JP5397850B2 - Microprojection removal apparatus, microprojection removal method, and microprojection removal tape - Google Patents
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Description
本発明は、液晶カラーフィルタ基板等の平板状の被修正体に付着した微小突起を除去する微小突起除去装置、前記微小突起を除去する微小突起除去方法、前記微小突起除去装置、前記微小突起除去方法に用いる微小突起除去テープに関するものである。 The present invention relates to a microprojection removing device that removes microprojections attached to a flat plate-like object such as a liquid crystal color filter substrate, a microprojection removing method that removes the microprojections, the microprojection removing device, and the microprojection removal. The present invention relates to a microprojection removal tape used in the method.
液晶カラーフィルタ基板を製造する際に、液晶カラーフィルタ基板の表面に数ミクロンの微小突起が付着すると、液晶封入部分の厚みが均一にならず、液晶表示の画質が低下する。 When a liquid crystal color filter substrate is manufactured, if microprojections of several microns are attached to the surface of the liquid crystal color filter substrate, the thickness of the liquid crystal encapsulated portion is not uniform, and the image quality of the liquid crystal display is degraded.
このため、液晶カラーフィルタ基板の異物である微小突起はできる限り除去しなければならず、近年、液晶カラーフィルタ基板に付着した微小突起を除去して、液晶カラーフィルタ基板を平滑にする微小突起除去装置が提供されている。 For this reason, the minute protrusions that are foreign matters on the liquid crystal color filter substrate must be removed as much as possible. Recently, the minute protrusion removal that smoothes the liquid crystal color filter substrate by removing the minute protrusions attached to the liquid crystal color filter substrate. A device is provided.
この装置は、液晶カラーフィルタ基板を載せる表面が平面状の載置台と、該載置台の上方に配置され、研磨テープを連続的に移送するテープ移送機構と、上下動可能に配置され、前記研磨テープの裏面を前記載置台の方向に押圧して、前記研磨テープを介して前記載置台に載せられた液晶カラーフィルタ基板に付着した微小突起を除去する研磨ヘッドと、微小突起を拡大して観察する光学系とを具備している装置である。 The apparatus has a surface on which the liquid crystal color filter substrate is mounted, a flat mounting table, a tape transfer mechanism that is disposed above the mounting table, and that continuously transfers the polishing tape, and is arranged to be movable up and down. The back surface of the tape is pressed in the direction of the mounting table, and the polishing head for removing the fine protrusions attached to the liquid crystal color filter substrate placed on the mounting table via the polishing tape, and the micro protrusions are enlarged and observed. And an optical system.
この装置においては、前記光学系を用いて微小突起を観察して研磨対象である微小突起を選択したのち、微小突起の高さを測定し、微小突起の高さに応じて研磨ヘッドを下降し、研磨テープを研磨対象部に押圧しながら研磨テープを連続的に移送して、この研磨テープの研磨作用により微小突起を除去する(たとえば、特許文献1参照)。 In this apparatus, after observing the minute protrusions using the optical system and selecting the minute protrusions to be polished, the height of the minute protrusions is measured, and the polishing head is lowered according to the height of the minute protrusions. The polishing tape is continuously transferred while pressing the polishing tape against the portion to be polished, and the fine protrusions are removed by the polishing action of the polishing tape (see, for example, Patent Document 1).
しかし、上記のような構成の微小突起除去装置には次のような問題があった。すなわち、研磨テープにより微小突起を研磨しているから、微小突起の高さに応じて研磨テープの下降量を決定しなければならないので、研磨テープにより研磨を行なう前に、微小突起の高さを測定する必要がある。したがって、微小突起除去作業に要する時間が長くなる。 However, the microprojection removing apparatus configured as described above has the following problems. That is, since the fine protrusions are polished with the polishing tape, the amount of the polishing tape to be lowered must be determined according to the height of the fine protrusions. It is necessary to measure. Therefore, the time required for the microprojection removal operation becomes longer.
また、研磨テープを研磨対象部に押圧しながら研磨テープを連続的に移送するから、1つの微小突起を研削除去するためには、研磨テープのかなり長い部分を使用しなければならないので、研磨テープの交換頻度が多くなり、微小突起除去作業が面倒である。 In addition, since the polishing tape is continuously transferred while pressing the polishing tape against the portion to be polished, in order to grind and remove one minute protrusion, it is necessary to use a considerably long portion of the polishing tape. The frequency of replacement is increased, and the work of removing microprojections is troublesome.
本発明は上述の課題を解決するためになされたもので、微小突起除去作業に要する時間を短くすることができる微小突起除去装置および微小突起除去方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a microprojection removal apparatus and a microprojection removal method that can shorten the time required for microprojection removal work.
また、交換頻度が少ない微小突起除去テープを提供することを目的とする。 It is another object of the present invention to provide a microprojection removal tape with a low replacement frequency.
本発明においては、前記課題を解決するために、以下の点を特徴としている。すなわち、請求項1に係る微小突起除去装置は、平板状の被修正体に付着した微小突起を除去する微小突起除去装置であって、前記微小突起を観察する観察装置と、前記観察装置の観察部を前記被修正体上の任意の位置に移動する移動装置と、前記移動装置の取付部に取り付けられた微小突起除去部と、前記微小突起除去部に前記被修正体の表面に対して傾斜するように取り付けられ、かつテープ基体の幅方向の一方端部に前記微小突起よりも硬質な硬質材料からなる研削突起を設けた微小突起除去テープとを備えていることを特徴とする。
The present invention is characterized by the following points in order to solve the above problems. That is, the microprojection removal apparatus according to
また、請求項2に係る微小突起除去装置は、請求項1に係る微小突起除去装置において、前記取付部に前記微小突起除去部を退避させた状態にする退避手段を介して前記微小突起除去部を取り付けたことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided the microprojection removing device according to the first aspect, wherein the microprojection removing portion is provided via a retracting means for making the mounting portion retract the microprojection removing portion. It is characterized by having attached.
また、請求項3に係る微小突起除去方法は、平板状の被修正体に付着した微小突起を除去する微小突起除去方法であって、テープ基体の幅方向の一方端部に前記微小突起よりも硬質な硬質材料からなる研削突起を設けた微小突起除去テープをU字型に曲げ、前記研削突起を前記被修正体の表面に接触させた状態で、前記研削突起を移動させ、前記研削突起により前記微小突起に剪断力を作用させて、前記微小突起を研削除去することを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a microprojection removal method for removing microprojections adhering to a flat plate-like object to be repaired, wherein the microprojections are removed at one end in the width direction of the tape substrate from the microprojections. A fine protrusion removal tape provided with a grinding protrusion made of a hard material is bent into a U-shape, and the grinding protrusion is moved while the grinding protrusion is in contact with the surface of the object to be corrected. The microprojections are ground and removed by applying a shearing force to the microprojections.
また、請求項4に係る微小突起除去方法は、請求項3に係る微小突起除去方法において、前記微小突起除去テープの前記研削突起が設けられた端部とは反対側の端部を板状体に当接させることを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the microprojection removal method according to the third aspect, wherein the end of the microprojection removal tape opposite to the end provided with the grinding projection is a plate-like body. It makes it contact | abut.
また、請求項5に係る微小突起除去テープは、請求項1または2に記載の微小突起除去装置に用いられ、平板状の被修正体に付着した微小突起を除去する微小突起除去テープであって、テープ基体の幅方向の一方端部に前記微小突起よりも硬質な硬質材料からなる研削突起を設けたことを特徴とする。
A microprojection removal tape according to
また、請求項6に係る微小突起除去テープは、請求項5に係る微小突起除去テープにおいて、前記テープ基体に複数の前記研削突起を設けたことを特徴とする。 A microprojection removal tape according to a sixth aspect is the microprojection removal tape according to the fifth aspect, wherein a plurality of the grinding projections are provided on the tape base.
また、請求項7に係る微小突起除去テープは、請求項5または7に係る微小突起除去テープにおいて、前記テープ基体の端部の前記研削突起が設けられた部分の両側にそれぞれ凹部を設けたことを特徴とする。
Further, the microprojection removal tape according to claim 7 is the microprojection removal tape according to
本発明によれば、以下の優れた効果を奏する。すなわち、請求項1に係る発明では、前述の構成とすることによって、微小突起の高さに応じて微小突起除去テープの下降量を決定しなくともよいから、微小突起の高さを測定する必要がないので、微小突起除去作業に要する時間が短くなる。
The present invention has the following excellent effects. That is, in the invention according to
また、請求項2に係る発明では、前述の構成とすることによって、微小突起除去部を退避した状態とすることができるから、観察装置の表示装置の画面に微小突起除去テープが表示されない状態とすることができる。
Further, in the invention according to
また、請求項3に係る発明では、前述の構成とすることによって、被修正体の表面の微小突起の周辺部が損傷するのを防止することができる。 Moreover, in the invention which concerns on Claim 3, it can prevent that the peripheral part of the microprotrusion on the surface of a to-be-corrected body is damaged by setting it as the above-mentioned structure.
また、請求項4に係る発明では、前述の構成とすることによって、研削突起による微小突起の研削除去時に、テープ基体の移動を板状体によって阻止することができ、しかも研削突起が磨耗したときに、微小突起除去テープをその長さ方向に移動して、他の研削突起を使用可能な状態にすることができる。
In the invention according to
また、請求項5に係る発明では、前述の構成とすることによって、微小突起除去テープを連続的に移送せず、かつ1つの研削突起で多数の微小突起を除去することができるから、微小突起除去テープの交換頻度が少なくなる。
Further, in the invention according to
また、請求項6に係る発明では、前述の構成とすることによって、1つの微小突起除去テープを微小突起除去部に取り付ければ、複数の研削突起を使用することができるから、微小突起除去テープの交換頻度がさらに少なくなる。 In the invention according to claim 6, with the above-described configuration, a plurality of grinding protrusions can be used if one minute protrusion removal tape is attached to the minute protrusion removal portion. The replacement frequency is further reduced.
また、請求項7に係る発明では、前述の構成とすることによって、研削突起が被修正体の表面に対して平行となるように保つことができる。 Moreover, in the invention which concerns on Claim 7, by setting it as the above-mentioned structure, it can maintain so that a grinding protrusion may become parallel with respect to the surface of a to-be-corrected body.
図1は本発明に係る微小突起除去テープを示す図で、(b)は(a)のA−A断面図である。図に示すように、微小突起除去テープ10のポリイミドからなるテープ基体1の幅方向(図1(a)紙面上下方向)の一方端部に複数の研削突起2が設けられている。テープ基体1の幅寸法は約10mm、厚さは50〜200μmである。また、研削突起2は厚さが2μm、縦横寸法(図1(a)紙面左右方向寸法および上下方向寸法)が50μmであり、研削突起2はタングステン、ニッケルなどの硬質金属、酸化タングステン、セラミック、ダイアモンド等の除去すべき微小突起よりも硬質な硬質材料からなり、研削突起2は蒸着等により設けられている。また、テープ基体1の一方端部に板金3が固定されており、テープ基体1および板金3に穴4が設けられている。また、テープ基体1の他方端部に角穴である取付穴5が設けられている。
FIG. 1 is a view showing a microprojection removal tape according to the present invention, and (b) is a cross-sectional view taken along the line AA of (a). As shown in the figure, a plurality of
図2は本発明に係る微小突起除去装置を示す概略平面図、図3は図2の拡大B矢視図、図4は図3のC矢視図、図5は図4の一部拡大図、図6は図3の一部を切断した一部拡大図である。図に示すように、枠体51に2本のレール52が設けられ、レール52上をそれぞれ走行する走行体53が設けられている。なお、枠体51の内部には複数の載置ピン32(説明後述)が設けられている。また、両端が走行体53に取り付けられたロッド体54が設けられ、ロッド体54に沿って移動する移動体55が設けられている。また、移動体55に昇降装置56を介して取付部11が取り付けられ、昇降装置56は移動体55に対して取付部11を昇降する。また、取付部11に観察装置の観察部58が取り付けられ、観察部58は顕微鏡を有し、顕微鏡は対物レンズ12を有する。そして、レール52、走行体53、ロッド体54、移動体55、昇降装置56および取付部11により、観察部58を移動する移動装置57が構成されており、移動装置57は観察部58を上述の載置ピン32上に載置された平板状の被修正体である液晶カラーフィルタ基板(図示せず)上の任意の位置に移動することができる。また、観察部58に観察装置の表示装置59が接続されている。
2 is a schematic plan view showing a microprojection removing apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a view as viewed from an arrow B in FIG. 2, FIG. 4 is a view as viewed from an arrow C in FIG. FIG. 6 is a partially enlarged view of a part of FIG. As shown in the drawing, a
また、取付部11にθステージ13が取り付けられ、θステージ13はθモータ14によって駆動される。また、θステージ13の可動部13aに支持体15が取り付けられ、支持体15に突出板16が設けられている。なお、図示の状態では、支持体15、突出板16は対物レンズ12の光軸に対して30°傾斜している。このように、支持体15、突出板16等を有する微小突起除去部23はθステージ13を介して取付部11に取り付けられている。
A
また、支持体15の一方の側部に巻取装置17が取り付けられ、支持体15の他方の側部に突出ピン18が設けられ、図1に示した微小突起除去テープ10の取付穴5によって、微小突起除去テープ10の一方端部が巻取装置17に取り付けられ、微小突起除去テープ10の他方端部がバネ19を介して突出ピン18に取り付けられている。すなわち、バネ19の一方端は突出ピン18に取り付けられ、バネ19の他方端は穴4に挿入されている。このように、微小突起除去テープ10が微小突起除去部23に取り付けられ、微小突起除去テープ10がバネ19によって引っ張られた状態となっている。
Further, a winding
また、突出板16に2本の案内ピン20および1本の支持ピン21が設けられ、案内ピン20、支持ピン21の中心線は突出板16に対して直角である。したがって、支持ピン21は対物レンズ12の光軸と直角な面に対して30°傾斜している。また、支持ピン21は突出板16の先端部の近傍に設けられており、支持ピン21の断面形状は楕円形である。そして、微小突起除去テープ10が案内ピン20、支持ピン21に掛けられている。すなわち、微小突起除去テープ10が支持ピン21に巻き付けられている。この状態では、支持ピン21により微小突起除去テープ10がU字型に曲げられ、またテープ基体1の研削突起2が設けられた端部が支持ピン21の先端部から突出している。また、研削突起2の1つが図6に示す位置となるように、微小突起除去テープ10が案内ピン20、支持ピン21に掛けられ、微小突起除去テープ10の研削突起2が設けられた端部とは反対側の端部は板状体である突出板16に当接している。また、図3、図4に示した状態では、支持ピン21の先端部はほぼ対物レンズ12の光軸上に位置している。また、突出板16に穴22が設けられており、図3、図4に示した状態では、穴22の中心と対物レンズ12の光軸とがほぼ一致している。
The protruding
つぎに、図2〜図6に示した微小突起除去装置を使用した本発明に係る微小突起除去方法を説明する。まず、液晶カラーフィルタ基板を検査することにより、液晶カラーフィルタ基板に付着した異物である微小突起の位置を検出し、微小突起の位置を記憶手段に記憶する。 Next, a microprojection removal method according to the present invention using the microprojection removal apparatus shown in FIGS. First, by inspecting the liquid crystal color filter substrate, the position of minute protrusions that are foreign matters attached to the liquid crystal color filter substrate is detected, and the position of the minute protrusions is stored in the storage means.
つぎに、図7に示すように、液晶カラーフィルタ基板31をロボットハンド35により複数の載置ピン32上に載置し、吸着パッド33で吸引することにより、液晶カラーフィルタ基板31を所定位置に固定する。つぎに、θモータ14によりθステージ13を駆動することにより、図8に示すように、支持ピン21を図3に示した位置よりも紙面左方でかつ上方に位置させた状態すなわち微小突起除去部23を取付部11に対して退避位置に退避させた状態とし、記憶手段に記憶された位置に基づいて、移動装置57により観察部58、微小突起除去部23を移動し、図9(a)に示すように、表示装置59の画面内に研削対象である微小突起34が表示された状態とする。
Next, as shown in FIG. 7, the liquid crystal
つぎに、画像処理を行なうことにより、対物レンズ12と微小突起34との位置関係を検出し、対物レンズ12と微小突起34との位置関係に基づいて、移動装置57により観察部58を移動し、図9(b)に示すように、表示装置59の画面内の紙面上下方向の中央部で、紙面左右方向の右よりに微小突起34を位置させる。
Next, by performing image processing, the positional relationship between the
つぎに、移動装置57の昇降装置56により微小突起除去部23を多少上昇させたのち、θモータ14によりθステージ13を駆動することにより、支持ピン21(微小突起除去部23)を取付部11に対して図3に示した研削位置に戻した状態にし、この後昇降装置56により対物レンズ12の焦点高さまで観察部58、微小突起除去部23を下降して、研削突起2の位置を図10(a)に示した位置とする。この場合、図9(c)に示すように、表示装置59の画面に微小突起除去テープ10が表示される。この状態では、研削突起2は微小突起34の近傍でかつ液晶カラーフィルタ基板31の上方に位置しており、テープ基体1の最下部は液晶カラーフィルタ基板31の表面に対して30°傾斜している。
Next, after slightly lifting the
つぎに、昇降装置56により支持ピン21(微小突起除去部23)を下降させる。すると、図10(b)に示すように、研削突起2が液晶カラーフィルタ基板31の表面と接触し、テープ基体1が変形し、研削突起2が微小突起34の近傍に位置する。この場合、図9(d)に示すように、表示装置59の画面のテープ基体1の突出側端部の位置が紙面右方に移動する。たとえば、支持ピン21の先端部からのテープ基体1の突出量を100μmとすると、昇降装置56により支持ピン21(微小突起除去部23)を図10(b)に示す位置まで下降させると、テープ基体1の突出側端部の位置が約15μm紙面右方に移動する。したがって、画像処理によりテープ基体1の突出側端部の位置の移動量を検出し、その移動量が所定値になったときに、昇降装置56による支持ピン21の下降を停止すれば、図10(b)に示す状態すなわち研削突起2の下面が液晶カラーフィルタ基板31に接触した状態とすることができる。なお、画像処理における分解能を1.5μmとすることができるから、画像処理によりテープ基体1の突出側端部の位置の移動量を検出することは十分可能である。
Next, the support pin 21 (the minute protrusion removing portion 23) is lowered by the lifting
つぎに、移動装置57により支持ピン21(微小突起除去部23)を図10紙面右方すなわち液晶カラーフィルタ基板31の表面と平行な方向に移動することにより、研削突起2により微小突起34を研削除去する。この場合、吸引装置(図示せず)により研削突起2の近傍部分を吸引することにより、微小突起を研削することにより生じた削りカスを吸引除去する。
Next, by moving the support pin 21 (microprojection removing portion 23) in the right direction of FIG. 10, that is, in a direction parallel to the surface of the liquid crystal
このように、微小突起除去テープ10をU字型に曲げ、研削突起2を液晶カラーフィルタ基板31の表面に接触させた状態で、研削突起2を液晶カラーフィルタ基板31の表面と平行に移動させ、研削突起2により微小突起34に剪断力を作用させて、微小突起34を研削除去する。
In this manner, the grinding
なお、この場合には、微小突起除去テープ10がU字型に曲げられているから、テープ基体1が剛性を有しており、研削突起2による微小突起34の研削除去時に、テープ基体1が変形することはない。また、微小突起除去テープ10の研削突起2が設けられた端部とは反対側の端部は突出板16に当接しているから、研削突起2による微小突起34の研削除去時に、テープ基体1に図10紙面左方への力が作用するが、テープ基体1の左方への移動は突出板16によって阻止される。
In this case, since the fine
つぎに、昇降装置56により支持ピン21(微小突起除去部23)を図10(a)に示す高さより多少上方まで上昇させたのち、θモータ14によりθステージ13を駆動することにより、微小突起除去部23を退避させた状態とし、この後昇降装置56により対物レンズ12の焦点高さまで観察部58、微小突起除去部23を下降する。
Next, the support pin 21 (microprojection removing portion 23) is raised to a position slightly higher than the height shown in FIG. 10A by the elevating
つぎに、記憶手段に記憶された位置に基づいて、移動装置57により観察部58を移動し、表示装置59の画面内に次の研削対象である微小突起34が表示された状態とする。以下、上記と同様の工程を行なう。
Next, based on the position memorize | stored in the memory | storage means, the
なお、研削突起2が磨耗したときには、巻取装置17により微小突起除去テープ10の一端を巻き取って、微小突起除去テープ10をその長さ方向に移動し、磨耗した研削突起2の隣の研削突起2を図6に示す位置にすることにより、その研削突起2を使用可能な状態にする。このようにして、次々に研削突起2を使用し、微小突起除去テープ10に設けられた全ての研削突起2を使用したのちに、新たな微小突起除去テープ10と交換する。
When the grinding
このような微小突起除去装置、微小突起除去方法においては、微小突起除去テープ10により微小突起34を研削しているから、微小突起34の高さに応じて微小突起除去テープ10の下降量を決定しなくともよいので、微小突起34の高さを測定する必要がない。すなわち、微小突起34の高さにかかわらず、研削突起2を微小突起34の近傍に位置させたのち、移動装置57により研削突起2を移動させて、研削突起2により微小突起34を研削除去するから、微小突起34の高さを測定する必要がない。このため、微小突起除去作業に要する時間が短くなる。
In such a microprojection removal apparatus and microprojection removal method, since the
また、上述の微小突起除去装置、微小突起除去方法においては、微小突起除去テープ10を微小突起34に押圧しないから、液晶カラーフィルタ基板31が変形しない状態とするために、液晶カラーフィルタ基板31を表面が平面状の載置台に吸着させる必要がない。すなわち、液晶カラーフィルタ基板31を載置台に載置したのちに、載置台と液晶カラーフィルタ基板31との間の空気を吸引して、液晶カラーフィルタ基板31を載置台に吸着させる必要がなく、また微小突起34を除去した液晶カラーフィルタ基板31を載置台から排出するときに、載置台と液晶カラーフィルタ基板31との間に空気を供給して、液晶カラーフィルタ基板31が載置台に吸着されない状態とする必要がない。このため、微小突起除去作業に要する時間が短くなる。
Further, in the above-described microprojection removal apparatus and microprojection removal method, since the
また、上述の微小突起除去装置においては、取付部11にθステージ13を介して微小突起除去部23を取り付けているから、微小突起除去部23を退避した状態とすることができるので、表示装置59の画面に微小突起除去テープ10が表示されない状態とすることができる。
Further, in the above-described microprojection removal apparatus, since the
また、上述の微小突起除去方法においては、微小突起除去テープ10をU字型に曲げ、研削突起2を液晶カラーフィルタ基板31の表面に接触させた状態で、研削突起2を液晶カラーフィルタ基板31の表面と平行に移動させ、研削突起2により微小突起34に剪断力を作用させて、微小突起34を研削除去するから、液晶カラーフィルタ基板31の表面に接触するのは研削突起2だけであるので、液晶カラーフィルタ基板31の表面の微小突起34の周辺部が損傷するのを防止することができる。
Further, in the above-described microprojection removal method, the
また、上述の微小突起除去方法においては、微小突起除去テープ10の研削突起2が設けられた端部とは反対側の端部は突出板16に当接しているから、研削突起2による微小突起34の研削除去時に、テープ基体1の移動を突出板16によって阻止することができ、しかも研削突起2が磨耗したときに、微小突起除去テープ10をその長さ方向に移動して、他の研削突起2を使用可能な状態にすることができる。
Further, in the above-described microprojection removal method, since the end of the
また、上述の微小突起除去方法においては、支持ピン21を対物レンズ12の光軸と直角な面に対して30°傾斜させ、画像処理によりテープ基体1の突出側端部の位置の移動量を検出しながら、昇降装置56により支持ピン21(微小突起除去部23)を下降し、上記移動量が所定値になったときに、昇降装置56による支持ピン21(微小突起除去部23)の下降を停止するから、容易にかつ確実に研削突起2の下面が液晶カラーフィルタ基板31に接触した状態とすることができる。この結果、研削突起2の移動により、研削突起2で微小突起34を確実に研削除去することができる。
Further, in the above-described microprojection removal method, the
また、上述の微小突起除去方法においては、昇降装置56により微小突起除去部23を図10(a)に示す高さより多少上方まで上昇させたのち、θステージ13、θモータ14により微小突起除去部23を退避させた状態とし、この後対物レンズ12の焦点高さまで観察部58、微小突起除去部23を下降しているから、研削突起2が液晶カラーフィルタ基板に接触するのを防止することができる。
Further, in the above-described microprojection removal method, the
また、従来のように、研磨テープにより微小突起を研磨除去するときには、研磨範囲がたとえば200μmと広くなるが、上述の微小突起除去装置、微小突起除去方法においては、研削突起2の縦横寸法をたとえば50μmと小さくすることができるから、液晶カラーフィルタ基板31に設けられたフォトスペーサ(PS)の近くに微小突起34が存在する場合にも、微小突起34を研削除去することができる。
Further, as in the prior art, when the fine protrusions are polished and removed by the polishing tape, the polishing range is widened to, for example, 200 μm. However, in the above-described fine protrusion removal apparatus and fine protrusion removal method, Since it can be as small as 50 μm, even when the
また、従来のように、液晶カラーフィルタ基板を載置台に吸着させるときには、液晶カラーフィルタ基板を載置台に載置するためのロボットハンドが載置台上を移動するから、ロボットハンドが載置台上に存在するときに、誤動作により微小突起除去装置を移動させたときには、微小突起除去装置がロボットハンドと衝突して、微小突起除去装置が損傷することがある。これに対して、図7に示すように、液晶カラーフィルタ基板31を複数の載置ピン32上に載置し、吸着パッド33で吸引することにより、液晶カラーフィルタ基板31を固定したときには、液晶カラーフィルタ基板31を載置ピン32上に載置するためのロボットハンド35を載置ピン32の上端よりも下方に移動させることができるから、ロボットハンド35が載置ピン32の近傍に存在するときに、誤動作により微小突起除去部23を移動させたとしても、微小突起除去部23がロボットハンド35と衝突することがないので、微小突起除去部23が損傷することがない。
In addition, when the liquid crystal color filter substrate is attracted to the mounting table as in the past, the robot hand for mounting the liquid crystal color filter substrate on the mounting table moves on the mounting table, so the robot hand is placed on the mounting table. If the microprojection removing device is moved due to a malfunction when it exists, the microprojection removing device may collide with the robot hand and damage the microprojection removing device. On the other hand, as shown in FIG. 7, when the liquid crystal
また、上述の微小突起除去装置においては、オペレータが観察装置により微小突起34の研削状態を観察することができるから、研削のこりがあった場合でも、表示装置59の画面を見ながら手動操作により、研削修正作業を行なうことができる。
Further, in the above-described microprojection removal apparatus, since the operator can observe the grinding state of the
また、上述の微小突起除去テープ10においては、微小突起除去テープ10を連続的に移送せず、かつ1つの研削突起2で多数の微小突起34を除去することができ、しかもテープ基体1に複数の研削突起2を設けているから、微小突起除去テープ10の交換頻度が少なくなる。
Further, in the above-described
図11は本発明に係る他の微小突起除去装置の一部を示す概略図である。図に示すように、取付部11に直動ステージ41が取り付けられ、直動ステージ41は駆動装置42によって駆動される。また、直動ステージ41の可動部41aは対物レンズ12の光軸に対して60°傾斜した方向に移動し、直動ステージ41の可動部41aに支持体15が取り付けられている。すなわち、微小突起除去部23は直動ステージ41を介して取付部11に取り付けられている。そして、その他の構成は図2〜図6に示した微小突起除去装置の構成と同様である。
FIG. 11 is a schematic view showing a part of another microprojection removing apparatus according to the present invention. As shown in the figure, a
図11に示した微小突起除去装置を使用した本発明に係る微小突起除去方法においては、液晶カラーフィルタ基板31を所定位置に固定したのち、駆動装置42により直動ステージ41を駆動することにより、支持ピン21を図11に示した位置よりも紙面左方でかつ上方に位置させた状態すなわち微小突起除去部23を取付部11に対して退避位置に退避させた状態とし、記憶手段に記憶された位置に基づいて、移動装置57により観察部58を移動する。
In the microprojection removal method according to the present invention using the microprojection removal apparatus shown in FIG. 11, after the liquid crystal
また、図9(b)に示すように、表示装置59の画面内の紙面上下方向の中央部で、紙面左右方向の右よりに微小突起34を位置させ、昇降装置56により微小突起除去部23を多少上昇させたのち、駆動装置42により直動ステージ41を駆動することにより、支持ピン21(微小突起除去部23)を取付部11に対して図11に示した研削位置に戻した状態とし、この後昇降装置56により対物レンズ12の焦点高さまで観察部58、微小突起除去部23を下降する。
Further, as shown in FIG. 9B, the
また、研削突起2により微小突起34を研削除去し、昇降装置56により支持ピン21(微小突起除去部23)を図10(a)に示す高さより多少上方まで上昇させたのち、駆動装置42により直動ステージ41を駆動することにより、微小突起除去部23を退避させた状態とし、この後昇降装置56により対物レンズ12の焦点高さまで観察部58、微小突起除去部23を下降する。
Further, the
このように、図2〜図6に示した微小突起除去装置を使用した微小突起除去方法においては、θモータ14によりθステージ13を駆動することにより、微小突起除去部23を取付部11に対して研削位置と退避位置とに移動したが、図8に示した微小突起除去装置を使用した微小突起除去方法においては、駆動装置42により直動ステージ41を駆動することにより、微小突起除去部23を取付部11に対して研削位置と退避位置とに移動しており、その他の工程は図2〜図6に示した微小突起除去装置を使用した微小突起除去方法と同様である。
As described above, in the microprojection removal method using the microprojection removal apparatus shown in FIGS. 2 to 6, the
また、図11に示した微小突起除去装置、図11に示した微小突起除去装置を使用した微小突起除去方法においても、図2〜図6に示した微小突起除去装置、図2〜図6に示した微小突起除去装置を使用した微小突起除去方法と同様の効果を奏する。 Also, in the microprojection removal method using the microprojection removal apparatus shown in FIG. 11 and the microprojection removal apparatus shown in FIG. 11, the microprojection removal apparatus shown in FIGS. The same effect as the method for removing microprojections using the microprojection removing apparatus shown is obtained.
図12は本発明に係る他の微小突起除去テープの一部を示す図であり、(b)は(a)のD−D断面図である。図に示すように、テープ基体1の端部の研削突起2が設けられた部分の両側にそれぞれ凹部1aが設けられている。
FIG. 12 is a view showing a part of another microprojection removal tape according to the present invention, and (b) is a sectional view taken along the line DD of (a). As shown in the figure, recesses 1a are provided on both sides of the portion of the
図12に示した微小突起除去テープを使用したときには、研削突起2が液晶カラーフィルタ基板31の表面に接触したときに、図13に示すように、テープ基体1の凹部1aに隣接する角部1bが自重によって下方に変形するから、角部1bも液晶カラーフィルタ基板31の表面に接触した状態となるので、研削突起2が液晶カラーフィルタ基板31の表面に対して平行となるように保つことができる。
When the fine protrusion removing tape shown in FIG. 12 is used, when the grinding
なお、上述実施の形態においては、平板状の被修正体が液晶カラーフィルタ基板31の場合について説明したが、平板状の被修正体は液晶カラーフィルタ基板31に限定されない。
In the above-described embodiment, the case where the flat plate-shaped corrected body is the liquid crystal
また、上述実施の形態においては、微小突起除去部23を退避させた状態にする退避手段としてθステージ13およびθモータ14あるいは直動ステージ41および駆動装置42を用いたが、退避手段はこれらに限定されない。すなわち、取付部に微小突起除去部を退避させた状態にする退避手段を介して微小突起除去部を取り付ければよい。
In the above-described embodiment, the
また、上述実施の形態においては、取付部11にθステージ13または直動ステージ41を介して微小突起除去部23(支持体15)を取り付けたが、取付部11に回転機構を介してθステージ13または直動ステージ41を取り付けることにより、微小突起除去部23を対物レンズ12の光軸を中心に回転することができるようにすれば、研削突起2の向きを変更することができるから、液晶カラーフィルタ基板31に設けられたフォトスペーサの近傍に微小突起34が存在する場合にも、フォトスペーサを回避しながら微小突起34を研削除去することができ、また液晶カラーフィルタ基板31に長尺状の微小突起が存在する場合にも、研削突起2の向きを変更しながら、長尺状の微小突起に追従して研磨突起2を移動することにより、長尺状の微小突起34を研削除去することができる。
In the above-described embodiment, the minute protrusion removing unit 23 (support 15) is attached to the
また、上述実施の形態においては、液晶カラーフィルタ基板31を複数の載置ピン32上に載置し、吸着パッド33で吸引することにより、液晶カラーフィルタ基板31を所定位置に固定したが、液晶カラーフィルタ基板31をガラスステージ上に載置してもよい。この場合、研削突起2により微小突起34を研削除去するから、液晶カラーフィルタ基板31をガラスステージに吸着させる必要はない。したがって、本発明においては、平板状の被修正体を載置する載置部は表面が平面状の載置台に限定されない。
Further, in the above-described embodiment, the liquid crystal
また、上述実施の形態においては、支持体15、突出板16を対物レンズ12の光軸に対して30°傾斜させて、テープ基体1の最下部を液晶カラーフィルタ基板31の表面に対して30°傾斜させたが、支持体15、突出板16を対物レンズ12の光軸に対して15〜45°傾斜させて、テープ基体1の最下部を液晶カラーフィルタ基板31の表面に対して15〜45°傾斜させてもよい。
In the above embodiment, the
また、上述実施の形態においては、吸引装置により研削突起2の近傍部分を吸引することにより、微小突起を研削することにより生じた削りカスを吸引除去したが、微小突起を研削することにより生じた削りカスを空気噴出装置により吹き飛ばしてもよい。
Further, in the above-described embodiment, the scraps generated by grinding the fine protrusions are sucked and removed by sucking the vicinity of the grinding
また、上述実施の形態においては、微小突起除去テープ10のテープ基体1に複数の研削突起2を設けたが、テープ基体1に1個の研削突起2を設けてもよい。この場合、突出板に微小突起除去テープを着脱可能に取り付ける。
In the above-described embodiment, the plurality of grinding
また、上述実施の形態においては、ポリイミドからなるテープ基体1を用いたが、テープ基体の材質はポリイミド以外のものでもよい。
In the above embodiment, the
また、上述実施の形態においては、テープ基体1の幅寸法を約10mm、厚さを50〜200μmとし、研削突起2の厚さを2μm、縦横寸法を50μmとしたが、テープ基体1、研削突起2の寸法は上記寸法に限定されない。
In the above embodiment, the width of the
また、研削突起2がテープ基体1の端部から突出して形成されたとしても、研削突起2により微小突起34を研削除去することができれば、問題はない。
Even if the grinding
1…テープ基体
1a…凹部
2…研削突起
10…微小突起除去テープ
11…取付部
12…対物レンズ
13…θステージ
14…θモータ
15…支持体
16…突出板
17…巻取装置
18…突出ピン
19…バネ
20…案内ピン
21…支持ピン
23…微小突起除去部
41…直動ステージ
42…駆動装置
57…移動装置
58…観察部
59…表示装置
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記微小突起を観察する観察装置と、
前記観察装置の観察部を前記被修正体上の任意の位置に移動する移動装置と、
前記移動装置の取付部に取り付けられた微小突起除去部と、
前記微小突起除去部に前記被修正体の表面に対して傾斜するように取り付けられ、かつテープ基体の幅方向の一方端部に前記微小突起よりも硬質な硬質材料からなる研削突起を設けた微小突起除去テープとを備えていることを特徴とする微小突起除去装置。 A microprojection removing device that removes microprojections adhering to a flat plate-shaped object,
An observation device for observing the microprojections;
A moving device that moves the observation unit of the observation device to an arbitrary position on the object to be corrected;
A microprojection removing part attached to the attaching part of the moving device;
A micro projection provided with a grinding projection made of a hard material harder than the micro projection on one end portion in the width direction of the tape base is attached to the micro projection removal portion so as to be inclined with respect to the surface of the object to be corrected. A microprojection removing apparatus comprising a projection removing tape.
テープ基体の幅方向の一方端部に前記微小突起よりも硬質な硬質材料からなる研削突起を設けた微小突起除去テープをU字型に曲げ、前記研削突起を前記被修正体の表面に接触させた状態で、前記研削突起を移動させ、前記研削突起により前記微小突起に剪断力を作用させて、前記微小突起を研削除去する
ことを特徴とする微小突起除去方法。 A microprojection removal method for removing microprojections adhering to a flat plate-shaped object,
A fine protrusion removing tape having a grinding protrusion made of a hard material harder than the fine protrusion at one end in the width direction of the tape base is bent into a U shape, and the ground protrusion is brought into contact with the surface of the object to be corrected. A method of removing a microprojection, wherein the grinding projection is moved in a state where the grinding projection is moved, and a shearing force is applied to the microprojection by the grinding projection to grind and remove the microprojection.
テープ基体の幅方向の一方端部に前記微小突起よりも硬質な硬質材料からなる研削突起を設けた
ことを特徴とする微小突起除去テープ。 A microprojection removal tape for use in the microprojection removal apparatus according to claim 1 or 2, which removes microprojections attached to a flat plate-shaped object,
A microprojection removal tape, wherein a grinding projection made of a hard material harder than the microprojection is provided at one end in the width direction of the tape base.
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