JP5286411B2 - 非破壊検査装置 - Google Patents

非破壊検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5286411B2
JP5286411B2 JP2011512337A JP2011512337A JP5286411B2 JP 5286411 B2 JP5286411 B2 JP 5286411B2 JP 2011512337 A JP2011512337 A JP 2011512337A JP 2011512337 A JP2011512337 A JP 2011512337A JP 5286411 B2 JP5286411 B2 JP 5286411B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
neutron beam
unit
neutron
inspection
detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011512337A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2011108709A1 (ja
Inventor
裕之 野瀬
徹也 小林
清英 関本
勝哉 戸田
初美 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IHI Corp filed Critical IHI Corp
Priority to JP2011512337A priority Critical patent/JP5286411B2/ja
Publication of JPWO2011108709A1 publication Critical patent/JPWO2011108709A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5286411B2 publication Critical patent/JP5286411B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/05Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using neutrons
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2073Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions using neutron detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60Specific applications or type of materials
    • G01N2223/631Specific applications or type of materials large structures, walls

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は、中性子線を用いた非破壊検査装置及び方法に関する。本願は、2010年3月5日に、日本に出願された特願2010−049527号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
従来の非破壊検査技術として、例えば、下記特許文献1に示すPC鋼材のグラウト欠陥を検査する装置(グラウト欠陥検査装置)が開示されている。このグラウト欠陥検査装置は、中性子線の散乱状態がコンクリートの構成物質(骨材や鉄等)とグラウト欠陥のある空洞部分とで異なることを利用し、中性子線がコンクリート構造物を透過して得られる熱中性子を検知することにより、グラウト欠陥を判別する。すなわち、このグラウト欠陥検査装置は、中性子線源と反対側で検出される熱中性子の線量に基づいてPC鋼材中のグラウト欠陥を判別する。
なお、中性子線を用いる非破壊検査技術として、特許文献1の技術の他に、特許文献2に示す3次元動体可視化計測装置及び方法がある。この3次元動体可視化計測装置及び方法も中性子の散乱現象を利用している。
日本国特開2001−041908号公報 日本国特開2007−333663号公報
前述したグラウト欠陥検査装置は、中性子線を用いた非破壊検査装置の一種である。このグラウト欠陥検査装置は、中性子線の散乱状態が、コンクリートの構成物質(骨材や鉄等)とグラウト欠陥のある空洞部分とで異なることを利用して検査を行う。したがって、コンクリートの構成物質である鉄筋の状態を非破壊検査することはできない。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、コンクリート構造物の内部状態、特に、複数の構成物質中における鉄筋等の特定物質の状態を非破壊検査することを目的とするものである。
本発明の非破壊検査装置に係る第1の様態は、中性子線発生部と、前記中性子線発生部から供給された中性子線を検査対象物に対して走査状に照射する照射部と、中性子線が検査対象物によって回折された回折中性子線を照射部の走査位置に応じて検出する検出部と、前記検出部の検出信号に基づいて検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出するデータ処理部とを有する。
本発明の非破壊検査装置に係る第2の様態は、上記第1の様態に加えて、各走査位置における物質の格子定数に基づいて検査対象物の内部状態を可視化する可視化部をさらに備える。
本発明の非破壊検査装置に係る第3の様態は、上記第1または第2の様態に加えて、照射部は、第1方向に移動自在なメインステージを用いて回折中性子線を走査し、検出部は、第1方向に移動自在かつメインステージ上に設置されたサブステージを用いて照射部の走査位置に応じた回折中性子線を検出する。
本発明の非破壊検査装置に係る第4の様態は、上記第3の様態に加えて、メインステージは、第1方向に直交する第2方向にも移動自在である。
本発明の非破壊検査装置に係る第5の様態は、上記第1〜第4のいずれかの様態に加えて、中性子線の照射方向及び回折中性子線の検出方向をレーザ光で示す光ガイド部を備える。
本発明の非破壊検査方法に係る第1の様態は、検査対象物に対して中性子線を走査状に照射する照射工程と、各走査位置で検査対象物から得られる回折中性子線を検出する検出工程と、検出結果に基づいて検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出するデータ処理工程とを有する。
本発明の非破壊検査方法に係る第2の様態は、上記第1の様態に加えて、各走査位置における物質の格子定数に基づいて検査対象物の内部状態を可視化する可視化工程をさらに有する。
本発明によれば、検査対象物に対して中性子線を走査状に照射し、各走査位置で検査対象物から得られる回折中性子線を検出し、この検出結果に基づいて検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出する。従って、コンクリート構造物の内部状態、特に、複数の構成物質中における鉄筋等の特定物質の状態を非破壊検査することが可能である。
本発明の一実施形態に係るコンクリート検査装置の原理構成を示すブロック図である。 本発明の一実施形態に係るコンクリート検査装置における検査画像の模式図である。 本発明の一実施形態に係るコンクリート検査装置の実態構成を示す正面図である。
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。
本実施形態に係るコンクリート検査装置Aは、図1に示すように、メインステージ1、中性子線発生部2、中性子線照射部3、サブステージ4、回折線検出部5、時刻検出部6及び制御演算部7によって構成されている。
これら各構成要素のうち、メインステージ1及び中性子線照射部3は、本発明における照射部を構成し、メインステージ1、サブステージ4及び回折線検出部5は、本発明における検出部を構成し、また時刻検出部6及び制御演算部7は、本発明におけるデータ処理部を構成している。
コンクリート検査装置Aは、コンクリート構造物Sを検査対象物とする非破壊検査装置である。より具体的には、コンクリート検査装置Aは、中性子の回折現象を利用することにより、コンクリート構造物Sを構成する複数の物質(骨材、鉄筋及びコンクリート等)の中の特定物質、例えば鉄筋S1の状態を非破壊検査するものである。コンクリート構造物Sの例としては、コンクリート製の橋、ビル、タンク等がある。
メインステージ1は、x軸方向(左右方向)及びy軸(図面に垂直な方向)に移動自在であり、所定の基台(図示略)上に設けられている。メインステージ1上には、中性子線発生部2及び中性子線照射部3が設けられている。また、中性子線発生部2及び中性子線照射部3とある程度離間した位置に、サブステージ4が設けられている。
中性子線発生部2は、例えば、イオン発生器で発生させた水素あるいはヘリウム等のイオンをターゲットに照射することによって、高速中性子を発生させる。また、中性子線発生部2は、この高速中性子をポリエチレンや軽水等の減速材を用いて、熱中性子あるいは熱外中性子をパルス状に発生させる。更に、中性子線発生部2は、上記パルス状の熱中性子あるいは熱外中性子を、中性子線u1(中性子パルス)として中性子線照射部3に出力する。中性子線u1(中性子パルス)は、X線に比べてコンクリートに対する透過性能が高く、例えば10cm程度の深さまで透過する。従って、中性子線u1(中性子パルス)は、コンクリート構造物の内部状態を検査することが可能な検査線である。一方、コンクリートの診断においては、鉄筋付近の腐食状況を評価することが重要である。鉄筋は表面から10cm程度の深さに位置するため、中性子線による非破壊検査を行うことが望ましい。
中性子線照射部3は、メインステージ1上において中性子線発生部2の近傍に設けられている。また、中性子線照射部3は、中性子線発生部2から供給された中性子線u1を、コンクリート構造物Sの表面(平面)に対して所定の角度θでパルス状に照射する。中性子線照射部3には、パルス状に出射される中性子線u1の出射タイミングt1を検出する中性子検出器3aが備えられている。中性子検出器3aは、例えば、所定部材を中性子線u1が透過することによって発生するガンマ線(γ線)を捉えることによって、中性子線u1の出射タイミングt1を検出する。また、中性子検出器3aは、出射タイミングt1を示す中性子線検出信号を時刻検出部6に出力する。
周知のように中性子線は視認可能なものではない。したがって、検査作業者は、中性子線照射部3から中性子線u1が出射されているか否か、及び中性子線u1の照射方向を把握することが困難である。しかしながら、中性子線照射部3は、中性子線u1の出射に同期すると共に出射方向を光軸とするレーザ光を、照射ガイド光g1として出射する光照射ガイド部3bを備えている。
サブステージ4は、x軸方向(左右方向)に移動自在であり、メインステージ1上に設けられている。サブステージ4上には、回折線検出部5が設けられている。つまり、本コンクリート検査装置Aにおいて、中性子線照射部3及び回折線検出部5は、共にメインステージ1上に設けられているので、基台に対してx軸方向あるいはy軸方向に移動可能である。さらに、回折線検出部5は、サブステージ4上に設けられているので、中性子線照射部3に対してx軸方向(つまり、回折線検出部が中性子線照射部に対して離間あるいは接近する方向)に移動可能である。
回折線検出部5は、図示するように、x軸方向に一定間隔で配列する複数(図1では一例として4個)の検出器5a〜5dから構成されている。各検出器5a〜5dは、中性子線u1がコンクリート構造物Sの各部位で回折された回折中性子線u2を検出する。回折中性子線u2の検出方向は、中性子線照射部3と同様に、コンクリート構造物Sの表面(平面)に対して角度θの方向とする。
各検出器5a〜5dは、図1に示すように、中性子線のu1照射方向(x軸方向に対して角度θだけ傾いた方向)におけるコンクリート構造物Sの各部位で回折した回折中性子線u2を検出する。つまり、各検出器5a〜5dは、コンクリート構造物Sにおいて、x軸方向及び深さ方向(x軸方向及びy軸方向に直交するz軸方向)に異なる部位で回折した回折中性子線u2を検出する。また、各検出器5a〜5dは、回折中性子線の検出タイミングt2を示す回折線検出信号を時刻検出部6に出力する。
回折中性子線u2も、中性子線u1と同様に、視認可能なものではない。従って、検査作業者は、回折中性子線u2の飛来方向(つまり、各検出器5a〜5dの検出方向)を把握することが困難である。しかしながら、各検出器5a〜5dは、回折中性子線u2の飛来方向を光軸とするレーザ光を、検出ガイド光g2として出射する光検出ガイド部5e〜5hを備えている。従って、ガイド光g2と中性子源側に備えられたレーザ装置3bからのガイド光g1が合わさるときのステージ4の位置を原点として、中性子源と検出器との相対位置を決定できる。
時刻検出部6は、上記中性子線検出信号が示す中性子線u1の出射タイミングt1と、回折線検出信号が示す回折中性子線u2の検出タイミングt2との時間差ΔTを計測する。また、時刻検出部6は、時間差ΔTを示す時間計測信号を制御演算部7に出力する。
制御演算部7は、上記中性子線発生部2、メインステージ1、及びサブステージ4を制御する。その結果、制御演算部7は、中性子線照射部3及び回折線検出部5の位置を設定する。それと同時に、制御演算部7は、時間検出信号が示す時間差ΔT(計測値)を下記演算式(1)に代入することにより、コンクリート構造物Sの各部位における物質の格子定数dを計算する。なお、この演算式(1)では、出射タイミングt1を基準時刻(つまりt1=0)とすることにより、時間差ΔTを時刻t(=t2)として表している。
Figure 0005286411
すなわち、時間tは、中性子線u1及び回折中性子線u2の速度v、コンクリート構造物Sの表面と中性子線照射部3との距離H、コンクリート構造物Sの表面から回折点までの深さD、及び中性子線u1の照射角θによって、演算式(1)のように表される。また、中性子線u1及び回折中性子線u2の運動量pは、速度v、中性子の質量m、及び光速cによって、演算式(1)のように表される。また、運動量pは、周知のドブロイの式によって、中性子の波長λ及びプランク定数hと関連付けられている。また、物体の格子定数dは、ブラッグの式に基づいて、角度θと中性子の波長λから決定される。
また、制御演算部7は、コンクリート構造物Sの各部位の格子定数dの計算処理に加えて、各部位の格子定数dを計測データファイルとして記憶装置に保存する。また、制御演算部7は、計測データファイルに基づいて、コンクリート構造物Sの表面領域(中性子線u1が照射されるx-y平面上の2次元領域)の各深さ(z軸方向)について各部位の格子定数dを可視化した検査画像を生成し、この検査画像をモニタに出力する。
次に、本コンクリート検査装置Aを用いた時系列的な検査動作について詳しく説明する。
本コンクリート検査装置Aを用いたコンクリート構造物Sの非破壊検査では、最初に制御演算部7からメインステージ1を制御することによって、中性子線照射部3をコンクリート構造物Sに対して所望の位置に位置決めする。すなわち、制御演算部7は、中性子線照射部3を、コンクリート構造物S上における所望の検査原点(x0,y0)に中性子線u1が照射されるように、x-y平面内で位置決めする。なお、コンクリート構造物Sの表面と中性子線照射部3との距離Hは、メインステージ1をコンクリート構造物Sの表面と平行な関係とすることにより一定値となる。
また、回折線検出部5についてもコンクリート構造物Sに対して所望の位置(図示する原点)に位置決めする。この原点は、4個の検出器5a〜5dのうち、x軸方向において中性子線照射部3に最も近い検出器5aがコンクリート構造物Sの表面から得られる回折中性子線u2を検出する位置である。中性子線照射部3は、光照射ガイド部3bを備え、また回折線検出部5は、光検出ガイド部5e〜5hを備えている。したがって、したコンクリート構造物Sに対する中性子線照射部3及び回折線検出部5の初期位置を設定することは極めて容易である。
制御演算部7は、前述した中性子線照射部3及び回折線検出部5の初期位置設定が完了した後、中性子線照射部3の位置を、中性子線u1の照射位置が検査原点(x0,y0)から検査終点(x0+Wm,y0+Wf)まで変化するように、メインステージ1を制御することによって、x-y平面内で2次元的かつ間欠的に走査(移動)させる。
すなわち、制御演算部7は、メインステージ1を制御することによって、中性子線u1の照射位置を、検査原点(x1,y1)からx軸方向に所定ピッチ(Δx)ずつ間欠的に順次移動させる。続いて、制御演算部7は、中性子線u1の照射位置を、検査原点(x1,y1)から所定の一定幅Wmに相当する位置(x1+Wm,y1)まで移動させ、検査原点(x1,y1)に復帰させる。続いて、制御演算部7は、中性子線u1の照射位置を、y軸方向に所定ピッチ(Δy)だけ変位した位置(x1,y1+Δy)に移動させる。
次に、制御演算部7は、上述したように、中性子線u1の照射位置を、所定の一定幅Wmに相当する位置(x1+Wm,y1+Δy)まで移動させ、位置(x1,y1+Δy)に復帰させる。さらに、制御演算部7は、上述したと同様にして、中性子線u1の照射位置を、y軸方向に所定の距離Wfまで移動させることにより、最終的に検査終点(x1+Wm,y1+Wf)まで移動させる。
また、制御演算部7は、中性子線照射部3の各停止位置、つまり変数i(i=1、2、3、……)によって特定される中性子線u1の各照射位置(xi,yi)において、サブステージ4を制御する。その結果、制御演算部7は、回折線検出部5の位置をx軸方向に間欠的に順次移動させる。すなわち、回折線検出部5の移動は、x軸方向における回折線検出部5の中性子線照射部3に対する距離を変更するものであり、図1に示すように、コンクリート構造物Sにおいてx軸方向及び深さ方向(z軸方向)に異なる部位から得られる回折中性子線u2を検出することに相当する。
例えば、図1に示す回折線検出部5の原点は、コンクリート構造物Sの表面から得られる回折中性子線u2を検出する位置である。回折線検出部5は、中性子線照射部3に対する距離が大きくなるに従って、コンクリート構造物Sの表面からより深い部位の回折中性子線u2を検出することになる。中性子線照射部3は、上述した中性子線u1の各照射位置(xi,yi)において、中性子線検出信号を時刻検出部6に出力する。また、回折線検出部5は、中性子線u1の各照射位置(xi,yi)において、x軸方向及び深さ方向(z軸方向)の異なる部位から得られる回折中性子線u2を順次検出することにより、回折線検出信号を時刻検出部6に出力する。
この結果、時刻検出部6は、中性子線u1の各照射位置(xi,yi)毎にx軸方向及び深さ方向(z軸方向)の異なる部位における出射タイミングt1と検出タイミングt2との時間差ΔTを計測する。また、時刻検出部6は、時間差ΔTを示す時間計測信号を、制御演算部7に出力する。そして、制御演算部7は、時間差ΔTに基づいて、中性子線u1の各照射位置(xi,yi)毎にx軸方向及び深さ方向(z軸方向)の異なる部位における物質の格子定数dをそれぞれ算出する。すなわち、制御演算部7が演算結果として出力する複数の格子定数dは、検査原点(x0,y0)と検査終点(x1+Wm,y1+Wf)とを結ぶ線分を対角線とする矩形領域(表面領域)を示すものである。また、複数の格子定数dは、コンクリート構造物Sの表面から所定の深さに亘る3次元領域(検査領域)を構成する物質の結晶状態を示すものである。
例えば、図1に示すように、検査領域内に鉄筋s1が存在する場合、鉄筋s1と周囲のセメントや骨材とは結晶構造が異なるので、これらの格子定数dも当然に異なる。また、鉄筋s1が腐食してサビs2が鉄筋s1の周囲に発生している場合、サビs2は、酸化物なので、鉄筋s1とは異なる結晶構造である。従って、サビs2の格子定数dも、当然に鉄筋s1とは異なる。
図2は、制御演算部7が上記各部位の格子定数dの計測データファイルに基づいて作成した検査画像の模式図である。この検査画像では、コンクリート構造物Sにおけるセメントや骨材に相当する部分、鉄筋s1に相当する部分及びサビs2に相当する部分が異なる色や模様で表示されている。
また、中性子線の回折スペクトルを測定することによって、鉄筋s1とサビ(s2)の違いを確認できる。回折スペクトルにおいては、鉄筋s1、周囲のセメント、骨材、およびサビs2はそれぞれ異なる格子定数dを有するために、格子定数dに基づくピーク強度も当然異なる。本発明者によれば、コンクリート構造物Sに照射した中性子線の回折スペクトルにおいて、サビs2特有のピーク強度を確認できた。
上記回折スペクトル測定においては、コンクリート構造物S内の測定領域の面積に応じて、回折スペクトルのバックグラウンドレベルが異なることが懸念される。しかしながら、本発明者は、中性子線の回折スペクトルにおける検査領域とサビs2のピーク強度の関係性を確認した。その結果、検査領域の面積が1mm以上であれば、サビs2のピーク強度をより確実に確認できることがわかった。したがって、検査領域が1mm以上あれば、より正確に非破壊検査することができる。
本実施形態によれば、中性子線照射部3からコンクリート構造物Sに照射される中性子線u1の出射タイミングt1と、中性子線u1がコンクリート構造物Sで回折されて回折線検出部5で検出される回折中性子線u2の検出タイミングt2との時間差ΔTに基づいて、コンクリート構造物Sを構成する物質の格子定数dを計測する。従って、コンクリート構造物Sを構成する複数の物質の中の特定物質、例えば、鉄筋s1の位置や状態(サビs2の発生等)を、容易に非破壊検査することができる。
また、メインステージ1上に、中性子線照射部3とサブステージ4を設け、サブステージ4上に、回折線検出部5を設け、中性子線u1の各照射位置(xi,yi)を設定すると共に、x軸方向及び深さ方向(z軸方向)に異なる部位を選択する。したがって、例えば、中性子線照射部3と回折線検出部5とを完全に独立した個別のステージ上に設ける場合に比較して、ステージの制御が容易であり、またステージの位置決め精度も高い。
続いて、図3を参照して、実用を考慮したコンクリート検査装置Bの実態構成(実用上の構成)について説明する。なお、図3では、図1に示したコンクリート検査装置Aの構成要素と同一機能を有するものには同一符合を付している。
本コンクリート検査装置Bは、図3に示すように、コンクリート構造物Sの一種である高架橋Rの床版r1の検査を特に考慮したものである。床版r1は、橋脚r2によって支承されており、地上から数メートルの高さにある。例えば道路用の高架橋R(道路橋)では、床版r1の上に施工される道路に凍結防止剤や融雪剤等の散布材を撒くことが行われている。したがって、散布材の影響による床版r1の劣化、例えば鉄筋r3の腐食(サビの発生)が懸念される。
高架橋Rの非破壊検査に対応するために、本コンクリート検査装置Bは、車両搭載型に構成されている。すなわち、本コンクリート検査装置Bは、運転者によって操縦される自走車両C1と、自走車両C1に牽引ロッドC2によって連結される牽引車両C3(バッテリ駆動自走台車)とを基台(移動自在な基台)とするものである。自走車両C1上には、前後方向に延在するレールC4が設けられ、レールC4上には中性子線発生部2及び中性子線照射部3が設けられている。また、中性子線発生部2及び中性子線照射部3は、油圧アクチュエータC5によってレールC4上に支持されており、図示するように水平面に対して傾斜(起伏)可能に設けられている。油圧アクチュエータC5は、自走車両C1上に別途設けられた油圧発生装置C6によって駆動される。
一方、牽引車両C3上には、前後方向に延在するレールC7が設けられ、レールC7上には回折線検出部5が設けられている。また、回折線検出部5は、電動アクチュエータC8によってレールC7上に支持されており、図示するように水平面に対して傾斜(起伏)可能に設けられている。さらに、牽引車両C3には、回折線検出部5を保護するために、折畳み式の保護カバーC9が設けられている。
また、牽引ロッドC2は、長さ調節機能を備えたものである。したがって、本コンクリート検査装置Bは、自走車両C1と牽引車両C3との距離を調整できる。すなわち、中性子線照射部3と回折線検出部5との距離を調節することが可能である。また、自走車両C1には、自走車両C1と牽引車両C3との距離を計測するためのレーザ距離計(図視略)が備えられている。
前述したように構成されたコンクリート検査装置Bは、検査時においては、油圧アクチュエータC5が油圧発生装置C6によって駆動される。その結果、中性子線照射部3の起伏角(上述したコンクリート検査装置Aにおける角度θに相当する)が、床版r1の下面に対して最適な状態に設定される。それと同時に、電動アクチュエータC8が作動することによって、回折線検出部5の起伏角及び自走車両C1と牽引車両C3との間の距離が、床版r1の下面に対して最適な状態に設定される。一方、検査前後の移動時には、中性子線照射部3の起伏角が油圧アクチュエータC5によって定常状態(水平状態)に戻される。それと同時に、回折線検出部5の起伏角が電動アクチュエータC8によって定常状態(水平状態)に戻される。
本コンクリート検査装置Bは、車両搭載型に構成されているので、床版r1の下に容易に移動させることが可能である。したがって、床版r1の下側の各箇所について非破壊検査を容易に行うことができる。また、コンクリート検査装置Bは、中性子線照射部3の起伏と回折線検出部5の起伏を可変することができるので、床版r1が異なる高架橋Rに対しても容易に対応することができる。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。
(1)上記実施形態ではコンクリート構造物を検査対象物としたが、本発明はこれに限定されない。検査対象物は、中性子を回折させる物であれば、いかなる物であっても良い。
(2)上記コンクリート検査装置Aではメインステージ1上にサブステージ4を設ける構成を採用したが、本発明はこれに限定されない。コンクリート検査装置Aにおいて、中性子線照射部3と回折線検出部5とを完全に独立したステージ上に設置し、中性子線照射部3と回折線検出部5とを個別に移動させることにより、中性子線の走査と回折線の検出位置を変更しても良い。
(3)上記実施形態では中性子線照射部3に光照射ガイド部3bを設け、また回折線検出部5に光検出ガイド部5e〜5hを設けたが、光照射ガイド部3b及び光検出ガイド部5e〜5hについては、コスト等の関係で必要に応じて省略しても良い。
(4)上記実施形態ではメインステージ1をx軸方向に加えy軸方向にも移動自在に構成したが、x軸方向のみに移動するようにしても良い。この場合、中性子線u1の照射位置がx軸方向のみに移動することになるが、コンクリート構造物Sについて極めて簡易的な検査を行う場合等においては十分な非破壊検査となる。
本発明によれば、検査対象物に対して中性子線を走査状に照射し、各走査位置で検査対象物から得られる回折中性子線を検出し、この検出結果に基づいて検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出する。その結果、コンクリート構造物の内部状態、特に、複数の構成物質中における鉄筋等の特定物質の状態を非破壊検査することが可能である。
A…コンクリート検査装置(非破壊検査装置)、1…メインステージ(照射部、検出部)、2…中性子線発生部、3…中性子線照射部(照射部)、3a…中性子検出器、3b…光照射ガイド部、4…サブステージ(検出部)、5…回折線検出部(検出部)、5a〜5d…検出器、5e〜5h…光検出ガイド部、6…時刻検出部(データ処理部)、7…制御演算部(データ処理部)、S…コンクリート構造物、u1…中性子線、g1…照射ガイド光、u2…回折中性子線、g2…検出ガイド光

Claims (4)

  1. 中性子線発生部と、
    前記中性子線発生部から供給された中性子線を検査対象物に対して走査状に照射する照射部と、
    中性子線が検査対象物によって回折された回折中性子線を照射部の走査位置に応じて検出する検出部と、
    前記検出部の検出信号に基づいて、検査対象物の走査位置における物質の格子定数を算出するデータ処理部と、を具備し、
    前記照射部は、第1方向に移動自在なメインステージを用いて回折中性子線を走査し、
    前記検出部は、第1方向に移動自在かつメインステージ上に設置されたサブステージを用いて、前記照射部の走査位置に応じた回折中性子線を検出する非破壊検査装置。
  2. 各走査位置における物質の格子定数に基づいて、検査対象物の内部状態を可視化する可視化部をさらに備える請求項1記載の非破壊検査装置。
  3. メインステージは、第1方向に直交する第2方向にも移動自在に設置される請求項1または2記載の非破壊検査装置。
  4. 中性子線の照射方向及び回折中性子線の検出方向をレーザ光で示す光ガイド部を備える請求項1〜3のいずれか1項に記載の非破壊検査装置。
JP2011512337A 2010-03-05 2011-03-04 非破壊検査装置 Active JP5286411B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011512337A JP5286411B2 (ja) 2010-03-05 2011-03-04 非破壊検査装置

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010049527 2010-03-05
JP2010049527 2010-03-05
PCT/JP2011/055079 WO2011108709A1 (ja) 2010-03-05 2011-03-04 非破壊検査装置及び方法
JP2011512337A JP5286411B2 (ja) 2010-03-05 2011-03-04 非破壊検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2011108709A1 JPWO2011108709A1 (ja) 2013-06-27
JP5286411B2 true JP5286411B2 (ja) 2013-09-11

Family

ID=44542353

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011512337A Active JP5286411B2 (ja) 2010-03-05 2011-03-04 非破壊検査装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5286411B2 (ja)
WO (1) WO2011108709A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9442083B2 (en) * 2012-02-14 2016-09-13 Aribex, Inc. 3D backscatter imaging system
JP7311161B2 (ja) * 2018-04-12 2023-07-19 国立研究開発法人理化学研究所 非破壊検査方法と装置
JP7212880B2 (ja) 2018-09-27 2023-01-26 株式会社トプコン 非破壊検査システム及び非破壊検査方法
JP7223992B2 (ja) * 2019-02-27 2023-02-17 株式会社トプコン 非破壊検査システム及び非破壊検査方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194324A (ja) * 2000-01-11 2001-07-19 Non-Destructive Inspection Co Ltd 中性子による検出物の検出方法並びにこれに用いる検出装置及び試験体
JP2002221503A (ja) * 2001-01-25 2002-08-09 Mirai Group Co Ltd コンクリート未充填部の判別方法及びコンクリートからのタイル剥離判別方法
JP2005083999A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 National Institute For Materials Science X線回折顕微鏡装置およびx線回折顕微鏡装置によるx線回折測定方法
JP2006292551A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 National Institute For Materials Science 酸化チタンの分析方法とこの方法を実施する酸化チタンの分析装置
JP2007510922A (ja) * 2003-11-11 2007-04-26 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ コヒーレント散乱放射線を用いることによる被検体の計算検査装置及び方法
JP2009085767A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Niigata Univ 回折法によるひずみ測定装置及び測定方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001194324A (ja) * 2000-01-11 2001-07-19 Non-Destructive Inspection Co Ltd 中性子による検出物の検出方法並びにこれに用いる検出装置及び試験体
JP2002221503A (ja) * 2001-01-25 2002-08-09 Mirai Group Co Ltd コンクリート未充填部の判別方法及びコンクリートからのタイル剥離判別方法
JP2005083999A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 National Institute For Materials Science X線回折顕微鏡装置およびx線回折顕微鏡装置によるx線回折測定方法
JP2007510922A (ja) * 2003-11-11 2007-04-26 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ コヒーレント散乱放射線を用いることによる被検体の計算検査装置及び方法
JP2006292551A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 National Institute For Materials Science 酸化チタンの分析方法とこの方法を実施する酸化チタンの分析装置
JP2009085767A (ja) * 2007-09-28 2009-04-23 Niigata Univ 回折法によるひずみ測定装置及び測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011108709A1 (ja) 2011-09-09
JPWO2011108709A1 (ja) 2013-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6712418B2 (ja) 非破壊検査装置と方法
CA2993025C (en) System and method for internal inspection of rail components
JP5286411B2 (ja) 非破壊検査装置
US8680477B2 (en) Non-destructive inspection method and device
CA2901327C (en) Collection of tomographic inspection data using compton scattering
JP7311161B2 (ja) 非破壊検査方法と装置
Eto et al. Laser-induced breakdown spectroscopy system for remote measurement of salt in a narrow gap
JP5445016B2 (ja) 非破壊検査方法及びその装置
JP2020051946A (ja) 非破壊検査システム及び非破壊検査方法
JP2011185722A (ja) 非破壊検査船
JP7340476B2 (ja) 放射線計測装置および放射線計測方法
JP2011185674A (ja) 検査線発生装置並びに非破壊検査装置及び方法
Azizinamini Non-destructive testing (NDT) of a segmental concrete bridge scheduled for demolition, with a focus on condition assessment and corrosion detection of internal tendons.
Meyer et al. Nondestructive examination guidance for dry storage casks
JP4174034B2 (ja) Pcグラウトの充填度検出方法および装置
Brasche et al. Feasibility study for detection and quantification of corrosion in bridge barrier rails.
Betz et al. Visualization of bulk magnetic properties by neutron grating interferometry
JP7223992B2 (ja) 非破壊検査システム及び非破壊検査方法
JP6598205B2 (ja) 非破壊検査方法および装置
JP2021067585A (ja) コンクリート構造物の品質検査方法、コンクリート検査装置、及びコンクリート構造物の製造方法
JP4121127B2 (ja) 硬化体の強度測定方法及び装置
JP2023049629A (ja) 合成床版の非破壊検査装置と非破壊検査方法
US20230393082A1 (en) Nondestructive inspecting device, and nondestructive inspecting method
JP2007206009A (ja) 固化体の強度測定方法及び装置
Švraka et al. Investigation of the unusual deformations of external tendons in concrete highway bridges

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130603

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5286411

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250