JP5273149B2 - デジタル位相比較器と方法 - Google Patents
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Description
本発明は、日本国特許出願:特願2008−241171号(2008年9月19日出願)及び特願2009−059903号(2009年3月12日出願)の優先権主張に基づくものであり、同出願の全記載内容は引用をもって本書に組み込み記載されているものとする。
本発明は、位相比較器に関して、特に位相差を検知してデジタル信号に変換する、デジタル位相比較器と方法に関する。
以下に、本発明による関連技術の分析を与える。
本発明によれば、前記第1の側面に係る時間デジタル変換回路における、第4のパルス信号の位相比較と遅延時間未満の位相差の抽出の回路を兼ねることが可能となり、回路面積及び消費電力をさらに抑えた、高分解能のデジタル位相比較器を提供することが可能となる。
本発明の第7の側面においては、前記第4のパルス信号が、前記第1のパルス信号を前記第2のパルス信号の反転信号によるリタイミング動作から得られ、前記第2のパルス信号の反転信号の遷移タイミングに同期した信号であり、前記第1の論理回路が、前記第1の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1のパルス信号と前記第4のパルス信号の相対的な位相差を示すデジタル値をさらに数値化し、前記第4の時間デジタル変換回路から出力される、前記第3の論理和演算回路の出力と前記第4の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第4の論理回路と、を備え、前記第3及び第4の論理回路の数値化結果を元に、前記第1の論理回路で数値化された、前記第1のパルス信号と前記第4のパルス信号の相対的な位相差を補正し、前記第1のパルス信号と前記第3のパルス信号の相対的な位相差と、前記第1のパルス信号と前記第4のパルス信号の相対的な位相差の差により、前記第2のパルス信号の半周期を求め、前記第1のパルス信号と前記第3のパルス信号の相対的な位相差または、前記第1のパルス信号と前記第4のパルス信号の相対的な位相差を正規化する。
(a)第1の入力信号を等間隔に遅延させた遅延信号群を生成し、第2の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の入力信号を等間隔に遅延させた遅延信号群によってそれぞれサンプルし、前記サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算(例えば論理和演算)を施して第1の信号を合成し、
(b)前記第2の入力信号を、前記第1の入力信号と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた遅延信号群を生成し、前記第1の入力信号を、前記第2の入力信号及び前記第2の入力信号を等間隔に遅延させた遅延信号群によってそれぞれサンプルし、前記サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算(例えば論理和演算)を施して第2の信号を合成し、
(c)前記第1の信号を等間隔に遅延させた遅延信号群を生成し、前記第2の信号を、前記第1の信号とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた遅延信号群を生成し、前記第1の信号を等間隔に遅延させた遅延信号群と、前記第2の信号を等間隔に遅延させた遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号によってそれぞれサンプルし、前記(a)又は(b)でサンプルされた信号と、前記(c)でサンプルされた信号を、前記第1の入力信号と前記第2の入力信号の位相差を表す値として用いる、位相比較方法が提供される。
前記第5の保持回路群の出力を受ける第3の論理和演算回路と、
前記第3の保持回路群の出力を受ける第4の論理和演算回路と、
を備え、さらに、
遅延素子を複数段縦列接続し、前記第3の論理和演算回路の出力を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号を出力する第5の遅延素子列と、
前記第5の遅延素子列とは異なる遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続し、前記第4の論理和演算回路の出力を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号を出力する第6の遅延素子列と、
前記第5の遅延素子列の各段の遅延信号を、前記第6の遅延素子列の対応する段の遅延信号の遷移タイミングに従って順次取り込む、複数の保持回路を備えた第6の保持回路群と、を備える第3の時間デジタル変換器を備え、前記第6の保持回路群の出力が前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値として用いられる。前記第5の遅延素子列と前記第6の遅延素子列は、前記第3の遅延素子列と前記第4の遅延素子列の遅延時間差よりもさらに小さい遅延時間差を持つ。前記第3の時間デジタル変換回路は、前記第3および前記4の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を、第5および第6の遅延素子列の遅延時間差精度でデジタル値として出力する。
前記第5の保持回路群(54_1〜54_m)の出力(QF2(1)〜QF2(m))を受ける第3の論理和演算回路(55)と、第2の時間デジタル変換回路(50)の前記第3の保持回路群(53_1〜53_m)の出力を受ける第4の論理和演算回路(56)と、を備えている。さらに、遅延素子を複数段縦列接続し、前記第3の論理和演算回路(55)の出力(F2CLK1)を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号(DF2(1)〜DF2(l))を出力する第5の遅延素子列(81_1〜81_l)と、
前記第5の遅延素子列(81_1〜81_l)とは異なる遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続し、前記第4の論理和演算回路(56)の出力(F2CLK2)を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号(CKF2(1)〜CKF2(l))を出力する第6の遅延素子列(82_1〜82_l)と、
前記第5の遅延素子列(81_1〜81_l)の各段の遅延信号を、前記第6の遅延素子列(82_1〜82_l)の対応する段の遅延信号の遷移タイミングに従って順次取り込む、複数の保持回路を備えた第6の保持回路群(83_1〜83_l)と、
を備える第3の時間デジタル変換器(80)を備えている。第6の保持回路群(83_1〜83_l)の出力(QF3(1)〜QF3(m))は、前記第6の保持回路群の出力が前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値として論理回路(8)に入力される。第5の遅延素子列(81_1〜81_l)と第6の遅延素子列(82_1〜82_l)における各単位遅延時間の遅延時間差は、前記第3の遅延素子列(51_1〜51_m)および前記第4の遅延素子列(52_1〜52_m)の単位遅延時間の遅延時間差よりもさらに小さくなるように設定されている。以下、各実施の形態について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態のデジタル位相比較器の構成を示す図である。図1を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器は、
(A)インバータ列(遅延素子列)11_1〜11_n、複数のデータ保持回路(保持回路群)12_1〜12_nを備えた時間デジタル変換器10と、
(B)論理回路1と、
(C)インバータ列(遅延素子列)21_1〜21_n、複数のデータ保持回路(保持回路群)22_1〜22_n、複数のデータ保持回路(保持回路群)23_1〜23_nを備えた小位相差検出器20と、
(D)インバータ列(遅延素子列)51_1〜51_m+1、インバータ列(遅延素子列)52_1〜52_m+1、複数のデータ保持回路(保持回路群)53_1〜53_mを備えた時間デジタル変換器50と、
(E)論理回路5と、
を備えている。
ΔTF1>ΔTF2
の関係となっている。
次に本発明の実施の形態に関する具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。
TC=3ΔTC−TF
と表される。
ΔTF1>ΔTF2
の関係となっている。このため、インバータ列52_1〜52_4の各段を通過するたびに、その位相差は、ΔTF1−ΔTF2ずつ小さくなっていく。
TC=3ΔTC−TFは、
3ΔTc−3(ΔTF1−ΔTF2)<Tc<3ΔTc−2(ΔTF1−ΔTF2)
であることがわかる。
図3は、本発明の第2の実施の形態のデジタル位相比較器の構成を示す図である。図3を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器は、図1に示したデジタル位相比較器から、時間デジタル変換器10のデータ保持回路12_1〜12_nをなくし、小位相差検出器20のデータ保持回路23_1〜23_nからの出力を論理回路4に接続する構成とすることで、時間デジタル変換器40で、入力信号CLK1とCLK2の位相差検出と、インバータ列の遅延時間による分解能以下の微小な位相差の検出を兼ねる構成となっている。
次に、第2の実施の形態の具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。図4は、図3の第2の実施の形態において、n=4、m=4とした場合のタイミングチャートを示している。このとき、第1の入力信号CLK1と第2の入力信号CLK2の位相差をTCとする。時間デジタル変換器40において、データ保持回路23_1〜23_4は、図1に示した第1の実施例同様、データ端子への入力信号の位相がクロック端子への入力信号よりも進んでいる場合に、論理「1」を出力する。
TC=3ΔTC−TF
と表される。
2(ΔTF1−ΔTF2)<TF<3(ΔTF1−ΔTF2)
の関係が成り立つ。
TC=3ΔTC−TFは、
3ΔTC−3(ΔTF1−ΔTF2)<TC<3ΔTC−2(ΔTF1−ΔTF2)
であることがわかる。
図5は、本発明の第3の実施の形態のデジタル位相比較器の構成を示す図である。図5を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器では、VCO101からの信号CLKVと基準信号REFを入力する。基準信号REFはデータ保持回路102により、VCO出力信号CLKVの立ち上がりエッジでそれぞれ取り込まれ、リタイミングされた信号REFTをそれぞれ出力する。
次に、第3の実施の形態の具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。図6は、図5の第3の実施の形態において、n=4、m=4とした場合のタイミングチャートを示している。このとき、VCO101の出力信号CLKVと基準信号REFの位相差をTCとすると、基準信号REFは、データ保持回路102にてVCO101の出力信号CLKVをクロックとして立ち上がりエッジのタイミングで取り込まれるので、リタイミング信号REFTは、VCO101の出力信号CLKVに同期した信号となり、基準信号REFとリタイミング信号REFTの位相比較により、基準信号REFとVCO101の出力信号CLKVの位相比較が可能となる。時間デジタル変換器10以降における基準信号REFとリタイミング信号REFTの位相比較動作に関しては、図2に示した第1の実施例のデジタル位相比較器における動作と同様となるため省略する。
図7は、本発明の第4の実施の形態のデジタル位相比較器の構成を示す図である。図7を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器は、図5に示した前記第3の実施形態のデジタル位相比較器と同様に、VCO101の出力信号CLKVと基準信号REFを入力し、基準信号REFはデータ保持回路102により、VCO101の出力信号CLKVの立ち上がりエッジでそれぞれ取り込まれ、リタイミングされた信号REFTをそれぞれ出力する。この基準信号REFとリタイミング信号REFTが、時間デジタル変換器40に入力され、図3に示した第2の実施例に記載のデジタル位相比較器と同様の動作が行われる。
次に、第4の実施の形態の具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。図8は、図7の第4の実施の形態において、n=4、m=4とした場合のタイミングチャートを示している。このとき、VCO101の出力信号CLKVと基準信号REFの位相差をTCとすると、基準信号REFは、データ保持回路102にてVCO101の出力信号CLKVをクロックとして立ち上がりエッジのタイミングで取り込まれるので、リタイミング信号REFTは、VCO101の出力信号CLKVに同期した信号となり、基準信号REFとリタイミング信号REFTの位相比較により、基準信号REFとVCO101の出力信号CLKVの位相比較が可能となる。時間デジタル変換器40以降における基準信号REFとリタイミング信号REFTの位相比較動作に関しては、図4に示した第2の実施例のデジタル位相比較器における動作と同様となるため省略する。
図9は、本発明の第5の実施の形態のデジタル位相比較器の構成を示す図である。図9を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器では、VCO101からの信号CLKVと基準信号REFを入力する。基準信号REFはデータ保持回路102及び103により、VCO101の出力信号CLKVの立ち上がり及び立ち下がりエッジでそれぞれ取り込まれ、リタイミングされた信号REFT及びREFCをそれぞれ出力する。リタイミング信号REFT及びREFCはそれぞれVCO101の出力信号CLKVの立ち上がり及び立ち下がりの位相情報を保持しており、リタイミング信号REFTとREFCの位相差は、VCO101の出力信号CLKVの半周期分の位相差情報を保持する。
次に、第5の実施の形態の具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。図10乃至図13は、図9の第5の実施の形態において、n=8、m=8とした場合のタイミングチャートを示している。
TCT=3ΔTC−TFT
と表される。
TCT=7ΔTC−TFC
と表される。
=3×5(ΔTF1−ΔTF2)−2(ΔTF1−ΔTF2)
=13(ΔTF1−ΔTF2) ・・・(式1)
=7×5(ΔTF1−ΔTF2)−(ΔTF1−ΔTF2)
=34(ΔTF1−ΔTF2) ・・・(式2)
図14は、本発明の第6の実施の形態のデジタル位相比較器の構成を示す図である。図7を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器も、図10に示した第5の実施例のデジタル位相比較器と同様、VCO101からの信号CLKVと基準信号REFが入力とを入力し、基準信号REFに対するリタイミング信号REFT及びREFCの位相差情報を用いることで、基準信号REFとVCO出力CLKVの位相比較及び、位相比較結果のVCO出力信号周期での正規化を行う。
次に、第6の実施の形態の具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。図15乃至図18は、図14に示した第6の実施の形態において、n=8、m=8とした場合のタイミングチャートを示している。
TCT=3ΔTC−TFT
と表される。
TCT=7ΔTC−TFC
と表される。
図23は、本発明の第7の実施の形態の構成を示す図である。なお、図23において、図1又は図3の第1の時間デジタル変換器40は省略されており、図23の第2の時間デジタル変換器50は、図1又は図3の第2の時間デジタル変換器50に対応している。図23を参照すると、本実施の形態のデジタル位相比較器は、図1又は図3に示したデジタル位相比較器の第2の時間デジタル変換器50(OR回路24、25からの出力信号FCLK1、FCLK2を入力する)において、データ保持回路54_1〜54_m、m入力のOR回路55および56を追加した構成となっている。OR回路55には、データ保持回路53_1〜53_mの出力が入力され、その出力がF2CLK2として出力される。データ保持回路54_1〜54_mは、インバータ列52_1〜52_mの各出力CKF(1)〜CKF(m)をそれぞれのデータ入力端子に入力し、インバータ列51_1〜51_mの各出力DF(1)〜DF(m)をクロック端子に入力し、データ入力端子の信号をクロック端子のエッジで取り込み、データ保持回路54_1〜54_mの出力はOR回路56に入力され、OR回路56の出力がF2CLK2として出力される。OR回路55とOR回路56の出力信号F2CLK1、F2CLK2の位相差は、時間デジタル変換器50と同様の構成で、インバータ列51_1〜51_mとインバータ列52_1〜52_mよりもさらに遅延時間差の小さいインバータ列、81_1〜81_lおよび82_1〜82_lを持つ時間デジタル変換器80により検出され、デジタルコード化される。
次に、第7の実施の形態の具体的な実施例について図面を参照して詳細に説明する。図24、図25は、図23に示した本発明の第7の実施の形態において、n=4、m=4、l=4とした場合のタイミングチャートを示している。図24は、データ保持回路54_1〜54_mの出力QF2(1)〜QF2(4)を入力とするOR回路55から信号F2CLK1を生成する動作、図25は、データ保持回路53_1〜53_mの出力QF1(1)〜QF1(4)を入力とするOR回路56から信号F2CLK2を生成する動作の一例が示されている。
2(ΔTF1−ΔTF2)<TF<3(ΔTF1−ΔTF2)
の関係が成り立つ。
10、10’、40、40’、50、60、70、80 時間デジタル変換器
20、30 小位相差検出器
11_1〜11_n、11_n+1、11_n+2、21_1〜21_n、41_
1〜41_n、51_1〜51_m+1、52_1〜52_m+1、61_1〜6
1_m+1、62_1〜62_m+1、71_1〜71_m+1、72_1〜72_m+1、81_1〜81_l+1、82_1〜82_l+1 インバータ(遅延素子)
12_1〜12_n、13_1〜13_n、22_1〜22_n、23_1〜23
_n、42_1〜42_n、43_1〜43_n、53_1〜53_m、54_1
〜54_m、63_1〜63_m、73_1〜73_m、83_1〜83_l データ保持回路(フリップフロップ)
24、25、44、45、55、56 OR回路(論理和演算回路)
101 VCO(電圧制御発振器)
102、103 リタイミング回路(データ保持回路)
Claims (29)
- 第1の入力信号を、第2の入力信号及び前記第2の入力信号を等間隔に遅延させた第2の遅延入力信号群によって、それぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第1の信号を生成する第1の回路ユニットと、
前記第2の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の入力信号を前記第2の遅延入力信号群と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた第1の遅延入力信号群によって、それぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第2の信号を生成する第2の回路ユニットと、
前記第1、第2の回路ユニットでそれぞれ生成された前記第1、第2の信号を受け、前記第1の信号を等間隔に遅延させた第1の遅延信号群を生成し、前記第2の信号を前記第1の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第2の遅延信号群を生成し、前記第1の遅延信号群と、前記第2の遅延信号群とのうち一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号によって、それぞれサンプルする第3の回路ユニットと、
を備え、
前記第1の回路ユニット又は前記第2の回路ユニットにおいてサンプルされた信号と、前記第3の回路ユニットにおいてサンプルされた信号とが、前記第1の入力信号と前記第2の入力信号の位相差に対応する値として用いられる、デジタル位相比較器。 - 前記第1の回路ユニットは、前記第2の入力信号を入力し、前記第2の入力信号を等間隔に遅延させた前記第2の遅延入力信号群を生成する回路を備え、
前記第2の回路ユニットは、前記第1の入力信号を入力し、前記第1の入力信号を前記第2の遅延入力信号群と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた前記第1の遅延入力信号群を生成する回路を備えている、請求項1記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の回路ユニットは、前記第2の入力信号を入力し、前記第2の入力信号を等間隔に遅延させた第2の遅延入力信号群を生成する回路を備え、
前記第1の入力信号を入力し、前記第1の入力信号を前記第2の遅延入力信号群と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた第1の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群を、前記第2の入力信号で共通にサンプルする第4の回路ユニットをさらに備え、
前記第1の入力信号と前記第2の入力信号の位相差に対応する値として、前記第1又は第2の回路ユニットにおいてサンプルされた信号の代わりに、前記第4の回路ユニットにおいてサンプルされた信号と、前記第3の回路ユニットにおいてサンプルされた信号とが用いられる、請求項1記載のデジタル位相比較器。 - 前記第3の回路ユニットにおいて前記一方の遅延信号群の各遅延信号のサンプリング信号として用いられた前記他方の遅延信号群の各遅延信号を、前記一方の遅延信号群の対応する遅延信号によって、それぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第3の信号を生成する第5の回路ユニットと、
前記第3の回路ユニットにおいてサンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第4の信号を生成する回路と、
前記第3、第4の信号を受け、前記第3の信号を等間隔に遅延させた第3の遅延信号群を生成し、前記第4の信号を前記第3の回路ユニットにおける前記第1、第2の遅延信号群の単位遅延時間の差よりも単位遅延時間の差が小さい、前記第3の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第4の遅延信号群を生成し、前記第3の遅延信号群と、前記第4の遅延信号群とのうち一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号によってそれぞれサンプルする第6の回路ユニットと、
を備え、
前記第1の入力信号と前記第2の入力信号の位相差に対応する値として、さらに前記第6の回路ユニットにおいてサンプルされた信号がさらに用いられる、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の入力信号として基準信号を用い、
前記第2の入力信号として、前記第1の入力信号を発振器の出力に応答して保持回路でサンプルした出力信号を用いる、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 入力信号をクロック発振器の発振周波数の半周期毎にサンプルし二つの信号を生成する回路を備え、
前記入力信号と前記二つの信号の一方をそれぞれ前記第1、第2の入力信号として入力する前記第1、第2の回路ユニットと、前記第3の回路ユニットの組と、
前記入力信号と前記二つの信号の他方をそれぞれ前記第1、第2の入力信号として入力する前記第1、第2の回路ユニットと、前記第3の回路ユニットの別の組と、
を備えている、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 入力信号をクロック発振器の発振周波数の半周期毎にサンプルし二つの信号を生成する回路を備え、
前記入力信号を第1の入力信号とし、前記二つの信号の一方を第2の入力信号とし、前記二つの信号の他方を第3の入力信号として、
前記第1の入力信号を等間隔に遅延させた第1の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群を、前記第2の入力信号の第1の遷移エッジで共通にサンプルする回路と、
前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群を、前記第3の入力信号の第2の遷移エッジで共通にサンプルする回路と、
を備え、
前記第1及び第2の入力信号の組に対して、
前記第2の入力信号を、前記第1の遅延入力信号群と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた第2の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号を、前記第2の入力信号及び前記第2の遅延入力信号群によって、それぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第1の信号を生成する回路と、
前記第2の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群によって、それぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第2の信号を生成する回路と、
前記第1の信号を等間隔に遅延させた第1の遅延信号群を生成し、前記第2の信号を、前記第1の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第2の遅延信号群を生成し、前記第1の遅延信号群と、前記第2の遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号によってそれぞれサンプルする回路と
を備え、
前記第1及び第3の入力信号の組に対して、
前記第3の入力信号を、前記第1の遅延入力信号群と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた第3の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号を、前記第3の入力信号及び前記第3の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第3の信号を生成する回路と、
前記第3の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に所定の論理演算を施して第4の信号を生成する回路と、
前記第3の信号を等間隔に遅延させた第3の遅延信号群を生成し、前記第4の信号を、前記第3の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第4の遅延信号群を生成し、前記第3の遅延信号群と、前記第4の遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号によってそれぞれサンプルする回路と
を備えている、請求項1記載のデジタル位相比較器。 - 入力信号をクロック発振器の発振周波数の半周期毎にサンプルし二つの信号を生成する回路を備え、
前記入力信号を第1の入力信号とし、前記二つの信号の一方を第2の入力信号とし、前記二つの信号の他方を第3の入力信号として、
前記第1及び第2の入力信号の組に対して、
前記第2の入力信号を等間隔に遅延させた第2の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号を、前記第2の入力信号及び前記第2の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第1の信号を生成する回路と、
前記第1の入力信号を等間隔に遅延させた第1の遅延入力信号群を生成し、前記第2の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第2の信号を生成する回路と、
前記第1の信号を等間隔に遅延させた第1の遅延信号群を生成し、前記第2の信号を、前記第1の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第2の遅延信号群を生成し、前記第1の遅延信号群と、前記第2の遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号でそれぞれサンプルする回路と、
を備え、
前記第1及び第3の入力信号の組に対して、
前記第3の入力信号を等間隔に遅延させた第3の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号を、前記第3の入力信号及び前記第3の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第3の信号を生成する回路と、
前記第3の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第4の信号を生成する回路と、
前記第3の信号を等間隔に遅延させた第3の遅延信号群を生成し、前記第4の信号を、前記第3の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第4の遅延信号群を生成し、前記第3の遅延信号群と、前記第4の遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号によってそれぞれサンプルする回路と
を備えている、請求項1記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の入力信号を、前記第1の入力信号の前記遅延信号群よりもさらに単位遅延時間遅延させた第5の信号と、前記第5の信号を単位遅延時間遅延させた第6の信号と、を受け、前記第5の信号を等間隔に遅延させた第5の遅延信号群を生成し、前記第6の信号を、前記第5の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第6の遅延信号群を生成し、前記第5の遅延信号群と、前記第6の遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号でそれぞれサンプルする回路を備えている、請求項7又は8に記載のデジタル位相比較器。
- (a)第1の入力信号を等間隔に遅延させた第1の遅延入力信号群を生成し、第2の入力信号を、前記第1の入力信号及び前記第1の入力信号を等間隔に遅延させた第1の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、前記サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第1の信号を生成し、
(b)前記第2の入力信号を、前記第1の遅延入力信号群と同一の単位遅延時間で等間隔に遅延させた第2の遅延入力信号群を生成し、前記第1の入力信号を、前記第2の入力信号及び前記第2の遅延入力信号群によってそれぞれサンプルし、前記サンプルされた複数の信号に対して所定の論理演算を施して第2の信号を生成し、
(c)前記第1の信号を等間隔に遅延させた第1の遅延信号群を生成し、前記第2の信号を、前記第1の遅延信号群とは異なる単位遅延時間で等間隔に遅延させた第2の遅延信号群を生成し、前記第1の遅延信号群と、前記第2の遅延信号群のうち、一方の遅延信号群の各遅延信号を、他方の遅延信号群の対応する遅延信号でそれぞれサンプルし、
(d)前記(a)又は(b)でサンプルされた信号と、前記(c)でサンプルされた信号を、前記第1の入力信号と前記第2の入力信号の位相差を表す値として用いる、位相比較方法。 - 遅延素子を複数段縦列接続し、第1のパルス入力信号を初段に入力し各段で順次遅延させた複数の遅延信号からなる第1の遅延信号群を出力する第1の遅延素子列と、
前記第1の遅延素子列から出力される前記第1の遅延信号群をそれぞれクロック入力とし、第1のパルス入力信号を、前記第1の遅延信号群の遷移タイミングに従って順次取り込む複数の保持回路を備えた第1の保持回路群と、
前記第1の保持回路群の出力を受ける第1の論理和演算回路と、
前記第1の遅延素子列の遅延素子と同一の遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続し、第2のパルス入力信号を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号からなる第2の遅延信号群を出力する第2の遅延素子列と、
前記第2の遅延素子列から出力される第2の遅延信号群をそれぞれクロック入力とし、前記第1のパルス入力信号を、前記第2の遅延信号群の遷移タイミングに従って順次取り込む複数の保持回路を備えた第2の保持回路群と、
前記第2のデータ保持回路群の出力を受ける第2の論理和演算回路と、
を備え、
前記第1の保持回路群の出力を、前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示す値として出力する第1の時間デジタル変換回路と、
遅延素子を複数段縦列接続し、前記第1の論理和演算回路の出力を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号からなる第3の遅延信号群を出力する第3の遅延素子列と、
前記第3の遅延素子列とは異なる遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続し、前記第2の論理和演算回路の出力を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号からなる第4の遅延信号群を出力する第4の遅延素子列と、
前記第3の遅延素子列からの前記第3の遅延信号群の各段の遅延信号を、前記第4の遅延素子列からの前記第4の遅延信号群の対応する段の遅延信号の遷移タイミングに従って順次取り込む、複数の保持回路を備えた第3の保持回路群と、
を備え、
前記第3の保持回路群の出力から、前記第1の論理和演算回路の出力と前記第2の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を、前記第3の遅延素子列の遅延信号と前記第4の遅延素子列の遅延信号の位相関係が反転するまでに要した段数に基づき、前記第3の遅延素子列と前記第4の遅延素子列の遅延時間差精度で出力する第2の時間デジタル変換回路と、
を備える、ことを特徴とするデジタル位相比較器。 - 前記第1の論理和演算回路は、前記第1の保持回路群の出力の論理和演算により、前記第2のパルス入力信号の遷移タイミング直後に最初に前記第1の遅延素子列から出力された遅延信号の出力タイミングを抽出し、
前記第2の論理和演算回路は、前記第2のデータ保持回路群の出力の論理和演算により、前記第1の論理和演算回路の出力に対して、前記第2のパルス入力信号と、前記第2のパルス入力信号の遷移タイミング直後の最初の遅延信号の出力タイミングとの位相関係を保った信号を出力する、ことを特徴とする請求項11に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路において、
前記第2のパルス入力信号をクロックとし、前記第1の遅延素子列により順次遅延された第1の遅延信号群を、前記第2のパルス入力信号の遷移タイミングに従って取り込む、複数段の保持回路を含む第4の保持回路群を備え、前記第4の保持回路群の出力を、前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値として出力する、ことを特徴とする請求項11に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路において、
前記第1の保持回路群の出力を、前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値として出力する、ことを特徴とする請求項11に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路は、前記第2のパルス入力信号に代わり、前記第1のパルス入力信号を前記第2の信号によるリタイミング動作より得られる、前記第2のパルス入力信号の遷移タイミングに同期した第3のパルス入力信号を入力する、ことを特徴とする請求項11乃至14のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。
- 前記第2の時間デジタル変換回路の前記第4の遅延素子列の各段の遅延信号を、前記第3の遅延素子列の対応する段の遅延信号の遷移タイミングに従って順次取り込む、複数の保持回路を備えた第5の保持回路群と、
前記第5の保持回路群の出力を受ける第3の論理和演算回路と、
前記第3の保持回路群の出力を受ける第4の論理和演算回路と、
を備え、さらに、
遅延素子を複数段縦列接続し、前記第3の論理和演算回路の出力を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号からなる第5の遅延信号群を出力する第5の遅延素子列と、
前記第5の遅延素子列とは異なる遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続し、前記第4の論理和演算回路の出力を初段に入力し順次遅延させた複数の遅延信号からなる第6の遅延信号群を出力する第6の遅延素子列と、
前記第5の遅延素子列からの前記第5の遅延信号群の各段の遅延信号を、前記第6の遅延素子列からの前記第6の遅延信号群の対応する段の遅延信号の遷移タイミングに従って順次取り込む、複数の保持回路を備えた第6の保持回路群と、
を備える第3のデジタル時間変換回路を備え、
前記第6の保持回路群の出力が前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値として用いられる、ことを特徴とする請求項11記載のデジタル位相比較器。 - 前記第5、第6の遅延素子列の単位遅延時間は、前記第3の遅延素子列と前記第4の遅延素子列の遅延時間差よりもさらに小さい遅延時間差を持つことを特徴とする請求項11乃至14のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。
- 前記第1の遅延素子列の少なくとも1段の遅延素子の入出力信号を取り出し、
前記第3の遅延素子列と同一の遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続することにより、前記出力信号を順次遅延させる第5の遅延素子列と、
前記第4の遅延素子列と同一の遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続することにより、前記入力信号を順次遅延させる第6の遅延素子列と、
前記第5の遅延素子列の遅延出力を、前記第6の遅延素子列の遅延出力の遷移タイミングに従って順次取り込む、複数段の保持回路を含む第5の保持回路群と、
を備え、
前記第1の遅延素子列における遅延素子の入出力信号における相対的な位相差を、
前記第5の遅延素子列の遅延出力と前記第6の遅延素子列の遅延出力の位相関係が反転するまでに要した段数に基づき、前記第5の遅延素子列と前記第6の遅延素子列の遅延時間差精度でデジタル値として出力する第3の時間デジタル変換回路を備える、ことを特徴とする請求項11乃至15のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第1の論理回路と、
前記第2の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1の論理和演算回路の出力と前記第2の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第2の論理回路と、
前記第3の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1の遅延素子列における遅延素子の入出力信号における相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第3の論理回路と、
を備え、
前記第2及び第3の論理回路の数値化結果を基に、前記第1の論理回路で数値化された、前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を補正する、ことを特徴とする請求項11乃至15、17のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路が、
第4のパルス入力信号を、前記第1の遅延素子列の各遅延信号をクロック入力として前記遅延信号の遷移タイミングに従って順次取り込む複数段の保持回路を含む第6の保持回路群と、
前記第6のデータ保持回路群の出力を論理和演算することにより、前記第4のパルス入力信号の遷移タイミング直後に最初に出力された遅延出力タイミングを抽出する第3の論理和演算回路と、
前記第1の遅延素子列と同一の遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続し、前記第4のパルス入力信号を順次遅延させる第7の遅延素子列の各遅延信号をクロック入力とし、遅延信号の遷移タイミングに従って前記第1のパルス入力信号を順次取り込む複数段の保持回路を含む第7のデータ保持回路群と、
前記第7のデータ保持回路群からの複数の出力を論理和演算することにより、前記第3の論理和演算回路の出力に対して、前記第4のパルス入力信号と、前記第4のパルス入力信号の遷移タイミング直後の最初の遅延出力との位相関係を保った信号を出力する第4の論理和演算回路と、
をさらに備え、
前記第1の遅延素子の遅延時間精度で前記第1のパルス入力信号と第4のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値を出力し、
前記第3の遅延素子列と同一の遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続することにより、前記第3の論理和演算回路の出力を順次遅延させる第8の遅延素子列と、
前記第4の遅延素子列と同一の遅延時間を持つ遅延素子を複数段縦列接続することにより、前記第4の論理和演算回路の出力を順次遅延させる第9の遅延素子列と、
前記第8の遅延素子列の遅延出力を、前記第9の遅延素子列の遅延出力の遷移タイミングに従って取り込む、複数段の保持回路を含む第8の保持回路群と、
前記第3の論理和演算回路の出力と前記第4の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を、前記第8の遅延素子列の遅延出力と前記第9の遅延素子列の遅延出力の位相関係が反転するまでに要した段数に基づき、前記第8の遅延素子列と前記第9の遅延素子列の遅延時間差精度でデジタル値として出力する第4の時間デジタル変換回路と、
を備える、ことを特徴とする請求項11乃至15、17のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路において、
前記第4のパルス入力信号をクロックとし、前記第1の遅延素子列により順次遅延された遅延出力を、前記第4のパルス入力信号の遷移タイミングに従って取り込む、複数段の保持回路を含む第9の保持回路群を備え、前記第9の保持回路の出力を、前記第1のパルス入力信号と前記第4のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値として出力する、ことを特徴とする請求項19に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路において、
前記第6の保持回路群の出力を、前記第1のパルス入力信号と前記第4のパルス入力信号との相対的な位相差を示すデジタル値として出力する、ことを特徴とする請求項19に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第4のパルス入力信号が、前記第1のパルス入力信号を前記第2のパルス入力信号の反転信号によるリタイミング動作から得られ、前記第2のパルス入力信号の反転信号の遷移タイミングに同期した信号である、ことを特徴とする請求項19乃至21のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。
- 前記第1の論理回路が、
前記第1の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1のパルス入力信号と前記第4のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値をさらに数値化し、
前記第4の時間デジタル変換回路から出力される、前記第3の論理和演算回路の出力と前記第4の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第4の論理回路と、
を備え、
前記第3及び第4の論理回路の数値化結果を基に、前記第1の論理回路で数値化された、前記第1のパルス入力信号と前記第4のパルス入力信号との相対的な位相差を補正する、ことを特徴とする請求項19乃至22のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1のパルス入力信号と前記第3のパルス入力信号との相対的な位相差と、前記第1のパルス入力信号と前記第4のパルス入力信号との相対的な位相差の差により、前記第2のパルス入力信号の半周期を求め、
前記第1のパルス入力信号と前記第3のパルス入力信号との相対的な位相差、又は、前記第1のパルス入力信号と前記第4のパルス入力信号との相対的な位相差を正規化する、ことを特徴とする請求項23記載のデジタル位相比較器。 - 前記第1の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1のパルス入力信号と前記第2のパルス入力信号の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第1の論理回路と、
前記第2の時間デジタル変換回路から出力される、前記第1の論理和演算回路の出力と前記第2の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第2の論理回路と、
前記第3の時間デジタル変換回路から出力される、前記第3の論理和演算回路の出力と前記第4の論理和演算回路の出力の相対的な位相差を示すデジタル値を数値化する第3の論理回路と、
を備えている、ことを特徴とする請求項17に記載のデジタル位相比較器。 - 前記遅延素子列における遅延素子がインバータである、ことを特徴とする請求項11乃至25のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。
- 前記保持回路群における保持回路がフリップフロップである、ことを特徴とする請求項11乃至26のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器。
- 請求項1乃至28のいずれか1項に記載のデジタル位相比較器を備えた半導体装置。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03125514A (ja) * | 1989-10-11 | 1991-05-28 | Nippon Soken Inc | 物理量検出装置 |
JP2002076886A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-03-15 | Texas Instruments Inc | デジタル小位相検出器 |
JP2007110370A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Fujitsu Ltd | デジタル位相検出器 |
JP2008104148A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-05-01 | National Semiconductor Germany Ag | デジタル位相検知器及びデジタル位相検知信号の発生方法 |
JP2008160594A (ja) * | 2006-12-25 | 2008-07-10 | Sharp Corp | 時間デジタル変換装置およびデジタル位相同期ループ装置、受信機 |
JP2009081740A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Sony Corp | Pll回路 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03125514A (ja) * | 1989-10-11 | 1991-05-28 | Nippon Soken Inc | 物理量検出装置 |
JP2002076886A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-03-15 | Texas Instruments Inc | デジタル小位相検出器 |
JP2007110370A (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-26 | Fujitsu Ltd | デジタル位相検出器 |
JP2008104148A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-05-01 | National Semiconductor Germany Ag | デジタル位相検知器及びデジタル位相検知信号の発生方法 |
JP2008160594A (ja) * | 2006-12-25 | 2008-07-10 | Sharp Corp | 時間デジタル変換装置およびデジタル位相同期ループ装置、受信機 |
JP2009081740A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Sony Corp | Pll回路 |
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