JP5293062B2 - コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム - Google Patents
コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5293062B2 JP5293062B2 JP2008258974A JP2008258974A JP5293062B2 JP 5293062 B2 JP5293062 B2 JP 5293062B2 JP 2008258974 A JP2008258974 A JP 2008258974A JP 2008258974 A JP2008258974 A JP 2008258974A JP 5293062 B2 JP5293062 B2 JP 5293062B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- diagnostic
- program
- diagnosis
- memory diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/14—Implementation of control logic, e.g. test mode decoders
- G11C29/16—Implementation of control logic, e.g. test mode decoders using microprogrammed units, e.g. state machines
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/079—Root cause analysis, i.e. error or fault diagnosis
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2284—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by power-on test, e.g. power-on self test [POST]
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0401—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals in embedded memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0407—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals on power on
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C2029/1208—Error catch memory
Description
第1のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第1のメモリ診断手段と、
再配置可能な第2のメモリ診断プログラムが記憶された記憶手段と、
前記メインメモリのうち、前記第1のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記記憶手段に記憶されている前記第2のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第2のメモリ診断手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ装置。
前記OS異常検知手段が前記起動異常を検知した場合に、前記第2のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手段と、
を有することを特徴とする付記1〜4のいずれか1つに記載のコンピュータ装置。
第1のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第1のメモリ診断ステップと、
前記メインメモリのうち、前記第1のメモリ診断ステップにより特定された不良領域を除く領域に、第2のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第2のメモリ診断ステップと、
を有することを特徴とするメモリ診断方法。
前記OS異常検知ステップにて前記起動異常を検知した場合に、前記第2のメモリ診断ステップによる前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知ステップと、
を有することを特徴とする付記7〜10のいずれか1つに記載のメモリ診断方法。
第1のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第1のメモリ診断手順と、
前記メインメモリのうち、前記第1のメモリ診断手順により特定された不良領域を除く領域に、第2のメモリ診断プログラムを展開し、実行する第2のメモリ診断手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするメモリ診断制御プログラム。
前記起動異常を検知した場合に、前記第2のメモリ診断手順による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手順と、
を、コンピュータに実行させることを特徴とする付記13〜16のいずれか1つに記載のメモリ診断制御プログラム。
20 メインメモリ(DRAM)
31 基本入出力プログラム(BIOSプログラム)
32 メモリ診断プログラム
32a、32b、32c メモリ診断プログラム
311 メモリ診断部
312 メモリ品質評価表作成部
313 不良領域特定部
314 診断プログラム展開部
315 OS異常検知部
316 診断結果告知部
Claims (10)
- メインメモリを有するコンピュータ装置であって、
第1のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第1のメモリ診断手段と、
前記メインメモリのうち、前記第1のメモリ診断手段により特定された不良領域を除く領域に、前記第1のメモリ診断プログラムよりもプログラムサイズの大きい複数のメモリ診断プログラムの各々をプログラムサイズが大きくなる順序で順次展開するとともに、前記複数のメモリ診断プログラムの各々を順次展開する場合に、前記複数のメモリ診断プログラムのうち前回展開されたメモリ診断プログラムを用いて再計算され特定された前記不良領域を除く前記メインメモリの領域に対して前記複数のメモリ診断プログラムの各々を展開する第2のメモリ診断手段と、
を有することを特徴とするコンピュータ装置。 - 前記第1のメモリ診断手段は、前記第1のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする請求項1に記載のコンピュータ装置。
- 前記第1のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果と、前記メインメモリのアドレス情報とを関連付けたメモリ品質評価表を作成するメモリ品質評価表作成手段を有することを特徴とする請求項1又は2に記載のコンピュータ装置。
- 前記第2のメモリ診断手段は、前記メモリ品質評価表を参照することによって、前記第1のメモリ診断手段により異常であると診断された前記メインメモリのアドレス情報を抽出し、当該抽出したアドレス情報に対応する領域を、前記不良領域として、前記メインメモリのうち、前記複数のメモリ診断プログラムの各々を展開する領域から除外することを特徴とする請求項3に記載のコンピュータ装置。
- OSの起動異常を検知するOS異常検知手段と、
前記OS異常検知手段が前記起動異常を検知した場合に、前記第2のメモリ診断手段による前記メインメモリの診断結果を告知する診断結果告知手段と、
を有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載のコンピュータ装置。 - 前記各手段は、電源の投入時に起動して、前記メインメモリに対するデータの入出力を制御する制御プログラムである基本入出力プログラム内に組み込まれており、当該基本入出力プログラムの起動時に実行状態となることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載のコンピュータ装置。
- コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断方法であって、
第1のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第1のメモリ診断ステップと、
前記メインメモリのうち、前記第1のメモリ診断ステップにより特定された不良領域を除く領域に、前記第1のメモリ診断プログラムよりもプログラムサイズの大きい複数のメモリ診断プログラムの各々をプログラムサイズが大きくなる順序で順次展開するとともに、前記複数のメモリ診断プログラムの各々を順次展開する場合に、前記複数のメモリ診断プログラムのうち前回展開されたメモリ診断プログラムを用いて再計算され特定された前記不良領域を除く前記メインメモリの領域に対して前記複数のメモリ診断プログラムの各々を展開する第2のメモリ診断ステップと、
を有することを特徴とするメモリ診断方法。 - 前記第1のメモリ診断ステップにおいて、前記第1のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行することを特徴とする請求項7に記載のメモリ診断方法。
- コンピュータ装置のメインメモリの診断を行うメモリ診断制御プログラムであって、
第1のメモリ診断プログラムを実行することにより、前記メインメモリの不良領域の特定を行う第1のメモリ診断手順と、
前記メインメモリのうち、前記第1のメモリ診断手順により特定された不良領域を除く領域に、前記第1のメモリ診断プログラムよりもプログラムサイズの大きい複数のメモリ診断プログラムの各々をプログラムサイズが大きくなる順序で順次展開するとともに、前記複数のメモリ診断プログラムの各々を順次展開する場合に、前記複数のメモリ診断プログラムのうち前回展開されたメモリ診断プログラムを用いて再計算され特定された前記不良領域を除く前記メインメモリの領域に対して前記複数のメモリ診断プログラムの各々を展開する第2のメモリ診断手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするメモリ診断制御プログラム。 - 前記第1のメモリ診断手順において、前記第1のメモリ診断プログラムを、前記メインメモリ上に展開することなく実行する処理を、コンピュータに実行させることを特徴とする請求項9に記載のメモリ診断制御プログラム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008258974A JP5293062B2 (ja) | 2008-10-03 | 2008-10-03 | コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム |
US12/510,426 US8510611B2 (en) | 2008-10-03 | 2009-07-28 | Computer apparatus |
EP09166742A EP2172941B1 (en) | 2008-10-03 | 2009-07-29 | Computer comprising memory diagnosis units |
TW098125685A TWI420312B (zh) | 2008-10-03 | 2009-07-30 | 電腦裝置、用於診斷一電腦裝置之一主記憶體之方法與儲存有一電腦程式之電腦可讀儲存媒體 |
CN200910170643.XA CN101714112B (zh) | 2008-10-03 | 2009-09-01 | 诊断计算机设备中的主存储器的系统及方法 |
KR1020090084969A KR101025526B1 (ko) | 2008-10-03 | 2009-09-09 | 컴퓨터 장치, 메모리 진단 방법 및 메모리 진단 제어 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독가능한 기록 매체 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008258974A JP5293062B2 (ja) | 2008-10-03 | 2008-10-03 | コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010092125A JP2010092125A (ja) | 2010-04-22 |
JP5293062B2 true JP5293062B2 (ja) | 2013-09-18 |
Family
ID=41467428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008258974A Expired - Fee Related JP5293062B2 (ja) | 2008-10-03 | 2008-10-03 | コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8510611B2 (ja) |
EP (1) | EP2172941B1 (ja) |
JP (1) | JP5293062B2 (ja) |
KR (1) | KR101025526B1 (ja) |
CN (1) | CN101714112B (ja) |
TW (1) | TWI420312B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7895483B2 (en) * | 2007-05-25 | 2011-02-22 | International Business Machines Corporation | Software memory leak analysis using memory isolation |
US8266454B2 (en) * | 2009-04-15 | 2012-09-11 | GM Global Technology Operations LLC | Secure flash memory using error correcting code circuitry |
US8683277B1 (en) | 2010-07-13 | 2014-03-25 | Marvell International Ltd. | Defect detection using pattern matching on detected data |
WO2014118910A1 (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-07 | 三菱電機株式会社 | メモリ診断装置 |
CN104123232A (zh) * | 2013-04-25 | 2014-10-29 | 宏碁股份有限公司 | 电脑系统及控制方法 |
JP2017122997A (ja) * | 2016-01-06 | 2017-07-13 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、演算処理装置の制御方法および演算処理装置の制御プログラム |
CN111459572B (zh) * | 2020-03-31 | 2023-01-31 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 程序加载方法、控制器、芯片以及电子设备 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4873705A (en) * | 1988-01-27 | 1989-10-10 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Method of and system for high-speed, high-accuracy functional testing of memories in microprocessor-based units |
US4953165A (en) * | 1988-06-06 | 1990-08-28 | Southwestern Computer Technologies, Inc. | Diagnostic system for personal computer |
JPH02242439A (ja) * | 1989-03-16 | 1990-09-26 | Nec Corp | プログラムロード制御方式 |
US5155844A (en) | 1990-02-14 | 1992-10-13 | International Business Machines Corporation | Background memory test during system start up |
JPH05298140A (ja) * | 1992-04-20 | 1993-11-12 | Shikoku Nippon Denki Software Kk | 自己診断方式 |
JPH064413A (ja) | 1992-06-18 | 1994-01-14 | Fujitsu Ltd | メモリテスト制御方法 |
TW272270B (ja) * | 1992-08-28 | 1996-03-11 | Compaq Computer Corp | |
JPH07191856A (ja) | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Toshiba Corp | 情報処理装置 |
US5539878A (en) | 1995-06-16 | 1996-07-23 | Elonex Technologies, Inc. | Parallel testing of CPU cache and instruction units |
US6076142A (en) * | 1996-03-15 | 2000-06-13 | Ampex Corporation | User configurable raid system with multiple data bus segments and removable electrical bridges |
JP3017080B2 (ja) * | 1996-03-27 | 2000-03-06 | 甲府日本電気株式会社 | コンピュータシステム |
US5793943A (en) * | 1996-07-29 | 1998-08-11 | Micron Electronics, Inc. | System for a primary BIOS ROM recovery in a dual BIOS ROM computer system |
JPH11144494A (ja) * | 1997-11-12 | 1999-05-28 | Nec Corp | 半導体メモリ |
TW463175B (en) | 2000-03-01 | 2001-11-11 | Winbond Electronics Corp | Memory processing method and system |
TWI240864B (en) * | 2001-06-13 | 2005-10-01 | Hitachi Ltd | Memory device |
JP2003288215A (ja) * | 2002-03-28 | 2003-10-10 | Mitsubishi Electric Corp | 情報処理装置 |
US7373432B2 (en) * | 2002-10-31 | 2008-05-13 | Lockheed Martin | Programmable circuit and related computing machine and method |
JP4349837B2 (ja) | 2003-04-24 | 2009-10-21 | 富士通株式会社 | 情報処理システム |
US7328380B2 (en) * | 2003-09-11 | 2008-02-05 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory scrubbing logic |
JP4292977B2 (ja) * | 2003-12-17 | 2009-07-08 | 富士通株式会社 | メモリ試験機能付きコントローラ及びコンピュータ |
US7266727B2 (en) * | 2004-03-18 | 2007-09-04 | International Business Machines Corporation | Computer boot operation utilizing targeted boot diagnostics |
KR100922409B1 (ko) * | 2005-03-24 | 2009-10-16 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 정보 처리 장치 및 메모리 이상 감시 방법 |
US7478281B2 (en) | 2005-06-06 | 2009-01-13 | Denniston William B | System and methods for functional testing of embedded processor-based systems |
JP4918824B2 (ja) * | 2006-08-18 | 2012-04-18 | 富士通株式会社 | メモリコントローラおよびメモリ制御方法 |
JP5509568B2 (ja) * | 2008-10-03 | 2014-06-04 | 富士通株式会社 | コンピュータ装置、プロセッサ診断方法、及びプロセッサ診断制御プログラム |
TW201020779A (en) * | 2008-11-18 | 2010-06-01 | Inventec Corp | System for auto-operating backup firmware and method thereof |
US8046631B2 (en) * | 2009-04-29 | 2011-10-25 | Lsi Corporation | Firmware recovery in a raid controller by using a dual firmware configuration |
-
2008
- 2008-10-03 JP JP2008258974A patent/JP5293062B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-07-28 US US12/510,426 patent/US8510611B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-07-29 EP EP09166742A patent/EP2172941B1/en not_active Not-in-force
- 2009-07-30 TW TW098125685A patent/TWI420312B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-09-01 CN CN200910170643.XA patent/CN101714112B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-09-09 KR KR1020090084969A patent/KR101025526B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201015324A (en) | 2010-04-16 |
EP2172941A1 (en) | 2010-04-07 |
US8510611B2 (en) | 2013-08-13 |
CN101714112A (zh) | 2010-05-26 |
TWI420312B (zh) | 2013-12-21 |
JP2010092125A (ja) | 2010-04-22 |
KR20100038137A (ko) | 2010-04-13 |
US20100088558A1 (en) | 2010-04-08 |
CN101714112B (zh) | 2013-05-01 |
KR101025526B1 (ko) | 2011-04-04 |
EP2172941B1 (en) | 2012-07-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5509568B2 (ja) | コンピュータ装置、プロセッサ診断方法、及びプロセッサ診断制御プログラム | |
JP5293062B2 (ja) | コンピュータ装置、メモリ診断方法、及びメモリ診断制御プログラム | |
US9471435B2 (en) | Information processing device, information processing method, and computer program | |
CN106547653B (zh) | 计算机系统故障状态检测方法、装置及系统 | |
EP2463779A1 (en) | Reset method and monitor | |
JP4677214B2 (ja) | パニックダンプ採取のためのプログラム、方法、及び機構 | |
US20100049961A1 (en) | Update method for basic input/output system and update system thereof | |
JP2010086364A (ja) | 情報処理装置、動作状態監視装置および方法 | |
CN112506745B (zh) | 内存温度读取方法、装置及计算机可读存储介质 | |
CN105760191A (zh) | 嵌入式系统设备程序烧写量产方法 | |
EP2645239A1 (en) | Electronic apparatus and booting method | |
CN113377586A (zh) | 一种服务器自动化检测方法、装置及存储介质 | |
JP5900336B2 (ja) | エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 | |
JP5348120B2 (ja) | パニックダンプ採取のためのプログラム、方法、機構 | |
TWI434174B (zh) | 電腦系統及記憶體用途設定程式 | |
JP6835423B1 (ja) | 情報処理システム及びその初期化方法 | |
JP4635993B2 (ja) | 起動診断方式、起動診断方法およびプログラム | |
JP2006079155A (ja) | 情報処理装置 | |
US11507385B1 (en) | Embedded electronic device, boot method, and embedded electronic device readable recording medium with stored program | |
JP2007148773A (ja) | Bios搭載コンピュータ及びbiosローディングプログラム | |
JP5969528B2 (ja) | 情報処理システム、情報処理装置起動方法および起動プログラム | |
TWI391861B (zh) | 開機系統及方法,及其相關裝置 | |
CN113900843A (zh) | 一种检测修复方法、装置、设备及可读存储介质 | |
JP2003015903A (ja) | 疑似障害動作実現方式 | |
JP2010026980A (ja) | メモリテスト回路及びメモリテスト方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110708 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130419 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130514 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130527 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5293062 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |