JP5257179B2 - 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 - Google Patents
表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5257179B2 JP5257179B2 JP2009068174A JP2009068174A JP5257179B2 JP 5257179 B2 JP5257179 B2 JP 5257179B2 JP 2009068174 A JP2009068174 A JP 2009068174A JP 2009068174 A JP2009068174 A JP 2009068174A JP 5257179 B2 JP5257179 B2 JP 5257179B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- candidate
- wrinkle
- feature information
- candidates
- inspection apparatus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
上記金属帯の両側表面のいずれか一面である第1面側に配置され、該第1面を撮像する第1撮像部と、
上記第1撮像部が撮像した第1画像に基づいて、上記第1面側の疵候補の長手方向位置及び幅方向位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第1抽出部と、
上記金属帯の両側表面の他面である第2面側に配置され、該第2面を撮像する第2撮像部と、
上記第2撮像部が撮像した第2画像に基づいて、上記第2面側の疵候補の位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第2抽出部と、
上記第1面側及び上記第2面側の疵候補の位置情報に基づいて、上記第1面側及び上記第2面側いずれか一側の疵候補に対して、最も近接した他側の疵候補を特定し、該疵候補同士を最近接疵候補として互いに対応付ける最近接特定部と、
上記一側の疵候補の特徴情報と、該一側の疵候補に対応付けられた他側の疵候補の特徴情報とに基づいて、該一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定する一側判定部と、
を有し、
上記一側判定部は、上記最近接疵候補として互いに対応付けられた一側及び他側の疵候補それぞれの上記特徴情報として、少なくとも該疵候補同士の長手方向位置のずれ量と幅方向位置のずれ量とに基づいて、上記一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、表面欠陥検査装置が提供される。
上記一側判定部は、上記最近接疵候補として互いに対応付けられた一側及び他側の疵候補それぞれの上記特徴情報として、少なくとも該疵候補それぞれの特徴量情報に基づいて、上記一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定してもよい。
上記最近接特定部は、上記一側の疵候補と複数の上記他側の疵候補との間の距離を、上記長手方向の単位距離が幅方向の単位距離よりも長くなる空間上で算出し、当該距離が最も短い他側の疵候補を特定して、該疵候補同士を上記最近接疵候補として互いに対応付けてもよい。
上記表面欠陥検査装置は、少なくとも、上記金属帯が上記第1撮像部の撮像範囲から上記第2撮像部の撮像範囲へ搬送される際に要する時間間隔である遅延期間の間、上記第1抽出部が抽出した上記第1面側の疵候補の特徴情報を記録可能な遅延メモリを更に有してもよい。
上記遅延メモリは、上記受信バッファメモリを兼ねて、上記遅延期間の間だけでなく、少なくとも、上記受信バッファ期間の間、上記第1面側の疵候補の特徴情報を、上記最近接特定部が上記第2面側の疵候補と対応付ける上記最近接疵候補の検索対象として記録可能であってもよい。
上記金属帯の両側表面のいずれか一面である第1面側に配置された第1撮像部が、該第1面を撮像する第1撮像ステップと、
上記第1撮像ステップで撮像した第1画像に基づいて、上記第1面側の疵候補の長手方向位置及び幅方向位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第1抽出ステップと、
上記金属帯の両側表面の他面である第2面側に配置された第2撮像部が、該第2面を撮像する第2撮像ステップと、
上記第2撮像ステップで撮像した第2画像に基づいて、上記第2面側の疵候補の位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第2抽出ステップと、
上記第1面側及び上記第2面側の疵候補の位置情報に基づいて、上記第1面側及び上記第2面側いずれか一側の疵候補に対して、最も近接した他側の疵候補を特定し、該疵候補同士を最近接疵候補として対応付ける最近接特定ステップと、
上記一側の疵候補の特徴情報と、該一側の疵候補に対応付けられた他側の疵候補の特徴情報とに基づいて、該一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定する一側判定ステップと、
を有し、
上記一側判定ステップでは、上記最近接疵候補として互いに対応付けられた一側及び他側の疵候補それぞれの上記特徴情報として、少なくとも該疵候補同士の長手方向位置のずれ量と幅方向位置のずれ量とに基づいて、上記一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、表面欠陥検査方法が提供される。
<2.第1実施形態>
(2−1.表面欠陥検査装置の構成)
(2−2.表面欠陥検査装置の動作)
(2−3.表面欠陥検査装置の配置例)
(2−4.表面欠陥検査装置の検査例)
(2−5.第1実施形態による効果の例)
<3.第2実施形態>
(3−1.表面欠陥検査装置の構成)
(3−2.表面欠陥検査装置の動作)
(3−3.第2実施形態による効果の例)
<4.第3実施形態>
(4−1.表面欠陥検査装置の構成)
(4−2.表面欠陥検査装置の動作)
(4−3.第3実施形態による効果の例)
図12及び図13は、従来技術に係る表面欠陥検査装置について説明するための説明図である。
つまり、図13に示すように、例えばヘゲ疵のような一面と他面での大きさが異なる疵の場合、上面から抽出された疵候補Duの中心(位置O)から、幅方向座標xの偏差範囲2Wsと、長手方向座標yの偏差範囲2Lsとが決定されると、下面から抽出される同一疵の疵候補Ddが、この同一範囲Ar内に入らない可能性がある。この場合、両疵候補Du,Ddは、同一と判定されず、異なる疵であると判定されてしまう。したがって、上記とは逆に、同一疵であるものを同一疵でないと判定する可能性があり、疵検出を難しくしてしまう場合がある。
(2−1.表面欠陥検査装置の構成)
まず、図1を参照しつつ、本発明の第1実施形態に係る表面欠陥検査装置の構成等について説明する。図1は、本発明の第1実施形態に係る表面欠陥検査装置の構成について説明するための説明図である。
下流検査装置200の特徴抽出部203により抽出された特徴情報は、上流検査装置100に送られ、その上流検査装置100の受信バッファメモリ120内に記録される。この受信バッファメモリ120は、両面の疵候補から同一の疵候補を特定するために必要な下面側特徴情報を最近接特定部131が使用する時点まで保持しておくバッファとして機能する。一方、下流検査装置200内では、特徴抽出部203により抽出された特徴情報は、判定部232に送られる。
次に、上流検査装置100側における上面の特徴情報について説明する。
上流検査装置100の特徴抽出部103により抽出された特徴情報は、その上流検査装置100の遅延メモリ110内に記録される。
幅方向座標x及び長手方向座標yを用いて、上流側の疵候補の位置情報を(xu,yu)とし、下流側の疵候補の位置情報を(xd,yd)とする。この場合、2点間距離dは、例えば、下記式1のように算出することができる。
つまり、最近接特定部131は、図3(A)に示す上流側(上面側)の疵候補Duの位置Oを基準として、その位置Oと図3(B)に示す下流側(下面側)の疵候補Dd1,Dd2…との距離dを算出する。この際、距離dは、上述の通り、長手方向にバイアスがかけられているため、図3に破線で示すように等距離線は、略楕円などのように長手方向に引き伸ばされる。従って、図3に示す例の場合、最近接特定部131は、上流側疵候補Duに対して、幅方向で隣接した下流側疵候補Dd2ではなく、長手方向で隣接した上流側疵候補Dd1を、最も近接した疵候補であると特定して両者を対応付けることが可能である。
以上、本発明の第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10の構成等について説明した。次に、図4を参照しつつ、本発明の第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10の動作について説明する。
なお、この本実施形態に係る表面欠陥検査装置10は、図1に示すように直線状に搬送される位置において、金属帯Fを挟み、かつ、搬送方向でオフセットして配置されても良いが、図5に示すように配置されることが望ましい。
このように構成された本実施形態に係る表面欠陥検査装置10による検査例について、図6等を参照しつつ説明する。図6は、本実施形態に係る表面欠陥検査装置の検査例について説明するための説明図である。なお、ヘゲ疵や凹凸疵などが適切に検出可能であることは、上述の通りであるため、ここではその他の検査例として疵が押し疵及び穴である場合について説明する。
押し疵は、搬送用のロールRなどに付着した硬質の異物により金属帯Fが塑性変形して発生する。この場合、図6に示すように、金属帯Fに対して当てる光の向きと撮像部101,201が撮像する方向とに応じて、疵候補が撮像される領域の半分が周囲より白く(輝度値が高く)、もう半分が黒く(輝度値が低く)なるように撮影される。
例えば鋼などのように、金属帯Fの中の異物が圧延された後に脱落した場合、金属帯Fに穴があくことがある。これは、きわめて有害な欠陥であるため精度良く検出することが望まれる。
(2−5.第1実施形態による効果の例)
以上、本発明の第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10について説明した。
この表面欠陥検査装置10によれば、最近接特定部131により疵候補間の距離dに基づいて、同一疵である可能性が高い表裏の疵候補を対応付けることができる。従って、対応付けられる表裏の疵候補同士が同一の疵である可能性を高めることができる。なお、この際、最近接特定部131は、最近傍探索を行う際に、疵候補同士の距離dとして、長手方向座標yにバイアスがかけられた距離を使用する。従って、例えば、同一の疵が表裏で、金属帯Fの幅方向よりも長手方向に大きくずれ、偏差Δyが偏差Δx等に比べて大きい場合であっても、両疵候補を正確に対応付けることが可能である。
次に、本発明の第2実施形態に係る表面欠陥検査装置20について説明する。
上記第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10では、両面の疵候補の特徴情報に基づいて判定を行う判定部132が、上流検査装置100側に配置されている場合について説明した。しかしながら、このような両面の判定を行う判定部132は、下流検査装置200側に配置されてもよい。これに伴い、最近接特定部131も、下流検査装置200側に配置され、逆に、片面の判定を行う判定部232は、上流検査装置100側に配置されてもよい。このように下流検査装置200側で両面の判定を行う場合の例として、第2実施形態に係る表面欠陥検査装置20について説明する。ただし、基本的な構成等については、第1実施形態と重複する部分が多いため、以下では、第1実施形態と異なる点を中心に説明する。
図7は、本発明の第2実施形態に係る表面欠陥検査装置の構成について説明するための説明図である。
以上、本発明の第2実施形態に係る表面欠陥検査装置20の構成等について説明した。次に、図9を参照しつつ、本発明の第2実施形態に係る表面欠陥検査装置20の動作について説明する。図9は、本実施形態に係る表面欠陥検査装置の動作について説明するための説明図である。
以上、本発明の第2実施形態に係る表面欠陥検査装置20について説明した。
この表面欠陥検査装置20によれば、上記第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10が奏する作用効果等を同様に奏することが可能であるだけでなく、更に、受信バッファメモリ120を省略することができる。従って、装置構成を容易にして製造コストを低減させることができる。
次に、本発明の第3実施形態に係る表面欠陥検査装置30について説明する。
上記第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10では、両面の特徴情報から上流側(つまり上面側)の疵候補の判定を行う場合について説明し、上記第2実施形態に係る表面欠陥検査装置20では、両面の特徴情報から下流側(つまり下面側)の疵候補の判定を行う場合について説明した。なお、両実施形態共に、両面判定が行われない面の疵候補については、片面の特徴情報のみによる判定を行った。しかしながら、両面共に両面の特徴情報で判定を行うことも可能である。そこで、この場合の例として、第3実施形態に係る表面欠陥検査装置30について説明する。ただし、基本的な構成等については、第1実施形態及び第2実施形態と重複する部分が多いため、以下では、第1実施形態及び第2実施形態と異なる点を中心に説明する。
図10は、本発明の第3実施形態に係る表面欠陥検査装置の構成について説明するための説明図である。
以上、本発明の第3実施形態に係る表面欠陥検査装置30の構成等について説明した。次に、図11を参照しつつ、本発明の第3実施形態に係る表面欠陥検査装置30の動作について説明する。図11は、本実施形態に係る表面欠陥検査装置の動作について説明するための説明図である。
以上、本発明の第3実施形態に係る表面欠陥検査装置30について説明した。
この表面欠陥検査装置30によれば、上記第1実施形態に係る表面欠陥検査装置10が奏する作用効果等を同様に奏することが可能であることに加えて、上流及び下流のどちらか一方側の疵候補について両面の特徴情報による判定が行えるだけでなく、他方側の疵候補についても両面の特徴情報による判定を行うことが可能である。
100 上流検査装置
200 下流検査装置
300 判定結果記憶装置
400 表示装置
101 撮像部
102 画像処理部
103 特徴抽出部
110,310 遅延メモリ
120 受信バッファメモリ
131,131A,131B 最近接特定部
132,132A,132B 判定部
201 撮像部
202 画像処理部
203 特徴抽出部
232 判定部
Ar 同一範囲
Du,Dd,Dd1,Dd2 疵候補
F 金属帯
x 幅方向座標
y 長手方向座標
Δx,Δy 偏差
d 距離
ΔL 間隔
Claims (10)
- 搬送される金属帯の表面に形成された疵を検査する表面欠陥検査装置であって、
前記金属帯の両側表面のいずれか一面である第1面側に配置され、該第1面を撮像する第1撮像部と、
前記第1撮像部が撮像した第1画像に基づいて、前記第1面側の疵候補の長手方向位置及び幅方向位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第1抽出部と、
前記金属帯の両側表面の他面である第2面側に配置され、該第2面を撮像する第2撮像部と、
前記第2撮像部が撮像した第2画像に基づいて、前記第2面側の疵候補の位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第2抽出部と、
前記第1面側及び前記第2面側の疵候補の位置情報に基づいて、前記第1面側及び前記第2面側いずれか一側の疵候補に対して、最も近接した他側の疵候補を特定し、該疵候補同士を最近接疵候補として互いに対応付ける最近接特定部と、
前記一側の疵候補の特徴情報と、該一側の疵候補に対応付けられた他側の疵候補の特徴情報とに基づいて、該一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定する一側判定部と、
を有し、
前記一側判定部は、前記最近接疵候補として互いに対応付けられた一側及び他側の疵候補それぞれの前記特徴情報として、少なくとも該疵候補同士の長手方向位置のずれ量と幅方向位置のずれ量とに基づいて、前記一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、表面欠陥検査装置。 - 前記疵候補の特徴情報には、前記第1画像又は前記第2画像から抽出可能な前記疵候補の特徴量を表す特徴量情報が含まれ、
前記一側判定部は、前記最近接疵候補として互いに対応付けられた一側及び他側の疵候補それぞれの前記特徴情報として、少なくとも該疵候補それぞれの特徴量情報に基づいて、前記一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、請求項1に記載の表面欠陥検査装置。 - 前記金属帯は、長手方向に搬送され、
前記最近接特定部は、前記一側の疵候補と複数の前記他側の疵候補との間の距離を、前記長手方向の単位距離が幅方向の単位距離よりも長くなる空間上で算出し、当該距離が最も短い他側の疵候補を特定して、該疵候補同士を前記最近接疵候補として互いに対応付けることを特徴とする、請求項1又は2に記載の表面欠陥検査装置。 - 前記他側の疵候補の特徴情報に基づいて、該他側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定する他側判定部を更に有することを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の表面欠陥検査装置。
- 前記一側判定部は、前記他側判定部による前記他側の疵候補に対する判定結果を更に使用して、該他側の疵候補に前記最近接疵候補として対応付けられた一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、請求項4に記載の表面欠陥検査装置。
- 前記他側判定部は、前記他側の疵候補の特徴情報に加えて、更に、該他側の疵候補に前記最近接疵候補として対応付けられた一側の疵候補の特徴情報に基づいて、前記他側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、請求項4に記載の表面欠陥検査装置。
- 前記第2撮像部は、前記第1撮像部の撮像位置よりも搬送方向下流側において前記第2面を撮像し、
前記表面欠陥検査装置は、少なくとも、前記金属帯が前記第1撮像部の撮像範囲から前記第2撮像部の撮像範囲へ搬送される際に要する時間間隔である遅延期間の間、前記第1抽出部が抽出した前記第1面側の疵候補の特徴情報を記録可能な遅延メモリを更に有することを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の表面欠陥検査装置。 - 前記表面欠陥検査装置は、少なくとも、検査対象として想定される最大の疵の長さ程度、前記金属帯が搬送される際に要する時間間隔である受信バッファ期間の間、前記一側の疵候補の特徴情報を、前記最近接特定部が前記他側の疵候補と対応付ける前記最近接疵候補の検索対象として記録可能な受信バッファメモリを更に有することを特徴とする、請求項7に記載の表面欠陥検査装置。
- 前記最近接特定部は、前記第2面側の疵候補に対して、最も近接した前記第1面側の疵候補を特定して、該疵候補同士を前記最近接疵候補として互いに対応付け、
前記遅延メモリは、前記受信バッファメモリを兼ねて、前記遅延期間の間だけでなく、少なくとも、前記受信バッファ期間の間、前記第1面側の疵候補の特徴情報を、前記最近接特定部が前記第2面側の疵候補と対応付ける前記最近接疵候補の検索対象として記録可能であることを特徴とする、請求項8に記載の表面欠陥検査装置。 - 搬送される金属帯の表面に形成された疵を検査する表面欠陥検査方法であって、
前記金属帯の両側表面のいずれか一面である第1面側に配置された第1撮像部が、該第1面を撮像する第1撮像ステップと、
前記第1撮像ステップで撮像した第1画像に基づいて、前記第1面側の疵候補の長手方向位置及び幅方向位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第1抽出ステップと、
前記金属帯の両側表面の他面である第2面側に配置された第2撮像部が、該第2面を撮像する第2撮像ステップと、
前記第2撮像ステップで撮像した第2画像に基づいて、前記第2面側の疵候補の位置を表す位置情報を少なくとも含む特徴情報を抽出する第2抽出ステップと、
前記第1面側及び前記第2面側の疵候補の位置情報に基づいて、前記第1面側及び前記第2面側いずれか一側の疵候補に対して、最も近接した他側の疵候補を特定し、該疵候補同士を最近接疵候補として対応付ける最近接特定ステップと、
前記一側の疵候補の特徴情報と、該一側の疵候補に対応付けられた他側の疵候補の特徴情報とに基づいて、該一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定する一側判定ステップと、
を有し、
前記一側判定ステップでは、前記最近接疵候補として互いに対応付けられた一側及び他側の疵候補それぞれの前記特徴情報として、少なくとも該疵候補同士の長手方向位置のずれ量と幅方向位置のずれ量とに基づいて、前記一側の疵候補の種類及び程度の少なくとも一方を判定することを特徴とする、表面欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009068174A JP5257179B2 (ja) | 2009-03-19 | 2009-03-19 | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009068174A JP5257179B2 (ja) | 2009-03-19 | 2009-03-19 | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010223597A JP2010223597A (ja) | 2010-10-07 |
JP5257179B2 true JP5257179B2 (ja) | 2013-08-07 |
Family
ID=43040957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009068174A Active JP5257179B2 (ja) | 2009-03-19 | 2009-03-19 | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5257179B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5594071B2 (ja) * | 2010-11-05 | 2014-09-24 | Jfeスチール株式会社 | 溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥検査装置およびドロス欠陥検査方法 |
JP5928231B2 (ja) * | 2012-08-02 | 2016-06-01 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検査方法 |
US9588056B2 (en) * | 2014-05-29 | 2017-03-07 | Corning Incorporated | Method for particle detection on flexible substrates |
JP6079948B1 (ja) * | 2015-06-25 | 2017-02-15 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法 |
JP7173682B2 (ja) * | 2018-03-30 | 2022-11-16 | ダイハツ工業株式会社 | 表面検査装置 |
CN113267501A (zh) * | 2020-02-17 | 2021-08-17 | 远传电信股份有限公司 | 片状材料快速检测瑕疵整合系统及其使用方法 |
CN116990310B (zh) * | 2023-09-27 | 2023-12-08 | 中国水利水电第九工程局有限公司 | 一种基于数据分析的墙体混凝土裂缝监测预警系统 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3669256B2 (ja) * | 2000-09-19 | 2005-07-06 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検査装置 |
JP2002139446A (ja) * | 2000-10-31 | 2002-05-17 | Nkk Corp | 表面欠陥検出方法及び装置 |
-
2009
- 2009-03-19 JP JP2009068174A patent/JP5257179B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010223597A (ja) | 2010-10-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5257179B2 (ja) | 表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 | |
CN109886298A (zh) | 一种基于卷积神经网络的焊缝质量检测方法 | |
Miao et al. | An image processing-based crack detection technique for pressed panel products | |
KR101477665B1 (ko) | 불균일한 텍스쳐 표면의 불량 검출방법 | |
JP2007506973A5 (ja) | ||
WO2020110667A1 (ja) | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル | |
JP5299046B2 (ja) | 疵検出装置、疵検出方法及びプログラム | |
JP2006234771A (ja) | 金属ロールの表面欠陥検査方法およびその装置 | |
Xia et al. | An automatic machine vision-based algorithm for inspection of hardwood flooring defects during manufacturing | |
JP6007639B2 (ja) | 疵検出方法および疵検出装置 | |
US20230169642A1 (en) | Inspecting Sheet Goods Using Deep Learning | |
CN117333467B (zh) | 基于图像处理的玻璃瓶瓶身瑕疵识别检测方法及系统 | |
JP2001516457A (ja) | 検出された表面の不整の前分類により移動するストリップの表面を検査する方法 | |
JP2007071789A (ja) | 栗の品質検査方法 | |
CN114235810A (zh) | 一种基于面阵工业相机的布匹瑕疵自动检测方法 | |
JP6666171B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP7356010B2 (ja) | 表面性状検査装置及び表面性状検査方法 | |
JP4956077B2 (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP2004125686A (ja) | 鋼板の疵検出方法、鋼板の疵検出装置、コンピュータプログラム及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
JP6769447B2 (ja) | 鋼板の疵検査装置及び疵検査方法 | |
JP2005265828A (ja) | 疵検出方法及び装置 | |
Xie et al. | An adaptive defect detection technology for car-bodies surfaces | |
WO2022259772A1 (ja) | 検査装置、検査方法、ガラス板の製造方法、および検査プログラム | |
JP5392903B2 (ja) | 表面疵検査装置 | |
JP2006135700A (ja) | 画像検査装置、画像検査方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110215 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120627 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120703 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120830 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130326 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130408 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160502 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5257179 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |