JP5272943B2 - 放射線撮影装置 - Google Patents

放射線撮影装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5272943B2
JP5272943B2 JP2009171016A JP2009171016A JP5272943B2 JP 5272943 B2 JP5272943 B2 JP 5272943B2 JP 2009171016 A JP2009171016 A JP 2009171016A JP 2009171016 A JP2009171016 A JP 2009171016A JP 5272943 B2 JP5272943 B2 JP 5272943B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
detection means
fpd
shadow
foil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009171016A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011024664A (ja
Inventor
四郎 及川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2009171016A priority Critical patent/JP5272943B2/ja
Publication of JP2011024664A publication Critical patent/JP2011024664A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5272943B2 publication Critical patent/JP5272943B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

この発明は、放射線源と放射線検出器が備えられた放射線撮影装置に関し、特に、放射線検出器には放射線グリッドが付設されているとともに、放射線源と放射線検出器との相対距離が変更可能となっている放射線撮影装置に関する。
医療機関には被検体の放射線画像を取得する放射線撮影装置が備えられている。この様な放射線撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を検出する放射線検出器と、放射線検出器の検出面を覆う放射線グリッドとを備えている。
従来の放射線撮影装置の構成について説明する。従来の放射線撮影装置51は、図15に示すように放射線源53と放射線検出器54と放射線グリッド55とを備えている。放射線源53から照射された放射線は、被検体Mを通過した後、放射線検出器54に入射する。放射線検出器54は放射線の検出信号を出力し、これを基に被検体の透視画像が生成されることになる。放射線グリッド55は、放射線検出器54に固定されて設けられている。
放射線グリッド55は、図16に示すように、細長状の吸収箔55aがブラインドのように配列されて構成される。この吸収箔55aは、被検体で生じた散乱線を除去する目的で設けられている。
放射線検出器54は、放射線源53に対して進退自在に移動することが可能となっている(図15の矢印参照)。放射線検出器54と放射線源53との距離を変更することにより放射線検出器54に写りこむ被検体の投影像の大きさを調節することができるのである。放射線検出器54が移動すると、これに固定されている放射線グリッド55もこれに追従して移動することになる。放射線検出器54と放射線源53との距離は、一番短いSIDminから、一番長いSIDmaxまで変化されることができる。この様な構成となっている放射線撮影装置としては、特許文献1に記載のようなものがある。
特開2005−342522号公報
しかしながら、従来構成の放射線撮影装置には、次の様な問題点がある。
すなわち、従来構成の放射線撮影装置では、放射線検出器54に放射線グリッド55の影が写りこんでしまい、透視画像の視認性が悪化するという問題点がある。放射線グリッド55の吸収箔55aの並びは、放射線源53と放射線検出器54との位置がある距離にあるときを想定して設定されている。すなわち、両者53,54の距離がSIDminとSIDmaxとの中間のSIDとなっているとき、放射線グリッド55の吸収箔55aは、図17に示すように、放射線源53から放射状に発する直接放射線に進む方向(図中の矢印参照)に沿うように傾斜されているのである。このとき取得される透視画像には、放射線グリッド55の影Sの影響がさほど現れない。なお、従来装置において、SIDは、(SIDmax+SIDmin)/2と等しくなっているのが通常である。
しかし、放射線検出器54が放射線源53に対して移動すると、両者53,54の距離がSIDでは無くなる。そうなると、放射線が放射線グリッド55に照射する方向が変化するので、放射線グリッド55の吸収箔55aの影Sはより広くなって放射線検出器54に写りこむ(図18参照)。この様な吸収箔55aの影Sの肥大化は、放射線グリッド55に設けられた吸収箔55aのうち、それらの配列方向の端部において顕著である。また、吸収箔55aの影Sの肥大化は、両者53,54の距離がSIDからズレるほど顕著である。この様な現象を放射線グリッドのカットオフと呼ぶ。
上述のような状態で取得された透視像は、肥大化した吸収箔55aの影Sが写りこんだ部分が暗くなっている。この影Sが放射線透視画像に写りこむことにより、放射線透視画像には、ストライプ状の模様が表れる。この様な診断に邪魔となるアーチファクトは可能な限り除いたほうがより好ましい。
本発明は、この様な事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、放射線源に対して放射線検出器が移動したとしても、放射線グリッドに由来するアーチファクトが透視画像に極力写りこまないように工夫された放射線撮影装置を提供することにある。
本発明は、上述の課題を解決するために次の様な構成をとる。
すなわち、本発明に係る放射線撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を検出する放射線検出手段と、放射線検出手段を放射線源に最も接近した第1位置から最も離れた第2位置まで進退移動させる検出器移動手段と、放射線検出手段の放射線を検出する検出面を覆うように放射線検出手段に固定されるとともに、第1方向に延びた短冊状の吸収箔が第2方向に配列されて構成される放射線グリッドとを備え、放射線源に対する放射線検出手段の位置が第1位置、および第2位置に挟まれた位置である標準位置にあるとき、放射線検出手段に写りこむ吸収箔の第2方向の影の幅が最も狭くなっており、放射線検出手段が標準位置から第1位置、第2位置のいずれに向かっても放射線検出手段に写りこむ吸収箔の第2方向の影の幅が次第に広くなる放射線撮影装置において、(A)放射線源に対する放射線検出手段の位置が第1位置となっているとき、放射線検出手段に写りこむ吸収箔の第2方向の影の幅と、(B)放射線源に対する放射線検出手段の位置が第2位置となっているとき、放射線検出手段に写りこむ吸収箔の第2方向の影の幅とが等しくなっていることを特徴とするものである。
[作用・効果]本発明によれば、放射線源に対し放射線検出手段が進退移動する。具体的には、放射線検出手段は放射線源に最も接近した第1位置から最も離れた第2位置まで移動するのである。また、本発明の放射線検出手段には散乱放射線を除去する放射線グリッドが設けられている。この放射線グリッドは、第1方向に延びた短冊状の吸収箔が第2方向に配列されて構成される。
放射線検出手段が標準位置にあるとき、放射線グリッドの吸収箔が放射線を遮ることで生じる影の幅は最も狭いものとなっている。このときの幅は、吸収箔の厚さと略同一となっている。完全に同一とならないのは、放射線ビームがコーン状となっているからであり、吸収箔の影が放射線検出手段に届くまでに僅かながら拡大されるからである。
放射線検出手段が放射線源に対して移動すると、吸収箔に対する放射線ビームの照射方向が変化する。すると、放射線グリッドの吸収箔が放射線を遮ることで生じる影の幅が広がる。本発明によれば、放射線源に対する放射線検出手段の位置が第1位置となっているときと第2位置となっているときとで、放射線検出手段に写りこむ吸収箔の第2方向の影の幅が等しくなっている。一方、従来構成では、この様な構成となっていないので、放射線源に対する放射線検出手段の位置が第1位置となっているときと第2位置となっているときとで吸収箔の影の幅が異なる。この様に設定してしまうと、放射線検出手段が第1位置または第2位置にあるときに放射線検出手段に写りこむ吸収箔の影の幅は、より広くなってしまう。放射線検出手段が標準位置から第1位置または第2位置まで移動したとき、放射線ビームの進行方向が本発明の設定よりもより激しく変化するからである。本発明によれば、放射線検出手段の移動に係らず、放射線検出手段に対する放射線ビームの進行方向が極力変化しないようになっているので、放射線検出手段の移動に伴う吸収箔の影の幅の変化は最小限となっている。したがって、放射線源から照射された放射線ビーム(直接線)は、吸収箔に邪魔されずに放射線検出手段まで到達するのである。これにより、放射線透視画像に表れる偽像を抑制することができる。
また、上述の放射線グリッドの第2方向の最端部に位置する吸収箔を最端部吸収箔としたとき、放射線検出手段に写りこむ最端部吸収箔の影は、放射線源に対する放射線検出手段の位置が第1位置であるかそれとも第2位置であるかによらず幅が等しくなっていればより望ましい。
[作用・効果]放射線グリッドの第2方向の最端部に位置する吸収箔(放射線源が発するコーン状の放射線ビームの照射限界位置に存する吸収箔)は、放射線検出手段の移動に伴う吸収箔の影の幅の変化が最も激しい。上述の構成によれば、放射線グリッドの最先端部に位置する吸収箔を基準に上述の影の幅に係る設定が行われる。この様にすれば、より確実に、吸収箔の影響が除去された放射線透視画像を取得することができる。
また、上述の放射線源に対する放射線検出手段の位置が標準位置にあるとき、放射線グリッドを構成する吸収箔の各々を短手方向に延長する延長線の各々は放射線源の焦点で交わればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の放射線撮影装置のより具体的な構成を示している。この様にすれば、放射線源から照射される放射線ビームの進行が放射線グリッドに極力邪魔されない放射線撮影装置が提供できる。
また、上述の放射線源と放射線検出手段とを両端で支持する円弧状のC型アームと、円弧状となっているC型アームの円弧が存する平面に直交するとともに、C型アームの曲率中心を通過する第1軸を中心にC型アームを回転させる第1回転手段と、第1軸に直交するとともに、水平方向に延びた第2軸を中心にC型アームを回転させる第2回転手段とを備えればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の放射線撮影装置のより具体的な構成を示している。このように、放射線撮影装置の具体的な構成としてC型アームを有する構成が採用できる。
本発明の放射線検出手段には第1方向に延びた短冊状の吸収箔が第2方向に配列されて構成される放射線グリッドが設けられている。放射線検出手段が放射線源に対して移動すると、放射斜線ビームが吸収箔に当たる方向が変化する。これにより、放射線グリッドの吸収箔が放射線を遮ることで生じる影の幅は広がる。本発明によれば、放射線源に対する放射線検出手段の位置が第1位置となっているときと、第2位置となっているときとで、放射線検出手段に写りこむ吸収箔の第2方向の影の幅が等しくなっている。本発明によれば、放射線検出手段の移動に係らず、放射線検出手段に対する放射線ビームの進行方向が極力変化しないようになっているので、放射線検出手段の移動に伴う吸収箔の影の幅の変化は最小限となっている。したがって、放射線源から照射された放射線ビーム(直接線)は、吸収箔に邪魔されずに放射線検出手段まで到達するのである。これにより、放射線透視画像に表れる偽像を抑制することができる。
実施例1に係るX線撮影装置の構成を説明する機能ブロック図である。 実施例1に係るC型アームの構成を説明する模式図である。 実施例1に係るアーム回転機構ついて説明する斜視図である。 実施例1に係るX線グリッドについて説明する模式図である。 実施例1に係るX線グリッドについて説明する模式図である。 実施例1に係るX線管とFPDとの相対位置の移動を説明する模式図である。 実施例1に係る各部の位置関係を説明する模式図である。 実施例1に係る各部の位置関係を説明する模式図である。 実施例1に係る吸収箔の影を説明する模式図である。 実施例1に係る各部の位置関係を説明する模式図である。 実施例1に係る各部の位置関係を説明する模式図である。 実施例1に係る効果を説明する模式図である。 実施例1に係る効果を説明する模式図である。 本発明の1変形例について説明する模式図である。 従来構成のX線撮影装置の構成を説明する模式図である。 従来構成のX線撮影装置の構成を説明する模式図である。 従来構成のX線撮影装置の構成を説明する模式図である。 従来構成のX線撮影装置の構成を説明する模式図である。
次に、実施例1に係る放射線撮影装置の実施例について図面を参照しながら説明する。なお、実施例1におけるX線は、本発明の放射線に相当する。
<X線撮影装置の構成>
まず、実施例1に係るX線撮影装置1の構成について説明する。図1は、実施例1に係る放射線撮影装置の構成を説明する機能ブロック図である。実施例1に係るX線撮影装置1は、図1に示すように、被検体Mを載置する天板2と、天板2の下側に設けられたX線管3と、天板2の上側に設けられたX線を検出するフラット・パネル・ディテクタ:FPD4と、FPD4のX線を入射させる検出面を覆うように設けられているX線グリッド5とを備えている。FPD4の検出面にはX線を検出する検出素子が縦横に配列されて、検出素子の2次元マトリックスが構成されている。また、X線管制御部6は、X線管3の管電流、管電圧、X線ビームのパルス幅を制御するものである。X線管3は、本発明の放射線源に相当し、FPD4は、本発明の放射線検出手段に相当する。また、X線グリッド5は、本発明の放射線グリッドに相当する。
X線管3は、コーン状の放射線ビームBをX線グリッド5,FPD4に向けて照射する。放射線ビームの中心軸は、X線グリッド5,FPD4に垂直となっており、かつ、縦横にシート状となっているX線グリッド5,FPD4の中心点を通過する。
C型アーム7は、X線管3,およびFPD4を一括に支持するものである。C型アーム7は、図2に示すように円弧状となっており、円弧の一端にX線管3,他端にFPD4が設けられている。アーム回転機構9は、C型アーム7を回転させる目的で設けられている(図1参照)。円弧状となっているC型アーム7の円弧が存する平面を基準平面[図2(a)における紙面]とすると、C型アーム7は、基準平面に垂直でC型アーム7の曲率中心を通過する第1中心軸Eを中心に回転することもできれば、図2(b)に示すように、基準平面に含まれる水平な第2中心軸Fを中心に回転することもできる。また、第1中心軸Eと第2中心軸Fとは互いに直交する。この様にC型アーム7は、2つの中心軸を有しており、互いの回転は独立している。C型アーム7の回転はアーム回転機構9によって行われる。アーム回転制御部10は、アーム回転機構9を制御するものである。このC型アーム7は、検査室の床面に配置された支柱8によって支持される。
アーム回転機構9は、図3に示すようにC型アーム7を第1中心軸Eをまわりに回転させる第1回転機構9aと、C型アーム7を第2中心軸Fまわりに回転させる第2回転機構9bとを備えている。アーム回転制御部10は、第1回転機構9aを制御する第1回転制御部10aと、第2回転機構9bを制御する第2回転制御部10bとを備えている。第2回転機構9bは、本発明の第2回転手段に相当し、第1回転機構9aは、本発明の第1回転手段に相当する。
FPD4には、FPD4をX線管3に対して進退移動させるシフトさせるシフト機構11が設けられている(図1参照)。FDP4は、シフト機構11によってX線管3に近づくこともできれば、遠ざかることもできる。シフト制御部12は、シフト機構11を制御するものである。シフト機構11は、本発明の検出器移動手段に相当する。
画像生成部21は、FPD4から出力される検出信号を基に被検体の透視像が写りこんだX線透視画像Pを生成する。
X線グリッド5は、X線が被検体Mを通過する際に生じる散乱X線を除去する目的で設けられている。X線グリッド5は、矩形となっているFPD4の検出面を覆うことができる板状であり、縦方向p(本発明の第1方向に相当)に延びた短冊状の吸収箔5aが横方向q(本発明の第2方向に相当)に配列されて構成される(図4参照)。各吸収箔5aは、進路上で散乱しないで直線的にFPD4に向かう直接X線を通過させるように配列されている。進行方向がX線管3から照射される放射線ビームの広がる方向からずれた散乱線は、吸収箔5aのいずれかに当たって吸収され、FPD4に到達できない。
X線グリッド5の吸収箔5aは、図5に示すように傾斜している。すなわち、吸収箔5aの各々の吸収箔5aの短手方向がX線管3から照射されるコーン状の放射線ビームの進行方向に沿うように設けられている。いいかえれば、吸収箔5aの各々を短手方向に延長する延長線は、全ての吸収箔5aは、FPD4から標準距離SIDだけ離れたX線管3のX線発生焦点Pで交わることになる。X線管3に対するFPD4の位置が本発明の標準位置となっているとき、FPD4とX線管3との距離はSIDとなっている。
図6は、FPD4とX線管3との距離の変化を説明している。FPD4は、シフト機構11によりX線管3が発するX線ビームの中心軸に沿って進退自在に移動する。本来はFPD4のほうがX線管3に対して移動するのであるが、図6とこれ以降の図においては、簡潔な説明の目的でX線管3がFPD4に対して移動するものとして説明する。FPD4とX線管3との距離は、最大のSIDmaxから最小のSIDminまで変動する。SIDmaxとSIDminとの差の距離Dは、25cm程度である。なお、X線管3に対するFPD4の位置が本発明の第1位置となっているとき、FPD4とX線管3との距離はSIDminとなっている。X線管3に対するFPD4の位置が本発明の第2位置となっているとき、FPD4とX線管3との距離はSIDmaxとなっている。
実施例1に係るX線撮影装置1は、各制御部6,10を統括的に制御する主制御部41を備えている。この主制御部41は、CPUによって構成され、各種のプログラムを実行することにより各制御部6,10および画像生成部21を実現している。なお、各部は、それぞれを担当する制御装置に分割された構成としてもよい。表示部35は、X線透視画像を表示するものであり、操作卓36は、術者の操作を入力させるものである。
記憶部37は、各制御部6,10や画像生成に関する画像生成部21における設定値、参照データ、出力の一切を記憶する。
<X線グリッドと各部との位置関係>
実施例1の構成は、X線グリッド5の吸収箔5aの傾斜の程度と、X線管3とFPD4との移動可能範囲との間に特別な関係がある。これを説明する目的で、X線グリッドと各部との位置関係について説明する。
図7は、X線管3とFPD4との距離がSIDとなっているときの各部の位置関係を示している。Pは、そのときのX線管3の焦点である。X線グリッド5の横方向の最端部に位置する吸収箔を5bとし、X線グリッド5の厚さ方向(縦方向、および横方向のいずれにも直交する方向)のX線グリッド5の幅をLとする。X線グリッド5がX線を出射する出射面からFPD4がX線を入射させる検出面までの距離をhとする。X線グリッド5はFDP4に固定されているので、この距離hは一定である。吸収箔5bは、本発明の最端部吸収箔に相当する。なお、X線グリッド5の各吸収箔5aは、焦点Pに配向するように製作され、FPD4に取り付けられている。
X線グリッド5の厚さ方向の中央線をCとし、中央線Cと吸収箔5bとが交わる点を吸収箔基準点Gとする。そして、焦点Pから中央線Cまでの距離をSとする。また、焦点Pから吸収箔基準点Gとを結ぶ線分Dを考える。この線分Dと中央線Cとがなす角をθとする。X線管3に対するFPD4が本発明の標準位置にあるとき、FPD4に対するX線管3の焦点位置は焦点Pの位置となっている。
また、X線管3とFPD4との距離がSIDminとなっているとき、X線管3の焦点をPminとする(図8参照)。X線管3に対するFPD4が本発明の第1位置にあるとき、FPD4に対するX線管3の焦点位置は焦点Pminの位置となっている。
そして、X線管3とFPD4との距離がSIDmaxとなっているとき、X線管3の焦点をPmaxとする(図8参照)。すなわち、X線管3に対するFPD4が第2位置にあるとき、FPD4に対するX線管3の焦点位置はPmaxの位置となっている。
実施例1の特徴は、図8に示すように線分Dと線分Dmaxとがなす角θAと、線分Dと線分Dminとがなす角θBとが等しいことにある。X線管3とFPD4との距離がSIDにあるとき、図9(a)の左側に示すように、吸収箔5bによって吸収箔5bの厚さ分だけX線を遮り、FPD4には、影Sが投影される。この影Sは、FPD4の検出面においては、横方向に配列される検出素子を比較したとき、図中の中央に示すように、影Sは、単一の検出素子に写りこんでいる。この様な影Sと検出素子の位置関係は、FPD4の全域において同様である。すなわち、影Sは、2つの検出素子に横方向から跨って現れることがない。
図9(a)のとき、影Sの横方向の幅は、吸収箔5bの厚さ分しかなく、狭いものとなっている。したがって、FPD4が出力する検出信号を基に生成されたX線透視画像Pには、図中の右側が示すような画素一個分の幅の暗い縦筋が現れる。画素値が暗いのは、影Sが写り込んだ検出素子に係る画素値が影Sが写りこんでいないものと比べて低くなっているからであり、縦筋となるのは、FPD4上において影Sが写り込んだ検出素子が縦方向に連続して存在しているからである。
図9(b)は、X線管3とFPD4との距離がSIDmaxにあるとき、FPD4に投影される影Sの様子を示している。図9(a)の場合と比較して、吸収箔5bにとってX線管3から照射されるX線ビームの照射方向は、θA(図8参照)だけ変更されている。これに伴って、吸収箔5bに照射されるX線ビームの進行方向が変更され、FPD4に写りこむ吸収箔5bの影Sは図9(a)の場合と比べて横方向に広くなる。
一方、図9(c)は、X線管3とFPD4との距離がSIDminにあるとき、FPD4に投影される影Sの様子を示している。図9(a)の場合と比較して、吸収箔5bにとってX線管3から照射されるX線ビームの照射方向は、θB(図8参照)だけ変更されている。これに伴って、吸収箔5bに照射されるX線ビームの進行方向が変更され、FPD4に写りこむ吸収箔5bの影Sは図9(a)の場合と比べて横方向に広くなる。
実施例1の構成において、図9(b)の場合の影Sの横方向の幅と、図9(c)の場合の影Sの横方向の幅とは等しくなっている。θAとθBとが等しい角度となっているからである。また、θAとθBとを適宜違えて、図9(b)の場合の影Sの横方向の幅と、図9(c)の場合の影Sの横方向の幅とを厳密に同一とするようにしてもよい。吸収箔5bの短手方向は、FPD4の入射面に直交していないので、図9(b)の状態のほうが図9(c)の状態より吸収箔5bがFPD4に近づいた状態となっている。X線ビームはコーン状であるので、図9(b)と図9(c)とでFPD4に現れる影の拡大率は厳密には異なる。そこで、θAとθBとを適宜調節することで、拡大率の影響を取り除き、影Sの横方向の幅をより一致させることができる。
なお、図8における焦点Pcは、焦点Pmaxと焦点Pminの中間の位置を示している。すなわち、焦点Pcは、焦点Pmaxと焦点Pminとを結ぶ線分の中点である。焦点PcからFPD4までの距離は、SIDmaxとSIDminとの平均の距離となっている。焦点Pは、焦点Pcと比べて焦点Pmin寄りとなっている。したがって、SIDは、SIDmaxとSIDminとの平均の距離よりも短い。
次に、焦点Pmaxと焦点Pminの位置が決定しているときの焦点Pの位置の求め方について説明する。これに先立って、各部の位置関係を記号で表すことにする。まず、図7に示すように、FPD4の横方向qの中心から吸収箔基準点Gまでの距離をRとする。また、図10に示すように、焦点Pmaxから中央線Cまでの距離をSmaxとする。また、焦点Pmaxから吸収箔基準点Gとを結ぶ線分Dmaxを考える。このDmaxと中央線Cとがなす角をθmaxとする。同様に、図11に示すように、焦点Pminから中央線Cまでの距離をSminとする。また、焦点Pminから吸収箔基準点Gとを結ぶ線分Dminを考える。このDminと中央線Cとがなす角をθminとする。以降の説明において、P,S,D,θは、図7を参照すれば理解できる。Pmax,Smax,Dmax,θmaxは、図10を参照すれば理解できる。Pmin,Smin,Dmin,θminは、図11を参照すれば理解できる。
max,およびSminは、次の様に表せる。
max=SIDmax−h−L/2 ……(1)
min=SIDmin−h−L/2 ……(2)
tanθmax,およびtanθminは次の様に表せる。
tanθmax=Smax/R ……(3)
tanθmin=Smin/R ……(4)
ところで、θAは、θ−θminに等しく、θBは、θmax−θに等しい。θA=θBであることからすれば、次の様な等式が成り立つ。
θ=(θmin+θmax)/2 ……(6)
また、SID,およびSは、次の様に表せる。
SID=S+L/2+h ……(7)
=R・tanθ ……(8)
式(6)〜(8)より次のような等式が成り立つ。
SID=R・tan(θmin/2+θmax/2)+L/2+h ……(9)
ここで、式(1)〜(4)を参照すれば、SIDは、SIDmax,SIDmin,L,およびhのみを用いて決定できることが分かる。すなわち、tanθmaxは、SmaxとRで表され[式(3)参照]、Smaxは、SIDmax,L,およびhで表される[式(1)参照]。したがって、tanθmaxは、SIDmax,L,h,およびRで表される。同様にtanθminは、SIDmin,L,h,およびRで表される[式(2)、式(4)参照]。ここで、L,h,およびRは、FPD4およびX線グリッド5の配置、寸法であるから、一定である。すなわち、SIDは、SIDmax,SIDminの設定に伴って一義的に決定されるのである。X線グリッド5の吸収箔5aの傾斜はSIDを基準として決定されることになる。吸収箔5aを短手方向に延長すれば、全て焦点Pで交わるのである。
次に、図12,図13を用いて本発明の効果を説明する。従来のX線撮影装置において、図12の焦点PcがX線グリッド5の吸収箔5aの傾斜の基準となっている。吸収箔5aを短手方向に延長すれば、全て焦点Pcで交わるのである。吸収箔基準点Gと焦点Pcとを結ぶ線分をDcとする。
線分Dmaxと線分Dcとがなす角をθPとし、線分Dminと線分Dcとがなす角をθQとすれば、θP<θQとなっている。これは、本実施例の構成がθA=θBとなっているのとは大きく異なる。なお、DminとDmaxとがなす角はθP+θQであり、図8を参照すれば分かるように、これはθA+θBとなっている。つまり、線分Dminと線分Dmaxとがなす角の分割の割合が従来構成と本発明と異なるのである。
従来と本実施例とを比較するとθQ>θBとなっている(図8,図12参照)。すなわち、PcにあるX線管3の焦点をPminに移動させると、X線ビームの照射方向が大きく変化し、図13の左側、中央に示すように、図9(c)と比較して幅方向により幅広の影SがFPD4に写りこむ。すると、図13の右側に示すように、図9(c)よりも暗く、より目立つ縦筋が現れるのである。本実施例においては、縦筋は現れるものの、さほど目立つものではない。
以上のように、実施例1の構成によれば、X線管3に対しFPD4が進退移動する。具体的には、FPD4はX線管3に最も接近した位置から最も離れた位置まで移動するのである。また、実施例1の構成のFPD4には散乱X線を除去するX線グリッド5が設けられている。このX線グリッド5は、縦方向に延びた短冊状の吸収箔5aが横方向に配列されて構成される。
FPD4が標準位置にあるとき、X線グリッド5の吸収箔5aが放射線を遮ることで生じる影の横方向の幅は最も狭いものとなっている。このときの幅は、吸収箔5aの厚さと略同一となっている。完全に同一とならないのは、放射線ビームがコーン状となっているからであり、吸収箔5aの影がFPD4に届くまでに僅かながら拡大されるからである。
FPD4がX線管3に対して移動すると、吸収箔5aに対する放射斜線ビームの照射方向が変化する。すると、X線グリッド5の吸収箔5aが放射線を遮ることで生じる影の幅が広がる。実施例1の構成によれば、FPD4に対するX線管3の焦点の位置がPminの位置となっているときとPmaxの位置となっているときとで、FPD4に写りこむ吸収箔5aの横方向の影の幅が等しくなっている。従来構成では、この様な構成となっていないので、FPD4に対するX線管3の焦点の位置がPminの位置となっているときとPmaxの位置となっているときとで吸収箔5aの影の幅が異なる。この様に設定してしまうと、FPD4に対するX線管3の焦点の位置がPminの位置またはPmaxにあるときにFPD4に写りこむ吸収箔5aの影の幅は、より広くなってしまう。X線管3が標準位置からPminの位置またはPmaxの位置まで移動したとき、放射線ビームの進行方向が実施例1の構成の設定よりもより激しく変化するからである。実施例1の構成によれば、FPD4の移動に係らず、X線グリッド5の吸収箔5aに対する放射線ビームの進行方向が極力変化しないようになっているので、FPD4の移動に伴う吸収箔5aの影の幅の変化は最小限となっている。したがって、X線管3から照射された放射線ビーム(直接線)は、吸収箔5aに邪魔されずにFPD4まで到達するのである。これにより、放射線透視画像に表れる偽像の影響を抑制することができる。
X線グリッド5の横方向の最端部に位置する吸収箔5b(X線管3が発するコーン状の放射線ビームの照射限界位置に存する吸収箔)は、FPD4の移動に伴う吸収箔5aの影の幅の変化が最も激しい。上述の構成によれば、X線グリッド5の最先端部に位置する吸収箔5aを基準に上述の影Sの幅に係る設定が行われる。この様にすれば、より確実に、吸収箔5aの影響が除去された放射線透視画像を取得することができる。
また、X線管3に対するFPD4の位置が標準位置にあるとき(X線管3とFPD4との距離がSIDのとき)、X線グリッド5を構成する吸収箔5aの各々を短手方向に延長する延長線の各々はX線管3の焦点で交わる。上述の構成は、実施例1の構成の放射線撮影装置のより具体的な構成を示している。この様にすれば、X線管3から照射される放射線ビームの進行がX線グリッド5に極力邪魔されない放射線撮影装置が提供できる。
本発明は上述の構成に限られず、下記のように変形実施することができる。
(1)実施例1の構成はC型アームを有する構成であったが、これに代えて図14のように、X線管3が支柱に支えられるタイプの放射線撮影装置(通称:透視台)に適応してもよい。この場合にはX線管3が上下動してSIDを適正に設定する。
(2)上述した実施例は、医用の装置であったが、本発明は、工業用や、原子力用の装置に適用することもできる。
(3)上述した実施例のいうX線は、本発明における放射線の一例である。したがって、本発明は、X線以外の放射線にも適応できる。
3 X線管(放射線源)
4 FPD(放射線検出手段)
5 X線グリッド(放射線グリッド)
5a 吸収箔
7 C型アーム
9a 第1回転機構(第1回転手段)
9b 第2回転機構(第2回転手段)
11 シフト機構(検出器移動手段)

Claims (4)

  1. 放射線を照射する放射線源と、
    放射線を検出する放射線検出手段と、
    前記放射線検出手段を前記放射線源に最も接近した第1位置から最も離れた第2位置まで進退移動させる検出器移動手段と、
    前記放射線検出手段の放射線を検出する検出面を覆うように前記放射線検出手段に固定されるとともに、第1方向に延びた短冊状の吸収箔が第2方向に配列されて構成される放射線グリッドとを備え、
    前記放射線源に対する前記放射線検出手段の位置が第1位置、および第2位置に挟まれた位置である標準位置にあるとき、前記放射線検出手段に写りこむ吸収箔の前記第2方向の影の幅が最も狭くなっており、
    前記放射線検出手段が標準位置から第1位置、第2位置のいずれに向かっても前記放射線検出手段に写りこむ吸収箔の前記第2方向の影の幅が次第に広くなる放射線撮影装置において、
    (A)前記放射線源に対する前記放射線検出手段の位置が前記第1位置となっているとき、前記放射線検出手段に写りこむ吸収箔の前記第2方向の影の幅と、(B)前記放射線源に対する前記放射線検出手段の位置が前記第2位置となっているとき、前記放射線検出手段に写りこむ吸収箔の前記第2方向の影の幅とが等しくなっていることを特徴とする放射線撮影装置。
  2. 請求項1に記載の放射線撮影装置において、
    前記放射線グリッドの前記第2方向の最端部に位置する吸収箔を最端部吸収箔としたとき、
    前記放射線検出手段に写りこむ最端部吸収箔の影は、前記放射線源に対する前記放射線検出手段の位置が前記第1位置であるかそれとも前記第2位置であるかによらず幅が等しくなっていることを特徴とする放射線撮影装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の放射線撮影装置において、
    前記放射線源に対する前記放射線検出手段の位置が前記標準位置にあるとき、前記放射線グリッドを構成する吸収箔の各々を短手方向に延長する延長線の各々は放射線源の焦点で交わることを特徴とする放射線撮影装置。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の放射線撮影装置において、
    前記放射線源と前記放射線検出手段とを両端で支持する円弧状のC型アームと、
    円弧状となっている前記C型アームの円弧が存する平面に直交するとともに、前記C型アームの曲率中心を通過する第1軸を中心に前記C型アームを回転させる第1回転手段と、
    前記第1軸に直交するとともに、水平方向に延びた第2軸を中心に前記C型アームを回転させる第2回転手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置。
JP2009171016A 2009-07-22 2009-07-22 放射線撮影装置 Active JP5272943B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009171016A JP5272943B2 (ja) 2009-07-22 2009-07-22 放射線撮影装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009171016A JP5272943B2 (ja) 2009-07-22 2009-07-22 放射線撮影装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011024664A JP2011024664A (ja) 2011-02-10
JP5272943B2 true JP5272943B2 (ja) 2013-08-28

Family

ID=43634136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009171016A Active JP5272943B2 (ja) 2009-07-22 2009-07-22 放射線撮影装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5272943B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5614343B2 (ja) * 2011-03-16 2014-10-29 株式会社島津製作所 位置合わせ装置
EP2837671B1 (de) 2013-08-16 2017-10-25 Merck Patent GmbH Flüssigkristallines Medium

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003024328A (ja) * 2001-07-17 2003-01-28 Hitachi Medical Corp X線画像診断装置
JP4337450B2 (ja) * 2003-07-15 2009-09-30 株式会社島津製作所 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
JP3143632U (ja) * 2008-05-19 2008-07-31 株式会社島津製作所 放射線撮影装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011024664A (ja) 2011-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8509387B2 (en) X-ray imaging apparatus
EP2718936B1 (en) Multiple focal spot x-ray radiation filtering
US20150078516A1 (en) X-ray diagnostic apparatus
JP5375655B2 (ja) 放射線撮影装置
JP6636923B2 (ja) X線画像装置
US20110206185A1 (en) Radiographic apparatus
JP5407774B2 (ja) 放射線撮影装置
JP5921462B2 (ja) 放射線遮蔽ユニット、放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影方法
US20050169432A1 (en) X-ray device
US20140037057A1 (en) X-ray imaging apparatus, and method of setting imaging area of x-ray imaging apparatus
EP2994052B1 (en) Collimation for distanced focal spots
JP5447526B2 (ja) 放射線撮影装置および画像の取得方法
US9498168B2 (en) X-ray CT scanning and dual-source CT system
JP2008006186A (ja) X線診断装置
WO2014174857A1 (ja) X線透視装置
JP2008173233A (ja) 断層撮影装置
JP5272943B2 (ja) 放射線撮影装置
WO2018061456A1 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP5614343B2 (ja) 位置合わせ装置
JP4770594B2 (ja) 断層撮影装置
KR20140044175A (ko) 엑스선 촬영장치
US20160374636A1 (en) Radiographic device
JP6372614B2 (ja) 放射線源およびそれを備えた放射線位相差撮影装置
WO2017183256A1 (ja) X線ct装置
JP5939163B2 (ja) 放射線撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110928

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130311

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130416

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130429

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5272943

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151