JP5322780B2 - 超電導マグネット装置 - Google Patents

超電導マグネット装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5322780B2
JP5322780B2 JP2009132102A JP2009132102A JP5322780B2 JP 5322780 B2 JP5322780 B2 JP 5322780B2 JP 2009132102 A JP2009132102 A JP 2009132102A JP 2009132102 A JP2009132102 A JP 2009132102A JP 5322780 B2 JP5322780 B2 JP 5322780B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
magnetic field
field compensation
disturbance magnetic
turn
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009132102A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010274039A (ja
Inventor
肇 田邉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2009132102A priority Critical patent/JP5322780B2/ja
Priority to US12/574,937 priority patent/US8138867B2/en
Priority to CN2010101209552A priority patent/CN101900794B/zh
Publication of JP2010274039A publication Critical patent/JP2010274039A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5322780B2 publication Critical patent/JP5322780B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/38Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
    • G01R33/381Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field using electromagnets
    • G01R33/3815Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field using electromagnets with superconducting coils, e.g. power supply therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/288Provisions within MR facilities for enhancing safety during MR, e.g. reduction of the specific absorption rate [SAR], detection of ferromagnetic objects in the scanner room
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/38Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
    • G01R33/389Field stabilisation, e.g. by field measurements and control means or indirectly by current stabilisation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/42Screening
    • G01R33/421Screening of main or gradient magnetic field

Description

この発明は、超電導コイルによって静磁場を発生する静磁場源(以下、主コイルという)内で生じる磁気共鳴現象を利用した医療用断層撮像装置(以下、MRI装置という)において、MRIの撮像に悪影響を及ぼす外乱磁場を補償するためのコイル(以下、外乱磁場補償コイルという)を有する超電導マグネット装置に関するものである。
MRI装置に必要な静磁場を発生するものとして、一般的に永久磁石、常伝導マグネット、超電導マグネットなどがあげられるが、静磁場の大きさや時間的安定性などの観点から超電導マグネットが主流となっているのが現状である。超電導マグネットを利用した静磁場源においては、発生する磁場が強力であるため、外部に磁場を漏洩するのを防ぐ方法として主として2種類の手法が採用されており、これによってマグネットの種類が大きく2分される。一つは、マグネット本体を鉄体で覆う方法(パッシブシールド方式)で、もう一つは鉄体の代わりに逆極性の超電導コイルを配置する方法(アクティブシールド方式)である。このうち、アクティブシールド方式のマグネットの方が、本体の軽量性、コンパクト性などから主流となっている。
一方、MRI装置の設置場所・環境は様々で、道路に隣接している場合もあれば、電車や送電用の電力ケーブルなどが近接している場合もある。その場合、大きな鉄体の接近や、交流磁場の影響などで、MRIの撮像中に外部から撮像空間内に無視できない大きさの変動磁場(以下、外乱磁場という)が流入してくることになる。前記パッシブシールド方式の超電導マグネットであれば、鉄体に自己シールド効果があるため問題にならない場合が多いが、アクティブシールド方式の超電導マグネットの場合、そのままでは外乱磁場のほとんどが撮像空間に流入してしまい、MRI撮像に大きな悪影響を及ぼす可能性がある。
そこで、前記外乱磁場の影響を抑制する(補償する)ために、主コイルとは別に、外乱磁場補償専用の超電導コイル(外乱磁場補償コイル)を配置することが行われている。これは、外乱磁場が流入した場合に外乱磁場補償コイル内に電流が誘起されて補償磁場を発生するというものであり、上記外乱磁場補償コイルによる補償と主コイルによる補償(比較的微少ではあるが)でキャンセルすることで、撮像空間内の磁場変動量は、流入してきた外乱磁場量の数%以下に抑えることができる。
前記主コイルは超電導コイルであり、通常は大きな電流が永久電流モードで流れているが、何らかの理由により超電導状態が破壊(以下、クエンチという)されると、一気に大きなエネルギーを放出することになる。そのエネルギーの大半は熱として放出されるが、主コイルと外乱磁場補償コイルが磁気的にカップリングしている場合には、電磁誘導という形で、外乱磁場補償コイルに対してエネルギーを放出することになる。
このとき、外乱磁場補償コイルには、磁気的カップリングの程度にもよるが比較的大きな電流が誘起されることになり、そのときにはまだ主コイルによる磁場が十分減衰していない場合が殆どであるため、外乱磁場補償コイル自体に非常に大きな電磁力がかかる。なぜならば、外乱磁場補償コイルはコストや設置スペース等の問題から主コイルに比べてターン数が少ないため、場合によっては主コイルの電流(例えば400〜700A)以上の電流が外乱磁場補償コイルに誘起されることがあるからである。それにも拘わらず外乱磁場補償コイルはターン数が少なくボリュームが小さいために、十分な強度を与えることが難しい。
そのため、外乱磁場補償コイルになるべく大きな電流を誘起させないように、例えば数10A以上は流れないようにするなどの対策が必要である。しかしながら外乱磁場補償コイルは通常、超電導コイルで構成されているため、かなり性能の低い超電導線材を使用したとしても、数10Aは簡単に流れてしまう。なぜ超電導コイルで構成されているかというと、外乱磁場には、鉄体が接近してそのまま静止するなどの状況もあり得るため、銅線などで構成すると誘起された電流がすぐに減衰してしまい、長時間補償することができなくなることもあるからである。外乱磁場補償コイルはこのような減衰時定数にも配慮して構成されている。
従って、なるべく設計段階において、主コイルと外乱磁場補償コイルの磁気的カップリングをできる限り小さくすることが肝要となる。なお、MRI用超電導マグネットは高い静磁場の均一性が要求されることから、主コイルは複数のコイルが直列接続されて構成されることが多い。また、それに伴って、外乱磁場補償コイルもほぼ同数のコイルからなり、これも直列接続されることが一般的である。なお、上記主コイルと外乱磁場補償コイルはお互いに独立した閉回路をなしている。
主コイルと外乱磁場補償コイルの磁気的カップリングを小さくするためには、お互いの距離を遠ざけることも一つの手段ではあるが、スペースや構造部材の問題から基本的には、電気的には互いに絶縁された状態で、それぞれの主コイル上に重なるように配置し、主コイルと外乱磁場補償コイルの巻ターン数(巻ターン数比)を適切に選ぶことで、磁気的カップリングを小さくすることが行われている(特許文献1を参照)。
表1にその一例を示す。なお、本例では、主コイルおよび外乱磁場補償コイルはそれぞれ6対の数を有し、全ての外乱磁場補償コイルが主コイルの上に重なるように配置されている。(詳細な位置寸法は記述していない)
表1 従来技術における主コイルと外乱磁場補償コイルのそれぞれの巻ターン数例
このとき、撮像空間内の磁場変動量は、外乱磁場補償コイルNo.1〜No.6の相対的なターン数比から論理計算すると、流入してきた外乱磁場量の約4.2%であり、一般的な目標値である5%以下を満足している。
またこのとき、主コイルと外乱磁場補償コイルの自己インダクタンスおよび相互インダクタンスはそれぞれ、以下の通りである。
主コイルの自己インダクタンス 37.790H(ヘンリー)
外乱磁場補償コイルの自己インダクタンス 3.095H(ヘンリー)
両コイルの相互インダクタンス 0.014H(ヘンリー)
主コイルがクエンチした後の各コイル内に流れる電流変化のイメージを図7に示している。上述したように、両コイルの相互インダクタンスが非常に小さいため、例えば定常時に500Aの電流が流れていた主コイルがクエンチして0Aになった場合、熱による消費などを考慮しなくても外乱磁場補償コイルには約2.3Aの電流しか誘起されず、前述のような誘起電流によって生じる電磁力に悩まされることは殆どない。
次に、従来の超電導マグネットの主要構成を図8に従って説明する。図中、該超電導マグネット100はMRIの撮像空間内に静磁場を発生する主コイル200と撮像空間内に流入する外乱磁場の影響を抑制(補償)する外乱磁場補償コイル310とからなり、それぞれ超電導コイルからなっている。主コイル200、外乱磁場補償コイル310は、一つの閉ループ回路をなしており、互いに電気的に独立している。外乱磁場補償コイル310は基本的に主コイル200のそれぞれのコイル上に配置されている。なお、図における主コイル200および外乱磁場補償コイル310の各コイル内に記入された、「+」、「−」の符号は、各コイルの巻方向を示している。
主コイル200はダイオード221を用いて比較的エネルギーの小さなコイルグループ210(コイル201a、201b、202a、202b、203a、203b、204a、204b)と、比較的エネルギーの大きなコイルグループ211(コイル205a、205b、206a、206b)からなる2つの回路に分割されており、それにより、小さな体積(熱容量)のコイルで大きなエネルギーを消費する危険性を低減させ、クエンチ時の発生電圧やエネルギー消費(コイルの発熱)に対する保護を行っている。
しかし、どのコイルがクエンチしたとしても、2つのダイオード回路で少なからず電流差を生じることは否定できない。この電流差は、クエンチを生じたコイル、クエンチバック手法などにより様々であるが、主コイルがクエンチした後の両コイルの電流イメージの一例を図9に示している。本例では、表1におけるNo.1〜No.4をエネルギーの小さいコイルグループ、No.5、No.6を大きいコイルグループとしているが、この場合、図から明らかなようにエネルギーの大きいグループと小さいグループの電流差は最大300A程度にもなる。それにより、外乱磁場補償コイルにも大きな電流が過渡的に誘起され、最大で200A程度に達することがある。
すなわち、いかに主コイルと外乱磁場補償コイルの磁気的カップリング(相互インダクタンス)を小さくしたとしても、主コイルのそれぞれエネルギーの小さいコイルグループおよび大きいコイルグループと外乱磁場補償コイルの磁気的カップリング(相互インダクタンス)が大きければ、クエンチの際には、一時的に外乱磁場補償コイル内に大きな電流が誘起されることが分かる。本例で、主コイルの各々のコイルグループと外乱磁場補償コイルの相互インダクタンスは以下のとおりである。

主コイルの小さいコイルク゛ルーフ゜と外乱磁場補償コイルとの相互インタ゛クタンス 2.206H(ヘンリー)
主コイルの大きいコイルク゛ルーフ゜と外乱磁場補償コイルとの相互インタ゛クタンス −2.192H(ヘンリー)
(合計)主コイルと外乱磁場補償コイルとの相互インタ゛クタンス
0.014H(ヘンリー)
上記の結果から、主コイル各々と外乱磁場補償コイルの相互インダクタンスは、主コイルと外乱磁場補償コイルの相互インダクタンスの約160倍もの大きさになっていることが分かる。これによって、外乱磁場補償コイルに最大200A程度の電流が誘起されたことになる。
このとき、外乱磁場補償コイルには大きな電磁力が発生しており、この具体例を表2に示す。
表2 従来のクエンチ例における外乱磁場補償コイルにかかる最大電磁力
表2から、特にNo.6コイルのR方向電磁力が大きいことが分かる。No.6コイルは、配置の関係上、外周部にスペースの余裕がないことが多く、R方向電磁力の対策を講じにくいため、最優先課題として、この電磁力を低減することが求められる。また、No.6の外乱磁場補償コイルの巻ターン数は表1より515ターンであるが、やはりスペース上の問題から、これを低減することも課題として挙げられる。しかしながら、通常の外乱磁場補償コイルの設計においては、主コイルとの磁気的カップリングを小さくしようとすれば、どうしてもNo.6コイルの巻ターン数は比較的大きい値になってしまい、低減することは難しい。
一方、上述の内容から、主コイルのそれぞれエネルギーの小さいコイルグループおよびエネルギーの大きいコイルグループと外乱磁場補償コイルの磁気的カップリング(相互インダクタンス)を小さくすることが望まれるとはいえ、主コイル(全体)と外乱磁場補償コイルの相互インダクタンスも同時に小さくすることが望ましい。なぜなら、外乱磁場補償コイルにとっては、主コイルがクエンチした場合に誘起される電流だけでなく、主コイルを励磁あるいは消磁する場合や、超電導マグネット内に設置されている永久電流スイッチ(PCS)220(図8参照)の超電導部がクエンチする場合に誘起される電流も考慮の対象にしておく必要があり、この場合は、主コイル(全体)と外乱磁場補償コイルの相互インダクタンスによって誘起電流が決まるためである。
特許第3043478号
以上説明したように、MRI装置外部から流入する変動磁場を抑制するための外乱磁場補償コイルを備えた超伝導マグネット装置において、例えば主コイルがクエンチした場合に生じる誘導電流を最小にするために主コイル全体と外乱磁場補償コイルとの相互インダクタンスを最小にしたとしても、主コイルが複数の保護ダイオード回路を有している場合にはクエンチ時に各ダイオード回路で電流差を生じるため、各ダイオード回路と外乱磁場補償コイルとの相互インダクタンスによって大きな誘導電流が生じてしまうという問題点があった。
この発明の目的は、上記のような課題を解決し、主コイルがクエンチした場合に、外乱磁場補償コイルをできるだけ安全に保護し、不具合を生じにくくすることにある。
この発明に係る超電導マグネット装置は、撮像空間内に静磁場を発生させるための主コイルと、外部から流入する変動磁場の影響を撮像空間において抑制する(補償する)外乱磁場補償コイルとで構成され、前記主コイルは少なくとも2つのダイオード回路に分割されており、前記外乱磁場補償コイルは前記主コイルの各ダイオード回路との相互インダクタンスが最小となるように少なくとも一つのマイナスターンのコイルを有することを特徴とするものである。
この発明によれば、主コイル全体と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングを低減できるだけでなく、主コイル内のそれぞれのダイオード回路と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングも低減することができるため、主コイルがクエンチして各ダイオード間で電流差を生じた場合でも、外乱磁場補償コイルに誘起される電流が抑えられ、それに伴って発生する電磁力も抑えられるため、外乱磁場補償コイルへの特に機械的な不具合が生じにくくなる。
また、外乱磁場補償コイルに誘起される電流が下がることで、外乱磁場補償コイル自身がクエンチする可能性も低減できるため、それに伴う熱的、電気的な処置も軽減できる。
この発明の超電導マグネットを使用したMRI装置の構成を示す概念図である。 この発明の実施の形態1の超電導マグネットの構成を示す概念回路図である。 この発明の実施の形態2の超電導マグネットの構成を示す概念回路図である。 この発明の実施の形態3の超電導マグネットの構成を示す概念回路図である。 この発明の実施の形態4の超電導マグネットの構成を示す概念回路図である。 この発明の実施の形態1における主コイルがクエンチした後の各コイルグループの電流イメージ(2ダイオード回路の場合)である。 従来の技術における主コイルがクエンチした後の主コイルの電流イメージ(1回路の場合)である。 従来の超電導マグネットの構成を示す概念回路図である。 従来の主コイルがクエンチした後の各コイルグループの電流イメージ(2ダイオード回路の場合)の一例を示す図である。
実施の形態1.
以下、図面を参照してこの発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は、この発明の超電導マグネットを使用したMRI装置の構成を示す概念図である。超電導マグネット100は真空断熱容器400内の冷却容器500内に収納される。一般に、超電導マグネット100の発生する静磁場内の撮像空間に挿入されている患者(被検者)10の周囲には、傾斜磁場コイル600、RF送信コイル700およびRF受信コイル800が配置されており、これらは制御装置900により制御されている。制御装置900は、例えば、傾斜磁場電源901、RF送信系902、RF受信系903、シーケンサ904、CPU905およびモニタ、キーボードなどのコンソール906などから構成される。
図2は、上記のようなMRI装置に使用される超電導マグネット100の構成を示す概念回路図である。該超電導マグネット100は、MRIの撮像空間内に静磁場を発生する主コイル200と撮像空間内に流入する外乱磁場の影響を抑制(補償)する外乱磁場補償コイル300とからなり、それぞれの回路は電気的に独立している。主コイル200は超電導コイルであり、一つの閉ループをなしている。主コイル200は通常、冷却容器500内で液体ヘリウムなどの冷媒に浸漬されており超電導状態になっており、それによってMRIの撮像空間内に強力かつ安定な静磁場を発生している。主コイル200の超電導ループ内には、超電導スイッチ220(PCS:Persistent Current Switch)が配置されており、図示していないが外部の静磁場電源で主コイル200に磁場を発生させた後、静磁場電源を切り離し、主コイル200内に電流を閉じ込める役割を行う。
主コイル200は時に、微小割れによる内部発熱などによって超電導状態から常電導状態へと転移する、いわゆるクエンチ状態となることがある。主コイル200はクエンチによって生じる抵抗によって急激に電圧を発生させ、かつコイル内でのエネルギー消費によって発熱する。これによる主コイル200内の不具合を防ぐためにダイオード221を用いて保護を行っている。ダイオード221はどちらの方向でも作動するように両方向を一組として設置されている。なお、図2においては、各回路、各方向のダイオード221は便宜上それぞれ1つずつ配置されているが、必ずしも1つではなく、ダイオードで制御する電圧によって直列に複数個配置してもよい。
さらに主コイル200は、ここでは、上記ダイオード221によって比較的エネルギーの小さなコイルグループ210と比較的エネルギーの大きなコイルグループ211との2回路に分割している。それにより、小さな体積(熱容量)のコイルで大きなエネルギーを消費する危険性を低減させている。比較的エネルギーの小さなコイルグループ210は合計8個のコイル201a、201b、202a、202b、203a、203b、204a、204bからなり、比較的エネルギーの大きなコイルグループ211は合計4個のコイル205a、205b、206a、206bからなる。それぞれのコイルのaおよびbは、主コイル200の軸方向に対称に配置され、静磁場出力として対をなしている。
一方、外乱磁場補償コイル300も超電導コイルであり、一つの閉ループをなしている。外乱磁場補償コイル300も主コイル200と同様、合計12個の超電導コイル301a、301b、302a、302b、303a、303b、304a、304b、305a、305b、306a、306bからなり、基本的に主コイル200のそれぞれのコイル上に配置されている。ただし、構造上、主コイル200上に配置しているだけで、電気的には絶縁されている。ここで外乱磁場補償コイル300を主コイル200上に配置しているのは、超電導マグネット100の構造をできるだけ簡素化するためであり、必ずしも主コイル200上に配置する必要はない。また、図示していないが、外乱磁場補償コイル300にも、主コイル200と同様に超電導スイッチおよび保護用のダイオードを配置する場合がある。
これまで述べたように、外乱磁場補償コイル300は、超電導マグネット外部からの外乱磁場に応じて自動的に電流が誘起され、撮像空間における影響を補償してくれるものである。一方、撮像空間の磁場均一性の観点から見ると、外乱磁場補償コイル300に電流が誘起されると、それによって発生する誤差磁場で撮像空間の磁場均一性が悪化してしまうおそれがある。通常考えうる外乱磁場の量では、その誘起電流は非常に小さいものであるが、超電導マグネットを長期間使用している間に、誘起電流が集積され、いずれ無視できない悪影響を及ぼすようになる恐れがある。
外乱磁場補償コイル300は、通常、初期状態では電流は流れておらず、外部から変動磁場が流入した場合にのみ変動磁場を補償するのに見合った電流が誘起される。この電流は、一般的に変動磁場が流入した場合にでも1A以下の微少な電流であるように設計されている。また、外乱磁場補償コイルによる撮像空間への磁場均一性への影響は、設計上考慮されておらず、なおかつ、外乱磁場補償コイルに電流が流れると少なからず磁場均一性を乱す要因となり得るため、初期状態の電流をゼロとしておいた方が良い。そのため、図示していないが、外乱磁場補償コイルのループの何処かに、電流をゼロとするに十分な抵抗を有するヒータを熱的にのみ接触するように設置しておいて、初期状態での電流をゼロとしている。さらに、MRI装置を継続運転していくにつれ外乱磁場補償コイル内に誘起される電流が重畳して増加することがあるため、定期的にヒータに通電して電流をゼロにする方法がとられることがある。
本来、撮像空間の磁場均一性に影響を与えないように外乱磁場補償コイルを最適化設計できれば特に問題はないものの、実際には高度の最適化設計は現状では極めて困難である。
ところで、従来の外乱磁場補償コイルはすべてプラスターンで構成されていたが、このうち一部のコイルをマイナスターンとすれば、プラスターンとマイナスターンによって、原理上、誤差磁場もキャンセル効果を生じるため、発生する誤差磁場をうまくキャンセルできる可能性がある。
そこで、本実施の形態1の外乱磁場補償コイル300は、マイナスターンの外乱磁場補償コイルを配置することで、主コイルとの磁気的カップリングも低減し、かつ撮像空間対して悪影響を与えない範囲の誤差磁場しか発生しないように、総合的に最適化しようとするものである。
なお、図1における主コイル200および外乱磁場補償コイル300の各コイル内に記入された、「+」、「−」の符号は、各コイルの巻方向を示している。「+」は順方向に巻かれたコイル(プラスターンのコイル)で、電流が流れた場合、撮像空間内に正方向(静磁場と同じ方向)の磁場を発生させる。一方、「−」は逆方向に巻かれたコイル(マイナスターンのコイル)で、撮像空間内に負方向(静磁場と逆の方向)の磁場を発生させる。
図8の従来の外乱磁場補償コイル310に比べ、本実施の形態1の外乱磁場補償コイル300は、303a、303bをマイナスターンのコイルとし、それぞれプラスターンの主コイル203a、203bの上に配置されている点が相違している。本実施の形態における主コイル200と外乱磁場補償コイル300の巻方向および巻ターン数の例を表3に示す。主コイル200および外乱磁場補償コイル300は前述の通り、それぞれ12個(軸方向に対称なものが6対)のコイルを有しているため、表3では、No.1〜No.6の6対に対して表記してある。
表3において、主コイルのそれぞれNo.1〜No.6は、それぞれ201(aおよびb)、202(aおよびb)、203(aおよびb)、 204(aおよびb)、205(aおよびb)、206(aおよびb)に対応しており、外乱磁場補償コイルのそれぞれNo.1〜No.6は、それぞれ301(aおよびb)、302(aおよびb)、303(aおよびb)、304(aおよびb)、305(aおよびb)、306(aおよびb)に対応している。また、表内の「−」符号は、マイナスターンのコイルである。
表3 本発明の実施の形態1における主コイルと外乱磁場補償コイルのそれぞれの巻ターン数例
一方、従来の技術においては、表1および図8に示すように外乱磁場補償コイル310はマイナスターンのコイルを有していない。なお、本発明と従来の技術の差異を明確に比較するために、表1と表3の主コイルは全く同じものであり、外乱磁場補償コイルは合計の巻ターン数を同じにしてある。
このとき、外部から流入してきた磁場変動に対する撮像空間内の磁場変動量は、外乱磁場補償コイルNo.1〜No.6の相対的なターン数比から論理計算すると、約4.45%であり、表1の従来の技術例と同様、一般的な目標値である5%以下を満足している。また、主コイル200と外乱磁場補償コイル300の自己インダクタンスおよび相互インダクタンスはそれぞれ以下の通りである。
主コイルの自己インダクタンス 37.790H(ヘンリー)
外乱磁場補償コイルの自己インダクタンス 1.371H(ヘンリー)
両コイルの相互インダクタンス −0.015H(ヘンリー)

上記の通り、従来の技術例と同様、両コイルの相互インダクタンスは非常に小さく、主コイル200がクエンチして、定常時の500Aが0Aになった場合、外乱磁場補償コイル300には約5.5Aの電流しか誘起されない計算となる。ただし、これは主コイル200の電流が一様に減少した場合、かつ熱などによるエネルギー消費を考慮しない場合である。
次に上記実施の形態1の超伝導マグネット装置の動作について説明する。
前述の通り、本発明における主コイル200は、クエンチ時のコイル保護のために、比較的エネルギーの小さなコイルグループ210と比較的エネルギーの大きなコイルグループ211の2つのダイオード回路を有している。何らかの原因により主コイル200のいずれかのコイルがクエンチした場合、クエンチしたコイルでは抵抗が発生し、発熱により主コイル200内部のエネルギーを消費しながら、主コイル200の電流は減衰していく。と同時に、他のコイルとの相互インダクタンスによってエネルギーを分散させ、各所で様々な電圧を発生させる。その電圧によって、ダイオード221が動作(ターンオン)した場合、それぞれのコイルグループ210および211内の電流に差異を生じながら、電流は更に減衰していく。
一方、そのとき外乱磁場補償コイル300は閉ループをなしているため、たとえ主コイル200との磁気的カップリングが非常に小さかったとしても、コイルグループ210または211とある程度の磁気的カップリングを有している場合には、コイルグループ210および211内の電流差異に伴って外乱磁場補償コイル300へ電流が誘起される。この場合における主コイルがクエンチした後の各コイルの電流推移を図6に示す。図6は、従来技術の図9と同様、様々なクエンチケースのうち、最も外乱磁場補償コイルにとって大きな電磁力が発生するケース例を示している。
このときの外乱磁場補償コイル300に生じる電磁力を表4に示す。表4は、表2に示した従来例と対応するものである。表2と表4との比較により、従来例(表2)で特に大きかったNo.6コイルのR方向電磁力が、本発明(表4)においては約70%に低減し、電磁力として約24.3トンの低減となっていることが分かる。なお、図9と図6を比較した場合、本発明の図6の方が外乱磁場補償コイル300に生じる誘起電流は若干大きいものの、他方でNo.6コイルのターン数が小さいため、結果的に電磁力が低減されるものである。
表4 本発明の実施の形態1における図5のクエンチ例での外乱磁場補償コイルにかかる最大電磁力
これによって、R方向電磁力に対する構造的、機械的対策が楽になる一方、該電磁力に伴う不具合も生じにくくなる。なお、他のコイルにおいて本発明の方が大きな電磁力となっているところがあるが、No.6コイルのR方向電磁力に比べてかなり小さいため対処しやすく、特に問題とはならない。
また、No.6コイルは配置の関係上、コイル上部にスペースの余裕があまりないことが多いため、本発明の例のようにターン数が約63%と大幅に減らせることは、設置スペースの観点からも好ましい。
以上のことから、本実施の形態1のように、図1における303a、303bのようなマイナスターンの外乱磁場補償コイルを、203a、203bのようなプラスターンの主コイル上に配置することにより、各コイルグループ210、211と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングを最適(最小)にできるだけでなく、従来の技術におけるマイナスターンの主コイル206a、206b上に配置する外乱磁場補償コイル306a、306bのターン数を減らした設計が容易となるため、設置スペースを減らすことができる。
実施の形態2.
次に、この発明の実施の形態2を図3に基づいて説明する。
この発明の実施の形態2によれば、実施の形態1のようにマイナスターンの外乱磁場補償コイル(303a、303b)を、プラスターンの主コイル(203a、203b)上に配置するだけでなく、マイナスターンの外乱磁場補償コイル(304a、304b)をマイナスターンの主コイル(204a、204b)上に配置するようにしたものである。
これは、303a、303bの外乱磁場補償コイルのみで主コイルとの磁気的カップリングを最適化しようとすると、コイルの幅に対して要求するターン数が多すぎたり、少なすぎたりして巻線性を著しく低下させる可能性がある。例えば、巻線性を優先して303a、303bによって磁気的カップリングを小さくしすぎた場合などは、304a、304bを更にマイナスターンとしてこれをマイナスターンの主コイル(204a、204b)上に配置することによって、主コイルとの磁気的カップリングを大きくするなどの調整により最適化することができる。
実施の形態3.
次に、この発明の実施の形態3を図4に基づいて説明する。
前記の通り、本発明における外乱磁場補償コイル300は一つの閉ループを形成しているため、各コイル(301a、301b、・・・・、306a、306b)を直列に接続する必要がある。ただし、接続作業はそれ自体、ある程度の時間を要するため、できる限り接続箇所を減らすことがコスト上からも重要となる。そのため、複数のコイルを、できるだけ線を切断することなく連続して巻くことが望ましい。しかしながら、本発明のようにマイナスターンの外乱磁場補償コイルが混在すると、やむなく切断して、コイル巻線後に接続する必要が生じる。
外乱磁場補償コイル300は各コイルの接続順は問わないため、図4のように、プラスターンのコイルとマイナスターンのコイルをそれぞれ纏めて連続に巻線して接続すれば、最小限の接続箇所数で済む。また、実施の形態2の場合でも同様の接続要領にすれば、同じく最小限の接続箇所数で済む。なお、この場合、外乱磁場補償コイルの機能・動作は実施の形態1(図1)に示したものと全く同じである。
実施の形態4.
次に、この発明の実施の形態4を図5に基づいて説明する。
前述の通り、主コイル全体と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングが最小になるように設計したとしても、主コイルがクエンチした場合には、各ダイオード回路の電流差によって外乱磁場補償コイルに大きな電流が誘起されるため、主コイルの各ダイオード回路と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングも小さくする必要があり、そのためにマイナスターンの外乱磁場補償コイルが有用であることを述べた。
ただ、主コイルを励磁あるいは消磁する場合には、各ダイオード回路の電流差は生じないため、外乱磁場補償コイルに誘起される電流は、主コイル全体と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングによって決まる。その磁気的カップリングが大きい場合、主コイルの励磁あるいは消磁中に外乱磁場補償コイルへの誘起電流が集積され、いずれは外乱磁場補償コイルがクエンチすることになる。クエンチによって一旦電流は減衰するものの、減衰して超電導状態に復帰した後は再度誘起電流が集積されるため、場合によっては1回の励磁あるいは消磁中に何度も外乱磁場補償コイルがクエンチする可能性もある。一般的にコイルが頻繁にクエンチするのは熱応力が頻繁に生じることでもあり、コイルにとってあまり好ましいとは言えない。
また、そのような状況は、主コイルの励磁エネルギーの一部が外乱磁場補償コイルに吸収され、それがクエンチによって熱エネルギーとして消費されることでもあり、エネルギー効率にとっても良くない。そのため、主コイルの励磁あるいは消磁中には、外乱磁場補償コイルの一部に設置したヒータによってあらかじめ常電導状態を生じさせておき、誘起電流が過大にならないようにすることもある。
しかしながら、ヒータを通電し続けることは、低温容器に対して熱量を加えることになり、冷媒を過剰に消費させることにつながるため、できる限り避けるべきである。
以上のことから、本発明のように主コイル全体と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングも最小にすることが望まれるわけであるが、この場合、従来の技術(図8)のように、外乱磁場補償コイルは全てプラスターンであっても、主コイルにマイナスターンのコイルがあるため最小にすること自体は可能である。ただし、そのためには、図8の206a、206bのような比較的大きなエネルギーのマイナスターンのコイル上に、比較的多いターンの外乱磁場補償コイル(316a、316b)を配置する必要がある。
一方で、206a、206bのようなマグネット外部への漏れ磁場を低減するために配置されたマイナスターンのコイル上にはあまりスペースの余裕がないことが多い。そのため、上記外乱磁場補償コイルの必要ターン数をなるべく下げる必要もある。
そこで、本実施の形態4においては、図5に示す303a、303bのマイナスターンのコイルのターン数を他の実施例よりも増やすことにより、それによって主コイル全体との磁気的カップリングが低減できるため、その分、306a、306bのターン数を減らすようにしたものである。
10 患者(被験者)、 100 超電導マグネット、 200 主コイル、
210、211 コイルグループ、 221 ダイオード、
300 外乱磁場補償コイル、 400 真空断熱容器、 500 冷却容器、
600 傾斜磁場コイル、 700 RF送信コイル、 800 RF受信コイル、
900 制御装置。

Claims (6)

  1. 撮像空間内に静磁場を発生させるための主コイルと、外部から流入する変動磁場の影響を撮像空間において抑制する外乱磁場補償コイルとで構成され、前記主コイルは少なくとも2つのダイオード回路に分割されており、前記外乱磁場補償コイルは前記各ダイオード回路との相互インダクタンスを低減する少なくとも一つのマイナスターンのコイルを有することを特徴とする超電導マグネット装置。
  2. 前記主コイル全体と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングを低減すると共に、前記主コイル内のそれぞれのダイオード回路と外乱磁場補償コイルとの磁気的カップリングを低減するように前記主コイルと外乱磁場補償コイルとの相互インダクタンスを最適化することを特徴とする請求項1に記載の超電導マグネット装置。
  3. 前記主コイルはプラスターンあるいはマイナスターンからなる複数個のコイルの閉ループ回路からなり、前記マイナスターンの外乱磁場補償コイルを、前記プラスターンの主コイル上に配置したことを特徴とする請求項1に記載の超電導マグネット装置。
  4. 前記主コイルはプラスターンあるいはマイナスターンからなる複数個のコイルの閉ループ回路からなり、前記マイナスターンの外乱磁場補償コイルを前記マイナスターンの主コイル上に配置したことを特徴とする請求項1に記載の超電導マグネット装置。
  5. 前記外乱磁場補償コイルは、全ての正極性ターンのコイルを直列に巻線あるいは接続し、かつ全ての逆極性ターンのコイルを直接に巻線あるいは接続した上で、お互いを直列接続したことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の超電導マグネット装置。
  6. 前記外乱磁場補償コイルは、逆極性ターンのコイル巻数を増やすかわりに、配置スペースの少ないコイルの巻数を減らしたことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の超電導マグネット装置。
JP2009132102A 2009-06-01 2009-06-01 超電導マグネット装置 Expired - Fee Related JP5322780B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009132102A JP5322780B2 (ja) 2009-06-01 2009-06-01 超電導マグネット装置
US12/574,937 US8138867B2 (en) 2009-06-01 2009-10-07 Superconducting magnet device
CN2010101209552A CN101900794B (zh) 2009-06-01 2010-01-26 超导磁体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009132102A JP5322780B2 (ja) 2009-06-01 2009-06-01 超電導マグネット装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010274039A JP2010274039A (ja) 2010-12-09
JP5322780B2 true JP5322780B2 (ja) 2013-10-23

Family

ID=43219561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009132102A Expired - Fee Related JP5322780B2 (ja) 2009-06-01 2009-06-01 超電導マグネット装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8138867B2 (ja)
JP (1) JP5322780B2 (ja)
CN (1) CN101900794B (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
UA102163C2 (ru) * 2012-02-02 2013-06-10 Владимир Николаевич Сосницкий Устройство для компенсации электромагнитных помех при измерениях биомагнитных сигналов
US9240681B2 (en) 2012-12-27 2016-01-19 General Electric Company Superconducting coil system and methods of assembling the same
CN104078188B (zh) * 2013-03-28 2017-04-12 通用电气公司 超导磁体系统
CN105378861B (zh) * 2013-07-11 2017-09-29 三菱电机株式会社 超导磁体
US9810755B2 (en) * 2013-12-16 2017-11-07 General Electric Company System and method for energizing a superconducting magnet
GB2523762A (en) * 2014-03-04 2015-09-09 Siemens Plc Active compensation of magnetic field generated by a recondensing refrigerator
CN114221298B (zh) * 2021-12-15 2023-11-14 中国科学院电工研究所 一种高场高均匀度超导磁体失超保护电路

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4535291A (en) * 1982-08-09 1985-08-13 Varian Associates, Inc. Method for superconducting magnet shimming
US4689707A (en) * 1986-05-27 1987-08-25 International Business Machines Corporation Superconductive magnet having shim coils and quench protection circuits
US4812797A (en) * 1988-03-22 1989-03-14 General Electric Company Compensation coil for temporal drift of a superconducting magnet
GB9016184D0 (en) 1990-07-24 1990-09-05 Oxford Magnet Tech Magnet assembly
JPH097819A (ja) * 1995-06-15 1997-01-10 Mitsubishi Electric Corp 超電導装置
JPH10189328A (ja) * 1996-12-27 1998-07-21 Mitsubishi Electric Corp 超電導マグネット
US6493572B1 (en) * 1999-09-30 2002-12-10 Toshiba America Mri, Inc. Inherently de-coupled sandwiched solenoidal array coil
US6504369B1 (en) * 2000-09-05 2003-01-07 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Decoupling two or more channels on RF coil systems
US6822451B2 (en) * 2002-07-31 2004-11-23 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc Non-coupling magnetic sheilding coil
US6977571B1 (en) * 2004-11-08 2005-12-20 General Electric Company Secondary coil circuit for use with a multi-section protected superconductive magnet coil circuit
US7098663B1 (en) * 2005-03-18 2006-08-29 Timothy James Hollis Systems, methods and apparatus of an actively shielded superconducting magnet drift compensation coil
JP2007159741A (ja) * 2005-12-12 2007-06-28 Hitachi Ltd 磁気共鳴イメージング装置及び電磁石装置
JP4802762B2 (ja) * 2006-02-28 2011-10-26 株式会社日立製作所 多コイル系超伝導マグネット
JP4699293B2 (ja) * 2006-06-15 2011-06-08 三菱電機株式会社 超電導マグネット
GB2440369B (en) * 2006-07-27 2009-03-04 Siemens Magnet Technology Ltd A cryogenic magnet control system
JP4179358B2 (ja) * 2006-07-31 2008-11-12 三菱電機株式会社 超電導マグネット及びmri装置
JP2008177183A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Mitsubishi Electric Corp 超電導電磁石装置およびそれを用いたmri装置
JP4542573B2 (ja) * 2007-08-07 2010-09-15 株式会社日立製作所 アクティブシールド型の超電導電磁石装置および磁気共鳴イメージング装置
DE102009004899B4 (de) * 2009-01-16 2015-09-24 Siemens Aktiengesellschaft Supraleitender aktiv geschirmter Magnet

Also Published As

Publication number Publication date
CN101900794A (zh) 2010-12-01
CN101900794B (zh) 2013-09-11
US8138867B2 (en) 2012-03-20
JP2010274039A (ja) 2010-12-09
US20100301977A1 (en) 2010-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5322780B2 (ja) 超電導マグネット装置
JP4542573B2 (ja) アクティブシールド型の超電導電磁石装置および磁気共鳴イメージング装置
US20100304976A1 (en) Electromagnet with laminated ferromagnetic core and superconducting film for suppressing eddy magnetic field
US5343182A (en) Magnet device for generating static magnetic field in MRI
US20080049371A1 (en) Cryogenic magnet control system
US8258903B2 (en) Superconducting, actively shielded magnet
WO2013145933A1 (ja) 超電導磁石装置、超電導コイルの保護方法、および、磁気共鳴画像装置
US7170291B2 (en) Additional fringe field shield for a superconducting magnet coil system
EP1966622A1 (en) Magnetic resonance scanner with a longitudinal magnetic field gradient system
JP2014000388A (ja) 磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング装置用の磁石
JP4699293B2 (ja) 超電導マグネット
JP4179358B2 (ja) 超電導マグネット及びmri装置
JPH04105307A (ja) 超電導マグネット装置
JP2006115934A (ja) 磁石装置及びそれを用いた磁気共鳴イメージング装置
JP2009141255A (ja) 超電導電磁石
Warner et al. Magnets
US20240004010A1 (en) Magnetic Resonance Imaging Device with a Gradient Coil Assembly
JP2019220524A (ja) 超電導磁石およびその保護方法
JP2001110626A (ja) 超電導磁石装置
EP4300122A1 (en) Magnetic resonance imaging device and method for designing a shielding assembly for a magnetic resonance imaging device
JP2000232967A (ja) 磁気共鳴診断装置用コイル装置
GB2426059A (en) Generating Magnetic Fields for Magnetic Resonance Imaging
JPH0590023A (ja) 超電導マグネツト装置
JP2010199408A (ja) 電流リードシステムおよび電流リードの保護方法
JP2008194539A (ja) 磁気共鳴診断装置用コイル装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111222

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130613

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130709

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130716

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees