JP5381148B2 - 計測装置、および計測方法 - Google Patents
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Description
前記設定された計測時間ごとに前記入力されたセンサー信号の波数をカウントして、カウント値をディジタル出力するA/D変換回路と、前記設定された計測時間に基づき、前記ディジタル出力されたカウント値を温度に変換する変換処理部と、を備え、前記温度に応じた波形は、温度により周波数が異なる波形であり、前記計測時間設定部は、前記A/D変換回路によりカウントされるカウント値が、前記A/D変換回路によってカウント可能な範囲内に収まるように、前記計測時間を制御し、前記計測時間の変更は、温度上昇時には第1の閾値により判断され、温度下降時には前記第1の閾値とは異なる値の第2の閾値により判断されることを特徴とする。
第1実施例では、抵抗変化型センサーを用いて温度や湿度等の物理量計測を行う計測装置の一例として、マイクロコンピューターについて説明する。なお、抵抗変化型センサーは、外部から受けた物理量に応じて抵抗が変化する特性を有しており、この特性を利用して物理量を検出するために用いられる。抵抗変化型センサーの具体例としては、温度を検出する温度センサーや、湿度を検出する湿度センサー等を挙げることができるが、以下の説明では、温度が上昇すると抵抗が低くなり、温度が下降すると抵抗が高くなる温度センサーを用いることとする。
上記第1実施例では、計測時間設定部100は、計測カウンター値と閾値とを比較して、計測時間を変更するようにしたが、第2実施例では、変換処理後の計測値の値に応じて計測時間を変更する。
上記第1実施例および第2実施例では、計測時間を変更した場合に、使用する変換テーブルを切り替えることによって、変更した計測時間に対応した変換処理を行うようにしたが、変換テーブルを用いることなく、所定の変換式に従う演算によって、計測時間に応じて計測カウント値を計測値に変換するようにしてもよい。
上記第1実施例および第2実施例では、計測時間設定部100,101、カウント値−計測値変換処理部110、およびLPF処理部120の機能をソフトウェアによって実現する例について説明したが、これらの全ての機能、または一部の機能をハードウェアで実現する構成としてもよい。
上記第1実施例および第2実施例では、計測装置の一例として、RFC50を備えたマイクロコンピューター1,1’について説明したが、計測装置としてはこれに限られない。例えば、RFC50を外付けの構成としたマイクロコンピューター、抵抗変化型センサーに接続して使用される計測機器等の装置としてもよい。
Claims (6)
- 温度に応じた波形を有するセンサー信号の入力を受けるセンサー信号入力部と、
計測時間を設定する計測時間設定部と、
前記設定された計測時間ごとに前記入力されたセンサー信号の波数をカウントして、カウント値をディジタル出力するA/D変換回路と、
前記設定された計測時間に基づき、前記ディジタル出力されたカウント値を温度に変換する変換処理部と、を備え、
前記温度に応じた波形は、温度により周波数が異なる波形であり、
前記計測時間設定部は、前記A/D変換回路によりカウントされるカウント値が、前記A/D変換回路によってカウント可能な範囲内に収まるように、前記計測時間を制御し、
前記計測時間の変更は、温度上昇時には第1の閾値により判断され、温度下降時には前記第1の閾値とは異なる値の第2の閾値により判断されることを特徴とする計測装置。 - 請求項1に記載の計測装置において、
前記計測時間設定部は、前記A/D変換回路によりカウントされるカウント値が、前記A/D変換回路によってカウント可能な範囲の下限値より小さい値となる可能性がある場合に、前記計測時間を延長し、
前記A/D変換回路によりカウントされるカウント値が、前記A/D変換回路によってカウント可能な範囲の上限値より大きい値となる可能性がある場合に、前記計測時間を短縮することを特徴とする計測装置。 - 請求項1または2に記載の計測装置において、
前記計測時間設定部によって設定される計測時間の候補である複数の計測時間のそれぞれについて、前記ディジタル出力されるカウント値と温度との対応関係を予め示した変換テーブルをさらに備え、
前記変換処理部は、前記変換テーブルに従って、前記設定された計測時間に対応した変換処理を行うことを特徴とする計測装置。 - 請求項1ないし3のいずれか一項に記載の計測装置において、
前記計測時間設定部は、前記ディジタル出力されたカウント値、または前記変換された温度のいずれかの値と、前記A/D変換回路によってカウント可能な範囲に対応させた所定の閾値との比較に基づいて、前記計測時間の設定を変更し、
前記A/D変換回路から次々に出力されるカウント値、または前記次々に変換される温度が逓増する場合に前記計測時間設定部が使用する閾値と、
前記A/D変換回路から次々に出力されるカウント値、または前記次々に変換される温度が逓減する場合に前記計測時間設定部が使用する閾値と、が異なることを特徴とする計測装置。 - 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の計測装置において、
前記変換処理部は、前記A/D変換回路から次々に出力されるカウント値に対して変換処理を順次行い、
順次変換される温度の値に対して移動平均の処理を施す移動平均処理部をさらに備えることを特徴とする計測装置。 - 温度に応じた波形を有するセンサー信号の入力を受けるステップと、
計測時間を設定するステップと、
温度に応じた波形を有するセンサー信号の波数を、前記設定された計測時間ごとにカウントし、カウント値をディジタル出力するステップと、
前記設定された計測時間に基づき、前記ディジタル出力されたカウント値を温度に変換するステップと、を含み、
前記温度に応じた波形は、温度により周波数が異なる波形であり、
前記計測時間を設定するステップにおいて、前記ディジタル出力するカウント値が、カウント可能な範囲内に収まるように、前記計測時間を制御し、
前記計測時間の変更は、温度上昇時には第1の閾値により判断され、温度下降時には前記第1の閾値とは異なる値の第2の閾値により判断されることを特徴とする計測方法。
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