JP5277509B2 - エレクトロスプレーによるイオン化方法および装置，ならびに分析方法および装置 - Google Patents

Description

この発明はエレクトロスプレーによるイオン化方法および装置，ならびに分析方法および装置に関する。

生体試料や工業製品などを対象としたイメージング質量分析法の代表的なものにマトリクス支援レーザ脱離イオン化法（ＭＡＬＤＩ＝Ｍａｔｒｉｘ−Ａｓｓｉｓｔｅｄ Ｌａｓｅｒ Ｄｅｓｏｒｐｔｉｏｎ Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ）による質量分析法がある。この方法ではＭＡＬＤＩ試料の作成という前処理が必要である。
近年，生体単一細胞の分子分析が活発に行なわれるようになり，そのための有効な分析法としてナノ−エレクトロスプレー・イオン化法による質量分析法（ｎａｎｏ−ｅｌｅｃｔｒｏｓｐｒａｙ ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ（ＥＳＩ）ｍａｓｓ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ（ＭＳ））が提案されている。
Ｍｉｚｕｎｏ，Ｔｓｕｙａｍａ，Ｈａｒａｄａ ａｎｄ Ｍａｓｕｊｉｍａ“Ｌｉｖｅ ｓｉｎｇｌｅ−ｃｅｌｌ ｖｉｄｅｏ−ｍａｓｓ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ ｆｏｒ ｃｅｌｌｕｌａｒ ａｎｄ ｓｕｂｃｅｌｌｕｌａｒ ｍｏｌｅｃｕｌａｒ ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ ａｎｄ ｃｅｌｌ ｃｌａｓｓｉｆｉｃａｔｉｏｎ”Ｊ．Ｍａｓｓ Ｓｐｅｃｔｒｏｍ．２００８；４３：１６９２−１７００
この方法は，口径（内径）がミクロン・オーダの先端をもつガラス製のＥＳＩチップ（キャピラリー）の先端に対象細胞またはその細胞液を吸い込み，イオン化用溶媒（一例として，正イオン・モードの場合は０．５％の蟻酸を含むアセトニトリル，負イオン・モードの場合は０．５％アンモニア水）をＥＳＩチップ内に加えて１０^６倍以上に希釈した上で，エレクトロスプレーにより希釈した細胞試料をイオン化し，分析装置に導くものである。この方法によると，当然ながら，溶媒も質量分析されるから，溶媒由来の分子によるイオンシグナルも質量分析スペクトル中に現れる。

この発明は，前処理なしの生体細胞などを対象試料（単一の細胞，生きた動物の体液なども含む）とすることができるイオン化方法および装置を提供するものである。
この発明はまた，大気圧下で試料イオンの脱離，イオン化が可能なイオン化方法および装置を提供するものである。
この発明はさらに，液体状生体試料，塩濃度が高い試料に対してもエレクトロスプレー現象を起こすことができる方法および装置を提供するものである。
さらにこの発明は溶媒による希釈も必ずしも必要のないエレクトロスプレーによるイオン化方法および装置を提供するものである。
さらにこの発明は上述のイオン化方法または装置によりイオン化されたイオンを分析する分析方法および分析装置を提供するものである。
この発明によるイオン化方法は，先端部に小さな孔があけられた中空の絶縁性試料保持器の少なくとも上記先端部内に試料を入れ，上記試料保持器内に挿入された導電性線状体（針状のものを含む）を，その先端が上記孔から外方に突出（進出）または内方に退入可能に支持し，上記線状体の先端を上記試料保持器内の上記試料に接触させながら上記孔を通して試料保持器の外に突出させ，上記線状体の先端が上記孔から外方に突出している時間帯の少なくとも一部において上記線状体に高電圧を印加して，上記線状体の先端に付着している試料をエレクトロスプレーによりイオン化するものである。
上記試料保持器を用いてその先端部に試料を直接に採取することができる。もちろん，別途採取した試料を上記試料保持器の先端部内に入れることもできる。液体試料を上記試料保持器に液体クロマトグラフから供給する構成とすることもできる。
要すれば，試料保持器内の試料または導電性線状体の先端に付着した試料に溶媒を供給してもよい。
上記線状体の先端が上記孔から外方に突出している時間帯の少なくとも一部において上記線状体に高電圧を印加するとは次の態様を含む。すなわち，上記導電性線状体に常時，エレクトロスプレー用高電圧を印加してもよいし，上記導電性線状体の先端が上記試料保持器の上記孔から外方に突出した後に，パルス状高電圧を上記導電性線状体に印加してもよい。後者の場合には，エレクトロスプレーによって導電性線状体の先端の試料が消費されたときに上記パルス状高電圧の印加を停止することが好ましい。高電圧は，好ましくは，導電性線状体と分析装置のイオン導入路との間に印加される。
試料保持器の先端部にあけられた小さな孔とは，最大でも，試料保持器の先端部に入れられた液体状試料が表面張力により外部に漏れ出さない程度，またはそれよりも小さな孔を意味する。
この発明によると，導電性線状体の先端を試料保持器の先端の孔から外方に突出（進出）させたときに，試料保持器内の試料が導電性線状体の先端に付着する。導電性線状体に高電圧を印加するとエレクトロスプレーによりその先端に付着した試料がイオン化される。イオンは質量分析装置に導入され，分析される。
この発明によると，試料保持器や導電性線状体を真空室内に配置する必要はなく，大気圧下（大気，他の不活性ガス中または飽和蒸気圧チャンバー内など）でイオン化を行うことができる。試料に前処理を加えることなくそのまま使用することができる。試料には生体試料を用いることが可能であるし，塩濃度の高い試料に対してもエレクトロスプレーを生起させることができる。さらに，必ずしも溶媒を用いて試料を希釈する必要はない（もちろん，この発明は試料を溶媒により希釈することを排除するものではない）。試料保持器の先端部や導電性線状体の径を小さくして，極微少量の試料に応用することができるし，分析の分解能を高めることも可能となる。導電性線状体は，ガラス（石英を含む）等の絶縁体製ニードルの表面に金属をコーティングしたものを含む。これにより導電性線状体の径をより小さくすることができれば一層高い分解能を得ることができる。
この発明はさらに，上記のイオン化方法によりイオン化された分子を分析するイオン化分析方法を提供している。
一つの試料について，上記導電性線状体の突出と退入および試料のエレクトロスプレーを複数回繰返し，分析装置内でイオンをトラップするか，または分析装置から出力される電気信号を蓄積することによりＳ／Ｎ比を高めることができる。
少なくとも先端に疎水化または親水化表面処理を施した導電性線状体を用いることにより，液体試料中の界面活性の異なる全成分について界面活性の大きな順に時系列でイオン検出が可能となる。
この発明によるイオン化装置は，先端部に小さな孔があけられた中空な絶縁性試料保持器を支持する支持機構，上記試料保持器内に挿入された導電性線状体（針状のものを含む）を，その先端を上記孔から外方に突出させまたは内方に退入させる駆動装置，および上記線状体の先端が上記孔から外方に突出している時間帯の少なくとも一部において上記線状体にエレクトロスプレーのための高電圧を印加する高電圧発生装置を備えたものである。
この発明はまた，上記のイオン化装置と，イオン化された分子を分析する分析装置とを備えたイオン化分析装置も提供している。

第１図はこの発明の実施例によるイオン化装置およびイオン化分析装置（分析装置）の全体的構成を示すものである。
第２図は試料保持器の支持装置の一例を示す断面図である。
第３図は細胞内の細胞液を試料として採取する様子を示す斜視図である。
第４図は試料保持器の先端部を拡大して示すもので，金属細線が退入している状態を示す。
第５図は試料保持器の先端部を拡大して示すもので，金属細線が突出（進出）している状態を示す。
第６図は試料保持器の配置の他の例を示す。
第７図は試料保持器の他の構成例を示す。
第８図は試料保持器の他の構成例を示す。
第９図はインスリン溶液について，イオン化に基づく質量分析結果を示すマススペクトル（グラフ）である。
第１０図は玉ねぎについて，イオン化に基づく質量分析結果を示すマススペクトル（グラフ）である。

第１図はこの発明の実施例によるイオン化装置およびイオン化分析装置の概略構成を示すものである。
イオン分析装置は，イオン化装置１０と質量分析装置（イオン分析装置）３０とから構成される。
イオン化装置１０によって試料から脱離，イオン化された試料イオンは質量分析装置３０に導かれる。質量分析装置の例としては（直交型）飛行時間質量分析計を挙げることができるが，この発明は（リニア）イオントラップ型質量分析装置，四重極質量分析装置，フーリエ変換質量分析装置等の質量分析装置にも適用可能である。また，イオントラップ型質量分析装置を除く飛行時間質量分析装置等の質量分析装置の前段にイオントラップ装置を配置し，イオン化装置１０においてイオン化されたイオンをイオントラップ装置により蓄積し，その後，これらの蓄積されたイオンを質量分析装置に導くようにしてもよい（詳しくは後述する）。
質量分析装置３０の内部は真空に保たれる。質量分析装置３０はイオンサンプリング用スキマー（オリフィス）３１を備え，その先端部にイオン導入孔（イオン導入路）３１ａがあけられ，この導入孔３１ａにより質量分析装置３０の内部がイオン化装置１０が配置された外界（大気圧）とつながっている。イオン導入路としてスキマーではなく，イオンサンプリング用キャピラリーを備える分析装置もある。そして，質量分析装置の種類によってはイオンサンプリング用キャピラリー（オリフィス）に電源装置によりイオン集束用電圧（正イオン・モードの場合には＋１００Ｖ以下，負イオン・モードの場合には−１００Ｖ以下の比較的低い電圧）を印加するタイプのものもある。イオンサンプリング用キャピラリーは接地される場合もある。質量分析装置３０の外壁は一般に接地される。
イオン化装置１０は，ＸＹＺステージ１３，ＸＹＺステージ１３上に設けられ，中空の試料保持器１１を支持する支持機構１５，試料保持器１１内に挿入された金属細線（導電性線状体）（先端が針状に尖ったものを含む）１２をその長手方向に駆動する駆動装置（アクチュエータ）１４，および金属細線１２と質量分析装置３０のスキマー３１（またはグランドもしくは接地電位）との間にエレクトロスプレー用高電圧（数ｋＶから１ｋＶ程度，または１ｋＶ以下）を印加する高電圧発生装置１７を備えている。駆動装置１４は支持部材１６によってＸＹＺステージ１３上に固定されている。
この実施例では電気的絶縁性の試料保持器１１はガラス製のキャピラリーないしはピペット状のものであり，全体的に細い円筒状で，中央部の径が一定の胴部と，この胴部から先端１１ａにいくほど細くなるようにテーパ状に形成されたテーパ部（先細部，チップ，先端構成部）と，このテーパ部とは反対側において胴部につながる基部１１ｂとから構成されている。試料保持器１１の先端１１ａはきわめて小さな内径で開口している（小さな孔）。一例としては試料保持器１１の先端１１ａの孔の内径は，試料の種類，大きさ等に応じて１μｍ〜数百μｍ程度がよいが，１μｍ以下でもよい。
試料保持器１１は，第２図に示すように，ＸＹＺステージ１３上にわずかの間隔をあけて垂直に立てられ，試料保持器１１の胴部を挟持する円弧状凹部が形成された２枚の挟持板から構成される支持機構１５によって，水平な姿勢に支持されている。支持機構１５は，たとえばＸＹＺステージ１３上に立設された支柱と，この支柱の上部に取付けられ，試料保持器１１を把持する腕とから構成するなど，さまざまな形態で実現することができる。
金属細線１２は試料保持器１１内にその基部１１ｂから挿入されている。金属細線１２の径は，試料保持器１１の先端１１ａの孔（開口）をゆるく通る程度またはそれ以下であればよい。たとえば金属細線１２の径は先端１１ａの孔の内径の１／２〜１／１００程度，またはそれ以下である。金属細線１２の先端は尖っていても，尖っていなくてもどちらでもよい。要すれば，試料保持器１１内（たとえば胴部内）に，金属細線１２を移動自在に支持する支持部材（たとえば金属細線１２がその中心部を貫通するゴム栓など）（好ましくは絶縁性）を配置する。金属細線１２の先端部は試料保持器１１の先端１１ａ内面（孔内側）に接触してもよい。
駆動装置１４は金属細線１２の試料保持器１１の基部１１ｂから外方に突出した後端部を掴み，金属細線１２をその長手方向に移動（変位）（振動）（駆動）させるものである。この駆動により，金属細線１２の先端部は，試料保持器１１の先端１１ａの孔から外方に突出（進出），または内方に退入する。
ＸＹＺステージ１３は試料保持器１１の支持機構１５および駆動装置１４の支持部材１６を支持し，かつこれらを全体として３つの直交する方向，すなわちＸ，Ｙ，Ｚ方向に変位させるものである。たとえば，金属細線１２の長手方向をＸ方向とする。ＸＹＺステージ１３によって，試料保持器１１の先端１１ａの位置が，質量分析装置３０のスキマー３１のイオン導入孔３１ａのＸ方向外方の近傍に位置するように調整される。もちろん，金属細線１２の先端が試料保持器１１の先端１１ａから突出（進出）したときに，金属細線１２の先端はスキマー３１に接触することなく，エレクトロスプレーが発生するように調整される。試料のイオン化は大気圧下で行なわれる。
ＸＹＺステージ１３および駆動装置１４は，ピエゾ素子，モータ駆動または磁気駆動装置など機械的に再現性のよい運動機能を備えた装置を含み，各方向にｎｍオーダで変位量を制御できることが好ましい。特に，金属細線１２をその長手方向に往復動させる駆動装置１４は，往復動（振動：１回の往復動を含む）の周波数，振幅および振動回数の制御ができるものであることが好ましい。
対象試料の採取はたとえば次のように行う。第３図に示すように，シャーレ３５内に生体の一部Ｌが置かれている。ピストン・シリンジ１９に試料保持器１１を取付ける。この生体の一部Ｌ中の特定の１個の細胞Ｃ（直径１０μｍ〜１００μｍ程度）の内容物（細胞液）を試料保持器１１の先端１１ａ内（先端の内部ないしは先端部内）にシリンジ１９により吸い込む。試料保持器１１の先端部内には１個の細胞Ｃの細胞液（対象試料）のみが採取される。
１個の細胞の全細胞液の１０％以下の細胞液（たとえば１００ｆＬ以下）を顕微鏡下で採取できれば生きた細胞を犠牲にせずにすむ。この場合に，細胞液を吸い取った後に，必要に応じて試料保持器（キャピラリー）内に溶媒を充填し（溶媒を吸い取る），細胞液試料を希釈してもよい（複数回の試料採取を行なわずにすむ）。試料保持器の先端はきわめて細いことが必要となり，その内部に挿入する導電性線状体もきわめて細くする必要がある。後述するように，導電性線状体として，金属細線に代えて，ガラス細線（たとえば直径が１μｍ〜１００μｍ）の表面に金属をコーティング（たとえば金を蒸着）すると極細の導電性線状体を得ることができる。
細胞Ｃの内容物を採取した試料保持器１１を，第１図に示すように支持機構１５に取付けて固定する。試料保持器１１の基部１１ｂから金属細線１２を挿入する。金属細線１２の先端は試料保持器１１の先端部の内側に位置している（第４図参照）。
対象試料は細胞に限らない。採取方法も上述のやり方に限らない。要するに質量分析すべき試料を試料保持器１１の先端部内に入れておけばよい。対象試料は液体または液状物体がよい。液体または液状物体はその表面張力によって，試料保持器１１の先端１１ａの小さな孔から漏れることはない。金属細線１２の先端（先端部）は対象試料内に位置している（最内方位置。試料保持器の姿勢に応じて上至点または下至点）。
この状態で金属細線１２を試料保持器１１の先端１１ａの孔から外方に突出（進出）させる（第５図参照）。金属細線１２の先端（先端部）が外方に突出することに併って試料は金属細線１２の先端（先端部）に付着して外方に露出する。液状試料の表面張力によって金属細線１２の先端（先端部）への試料の付着は最小限に抑えられるとともにほぼ均一に塗布され，その量も常にほぼ一定している（再現性がよい）。
金属細線１２の先端は，試料保持器１１の先端部の内方の位置（最内方位置または上至点もしくは下至点）と外方の位置（最外方位置または下至点もしくは上至点）の間をあらかじめ定められた変位量で動く。金属細線１２の先端が最外方位置（たとえば先端１１ａから数１０μｍないし数ｍｍ離れた位置）に至ったときに，金属細線１２とスキマー３１との間にパルス状高電圧を印加する。これにより，金属細線１２の先端（先端部）に付着した試料はエレクトロスプレーによってイオン化される。イオン化された試料はスキマー３１の導入孔３１ａから分析装置３０内に導かれて質量分析される。
同一の試料について，金属細線１２の試料保持器１１の先端１１ａからの出し入れ（突出，退入）と，金属細線１２の先端（先端部）が突出したときのパルス状高電圧の印加を複数回繰返し，イオンを複数回生成することが好ましい。質量分析装置がイオントラップ型のものの場合，またはイオントラップ装置を前段に装備したタイプのものでは，上記の繰返しにおいて発生する試料イオンがイオントラップによって蓄積されるので，Ｓ／Ｎ比の良いマススペクトルが得られる。またイオンの繰返し生成により質量分析装置から繰返し出力される電気信号を電気的に（たとえばデータをメモリに）蓄積することによってもＳ／Ｎ比のよいマススペクトルを得ることができる。
金属細線１２の先端からのエレクトロスプレーによって液体試料が消費されて細線金属面が露出すると，気体放電が発生しやすくなるので，このような場合には，放電が発生する前に，金属細線に印加した電圧をオフにするとよい。このような場合における金属細線への電圧印加のパルス幅は，通常１ｍｓ以下である。
金属細線１２に連続的にエレクトロスプレーのための高電圧を印加しておいてもよい。この場合には，金属細線１２の先端が試料から外方に突出したときにエレクトロスプレーが発生するであろう。
金属細線１２に印加される電圧は，正イオン観測モードの場合，正の高電位であり，負イオン観測モードの場合には負の高電位である。
第１図においては試料保持器１１は水平に配置されているが，第６図に示すように先端１１ａを下に向けて垂直に配置してもよい。逆に先端１１ａを上に向けて試料保持器１１を垂直に配置してもよい。試料保持器１１を斜めに配置してもよい。いずれにしても，試料保持器１１は金属細線１２の先端から発生するエレクトロスプレーによる試料イオンがイオン導入孔３１ａからイオン分析装置３０内に効率よく導入される位置に置かれる。なお，第６図およびそれ以降の図においては高電圧発生装置１７は簡略して描かれている。
第７図はさらに他の実施例を示すものである。試料保持器１１Ａは上述した試料保持器１１の胴部に試料流入路２１（ガラス管）が連通するように結合して構成されている。また，この流入路２１が結合している部分よりも基部側において，胴部内に試料流出防止栓２２が詰められている。この流出防止栓２２はたとえばゴム製である。そして，金属細線１２が栓２２内を貫通して試料保持器１１Ａの先端１１ａ付近（その外方または内方）まで延びている。
試料流入路２１は，たとえば液体クロマトグラフの流出路に接続され，液体クロマトグラフの流出液が試料保持器１１Ａ内に導入され，イオン化と質量分析を受けることができる。
第８図はさらに他の例を示すもので，試料保持器としてガラス製のキャピラリー２３が用いられ，先端２３ａが斜めに切断されている。このキャピラリー２３の斜めに切断された先端２３ａを動植物に直接に突き刺して試料を採取する。必要であれば，試料のイオン化時において，キャピラリー２３の先端部に供給管２４から溶媒の蒸気を吹きかけるようにすることもできる（溶媒の供給）。第８図において，質量分析装置の図示は省略してある。
なお，第１図において駆動装置１４を省略し，作業者の手によって絶縁物を介して金属細線１２を出し入れ（進退）するようにしてもよい。または，ＸＹＺステージ１３も必ずしも必要ではないなど，種々の変形が考えられうる。
溶媒は試料を溶解または湿潤化するものであれば何でもよく，液体状でも気体状でもよい。たとえば，溶媒には，水，アルコール，酢酸，トリフロ酢酸，アセトニトリル，水溶液，混合溶媒，混合気体等がある。これらの溶媒を液体のまま，霧状にして，加熱蒸気にして，またはガス状で試料保持器の先端に供給することができる。
最後にイオン化とそれに基づく分析結果を示す。第９図は，試料保持器として，内径２５０μｍのキャピラリー（全長にわたって径が一定のもの）を用い，その先端部に約０．０３μＬ（マイクロリットル）の容積のインスリン溶液を入れ，金属細線として直径１０μｍのタングステン・ワイヤを挿入して，このワイヤの先端部をキャピラリー先端から出し入れし，１．６ｋＶの高電圧を印加してエレクトロスプレーによりイオン化と質量分析を行った結果を示すものである。
第１０図は，第８図に示すように先端を斜めにカットしたキャピラリー（内径２５０μｍ）の先端を玉ねぎに突き刺してその汁を採取し，直径３０μｍのタングステン・ワイヤの進退によりエレクトロスプレー（電圧１．６ｋＶ）を生起させてイオン化と質量分析を行った結果を示す。溶媒として水蒸気を用い，これを第８図に示すように試料にふきかけた。アミノ酸や糖類のピークがみられるのが分る。
導電性線状体としてはガラス（石英を含む）等の細く延伸することが可能な絶縁体製線状体の表面（好ましくはその全面）に金属をコーティング（たとえば金を０．１μｍ前後またはそれ以下の厚さに蒸着）したものを用いることができる。この態様によると極細（直径１０μｍ以下）の導電性線状体を製造することが可能となる。
液体試料を試料保持器内に装填した場合，溶液と大気との間に必ず界面が存在することになる。この界面には溶液中のより界面活性の高い成分が濃縮されている。したがって，これらの成分を選択的にエレクトロスプレーさせることができれば，溶液中の全成分を界面活性の序列に従って順次検出できることになる。この発明の方法によると，このことが可能となる。
すなわち，液体試料を小さな試料保持器（たとえば内径ｍｍオーダ以下のキャピラリー）内に充填する。
この試料保持器内に，表面を疎水性とする（疎水化）表面処理を行った細い探針を挿入する。この疎水化表面処理は次のようにして行うことができる。たとえばチタン線をバーナー炎に晒して，表面に酸化被膜を形成させる。このチタン探針を数時間から１昼夜，Ｐｅｎｔａｆｌｕｏｒｏｐｈｅｎｙｌ−ｔｒｉｅｔｈｏｘｙｓｉｌａｎｅ（１００％，または５０％メタノール溶液）内に放置する。これによって，チタン探針表面が疎水化される。細い探針表面の親水化にも有効である。
探針にはあらかじめ高電圧を印加させておく。または，探針が試料液面から突き出たときにパルス的に高電圧を印加する。
試料保持器内に挿入した探針を試料保持器の軸（長手方向）に沿って前後（進出退入）運動させて（たとえば３Ｈｚ）試料保持器内の液体表面から探針を前方に突き出させて，探針先端に付着した液体試料をゆっくりとエレクトロスプレーさせる。
この操作で，まず液体界面（表面）に選択的に凝集している界面（表面）活性の大きなイオンがエレクトロスプレーされる。この操作を繰り返すことにより，界面活性の大きなイオンから小さなイオンの序列でエレクトロスプレーされる。マススペクトルは界面活性の高い成分から低い成分に向って経時的に変化する。このようにして，液体試料中に存在する界面活性の異なる全分析種のイオンが検出される。
従来エレクトロスプレーは，キャピラリーを通して液体を送液し，キャピラリー自体に高電圧を印加してこの液体をエレクトロスプレーさせる。この場合，液体に含まれる全成分が同時に強制的に送液されてエレクトロスプレーされるので，たとえば界面活性の小さな成分は帯電液滴から放出されない（ｏｆｆ−ｓｐｒｉｎｇ ｄｒｏｐｌｅｔｓの母滴に残る）。したがってこのような成分については気相イオンとしての検出が困難となり，検出感度が犠牲となる。これに対してこの発明の方法によると，液体試料を試料保持器内にバッチシステムで捕捉し，この液滴のすべてを完全にエレクトロスプレーさせることができる。すなわち，全成分分析が可能となる。とくに，細い探針を用いることができるので（先端径は１マイクロメートル以下），捕捉される試料の量が少なく，界面活性の序列を細かく分別して，成分分析が可能となる。
探針表面を親水化すると疎水性の試料イオンは観測されるが，親水性試料は探針表面に捕捉されたままエレクトロスプレーされない場合がある。このような場合，先端に溶媒蒸気を供給してエレクトロスプレーを促進させると，イオンが観測されるようになる。したがって，親水化処理は，疎水性イオンと親水性イオンを分別してエレクトロスプレーする優れた方法である。

Claims (10)

1. 先端部に小さな孔があけられた中空の絶縁性試料保持器の少なくとも上記先端部内に試料を入れ，
   上記試料保持器内に挿入された導電性線状体を，その先端が上記孔から外方に突出または内方に退入可能に支持し，
   上記線状体の先端を上記試料保持器内の上記試料に接触させながら上記孔を通して試料保持器の外に突出させ，
   上記導電性線状体の先端が上記試料保持器の上記孔から外方に突出した後に，上記導電性線状体に高電圧を印加して，上記線状体の先端に付着している試料をエレクトロスプレーによりイオン化する，
   エレクトロスプレーによるイオン化方法。
2. 一つの試料について，上記導電性線状体の先端の突出と退入および試料のエレクトロスプレーを複数回繰返す，請求項１に記載のイオン化方法。
3. エレクトロスプレーによって導電性線状体の先端の試料が消費されたときに上記高電圧の印加を停止する，請求項１に記載のイオン化方法。
4. 上記試料保持器の先端に試料を直接に採取する，請求項１から３のいずれか一項に記載のイオン化方法。
5. 液体試料を上記試料保持器に液体クロマトグラフから供給する，請求項１から３のいずれか一項に記載のイオン化方法。
6. 大気圧下で行う，請求項１から５のいずれか一項に記載のイオン化方法。
7. 少なくとも先端に疎水化表面処理または親水化表面処理を行った導電性線状体を用いる，請求項１から６のいずれか一項に記載のイオン化方法。
8. 請求項１から７のいずれか一項に記載のイオン化方法によりイオン化された分子を分析するイオン化分析方法。
9. 先端部に小さな孔があけられた中空な絶縁性試料保持器を支持する支持機構，
   上記試料保持器内に挿入された導電性線状体を，その先端を上記孔から外方に突出させまたは内方に退入させる駆動装置，および
   上記導電性線状体の先端が上記試料保持容器の上記孔から外方に突出した後に，上記導電性線状体にエレクトロスプレーのための高電圧を印加する高電圧発生装置，
   を備えたエレクトロスプレーによるイオン化装置。
10. 請求項９に記載のイオン化装置と，イオン化された分子を分析する分析装置とを備えたイオン化分析装置。
    

Images