は、保持溝53を第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁に接近させるものの摺接せず、保持溝53を第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁に僅かな隙間をおいて対向させる(図8参照)。   At this time, the first elastic holding piece 46 is brought into sliding contact with the inclined surface of the holding groove 49 approaching the front peripheral edge of the first and second semiconductor wafers W1 and W2, and contacts the deepest valley portion 49a of the holding groove 49. The front periphery of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 is guided (see FIG. 7). On the other hand, the second elastic holding piece 50 makes the holding groove 53 close to the front peripheral edges of the first and second semiconductor wafers W1 and W2, but does not make sliding contact, and makes the holding groove 53 the first and second. The semiconductor wafers W1 and W2 are opposed to each other with a slight gap on the front periphery (see FIG. 8).

容器本体1の開口した正面2に蓋体20が近接して対向したら、容器本体1の開口した正面2に蓋体20がロードポート装置の蓋体開閉装置により圧入され、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁にフロントリテーナ40がさらに接近し、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の圧接に伴い、第一、第二の弾性保持片46・50が容器本体1の前後方向にそれぞれ変形する(図9参照)。   When the lid 20 is close to and faces the open front 2 of the container body 1, the lid 20 is press-fitted into the open front 2 of the container main body 1 by the lid opening / closing device of the load port device. The front retainer 40 further approaches the front peripheral edge of the semiconductor wafers W1 and W2, and the first and second elastic holding pieces 46 and 50 are brought into contact with the container body 1 as the first and second semiconductor wafers W1 and W2 are pressed. Are respectively deformed in the front-rear direction (see FIG. 9).

この際、第一の弾性保持片46は、保持溝49の鋭利な谷部49aに第一の半導体ウェーハW1の前部周縁を接触させ、上下方向に位置決めするとともに、保持溝49の谷部49a近傍に第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を案内して接触させる(図10参照)。また、第二の弾性保持片50は、保持溝53の斜面を第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁に接近させて摺接し、保持溝53の最も深い平坦な谷部53aに第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁を案内し、第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を上下方向に位置決めする(図11参照)。   At this time, the first elastic holding piece 46 is positioned in the vertical direction by bringing the front peripheral edge of the first semiconductor wafer W1 into contact with the sharp valley portion 49a of the holding groove 49, and at the same time, the valley portion 49a of the holding groove 49. The front periphery of the second semiconductor wafer W2 is guided and brought into contact with the vicinity (see FIG. 10). The second elastic holding piece 50 is in sliding contact with the inclined surface of the holding groove 53 approaching the front peripheral edges of the first and second semiconductor wafers W1 and W2, and the deepest flat valley portion 53a of the holding groove 53 is formed. Next, the front peripheral edges of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 are guided, and the front peripheral edges of the second semiconductor wafer W2 are positioned in the vertical direction (see FIG. 11).

蓋体20が蓋体開閉装置により圧入されたら、蓋体20の施錠機構27が蓋体開閉装置に施錠操作されることにより、容器本体1の正面2に蓋体20を嵌合してシール状態に閉鎖することができる(図12参照)。   When the lid 20 is press-fitted by the lid opening / closing device, the locking mechanism 27 of the lid 20 is operated to lock the lid opening / closing device, so that the lid 20 is fitted to the front surface 2 of the container body 1 and sealed. (See FIG. 12).

この際、第一の弾性保持片46は、保持溝49の谷部49aに第一の半導体ウェーハW1の前部周縁を密嵌して上下方向に高精度に位置決めするとともに、保持溝49の谷部近傍に第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を接触させる(図13参照)。また、第二の弾性保持片50は、保持溝53の平坦な谷部53aに第一の半導体ウェーハW1の前部周縁を接触させるとともに、第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を密嵌して上下方向に高精度に位置決めする(図14参照)。   At this time, the first elastic holding piece 46 is positioned with high accuracy in the vertical direction by tightly fitting the front peripheral edge of the first semiconductor wafer W1 to the valley portion 49a of the holding groove 49, and at the same time, the valley of the holding groove 49. The front periphery of the second semiconductor wafer W2 is brought into contact with the vicinity of the portion (see FIG. 13). The second elastic holding piece 50 brings the front peripheral edge of the first semiconductor wafer W1 into contact with the flat valley portion 53a of the holding groove 53 and closely fits the front peripheral edge of the second semiconductor wafer W2. Thus, it is positioned with high accuracy in the vertical direction (see FIG. 14).

上記構成によれば、第一、第二の弾性保持片46・50の保持溝49・53の形状や幅が異なり、第二の弾性保持片50の保持溝53の谷部53aが広く平坦なので、この保持溝53の谷部53aに積層構造の第二の半導体ウェーハW2の前部周縁を適切、かつ安定して保持させることができる。したがって、第二の半導体ウェーハW2の厚さ方向の中心がずれることがなく、第二の半導体ウェーハW2が回転したり、位置ずれしてパーティクルが発生し、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2が汚染するのを有効に防止することができる。   According to the above configuration, the shape and width of the holding grooves 49 and 53 of the first and second elastic holding pieces 46 and 50 are different, and the valley portion 53a of the holding groove 53 of the second elastic holding piece 50 is wide and flat. The front periphery of the second semiconductor wafer W2 having the laminated structure can be appropriately and stably held in the valley portion 53a of the holding groove 53. Therefore, the center of the second semiconductor wafer W2 in the thickness direction is not shifted, and the second semiconductor wafer W2 is rotated or displaced to generate particles, and the first and second semiconductor wafers W1,. It is possible to effectively prevent W2 from being contaminated.

また、第二の半導体ウェーハW2を保持可能な専用のフロントリテーナ40や異なる仕様の基板収納容器を使用する必要が全くないので、標準的な通常のフロントリテーナ40と専用のフロントリテーナ40とを生産方式に応じて交換する手間を確実に省くことができる。したがって、作業の煩雑化や複雑化を招くおそれがなく、部品点数の削減も大いに期待できる。   In addition, since there is no need to use a dedicated front retainer 40 capable of holding the second semiconductor wafer W2 or a substrate storage container having a different specification, a standard normal front retainer 40 and a dedicated front retainer 40 are produced. The trouble of exchanging according to the system can be saved reliably. Therefore, there is no risk of complicating or complicating the work, and a reduction in the number of parts can be greatly expected.

次に、図15ないし図17は本発明の第2の実施形態を示すもので、この場合には、リテーナ本体41を、間隔をおいて相対向する左右一対の縦桟42の上下両端部間に、上下一対の横桟43をそれぞれ水平に架設することにより形成し、各縦桟42の上下方向に複数の第一、第二の弾性保持片46・50を千鳥状に、具体的には一段おきに交互に配列して連結桟44を省略するようにしている。   Next, FIGS. 15 to 17 show a second embodiment of the present invention. In this case, the retainer main body 41 is placed between the upper and lower ends of a pair of left and right vertical bars 42 facing each other at intervals. In addition, a pair of upper and lower horizontal rails 43 are horizontally installed, and a plurality of first and second elastic holding pieces 46 and 50 are formed in a staggered manner in the vertical direction of each vertical rail 42, specifically, The connecting bars 44 are omitted by alternately arranging every other stage.

第一、第二の弾性保持片46・50は、同じ長さに形成され、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の高さ位置に追従して変形する。各第一の弾性保持片46は、縦桟42から隣接する他の縦桟42方向に板片状に伸びる第一の弾性片47を備え、この第一の弾性片47の先端部に、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁の中央に対向する保持ブロック48が一体形成され、第一の弾性片47の先端部から伸びる最先端部が蓋体20の筐体裏面23に固定された受け部54に支持されており、この受け部54が第一の弾性片47の保持力を一定に維持するよう機能する。   The first and second elastic holding pieces 46 and 50 are formed to have the same length, and are deformed following the height positions of the first and second semiconductor wafers W1 and W2. Each first elastic holding piece 46 includes a first elastic piece 47 that extends in the form of a plate piece from the vertical crosspiece 42 in the direction of another vertical crosspiece 42 adjacent to the first elastic holding piece 46. A holding block 48 facing the center of the front peripheral edge of the first and second semiconductor wafers W1 and W2 is integrally formed, and the most advanced portion extending from the tip of the first elastic piece 47 is the housing back surface 23 of the lid 20. The receiving portion 54 is supported by the receiving portion 54 and functions to maintain the holding force of the first elastic piece 47 constant.

第一の弾性保持片46の第一の弾性片47は、細長く形成され、図16や図17に示すように厚さ方向(高さ方向)に厚くなるよう断面略矩形あるいは楕円形に形成されて高さ方向に撓むよう機能する。また、受け部54には、第一の弾性保持片46の高さ方向の位置をセルフアライメントしたい場合に傾斜面が適宜形成される。   The first elastic piece 47 of the first elastic holding piece 46 is formed in an elongated shape, and is formed in a substantially rectangular or elliptical cross section so as to be thick in the thickness direction (height direction) as shown in FIGS. Function to bend in the height direction. The receiving portion 54 is appropriately formed with an inclined surface when it is desired to self-align the position of the first elastic holding piece 46 in the height direction.

各第二の弾性保持片50は、連結桟44の側面から縦桟42方向に板片状に伸びる第二の弾性片51を備え、この第二の弾性片51の先端部に、第一、第二の半導体ウェーハW1・W2の前部周縁の中央に対向する保持ブロック52が一体形成され、第二の弾性片51の先端部から伸びる最先端部が蓋体20の筐体裏面23に固定された受け部54に支持されており、この受け部54が第二の弾性片51の保持力を一定に維持するよう機能する。   Each second elastic holding piece 50 includes a second elastic piece 51 extending in the form of a plate piece from the side surface of the connecting bar 44 toward the vertical bar 42, and the first elastic piece 51 has first, A holding block 52 that is opposed to the center of the front peripheral edge of the second semiconductor wafers W1 and W2 is integrally formed, and the most advanced portion that extends from the tip of the second elastic piece 51 is fixed to the housing rear surface 23 of the lid 20. The receiving portion 54 is supported, and the receiving portion 54 functions to maintain the holding force of the second elastic piece 51 constant.

第二の弾性保持片50の第二の弾性片51は、細長く形成され、図16や図17に示すように厚さ方向(高さ方向)に厚くなるよう断面略矩形あるいは楕円形に形成されて高さ方向に撓むよう機能する。また、受け部54には、第二の弾性保持片50の高さ方向の位置をセルフアライメントしたい場合に傾斜面が適宜形成される。その他の部分については、上記実施形態と略同様であるので説明を省略する。   The second elastic piece 51 of the second elastic holding piece 50 is formed in an elongated shape, and is formed in a substantially rectangular or elliptical cross section so as to be thick in the thickness direction (height direction) as shown in FIGS. Function to bend in the height direction. In addition, an inclined surface is appropriately formed on the receiving portion 54 when it is desired to self-align the position of the second elastic holding piece 50 in the height direction. The other parts are substantially the same as those in the above embodiment, and thus description thereof is omitted.

本実施形態においても上記実施形態と同様の作用効果が期待でき、しかも、異なる厚さの第一、第二の半導体ウェーハW1・W2を保持することにより、第一、第二の弾性保持片46・50の保持溝49・53が例え高さ方向にずれても、第一、第二の弾性保持片46・50を高さ方向に撓ませてずれた位置に追従させることができ、異なる厚さの第一、第二の半導体ウェーハW1・W2を安定して保持することができるのは明らかである。   Also in this embodiment, the same effect as the above embodiment can be expected, and the first and second elastic holding pieces 46 can be obtained by holding the first and second semiconductor wafers W1 and W2 having different thicknesses. Even if the 50 holding grooves 49 and 53 are shifted in the height direction, the first and second elastic holding pieces 46 and 50 can be bent in the height direction so as to follow the shifted positions. Obviously, the first and second semiconductor wafers W1 and W2 can be stably held.

なお、上記実施形態では容器本体1の底板5の前部両側と後部中央とに位置決め具をそれぞれ配設したが、ボトムプレート6の前部両側と後部中央とに位置決め具をそれぞれ配設しても良い。また、上記実施形態では、保持力増大の観点から、第二の弾性保持片50を第一の弾性保持片46よりも短くしたが、第二の弾性保持片50の厚さや幅等を変更してその保持力を増大させるようにしても良い。   In the above-described embodiment, the positioning tools are disposed on both the front side and the rear center of the bottom plate 5 of the container body 1. However, the positioning tools are disposed on the front side and the rear center of the bottom plate 6, respectively. Also good. In the above embodiment, the second elastic holding piece 50 is shorter than the first elastic holding piece 46 from the viewpoint of increasing the holding force, but the thickness, width, etc. of the second elastic holding piece 50 are changed. The holding force may be increased.

1 容器本体
2 正面(開口部)
20 蓋体
21 筐体
23 裏面
25 表面プレート
27 施錠機構
23 裏面
40 フロントリテーナ(リテーナ)
41 リテーナ本体
42 縦桟
43 横桟
44 連結桟
46 第一の弾性保持片
47 第一の弾性片
48 保持ブロック
49 保持溝
49a 谷部
50 第二の弾性保持片
51 第二の弾性片
52 保持ブロック
53 保持溝
53a 谷部
W1 第一の半導体ウェーハ(第一の基板)
W2 第二の半導体ウェーハ(第二の基板)
1 Container body 2 Front (opening)
20 Lid 21 Housing 23 Back 25 Front Plate 27 Locking Mechanism 23 Back 40 Front Retainer (Retainer)
41 Retainer main body 42 Vertical beam 43 Horizontal beam 44 Connecting beam 46 First elastic holding piece 47 First elastic piece 48 Holding block 49 Holding groove 49a Valley 50 Second elastic holding piece 51 Second elastic piece 52 Holding block 53 holding groove 53a valley W1 first semiconductor wafer (first substrate)
W2 Second semiconductor wafer (second substrate)

Claims (6)

厚さの異なる第一、第二の基板を保持可能なリテーナであって、
第一の基板を半導体ウェーハとするとともに、第二の基板を複数枚が貼り合わされた積層半導体ウェーハとし、
第一、第二の基板に対向するリテーナ本体と、このリテーナ本体に設けられて第一の基板の周縁部を保持溝で保持する第一の弾性保持片と、リテーナ本体に設けられて第二の基板の周縁部を保持溝で保持する第二の弾性保持片とを含み、第二の弾性保持片の保持溝を第一の弾性保持片の保持溝よりも広く形成し、第二の弾性保持片の保持溝の中心位置を第一の弾性保持片の保持溝の中心位置よりも高くなるよう形成したことを特徴とするリテーナ。
A retainer capable of holding first and second substrates having different thicknesses,
The first substrate is a semiconductor wafer, and the second substrate is a laminated semiconductor wafer in which a plurality of substrates are bonded,
A retainer body facing the first and second substrates, a first elastic holding piece provided on the retainer body and holding the peripheral edge of the first substrate by a holding groove, and a retainer body provided with a second And a second elastic holding piece for holding the peripheral edge of the substrate by the holding groove, the holding groove of the second elastic holding piece is formed wider than the holding groove of the first elastic holding piece, and the second elasticity A retainer formed so that a center position of a holding groove of a holding piece is higher than a center position of a holding groove of a first elastic holding piece .
第二の弾性保持片の長さを、第一の弾性保持片の長さよりも短縮した請求項1記載のリテーナ。 The retainer according to claim 1 , wherein the length of the second elastic holding piece is shorter than the length of the first elastic holding piece. 第一の弾性保持片の保持溝を断面略V字形に形成するとともに、第二の弾性保持片の保持溝を断面略台形に形成し、第二の弾性保持片の保持溝が第二の基板の周縁部を保持する際、第一の弾性保持片の保持溝に第二の基板の周縁部を案内させるようにした請求項1又は2記載のリテーナ。 The holding groove of the first elastic holding piece is formed in a substantially V-shaped cross section, the holding groove of the second elastic holding piece is formed in a substantially trapezoidal cross section, and the holding groove of the second elastic holding piece is the second substrate The retainer according to claim 1 or 2, wherein the peripheral edge of the second substrate is guided to the holding groove of the first elastic holding piece when holding the peripheral edge of the first substrate. リテーナ本体を、間隔をおいて対向する一対の縦桟の間に一対の横桟を架設するとともに、この一対の横桟を間隔をおいて対向させてその間に連結桟を架設することにより形成し、縦桟に第一の弾性保持片を設け、連結桟には第二の弾性保持片を設けた請求項1、2、又は3記載のリテーナ。 The retainer body is formed by installing a pair of horizontal beams between a pair of vertical beams facing each other with a space therebetween, and setting a pair of horizontal beams facing each other with a space between them and a connecting beam between them. The retainer according to claim 1, 2, or 3 , wherein the first elastic holding piece is provided on the vertical beam and the second elastic holding piece is provided on the connecting beam. リテーナ本体を、間隔をおいて対向する一対の縦桟の間に一対の横桟を架設するとともに、この一対の横桟を間隔をおいて対向させることにより形成し、一対の縦桟に複数の第一、第二の弾性保持片を交互に並べ設け、この複数の第一、第二の弾性保持片に高さ方向の可撓性をそれぞれ付与するようにした請求項1記載のリテーナ。 The retainer body is formed by installing a pair of horizontal rails between a pair of vertical rails facing each other at an interval, and opposing the pair of horizontal rails at an interval. first, it provided side by side second elastic holding pieces alternately, the plurality of first retainer of claim 1, wherein the second elastic holding pieces in the height direction of flexibility so as to impart respectively. 厚さの異なる第一、第二の基板を上下に並べて略水平に収納可能な容器本体と、この容器本体の開口部を開閉する蓋体とを備えた基板収納容器であって、
蓋体の第一、第二の基板に対向する対向面に、請求項1ないし5いずれかに記載のリテーナを取り付けたことを特徴とする基板収納容器。
A substrate storage container comprising a container body capable of storing first and second substrates having different thicknesses vertically and stored substantially horizontally, and a lid for opening and closing the opening of the container body,
A substrate storage container, wherein the retainer according to any one of claims 1 to 5 is attached to opposing surfaces of the lid that oppose the first and second substrates.
JP2010087128A 2010-04-05 2010-04-05 Retainer and substrate storage container Active JP5441797B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010087128A JP5441797B2 (en) 2010-04-05 2010-04-05 Retainer and substrate storage container

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010087128A JP5441797B2 (en) 2010-04-05 2010-04-05 Retainer and substrate storage container

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011222587A JP2011222587A (en) 2011-11-04
JP5441797B2 true JP5441797B2 (en) 2014-03-12

Family

ID=45039219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010087128A Active JP5441797B2 (en) 2010-04-05 2010-04-05 Retainer and substrate storage container

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5441797B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102112659B1 (en) * 2012-05-04 2020-05-19 엔테그리스, 아이엔씨. Wafer container with door mounted shipping cushions
JP6581441B2 (en) * 2015-08-31 2019-09-25 アキレス株式会社 Substrate storage container
CN105514003B (en) * 2015-12-18 2018-06-12 天津胜富辉嘉科技有限公司 A kind of chip fixed bin
CN113964071A (en) * 2021-11-25 2022-01-21 滁州钰顺企业管理咨询合伙企业(有限合伙) Method for reducing wafer package damage

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0744020Y2 (en) * 1989-02-10 1995-10-09 信越ポリマー株式会社 Wafer support plate in wafer container
JP3763990B2 (en) * 1998-03-26 2006-04-05 東京エレクトロン株式会社 Transport device
JP3938293B2 (en) * 2001-05-30 2007-06-27 信越ポリマー株式会社 Precision substrate storage container and its holding member
JP4412235B2 (en) * 2005-05-25 2010-02-10 信越ポリマー株式会社 Substrate storage container
US8118169B2 (en) * 2008-04-25 2012-02-21 Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. Retainer and substrate storage container provided with same retainer

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011222587A (en) 2011-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5269077B2 (en) Support and substrate storage container
KR100575910B1 (en) Storage container for precision substrates
JP4213078B2 (en) Retainer and substrate storage container
JP5959302B2 (en) Substrate storage container
JP5441797B2 (en) Retainer and substrate storage container
EP2270847A1 (en) Retainer and substrate storage container provided with same retainer
JP2000021966A (en) Precision substrate housing container
JP2012004199A (en) Substrate storage container
JP2007308161A (en) Storage case
JP5318800B2 (en) Substrate storage container
JP2012004380A (en) Substrate storing container
JP5409343B2 (en) Substrate storage container
JP4372313B2 (en) Substrate storage container
JP4921429B2 (en) Substrate storage container
JP5916508B2 (en) Substrate storage container
JP2006128461A (en) Substrate storing container
JP5268858B2 (en) Substrate storage container
JP6491590B2 (en) Substrate storage container
JP2011108715A (en) Substrate housing container
JP2010182948A (en) Substrate storage container
JP2009124063A (en) Retainer and container for receiving substrate
JP6576811B2 (en) Substrate storage container
JP2006120851A (en) Substrate storing container
JP2021168329A (en) Substrate housing container
JP2008021743A (en) Housing container for semiconductor wafer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120807

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130828

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130903

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131031

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131217

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131217

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5441797

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250