JP5323536B2 - Circuit board inspection equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To downsize a gripping part while reducing a cost increase. <P>SOLUTION: The circuit board inspection apparatus includes a board holding mechanism having a clamp 12a for gripping a circuit board 100 by a first member 31 and a second member 32, a determination part for determining the closeness of the second member 32 with respect to the first member 31, a sensor 4 for optically detecting the distance L1 to the circuit board 100, a movement mechanism for moving an inspection probe, an inspection unit for performing inspection processing on the basis of an electric signal inputted through the inspection probe, and a control unit for allowing the inspection probe to perform probing on the basis of the distance L1 and allowing the inspection unit to perform inspection processing when it has been determined to be in a close state by the determination unit. The sensor 4 detects a distance L2 to the bottom surface 54 of a recess 53 of the second member 32. The determination unit determines to be in a close state when the distance L2 detected by the sensor 4 is a standard value Ls or longer and determines to be in a non-close state when the distance L2 is shorter than the standard value Ls. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、回路基板を挟持して保持可能な基板保持機構を備えて、その基板保持機構によって保持されている回路基板に対して所定の検査処理を実行する回路基板検査装置に関するものである。   The present invention relates to a circuit board inspection apparatus that includes a board holding mechanism capable of holding and holding a circuit board, and that performs a predetermined inspection process on the circuit board held by the board holding mechanism.

この種の回路基板検査装置として、特開2007−121183号公報において出願人が開示した回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置は、載置台、X−Y−Z移動機構、プローブ、測定部、操作部、記憶部および制御部を備えて、回路基板に対して所定の検査を実行可能に構成されている。この場合、載置台は、回路基板を載置可能に構成されると共に、例えば、第1部材と第1部材に対して接離する第2部材とで回路基板を挟持する複数の挟持部(クランプ機構)を備えて回路基板を載置台に固定可能に構成されている。この回路基板検査装置では、プローブを移動(プロービング)させるX−Y−Z移動機構にレーザー変位計を取り付けて、そのレーザー変位計から回路基板上の測定点までの距離を測定し、その測定結果に基づいて基準点に対する測定点の高さ方向の相対的位置を特定して、その相対的位置に基づいて測定点の高さ方向の位置情報を補正してプロービングを行う。このため、この回路基板検査装置では、回路基板の反り、変形、厚みのばらつき、および載置台に対する回路基板の傾きが生じていたとしても、各測定点に対してプローブを正確にプロービングさせることが可能となっている。一方、上記のような検査を行う際には、回路基板を載置台に確実に固定する必要がある。このため、出願人は、挟持部の第1部材に対する第2部材の接離に伴ってオン/オフする機械式のスイッチ等を用いて、第1部材に対する第2部材の近接状態(第1部材に対して第2部材が近接している状態)を判別して、近接状態と判別したときに検査を開始する構成を上記の回路基板検査装置に採用している。   As this type of circuit board inspection apparatus, a circuit board inspection apparatus disclosed by the applicant in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-121183 is known. The circuit board inspection apparatus includes a mounting table, an XYZ moving mechanism, a probe, a measurement unit, an operation unit, a storage unit, and a control unit, and is configured to perform a predetermined inspection on the circuit board. Yes. In this case, the mounting table is configured to be capable of mounting the circuit board, and, for example, a plurality of clamping portions (clamps) that clamp the circuit board between the first member and the second member that is in contact with and away from the first member. And a circuit board can be fixed to the mounting table. In this circuit board inspection apparatus, a laser displacement meter is attached to an XYZ moving mechanism for moving the probe (probing), and the distance from the laser displacement meter to a measurement point on the circuit board is measured, and the measurement result The relative position in the height direction of the measurement point is specified based on the reference point, and the position information in the height direction of the measurement point is corrected based on the relative position to perform probing. For this reason, in this circuit board inspection apparatus, even if the circuit board is warped, deformed, thickness variation, and the circuit board is tilted with respect to the mounting table, the probe can be accurately probed at each measurement point. It is possible. On the other hand, when performing the inspection as described above, it is necessary to securely fix the circuit board to the mounting table. For this reason, the applicant uses a mechanical switch or the like that is turned on / off in accordance with the contact and separation of the second member with respect to the first member of the holding portion, and the proximity state of the second member to the first member (first member). The circuit board inspection apparatus employs a configuration in which an inspection is started when it is determined that the second member is in proximity to the other and the proximity state is determined.

特開2007−121183号公報(第5−9頁、第1図)JP 2007-121183 A (page 5-9, FIG. 1)

ところが、出願人が既に開発している上記の回路基板検査装置には、解決すべき以下の課題がある。すなわち、上記の回路基板検査装置では、各挟持部に個別的に取り付けたスイッチによる検出結果に基づいて第1部材に対する第2部材の近接状態を判別している。このため、この回路基板検査装置には、挟持部の構成が複雑となるため、その分、挟持部の製造コスト、ひいては回路基板検査装置の製造コストが上昇するという課題が存在する。また、各挟持部にスイッチを個別的に取り付ける必要があるため、その分、挟持部の小形化が困難となるという課題も存在する。   However, the circuit board inspection apparatus already developed by the applicant has the following problems to be solved. That is, in the above circuit board inspection apparatus, the proximity state of the second member with respect to the first member is determined based on the detection result by the switch individually attached to each clamping part. For this reason, in this circuit board inspection apparatus, since the structure of a clamping part becomes complicated, there exists the subject that the manufacturing cost of a clamping part and by extension, the manufacturing cost of a circuit board inspection apparatus increase correspondingly. Moreover, since it is necessary to attach a switch to each clamping part separately, the subject that size reduction of a clamping part becomes difficult also exists.

本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、コストの上昇を抑えつつ挟持部の小形化を実現し得る回路基板検査装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of such a problem to be solved, and a main object of the present invention is to provide a circuit board inspection apparatus capable of realizing a reduction in the size of the sandwiching portion while suppressing an increase in cost.

上記目的を達成すべく請求項1記載の回路基板検査装置は、第1部材と当該第1部材に対して接離する第2部材とで回路基板を挟持する挟持部を有して当該回路基板を保持可能な基板保持機構と、前記第1部材に対する前記第2部材の近接状態を判別する判別部と、前記基板保持機構によって保持されている前記回路基板までの間の第1距離を光学的に検出する距離検出部と、検査用プローブを移動させる移動機構と、前記検査用プローブを介して入力した電気信号に基づいて前記回路基板に対して所定の検査処理を実行する検査部と、前記判別部によって前記近接状態と判別されたときに前記距離検出部によって検出された前記第1距離に基づいて前記移動機構を制御して前記回路基板に前記検査用プローブを接触させると共に前記検査部に対して前記検査処理を実行させる制御部とを備えた回路基板検査装置であって、前記距離検出部は、前記第2部材における所定部位までの間の第2距離を検出可能に構成され、前記判別部は、前記距離検出部よって検出された前記第2距離が所定の基準値以上のときに前記近接状態と判別し、当該第2距離が前記基準値未満のときに非近接状態と判別する。   In order to achieve the above object, a circuit board inspection apparatus according to claim 1, further comprising a clamping portion that clamps the circuit board between the first member and the second member that is in contact with and away from the first member. A first distance between the substrate holding mechanism capable of holding the first substrate, a determination unit for determining a proximity state of the second member to the first member, and the circuit board held by the substrate holding mechanism. A distance detection unit that detects the movement, a moving mechanism that moves the inspection probe, an inspection unit that performs a predetermined inspection process on the circuit board based on an electrical signal input through the inspection probe, The moving mechanism is controlled based on the first distance detected by the distance detecting unit when the determining unit determines the proximity state, and the inspection probe is brought into contact with the circuit board. A circuit board inspection apparatus including a control unit that executes the inspection process, wherein the distance detection unit is configured to detect a second distance between the second member and a predetermined part, The discriminating unit discriminates the proximity state when the second distance detected by the distance detection unit is greater than or equal to a predetermined reference value, and discriminates the non-proximity state when the second distance is less than the reference value. .

また、請求項2記載の回路基板検査装置は、請求項1記載の回路基板検査装置において、前記第2部材には、前記所定部位としての平坦面が形成されている。   A circuit board inspection apparatus according to a second aspect is the circuit board inspection apparatus according to the first aspect, wherein the second member has a flat surface as the predetermined portion.

また、請求項3記載の回路基板検査装置は、請求項2記載の回路基板検査装置において、前記第2部材には、前記平坦面としての底面を有する凹部が形成され、前記凹部の深さは、前記近接状態において、前記距離検出部から前記底面までの距離と当該距離検出部から前記第2部材の挟持面までの距離とが同一距離となるように規定されている。   The circuit board inspection apparatus according to claim 3 is the circuit board inspection apparatus according to claim 2, wherein the second member is formed with a concave portion having a bottom surface as the flat surface, and the depth of the concave portion is In the proximity state, the distance from the distance detection unit to the bottom surface and the distance from the distance detection unit to the clamping surface of the second member are defined to be the same distance.

また、請求項4記載の回路基板検査装置は、請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査装置において、前記判別部によって前記非近接状態と判別されたときにその旨を報知する報知部を備えている。   Further, the circuit board inspection apparatus according to claim 4 is a notification for notifying the circuit board inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3 when the determination section determines that it is in the non-proximity state. Department.

また、請求項5記載の回路基板検査装置は、請求項1から4のいずれかに記載の回路基板検査装置において、前記制御部は、前記判別部によって前記非近接状態と判別されたときに前記検査部に対して前記検査処理を停止させる。   The circuit board inspection apparatus according to claim 5 is the circuit board inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the control unit determines that the non-proximity state is determined by the determination unit. The inspection process is stopped by the inspection unit.

請求項1記載の回路基板検査装置では、距離検出部によって検出された第2部材の所定部位までの間の第2距離が基準値以上のときに第1部材に対して第2部材が近接している近接状態と判別し、第2距離が基準値未満のときに非近接状態と判別する。つまり、この回路基板検査装置では、検査用プローブを接触させるべき位置の特定に用いる距離検出部を、近接状態の判別にも用いている。このため、この回路基板検査装置によれば、近接状態を判別するための専用のスイッチを挟持部に個別的に取り付ける必要がない分、挟持部の製造コスト、ひいては回路基板検査装置の製造コストを十分に低減することができる。また、挟持部にスイッチを取り付ける必要がない分、挟持部を小形化することができる。また、この回路基板検査装置によれば、光学的に距離を検出する距離検出部によって検出された第2距離に基づいて近接状態を判別しているため、例えば、機械式のスイッチ等を用いて第2部材の近接状態を判別する従来の回路基板検査装置とは異なり、スイッチの誤作動に起因する判別ミスを少なく抑えることができる。   The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the second member approaches the first member when the second distance to the predetermined portion of the second member detected by the distance detection unit is equal to or greater than a reference value. When the second distance is less than the reference value, the non-proximity state is determined. That is, in this circuit board inspection apparatus, the distance detection unit used for specifying the position where the inspection probe should be brought into contact is also used for determining the proximity state. For this reason, according to this circuit board inspection apparatus, since it is not necessary to individually attach a dedicated switch for determining the proximity state to the holding part, the manufacturing cost of the holding part, and hence the manufacturing cost of the circuit board inspection apparatus, can be reduced. It can be sufficiently reduced. In addition, the holding part can be reduced in size because it is not necessary to attach a switch to the holding part. Moreover, according to this circuit board inspection apparatus, since the proximity state is determined based on the second distance detected by the distance detection unit that optically detects the distance, for example, using a mechanical switch or the like. Unlike the conventional circuit board inspection apparatus that determines the proximity state of the second member, it is possible to suppress a determination error due to a malfunction of the switch.

また、請求項2記載の回路基板検査装置によれば、第2部材に所定部位としての平坦面を形成したことにより、距離検出部からその所定部位(つまり平坦面)までの第2距離を正確に検出することができる。   According to the circuit board inspection apparatus of the second aspect, since the flat surface as the predetermined portion is formed on the second member, the second distance from the distance detection unit to the predetermined portion (that is, the flat surface) is accurately determined. Can be detected.

また、請求項3記載の回路基板検査装置によれば、平坦面としての底面を有する凹部を第2部材に形成し、近接状態において距離検出部から底面までの距離と距離検出部から第2部材の挟持面までの距離とが同一距離となるように凹部の深さを規定したことにより、正確に距離を検出できる範囲(検出可能範囲)が狭い範囲に限られている距離検出部を用いる場合であっても、第1距離および第2距離の双方がその検出可能範囲内となるように距離検出部の配置位置を調整することで、第1距離および第2距離の双方を正確に検出することができる。   According to the circuit board inspection apparatus of the third aspect, the recess having a bottom surface as a flat surface is formed in the second member, and the distance from the distance detection unit to the bottom surface and the second member from the distance detection unit in the proximity state. When using a distance detector that has a narrow range that can accurately detect the distance (detectable range) by defining the depth of the recess so that the distance to the clamping surface is the same distance Even so, it is possible to accurately detect both the first distance and the second distance by adjusting the arrangement position of the distance detection unit so that both the first distance and the second distance are within the detectable range. be able to.

また、請求項4記載の回路基板検査装置によれば、判別部によって非近接状態と判別されたときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、第2部材が非近接状態であることに起因して、検査結果が不正確となるおそれのある状態である旨を使用者に確実に認識させることができる。   In addition, according to the circuit board inspection apparatus of the fourth aspect, the second member is in the non-proximity state by including the notification unit that notifies the fact when the determination unit determines that the non-proximity state is detected. Therefore, the user can be surely recognized that the inspection result is in a state that may be inaccurate.

また、請求項5記載の回路基板検査装置によれば、判別部によって非近接状態と判別されたときに制御部が検査部に対して検査処理を停止させることにより、検査結果が不正確となるおそれのある状態での検査の継続を確実に防止することができる。   In addition, according to the circuit board inspection apparatus of the fifth aspect, when the determination unit determines that it is in the non-proximity state, the control unit causes the inspection unit to stop the inspection process, so that the inspection result becomes inaccurate. It is possible to reliably prevent the inspection from continuing in a state where there is a fear.

回路基板検査装置1の構成を示す構成図である。1 is a configuration diagram showing a configuration of a circuit board inspection device 1. FIG. 基板保持機構2の構成を示す構成図である。3 is a configuration diagram showing a configuration of a substrate holding mechanism 2. FIG. 基板保持機構2の平面図である。3 is a plan view of a substrate holding mechanism 2. FIG. 図3におけるA−A線断面図である。It is the sectional view on the AA line in FIG. 回路基板100の検査方法を説明する第1の説明図である。FIG. 5 is a first explanatory view illustrating an inspection method for the circuit board 100. 回路基板100の検査方法を説明する第2の説明図である。FIG. 6 is a second explanatory view for explaining an inspection method for the circuit board 100. 回路基板100の検査方法を説明する第3の説明図である。FIG. 10 is a third explanatory diagram illustrating an inspection method for the circuit board 100.

以下、本発明に係る回路基板検査装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。   Embodiments of a circuit board inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

最初に、図1に示す回路基板検査装置1の構成について説明する。回路基板検査装置1は、本発明に係る回路板検査装置の一例であって、同図に示すように、基板保持機構2、移動機構3、センサ4、検査部5、操作部6、記憶部7、表示部8および制御部9を備えて、例えば、図3,4に示す回路基板100に対して所定の電気的検査を実行可能に構成されている。   First, the configuration of the circuit board inspection apparatus 1 shown in FIG. 1 will be described. A circuit board inspection apparatus 1 is an example of a circuit board inspection apparatus according to the present invention, and as shown in the figure, a board holding mechanism 2, a moving mechanism 3, a sensor 4, an inspection section 5, an operation section 6, and a storage section. 7. The display unit 8 and the control unit 9 are provided so that, for example, a predetermined electrical inspection can be performed on the circuit board 100 shown in FIGS.

基板保持機構2は、本発明における基板保持機構の一例であって、図2に示すように、基台本体11、クランプ部(挟持部)12a,12b(以下、両クランプ部12a,12bを区別しないときには、「クランプ部12」ともいう)、コンプレッサ13および電磁弁14を備えて、回路基板100を保持可能に構成されている。   The substrate holding mechanism 2 is an example of a substrate holding mechanism according to the present invention. As shown in FIG. 2, the base body 11, clamp portions (clamping portions) 12a and 12b (hereinafter, both clamp portions 12a and 12b are distinguished from each other). When not, it is also referred to as a “clamp portion 12”), a compressor 13 and a solenoid valve 14, and is configured to hold the circuit board 100.

基台本体11は、図3に示すように、一例として、平面視略矩形の板状に形成されている。また、同図および図4に示すように、基台本体11の中央部には、検査時において回路基板100に対する検査用プローブ71(図1参照)の接触を可能とする平面視略矩形の開口部11aが形成されている。また、開口部11aを構成する各縁部21a〜21d(以下、区別しないときには「縁部21」ともいう)のうちの互いに対向する一対の縁部21(例えば、縁部21b,21d)には、クランプ部12bを移動させるためのレール22がそれぞれ配設されている。   As shown in FIG. 3, the base body 11 is formed in a plate shape having a substantially rectangular shape in plan view, as an example. Further, as shown in FIG. 4 and FIG. 4, an opening having a substantially rectangular shape in plan view that enables the inspection probe 71 (see FIG. 1) to contact the circuit board 100 at the center of the base body 11 at the time of inspection. Part 11a is formed. Further, a pair of facing edge portions 21 (for example, the edge portions 21b and 21d) among the respective edge portions 21a to 21d (hereinafter also referred to as "edge portions 21" when not distinguished) constituting the opening portion 11a are provided. A rail 22 for moving the clamp portion 12b is provided.

クランプ部12a,12bは、本発明における挟持部の一例であって、図3,4に示すように、第1部材31、第2部材32および回動機構33,33をそれぞれ備えて、第1部材31と第2部材32とによって回路基板100の縁部を挟持(クランプ)可能に構成されている。第1部材31は、図3に示すように、長尺の板状に形成されている。この場合、クランプ部12aの第1部材31は、基台本体11における縁部21aの延在方向(同図に示すY方向)に沿って配置されて縁部21aに固定されている。また、クランプ部12bの第1部材31は、基台本体11の縁部21cの延在方向(Y方向)に沿って配置されると共に、Y方向に直交する方向(同図に示すX方向)に沿って移動可能に構成されている。具体的には、クランプ部12bの第1部材31は、その両端部の裏面に形成されている嵌合溝(図示せず)に基台本体11のレール22,22がそれぞれ嵌め込まれることにより、レール22,22に沿って移動可能に構成されている。また、図5〜図7に示すように、各クランプ部12の第1部材31には、第2部材32を回動可能に支持するための支持部41が形成されている(各図では、両クランプ部12a,12bのうちのクランプ部12aのみを図示している)。   The clamp parts 12a and 12b are an example of the clamping part in the present invention, and as shown in FIGS. 3 and 4, each of the clamp parts 12a and 12b includes a first member 31, a second member 32, and rotating mechanisms 33 and 33, respectively. The member 31 and the second member 32 are configured so that the edge of the circuit board 100 can be clamped. As shown in FIG. 3, the first member 31 is formed in a long plate shape. In this case, the first member 31 of the clamp part 12a is arranged along the extending direction of the edge part 21a (the Y direction shown in the figure) in the base body 11 and is fixed to the edge part 21a. In addition, the first member 31 of the clamp portion 12b is disposed along the extending direction (Y direction) of the edge portion 21c of the base body 11 and is orthogonal to the Y direction (X direction shown in the figure). It is configured to be movable along. Specifically, the first member 31 of the clamp portion 12b is fitted with the rails 22 and 22 of the base body 11 in the fitting grooves (not shown) formed on the back surfaces of both end portions, respectively. It is configured to be movable along the rails 22 and 22. Moreover, as shown in FIGS. 5-7, in the 1st member 31 of each clamp part 12, the support part 41 for supporting the 2nd member 32 rotatably is formed (in each figure, Only the clamp part 12a of both the clamp parts 12a and 12b is illustrated).

第2部材32は、図3に示すように、長尺の板状に形成されている。また、第2部材32は、図5〜図7に示すように、ヒンジ部51が第1部材31の支持部41に支持されることにより、クランプ時において回路基板100に当接する挟持面52が第1部材31の挟持面42に対して接離するように回動可能に構成されている。また、第2部材32の上面側には、凹部53が形成されている。この場合、凹部53は、図6に示すように、その底面54が平坦な面(平坦面)に形成されている。また、凹部53の深さは、第1部材31の挟持面42に対して第2部材32の挟持面52が近接している状態(第1部材31に対する第2部材32の近接状態)において、センサ4から底面54までの高さ方向(同図におけるZ方向)に沿った距離(長さ)とセンサ4から第2部材32の挟持面52までの高さ方向に沿った距離とが同一距離となるように規定されている。   As shown in FIG. 3, the second member 32 is formed in a long plate shape. Further, as shown in FIGS. 5 to 7, the second member 32 has a holding surface 52 that contacts the circuit board 100 at the time of clamping, with the hinge portion 51 supported by the support portion 41 of the first member 31. The first member 31 is configured to be rotatable so as to be in contact with and away from the holding surface 42 of the first member 31. Further, a recess 53 is formed on the upper surface side of the second member 32. In this case, as shown in FIG. 6, the concave portion 53 has a bottom surface 54 formed on a flat surface (flat surface). In addition, the depth of the recess 53 is determined when the clamping surface 52 of the second member 32 is close to the clamping surface 42 of the first member 31 (the proximity of the second member 32 to the first member 31). The distance (length) along the height direction (Z direction in the figure) from the sensor 4 to the bottom surface 54 and the distance along the height direction from the sensor 4 to the clamping surface 52 of the second member 32 are the same distance. It is stipulated that

回動機構33は、図5〜図7に示すように、スプリング61およびエアシリンダ62を備えて構成されている。スプリング61は、第1部材31の支持部41と第2部材32のヒンジ部51との間に配設されて、第2部材32の挟持面52が第1部材31の挟持面42に近接する向きに第2部材32を付勢する。エアシリンダ62は、第1部材31に取り付けられている。この場合、エアシリンダ62は、コンプレッサ13からのエアの供給によってロッド62aを突出させて、第2部材32に形成されている突起部55をロッド62aで押圧することにより、スプリング61の付勢力に抗して、第2部材32の挟持面52が第1部材31の挟持面42から離間する向きに第2部材32を回動させる。   The rotation mechanism 33 includes a spring 61 and an air cylinder 62 as shown in FIGS. The spring 61 is disposed between the support portion 41 of the first member 31 and the hinge portion 51 of the second member 32, and the holding surface 52 of the second member 32 is close to the holding surface 42 of the first member 31. The second member 32 is biased in the direction. The air cylinder 62 is attached to the first member 31. In this case, the air cylinder 62 causes the rod 62a to protrude by the supply of air from the compressor 13, and presses the protrusion 55 formed on the second member 32 with the rod 62a. Accordingly, the second member 32 is rotated in a direction in which the clamping surface 52 of the second member 32 is separated from the clamping surface 42 of the first member 31.

コンプレッサ13は、エア(圧縮空気)を供給する。電磁弁14は、コンプレッサ13およびクランプ部12のエアシリンダ62にエアチューブを介して接続されて、制御部9の制御に従ってエアシリンダ62に対するコンプレッサ13からのエアの供給および供給停止を行う。   The compressor 13 supplies air (compressed air). The electromagnetic valve 14 is connected to the compressor 13 and the air cylinder 62 of the clamp unit 12 via an air tube, and supplies and stops supply of air from the compressor 13 to the air cylinder 62 according to control of the control unit 9.

移動機構3は、図1に示すように、制御部9の制御に従って検査用プローブ71を移動させて、基板保持機構2によって保持されている回路基板100における所定のプロービングポイントに検査用プローブ71の先端部をプロービング(接触)させる。また、移動機構3は、制御部9の制御に従ってセンサ4を移動させる。センサ4は、レーザー光を用いて非接触で距離を測定する光学式距離測定器であって、本発明における距離検出部を構成する。この場合、センサ4は、制御部9の制御に従い、基板保持機構2によって保持されている回路基板100とセンサ4との間の距離L1(本発明における第1距離:図6参照)、およびセンサ4から基板保持機構2におけるクランプ部12の第2部材32に形成されている凹部53の底面54(本発明における所定部位)までの距離L2(本発明における第2距離)を検査光(例えば、図6に示すレーザー光B)を用いて光学的に検出して検出信号Sdを出力する。   As shown in FIG. 1, the moving mechanism 3 moves the inspection probe 71 according to the control of the control unit 9, and the inspection probe 71 is moved to a predetermined probing point on the circuit board 100 held by the substrate holding mechanism 2. Probing (contacting) the tip. Further, the moving mechanism 3 moves the sensor 4 according to the control of the control unit 9. The sensor 4 is an optical distance measuring device that measures a distance in a non-contact manner using a laser beam, and constitutes a distance detection unit in the present invention. In this case, the sensor 4 has a distance L1 between the circuit board 100 held by the board holding mechanism 2 and the sensor 4 (first distance in the present invention: see FIG. 6), and the sensor according to the control of the control unit 9. 4 is an inspection light (for example, a distance L2 (second distance in the present invention) from the bottom surface 54 (a predetermined portion in the present invention) of the recess 53 formed in the second member 32 of the clamp portion 12 in the substrate holding mechanism 2. Optical detection is performed using the laser beam B) shown in FIG. 6, and a detection signal Sd is output.

検査部5は、制御部9の制御に従い、回路基板100にプロービングさせられた検査用プローブ71を介して入力した電気信号Siに基づき、回路基板100に対して所定の電気的検査(検査処理)を実行する。操作部6は、各種の操作スイッチを備えて構成され、これらの操作スイッチが操作されたときに操作信号Soを出力する。記憶部7は、回路基板100についてのプロービング用データDpを記憶する。この場合、プロービング用データDpには、回路基板100の大きさ(具体的には、回路基板100におけるX方向(図3参照)に沿った長さ、およびY方向(同図参照)に沿った長さ)を示す情報や、回路基板100におけるプロービングポイントを示す情報を含んで構成されている。また、記憶部7は、基板保持機構2におけるクランプ部12の第2部材32に形成されている凹部53の位置(例えば、第1部材31の所定部位(一例として同図における左下の角部)から凹部53までの、X方向に沿った長さ、およびY方向に沿った長さ)を示す位置データDhを記憶する。さらに、記憶部7は、制御部9によって実行される判別処理の際に用いられる基準値Lsを示す基準値データDsを記憶する。この場合、基準値Lsは、図6に示すように、クランプ部12が回路基板100をクランプしたとき(つまり、第2部材32が近接状態であるとき)に、凹部53の底面54が位置し得る最も高い位置とセンサ4との間のZ方向(同図参照)に沿った距離(長さ)であって、クランプ部12が平均的な厚みの回路基板100をクランプしたときにセンサ4によって検出される距離L2よりも僅かに短い距離に規定されている。   The inspection unit 5 performs a predetermined electrical inspection (inspection process) on the circuit board 100 based on the electric signal Si input through the inspection probe 71 probed on the circuit board 100 under the control of the control unit 9. Execute. The operation unit 6 includes various operation switches, and outputs an operation signal So when these operation switches are operated. The storage unit 7 stores probing data Dp for the circuit board 100. In this case, the probing data Dp includes the size of the circuit board 100 (specifically, the length of the circuit board 100 along the X direction (see FIG. 3) and the Y direction (see the same figure)). Length) and information indicating the probing point on the circuit board 100. In addition, the storage unit 7 has a position of the recess 53 formed in the second member 32 of the clamp unit 12 in the substrate holding mechanism 2 (for example, a predetermined portion of the first member 31 (for example, a lower left corner in the figure). To the recess 53, the position data Dh indicating the length along the X direction and the length along the Y direction) is stored. Further, the storage unit 7 stores reference value data Ds indicating the reference value Ls used in the determination process executed by the control unit 9. In this case, as shown in FIG. 6, the reference value Ls is such that the bottom surface 54 of the recess 53 is positioned when the clamp portion 12 clamps the circuit board 100 (that is, when the second member 32 is in the proximity state). A distance (length) along the Z direction (see the same figure) between the highest position to be obtained and the sensor 4 and when the clamp portion 12 clamps the circuit board 100 having an average thickness, the sensor 4 The distance is specified to be slightly shorter than the detected distance L2.

表示部8は、制御部9の制御に従って検査結果を表示する。また、表示部8は、本発明における報知部として機能し、制御部9の制御に従い、後述する警告画面を表示する。制御部9は、操作部6から出力される操作信号Soに従って各種の処理を実行する。また、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L1に基づき、検査用プローブ71をプロービングさせるべきプロービングポイントの位置(高さ)を特定すると共に、移動機構3を制御してその位置に検査用プローブ71をプロービングさせる。   The display unit 8 displays the inspection result according to the control of the control unit 9. The display unit 8 functions as a notification unit in the present invention, and displays a warning screen to be described later under the control of the control unit 9. The control unit 9 executes various processes according to the operation signal So output from the operation unit 6. The control unit 9 specifies the position (height) of the probing point where the inspection probe 71 should be probed based on the distance L1 indicated by the detection signal Sd output from the sensor 4, and controls the moving mechanism 3. Then, the inspection probe 71 is probed at that position.

さらに、制御部9は、本発明における判別部として機能し、基板保持機構2におけるクランプ部12の第1部材31に対する第2部材32の近接状態(第1部材31に対して第2部材32が近接している状態)を判別する判別処理を実行する。具体的には、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L2(センサ4によって検出された距離L2)が所定の基準値Ls以上のときに近接状態と判別し、距離L2が基準値Ls未満のときに非近接状態(第2部材32が近接状態ではない状態)と判別する。また、制御部9は、近接状態と判別したときには検査部5に対して検査処理を実行(続行)させ、非近接状態と判別したときには、その旨を報知するための警告画面を表示部8に表示させると共に、検査部5に対して検査処理を停止(中断)させる。   Further, the control unit 9 functions as a determination unit in the present invention, and the proximity state of the second member 32 with respect to the first member 31 of the clamp unit 12 in the substrate holding mechanism 2 (the second member 32 is in relation to the first member 31). A discrimination process for discriminating the state of being close to each other is executed. Specifically, the control unit 9 determines the proximity state when the distance L2 (the distance L2 detected by the sensor 4) indicated by the detection signal Sd output from the sensor 4 is equal to or greater than a predetermined reference value Ls, When the distance L2 is less than the reference value Ls, the non-proximity state (the state in which the second member 32 is not in the proximity state) is determined. The control unit 9 causes the inspection unit 5 to execute (continue) the inspection process when it is determined to be in the proximity state, and displays a warning screen on the display unit 8 when it is determined that the state is not close. At the same time, the inspection unit 5 is stopped (interrupted).

この場合、この回路基板検査装置1では、プロービングポイントの位置の特定に用いるセンサ4を、近接状態の判別にも用いている(つまり、センサ4を兼用している)。このため、近接状態を判別するための専用のスイッチを各クランプ部12に個別的に取り付ける必要がないため、その分、クランプ部12の製造コスト、ひいては回路基板検査装置1の製造コストを低減することが可能となっている。また、各クランプ部12にスイッチを取り付ける必要がないため、その分、クランプ部12を小形化することが可能となっている。   In this case, in the circuit board inspection apparatus 1, the sensor 4 used for specifying the position of the probing point is also used for determining the proximity state (that is, the sensor 4 is also used). For this reason, it is not necessary to individually attach a dedicated switch for determining the proximity state to each clamp unit 12, and accordingly, the manufacturing cost of the clamp unit 12 and consequently the manufacturing cost of the circuit board inspection apparatus 1 are reduced. It is possible. Moreover, since it is not necessary to attach a switch to each clamp part 12, it is possible to make the clamp part 12 small.

次に、回路基板検査装置1を用いて、図3に示す回路基板100に対して所定の電気的検査を行う検査方法について、添付図面を参照して説明する。   Next, an inspection method for performing a predetermined electrical inspection on the circuit board 100 shown in FIG. 3 using the circuit board inspection apparatus 1 will be described with reference to the accompanying drawings.

まず、基板保持機構2のクランプ部12bを図3,4に示すX方向に沿って(レール22に沿って)移動させて、両クランプ部12a,12bの間のX方向に沿った長さを、回路基板100の縁部をクランプ可能な長さに調整する。   First, the clamp part 12b of the substrate holding mechanism 2 is moved along the X direction shown in FIGS. 3 and 4 (along the rail 22), and the length along the X direction between the clamp parts 12a and 12b is increased. The edge of the circuit board 100 is adjusted to a length that can be clamped.

次いで、操作部6を操作して、検査の開始を指示する。この際に、制御部9が、操作部6から出力された操作信号Soに従って処理を開始する。この場合、制御部9は、まず、基板保持機構2の電磁弁14を制御して、各クランプ部12における各回動機構33のエアシリンダ62に対してコンプレッサ13からのエアを供給させる。この際に、各クランプ部12では、図5に示すように、各エアシリンダ62のロッド62aが突出して第2部材32の突起部55を押圧して、スプリング61の付勢力に抗して第2部材32を回動させる。これにより、同図に示すように、第2部材32の挟持面52が第1部材31の挟持面42から離間する。   Next, the operation unit 6 is operated to instruct the start of inspection. At this time, the control unit 9 starts processing according to the operation signal So output from the operation unit 6. In this case, the control unit 9 first controls the electromagnetic valve 14 of the substrate holding mechanism 2 to supply air from the compressor 13 to the air cylinder 62 of each rotation mechanism 33 in each clamp unit 12. At this time, in each clamp portion 12, as shown in FIG. 5, the rod 62 a of each air cylinder 62 protrudes and presses the projection portion 55 of the second member 32, and resists the urging force of the spring 61. The two members 32 are rotated. As a result, the clamping surface 52 of the second member 32 is separated from the clamping surface 42 of the first member 31 as shown in FIG.

次に、図外の基板供給装置が、図5に示すように、回路基板100の縁部の下面がクランプ部12における第1部材31の挟持面42に当接するように回路基板100を供給する。続いて、制御部9は、電磁弁14を制御して、各エアシリンダ62に対するエアの供給を停止させる。この際に、各クランプ部12では、図6に示すように、各エアシリンダ62のロッド62aの突出が解除されて、それに伴って各スプリング61の付勢力によって第2部材32が回動し、第2部材32の挟持面52によって回路基板100の縁部が押圧される。これにより、回路基板100の縁部が各クランプ部12によってクランプされて、回路基板100が保持される。   Next, the board supply device (not shown) supplies the circuit board 100 so that the lower surface of the edge of the circuit board 100 abuts on the clamping surface 42 of the first member 31 in the clamp portion 12 as shown in FIG. . Subsequently, the control unit 9 controls the electromagnetic valve 14 to stop the supply of air to each air cylinder 62. At this time, in each clamp part 12, as shown in FIG. 6, the protrusion of the rod 62a of each air cylinder 62 is released, and accordingly, the second member 32 is rotated by the biasing force of each spring 61, The edge of the circuit board 100 is pressed by the clamping surface 52 of the second member 32. Thereby, the edge part of the circuit board 100 is clamped by each clamp part 12, and the circuit board 100 is hold | maintained.

次いで、制御部9は、記憶部7からプロービング用データDp、位置データDhおよび基準値データDsを読み出す。続いて、制御部9は、第1部材31に対する第2部材32の近接状態を判別する判別処理を実行する。この判別処理では、制御部9は、プロービング用データDpによって示される回路基板100の長さX方向に沿った長さ、およびY方向に沿った長さ、並びに位置データDhによって示される第1部材31の所定部位から第2部材32の凹部53までの、X方向に沿った長さ、およびY方向に沿った長さに基づき、各クランプ部12における凹部53の位置(X−Y座標)を特定する。次いで、制御部9は、移動機構3を制御して、いずれか一方のクランプ部12における凹部53のX−Y座標方向の上方にセンサ4を移動させる。   Next, the control unit 9 reads the probing data Dp, the position data Dh, and the reference value data Ds from the storage unit 7. Subsequently, the control unit 9 executes a determination process for determining the proximity state of the second member 32 with respect to the first member 31. In this determination process, the control unit 9 includes the length along the length X direction of the circuit board 100 indicated by the probing data Dp, the length along the Y direction, and the first member indicated by the position data Dh. Based on the length along the X direction from the predetermined portion 31 to the recess 53 of the second member 32 and the length along the Y direction, the position (XY coordinate) of the recess 53 in each clamp portion 12 is determined. Identify. Next, the control unit 9 controls the moving mechanism 3 to move the sensor 4 above the concave portion 53 in either one of the clamp units 12 in the XY coordinate direction.

続いて、制御部9は、センサ4を作動させる。これに応じて、センサ4が、第2部材32における凹部53の底面54との間の(センサ4から底面54までの)距離L2を検出して検出信号Sdを出力する。次いで、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L2が基準値データDsによって示される基準値Ls以上であるか否かに基づいて第1部材31に対する第2部材32の近接状態を判別する。この場合、例えば、図6に示すように、距離L2が基準値Ls以上のときには、制御部9は、近接状態と判別する。ここで、同図に示すように、距離L2が基準値Ls以上のときには、第2部材32が第1部材31に十分に近接して第2部材32の挟持面52が回路基板100の縁部に当接し、これによって第1部材31および第2部材32によって回路基板100が確実にクランプされている。   Subsequently, the control unit 9 operates the sensor 4. In response to this, the sensor 4 detects the distance L2 (from the sensor 4 to the bottom surface 54) between the second member 32 and the bottom surface 54 of the recess 53, and outputs a detection signal Sd. Next, the control unit 9 determines whether or not the distance L2 indicated by the detection signal Sd output from the sensor 4 is greater than or equal to the reference value Ls indicated by the reference value data Ds. Is determined. In this case, for example, as illustrated in FIG. 6, when the distance L2 is equal to or greater than the reference value Ls, the control unit 9 determines that the proximity state. Here, as shown in the figure, when the distance L2 is greater than or equal to the reference value Ls, the second member 32 is sufficiently close to the first member 31, and the clamping surface 52 of the second member 32 is the edge of the circuit board 100. Thus, the circuit board 100 is securely clamped by the first member 31 and the second member 32.

この場合、この回路基板検査装置1では、光学的に距離を検出するセンサ4によって検出された距離L2に基づいて近接状態を判別しているため、例えば、第1部材31に対する第2部材32の接離に伴ってオン/オフする機械式のスイッチ等を用いて近接状態を判別する従来の回路基板検査装置とは異なり、スイッチの誤作動に起因する判別ミスを少なく抑えることが可能となっている。また、この回路基板検査装置1では、第1部材31に対する第2部材32の近接状態(回路基板100をクランプした状態)において、センサ4から底面54までの距離とセンサ4から第2部材32の挟持面52までの距離とが同一距離となるように凹部53の深さが規定されている。このため、この回路基板検査装置1では、正確に距離を検出できるセンサ4の距離検出範囲が狭い範囲に限られている場合であっても、センサ4から回路基板100までの距離L1、およびセンサ4から底面54までの距離L2の双方を正確に測定することが可能となっている。   In this case, in this circuit board inspection apparatus 1, since the proximity state is determined based on the distance L2 detected by the sensor 4 that optically detects the distance, for example, the second member 32 with respect to the first member 31 is determined. Unlike conventional circuit board inspection devices that use a mechanical switch that turns on and off with contact and separation, it is possible to minimize discrimination errors caused by switch malfunctions. Yes. In the circuit board inspection apparatus 1, the distance from the sensor 4 to the bottom surface 54 and the distance between the sensor 4 and the second member 32 in the proximity state of the second member 32 to the first member 31 (state in which the circuit board 100 is clamped). The depth of the recess 53 is defined so that the distance to the clamping surface 52 is the same. For this reason, in this circuit board inspection apparatus 1, even if the distance detection range of the sensor 4 that can accurately detect the distance is limited to a narrow range, the distance L1 from the sensor 4 to the circuit board 100, and the sensor It is possible to accurately measure both the distance L2 from 4 to the bottom surface 54.

次いで、制御部9は、移動機構3を制御して、他方のクランプ部12における凹部53のX−Y座標方向の上方にセンサ4を移動させて、上記と同様にして、近接状態を判別する。この場合、両クランプ部12の第2部材32がいずれも近接状態であると判別したときには、制御部9は、移動機構3を制御してセンサ4を回路基板100の上方に移動させる。続いて、制御部9は、センサ4を作動させて、回路基板100との間の距離L1(センサ4から回路基板100までの距離L1)を検出させる。次いで、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L1に基づいてプロービングポイントの位置を特定する。次いで、制御部9は、移動機構3を制御してその位置に検査用プローブ71をプロービングさせる。   Next, the control unit 9 controls the moving mechanism 3 to move the sensor 4 above the recess 53 in the other clamp unit 12 in the XY coordinate direction, and determines the proximity state in the same manner as described above. . In this case, when it is determined that the second members 32 of both the clamp portions 12 are in the proximity state, the control unit 9 controls the moving mechanism 3 to move the sensor 4 above the circuit board 100. Subsequently, the control unit 9 operates the sensor 4 to detect the distance L1 between the circuit board 100 (the distance L1 from the sensor 4 to the circuit board 100). Next, the control unit 9 specifies the position of the probing point based on the distance L1 indicated by the detection signal Sd output from the sensor 4. Next, the control unit 9 controls the moving mechanism 3 to probe the inspection probe 71 at that position.

続いて、制御部9は、検査部5に対して検査処理の実行を指示し、これに応じて、検査部5が、検査用プローブ71を介して入力した電気信号Siに基づき、回路基板100に対して所定の電気的検査を実行する。次いで、制御部9は、検査部5による検査の結果を表示部8に表示させる。   Subsequently, the control unit 9 instructs the inspection unit 5 to execute the inspection process, and in response thereto, the circuit unit 100 is based on the electrical signal Si input by the inspection unit 5 via the inspection probe 71. A predetermined electrical inspection is performed on the device. Next, the control unit 9 causes the display unit 8 to display the result of the inspection by the inspection unit 5.

一方、判別処理の実行時において、例えば、図7に示すように、距離L2が基準値Ls未満のときには、制御部9は、非近接状態(第2部材32が近接状態ではない状態)と判別する。ここで、同図に示すように、距離L2が基準値Ls未満のとき、つまり第2部材32が非近接状態のときには、第1部材31および第2部材32によって回路基板100が確実にクランプされずに検査中に回路基板100が基板保持機構2に対して位置ずれして、これに起因して検査結果が不正確となるおそれがある。このため、この回路基板検査装置1では、判別処理の実行時において非近接状態と判別したときには、制御部9が検査部5に対して検査処理の停止(中断)を指示し、これに応じて検査部5が検査処理を停止(中断)する。また、このときには、制御部9は、その旨を報知するための警告画面を表示部8に表示させる。この場合、この回路基板検査装置1では、このように、検査処理の停止(中断)が行われると共に警告画面が表示されるため、第2部材32が非近接状態であることに起因して、検査結果が不正確となるおそれのある状態での検査が継続される事態が確実に防止されると共に、そのような状態である旨が使用者に確実に認識させることが可能となっている。   On the other hand, when the determination process is performed, for example, as shown in FIG. 7, when the distance L2 is less than the reference value Ls, the control unit 9 determines that the non-proximity state (the second member 32 is not in the close state). To do. Here, as shown in the figure, when the distance L2 is less than the reference value Ls, that is, when the second member 32 is in a non-adjacent state, the circuit board 100 is reliably clamped by the first member 31 and the second member 32. Therefore, the circuit board 100 may be displaced with respect to the substrate holding mechanism 2 during the inspection, and the inspection result may be inaccurate due to this. For this reason, in this circuit board inspection apparatus 1, when it is determined that it is in the non-proximity state at the time of execution of the determination process, the control unit 9 instructs the inspection unit 5 to stop (suspend) the inspection process, and accordingly The inspection unit 5 stops (interrupts) the inspection process. At this time, the control unit 9 causes the display unit 8 to display a warning screen for notifying that effect. In this case, in this circuit board inspection apparatus 1, since the inspection process is stopped (suspended) and a warning screen is displayed in this manner, the second member 32 is in a non-proximity state. It is possible to reliably prevent a situation in which the inspection is continued in a state where the inspection result may be inaccurate, and to make the user surely recognize that such a state is present.

このように、この回路基板検査装置1では、センサ4によって検出された第2部材32の所定部位(凹部53の底面54)までの距離L2が基準値Ls以上のときに近接状態と判別し、距離L2が基準値Ls未満のときに非近接状態と判別する。つまり、この回路基板検査装置1では、プロービングポイントの位置の特定に用いるセンサ4を、近接状態の判別にも用いている。このため、この回路基板検査装置1によれば、近接状態を判別するための専用のスイッチを各クランプ部12に個別的に取り付ける必要がない分、クランプ部12の製造コスト、ひいては回路基板検査装置1の製造コストを十分に低減することができる。また、各クランプ部12にスイッチを取り付ける必要がない分、クランプ部12を小形化することができる。また、この回路基板検査装置1によれば、光学的に距離を検出するセンサ4によって検出された距離L2に基づいて近接状態を判別しているため、例えば、機械式のスイッチ等を用いて近接状態を判別する従来の回路基板検査装置とは異なり、スイッチの誤作動に起因する判別ミスを少なく抑えることができる。   Thus, in this circuit board inspection apparatus 1, when the distance L2 to the predetermined part (bottom surface 54 of the recessed part 53) detected by the sensor 4 is equal to or larger than the reference value Ls, it is determined as the proximity state. When the distance L2 is less than the reference value Ls, the non-proximity state is determined. That is, in this circuit board inspection apparatus 1, the sensor 4 used for specifying the position of the probing point is also used for determining the proximity state. For this reason, according to this circuit board inspection apparatus 1, since it is not necessary to individually attach a dedicated switch for determining the proximity state to each clamp part 12, the manufacturing cost of the clamp part 12 and thus the circuit board inspection apparatus. 1 manufacturing cost can be sufficiently reduced. Moreover, the clamp part 12 can be reduced in size because it is not necessary to attach a switch to each clamp part 12. Further, according to the circuit board inspection apparatus 1, since the proximity state is determined based on the distance L2 detected by the sensor 4 that optically detects the distance, the proximity is determined using, for example, a mechanical switch or the like. Unlike the conventional circuit board inspection apparatus that determines the state, it is possible to suppress a determination error caused by a malfunction of the switch.

また、この回路基板検査装置1によれば、凹部53の底面54を平坦面に形成したことにより、センサ4から底面54までの距離L2を正確に検出することができる。   Further, according to the circuit board inspection apparatus 1, the distance L2 from the sensor 4 to the bottom surface 54 can be accurately detected because the bottom surface 54 of the recess 53 is formed as a flat surface.

また、この回路基板検査装置1によれば、第1部材31に対する第2部材32の近接状態において、センサ4から底面54までの高さ方向距離(距離L2)とセンサ4から第2部材32の挟持面52までの距離とが同一距離となるように凹部53の深さを規定したことにより、正確に距離を検出できる範囲(検出可能範囲)が狭い範囲に限られているセンサ4を用いる場合であっても、距離L1および距離L2の双方がその検出可能範囲内となるようにセンサ4の配置位置を調整することで、距離L1,L2の双方を正確に検出することができる。   Further, according to the circuit board inspection apparatus 1, in the proximity of the second member 32 to the first member 31, the height direction distance (distance L 2) from the sensor 4 to the bottom surface 54 and the second member 32 from the sensor 4. When the sensor 4 is used in which the range in which the distance can be accurately detected (detectable range) is limited to a narrow range by defining the depth of the recess 53 so that the distance to the clamping surface 52 is the same distance. Even so, it is possible to accurately detect both the distances L1 and L2 by adjusting the arrangement position of the sensor 4 so that both the distance L1 and the distance L2 are within the detectable range.

また、この回路基板検査装置1によれば、非近接状態と判別したときにその旨を報知するための警告画面を表示部8に表示させることにより、第2部材32が非近接状態であることに起因して、検査結果が不正確となるおそれのある状態である旨を使用者に確実に認識させることができる。   In addition, according to the circuit board inspection apparatus 1, the second member 32 is in the non-proximity state by causing the display unit 8 to display a warning screen for notifying that effect when the non-proximity state is determined. Therefore, the user can be surely recognized that the inspection result is in a state that may be inaccurate.

また、この回路基板検査装置1によれば、非近接状態と判別したときに検査部5に対して検査処理を停止させることにより、検査結果が不正確となるおそれのある状態での検査の継続を確実に防止することができる。   Further, according to the circuit board inspection apparatus 1, the inspection unit 5 is stopped when the non-proximity state is determined, thereby continuing the inspection in a state where the inspection result may be inaccurate. Can be reliably prevented.

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、ヒンジ部51を中心として第2部材32が回動するクランプ部12を採用した例について上記したが、このクランプ部12に代えて、第2部材が第1部材に対して上下動することによって回路基板100を挟持するクランプ部を採用することもできる。また、第2部材32に凹部53を形成した例について上記したが、第2部材32に凹部53を形成することなく平坦面だけを形成して、センサ4からその平坦面までの距離L2に基づいて近接状態を判別する構成を採用することもできる。また、1つの検査用プローブ71を回路基板100の一面側(上記例では上面側)にプロービングさせる回路基板検査装置に適用した例について上記したが、複数の検査用プローブ71を回路基板100の一面側にプロービングさせる回路基板検査装置や、回路基板100の両面側に1または複数の検査用プローブ71をプロービングさせる回路基板検査装置に適用することもできる。また、複数の検査用プローブを並設したプローブユニット(治具型のプローブユニット)を移動させて、各検査用プローブを回路基板100に一度にプロービングさせるタイプの回路基板検査装置1に適用することもできる。   In addition, this invention is not limited to said structure. For example, the example in which the clamp part 12 in which the second member 32 rotates around the hinge part 51 is described above, but the second member moves up and down relative to the first member instead of the clamp part 12. Therefore, it is possible to employ a clamp portion that holds the circuit board 100. Moreover, although the example which formed the recessed part 53 in the 2nd member 32 was mentioned above, only the flat surface was formed in the 2nd member 32 without forming the recessed part 53, and based on the distance L2 from the sensor 4 to the flat surface. It is also possible to adopt a configuration for determining the proximity state. Further, the example applied to the circuit board inspection apparatus in which one inspection probe 71 is probed on one surface side (the upper surface side in the above example) of the circuit board 100 has been described above. It can also be applied to a circuit board inspection apparatus for probing to the side, or a circuit board inspection apparatus for probing one or a plurality of inspection probes 71 on both sides of the circuit board 100. Further, the present invention is applied to a circuit board inspection apparatus 1 of a type in which a probe unit (jig-type probe unit) in which a plurality of inspection probes are arranged side by side is moved to probe each inspection probe on the circuit board 100 at a time. You can also.

1 回路基板検査装置
2 基板保持機構
3 移動機構
4 センサ
5 検査部
8 表示部
9 制御部
12a,12b クランプ部
31 第1部材
32 第2部材
53 凹部
54 底面
71 検査用プローブ
100 回路基板
L1,L2 距離
Ls 基準値
Si 電気信号
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board inspection apparatus 2 Substrate holding mechanism 3 Movement mechanism 4 Sensor 5 Inspection part 8 Display part 9 Control part 12a, 12b Clamp part 31 1st member 32 2nd member 53 Recessed part 54 Bottom surface 71 Inspection probe 100 Circuit board L1, L2 Distance Ls Reference value Si Electric signal

Claims (5)

第1部材と当該第1部材に対して接離する第2部材とで回路基板を挟持する挟持部を有して当該回路基板を保持可能な基板保持機構と、前記第1部材に対する前記第2部材の近接状態を判別する判別部と、前記基板保持機構によって保持されている前記回路基板までの間の第1距離を光学的に検出する距離検出部と、検査用プローブを移動させる移動機構と、前記検査用プローブを介して入力した電気信号に基づいて前記回路基板に対して所定の検査処理を実行する検査部と、前記判別部によって前記近接状態と判別されたときに前記距離検出部によって検出された前記第1距離に基づいて前記移動機構を制御して前記回路基板に前記検査用プローブを接触させると共に前記検査部に対して前記検査処理を実行させる制御部とを備えた回路基板検査装置であって、
前記距離検出部は、前記第2部材における所定部位までの間の第2距離を検出可能に構成され、
前記判別部は、前記距離検出部よって検出された前記第2距離が所定の基準値以上のときに前記近接状態と判別し、当該第2距離が前記基準値未満のときに非近接状態と判別する回路基板検査装置。
A board holding mechanism that holds a circuit board by holding a circuit board between the first member and a second member that contacts and separates from the first member, and the second member with respect to the first member. A discriminating unit for discriminating the proximity state of the member, a distance detecting unit for optically detecting a first distance to the circuit board held by the substrate holding mechanism, and a moving mechanism for moving the inspection probe An inspection unit that performs a predetermined inspection process on the circuit board based on an electrical signal input through the inspection probe, and the distance detection unit when the determination unit determines the proximity state And a control unit that controls the moving mechanism based on the detected first distance to bring the inspection probe into contact with the circuit board and to cause the inspection unit to execute the inspection process. An inspection apparatus,
The distance detection unit is configured to be able to detect a second distance to a predetermined part in the second member,
The discriminating unit discriminates the proximity state when the second distance detected by the distance detection unit is greater than or equal to a predetermined reference value, and discriminates the non-proximity state when the second distance is less than the reference value. Circuit board inspection device.
前記第2部材には、前記所定部位としての平坦面が形成されている請求項1記載の回路基板検査装置。   The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the second member has a flat surface as the predetermined portion. 前記第2部材には、前記平坦面としての底面を有する凹部が形成され、
前記凹部の深さは、前記近接状態において、前記距離検出部から前記底面までの距離と当該距離検出部から前記第2部材の挟持面までの距離とが同一距離となるように規定されている請求項2記載の回路基板検査装置。
A recess having a bottom surface as the flat surface is formed in the second member,
The depth of the recess is defined such that, in the proximity state, the distance from the distance detection unit to the bottom surface and the distance from the distance detection unit to the clamping surface of the second member are the same distance. The circuit board inspection apparatus according to claim 2.
前記判別部によって前記非近接状態と判別されたときにその旨を報知する報知部を備えている請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査装置。   The circuit board inspection apparatus according to claim 1, further comprising a notification unit that notifies the fact when the determination unit determines that the non-proximity state is present. 前記制御部は、前記判別部によって前記非近接状態と判別されたときに前記検査部に対して前記検査処理を停止させる請求項1から4のいずれかに記載の回路基板検査装置。   5. The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the control unit causes the inspection unit to stop the inspection process when the determination unit determines that the non-proximity state is present. 6.
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