JP5392786B2 - 空孔構造試験装置およびその方法 - Google Patents
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- 空孔構造を有する被測定光ファイバの一端に任意のパルス幅および送出周期を有するパルス光を入射する送信部と、
前記被測定光ファイバの一端から出射する後方散乱光より任意の偏光成分を切り出すことで当該被測定光ファイバ中で発生した導波音響波型ブリルアン散乱による散乱光成分を取り出し、電気信号に変換して所定の周波数の正弦波信号と混合した後、得られた前記導波音響波型ブリルアン散乱光の時間波形の2乗平均を行う受信部とを有し、
前記導波音響波型ブリルアン散乱光の固有周波数の変化量をもって、前記被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における空孔構造の変化を検出する
ことを特徴とする空孔構造試験装置。 - 前記送信部は、一定以上の強さを有する連続的な光波を発生する光源と、任意の幅および周期を有するパルス信号を発生するパルス発生器と、光源から出射された光波をパルス発生器からのパルス信号で変調し、パルス光として出力する変調器と、変調器からのパルス光を被測定光ファイバの一端に入射するとともに、当該被測定光ファイバの一端から出射される光を受信部へ入射する方向性結合器とを少なくとも備え、
前記受信部は、被測定光ファイバの一端から出射する光より任意の偏光成分を切り出す偏光子と、偏光子で切り出された任意の偏光成分の光信号を電気信号に変換する受光器と、所定の周波数の電気信号を発生する発振器と、受光器で変換された電気信号と発振器から出力された電気信号とを混合するミキサと、ミキサから出力された電気信号の時間波形に対して2乗平均処理を行い、被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における後方散乱光強度を取得する平均化処理部とを少なくとも備えた
ことを特徴とする請求項1に記載の空孔構造試験装置。 - 送信部において被測定光ファイバの一端に入射する光パルスの偏光面を制御する偏波制御器を設け、
偏光面が90°異なる光波を入力した際の前記導波音響波型ブリルアン散乱光の散乱光強度の比より被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における空孔構造の変化を検出する
ことを特徴とする請求項1に記載の空孔構造試験装置。 - 送信部において光源からの光波の一部を分波する光分波器を設け、
分波した光波を参照光として被測定光ファイバからの後方散乱光と合波して受光器に入射しヘテロダイン検波を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の空孔構造試験装置。 - 受信部において送信部からの参照光の偏光面を制御する偏波制御器を設け、
参照光の偏光面と偏光子通過後の後方散乱光の偏光面とを一致させる
ことを特徴とする請求項4に記載の空孔構造試験装置。 - 空孔構造を有する被測定光ファイバの一端に任意のパルス幅および送出周期を有するパルス光を入射し、
前記被測定光ファイバの一端から出射する後方散乱光より任意の偏光成分を切り出すことで当該被測定光ファイバ中で発生した導波音響波型ブリルアン散乱による散乱光成分を取り出し、
前記取り出した散乱光成分を電気信号に変換して所定の周波数の正弦波信号と混合し、
得られた前記導波音響波型ブリルアン散乱光の時間波形の2乗平均を行い、
前記導波音響波型ブリルアン散乱光の固有周波数の変化量をもって、前記被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における空孔構造の変化を検出する
ことを特徴とする空孔構造試験方法。
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