JP5411866B2 - パターン計測装置及びパターン計測方法 - Google Patents
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Description
図1は、本実施形態に係る走査型電子顕微鏡の構成図である。
次に、SEM画像におけるコーナーラウンディングの検出処理について説明する。
図4の例では、パターンPAの上側のT2からT0までのエッジ位置で規定される台形形状の領域は、領域(x1x2EP1EP2)のようにパターンPAが分割された領域PPA、及びパターンが含まれない領域を合わせた面積が算出される。また、パターンPAの下側のT1からT2までのエッジ位置で規定される台形形状の領域は、パターンPAを含まない領域の面積が算出される。
Claims (10)
- 電子ビームを試料上に照射する照射手段と、
前記電子ビームの照射によって、パターンが形成された前記試料上から発生する電子の電子量を検出する電子検出手段と、
前記電子量を基に当該パターンのSEM画像を生成する画像処理手段と、
前記パターンのコーナー部のロス率を算出する制御手段と、を有し、
前記制御手段は、
前記SEM画像のうちの計測対象部分を指定する矩形状の計測指定領域を取得し、
該計測指定領域を、その対角方向の2つの角が前記SEM画像のパターンのコーナー部を挟み、且つ前記2つの角が前記パターンの辺と接するように配置した後、
前記計測指定領域の角と前記パターンの辺とが交差する位置を中心に所定の範囲で前記パターンのエッジ位置を検出し、
検出した前記エッジ位置の平均位置を算出し、
前記エッジ位置の平均位置と前記計測指定領域の角とが一致するように前記計測指定領域を移動させることを特徴とするパターン計測装置。 - 前記制御手段は、前記所定の範囲のエッジにおいて、前記エッジの座標位置が所定の閾値の範囲から外れた部分が連続して存在するとき、前記所定の範囲内のエッジの座標位置のうち前記計測指定領域のパターンのエッジに沿った辺から外側に垂直方向の距離が最大の位置にあるエッジの座標位置に、前記角を合わせるように前記計測指定領域を移動させることを特徴とする請求項1に記載のパターン計測装置。
- 前記制御手段は、前記所定の範囲内のエッジにおいて、前記エッジの座標位置が所定の閾値の範囲から外れた部分が連続して存在するとき、前記エッジの座標位置が前記所定の閾値の範囲を超えない部分での前記エッジ位置の平均位置を求め、前記エッジ位置の平均位置に前記角を合わせるように前記計測指定領域を移動させることを特徴とする請求項1に記載のパターン計測装置。
- 前記制御手段は、パターンが凹形状のコーナーと凸形状のコーナーの連続する形状であると判定したとき、前記エッジ位置の平均位置を取得する範囲を前記計測指定領域内の範囲に限定することを特徴とする請求項1に記載のパターン計測装置。
- 前記所定の範囲は、前記計測指定領域の角と前記パターンの辺とが交差する位置を中心に前記計測指定領域の一辺の長さの1/2の長さであることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のパターン計測装置。
- 電子ビームを試料上に照射する照射手段と、前記電子ビームの照射によって、パターンが形成された前記試料上から発生する電子の電子量を検出する電子検出手段と、前記電子量を基に当該パターンのSEM画像を生成する画像処理手段と、を備えたパターン計測装置におけるパターン計測方法であって、
前記SEM画像のうちの計測対象部分を指定する矩形状の計測指定領域を取得するステップと、
前記計測指定領域を、その対角方向の2つの角が前記SEM画像のパターンのコーナー部を挟み、且つ前記2つの角が前記パターンの辺と接するように配置するステップと、
前記計測指定領域の角と前記パターンの辺とが交差する位置を中心に所定の範囲で前記パターンのエッジ位置を検出するステップと、
検出した前記エッジ位置の平均位置を算出するステップと、
前記パターンのエッジ位置の平均位置と前記計測指定領域の角とが一致するように前記計測指定領域を移動させるステップと、
を有することを特徴とするパターン計測方法。 - 前記計測指定領域を移動させるステップは、
前記所定の範囲のエッジにおいて、前記エッジの座標位置が所定の閾値の範囲から外れた部分が連続して検出されるか否かを判定するステップと、
前記エッジの座標位置が所定の閾値の範囲から外れた部分が連続して検出されると判定されたとき、前記所定の範囲のエッジの座標位置うち前記計測指定領域のパターンのエッジに沿った辺から外側に垂直方向の距離が最大の位置にあるエッジの座標位置に、前記角を合わせるように前記計測指定領域を移動させるステップと、
を含むことを特徴とする請求項6に記載のパターン計測方法。 - 前記計測指定領域を移動させるステップは、
前記所定の範囲のエッジにおいて、前記エッジの座標位置が所定の閾値の範囲から外れた部分が連続して検出されるか否かを判定するステップと、
前記エッジの座標位置が所定の閾値の範囲から外れた部分が連続して検出されると判定されたとき、前記エッジの座標位置が前記所定の閾値の範囲を超えない部分での前記エッジ位置の平均位置を求め、前記エッジ位置の平均位置に前記角を合わせるように前記計測指定領域を移動させるステップと、
を含むことを特徴とする請求項6に記載のパターン計測方法。 - 前記計測指定領域を移動させるステップは、
連続するコーナーの形状を判定するステップと、
前記連続するコーナーのパターンが凹形状のコーナーと凸形状のコーナーの連続する形状であると判定したとき、前記エッジ位置の平均位置を取得する範囲を前記計測指定領域内の範囲に限定するステップと、
を含むことを特徴とする請求項6に記載のパターン計測方法。 - 前記所定の範囲は、前記計測指定領域の角と前記パターンの辺とが交差する位置を中心に前記計測指定領域の一辺の長さの1/2の長さであることを特徴とする請求項6から請求項9のいずれか一項に記載のパターン計測方法。
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