JP5245595B2 - 積層セラミックコンデンサの故障寿命評価方法 - Google Patents
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Description
表1のt1、t2の結果より、試料1〜6のt1とt2との相関係数は0.996となり高い相関がみられた。よって、絶縁抵抗値の劣化速度が極大となる時点における経過時間をみることで、本来の故障寿命Tを精度良く見積もることが可能である。また、試験時間の短縮効果となるt1/t2を求めたところ、約30%となった。
表2のt1、t2の結果より、試料11〜16のt1とt2との相関係数は0.999となり高い相関がみられた。よって、絶縁抵抗値の劣化速度が極大となる時点における経過時間をみることで、本来の故障寿命Tを精度良く見積もることが可能である。また、試験時間の短縮効果となるt1/t2を求めたところ、約30%となった。
表3のt1、t2の結果より、試料21〜26のt1とt2との相関係数は0.994となり高い相関がみられた。よって、絶縁抵抗値の劣化速度が極大となる時点における経過時間をみることで、本来の故障寿命Tを精度良く見積ることができる。また、試験時間の短縮効果となるt1/t2を求めたところ、約30%となった。
2 セラミック積層体
3 誘電体セラミック層
4,5 内部電極
8,9 外部電極
Claims (2)
- 一般式ABO3で表されるペロブスカイト型化合物(AはBaを必ず含み、Ba、Ca、Srから選ばれる少なくとも1種を含む。BはTiを必ず含み、Ti、Zr、Hfから選ばれる少なくとも1種を含む。)を主成分とする誘電体セラミック層と、これらの誘電体セラミック層間に配置された内部電極と、これらの内部電極に電気的に接続された外部電極と、を備える積層セラミックコンデンサを用意する工程と、
前記積層セラミックコンデンサに対し、室温以上の温度において電圧を印加した状態にて、絶縁抵抗値の時間に対する一回微分値として求められる絶縁抵抗値の劣化速度を経時的にモニタリングする工程と、
前記絶縁抵抗値の劣化速度が、時間に対して極大値をとる時点の経過時間を特定する工程と、
を備えることを特徴とする、積層セラミックコンデンサの故障寿命評価方法。 - 前記温度が100〜200℃の範囲にあり、
前記電圧の印加による誘電体セラミック層一層あたりの電界が2〜60kV/mmの範囲にあることを特徴とする、請求項1に記載の積層セラミックコンデンサの故障寿命評価方法。
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