JP5331626B2 - 単結晶シリコンの製造装置及び単結晶シリコンの製造方法 - Google Patents
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- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 67
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 48
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 42
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 42
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 42
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 20
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 29
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 29
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 11
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 10
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 10
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 6
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 3
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
このような太陽電池モジュールの普及に伴い、半導体の素材となる単結晶シリコンインゴットの需要が高まっている。
よって、シリコン原料の溶解時間及び坩堝周辺の冷却時間をともに短縮することが可能となり、単結晶シリコンの製造サイクル時間を大幅に短縮することができ、単結晶シリコンの製造量の増加を図ることができる。
この場合、反射板の坩堝側に積層配置されたシャッタ部材をスライド移動させることによって、反射板の露出面積を簡単に、かつ、確実に調整することが可能となる。
この場合、第2の反射板によって熱を反射することにより、坩堝の底部からの熱の放散を防止して、シリコン原料の溶解時間の短縮及び電力コストの削減を図ることができる。また、坩堝周辺を冷却する際には、第2の反射板の露出面積を小さくすることによって、坩堝周辺の熱が第2の反射板によって反射されることを防止して、熱の放散を促進することができ、坩堝周辺の冷却時間を短縮することが可能となる。
本実施形態である単結晶シリコンの製造装置10においては、図1に示すように、耐圧気密に構成されたチャンバ11と、シリコン融液Mが貯留される石英坩堝20と、この石英坩堝20を支持する坩堝支持台22と、石英坩堝20を加熱する加熱ヒータ40と、石英坩堝20の周囲を包囲する保温筒部50と、種結晶(シード)を保持するシードチャック27と、このシードチャック27を駆動するシードチャック駆動機構30と、を備えている。
プルチャンバ19は、略円筒形状に形成され、引き上げられた単結晶シリコンTを収納する空間を有しており、トップチャンバ18によってメインチャンバ12と接続されている。
シードチャック27は、基端側がワイヤWに接続され、ワイヤWがシードチャック駆動機構30に接続されることにより、シードSがメインチャンバ12に対して相対的に回転及び昇降自在とされている。
黒鉛サセプタ21は、坩堝支持台22の上面に配置されたペディスタル24に保持されることにより一体に組み合わせて形成されている。坩堝支持台22はその支持軸23がメインチャンバ12の底部13の中心部にて底部13及びスピルトレイ16を貫通して形成された貫通孔14に挿入されており、支持軸23に接続された駆動モータ25によって、メインチャンバ12に対して相対的に回転及び昇降が可能とされている。
加熱ヒータ40は、下方が電極継手41にボルト42で固定され、電極継手41はスピルトレイ16に形成された貫通孔に配置された黒鉛電極43を介して図示しない電源と接続されている。
また、保温筒部50の上端にはアッパリング46、アダプタ47を介してフロー管48が取り付けられている。このフロー管48は、下端開口部より上端開口部が大径とされた逆円錐台形状の中空筒とされ、黒鉛またはSiCにより形成されている。
第1反射板52は、例えば金属光沢のあるステンレス板で構成されており、保温筒部50の内周側の熱を反射するように構成されている。
第1シャッタ部材53は、図5及び図6に示すように二重構造とされており、外周側に配設された固定筒54と、固定筒54の内周側に積層配置され、固定筒54に対して摺動移動可能なスライド筒55と、を備えている。このスライド筒55が固定筒54に対してスライド移動することによって、第1反射板52の露出面積が調整される構成とされている。
第2シャッタ部材63は、固定板64とこの固定板64の上方に積層配置されたスライド板65と、を備えており、スライド板65が固定板64に対してスライド移動することによって、第2反射板62の露出面積が調整される構成とされている。
まず、原料となる塊状の多結晶シリコンを石英坩堝20に充填し、加熱ヒータ40で石英坩堝20を加熱して多結晶シリコンを溶解して1420℃のシリコン融液Mとし、シードSを浸漬する部分近傍のシリコン融液Mを過冷却状態とする。
このとき、第1シャッタ部材53は、図3及び図5に示すように、固定筒54の内周側にスライド筒55が積層されるように配置され、第1反射板52の露出面積が大きく設定される。また、第2シャッタ部材63は、図7に示すように、固定板64の上にスライド板65が位置するように配置され、第2反射板62の露出面積が大きく設定されることになる。
そして、シードSがシリコン融液Mになじんだら、シードチャック27を、例えば5rpmから15rpmで平面視右回転させながら、0.5mm/分から7.0mm/分の速度で上昇させる。
このとき、石英坩堝20は、例えば0.2rpmから6.0rpmで平面視左回転されている。
このとき、第1シャッタ部材53は、図4及び図6に示すように、固定筒54の内周側に積層配置されていたスライド筒55がスライド移動されて、第1反射板52の露出面積が小さく設定されることになる。また、第2シャッタ部材63は、図8に示すように、固定板64の上に配置されていたスライド板65がスライド移動され、第2反射板62の露出面積が小さく設定されることになる。
よって、多結晶シリコン(シリコン原料)の溶解時間及び石英坩堝20周辺の冷却時間を、ともに短縮することが可能となり、単結晶シリコンTの製造サイクル時間を大幅に短縮することができ、単結晶シリコンTの製造量の増加を図ることができる。
例えば、第1反射板及び第2反射板として、ステンレス板からなるものとして説明したが、これに限定されることはなく、他の金属板等の熱を反射するものであれば良い。特に、モリブデン(Mo)板やタンタル(Ta)板は、耐熱性が良好なため、反射板として適している。
さらに、チャンバ、シードチャック及びシードチャック駆動機構の構成は、本実施形態に記載されたものに限定されることはなく、適宜設計変更してもよい。
11 チャンバ(気密チャンバ)
20 石英坩堝(坩堝)
40 加熱ヒータ
50 保温筒部
52 第1反射板(反射板)
53 第1シャッタ部材(シャッタ部材/反射板露出面積調整手段)
62 第2反射板(第2の反射板)
63 第2シャッタ部材(シャッタ部材/第2の反射板露出面積調整手段)
Claims (4)
- チャンバ内に配置された坩堝に貯留したシリコン融液にシードを浸漬し、前記シードを引き上げて単結晶シリコンを成長させる単結晶シリコンの製造装置であって、
前記坩堝の外周側を包囲する保温筒部と、この保温筒部の内周側に設けられた加熱ヒータと、を備えており、
前記保温筒部には、熱を反射する反射板と、この反射板の露出面積を調整する反射板露出面積調整手段と、が設けられていることを特徴とする単結晶シリコンの製造装置。 - 前記反射板露出面積調整手段は、前記反射板の前記坩堝側に積層配置され、スライド移動することによって前記反射板の露出面積を調整するシャッタ部材であることを特徴とする請求項1に記載の単結晶シリコンの製造装置。
- 前記保温筒部の下部には、前記坩堝の底部からの熱を反射する第2の反射板と、この第2の反射板の露出面積を調整する第2の反射板露出面積調整手段と、が設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の単結晶シリコンの製造装置。
- チャンバ内に配置された坩堝に貯留したシリコン融液にシードを浸漬し、前記シードを引き上げて単結晶シリコンを成長させる単結晶シリコンの製造方法であって、
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の単結晶シリコンの製造装置を用いて、前記坩堝内に収容されたシリコン原料を溶融させる場合には、前記反射板露出面積調整手段によって前記反射板の露出面積を大きく設定し、
前記単結晶シリコンの引き上げが終了した後に前記坩堝周辺を冷却する場合には、前記反射板露出面積調整手段によって前記反射板の露出面積を小さく設定することを特徴とする単結晶シリコンの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009206099A JP5331626B2 (ja) | 2009-09-07 | 2009-09-07 | 単結晶シリコンの製造装置及び単結晶シリコンの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009206099A JP5331626B2 (ja) | 2009-09-07 | 2009-09-07 | 単結晶シリコンの製造装置及び単結晶シリコンの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011057470A JP2011057470A (ja) | 2011-03-24 |
JP5331626B2 true JP5331626B2 (ja) | 2013-10-30 |
Family
ID=43945568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009206099A Active JP5331626B2 (ja) | 2009-09-07 | 2009-09-07 | 単結晶シリコンの製造装置及び単結晶シリコンの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5331626B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101644063B1 (ko) * | 2015-03-11 | 2016-07-29 | 주식회사 사파이어테크놀로지 | 반사판을 갖는 단결정 성장장치 및 성장방법 |
CN115386948A (zh) * | 2022-09-26 | 2022-11-25 | 徐州鑫晶半导体科技有限公司 | 单晶生长炉和晶体生长方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0891980A (ja) * | 1994-09-20 | 1996-04-09 | Mitsubishi Materials Corp | 単結晶育成装置 |
JP3531333B2 (ja) * | 1996-02-14 | 2004-05-31 | 信越半導体株式会社 | チョクラルスキー法による結晶製造装置、結晶製造方法、およびこの方法から製造される結晶 |
JPH11255575A (ja) * | 1998-03-12 | 1999-09-21 | Super Silicon Kenkyusho:Kk | 単結晶引上げ装置及びその冷却方法 |
JP3428624B2 (ja) * | 1998-06-12 | 2003-07-22 | 三菱住友シリコン株式会社 | シリコン単結晶の引上げ方法 |
JP4235282B2 (ja) * | 1998-07-31 | 2009-03-11 | 信越半導体株式会社 | 結晶引き上げ装置および結晶引き上げ方法 |
JP3724571B2 (ja) * | 2002-01-17 | 2005-12-07 | 信越半導体株式会社 | シリコン単結晶の製造方法及びシリコン単結晶の製造装置 |
-
2009
- 2009-09-07 JP JP2009206099A patent/JP5331626B2/ja active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101644063B1 (ko) * | 2015-03-11 | 2016-07-29 | 주식회사 사파이어테크놀로지 | 반사판을 갖는 단결정 성장장치 및 성장방법 |
CN115386948A (zh) * | 2022-09-26 | 2022-11-25 | 徐州鑫晶半导体科技有限公司 | 单晶生长炉和晶体生长方法 |
CN115386948B (zh) * | 2022-09-26 | 2024-04-19 | 中环领先(徐州)半导体材料有限公司 | 单晶生长炉和晶体生长方法 |
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---|---|
JP2011057470A (ja) | 2011-03-24 |
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