JP5291458B2 - エレクトロルミネッセンス装置 - Google Patents
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Description
−(MI 1−x−yMII xMIII y)3(Al1−zMIV z)5O12
ここで、MI=(Y,Lu)、MII=(Gd,La,Yb)、MIII=(Tb,Pr,Ce,Er,Nd,Eu)及びMIV=(Gd,Sc)であり、0≦x≦1、0≦y≦1及び0≦z≦1である。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)2O3
ここで、MI=(Y,Lu)、MII=(Gd,La,Yb)、MIII=(Tb,Pr,Ce,Er,Nd,Eu,Bi,Sb)及びMIV=(Gd,Sc)であり、0≦x≦1及び0≦y≦1である。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)S1−zSez
ここで、MI=(Ca,Sr,Mg,Ba)、MII=(Ce,Eu,Mn,Tb,Sm,Pr,Sb,Sn)、MIII=(K,Na,Li,Pb,Zn)であり、0≦x≦0.01、0≦y≦0.05及び0≦z≦1である。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)O
ここで、MI=(Ca,Sr,Mg,Ba)、MII=(Ce,Eu,Mn,Tb,Sm,Pr)、MIII=(K,Na,Li,Pb,Zn)であり、0≦x≦0.1及び0≦y≦0.01である。
−(MI 2−xMII xMIII 2)O7
ここで、MI=(La,Y,Gd,Lu,Ba,Sr)、MII=(Eu,Tb,Pr,Ce,Nd,Sm,Tm)、MIII=(Hf,Zr,Ti,Ta,Nb)であり、0≦x≦1である。
−(MI 1−xMII xMIII 1−yMIV y)O3
ここで、MI=(Ba,Sr,Ca,La,Y,Gd,Lu)、MII=(Eu,Tb,Pr,Ce,Nd,Sm,Tm)、MIII=(Hf,Zr,Ti,Ta,Nb)及びMIV=(Al,Ga,Sc,Si)であり、0≦x≦0.1及び0≦y≦0.01である。
−焼結の支援により真空中で又は還元条件下で2乃至8時間の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内で光変換要素の材料を、好適には、10乃至24時間の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内でその材料のセラミック主相に対して500乃至1000ppmの範囲内で酸化マグネシウム又は酸化珪素を焼結する段階と、
−0.5乃至2.0kbarの範囲内の圧力のアルゴン雰囲気下で9乃至11時間の範囲内の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内で光変換要素の材料を焼結する段階と、
−酸素含有雰囲気下で2乃至20時間の持続時間の間、1200乃至1400℃の温度の範囲内で光変換要素の材料をアニールする段階と、
を有する、方法に関する。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)3(Al1−zMIV z)5O12
ここで、MI=(Y,Lu)、MII=(Gd,La,Yb)、MIII=(Tb,Pr,Ce,Er,Nd,Eu)及びMIV=(Gd,Sc)であり、0≦x≦1、0≦y≦1及び0≦z≦1である。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)2O3
ここで、MI=(Y,Lu)、MII=(Gd,La,Yb)、MIII=(Tb,Pr,Ce,Er,Nd,Eu,Bi,Sb)及びMIV=(Gd,Sc)であり、0≦x≦1及び0≦y≦1である。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)S1−zSez
ここで、MI=(Ca,Sr,Mg,Ba)、MII=(Ce,Eu,Mn,Tb,Sm,Pr,Sb,Sn)、MIII=(K,Na,Li,Pb,Zn)であり、0≦x≦0.01、0≦y≦0.05及び0≦z≦1である。
−(MI 1−x−yMII xMIII y)O
ここで、MI=(Ca,Sr,Mg,Ba)、MII=(Ce,Eu,Mn,Tb,Sm,Pr)、MIII=(K,Na,Li,Pb,Zn)であり、0≦x≦0.1及び0≦y≦0.01である。
−(MI 2−xMII xMIII 2)O7
ここで、MI=(La,Y,Gd,Lu,Ba,Sr)、MII=(Eu,Tb,Pr,Ce,Nd,Sm,Tm)、MIII=(Hf,Zr,Ti,Ta,Nb)であり、0≦x≦1である。
−(MI 1−xMII xMIII 1−yMIV y)O3
ここで、MI=(Ba,Sr,Ca,La,Y,Gd,Lu)、MII=(Eu,Tb,Pr,Ce,Nd,Sm,Tm)、MIII=(Hf,Zr,Ti,Ta,Nb)及びMIV=(Al,Ga,Sc,Si)であり、0≦x≦0.1及び0≦y≦0.01である。
1)還元条件下で2乃至8時間の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内でセラミックを焼結し、その結果、空隙のない理論密度の>96%の密度を有する材料が得られる。
2)10乃至24時間の間、1750℃において焼結補助相(セラミック主相に対してMgO又はSiO2を500乃至1000wt−ppm)を用いてセラミックを真空焼結する。
Claims (11)
- 好適には200nm乃至490nmの波長範囲を有する一次放射線を出射する少なくとも1つのエレクトロルミネッセンス光源と、前記一次放射線の部分吸収及び二次放射線の出射のために前記一次放射線の光線の経路内に備えられている少なくとも1つの光変換要素とを有するエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素は、前記光変換要素の表面に対して垂直な方向に、前記エレクトロルミネッセンス光源の表面に対して平行な前記光変換要素の表面に備えられた凹状部分と凸状部分との間の距離を有し、前記光変換要素の前記表面は、前記エレクトロルミネッセンス光源の表面と対向し、且つ前記エレクトロルミネッセンス光源の前記表面に対して平行であり、前記距離は、前記光変換要素における前記一次放射線の平均散乱長より小さい、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1に記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素は、前記変換要素における理論的な材料密度の93%乃至99.5%の範囲内の密度を有する材料を有することを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1又は2に記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記二次放射線は、前記一次放射線の波長より長い波長を有する1つ又はそれ以上のスペクトル領域を有することを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1乃至3の何れか一項に記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素における前記一次放射線の平均吸収長は、前記一次放射線の前記平均散乱長より小さく、好適には、前記光変換要素の前記距離より小さいことを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1乃至4の何れか一項に記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素は、前記エレクトロルミネッセンス光源に対向する本質的に平面の第1表面と、前記光変換要素からアウトカップリングされる光を改善するための構造を有する第2表面と、を有することを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1乃至5の何れか一項に記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記エレクトロルミネッセンス光源から離れる方に向いている前記光変換要素の少なくとも側部は、屈折率nA>1.3を有する少なくとも1つの材料のアウトカップリング要素により囲まれていることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項6に記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素は、屈折率nC及び|nC−nA|>0.1を有することを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1乃至7の何れか一項記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素は、前記一次放射線から前記二次放射線に、75%乃至90%の範囲内で、好適には、80%乃至85%の範囲内で変換することを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1乃至8の何れか一項記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素の距離は少なくとも50μmであることを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。
- 請求項1乃至9の何れか一項記載のエレクトロルミネッセンス装置であって、前記光変換要素は、次の材料を有する群であって:
−(MI 1−x−yMII xMIII y)3(Al1−zMIV z)5O12であって、ここで、MI=(Y,Lu)、MII=(Gd,La,Yb)、MIII=(Tb,Pr,Ce,Er,Nd,Eu)及びMIV=(Gd,Sc)であり、0≦x≦1、0≦y≦1及び0≦z≦1である、(MI 1−x−yMII xMIII y)3(Al1−zMIV z)5O12;
−(MI 1−x−yMII xMIII y)2O3であって、ここで、MI=(Y,Lu)、MII=(Gd,La,Yb)、MIII=(Tb,Pr,Ce,Er,Nd,Eu,Bi,Sb)及びMIV=(Gd,Sc)であり、0≦x≦1及び0≦y≦1である、(MI 1−x−yMII xMIII y)2O3;
−(MI 1−x−yMII xMIII y)S1−zSezであって、ここで、MI=(Ca,Sr,Mg,Ba)、MII=(Ce,Eu,Mn,Tb,Sm,Pr,Sb,Sn)、MIII=(K,Na,Li,Pb,Zn)であり、0≦x≦0.01、0≦y≦0.05及び0≦z≦1である、(MI 1−x−yMII xMIII y)S1−zSez;
−(MI 1−x−yMII xMIII y)Oであって、ここで、MI=(Ca,Sr,Mg,Ba)、MII=(Ce,Eu,Mn,Tb,Sm,Pr)、MIII=(K,Na,Li,Pb,Zn)であり、0≦x≦0.1及び0≦y≦0.01である、(MI 1−x−yMII xMIII y)O;
−(MI 2−xMII xMIII 2)O7であって、ここで、MI=(La,Y,Gd,Lu,Ba,Sr)、MII=(Eu,Tb,Pr,Ce,Nd,Sm,Tm)、MIII=(Hf,Zr,Ti,Ta,Nb)であり、0≦x≦1である、(MI 2−xMII xMIII 2)O7;並びに
−(MI 1−xMII xMIII 1−yMIV y)O3であって、ここで、MI=(Ba,Sr,Ca,La,Y,Gd,Lu)、MII=(Eu,Tb,Pr,Ce,Nd,Sm,Tm)、MIII=(Hf,Zr,Ti,Ta,Nb)及びMIV=(Al,Ga,Sc,Si)であり、0≦x≦0.1及び0≦y≦0.01である、(MI 1−xMII xMIII 1−yMIV y)O3;
を有する群からの少なくとも1つの材料を有する、ことを特徴とする、エレクトロルミネッセンス装置。 - 請求項1に記載のエレクトロルミネッセンス装置において光変換要素を製造する方法であって:
還元条件下で2乃至8時間の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内で前記光変換要素の前記材料を焼結する段階、又は、焼結の支援により真空中で10乃至24時間の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内で前記光変換要素の前記材料を、好適には、前記材料のセラミック主相に対して500乃至1000ppmの範囲内で酸化マグネシウム又は酸化珪素を焼結する段階;
0.5乃至2.0kbarの圧力の範囲内のアルゴン雰囲気下で9乃至11時間の範囲内の持続時間の間、1700乃至1750℃の温度の範囲内で前記光変換要素の前記材料を焼結する段階;及び
酸素含有雰囲気中、2乃至20時間の範囲内の持続時間の間、1200乃至1400℃の温度の範囲内で前記光変換要素の前記材料をアニールする段階;
を有する方法。
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