JP5412065B2 - Information management method, information management apparatus, and substrate processing system - Google Patents

Information management method, information management apparatus, and substrate processing system Download PDF

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Description

本発明は、半導体基板やガラス基板等を処理する基板処理装置から送信される情報を管理する情報管理方法及び装置又は基板処理装置と情報管理装置とを含む基板処理システム又は情報管理装置に蓄積される情報を表示する方法及びこの情報を含む基板処理システムに関する。   The present invention is stored in a substrate processing system or information management apparatus including an information management method and apparatus for managing information transmitted from a substrate processing apparatus for processing a semiconductor substrate, a glass substrate, or the like, or a substrate processing apparatus and an information management apparatus. And a substrate processing system including the information.

一般に、この種の基板処理システムには、基板に処理を施す複数の基板処理装置と、この複数の基板処理装置の稼働状態の監視及び生産履歴等の情報(データ)を管理する群管理サーバ(情報管理装置)とで構成される。そこで、情報管理装置は、基板処理装置から送信される温度、圧力、ガス等の測定値や稼働状況等の種々の情報を管理する。このような情報管理装置により、半導体生産の効率向上が図られている。ユーザは、端末装置を用いて、情報管理装置により管理されている情報を取得する。   In general, this type of substrate processing system includes a plurality of substrate processing apparatuses that perform processing on a substrate, and a group management server that manages information (data) such as operation status monitoring and production history of the plurality of substrate processing apparatuses. Information management device). Therefore, the information management apparatus manages various information such as measured values such as temperature, pressure, gas, and operation status transmitted from the substrate processing apparatus. By such an information management apparatus, the efficiency of semiconductor production is improved. The user acquires information managed by the information management device using the terminal device.

しかしながら、従来の基板処理システムにおいては、端末装置が情報管理装置から情報を取得するために時間を要することがあった。   However, in the conventional substrate processing system, it may take time for the terminal device to acquire information from the information management device.

本発明は、上述した課題を解決するためにからなされるものであり、端末装置が情報管理装置から情報を取得する時間を短縮することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to shorten the time for the terminal device to acquire information from the information management device.

本発明に係る第1の情報管理方法は、基板を処理する基板処理装置から送信される装置情報またはイベント情報を含む電文に基づいて情報を管理する情報管理方法であって、装置情報を含む電文が送信された時点の前記基板処理装置の装置情報を第1の装置情報記憶手段に記憶すると共に、イベント情報を含む電文が送信された際に、該イベント情報と前記装置情報を蓄積する条件とを比較し、一致した場合、前記装置情報と前記イベント情報が発生した時刻とを関連付けて第2の装置情報記憶手段に記憶する。   A first information management method according to the present invention is an information management method for managing information based on a message including device information or event information transmitted from a substrate processing apparatus that processes a substrate, and includes a message including device information. The apparatus information of the substrate processing apparatus at the time when is transmitted is stored in the first apparatus information storage means, and when a message including event information is transmitted, the event information and the conditions for storing the apparatus information are stored. Are compared, the device information and the time when the event information occurred are associated with each other and stored in the second device information storage means.

本発明に係る第2の情報管理方法は、前記イベント情報を含む電文が送信された際に、該イベント情報と第1の装置情報記憶手段に格納された装置情報を第2の装置情報記憶手段に移動させる移動条件と移動対象の装置情報とが設定された条件記憶手段とを比較し、前記イベント情報と前記条件とが一致した場合、前記第1の装置情報記憶手段に格納された装置情報であって、前記設定された移動対象の装置情報に前記イベント情報が発生した時刻を付加して第2の装置情報記憶手段に記憶する。   According to the second information management method of the present invention, when a message including the event information is transmitted, the event information and the device information stored in the first device information storage means are stored in the second device information storage means. If the event information matches the condition, the device information stored in the first device information storage means is compared with the condition storage means in which the movement condition to be moved to the device information to be moved is set. Then, the time when the event information occurs is added to the set device information to be moved and stored in the second device information storage means.

本発明に係る情報表示方法は、操作画面を有する操作端末に情報を表示する情報表示方法であって、基板を処理する基板処理装置からイベント情報を含む電文が送信された際に、前記操作端末は、該イベント情報と第1の装置情報記憶手段に格納された装置情報を第2の装置情報記憶手段に移動させる移動条件と移動対象の装置情報とが設定された条件記憶手段を参照し、前記設定された移動対象の装置情報に前記イベント情報が発生した時刻を付加して記憶された第2の装置情報記憶手段を検索し、該検索した結果情報と前記設定された装置情報とを比較し、一致していれば前記操作画面に前記装置情報を表示する。   The information display method according to the present invention is an information display method for displaying information on an operation terminal having an operation screen, and the operation terminal when an electronic message including event information is transmitted from a substrate processing apparatus for processing a substrate. Refers to the condition storage means in which the movement condition for moving the event information and the device information stored in the first device information storage means to the second device information storage means and the device information to be moved are set, The second device information storage means stored by adding the time when the event information occurred to the set device information to be moved is searched, and the searched result information is compared with the set device information. If they match, the device information is displayed on the operation screen.

本発明によれば、端末装置が情報管理装置から情報を取得する際、検索に要する時間を短縮することができる。さらに、基板処理装置で基板を処理する際に生成される各種情報を利用して、データ解析(例えば、基板処理装置で発生した異常の要因追求など)及びデータ加工(例えば、基板処理装置から送信される生産情報のグラフ化など)を行う時間を短縮することができる。   According to the present invention, when the terminal device acquires information from the information management device, it is possible to reduce the time required for the search. Furthermore, using various information generated when the substrate is processed by the substrate processing apparatus, data analysis (for example, pursuit of the cause of abnormality occurring in the substrate processing apparatus) and data processing (for example, transmission from the substrate processing apparatus) The time for performing production information graphing, etc.) can be shortened.

まず、図1に基づいて、本発明の背景を説明する。
図1は、従来の群管理サーバに記憶される装置情報及びその構造と、記憶されている装置情報の検索方法とを示す図である。
図1(A)は、基板処理装置から送信される電文を例示する図である。図1(A)に例示するように、各電文には、送信された時刻、送信元の基板処理装置の名称(装置名称)、アイテム種別、及びこのアイテムの情報(測定値など)が含まれる。群管理サーバは、複数の基板処理装置から送信される電文を受信し、この電文から装置情報を取得し、装置情報を記憶する。
First, the background of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is a diagram showing device information and its structure stored in a conventional group management server, and a method for retrieving stored device information.
FIG. 1A is a diagram illustrating a message transmitted from the substrate processing apparatus. As illustrated in FIG. 1A, each message includes a transmission time, a name of a substrate processing apparatus as a transmission source (apparatus name), an item type, and information on the item (measurement value, etc.). . The group management server receives messages transmitted from a plurality of substrate processing apparatuses, acquires apparatus information from the messages, and stores the apparatus information.

図1(B)は、装置情報が記憶される構造を模式的に示す図である。図1(B)に示すように、装置情報は、データベース(DB)に記憶される。DBには、アイテム管理テーブル、測定データ管理テーブル及び装置管理テーブルが含まれる。アイテム管理テーブルでは、アイテム種別に対応する各アイテムが管理される。装置管理テーブルでは、各基板処理装置が管理される。測定データ管理テーブルでは、アイテム管理テーブルに管理されるアイテムと装置管理テーブルに管理される装置とに関連付けられた情報(測定値など)及び電文に含まれる時刻(図1(A)の'時間'に相当)が管理される。   FIG. 1B is a diagram schematically showing a structure in which device information is stored. As shown in FIG. 1B, the device information is stored in a database (DB). The DB includes an item management table, a measurement data management table, and a device management table. In the item management table, each item corresponding to the item type is managed. In the apparatus management table, each substrate processing apparatus is managed. In the measurement data management table, information (measurement value, etc.) associated with the item managed in the item management table and the device managed in the device management table, and the time included in the message (the “time” in FIG. 1A) Is equivalent).

このDB構造のメリットは、次の通りである。即ち、1)アイテムが追加された場合においてもDB構造への影響(例えば、新たなテーブルを追加しなければならなくなるなど)がない、2)基板処理装置が追加された場合においてもDB構造への影響がない、3)各基板処理装置が異なるアイテムを含む場合においても、装置情報は測定データ管理テーブルで管理される、4)測定データ管理テーブルには基板処理装置に含まれるアイテムに関する情報(測定値など)のみが記憶されるので、不要なデータ領域が存在しない。   The merit of this DB structure is as follows. That is, 1) there is no influence on the DB structure even if an item is added (for example, a new table has to be added). 2) even when a substrate processing apparatus is added, the DB structure is changed. 3) Even when each substrate processing apparatus includes different items, the apparatus information is managed by the measurement data management table. 4) Information related to items included in the substrate processing apparatus (in the measurement data management table) Only measured values) are stored, so there is no unnecessary data area.

図1(C)は、DBに記憶されている装置情報の取得方法を示す。例えば障害発生時点の基板処理装置(障害発生装置)の状態を確認する際、操作端末としての端末装置は、DBのアイテム管理テーブル、測定データ管理テーブル及び装置管理テーブルを参照し、これら3つのテーブルを図1(C)に例示されるテーブルとして再構成し、図1(C)のテーブルにおいて、障害発生装置について、各時刻の各アイテムの測定値を検索する。ここで、各時刻には、全てのアイテムの測定値が記憶されているとは限らないので、所望の時刻に測定値が記憶されていない場合、測定値が記憶されている時刻まで遡る必要がある。具体的には、端末装置は、アイテム毎に、所望の時刻から測定値が記憶されている時刻まで、測定値の補完作業を行う必要がある。例えば、端末装置は、時刻12:00:04において、温度ch1の値(690.0)を検索できるが、温度ch2及びガスch1の値を検索できず、温度ch2の値及びガスch1の値を検索するには、時刻12:00:02まで遡る必要がある。
このように、このDB構造には、次のデメリットがある。即ち、1)互いに関連する複数のテーブルを、データ検索用の1つのテーブルとして再構成するのに時間がかかってしまう、2)測定値を補間するのに時間がかかってしまう。
FIG. 1C shows a method for acquiring device information stored in the DB. For example, when confirming the state of a substrate processing apparatus (failure occurrence apparatus) at the time of occurrence of a failure, a terminal device as an operation terminal refers to the item management table, measurement data management table, and device management table of the DB, and these three tables Is reconfigured as a table illustrated in FIG. 1C, and the measured value of each item at each time is searched for the failure occurrence device in the table of FIG. Here, since the measured values of all items are not always stored at each time, it is necessary to go back to the time when the measured values are stored when the measured values are not stored at the desired time. is there. Specifically, it is necessary for the terminal device to perform measurement value complementation for each item from a desired time to a time at which the measurement value is stored. For example, the terminal device can search for the value of temperature ch1 (690.0) at time 12:00:04, but cannot search for the values of temperature ch2 and gas ch1, but can search for the values of temperature ch2 and gas ch1. To search, it is necessary to go back to time 12:00:02.
Thus, this DB structure has the following disadvantages. That is, 1) It takes time to reconstruct a plurality of related tables as one table for data retrieval, and 2) It takes time to interpolate measurement values.

以下、上述した背景をふまえて、本発明の実施形態に係る基板処理システムを説明する。
図2は、本発明の実施形態に係る基板処理システム1の構成を示す図である。
図2に示すように、基板処理システム1は、複数の基板処理装置10−1〜10−n、群管理サーバ4及び端末装置6を有する。基板処理装置10−1〜10−n、群管理サーバ4及び端末装置6は、例えばLAN、WANなどのネットワーク12を介して、データの送信及び受信が互いに可能に接続されている。なお、基板処理装置10−1〜10−nなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示すときには、単に基板処理装置10などと略記することがある。
Hereinafter, a substrate processing system according to an embodiment of the present invention will be described based on the background described above.
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of the substrate processing system 1 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 2, the substrate processing system 1 includes a plurality of substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n, a group management server 4, and a terminal device 6. The substrate processing apparatuses 10-1 to 10-n, the group management server 4 and the terminal apparatus 6 are connected to each other so as to be able to transmit and receive data via a network 12 such as a LAN or a WAN. In addition, when it shows, without specifying any of several component parts, such as the substrate processing apparatus 10-1 to 10-n, it may be abbreviated simply as the substrate processing apparatus 10 or the like.

基板処理装置10は、プロセスレシピ等に基づいて基板の処理を実行する。具体的には、プロセスレシピには、基板を処理するための手順が記載されており、基板処理装置10は、この手順に基づいて装置内の構成要素の制御を行う。また、基板処理装置10は、温度情報、圧力情報、ガス情報等の生産情報を含む基板処理装置10の処理に関する情報(以下、「装置情報」と記載)を含む電文を、ネットワーク12を介して群管理サーバ4に対して送信する。さらに、基板処理装置10は、例えば、障害発生を示す情報(エラー情報)や基板処理における所定の動作を示す情報(稼働情報)など、発生頻度が少ない情報又は突発的に発生する情報(以下、「イベント情報」と記載)を含む電文を、群管理サーバ4に対して送信する。   The substrate processing apparatus 10 performs substrate processing based on a process recipe or the like. Specifically, the process recipe describes a procedure for processing a substrate, and the substrate processing apparatus 10 controls components in the apparatus based on this procedure. In addition, the substrate processing apparatus 10 sends a message including information related to processing of the substrate processing apparatus 10 (hereinafter referred to as “apparatus information”) including production information such as temperature information, pressure information, and gas information via the network 12. It transmits to the group management server 4. Further, the substrate processing apparatus 10 may be, for example, information that occurs less frequently or information that occurs unexpectedly (hereinafter referred to as information (error information) or information (operation information) that indicates a predetermined operation in substrate processing) A message including “event information” is transmitted to the group management server 4.

基板処理装置10は、一例として、半導体装置(IC)の製造方法における処理装置を実施する半導体製造装置として構成されている。なお、以下の説明では、基板処理装置として基板に酸化、拡散処理やCVD処理などを行なう縦型の装置を適用した実施例について述べる。なお、基板処理装置10の詳細な構造については、後で詳述する。   As an example, the substrate processing apparatus 10 is configured as a semiconductor manufacturing apparatus that implements a processing apparatus in a semiconductor device (IC) manufacturing method. In the following description, an embodiment will be described in which a vertical apparatus that performs oxidation, diffusion processing, CVD processing, or the like is applied to a substrate as the substrate processing apparatus. The detailed structure of the substrate processing apparatus 10 will be described in detail later.

群管理サーバ4(情報管理装置)は、基板処理装置10から送信される電文を受信し、電文に含まれる装置情報又はイベント情報の保存及び管理を行う。また、群管理サーバ4は、複数のデータベース(DB)を備えるよう実現されてもよい。なお、群管理サーバ4の機能及びDB構造については、後で詳述する。   The group management server 4 (information management device) receives a message transmitted from the substrate processing apparatus 10, and stores and manages device information or event information included in the message. Further, the group management server 4 may be realized to include a plurality of databases (DB). The function and DB structure of the group management server 4 will be described in detail later.

端末装置6は、群管理サーバ4により蓄積されている情報を検索し、検索結果を画面に表示し、ユーザに対して情報の提供を行うインタフェースを構成する。より具体的には、端末装置6は、キーボード又はマウスなどを介してユーザの要求を受け付け、群管理サーバ4から情報を取得し、この情報を画面に表示する。なお、端末装置6は、基板処理装置10が配置された場所(例えば、クリーンルーム)に配置される必要はなく、例えば事務所など基板処理装置10が配置された場所とは異なる場所に配置されてもよい。   The terminal device 6 searches for information stored by the group management server 4, displays a search result on a screen, and constitutes an interface for providing information to the user. More specifically, the terminal device 6 receives a user request via a keyboard or a mouse, acquires information from the group management server 4, and displays this information on the screen. The terminal device 6 does not need to be placed in a place (for example, a clean room) where the substrate processing apparatus 10 is placed, and is placed in a place different from the place where the substrate processing apparatus 10 is placed, such as an office. Also good.

次に、基板処理装置10の詳細な構成を説明する。
図3は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10の斜視図を示す。また、図4は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10の側面透視図を示す。
図3及び図4に示されているように、シリコン等からなるウエハ(基板)200を収納したウエハキャリアとしてフープ(基板収容器。以下ポッドという。)110が使用されている本発明の実施形態に係る基板処理装置10は、筐体111を備えている。筐体111の正面壁111aの正面前方部にはメンテナンス可能なように設けられた開口部としての正面メンテナンス口103が開設され、この正面メンテナンス口103を開閉する正面メンテナンス扉104、104がそれぞれ建て付けられている。
Next, a detailed configuration of the substrate processing apparatus 10 will be described.
FIG. 3 is a perspective view of the substrate processing apparatus 10 according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a side perspective view of the substrate processing apparatus 10 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIGS. 3 and 4, an embodiment of the present invention in which a hoop (substrate container; hereinafter referred to as a pod) 110 is used as a wafer carrier containing a wafer (substrate) 200 made of silicon or the like. The substrate processing apparatus 10 according to FIG. A front maintenance port 103 as an opening provided for maintenance is opened at the front front portion of the front wall 111a of the casing 111, and front maintenance doors 104 and 104 for opening and closing the front maintenance port 103 are respectively built. It is attached.

筐体111の正面壁111aにはポッド搬入搬出口(基板収容器搬入搬出口)112が筐体111の内外を連通するように開設されており、ポッド搬入搬出口112はフロントシャッタ(基板収容器搬入搬出口開閉機構)113によって開閉されるようになっている。ポッド搬入搬出口112の正面前方側にはロードポート(基板収容器受渡し台)114が設置されており、ロードポート114はポッド110を載置されて位置合わせするように構成されている。ポッド110はロードポート114上に工程内搬送装置(図示せず)によって搬入され、かつまた、ロードポート114上から搬出されるようになっている。   A pod loading / unloading port (substrate container loading / unloading port) 112 is opened on the front wall 111a of the casing 111 so as to communicate between the inside and the outside of the casing 111. The pod loading / unloading port 112 has a front shutter (substrate container loading / unloading port). The loading / unloading opening / closing mechanism 113 is opened and closed. A load port (substrate container delivery table) 114 is installed in front of the front side of the pod loading / unloading port 112, and the load port 114 is configured so that the pod 110 is placed and aligned. The pod 110 is carried onto the load port 114 by an in-process carrying device (not shown), and is also carried out from the load port 114.

筐体111内の前後方向の略中央部における上部には、回転式ポッド棚(基板収容器載置棚)105が設置されており、回転式ポッド棚105は複数個のポッド110を保管するように構成されている。すなわち、回転式ポッド棚105は垂直に立設されて水平面内で間欠回転される支柱116と、支柱116に上中下段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板(基板収容器載置台)117とを備えており、複数枚の棚板117はポッド110を複数個宛それぞれ載置した状態で保持するように構成されている。   A rotary pod shelf (substrate container mounting shelf) 105 is installed at an upper portion of the casing 111 in a substantially central portion in the front-rear direction. The rotary pod shelf 105 stores a plurality of pods 110. It is configured. In other words, the rotary pod shelf 105 is vertically arranged and intermittently rotated in a horizontal plane, and a plurality of shelf boards (supported by a substrate container) that are radially supported by the support 116 at each of the upper, middle, and lower positions. And a plurality of shelf plates 117 are configured to hold the pods 110 in a state where a plurality of pods 110 are respectively placed.

筐体111内におけるロードポート114と回転式ポッド棚105との間には、ポッド搬送装置(基板収容器搬送装置)118が設置されており、ポッド搬送装置118は、ポッド110を保持したまま昇降可能なポッドエレベータ(基板収容器昇降機構)118aと搬送機構としてのポッド搬送機構(基板収容器搬送機構)118bとで構成されており、ポッド搬送装置118はポッドエレベータ118aとポッド搬送機構118bとの連続動作により、ロードポート114、回転式ポッド棚105、ポッドオープナ(基板収容器蓋体開閉機構)121との間で、ポッド110を搬送するように構成されている。   A pod transfer device (substrate container transfer device) 118 is installed between the load port 114 and the rotary pod shelf 105 in the housing 111, and the pod transfer device 118 moves up and down while holding the pod 110. A pod elevator (substrate container lifting mechanism) 118a and a pod transfer mechanism (substrate container transfer mechanism) 118b as a transfer mechanism are configured. The pod transfer device 118 includes a pod elevator 118a and a pod transfer mechanism 118b. The pod 110 is transported between the load port 114, the rotary pod shelf 105, and the pod opener (substrate container lid opening / closing mechanism) 121 by continuous operation.

筐体111内の前後方向の略中央部における下部には、サブ筐体119が後端にわたって構築されている。サブ筐体119の正面壁119aにはウエハ200をサブ筐体119内に対して搬入搬出するためのウエハ搬入搬出口(基板搬入搬出口)120が一対、垂直方向に上下二段に並べられて開設されており、上下段のウエハ搬入搬出口120、120には一対のポッドオープナ121、121がそれぞれ設置されている。ポッドオープナ121はポッド110を載置する載置台122、122と、ポッド110のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構(蓋体着脱機構)123、123とを備えている。ポッドオープナ121は載置台122に載置されたポッド110のキャップをキャップ着脱機構123によって着脱することにより、ポッド110のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。   A sub-housing 119 is constructed across the rear end of the lower portion of the housing 111 at a substantially central portion in the front-rear direction. A pair of wafer loading / unloading ports (substrate loading / unloading ports) 120 for loading / unloading the wafer 200 into / from the sub-casing 119 are arranged on the front wall 119a of the sub-casing 119 in two vertical stages. A pair of pod openers 121 and 121 are installed at the wafer loading / unloading ports 120 and 120 at the upper and lower stages, respectively. The pod opener 121 includes mounting bases 122 and 122 on which the pod 110 is placed, and cap attaching / detaching mechanisms (lid attaching / detaching mechanisms) 123 and 123 for attaching and detaching caps (lids) of the pod 110. The pod opener 121 is configured to open and close the wafer loading / unloading port of the pod 110 by attaching / detaching the cap of the pod 110 placed on the placing table 122 by the cap attaching / detaching mechanism 123.

サブ筐体119はポッド搬送装置118や回転式ポッド棚105の設置空間から流体的に隔絶された移載室124を構成している。移載室124の前側領域にはウエハ移載機構(基板移載機構)125が設置されており、ウエハ移載機構125は、ウエハ200を水平方向に回転ないし直動可能なウエハ移載装置(基板移載装置)125a及びウエハ移載装置125aを昇降させるためのウエハ移載装置エレベータ(基板移載装置昇降機構)125bとで構成されている。図4に模式的に示されているようにウエハ移載装置エレベータ125bは耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の移載室124前方領域右端部との間に設置されている。これら、ウエハ移載装置エレベータ125b及びウエハ移載装置125aの連続動作により、ウエハ移載装置125aのツイーザ(基板保持体)125cをウエハ200の載置部として、ボート(基板保持具)217に対してウエハ200を装填(チャージング)及び脱装(ディスチャージング)するように構成されている。   The sub-housing 119 constitutes a transfer chamber 124 that is fluidly isolated from the installation space of the pod transfer device 118 and the rotary pod shelf 105. A wafer transfer mechanism (substrate transfer mechanism) 125 is installed in the front region of the transfer chamber 124, and the wafer transfer mechanism 125 rotates the wafer 200 in the horizontal direction or can move the wafer 200 in the horizontal direction. A substrate transfer device) 125a and a wafer transfer device elevator (substrate transfer device lifting mechanism) 125b for moving the wafer transfer device 125a up and down. As schematically shown in FIG. 4, the wafer transfer device elevator 125 b is installed between the right end of the pressure-resistant casing 111 and the right end of the front area of the transfer chamber 124 of the sub casing 119. By the continuous operation of the wafer transfer device elevator 125b and the wafer transfer device 125a, the tweezer (substrate holder) 125c of the wafer transfer device 125a is used as a placement portion for the wafer 200 with respect to the boat (substrate holder) 217. The wafer 200 is loaded (charged) and unloaded (discharged).

移載室124の後側領域には、ボート217を収容して待機させる待機部126が構成されている。待機部126の上方には、処理室202が設けられている。処理室202の下端部は、炉口シャッタ(炉口開閉機構)147により開閉されるように構成されている。   In the rear region of the transfer chamber 124, a standby unit 126 that houses and waits for the boat 217 is configured. A processing chamber 202 is provided above the standby unit 126. The lower end portion of the processing chamber 202 is configured to be opened and closed by a furnace port shutter (furnace port opening / closing mechanism) 147.

図3に模式的に示されているように、耐圧筐体111右側端部とサブ筐体119の待機部126右端部との間にはボート217を昇降させるためのボートエレベータ(基板保持具昇降機構)115が設置されている。ボートエレベータ115の昇降台に連結された連結具としてのアーム128には蓋体としてのシールキャップ219が水平に据え付けられており、シールキャップ219はボート217を垂直に支持し、処理室202の下端部を閉塞可能なように構成されている。ボート217は複数本の保持部材を備えており、複数枚(例えば、50〜125枚程度)のウエハ200をその中心を揃えて垂直方向に整列させた状態で、それぞれ水平に保持するように構成されている。   As schematically shown in FIG. 3, a boat elevator (substrate holder lifting / lowering) for raising and lowering the boat 217 between the right end of the pressure-resistant casing 111 and the right end of the standby section 126 of the sub casing 119 is illustrated. Mechanism) 115 is installed. A seal cap 219 serving as a lid is horizontally installed on an arm 128 serving as a connecting tool connected to a lifting platform of the boat elevator 115, and the seal cap 219 supports the boat 217 vertically, and a lower end of the processing chamber 202. It is comprised so that a part can be obstruct | occluded. The boat 217 includes a plurality of holding members, and is configured to hold a plurality of (for example, about 50 to 125) wafers 200 horizontally in a state where the centers are aligned in the vertical direction. Has been.

図3に模式的に示されているように移載室124のウエハ移載装置エレベータ125b側及びボートエレベータ115側と反対側である左側端部には、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエア133を供給するよう供給ファン及び防塵フィルタで構成されたクリーンユニット134が設置されており、ウエハ移載装置125aとクリーンユニット134との間には、図示はしないが、ウエハの円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置135が設置されている。   As schematically shown in FIG. 3, the left end of the transfer chamber 124 opposite to the wafer transfer device elevator 125b side and the boat elevator 115 side is a cleaned atmosphere or an inert gas. A clean unit 134 composed of a supply fan and a dust-proof filter is installed so as to supply clean air 133. Between the wafer transfer device 125a and the clean unit 134, although not shown, the circumferential direction of the wafer A notch aligning device 135 is installed as a substrate aligning device for aligning the positions.

クリーンユニット134から吹き出されたクリーンエア133は、ノッチ合わせ装置135及びウエハ移載装置125a、待機部126にあるボート217に流通された後に、図示しないダクトにより吸い込まれて、筐体111の外部に排気がなされるか、もしくはクリーンユニット134の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット134によって、移載室124内に吹き出されるように構成されている。   The clean air 133 blown out from the clean unit 134 flows into the notch aligning device 135, the wafer transfer device 125a, and the boat 217 in the standby unit 126, and is then sucked in through a duct (not shown) to the outside of the housing 111. Exhaust is performed or it is circulated to the primary side (supply side) that is the suction side of the clean unit 134, and is again blown into the transfer chamber 124 by the clean unit 134.

次に、基板処理装置10内に設けられており、基板処理装置10内の各装置の制御を行うプロセスモジュールコントローラ(PMC)14について説明する。
図5は、PMC14を中心とした基板処理装置10の機能構成を示す。
図5に示すように、PMC14は、CPU140、ROM142、RAM144、データを記憶するハードディスクドライブ(HDD)158、図示しないディスプレイ等の表示装置及びキーボード等の入力装置との間でのデータの送受信を行う入出力インタフェース(IF)146、ネットワーク12を介して群管理サーバ4等との間でのデータの通信を制御する通信制御部156、温度制御部150、ガス制御部152、圧力制御部154、及び温度制御部150等とのI/O制御を行うI/O制御部148を有する。これらの構成要素はバス160を介して相互に接続されており、データは構成要素の間でバス160を介して入出力される。
Next, a process module controller (PMC) 14 that is provided in the substrate processing apparatus 10 and controls each apparatus in the substrate processing apparatus 10 will be described.
FIG. 5 shows a functional configuration of the substrate processing apparatus 10 centering on the PMC 14.
As shown in FIG. 5, the PMC 14 transmits / receives data to / from a CPU 140, ROM 142, RAM 144, a hard disk drive (HDD) 158 that stores data, a display device such as a display (not shown), and an input device such as a keyboard. An input / output interface (IF) 146, a communication control unit 156 for controlling data communication with the group management server 4 and the like via the network 12, a temperature control unit 150, a gas control unit 152, a pressure control unit 154, and An I / O control unit 148 that performs I / O control with the temperature control unit 150 and the like is included. These components are connected to each other via a bus 160, and data is input and output between the components via the bus 160.

PMC14において、CPU140は、所定のレシピに基づいて基板を処理する。具体的には、CPU140は、制御データ(制御指示)を、温度制御部150、ガス制御部152及び圧力制御部154等に対して出力する。ROM142、RAM144、及びHDD158には、シーケンスプログラム、入出力IF146より入力されるデータ、通信制御部156を介して入力されるデータ等が格納される。   In the PMC 14, the CPU 140 processes the substrate based on a predetermined recipe. Specifically, the CPU 140 outputs control data (control instruction) to the temperature control unit 150, the gas control unit 152, the pressure control unit 154, and the like. The ROM 142, RAM 144, and HDD 158 store a sequence program, data input from the input / output IF 146, data input via the communication control unit 156, and the like.

温度制御部150は、上述した処理室202の外周部に設けられたヒータ338により該処理室202内の温度を制御する。ガス制御部152は、処理室202のガス配管340に設けられたMFC(マスフローコントローラ)342からの出力値に基づいて処理室202内に供給する反応ガスの供給量等を制御する。圧力制御部154は、処理室202の排気配管344に設けられた圧力センサ346の出力値に基づいてバルブ348を開閉することにより処理室202内の圧力を制御する。搬送制御部159は、ポッドオープナ121、ボートエレベータ115及びウエハ搬送機構等の搬送系を制御する。このように、温度制御部150等は、CPU140からの制御指示に基づいて基板処理装置10の各部(ヒータ338、MFC342及びバルブ348等)の制御を行う。   The temperature controller 150 controls the temperature in the processing chamber 202 by the heater 338 provided on the outer periphery of the processing chamber 202 described above. The gas control unit 152 controls the supply amount of the reaction gas supplied into the processing chamber 202 based on the output value from the MFC (mass flow controller) 342 provided in the gas pipe 340 of the processing chamber 202. The pressure control unit 154 controls the pressure in the processing chamber 202 by opening and closing the valve 348 based on the output value of the pressure sensor 346 provided in the exhaust pipe 344 of the processing chamber 202. The transfer control unit 159 controls transfer systems such as the pod opener 121, the boat elevator 115, and the wafer transfer mechanism. As described above, the temperature control unit 150 and the like control each unit (the heater 338, the MFC 342, the valve 348, and the like) of the substrate processing apparatus 10 based on a control instruction from the CPU 140.

したがって、CPU140は、シーケンスプログラムを起動し、該シーケンスプログラムに従って、レシピのコマンドを呼び込み実行することで、制御パラメータの目標値等が設定されているステップが逐次実行され、I/O制御部148を介して温度制御部150、ガス制御部152、圧力制御部154、及び搬送制御部159に対して基板を処理するための制御指示が送信される。温度制御部150等は、制御指示に従って基板処理装置10内の各部(ヒータ338、MFC342及びバルブ348等)の制御を行う。これにより、ウエハ200の処理が行われる。   Therefore, the CPU 140 starts the sequence program, and calls and executes recipe commands according to the sequence program, so that the steps in which the target values of the control parameters are set are sequentially executed, and the I / O control unit 148 is executed. Via the temperature control unit 150, the gas control unit 152, the pressure control unit 154, and the transfer control unit 159, a control instruction for processing the substrate is transmitted. The temperature control unit 150 and the like control each unit (the heater 338, the MFC 342, the valve 348, and the like) in the substrate processing apparatus 10 according to a control instruction. Thereby, processing of the wafer 200 is performed.

CPU140(送信手段)は、温度情報、圧力情報、ガス情報などの生産情報を含む基板処理装置10の装置情報又はイベント情報を含む電文を、通信制御部156を介して群管理サーバ4に対して送信する。例えば、CPU140は、いずれかの生産情報が変化した場合、この変化情報を反映する装置情報を含む電文を送信する。また、CPU140は、基板処理装置10のイベント及び障害に関する情報(イベント情報)を含む電文を、群管理サーバ4に対して送信する。イベントは、例えば、ボート217の上昇開始時、上昇終了時、下降開始時及び下降終了時などである。このようなイベントが発生した場合、ボートエレベータ115の位置センサのオン・オフが切り替わり、切り替え信号が送信される。   The CPU 140 (transmission means) sends a message including apparatus information or event information of the substrate processing apparatus 10 including production information such as temperature information, pressure information, and gas information to the group management server 4 via the communication control unit 156. Send. For example, when any production information changes, the CPU 140 transmits a telegram including device information that reflects the change information. In addition, the CPU 140 transmits a message including information (event information) related to the event and failure of the substrate processing apparatus 10 to the group management server 4. The event is, for example, when the boat 217 starts to rise, at the end of the rise, at the start of descent, or at the end of descent. When such an event occurs, the position sensor of the boat elevator 115 is switched on and off, and a switching signal is transmitted.

図6は、端末装置6のハードウェア構成を、制御装置16を中心にして示す図である。
図6に示すように、端末装置6は、CPU18及びメモリ20などを含む制御装置16、ネットワーク12を介して外部のコンピュータとデータの送信及び受信を行う通信インタフェース(IF)22、ハードディスクドライブなどの記憶装置26、及び液晶ディスプレイなどの表示装置並びにキーボード及びマウス等のポインティングデバイスを含む表示・入力装置24を有する。このように、端末装置6は、例えばパーソナルコンピュータなどの汎用コンピュータとして実現される。なお、群管理サーバ4は、上述した制御装置16、通信IF22及び記憶装置26を有する。また、群管理サーバ4は、通信IF22を介して、端末装置6の表示・入力装置24に接続されるよう構成される。
FIG. 6 is a diagram illustrating a hardware configuration of the terminal device 6 with the control device 16 as the center.
As shown in FIG. 6, the terminal device 6 includes a control device 16 including a CPU 18 and a memory 20, a communication interface (IF) 22 that transmits and receives data to and from an external computer via a network 12, a hard disk drive, and the like. The display / input device 24 includes a storage device 26, a display device such as a liquid crystal display, and a pointing device such as a keyboard and a mouse. Thus, the terminal device 6 is realized as a general-purpose computer such as a personal computer. The group management server 4 includes the control device 16, the communication IF 22, and the storage device 26 described above. The group management server 4 is configured to be connected to the display / input device 24 of the terminal device 6 via the communication IF 22.

次に、群管理サーバ4の機能及びDB構造と端末装置6の機能を説明する。
図7は、群管理サーバ4により実行される群管理プログラム40、及び端末装置6により実行される端末プログラム60の機能構成を示す図である。
図7に示すように、群管理プログラム40は、装置情報DB400、現在情報記憶部402、定義情報記憶部404、通信部406、電文受付部408及び装置情報登録部410を有する。群管理プログラム40は、群管理サーバ4のメモリ20にロードされ、制御装置16上で動作する図示しないOS上で実行される。
Next, the function and DB structure of the group management server 4 and the function of the terminal device 6 will be described.
FIG. 7 is a diagram illustrating a functional configuration of the group management program 40 executed by the group management server 4 and the terminal program 60 executed by the terminal device 6.
As shown in FIG. 7, the group management program 40 includes a device information DB 400, a current information storage unit 402, a definition information storage unit 404, a communication unit 406, a message reception unit 408, and a device information registration unit 410. The group management program 40 is loaded on the memory 20 of the group management server 4 and is executed on an OS (not shown) operating on the control device 16.

群管理プログラム40において、現在情報記憶部402(第1の装置情報記憶手段)は、各基板処理装置10の最新の装置情報を記憶する。具体的には、現在情報記憶部402は、基板処理装置10から送信される電文に基づいて、この電文が送信された時点の装置情報を記憶する。装置情報には、装置識別情報、温度情報、圧力情報、ガス情報等の生産情報及び各生産情報についての測定データが含まれる。現在情報記憶部402(第1の装置情報記憶手段)は、電文から取得される各基板処理装置10の全ての装置情報について、その測定値を記憶する。現在情報記憶部402は、メモリ20により実現される。   In the group management program 40, the current information storage unit 402 (first apparatus information storage means) stores the latest apparatus information of each substrate processing apparatus 10. Specifically, the current information storage unit 402 stores device information at the time when this electronic message is transmitted based on the electronic message transmitted from the substrate processing apparatus 10. The device information includes production information such as device identification information, temperature information, pressure information, gas information, and measurement data for each piece of production information. The current information storage unit 402 (first apparatus information storage unit) stores the measurement values of all the apparatus information of each substrate processing apparatus 10 acquired from the electronic message. The current information storage unit 402 is realized by the memory 20.

装置情報DB400(第2の装置情報記憶手段)は、各基板処理装置10について、装置情報と時刻とを関連付けて記憶する。具体的には、装置情報DB400は、装置情報の一部であって後述する定義情報記憶部404により定義された装置情報を、定義されたイベント情報が発生した時刻毎に記憶する。装置情報DB400は、メモリ20及び記憶装置26の少なくともいずれかにより実現される。なお、装置情報DB400及び現在情報記憶部402に記憶される装置情報の構造については、後で詳述する。   The apparatus information DB 400 (second apparatus information storage means) stores apparatus information and time in association with each substrate processing apparatus 10. Specifically, the device information DB 400 stores device information, which is a part of device information and defined by a definition information storage unit 404 described later, for each time when defined event information occurs. The device information DB 400 is realized by at least one of the memory 20 and the storage device 26. The structure of the device information stored in the device information DB 400 and the current information storage unit 402 will be described in detail later.

定義情報記憶部404は、定義情報が変更可能に記憶されている。定義情報には、現在情報記憶部402に記憶されている装置情報が読み出されて装置情報DB400に蓄積される条件(蓄積条件)及び端末装置6で表示される装置情報などが含まれる。例えば、蓄積条件として、所定のイベントの発生が含まれる。また例えば、端末装置6で表示される装置情報として、「温度ch1」「温度ch2」「ガスch1」など生産情報の種別及び各生産情報の測定値が含まれる。なお、定義情報記憶部404は、複数の定義情報を記憶してもよく、この場合には、群管理プログラム40は、定義情報ごとに装置情報DB400を有するのが好ましい。   The definition information storage unit 404 stores definition information in a changeable manner. The definition information includes conditions (accumulation conditions) in which device information currently stored in the information storage unit 402 is read and stored in the device information DB 400, device information displayed on the terminal device 6, and the like. For example, the accumulation condition includes occurrence of a predetermined event. Further, for example, the device information displayed on the terminal device 6 includes the type of production information such as “temperature ch 1”, “temperature ch 2”, and “gas ch 1” and measured values of each piece of production information. The definition information storage unit 404 may store a plurality of definition information. In this case, the group management program 40 preferably has a device information DB 400 for each definition information.

通信部406は、基板処理装置10との間の通信に必要とされる通信処理を行う。具体的には、通信部406は、基板処理装置10から送信される電文を、所定の手順で通信IF22を介して取得し、電文受付部408に対して出力する。   The communication unit 406 performs communication processing required for communication with the substrate processing apparatus 10. Specifically, the communication unit 406 acquires a message transmitted from the substrate processing apparatus 10 via the communication IF 22 according to a predetermined procedure, and outputs the acquired message to the message reception unit 408.

電文受付部408は、通信部406から出力された電文を受け付け、この電文が装置情報を含む場合には、当該装置情報を現在情報記憶部402に記憶させる。具体的には、電文受付部408は、現在情報記憶部402に記憶されている装置情報のうち、通信部406から出力された電文に含まれる装置情報の測定値を更新する。例えば、電文受付部408は、電文に含まれる装置情報の測定値を、現在情報記憶部402に記憶されている測定値に上書きする。これにより、現在情報記憶部402には、電文が送信された時点、即ち最新の基板処理装置10の装置情報が記憶される。
また、電文受付部408は、通信部406から受け付けた電文がイベント情報を含む場合には、当該イベント情報を装置情報登録部410に対して出力する。
The electronic message reception unit 408 receives the electronic message output from the communication unit 406, and stores the device information in the current information storage unit 402 when the electronic message includes device information. Specifically, the message reception unit 408 updates the measurement value of the device information included in the message output from the communication unit 406 out of the device information currently stored in the information storage unit 402. For example, the message reception unit 408 overwrites the measurement value of the device information included in the message with the measurement value currently stored in the information storage unit 402. Thereby, the current information storage unit 402 stores the time when the electronic message is transmitted, that is, the latest device information of the substrate processing apparatus 10.
In addition, when the message received from the communication unit 406 includes event information, the message reception unit 408 outputs the event information to the device information registration unit 410.

装置情報登録部410は、定義情報記憶部404を参照し、定義情報記憶部404に記憶されている蓄積条件に従って、現在情報記憶部402に記憶されている装置情報を装置情報DB400に登録する。具体的には、装置情報登録部410は、電文受付部408から出力されたイベント情報と、定義情報記憶部404に蓄積条件として記憶されているイベント情報とが一致する場合、イベント情報の送信元である基板処理装置10の装置情報を現在情報記憶部402から読み出し、読み出された装置情報の少なくとも一部を、イベントが発生した時刻と対応付けて装置情報DB400に登録する。ここで、装置情報登録部410は、定義情報記憶部404に記憶されている定義情報を参照し、定義された装置情報だけを読み出し、当該情報が所定のデータ形式にまとめられるように加工して登録する。これにより、基板処理装置10において蓄積条件としてのイベントが発生する毎に、発生時点での基板処理装置10の装置情報が、装置情報DB400に蓄積される。   The device information registration unit 410 refers to the definition information storage unit 404 and registers the device information currently stored in the information information storage unit 402 in the device information DB 400 in accordance with the accumulation conditions stored in the definition information storage unit 404. Specifically, when the event information output from the message reception unit 408 matches the event information stored in the definition information storage unit 404 as the accumulation condition, the device information registration unit 410 matches the event information transmission source. The apparatus information of the substrate processing apparatus 10 is read from the current information storage unit 402, and at least a part of the read apparatus information is registered in the apparatus information DB 400 in association with the time when the event occurred. Here, the device information registration unit 410 refers to the definition information stored in the definition information storage unit 404, reads only the defined device information, and processes the information so that the information is collected into a predetermined data format. sign up. Thereby, every time an event as an accumulation condition occurs in the substrate processing apparatus 10, the apparatus information of the substrate processing apparatus 10 at the time of occurrence is accumulated in the apparatus information DB 400.

端末プログラム60は、ユーザインタフェース(UI)部600、装置情報取得部602及び画面生成部604を有する。端末プログラム60は、端末装置6のメモリ20にロードされ、制御装置16上で動作する図示しないOS上で実行される。   The terminal program 60 includes a user interface (UI) unit 600, a device information acquisition unit 602, and a screen generation unit 604. The terminal program 60 is loaded on the memory 20 of the terminal device 6 and is executed on an OS (not shown) operating on the control device 16.

端末プログラム60において、UI部600(表示手段)は、表示・入力装置24を介して入力された内容を受け付けて、装置情報取得部602に対して出力する。例えば、UI部600は、基板処理装置10の名称や識別子(ID)などの識別情報及び時刻を受け付ける。また、UI部600は、画面生成部604により生成される障害情報画面(後述)などを表示・入力装置24に表示する。   In the terminal program 60, the UI unit 600 (display unit) receives the content input via the display / input device 24 and outputs the content to the device information acquisition unit 602. For example, the UI unit 600 receives identification information such as the name and identifier (ID) of the substrate processing apparatus 10 and the time. The UI unit 600 also displays a failure information screen (described later) generated by the screen generation unit 604 on the display / input device 24.

装置情報取得部602は、UI部600から出力された識別情報及び時刻に基づいて装置情報DB400に記憶されている装置情報を検索し、当該識別情報により識別される基板処理装置10の当該時刻における装置情報を取得する。装置情報取得部602は、取得された装置情報を画面生成部604に対して出力する。   The apparatus information acquisition unit 602 searches the apparatus information stored in the apparatus information DB 400 based on the identification information and time output from the UI unit 600, and at the time of the substrate processing apparatus 10 identified by the identification information. Get device information. The device information acquisition unit 602 outputs the acquired device information to the screen generation unit 604.

画面生成部604は、定義情報記憶部404を参照し、定義された装置情報の種別及び各装置情報の測定値を取得する。画面生成部604は、この装置情報の種別に基づいて障害情報画面の画面構成を生成する。さらに、画面生成部604は、装置情報取得部602により取得された装置情報を障害情報画面の画面構成に合成して、障害情報画面を生成する。画面生成部604は、生成された障害情報画面をUI部600に対して出力する。なお、障害情報画面については、後で詳述する。   The screen generation unit 604 refers to the definition information storage unit 404 and acquires the type of the defined device information and the measured value of each device information. The screen generation unit 604 generates a screen configuration of the failure information screen based on the type of device information. Furthermore, the screen generation unit 604 generates the failure information screen by combining the device information acquired by the device information acquisition unit 602 with the screen configuration of the failure information screen. The screen generation unit 604 outputs the generated failure information screen to the UI unit 600. The failure information screen will be described in detail later.

図8は、群管理プログラム40の現在情報記憶部402及び装置情報DB400の記憶構造を模式的に示す図であって、(A)は現在情報記憶部402を例示し、(B)は装置情報DB400を例示する。
図8(A)に例示するように、現在情報記憶部402には、各基板処理装置10について、全ての種別とその測定値とを含む装置情報が記憶されている。現在情報記憶部402には、各基板処理装置10の各装置情報の最新の測定値が記憶されている。よって、現在情報記憶部402に記憶された装置情報は、測定値が変更された場合にのみ更新される。
なお、図8には、3つの種別が表示される場合が例示されているが、実際には、3つに限定されない数の種別が表示される。
FIG. 8 is a diagram schematically illustrating the storage structure of the current information storage unit 402 and the device information DB 400 of the group management program 40, where (A) illustrates the current information storage unit 402 and (B) illustrates device information. DB400 is illustrated.
As illustrated in FIG. 8A, the current information storage unit 402 stores apparatus information including all types and measurement values for each substrate processing apparatus 10. The current information storage unit 402 stores the latest measurement values of each piece of apparatus information of each substrate processing apparatus 10. Therefore, the device information currently stored in the information storage unit 402 is updated only when the measurement value is changed.
In addition, although the case where three types are displayed is illustrated in FIG. 8, actually, the number of types not limited to three is displayed.

図8(B)に例示するように、装置情報DB400には、各基板処理装置10について、定義情報記憶部404で定義されている種別とその測定値とを含む装置情報が記憶されている。この装置情報は、定義情報記憶部404に定義されている蓄積条件が満たされる毎に蓄積される。各時刻における装置情報は、複数の種別とその測定値とが1つのデータにまとめられた形式である。例えば、種別とその測定値とは"/"などの連結記号により連結されており、このように連結された情報が1つの装置情報内に含まれる。   As illustrated in FIG. 8B, the apparatus information DB 400 stores apparatus information including the types defined in the definition information storage unit 404 and the measured values for each substrate processing apparatus 10. This device information is accumulated every time the accumulation condition defined in the definition information storage unit 404 is satisfied. The device information at each time is in a format in which a plurality of types and their measured values are collected into one data. For example, the type and the measured value are connected by a connection symbol such as “/”, and the information connected in this way is included in one device information.

以下、本発明の実施形態に係る基板処理システム1の動作を詳細に説明する。
まず、基板処理装置10による基板処理を説明する。
図3及び図4に示されているように、ポッド110がロードポット114に供給されると、ポッド搬入搬出口112がフロントシャッタ113によって開放され、ロードポート114の上のポッド110はポッド搬送装置118によって筐体111の内部へポッド搬入搬出口112から搬入される。
Hereinafter, the operation of the substrate processing system 1 according to the embodiment of the present invention will be described in detail.
First, substrate processing by the substrate processing apparatus 10 will be described.
As shown in FIGS. 3 and 4, when the pod 110 is supplied to the load pot 114, the pod loading / unloading port 112 is opened by the front shutter 113, and the pod 110 above the load port 114 is connected to the pod transfer device. 118 is carried into the housing 111 from the pod loading / unloading port 112.

搬入されたポッド110は回転式ポッド棚105の指定された棚板117へポッド搬送装置118によって自動的に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて受け渡され、一時的に保管された後、棚板117から一方のポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載されるか、もしくは直接ポッドオープナ121に搬送されて載置台122に移載される。この際、ポッドオープナ121のウエハ搬入搬出口120はキャップ着脱機構123によって閉じられており、移載室124にはクリーンエア133が流通され、充満されている。例えば、移載室124にはクリーンエア133として窒素ガスが充満することにより、酸素濃度が20ppm以下と、筐体111の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも遥かに低く設定されている。   The loaded pod 110 is automatically transported and delivered by the pod transport device 118 to the designated shelf 117 of the rotary pod shelf 105, temporarily stored, and then one pod opener from the shelf 117. After being transferred to 121 and delivered and temporarily stored, it is transferred from the shelf 117 to one of the pod openers 121 and transferred to the mounting table 122 or directly transferred to the pod opener 121 and mounted. It is transferred to the mounting table 122. At this time, the wafer loading / unloading port 120 of the pod opener 121 is closed by the cap attaching / detaching mechanism 123, and the transfer chamber 124 is filled with clean air 133. For example, the transfer chamber 124 is filled with nitrogen gas as clean air 133, so that the oxygen concentration is set to 20 ppm or less, which is much lower than the oxygen concentration inside the casing 111 (atmosphere).

載置台122に載置されたポッド110はその開口側端面がサブ筐体119の正面壁119aにおけるウエハ搬入搬出口120の開口縁辺部に押し付けられるとともに、そのキャップがキャップ着脱機構123によって取り外され、ウエハ出し入れ口を開放される。   The pod 110 mounted on the mounting table 122 has its opening-side end face pressed against the opening edge of the wafer loading / unloading port 120 on the front wall 119a of the sub-housing 119, and the cap is removed by the cap attaching / detaching mechanism 123. The wafer loading / unloading port is opened.

ポッド110がポッドオープナ121によって開放されると、ウエハ200はポッド110からウエハ移載装置125aのツイーザ125cによってウエハ出し入れ口を通じてピックアップされ、図示しないノッチ合わせ装置135にてウエハを整合した後、移載室124の後方にある待機部126へ搬入され、ボート217に装填(チャージング)される。ボート217にウエハ200を受け渡したウエハ移載装置125aはポッド110に戻り、次のウエハ200をボート217に装填する。   When the pod 110 is opened by the pod opener 121, the wafer 200 is picked up from the pod 110 by the tweezer 125c of the wafer transfer device 125a through the wafer loading / unloading port, aligned with the notch alignment device 135 (not shown), and then transferred. It is carried into the standby section 126 behind the chamber 124 and loaded (charged) into the boat 217. The wafer transfer device 125 a that has transferred the wafer 200 to the boat 217 returns to the pod 110 and loads the next wafer 200 into the boat 217.

この一方(上段又は下段)のポッドオープナ121におけるウエハ移載機構125によるウエハのボート217への装填作業中に、他方(下段又は上段)のポッドオープナ121には回転式ポッド棚105から別のポッド110がポッド搬送装置118によって搬送されて移載され、ポッドオープナ121によるポッド110の開放作業が同時進行される。   During the loading operation of the wafer into the boat 217 by the wafer transfer mechanism 125 in the one (upper or lower) pod opener 121, another pod from the rotary pod shelf 105 is loaded into the other (lower or upper) pod opener 121. 110 is transferred and transferred by the pod transfer device 118, and the opening operation of the pod 110 by the pod opener 121 is simultaneously performed.

予め指定された枚数のウエハ200がボート217に装填されると、炉口シャッタ147によって閉じられていた処理室202の下端部が、炉口シャッタ147によって、開放される。続いて、ウエハ200群を保持したボート217はシールキャップ219がボートエレベータ115によって上昇されることにより、処理室202内へ搬入(ローディング)されて行く。   When a predetermined number of wafers 200 are loaded into the boat 217, the lower end portion of the processing chamber 202 closed by the furnace port shutter 147 is opened by the furnace port shutter 147. Subsequently, the boat 217 holding the wafers 200 is loaded into the processing chamber 202 when the seal cap 219 is lifted by the boat elevator 115.

ローディング後、処理室202にて、所定のレシピに基づいて、処理がウエハ200に対して実施される。処理後は、図示しないノッチ合わせ装置135でのウエハの整合工程を除き、概上述の逆の手順で、ウエハ200及びポッド110は筐体の外部へ払出される。   After loading, processing is performed on the wafer 200 in the processing chamber 202 based on a predetermined recipe. After the processing, the wafer 200 and the pod 110 are ejected to the outside of the casing by the reverse procedure described above except for the wafer alignment process in the notch alignment device 135 (not shown).

基板処理装置10は、このような基板処理の間、温度情報、圧力情報、ガス情報など基板処理装置10の装置情報を含む電文を群管理サーバ4に対して送信する。さらに、基板処理装置10は、イベントが発生する毎に、イベント情報を群管理サーバ4に対して送信する。   During such substrate processing, the substrate processing apparatus 10 transmits a message including apparatus information of the substrate processing apparatus 10 such as temperature information, pressure information, and gas information to the group management server 4. Furthermore, the substrate processing apparatus 10 transmits event information to the group management server 4 every time an event occurs.

次に、本発明の実施形態に係る群管理サーバ4の動作を説明する。
図9は、本発明の実施形態に係る群管理サーバ4の動作(S10)を示すフローチャートである。
図9に示すように、群管理サーバ4(群管理プログラム40)において、通信部406は、基板処理装置10から電文を受け付けたか否かを判定する。群管理サーバ4は、電文を受け付けた場合にはステップ102(S102)の処理に進み、そうでない場合には処理を終了する。
Next, the operation of the group management server 4 according to the embodiment of the present invention will be described.
FIG. 9 is a flowchart showing the operation (S10) of the group management server 4 according to the embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 9, in the group management server 4 (group management program 40), the communication unit 406 determines whether or not a message has been received from the substrate processing apparatus 10. The group management server 4 proceeds to the process of step 102 (S102) when receiving the electronic message, and ends the process otherwise.

ステップ102(S102)において、通信部406は、電文を電文受付部408に対して出力し、電文受付部408は、出力された電文にイベント情報が含まれているか否かを判定する。電文にイベント情報が含まれている場合、群管理サーバ4は、ステップ106(S106)の処理に進み、そうでない場合にはステップ104(S104)の処理に進む。   In step 102 (S102), the communication unit 406 outputs a message to the message reception unit 408, and the message reception unit 408 determines whether or not event information is included in the output message. When event information is included in the electronic message, the group management server 4 proceeds to the process of step 106 (S106), otherwise proceeds to the process of step 104 (S104).

ステップ104(S104)において、電文受付部408は、現在情報記憶部402に記憶されている装置情報のうち、当該電文に含まれる装置情報のデータを更新する。データ更新後、群管理サーバ4は、ステップ100(S100)の処理に戻る。   In step 104 (S104), the message reception unit 408 updates the device information data included in the message among the device information currently stored in the information storage unit 402. After the data update, the group management server 4 returns to the process of step 100 (S100).

ステップ106(S106)において、電文受付部408は、電文に含まれるイベント情報を装置情報登録部410に対して出力し、装置情報登録部410は、このイベント情報が蓄積条件として指定されているか否かを判定する。当該イベント情報が蓄積条件として指定されている場合には、群管理サーバ4は、ステップ108(S108)の処理に進み、そうでない場合にはステップ100(S100)の処理に戻る。   In step 106 (S106), the message reception unit 408 outputs the event information included in the message to the device information registration unit 410, and the device information registration unit 410 determines whether or not this event information is specified as a storage condition. Determine whether. When the event information is specified as the accumulation condition, the group management server 4 proceeds to the process of step 108 (S108), and otherwise returns to the process of step 100 (S100).

ステップ108(S108)において、装置情報登録部410は、現在情報記憶部402に記憶されている装置情報であってイベント情報の送信元の基板処理装置10に関するものを読み出し、この装置情報とイベント発生時刻とを関連付けて、装置情報DB400に蓄積する。蓄積後、群管理サーバ4は、ステップ100(S100)の処理に戻る。   In step 108 (S108), the apparatus information registration unit 410 reads out the apparatus information currently stored in the information storage unit 402 relating to the substrate processing apparatus 10 that is the source of the event information, and this apparatus information and event occurrence The time is associated and stored in the device information DB 400. After the accumulation, the group management server 4 returns to the process of step 100 (S100).

以上、群管理サーバ4において、基板処理装置10からの装置情報のうち最新の情報が、いったん現在情報記憶部402に記憶され、現在情報記憶部402に記憶されている情報のうち、定義情報記憶部404の定義情報で定義されるイベントに関する情報のみが装置情報DB400に蓄積されることを説明したが、群管理サーバ4における動作はこれに限られない。
例えば、群管理サーバ4において、定義情報記憶部404の定義情報をあらかじめ参照し、基板処理装置10からの装置情報のうち、定義情報で定義される装置情報のみが現在情報記憶部402に記憶され、現在情報記憶部402に記憶されている情報のうち、定義情報記憶部404の定義情報で定義されるイベントに関する情報のみが装置情報DB400に蓄積されてもかまわない。
As described above, in the group management server 4, the latest information among the apparatus information from the substrate processing apparatus 10 is once stored in the current information storage unit 402, and the definition information storage is stored among the information stored in the current information storage unit 402. Although it has been described that only information related to the event defined by the definition information of the unit 404 is stored in the device information DB 400, the operation in the group management server 4 is not limited to this.
For example, in the group management server 4, the definition information in the definition information storage unit 404 is referred to in advance, and only the device information defined by the definition information among the device information from the substrate processing apparatus 10 is stored in the current information storage unit 402. Of the information currently stored in the information storage unit 402, only information related to events defined by the definition information in the definition information storage unit 404 may be accumulated in the device information DB 400.

次に、端末装置6を用いた基板処理装置10に関する情報の閲覧を説明する。
図10は、端末装置6に表示される障害情報画面を例示する図である。
図10(A)は、定義情報記憶部404に定義情報として指定されている種別と、装置情報DB400に記憶されている所望の時刻の装置情報の種別とが一致する場合の例である。図10(A)に例示するように、障害情報画面には、障害内容及び障害発生時の装置情報が含まれ、この装置情報には、定義情報記憶部404で定義された種別及び障害発生時の測定値が含まれる。ここでは定義された全ての種別に応じた測定値が表示される。
Next, browsing of information related to the substrate processing apparatus 10 using the terminal device 6 will be described.
FIG. 10 is a diagram illustrating a failure information screen displayed on the terminal device 6.
FIG. 10A shows an example in which the type specified as the definition information in the definition information storage unit 404 matches the type of device information at a desired time stored in the device information DB 400. As illustrated in FIG. 10A, the failure information screen includes the failure content and device information at the time of the failure occurrence. The device information includes the type defined at the definition information storage unit 404 and the failure occurrence time. Measured values are included. Here, measured values corresponding to all defined types are displayed.

定義情報記憶部404に記憶される定義情報は、変更可能である。したがって、定義情報が変更されている場合、定義情報で指定されている種別と、所望の時刻の装置情報の種別とは一致しないことがある。   The definition information stored in the definition information storage unit 404 can be changed. Therefore, when the definition information has been changed, the type specified in the definition information may not match the type of device information at a desired time.

図10(B)は、定義情報記憶部404に定義情報として指定されている種別と、装置情報DB400に記憶されている所望の時刻の装置情報の種別とが一致しない場合の例である。図10(B)に例示するように、検索時点での定義情報では種別「圧力」は定義されているが、所望の時刻での定義情報では種別「圧力」は定義されていない場合、この時刻での種別「圧力」の測定値は装置情報DB400には蓄積されていない。この場合、障害情報画面の種別「圧力」の欄には、測定値が表示されず、当該欄は空欄のままである。   FIG. 10B shows an example in which the type specified as the definition information in the definition information storage unit 404 does not match the type of device information stored at the device information DB 400 at a desired time. As illustrated in FIG. 10B, the type “pressure” is defined in the definition information at the time of search, but the type “pressure” is not defined in the definition information at a desired time. The measured value of the type “pressure” is not stored in the apparatus information DB 400. In this case, the measurement value is not displayed in the type “pressure” column of the failure information screen, and the column remains blank.

このように、定義情報が変更された場合においても、端末装置6は、基板処理装置10の装置情報のうち蓄積されている種別に関する情報を表示することができる。なお、装置情報DB400には蓄積されているが、検索時の定義情報には定義されていない種別に関する測定値は、端末装置6により群管理サーバ4から取得されるが障害情報画面には表示されない。   Thus, even when the definition information is changed, the terminal device 6 can display information relating to the accumulated type among the device information of the substrate processing apparatus 10. Note that the measurement values related to the types that are stored in the device information DB 400 but are not defined in the definition information at the time of retrieval are acquired from the group management server 4 by the terminal device 6 but are not displayed on the failure information screen. .

以上説明したように、本発明に係る基板処理システム1は、基板処理装置10から送信される電文に基づいて基板処理装置10の最新の装置情報を保持し、基板処理装置10でイベントが発生したタイミングで装置情報のうち指定された種別とその測定値とを装置情報DB400に蓄積する群管理サーバ4と、群管理サーバ4の装置情報DB400に記憶されている装置情報を検索する端末装置6とを有する。したがって、各時刻における装置情報は、定義された種別の測定値を含むので、端末装置6は、時刻情報に基づいて装置情報を検索できることができ、検索時に、時間を遡って種別の測定値を補完する必要がなくなる。これにより、検索時間が短縮されるので、例えば、データ解析作業などの作業の効率を向上することができる。   As described above, the substrate processing system 1 according to the present invention holds the latest apparatus information of the substrate processing apparatus 10 based on a message transmitted from the substrate processing apparatus 10, and an event has occurred in the substrate processing apparatus 10. The group management server 4 that accumulates the type specified in the device information at the timing and the measured value in the device information DB 400, and the terminal device 6 that searches the device information stored in the device information DB 400 of the group management server 4 Have Therefore, since the device information at each time includes the measured value of the defined type, the terminal device 6 can search for the device information based on the time information, and at the time of the search, the measured value of the type can be retrieved retroactively. There is no need to supplement. Thereby, since the search time is shortened, the efficiency of work such as data analysis work can be improved.

次に、群管理プログラム40の現在情報記憶部402の記憶構造の変形例及びアイテム情報DB412の記憶構造を説明する。なお、アイテム情報には、装置情報及びイベント情報が含まれる。
図11は、群管理プログラム40の現在情報記憶部402の記憶構造の変形例及びアイテム情報DB412の記憶構造を示す図であって、(A)は現在情報記憶部402を例示し、(B)はアイテム情報DB412を例示する。
図11(B)に例示するように、アイテム情報には、プロセスレシピに関する情報(例えば、プロセスレシピの名称)、ウエハマップ、O2濃度などが含まれてもよい。即ち、アイテム情報は、各基板処理装置10のプロセス情報を含んでもよい。例えば、ボート217の上昇開始時と上昇終了時とで、プロセスレシピの名称、ウエハマップ、O2濃度などに変化がある場合、ユーザは、端末装置6を用いてボート217の上昇前後の時刻に関する情報を取得することにより、その違いを確認することができる。なお、ウエハマップやO2濃度などはあくまで例示であり、他の種別が記憶されてもよい。
Next, a modification of the storage structure of the current information storage unit 402 of the group management program 40 and the storage structure of the item information DB 412 will be described. The item information includes device information and event information.
FIG. 11 is a diagram showing a modification of the storage structure of the current information storage unit 402 of the group management program 40 and the storage structure of the item information DB 412. FIG. 11A illustrates the current information storage unit 402, and FIG. Exemplifies the item information DB 412.
As illustrated in FIG. 11B, the item information may include information on the process recipe (for example, the name of the process recipe), a wafer map, an O 2 concentration, and the like. That is, the item information may include process information of each substrate processing apparatus 10. For example, when there is a change in the name of the process recipe, the wafer map, the O2 concentration, etc., at the start of the rise of the boat 217 and at the end of the rise, the user uses the terminal device 6 to information on the time before and after the rise of the boat 217 By acquiring, the difference can be confirmed. It should be noted that the wafer map, the O 2 concentration, etc. are merely examples, and other types may be stored.

なお、本発明に係る基板処理装置10は、半導体製造装置だけではなく、LCD装置などのガラス基板を処理する装置にも適用される。また、本発明に係る基板処理装置10は、他の基板処理装置である露光装置、塗布装置、乾燥装置、加熱装置などにも適用される。また、本発明に係る基板処理装置10は、炉内の処理を限定せず、CVD、PVD、酸化膜、窒化散を形成する処理、及び金属を含む膜を形成する処理を含む成膜処理を行うことができる。さらに、本発明に係る基板処理装置10は、アニール処理、酸化処理、窒化処理、拡散処理等を行うことができる。   The substrate processing apparatus 10 according to the present invention is applied not only to a semiconductor manufacturing apparatus but also to an apparatus for processing a glass substrate such as an LCD apparatus. The substrate processing apparatus 10 according to the present invention is also applied to an exposure apparatus, a coating apparatus, a drying apparatus, a heating apparatus, and the like, which are other substrate processing apparatuses. Moreover, the substrate processing apparatus 10 according to the present invention does not limit the processing in the furnace, but includes film forming processing including processing for forming CVD, PVD, oxide film, nitriding diffusion, and processing for forming a film containing metal. It can be carried out. Furthermore, the substrate processing apparatus 10 according to the present invention can perform annealing treatment, oxidation treatment, nitriding treatment, diffusion treatment, and the like.

また、本発明は、以下の実施態様も含む。
本発明に係る情報管理装置は、基板を処理する基板処理装置から送信される電文に基づいて、当該電文が送信された時点の前記基板処理装置の装置情報を記憶する第1の装置情報記憶手段と、装置情報と時刻とを関連付けて記憶する第2の装置情報記憶手段と、移動する装置情報の設定及び該装置情報を蓄積する条件を記憶する条件記憶手段と、前記条件記憶手段に記憶されている条件が満たされた場合、当該条件が満たされた時刻と前記第1の装置情報記憶手段に記憶されている当該設定と一致した装置情報とを関連付けて前記第2の装置情報記憶手段に登録する登録手段とを有する。
The present invention also includes the following embodiments.
The information management apparatus according to the present invention is a first apparatus information storage unit that stores apparatus information of the substrate processing apparatus at the time when the electronic message is transmitted based on an electronic message transmitted from the substrate processing apparatus that processes the substrate. Second device information storage means for storing device information and time in association with each other, condition storage means for storing settings for moving device information and conditions for storing the device information, and stored in the condition storage means. When the condition is satisfied, the time when the condition is satisfied and the device information that matches the setting stored in the first device information storage unit are associated with each other in the second device information storage unit. Registration means for registration.

本発明に係る第1の基板処理システムは、基板を処理する複数の基板処理装置と、前記基板処理装置から送信される電文を処理する情報管理装置と、前記情報管理装置に接続された端末装置とを含む基板処理システムであって、前記基板処理装置は、装置情報又はイベント情報を含む電文を前記情報管理装置に送信する送信手段を有し、前記情報管理装置は、前記送信手段から送信される電文に基づいて、当該電文が送信された時点の前記基板処理装置の装置情報を記憶する第1の装置情報記憶手段と、装置情報と時刻とを関連付けて記憶する第2の装置情報記憶手段と、装置情報が蓄積される条件を記憶する条件記憶手段と、前記条件記憶手段に記憶されている条件と前記イベント情報が一致した場合、当該条件が満たされた時刻と前記第1の装置情報記憶手段に記憶されている装置情報とを関連付けて前記第2の装置情報記憶手段に登録する登録手段とを有し、前記端末装置は、前記第2の装置情報記憶手段に記憶されている装置情報を検索する検索手段を有する。   A first substrate processing system according to the present invention includes a plurality of substrate processing apparatuses that process a substrate, an information management apparatus that processes a message transmitted from the substrate processing apparatus, and a terminal device connected to the information management apparatus The substrate processing apparatus includes a transmission unit that transmits a message including device information or event information to the information management device, and the information management device is transmitted from the transmission unit. First apparatus information storage means for storing apparatus information of the substrate processing apparatus at the time of transmission of the electronic message, and second apparatus information storage means for storing apparatus information and time in association with each other And condition storage means for storing conditions for accumulating device information, and when the event information matches the condition stored in the condition storage means, the time when the condition is satisfied, and the first Registration means for associating the device information stored in the device information storage means with the second device information storage means, and the terminal device is stored in the second device information storage means. There is a search means for searching for device information.

本発明に係る第2の基板処理システムは、第1の基板処理システムにおいて、さらに、前記端末手段に表示手段を設け、前記条件記憶手段と前記第2の装置情報記憶手段に記憶されている装置情報を参照し、該記憶された装置情報が前記条件記憶手段の内容と一致していれば前記表示手段に表示する。   According to a second substrate processing system of the present invention, in the first substrate processing system, a display unit is further provided in the terminal unit, and the device is stored in the condition storage unit and the second apparatus information storage unit. With reference to the information, if the stored device information matches the contents of the condition storage means, the information is displayed on the display means.

本発明に係る第3の基板処理システムは、第1の基板処理システムにおいて、さらに、前記基板処理装置は、第2の装置情報記憶手段に蓄積される装置情報を検索する検索手段を有し、前記検索手段により検索された装置情報を表示する表示手段を有する。   According to a third substrate processing system of the present invention, in the first substrate processing system, the substrate processing apparatus further includes search means for searching for apparatus information stored in a second apparatus information storage means, Display means for displaying device information searched by the search means;

本発明に係る第1のデータ検索方法は、装置から送信される最新のデータを格納する第1の格納手段に格納しておき、予め設定されていた所定のデータを受信すると、前記第1の格納手段に格納されていたデータの少なくとも一部のデータを前記所定のデータが発生した時刻を付加して第2の格納手段に蓄積し、該蓄積されたデータを検索する。   The first data search method according to the present invention stores the latest data transmitted from the apparatus in the first storage means, and receives the predetermined data set in advance. At least a part of the data stored in the storage means is added to the second storage means by adding the time when the predetermined data is generated, and the stored data is searched.

本発明に係る第2のデータ検索方法は、装置から送信される最新のデータを格納する第1の格納手段に格納しておき、所定のデータ及び該所定のデータが発生したときにのみ第2の格納手段に移動させるデータを設定したパラメータを参照し、前記所定のデータを受信すると、前記第1の格納手段に格納されていたデータの少なくとも一部のデータを前記第2の格納手段に蓄積し、該蓄積されたデータを検索する。   The second data search method according to the present invention stores the latest data transmitted from the apparatus in the first storage means, and stores the second data only when the predetermined data and the predetermined data are generated. When the predetermined data is received with reference to the parameter that sets the data to be moved to the storage means, at least a part of the data stored in the first storage means is accumulated in the second storage means Then, the stored data is searched.

本発明に係る第1のデータ検索システムは、処理装置から送信されるデータを上書きして保存する第1の格納手段と、所定のデータ及び該所定のデータを受信したときに前記第1の格納手段から移動させるデータを設定したパラメータに応じ、前記第1の格納手段に格納されていたデータを蓄積する第2の格納手段と、該蓄積されたデータを検索する端末手段とを有する。   The first data search system according to the present invention includes a first storage means for overwriting and storing data transmitted from a processing device, predetermined data, and the first storage when the predetermined data is received. According to a parameter for setting data to be moved from the means, there is provided a second storage means for accumulating the data stored in the first storage means, and a terminal means for retrieving the accumulated data.

本発明に係る第2のデータ検索システムは、第1のデータ検索システムにおいて、さらに、前記端末手段に表示手段を設け、前記パラメータと前記蓄積されたデータとを検索し、該蓄積されたデータが前記パラメータの内容と一致していれば前記表示手段に表示する。   According to a second data search system of the present invention, in the first data search system, a display unit is further provided in the terminal unit, the parameter and the stored data are searched, and the stored data is If it matches the content of the parameter, it is displayed on the display means.

本発明に係る第3のデータ検索システムは、第1のデータ検索システムにおいて、さらに、前記処理装置は、第2の格納手段に蓄積されるデータを検索する検索手段を有し、前記検索手段により検索されたデータを表示する表示手段を有する。   According to a third data search system of the present invention, in the first data search system, the processing device further includes search means for searching data stored in a second storage means, and the search means Display means for displaying the retrieved data.

従来の群管理サーバに記憶される装置情報及びその構造と、記憶されている装置情報の取得方法とを示す図である。It is a figure which shows the apparatus information memorize | stored in the conventional group management server, its structure, and the acquisition method of the memorize | stored apparatus information. 本発明の実施形態に係る基板処理システム1の構成を示す図である。1 is a diagram showing a configuration of a substrate processing system 1 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る基板処理装置10の斜視図を示す。1 is a perspective view of a substrate processing apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る基板処理装置10の側面透視図を示す。1 is a side perspective view of a substrate processing apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. PMC14を中心とした基板処理装置10の機能構成を示す。A functional configuration of the substrate processing apparatus 10 centering on the PMC 14 is shown. 端末装置6のハードウェア構成を、制御装置16を中心にして示す図である。2 is a diagram illustrating a hardware configuration of a terminal device 6 with a control device 16 as a center. FIG. 群管理サーバ4により実行される群管理プログラム40、及び端末装置6により実行される端末プログラム60の機能構成を示す図である。It is a figure which shows the function structure of the terminal program 60 performed by the group management program 40 performed by the group management server 4, and the terminal device 6. FIG. 群管理プログラム40の現在情報記憶部402及び装置情報DB400の記憶構造を模式的に示す図であって、(A)は現在情報記憶部402を例示し、(B)は装置情報DB400を例示する。It is a figure which shows typically the storage structure of the present information storage part 402 of the group management program 40, and apparatus information DB400, (A) illustrates the present information storage part 402, (B) illustrates apparatus information DB400. . 本発明の実施形態に係る群管理サーバ4の動作(S10)を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement (S10) of the group management server 4 which concerns on embodiment of this invention. 端末装置6に表示される障害情報画面を例示する図である。It is a figure which illustrates the failure information screen displayed on the terminal device. 群管理プログラム40の現在情報記憶部402の記憶構造の変形例及びアイテム情報DB412の記憶構造を示す図であって、(A)は現在情報記憶部402を例示し、(B)はアイテム情報DB412を例示する。It is a figure which shows the modification of the storage structure of the present information storage part 402 of the group management program 40, and the storage structure of item information DB412, Comprising: (A) illustrates the present information storage part 402, (B) is item information DB412. Is illustrated.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板処理システム
4 群管理サーバ
6 端末装置
10 基板処理装置
12 ネットワーク
16 制御装置
18 CPU
20 メモリ
22 通信IF
24 表示・入力装置
26 記憶装置
40 群管理プログラム
400 装置情報DB
402 現在情報記憶部
404 定義情報記憶部
406 通信部
408 電文受付部
410 装置情報登録部
412 アイテム情報DB
60 端末プログラム
600 UI部
602 装置情報取得部
604 画面生成部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing system 4 Group management server 6 Terminal device 10 Substrate processing device 12 Network 16 Control device 18 CPU
20 Memory 22 Communication IF
24 display / input device 26 storage device 40 group management program 400 device information DB
402 current information storage unit 404 definition information storage unit 406 communication unit 408 message reception unit 410 device information registration unit 412 item information DB
60 terminal program 600 UI unit 602 device information acquisition unit 604 screen generation unit

Claims (11)

基板を処理する基板処理装置から送信される装置情報またはイベント情報を含む電文に基づいて、前記電文が送信された時点の前記基板処理装置の装置情報を第1の装置情報記憶手段に記憶すると共に、前記装置情報と前記イベント情報が発生した時刻とを関連付けて第2の装置情報記憶手段に記憶する情報管理方法であって、
前記イベント情報を含む電文が送信された際に、前記第1の装置情報記憶手段に格納された前記装置情報を前記第2の装置情報記憶手段に移動させる移動条件と移動対象の装置情報とが設定された条件記憶手段を参照し、前記イベント情報と前記移動条件とが一致した場合、前記移動条件が満たされた時刻と、前記第1の装置情報記憶手段に格納された装置情報であって、前記設定された移動対象の装置情報に一致した装置情報を関連づけて第2の装置情報記憶手段に記憶する情報管理方法。
Based on a message including apparatus information or event information transmitted from a substrate processing apparatus that processes a substrate, the apparatus information of the substrate processing apparatus at the time of transmission of the message is stored in a first apparatus information storage unit. , a pre-Symbol device information and information management method wherein the event information is stored in the second apparatus information storage means in association with the time that occurred,
When a message including the event information is transmitted, a movement condition for moving the device information stored in the first device information storage means to the second device information storage means and device information to be moved are obtained. If the event information and the movement condition match with reference to the set condition storage means, the time when the movement condition is satisfied and the device information stored in the first device information storage means An information management method for associating device information that matches the set device information to be moved and storing it in a second device information storage means.
更に、操作画面を有する操作端末を備え、前記操作端末は、前記設定された移動対象の装置情報に前記イベント情報が発生した時刻を付加して記憶された第2の装置情報記憶手段を検索し、該検索した結果情報と前記設定された移動対象の装置情報とを比較し、一致していれば前記操作画面に前記装置情報を表示する請求項1の情報管理方法。 Further comprising an operation terminal having an operation screen, the operation terminal, searching for a second device information storage means for the event information to the device information of the object to be moved before Symbol set is stored by adding the time that occurred The information management method according to claim 1 , wherein the retrieved result information is compared with the set device information to be moved, and the device information is displayed on the operation screen if they match. 基板を処理する基板処理装置から送信される装置情報またはイベント情報を含む電文に基づいて、当該電文が送信された時点の前記基板処理装置の装置情報を記憶する第1の装置情報記憶手段と、前記装置情報と前記イベント情報が発生した時刻とを関連付けて記憶する第2の装置情報記憶手段と、前記第1の装置情報記憶手段に格納された前記装置情報を前記第2の装置情報記憶手段に移動させる移動条件と移動対象の装置情報とが設定された条件記憶手段と、前記条件記憶手段に記憶されている前記移動条件が満たされた場合、前記移動条件が満たされた時刻と前記第1の装置情報記憶手段に記憶されている前記設定された前記移動対象の装置情報と一致した装置情報とを関連付けて前記第2の装置情報記憶手段に登録する登録手段とを有する情報管理装置。First apparatus information storage means for storing apparatus information of the substrate processing apparatus at the time when the electronic message is transmitted based on an electronic message including apparatus information or event information transmitted from the substrate processing apparatus that processes the substrate; A second device information storage means for storing the device information and the time when the event information occurred, and the second device information storage means for storing the device information stored in the first device information storage means; A condition storage unit in which a movement condition to be moved to and apparatus information to be moved are set, and when the movement condition stored in the condition storage unit is satisfied, the time when the movement condition is satisfied and the first Registration means for associating device information that matches the set device information to be moved stored in one device information storage device and registering it in the second device information storage device; Information management apparatus that. 基板を処理する複数の基板処理装置と、前記基板処理装置から送信される装置情報またはイベント情報を含む電文を処理する情報管理装置とを含む基板処理システムであって、前記基板処理装置は、前記電文を前記情報管理装置に送信する送信手段を有し、前記情報管理装置は、前記送信手段から送信される前記電文に基づいて、当該電文が送信された時点の前記基板処理装置の装置情報を記憶する第1の装置情報記憶手段と、前記装置情報と前記イベント情報が発生した時刻とを関連付けて記憶する第2の装置情報記憶手段と、前記第1の装置情報記憶手段に格納された前記装置情報を前記第2の装置情報記憶手段に移動させる移動条件と移動対象の装置情報とが設定された条件記憶手段と、前記条件記憶手段に記憶されている前記移動条件が満たされた場合、前記移動条件が満たされた時刻と前記第1の装置情報記憶手段に記憶されている前記設定された前記移動対象の装置情報と一致した装置情報とを関連付けて前記第2の装置情報記憶手段に登録する登録手段とを有する基板処理システム。A substrate processing system including a plurality of substrate processing apparatuses for processing a substrate, and an information management apparatus for processing a message including apparatus information or event information transmitted from the substrate processing apparatus, wherein the substrate processing apparatus includes: A transmission unit configured to transmit a message to the information management device, the information management device based on the message transmitted from the transmission unit, device information of the substrate processing apparatus at the time when the message was transmitted; First device information storage means for storing, second device information storage means for storing the device information and the time at which the event information has occurred in association with each other, and the first device information storage means stored in the first device information storage means Condition storage means in which movement conditions for moving apparatus information to the second apparatus information storage means and apparatus information to be moved are set; and the movement conditions stored in the condition storage means Is satisfied, the time when the movement condition is satisfied and the device information that matches the set device information of the movement target stored in the first device information storage means are associated with each other. A substrate processing system having registration means for registering in the apparatus information storage means. 更に、前記情報管理装置に接続された端末装置を含む基板処理システムであって、前記端末装置は、前記第2の装置情報記憶手段に記憶されている装置情報を検索する検索手段を有する請求項4の基板処理システム。  Furthermore, the substrate processing system includes a terminal device connected to the information management device, wherein the terminal device includes a search unit that searches for device information stored in the second device information storage unit. 4. Substrate processing system. 更に、前記端末装置は、前記条件記憶手段と前記第2の装置情報記憶手段に記憶されている装置情報を参照し、該記憶された装置情報が前記条件記憶手段の内容と一致していれば前記装置情報を操作画面に表示する請求項5の基板処理システム。  Further, the terminal device refers to the device information stored in the condition storage means and the second device information storage means, and if the stored device information matches the content of the condition storage means The substrate processing system according to claim 5, wherein the apparatus information is displayed on an operation screen. 前記基板処理装置は、基板にアニール処理、酸化処理、拡散処理、及びCVD膜、PVD膜、酸化膜、窒化膜を形成する処理、及び金属を含む膜を形成する成膜処理のうち少なくとも一つの処理を行う装置である請求項4の基板処理システム。  The substrate processing apparatus includes at least one of an annealing process, an oxidation process, a diffusion process, a process for forming a CVD film, a PVD film, an oxide film, and a nitride film, and a film forming process for forming a film containing a metal on the substrate. The substrate processing system according to claim 4, wherein the substrate processing system is a processing apparatus. 前記基板処理装置は、露光装置、塗布装置、乾燥装置、加熱装置のうち少なくとも一つである請求項4の基板処理システム。  The substrate processing system according to claim 4, wherein the substrate processing apparatus is at least one of an exposure apparatus, a coating apparatus, a drying apparatus, and a heating apparatus. 更に、前記基板処理装置は、前記第2の装置情報記憶手段に蓄積される装置情報を検索する検索手段と、前記検索手段により検索された装置情報を表示する表示手段を有する請求項4の基板処理システム。  5. The substrate according to claim 4, wherein the substrate processing apparatus further comprises search means for searching for apparatus information stored in the second apparatus information storage means, and display means for displaying the apparatus information searched by the search means. Processing system. 前記基板処理装置は、基板にアニール処理、酸化処理、拡散処理、及びCVD膜、PVD膜、酸化膜、窒化膜を形成する処理、及び金属を含む膜を形成する成膜処理のうち少なくとも一つの処理を行う装置である請求項1の情報管理方法。  The substrate processing apparatus includes at least one of an annealing process, an oxidation process, a diffusion process, a process for forming a CVD film, a PVD film, an oxide film, and a nitride film, and a film forming process for forming a film containing a metal on the substrate. The information management method according to claim 1, wherein the information management method is a device that performs processing. 更に、前記基板処理装置は、露光装置、塗布装置、乾燥装置、加熱装置のうち少なくとも一つである請求項1の情報管理方法。  The information management method according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is at least one of an exposure apparatus, a coating apparatus, a drying apparatus, and a heating apparatus.
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