JP5323536B2 - Circuit board inspection equipment - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、回路基板を挟持して保持可能な基板保持機構を備えて、その基板保持機構によって保持されている回路基板に対して所定の検査処理を実行する回路基板検査装置に関するものである。 The present invention relates to a circuit board inspection apparatus that includes a board holding mechanism capable of holding and holding a circuit board, and that performs a predetermined inspection process on the circuit board held by the board holding mechanism.
この種の回路基板検査装置として、特開2007−121183号公報において出願人が開示した回路基板検査装置が知られている。この回路基板検査装置は、載置台、X−Y−Z移動機構、プローブ、測定部、操作部、記憶部および制御部を備えて、回路基板に対して所定の検査を実行可能に構成されている。この場合、載置台は、回路基板を載置可能に構成されると共に、例えば、第1部材と第1部材に対して接離する第2部材とで回路基板を挟持する複数の挟持部(クランプ機構)を備えて回路基板を載置台に固定可能に構成されている。この回路基板検査装置では、プローブを移動(プロービング)させるX−Y−Z移動機構にレーザー変位計を取り付けて、そのレーザー変位計から回路基板上の測定点までの距離を測定し、その測定結果に基づいて基準点に対する測定点の高さ方向の相対的位置を特定して、その相対的位置に基づいて測定点の高さ方向の位置情報を補正してプロービングを行う。このため、この回路基板検査装置では、回路基板の反り、変形、厚みのばらつき、および載置台に対する回路基板の傾きが生じていたとしても、各測定点に対してプローブを正確にプロービングさせることが可能となっている。一方、上記のような検査を行う際には、回路基板を載置台に確実に固定する必要がある。このため、出願人は、挟持部の第1部材に対する第2部材の接離に伴ってオン/オフする機械式のスイッチ等を用いて、第1部材に対する第2部材の近接状態(第1部材に対して第2部材が近接している状態)を判別して、近接状態と判別したときに検査を開始する構成を上記の回路基板検査装置に採用している。 As this type of circuit board inspection apparatus, a circuit board inspection apparatus disclosed by the applicant in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-121183 is known. The circuit board inspection apparatus includes a mounting table, an XYZ moving mechanism, a probe, a measurement unit, an operation unit, a storage unit, and a control unit, and is configured to perform a predetermined inspection on the circuit board. Yes. In this case, the mounting table is configured to be capable of mounting the circuit board, and, for example, a plurality of clamping portions (clamps) that clamp the circuit board between the first member and the second member that is in contact with and away from the first member. And a circuit board can be fixed to the mounting table. In this circuit board inspection apparatus, a laser displacement meter is attached to an XYZ moving mechanism for moving the probe (probing), and the distance from the laser displacement meter to a measurement point on the circuit board is measured, and the measurement result The relative position in the height direction of the measurement point is specified based on the reference point, and the position information in the height direction of the measurement point is corrected based on the relative position to perform probing. For this reason, in this circuit board inspection apparatus, even if the circuit board is warped, deformed, thickness variation, and the circuit board is tilted with respect to the mounting table, the probe can be accurately probed at each measurement point. It is possible. On the other hand, when performing the inspection as described above, it is necessary to securely fix the circuit board to the mounting table. For this reason, the applicant uses a mechanical switch or the like that is turned on / off in accordance with the contact and separation of the second member with respect to the first member of the holding portion, and the proximity state of the second member to the first member (first member). The circuit board inspection apparatus employs a configuration in which an inspection is started when it is determined that the second member is in proximity to the other and the proximity state is determined.
ところが、出願人が既に開発している上記の回路基板検査装置には、解決すべき以下の課題がある。すなわち、上記の回路基板検査装置では、各挟持部に個別的に取り付けたスイッチによる検出結果に基づいて第1部材に対する第2部材の近接状態を判別している。このため、この回路基板検査装置には、挟持部の構成が複雑となるため、その分、挟持部の製造コスト、ひいては回路基板検査装置の製造コストが上昇するという課題が存在する。また、各挟持部にスイッチを個別的に取り付ける必要があるため、その分、挟持部の小形化が困難となるという課題も存在する。 However, the circuit board inspection apparatus already developed by the applicant has the following problems to be solved. That is, in the above circuit board inspection apparatus, the proximity state of the second member with respect to the first member is determined based on the detection result by the switch individually attached to each clamping part. For this reason, in this circuit board inspection apparatus, since the structure of a clamping part becomes complicated, there exists the subject that the manufacturing cost of a clamping part and by extension, the manufacturing cost of a circuit board inspection apparatus increase correspondingly. Moreover, since it is necessary to attach a switch to each clamping part separately, the subject that size reduction of a clamping part becomes difficult also exists.
本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、コストの上昇を抑えつつ挟持部の小形化を実現し得る回路基板検査装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem to be solved, and a main object of the present invention is to provide a circuit board inspection apparatus capable of realizing a reduction in the size of the sandwiching portion while suppressing an increase in cost.
上記目的を達成すべく請求項1記載の回路基板検査装置は、第1部材と当該第1部材に対して接離する第2部材とで回路基板を挟持する挟持部を有して当該回路基板を保持可能な基板保持機構と、前記第1部材に対する前記第2部材の近接状態を判別する判別部と、前記基板保持機構によって保持されている前記回路基板までの間の第1距離を光学的に検出する距離検出部と、検査用プローブを移動させる移動機構と、前記検査用プローブを介して入力した電気信号に基づいて前記回路基板に対して所定の検査処理を実行する検査部と、前記判別部によって前記近接状態と判別されたときに前記距離検出部によって検出された前記第1距離に基づいて前記移動機構を制御して前記回路基板に前記検査用プローブを接触させると共に前記検査部に対して前記検査処理を実行させる制御部とを備えた回路基板検査装置であって、前記距離検出部は、前記第2部材における所定部位までの間の第2距離を検出可能に構成され、前記判別部は、前記距離検出部よって検出された前記第2距離が所定の基準値以上のときに前記近接状態と判別し、当該第2距離が前記基準値未満のときに非近接状態と判別する。
In order to achieve the above object, a circuit board inspection apparatus according to
また、請求項2記載の回路基板検査装置は、請求項1記載の回路基板検査装置において、前記第2部材には、前記所定部位としての平坦面が形成されている。 A circuit board inspection apparatus according to a second aspect is the circuit board inspection apparatus according to the first aspect, wherein the second member has a flat surface as the predetermined portion.
また、請求項3記載の回路基板検査装置は、請求項2記載の回路基板検査装置において、前記第2部材には、前記平坦面としての底面を有する凹部が形成され、前記凹部の深さは、前記近接状態において、前記距離検出部から前記底面までの距離と当該距離検出部から前記第2部材の挟持面までの距離とが同一距離となるように規定されている。
The circuit board inspection apparatus according to
また、請求項4記載の回路基板検査装置は、請求項1から3のいずれかに記載の回路基板検査装置において、前記判別部によって前記非近接状態と判別されたときにその旨を報知する報知部を備えている。
Further, the circuit board inspection apparatus according to
また、請求項5記載の回路基板検査装置は、請求項1から4のいずれかに記載の回路基板検査装置において、前記制御部は、前記判別部によって前記非近接状態と判別されたときに前記検査部に対して前記検査処理を停止させる。
The circuit board inspection apparatus according to claim 5 is the circuit board inspection apparatus according to any one of
請求項1記載の回路基板検査装置では、距離検出部によって検出された第2部材の所定部位までの間の第2距離が基準値以上のときに第1部材に対して第2部材が近接している近接状態と判別し、第2距離が基準値未満のときに非近接状態と判別する。つまり、この回路基板検査装置では、検査用プローブを接触させるべき位置の特定に用いる距離検出部を、近接状態の判別にも用いている。このため、この回路基板検査装置によれば、近接状態を判別するための専用のスイッチを挟持部に個別的に取り付ける必要がない分、挟持部の製造コスト、ひいては回路基板検査装置の製造コストを十分に低減することができる。また、挟持部にスイッチを取り付ける必要がない分、挟持部を小形化することができる。また、この回路基板検査装置によれば、光学的に距離を検出する距離検出部によって検出された第2距離に基づいて近接状態を判別しているため、例えば、機械式のスイッチ等を用いて第2部材の近接状態を判別する従来の回路基板検査装置とは異なり、スイッチの誤作動に起因する判別ミスを少なく抑えることができる。
The circuit board inspection apparatus according to
また、請求項2記載の回路基板検査装置によれば、第2部材に所定部位としての平坦面を形成したことにより、距離検出部からその所定部位(つまり平坦面)までの第2距離を正確に検出することができる。 According to the circuit board inspection apparatus of the second aspect, since the flat surface as the predetermined portion is formed on the second member, the second distance from the distance detection unit to the predetermined portion (that is, the flat surface) is accurately determined. Can be detected.
また、請求項3記載の回路基板検査装置によれば、平坦面としての底面を有する凹部を第2部材に形成し、近接状態において距離検出部から底面までの距離と距離検出部から第2部材の挟持面までの距離とが同一距離となるように凹部の深さを規定したことにより、正確に距離を検出できる範囲(検出可能範囲)が狭い範囲に限られている距離検出部を用いる場合であっても、第1距離および第2距離の双方がその検出可能範囲内となるように距離検出部の配置位置を調整することで、第1距離および第2距離の双方を正確に検出することができる。 According to the circuit board inspection apparatus of the third aspect, the recess having a bottom surface as a flat surface is formed in the second member, and the distance from the distance detection unit to the bottom surface and the second member from the distance detection unit in the proximity state. When using a distance detector that has a narrow range that can accurately detect the distance (detectable range) by defining the depth of the recess so that the distance to the clamping surface is the same distance Even so, it is possible to accurately detect both the first distance and the second distance by adjusting the arrangement position of the distance detection unit so that both the first distance and the second distance are within the detectable range. be able to.
また、請求項4記載の回路基板検査装置によれば、判別部によって非近接状態と判別されたときにその旨を報知する報知部を備えたことにより、第2部材が非近接状態であることに起因して、検査結果が不正確となるおそれのある状態である旨を使用者に確実に認識させることができる。 In addition, according to the circuit board inspection apparatus of the fourth aspect, the second member is in the non-proximity state by including the notification unit that notifies the fact when the determination unit determines that the non-proximity state is detected. Therefore, the user can be surely recognized that the inspection result is in a state that may be inaccurate.
また、請求項5記載の回路基板検査装置によれば、判別部によって非近接状態と判別されたときに制御部が検査部に対して検査処理を停止させることにより、検査結果が不正確となるおそれのある状態での検査の継続を確実に防止することができる。 In addition, according to the circuit board inspection apparatus of the fifth aspect, when the determination unit determines that it is in the non-proximity state, the control unit causes the inspection unit to stop the inspection process, so that the inspection result becomes inaccurate. It is possible to reliably prevent the inspection from continuing in a state where there is a fear.
以下、本発明に係る回路基板検査装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。 Embodiments of a circuit board inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
最初に、図1に示す回路基板検査装置1の構成について説明する。回路基板検査装置1は、本発明に係る回路板検査装置の一例であって、同図に示すように、基板保持機構2、移動機構3、センサ4、検査部5、操作部6、記憶部7、表示部8および制御部9を備えて、例えば、図3,4に示す回路基板100に対して所定の電気的検査を実行可能に構成されている。
First, the configuration of the circuit
基板保持機構2は、本発明における基板保持機構の一例であって、図2に示すように、基台本体11、クランプ部(挟持部)12a,12b(以下、両クランプ部12a,12bを区別しないときには、「クランプ部12」ともいう)、コンプレッサ13および電磁弁14を備えて、回路基板100を保持可能に構成されている。
The
基台本体11は、図3に示すように、一例として、平面視略矩形の板状に形成されている。また、同図および図4に示すように、基台本体11の中央部には、検査時において回路基板100に対する検査用プローブ71(図1参照)の接触を可能とする平面視略矩形の開口部11aが形成されている。また、開口部11aを構成する各縁部21a〜21d(以下、区別しないときには「縁部21」ともいう)のうちの互いに対向する一対の縁部21(例えば、縁部21b,21d)には、クランプ部12bを移動させるためのレール22がそれぞれ配設されている。
As shown in FIG. 3, the
クランプ部12a,12bは、本発明における挟持部の一例であって、図3,4に示すように、第1部材31、第2部材32および回動機構33,33をそれぞれ備えて、第1部材31と第2部材32とによって回路基板100の縁部を挟持(クランプ)可能に構成されている。第1部材31は、図3に示すように、長尺の板状に形成されている。この場合、クランプ部12aの第1部材31は、基台本体11における縁部21aの延在方向(同図に示すY方向)に沿って配置されて縁部21aに固定されている。また、クランプ部12bの第1部材31は、基台本体11の縁部21cの延在方向(Y方向)に沿って配置されると共に、Y方向に直交する方向(同図に示すX方向)に沿って移動可能に構成されている。具体的には、クランプ部12bの第1部材31は、その両端部の裏面に形成されている嵌合溝(図示せず)に基台本体11のレール22,22がそれぞれ嵌め込まれることにより、レール22,22に沿って移動可能に構成されている。また、図5〜図7に示すように、各クランプ部12の第1部材31には、第2部材32を回動可能に支持するための支持部41が形成されている(各図では、両クランプ部12a,12bのうちのクランプ部12aのみを図示している)。
The
第2部材32は、図3に示すように、長尺の板状に形成されている。また、第2部材32は、図5〜図7に示すように、ヒンジ部51が第1部材31の支持部41に支持されることにより、クランプ時において回路基板100に当接する挟持面52が第1部材31の挟持面42に対して接離するように回動可能に構成されている。また、第2部材32の上面側には、凹部53が形成されている。この場合、凹部53は、図6に示すように、その底面54が平坦な面(平坦面)に形成されている。また、凹部53の深さは、第1部材31の挟持面42に対して第2部材32の挟持面52が近接している状態(第1部材31に対する第2部材32の近接状態)において、センサ4から底面54までの高さ方向(同図におけるZ方向)に沿った距離(長さ)とセンサ4から第2部材32の挟持面52までの高さ方向に沿った距離とが同一距離となるように規定されている。
As shown in FIG. 3, the
回動機構33は、図5〜図7に示すように、スプリング61およびエアシリンダ62を備えて構成されている。スプリング61は、第1部材31の支持部41と第2部材32のヒンジ部51との間に配設されて、第2部材32の挟持面52が第1部材31の挟持面42に近接する向きに第2部材32を付勢する。エアシリンダ62は、第1部材31に取り付けられている。この場合、エアシリンダ62は、コンプレッサ13からのエアの供給によってロッド62aを突出させて、第2部材32に形成されている突起部55をロッド62aで押圧することにより、スプリング61の付勢力に抗して、第2部材32の挟持面52が第1部材31の挟持面42から離間する向きに第2部材32を回動させる。
The
コンプレッサ13は、エア(圧縮空気)を供給する。電磁弁14は、コンプレッサ13およびクランプ部12のエアシリンダ62にエアチューブを介して接続されて、制御部9の制御に従ってエアシリンダ62に対するコンプレッサ13からのエアの供給および供給停止を行う。
The
移動機構3は、図1に示すように、制御部9の制御に従って検査用プローブ71を移動させて、基板保持機構2によって保持されている回路基板100における所定のプロービングポイントに検査用プローブ71の先端部をプロービング(接触)させる。また、移動機構3は、制御部9の制御に従ってセンサ4を移動させる。センサ4は、レーザー光を用いて非接触で距離を測定する光学式距離測定器であって、本発明における距離検出部を構成する。この場合、センサ4は、制御部9の制御に従い、基板保持機構2によって保持されている回路基板100とセンサ4との間の距離L1(本発明における第1距離:図6参照)、およびセンサ4から基板保持機構2におけるクランプ部12の第2部材32に形成されている凹部53の底面54(本発明における所定部位)までの距離L2(本発明における第2距離)を検査光(例えば、図6に示すレーザー光B)を用いて光学的に検出して検出信号Sdを出力する。
As shown in FIG. 1, the moving
検査部5は、制御部9の制御に従い、回路基板100にプロービングさせられた検査用プローブ71を介して入力した電気信号Siに基づき、回路基板100に対して所定の電気的検査(検査処理)を実行する。操作部6は、各種の操作スイッチを備えて構成され、これらの操作スイッチが操作されたときに操作信号Soを出力する。記憶部7は、回路基板100についてのプロービング用データDpを記憶する。この場合、プロービング用データDpには、回路基板100の大きさ(具体的には、回路基板100におけるX方向(図3参照)に沿った長さ、およびY方向(同図参照)に沿った長さ)を示す情報や、回路基板100におけるプロービングポイントを示す情報を含んで構成されている。また、記憶部7は、基板保持機構2におけるクランプ部12の第2部材32に形成されている凹部53の位置(例えば、第1部材31の所定部位(一例として同図における左下の角部)から凹部53までの、X方向に沿った長さ、およびY方向に沿った長さ)を示す位置データDhを記憶する。さらに、記憶部7は、制御部9によって実行される判別処理の際に用いられる基準値Lsを示す基準値データDsを記憶する。この場合、基準値Lsは、図6に示すように、クランプ部12が回路基板100をクランプしたとき(つまり、第2部材32が近接状態であるとき)に、凹部53の底面54が位置し得る最も高い位置とセンサ4との間のZ方向(同図参照)に沿った距離(長さ)であって、クランプ部12が平均的な厚みの回路基板100をクランプしたときにセンサ4によって検出される距離L2よりも僅かに短い距離に規定されている。
The inspection unit 5 performs a predetermined electrical inspection (inspection process) on the
表示部8は、制御部9の制御に従って検査結果を表示する。また、表示部8は、本発明における報知部として機能し、制御部9の制御に従い、後述する警告画面を表示する。制御部9は、操作部6から出力される操作信号Soに従って各種の処理を実行する。また、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L1に基づき、検査用プローブ71をプロービングさせるべきプロービングポイントの位置(高さ)を特定すると共に、移動機構3を制御してその位置に検査用プローブ71をプロービングさせる。
The
さらに、制御部9は、本発明における判別部として機能し、基板保持機構2におけるクランプ部12の第1部材31に対する第2部材32の近接状態(第1部材31に対して第2部材32が近接している状態)を判別する判別処理を実行する。具体的には、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L2(センサ4によって検出された距離L2)が所定の基準値Ls以上のときに近接状態と判別し、距離L2が基準値Ls未満のときに非近接状態(第2部材32が近接状態ではない状態)と判別する。また、制御部9は、近接状態と判別したときには検査部5に対して検査処理を実行(続行)させ、非近接状態と判別したときには、その旨を報知するための警告画面を表示部8に表示させると共に、検査部5に対して検査処理を停止(中断)させる。
Further, the
この場合、この回路基板検査装置1では、プロービングポイントの位置の特定に用いるセンサ4を、近接状態の判別にも用いている(つまり、センサ4を兼用している)。このため、近接状態を判別するための専用のスイッチを各クランプ部12に個別的に取り付ける必要がないため、その分、クランプ部12の製造コスト、ひいては回路基板検査装置1の製造コストを低減することが可能となっている。また、各クランプ部12にスイッチを取り付ける必要がないため、その分、クランプ部12を小形化することが可能となっている。
In this case, in the circuit
次に、回路基板検査装置1を用いて、図3に示す回路基板100に対して所定の電気的検査を行う検査方法について、添付図面を参照して説明する。
Next, an inspection method for performing a predetermined electrical inspection on the
まず、基板保持機構2のクランプ部12bを図3,4に示すX方向に沿って(レール22に沿って)移動させて、両クランプ部12a,12bの間のX方向に沿った長さを、回路基板100の縁部をクランプ可能な長さに調整する。
First, the
次いで、操作部6を操作して、検査の開始を指示する。この際に、制御部9が、操作部6から出力された操作信号Soに従って処理を開始する。この場合、制御部9は、まず、基板保持機構2の電磁弁14を制御して、各クランプ部12における各回動機構33のエアシリンダ62に対してコンプレッサ13からのエアを供給させる。この際に、各クランプ部12では、図5に示すように、各エアシリンダ62のロッド62aが突出して第2部材32の突起部55を押圧して、スプリング61の付勢力に抗して第2部材32を回動させる。これにより、同図に示すように、第2部材32の挟持面52が第1部材31の挟持面42から離間する。
Next, the
次に、図外の基板供給装置が、図5に示すように、回路基板100の縁部の下面がクランプ部12における第1部材31の挟持面42に当接するように回路基板100を供給する。続いて、制御部9は、電磁弁14を制御して、各エアシリンダ62に対するエアの供給を停止させる。この際に、各クランプ部12では、図6に示すように、各エアシリンダ62のロッド62aの突出が解除されて、それに伴って各スプリング61の付勢力によって第2部材32が回動し、第2部材32の挟持面52によって回路基板100の縁部が押圧される。これにより、回路基板100の縁部が各クランプ部12によってクランプされて、回路基板100が保持される。
Next, the board supply device (not shown) supplies the
次いで、制御部9は、記憶部7からプロービング用データDp、位置データDhおよび基準値データDsを読み出す。続いて、制御部9は、第1部材31に対する第2部材32の近接状態を判別する判別処理を実行する。この判別処理では、制御部9は、プロービング用データDpによって示される回路基板100の長さX方向に沿った長さ、およびY方向に沿った長さ、並びに位置データDhによって示される第1部材31の所定部位から第2部材32の凹部53までの、X方向に沿った長さ、およびY方向に沿った長さに基づき、各クランプ部12における凹部53の位置(X−Y座標)を特定する。次いで、制御部9は、移動機構3を制御して、いずれか一方のクランプ部12における凹部53のX−Y座標方向の上方にセンサ4を移動させる。
Next, the
続いて、制御部9は、センサ4を作動させる。これに応じて、センサ4が、第2部材32における凹部53の底面54との間の(センサ4から底面54までの)距離L2を検出して検出信号Sdを出力する。次いで、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L2が基準値データDsによって示される基準値Ls以上であるか否かに基づいて第1部材31に対する第2部材32の近接状態を判別する。この場合、例えば、図6に示すように、距離L2が基準値Ls以上のときには、制御部9は、近接状態と判別する。ここで、同図に示すように、距離L2が基準値Ls以上のときには、第2部材32が第1部材31に十分に近接して第2部材32の挟持面52が回路基板100の縁部に当接し、これによって第1部材31および第2部材32によって回路基板100が確実にクランプされている。
Subsequently, the
この場合、この回路基板検査装置1では、光学的に距離を検出するセンサ4によって検出された距離L2に基づいて近接状態を判別しているため、例えば、第1部材31に対する第2部材32の接離に伴ってオン/オフする機械式のスイッチ等を用いて近接状態を判別する従来の回路基板検査装置とは異なり、スイッチの誤作動に起因する判別ミスを少なく抑えることが可能となっている。また、この回路基板検査装置1では、第1部材31に対する第2部材32の近接状態(回路基板100をクランプした状態)において、センサ4から底面54までの距離とセンサ4から第2部材32の挟持面52までの距離とが同一距離となるように凹部53の深さが規定されている。このため、この回路基板検査装置1では、正確に距離を検出できるセンサ4の距離検出範囲が狭い範囲に限られている場合であっても、センサ4から回路基板100までの距離L1、およびセンサ4から底面54までの距離L2の双方を正確に測定することが可能となっている。
In this case, in this circuit
次いで、制御部9は、移動機構3を制御して、他方のクランプ部12における凹部53のX−Y座標方向の上方にセンサ4を移動させて、上記と同様にして、近接状態を判別する。この場合、両クランプ部12の第2部材32がいずれも近接状態であると判別したときには、制御部9は、移動機構3を制御してセンサ4を回路基板100の上方に移動させる。続いて、制御部9は、センサ4を作動させて、回路基板100との間の距離L1(センサ4から回路基板100までの距離L1)を検出させる。次いで、制御部9は、センサ4から出力された検出信号Sdによって示される距離L1に基づいてプロービングポイントの位置を特定する。次いで、制御部9は、移動機構3を制御してその位置に検査用プローブ71をプロービングさせる。
Next, the
続いて、制御部9は、検査部5に対して検査処理の実行を指示し、これに応じて、検査部5が、検査用プローブ71を介して入力した電気信号Siに基づき、回路基板100に対して所定の電気的検査を実行する。次いで、制御部9は、検査部5による検査の結果を表示部8に表示させる。
Subsequently, the
一方、判別処理の実行時において、例えば、図7に示すように、距離L2が基準値Ls未満のときには、制御部9は、非近接状態(第2部材32が近接状態ではない状態)と判別する。ここで、同図に示すように、距離L2が基準値Ls未満のとき、つまり第2部材32が非近接状態のときには、第1部材31および第2部材32によって回路基板100が確実にクランプされずに検査中に回路基板100が基板保持機構2に対して位置ずれして、これに起因して検査結果が不正確となるおそれがある。このため、この回路基板検査装置1では、判別処理の実行時において非近接状態と判別したときには、制御部9が検査部5に対して検査処理の停止(中断)を指示し、これに応じて検査部5が検査処理を停止(中断)する。また、このときには、制御部9は、その旨を報知するための警告画面を表示部8に表示させる。この場合、この回路基板検査装置1では、このように、検査処理の停止(中断)が行われると共に警告画面が表示されるため、第2部材32が非近接状態であることに起因して、検査結果が不正確となるおそれのある状態での検査が継続される事態が確実に防止されると共に、そのような状態である旨が使用者に確実に認識させることが可能となっている。
On the other hand, when the determination process is performed, for example, as shown in FIG. 7, when the distance L2 is less than the reference value Ls, the
このように、この回路基板検査装置1では、センサ4によって検出された第2部材32の所定部位(凹部53の底面54)までの距離L2が基準値Ls以上のときに近接状態と判別し、距離L2が基準値Ls未満のときに非近接状態と判別する。つまり、この回路基板検査装置1では、プロービングポイントの位置の特定に用いるセンサ4を、近接状態の判別にも用いている。このため、この回路基板検査装置1によれば、近接状態を判別するための専用のスイッチを各クランプ部12に個別的に取り付ける必要がない分、クランプ部12の製造コスト、ひいては回路基板検査装置1の製造コストを十分に低減することができる。また、各クランプ部12にスイッチを取り付ける必要がない分、クランプ部12を小形化することができる。また、この回路基板検査装置1によれば、光学的に距離を検出するセンサ4によって検出された距離L2に基づいて近接状態を判別しているため、例えば、機械式のスイッチ等を用いて近接状態を判別する従来の回路基板検査装置とは異なり、スイッチの誤作動に起因する判別ミスを少なく抑えることができる。
Thus, in this circuit
また、この回路基板検査装置1によれば、凹部53の底面54を平坦面に形成したことにより、センサ4から底面54までの距離L2を正確に検出することができる。
Further, according to the circuit
また、この回路基板検査装置1によれば、第1部材31に対する第2部材32の近接状態において、センサ4から底面54までの高さ方向距離(距離L2)とセンサ4から第2部材32の挟持面52までの距離とが同一距離となるように凹部53の深さを規定したことにより、正確に距離を検出できる範囲(検出可能範囲)が狭い範囲に限られているセンサ4を用いる場合であっても、距離L1および距離L2の双方がその検出可能範囲内となるようにセンサ4の配置位置を調整することで、距離L1,L2の双方を正確に検出することができる。
Further, according to the circuit
また、この回路基板検査装置1によれば、非近接状態と判別したときにその旨を報知するための警告画面を表示部8に表示させることにより、第2部材32が非近接状態であることに起因して、検査結果が不正確となるおそれのある状態である旨を使用者に確実に認識させることができる。
In addition, according to the circuit
また、この回路基板検査装置1によれば、非近接状態と判別したときに検査部5に対して検査処理を停止させることにより、検査結果が不正確となるおそれのある状態での検査の継続を確実に防止することができる。
Further, according to the circuit
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、ヒンジ部51を中心として第2部材32が回動するクランプ部12を採用した例について上記したが、このクランプ部12に代えて、第2部材が第1部材に対して上下動することによって回路基板100を挟持するクランプ部を採用することもできる。また、第2部材32に凹部53を形成した例について上記したが、第2部材32に凹部53を形成することなく平坦面だけを形成して、センサ4からその平坦面までの距離L2に基づいて近接状態を判別する構成を採用することもできる。また、1つの検査用プローブ71を回路基板100の一面側(上記例では上面側)にプロービングさせる回路基板検査装置に適用した例について上記したが、複数の検査用プローブ71を回路基板100の一面側にプロービングさせる回路基板検査装置や、回路基板100の両面側に1または複数の検査用プローブ71をプロービングさせる回路基板検査装置に適用することもできる。また、複数の検査用プローブを並設したプローブユニット(治具型のプローブユニット)を移動させて、各検査用プローブを回路基板100に一度にプロービングさせるタイプの回路基板検査装置1に適用することもできる。
In addition, this invention is not limited to said structure. For example, the example in which the clamp part 12 in which the
1 回路基板検査装置
2 基板保持機構
3 移動機構
4 センサ
5 検査部
8 表示部
9 制御部
12a,12b クランプ部
31 第1部材
32 第2部材
53 凹部
54 底面
71 検査用プローブ
100 回路基板
L1,L2 距離
Ls 基準値
Si 電気信号
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記距離検出部は、前記第2部材における所定部位までの間の第2距離を検出可能に構成され、
前記判別部は、前記距離検出部よって検出された前記第2距離が所定の基準値以上のときに前記近接状態と判別し、当該第2距離が前記基準値未満のときに非近接状態と判別する回路基板検査装置。 A board holding mechanism that holds a circuit board by holding a circuit board between the first member and a second member that contacts and separates from the first member, and the second member with respect to the first member. A discriminating unit for discriminating the proximity state of the member, a distance detecting unit for optically detecting a first distance to the circuit board held by the substrate holding mechanism, and a moving mechanism for moving the inspection probe An inspection unit that performs a predetermined inspection process on the circuit board based on an electrical signal input through the inspection probe, and the distance detection unit when the determination unit determines the proximity state And a control unit that controls the moving mechanism based on the detected first distance to bring the inspection probe into contact with the circuit board and to cause the inspection unit to execute the inspection process. An inspection apparatus,
The distance detection unit is configured to be able to detect a second distance to a predetermined part in the second member,
The discriminating unit discriminates the proximity state when the second distance detected by the distance detection unit is greater than or equal to a predetermined reference value, and discriminates the non-proximity state when the second distance is less than the reference value. Circuit board inspection device.
前記凹部の深さは、前記近接状態において、前記距離検出部から前記底面までの距離と当該距離検出部から前記第2部材の挟持面までの距離とが同一距離となるように規定されている請求項2記載の回路基板検査装置。 A recess having a bottom surface as the flat surface is formed in the second member,
The depth of the recess is defined such that, in the proximity state, the distance from the distance detection unit to the bottom surface and the distance from the distance detection unit to the clamping surface of the second member are the same distance. The circuit board inspection apparatus according to claim 2.
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