JP5228128B1 - 信号生成装置、測定装置、漏電検出装置及び信号生成方法 - Google Patents

信号生成装置、測定装置、漏電検出装置及び信号生成方法 Download PDF

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Abstract

【課題】位相差のベクトル計算をすることなく、入力電流値I、位相変換を行った電流値Icosθ及びIsinθを同時に容易且つ短時間で安定した漏洩電流を測定し、自動出力させる信号生成装置及び信号生成方法を提供すること。
【解決手段】本発明の実施形態に係る信号生成装置は、被測定電路の電圧波形及び電流波形それぞれを第1及び第2のコンパレータを介して論理信号を生成して、パラメータを設定するとともに、電流波形を全波整流し、全波整流した電流波形を連続型ΔΣADCにより量子化変換することを特徴とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、信号生成装置及び信号生成方法に関する。
近年、高度情報化による社会の無停電化の要請から、電路及び機器の絶縁不良管理が停電を伴う絶縁抵抗計による方法から、機器を切ることなく測定できる漏洩電流測定方法に移ってきている。
漏洩電流測定方法により機器の交流電流及び位相差の測定を行う製品としては、例えば、漏洩電流監視装置、漏洩電流測定装置、漏洩電流検知装置(漏電遮断器)等がある。また、機器の交流電流を測定する測定器としては、電力測定器、電流測定器などがある。これらの装置又は測定器は、以下のような検出や測定を行っている。
装置又は測定器を用いて検出や測定を行うものとしては、交流電流値測定があり、この測定によって、入力電流I[A]、有効電流Ir=Icosθ[A]、無効電流IL−IC=Isinθ[A]を求めている。他には、交流電力測定があり、上述した交流電流値測定を行なってものに電圧測定値を掛けたもので、皮相電力S=VI[VA]、有効電力P=VIcosθ[W]、無効電力Q=VIsinθ[Var]がある。また、漏洩電流測定があり、この測定によって、合成漏洩電流I[A]、単相抵抗成分漏洩電流Igr(Ir)=Icosθ[A]、単相容量成分漏洩電流Igc(Ic)=Isinθ[A]、三相Δ結線抵抗成分漏洩電流Igr(Ir)=Isinθ/cos30°[A]を求めている。
上述した検出や測定した結果から分かるように、測定電流値I(I)に測定位相差sinθもしくは位相差cosθを掛けたもの、又はこれに加えて更に電圧測定値や係数を掛けて、漏洩電流を求めている。
また、漏電遮断器では、抵抗成分漏洩電流の測定、監視を行うため、小型な回路で高速で安定したものが必要である。一般的な漏電遮断器の製品は小型なものであり、製品内部に搭載できる回路規模がより小型なものが求められている。
従来、用いられている漏電遮断器の方式として、電流値Iと位相角とを測定してマイコンを用いて計算するもの、マイコンを用いずに積分することで結果を得るものがある。電流値Iと位相角とを測定してマイコンを用いて計算するものは、主に監視装置や測定器に用いられているが、マイコンで演算することにより結果を得るまでに時間が掛かり、連続的な測定ができていない。また、マイコンは高精度なA/D部を搭載したものを用いて、演算ソフトの開発を行う必要がある。漏洩電流測定器だけでは無く、有効電流等を測定する電力測定器にも同様なことがいえる。検出した電流値を積分することで結果を得るものは、主に漏電遮断器に用いる提案がされている。
ここで、従来の漏電検出方法として、例えば、引用文献1乃至引用文献3に記載されたものがある。引用文献1では、3相3線式の電路から全漏れ電流を検出し、検出した全漏れ電流を所定の位相範囲に渡って積分することにより、漏れ電流容量成分をキャンセルして漏れ電流抵抗成分のみを検出する漏電検出方法及び漏電検出装置が提案されている。引用文献2では、交流電路の流れる抵抗成分漏洩電流を検出するため、2つの半波積分器を用いる漏洩電流検出器が提案されている。引用文献3では、被測定信号の周波数が変わっても漏洩電流を判定する抵抗成分漏電検知回路が提案されている。
特開2011−15583号公報 国際公開第2009/002120号公報 特開平8−182180号公報
しかし、引用文献1乃至3に記載された漏電検出方法では、電流値及び基準とする電圧波形と電流波形の位相差を測定した後に、ベクトル演算算出を行い、ベクトル演算算出を行った値に係数やその他測定結果を掛けるか、又は、積分を行って閾値との比較を行っていた。検出した電流値を積分することで結果を得るものは、積分を行うための積分回路が必要となり、この積分回路を用いることでバラツキが大きく、バラツキを修正する合わせ込みが必要である。また、複数種類の電流値の同時測定や連続して測定を行うには、複数の積分回路が必要となる。合成漏洩電流値Iが測定可能範囲を超えると正しい数値と成らないため、抵抗成分漏洩電流Igrとの同時測定が望ましい。
また、従来の装置又は測定器では、電流値I、位相角cosθ及び位相角sinθそれぞれを測定してマイコンで漏洩電流を算出するという方式が主流であった。この方式では、マイコンで漏洩電流を算出するため、出力値が安定するまでに時間が掛かっていた。出力値が安定するまでに時間が掛かることで、短時間のみに発生する間欠漏洩電流を測定することができず、レスポンスの良い測定ができなかった。そのため、レスポンスの良い測定ができる製品が望まれている。
さらに、マイコン処理によるベクトル演算算出では、電流値及び基準とする電圧波形と電流波形の位相差の測定を行い、結果をベクトル演算、掛け算を行っており、時間が掛かる、半波期間毎の測定結果が得られない、マイコンに対する負担が大きい等の問題があった。検出した電流値を積分する積分回路方式では、位相差を定めて積分を行っているため、3項目の同時出力は不可能であり、また、次の測定を行う場合は、積分結果をクリアさせる必要があり、連続(半波期間毎)の測定を行うためには、積分回路を2つ用意する必要があった。
本発明は、上記のような課題に鑑みてなされたものであり、位相差のベクトル計算をすることなく、入力電流値I、位相変換を行った電流値Icosθ及びIsinθを同時に容易且つ短時間で安定して検出し、自動出力させる信号生成装置及び信号生成方法を提供することを目的とする。
本発明の一実施形態に係る信号生成装置は、被測定電路において検出された電圧波形が入力され、前記電圧波形の正負の極性に応じた第1の論理信号を生成する第1のコンパレータと、前記被測定電路において検出された電流波形が入力され、前記電流波形の正負の極性に応じた第2の論理信号を生成する第2のコンパレータと、前記第1の論理信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第3の論理信号を出力する第1の演算部と、前記第1の論理信号の変化時にゼロクロス検出部によりゼロクロス点を生成し、生成した前記ゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において前記第1の論理信号を反転することで、前記第1の論理信号の位相変換をして位相変換信号を生成する位相変換部と、前記位相変換信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第4の論理信号を出力する第2の演算部と、検出された前記電流波形を全波整流する全波整流部と、前記全波整流部により全波整流された前記電流波形を連続型ΔΣADCを用いて量子化変換して得られる当該電流波形の所定期間の電流波形の平均値に対応する量子化値を、前記所定期間の基準CLKパルスのCLK数に対する、前記連続型ΔΣADCの出力を前記基準CLKパルスに基づいて前記所定期間にわたってカウントしたカウント数の比率として出力する変換部と、を備え、前記ゼロクロス検出部により生成される前記次のゼロクロス点からさらに次のゼロクロス点までの半波期間において出力される前記量子化値をカウントして得られる電流Iに対応するIカウント値、前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第3の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Icosθに対応するIcosカウント値、および前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第4の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Isinθに対応するIsinカウント値を出力する測定部に、前記第3の論理信号、前記第4の論理信号および前記量子化値が出力されることを特徴とする。
本発明の一実施形態に係る信号生成方法は、被測定電路において検出された電圧波形の正負の極性に応じた第1の論理信号を生成し、前記被測定電路において検出された電流波形の正負の極性に応じた第2の論理信号を生成し、前記第1の論理信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第3の論理信号を出力し、前記第1の論理信号の変化時にゼロクロス検出部によりゼロクロス点を生成し、生成した前記ゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において前記第1の論理信号を反転することで、前記第1の論理信号の位相変換をして位相変換信号を生成し、前記位相変換信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第4の論理信号を出力し、検出された前記電流波形を全波整流し、全波整流された前記電流波形を連続型ΔΣADCを用いて量子化変換して得られる当該電流波形の所定期間の電流波形の平均値に対応する量子化値を、前記所定期間の基準CLKパルスのCLK数に対する、前記連続型ΔΣADCの出力を前記基準CLKパルスに基づいて前記所定期間にわたってカウントしたカウント数の比率として出力することを含み、前記ゼロクロス検出部により生成される前記次のゼロクロス点からさらに次のゼロクロス点までの半波期間において出力される前記量子化値をカウントして得られる電流Iに対応するIカウント値、前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第3の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Icosθに対応するIcosカウント値、および前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第4の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Isinθに対応するIsinカウント値を出力する測定部に、前記第3の論理信号、前記第4の論理信号および前記量子化値が出力されることを特徴とする。
本発明によれば、入力電流値Iと位相変換を行った電流値Icosθ及びIsinθを同時に短時間で測定、判定することができ、回路規模を小形にできるため、漏電遮断器に用いることができるとともに、電流測定器及び電力測定器として用いることで、高速で入力電流、位相差変換を加えた有効電流、無効電流の測定ができ、高精度な安価なものと信号生成装置及び信号生成方法を提供することができる。
本発明の実施形態に係る漏電検出装置の概略構成を示す図である。 本発明の実施形態に係る漏電検出装置の信号生成装置の概略構成を示す図である。 (a)は、本発明の実施形態に係る信号生成装置に入力される電圧波形及び電圧波形に基づいて変換したパラメータを示す図であり、(b)は、本発明の実施形態に係る信号生成装置に入力される電流波形及び電流波形に基づいて変換したパラメータを示す図である。 本発明の実施形態に係る信号生成方法で生成されたパラメータ設定の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る信号生成方法で生成されたパラメータ設定の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。 本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。
まず、本発明の実施形態に係る漏洩電流検出装置について、図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る漏洩電流検出装置の概略構成を示す図である。図2は、本発明の実施形態に係る漏洩電流検出装置の信号生成装置の概略構成を示す図である。
図1に示すように、本発明の実施形態に係る漏洩電流検出装置1は、被測定電路に印加される電圧波形を検出する電圧波形検出部10と、被測定電路に流れる電流波形を検出する電流波形検出部20と、電圧波形検出部10から検出した電圧波形及び電流波形検出部20から検出した電流波形それぞれを所定の処理を行いパラメータ出力部33によりsin部及びcos部の論理信号のパラメータ信号を出力するとともに、電流波形検出部20から検出した電流波形を量子化出力部37により全波整流部300で全波整流を行い、全波整流した電流波形を変換部400で連続型ΔΣADCにより量子化変換を行う信号生成装置30と、信号生成装置30により生成したsin部及びcos部の論理信号のパラメータ、連続型ΔΣADC処理を行い求めた電流波形の平均値を測定する測定部40と、測定部40により所定の処理を行い、基準カウント値、Icosカウント値、Icosカウント値、Iカウント値が入力され、所定の処理を行い、比較判断を行う判定部50と、を備える。
電圧波形検出部10は、被測定電路に印加される電圧を減衰器により減衰させて電圧波形を検出する。なお、電圧波形検出部10は、被測定電路が単相か三相かは問わずに、電圧波形を検出することができる。
電流波形検出部20は、被測定電路に流れる漏洩電流成分から生じる磁気を検出し、検出した磁気から電流を生成するCTセンサ部(図示せず)を備えてもよく、CTセンサ部から電流波形を検出する。
図2に示すように、本発明の実施形態に係る信号生成装置30は、電圧波形検出部10により検出した電圧波形に論理処理を行い、第1の論理信号を生成する第1のコンパレータ100、電流波形検出部20により検出した電流波形に論理処理を行い、第2の論理信号を生成する第2のコンパレータ200、第1の論理信号及び第2の論理信号に演算処理を行い、正負又はHi/Loの信号を出力する第1の演算部600と、第1のコンパレータ100により生成した第1の論理信号の変化時にゼロクロス点を生成するゼロクロス生成部800と、ゼロクロス生成部800により生成したゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点間からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において、第1の論理信号を反転させて、第1の論理信号の位相変換を行う位相変換部500と、位相変換部500により位相変換された電圧波形及び第2の論理信号に演算処理を行い、正負又はHi/Loの信号を出力する第2の演算部700と、を含むパラメータ出力部33と、被測定電路により検出した電流波形を全波整流する全波整流部300、全波整流部300により全波整流された電流波形を連続型ΔΣADCにより量化変換する変換部400を含む量子化出力部37と、を備える。
第1のコンパレータ100は、検出した電圧波形に論理処理を行い、正負又はHi/Loの波形を生成する。第2のコンパレータ200は、検出した電流波形に論理処理を行い、正負又はHi/Loの波形を生成する。ここで、信号生成装置30には、第1のコンパレータにより生成した論理信号の正負又はHi/Loの変化時にゼロクロス点を生成するゼロクロス生成部800を備える。
第1の演算部600は、第1のコンパレータにより生成された第1の論理信号及び第2のコンパレータにより生成された第2の論理信号に演算処理を行い、正負又はHi/Loの信号をcos部として出力する。
位相変換部500は、ゼロクロス生成部800により生成したゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において、第1の論理信号を反転させて、第1の論理信号の位相変換を行っている。より詳細には、位相変換部500は、ゼロクロス点間、すなわち電圧波形の半波期間に基準CLKパルスの総数をカウントして記憶しておき、次の半波期間の基準CLKパルスのカウント数が、記憶したカウント数の半分の値以下であるとき、第1の論理信号を反転することで、第1の論理信号の90度位相変換を行なっている。
第2の演算部700は、位相変換部500により電圧波形を位相変換した第1の論理信号及び第2のコンパレータにより生成された第2の論理信号に演算処理を行い、正負又はHi/Loの信号をsin部として出力する。
変換部400は、検出した電流波形を全波整流部300により全波整流して、全波整流した電流波形を連続型ΔΣADCにより量子化変換を行う。連続型ΔΣADC変換は、基準カウント値となる半波期間の基準CLKパルスのCLK数と連続型ΔΣADCのカウント数の結果の比率により算出する。なお、連続型ΔΣADCでは、測定した電流値を量子化変換しており、これを半波期間でカウントすることで電流波形の平均値が得られる。この電流波形の平均値に係数(CTセンサ部の倍率やRMS化等)をかけることで、各電流値を求めることが可能となる。また別途電圧値を測定し、求めた電流値を掛けることで各電力値を求める事が可能となる。なお、これらの測定は半波期間毎に測定結果を得ることができ、且つ、半波期間内の平均値測定となっているため、高調波ノイズのキャンセル効果が高く、安定した結果を得ることができる。
入力電流値Iと位相変換を行った電流値Icosθ及びIsinθのカウント値は、基準カウント値との比率で測定結果を求めるので、入力される交流波形の周波数が異なっても(50Hzでも60Hzでも)自動的に正確な結果を得ることができる。よって、周波数による切替や合わせ込みは不要で、周波数変動に強いため、精度が良くレスポンスの良い出力ができるとともに、内部周波数発生器の個体差バラツキ、温度変化、劣化による周波数変動が自動的に補正されるため、精度の高い発生器や比較基準、合わせ込みを必要とせずに、より安価で高精度な製品を作製することができる。
測定部40は、信号生成装置30のパラメータ設定部33により設定したパラメータの指示に従って、量子化出力部37のカウントを行うことで、所望の種類の電流値の平均値を得ることができる。所望の種類の電流値としては、交流電流値測定があり、入力電流I[A]、有効電流Ir=Icosθ[A]、無効電流IL−IC=Isinθ[A]を求めることができ、上述した交流電流値測定を行なったものに電圧測定値を掛けて、交流電力測定として、皮相電力S=VI[VA]、有効電力P=VIcosθ[W]、無効電力Q=VIsinθ[Var]を求めることができ、漏洩電流測定として、合成漏洩電流I[A]、単相抵抗成分漏洩電流Igr(Ir)=Icosθ[A]、単相容量成分漏洩電流Igc(Ic)=Isinθ[A]、三相Δ結線抵抗成分漏洩電流Igr(Ir)=Isinθ/cos30°[A]がある。
判定部50は、測定部40により求めた値と、基準CLKパルスのカウント数の比率にて設定した閾値とを比較している。I値とIsinθ値又はIcosθ値の2つの値について、設定閾値を超えるか比較判断を行う装置を設けてもよい。比較判断を行う装置は、Isinθ又はIcosθ値による漏電検知を行う機能を想定したものであると共に、I値が測定可能範囲を超えてしまうとIsinθ値又はIcosθ値が正しい検出されない。そのため、比較判断の装置は、I値の閾値判定をI値が測定可能範囲判断として用いるものとし、漏電遮断器ではIgr値判定とは別の異常I値として判定し、この判定した結果をレンジの切り替えで判断する。
検知判断方法としては、測定部により求めたカウント値と、基準CLKパルスのカウント数の比率にて設定した閾値と比較して判断するが、基準CLKパルスのカウント数を分割した(1/2や1/4等の)カウント値を閾値とすることにより、内部周波数発生器の個体差バラツキ、温度変化、劣化による周波数変動が自動的に補正されるため、精度の高い発生器や比較基準、合わせ込みを必要とせずに、精度が良い検知判断が可能な、より安価で高精度な製品を作製することができる。
以上説明したように、本発明の実施形態に係る漏電検出装置の信号生成装置30は、被測定電路の電圧波形及び電流波形それぞれを第1及び第2のコンパレータを介して論理信号を生成して、パラメータを設定するとともに、電流波形を全波整流し、全波整流した電流波形を連続型ΔΣADCにより量子化変換し、設定したパラメータ及び量子化変換を行った量子化値のカウントを行うことによって所望の測定値を求め、測定値と基準値を比較することで漏電を検知することによって、高速で測定、判定することができ、回路規模を小形にできるため、漏電遮断器に用いることができるとともに、電流測定器及び電力測定器で用いることで、高速で入力電流、位相差変換を加えた有効電流、無効電流の測定ができ、高精度な安価なものを製造することができる。
次に、上述した本発明の実施形態に係る漏洩検出装置1の信号生成装置30により行う被測定電路から検出した半波期間毎の電圧波形及び半波期間毎の電流波形に基づく、信号生成方法について、図3乃至図8を参照して説明する。
図3(a)は、本発明の実施形態に係る信号生成装置に入力される電圧波形及び電圧波形に基づいて変換したパラメータを示す図であり、(b)は、本発明の実施形態に係る信号生成装置に入力される電流波形及び電流波形に基づいて変換したパラメータを示す図である。
図3(a)及び(b)に示した「a」を0〜90°、90°〜180°とし、「b」を180°〜270°、270°〜360°とする。さらに、前の半波期間の波形−180°〜−90°、−90°〜0とする。なお、前の半波期間の波形は予め記憶部(図示せず)に記憶させてもよい。
図3(a)は、被測定電路から検出した入力電圧波形を示し、入力電圧波形に基づいて、第1のコンパレータ100により設定されるV_PN出力及び位相変換部500により設定されるV_90出力のHi/Loのパラメータを設定する。
図3(a)においては、電圧波形検出部10により被測定電路から検出した正弦波の入力電圧波形、入力電圧波形を第1のコンパレータ100を介してHi/Lo(+/−)の論理信号を生成し、生成した論理信号に基づいて半波期間毎に論理信号の変化時におけるゼロクロス点を生成するV_Palse出力、入力電圧波形を第1のコンパレータ100
を介してHi/Loの論理信号を生成し、生成した論理信号に基づいて半波期間毎にHi/Loを出力するV_PN出力、ゼロクロス生成部800により生成したゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において、第1の論理信号を反転させて、第1の論理信号の位相変換を行い設定するV_90出力を示す。
図3(b)は、電流波形検出部20により被測定電路から検出した入力電流波形を示し、入力電流波形に基づいて、I_PN出力のHi/Loのパラメータを設定する。
図3(b)においては、被測定電路から検出した正弦波の入力電流波形、入力電流波形を第2のコンパレータ200を介してHi/Lo(+/−)の論理信号を生成し、生成した論理信号に基づいて半波期間毎にHi/Loを出力するI_PN出力を示す。
図4は、図3(a)に示した入力電圧波形に基づいてV_PN出力及びV_90出力のHi/Loのパラメータ及び図3(b)に示した入力電流波形に基づいてI_PN出力のHi/Loのパラメータに論理計算を実行し、それぞれの求めたい値のカウント方法を示している。図4に示すように、半波期間毎にHi/Loのパラメータを設定し、設定したパラメータを用いてカウント方法(UP又はDOWN)を算出することによって容易に入力電流、合成漏洩電流、有効電流、単相抵抗成分漏洩電流、無効電流、単相容量成分漏洩電流、三相Δ結線抵抗成分漏洩電流を任意に求めることができる。
次に、上述した図3(a)及び(b)に示した電圧波形、電流波形に基づいてパラメータ設定方法及び図4に示すカウント方法を参照しつつ、入力電圧波形を基準とした入力電流波形の位相角が0°、45°、60°、90°である場合のパラメータ設定方法、及び設定したパラメータに基づいてI、Icosθ及びIsinθのカウント値をそれぞれ求めた結果について図5〜図8を参照して説明する。なお、図5〜図8については、図3(a)、図3(b)及び図4で説明した内容と重複する説明は省略する。
図5は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。図5に示すパラメータ設定方法は、基準となる入力電圧波形、点線が被測定電路から検出した入力電流波形であり、実線が被測定電路から検出し、全波整流を行った入力電流波形である。
図5では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が0°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図5に示すように、Iは、全波整流を行った電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が0°であったため、求める面積が1となり、Isinθは、位相角が0°であったため、求める面積が0となる。
図6は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。図6に示すパラメータ設定方法は、基準となる入力電圧波形、点線が被測定電路から検出した入力電流波形であり、実線が被測定電路から検出し、全波整流を行った入力電流波形である。
図6では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が45°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図6に示すように、Iは、全波整流を行った電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が45°であったため、求める面積が0.7となり、Isinθは、位相角が45°であったため、求める面積が0.7となる。
図7は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。図7に示すパラメータ設定方法は、基準となる入力電圧波形、点線が被測定電路から検出した入力電流波形であり、実線が被測定電路から検出し、全波整流を行った入力電流波形である。
図7では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が60°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図7に示すように、Iは、全波整流を行った電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が60°であったため、求める面積が0.5となり、Isinθは、位相角が60°であったため、求める面積が0.9となる。
図8は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。図8に示すパラメータ設定方法は、基準となる入力電圧波形、点線が被測定電路から検出した入力電流波形であり、実線が被測定電路から検出し、全波整流を行った入力電流波形である。
図8では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が90°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図8に示すように、Iは、全波整流を行った電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が90°であったため、求める面積が0となり、Isinθは、位相角が90°であったため、求める面積が1となる。
以上説明したように、本発明の実施形態に係る信号生成方法は、被測定電路の電圧波形及び電流波形それぞれを半波期間毎に第1及び第2のコンパレータを介して論理信号を生成して、パラメータを設定するとともに、電流波形を全波整流し、全波整流した電流波形を連続型ΔΣADCにより量子化変換し、量子化変換した量子化値のカウントを行うことによって、高速で測定、判定することができ、回路規模を小形にできるため、漏電遮断器に用いることができるとともに、電流測定器及び電力測定器で用いることで、高速で入力電流、位相差変換を加えた有効電流、無効電流の測定ができ、高精度な安価なものを製造することができる。
次に、上述した本発明の実施形態に係る漏洩検出装置1の信号生成装置30により行う被測定電路から検出した1周期毎の電圧波形及び1周期毎の電流波形に基づく、信号生成方法について、図9乃至図13を参照して説明する。ここで、1周期毎の信号生成方法は、全波整流変換時の誤差や入力電流波形に加わる直流成分オフセットのキャンセル等の半波期間毎の信号生成方法よりも精度向上を図ったものである。
図9は、図10〜図13に示した入力電圧波形に基づいてV_PN出力及びV_90出力のHi/Loのパラメータ、入力電流波形に基づいてI_PN出力のHi/Loのパラメータに論理計算を実行し、それぞれの求めたい値のカウント方法を示している。図9に示すように、1周期期間毎にHi/Loのパラメータを設定し、設定したパラメータを用いてカウント方法(UP又はDOWN)を算出することによって容易に入力電流、合成漏洩電流、有効電流、単相抵抗成分漏洩電流、無効電流、単相容量成分漏洩電流、三相Δ結線抵抗成分漏洩電流を任意に求めることができる。
次に、上述した図3(a)及び(b)に示した電圧波形、電流波形に基づいてパラメータ設定方法及び図9に示すカウント方法を参照しつつ、入力電圧波形を基準とした入力電流波形の位相角が0°、45°、60°、90°である場合のパラメータ設定方法、及び設定したパラメータに基づいてI、Icosθ及びIsinθのカウント値をそれぞれ求めた結果について図10〜図13を参照して説明する。なお、図10〜図13については、パラメータを設定する入力電圧波形及び入力電流波形が1周期ごとの場合について説明する。
図10は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。図9に示すパラメータ設定方法は、入力電圧波形及び入力電流波形に基づき設定している。
図10では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が0°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図10に示すように、Iは、1周期の電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が0°であったため、求める面積が1となり、Isinθは、位相角が0°であったため、求める面積が0となる。
図11は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。
図11では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が45°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図11に示すように、Iは、1周期の電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が45°であったため、求める面積が0.7となり、Isinθは、位相角が45°であったため、求める面積が0.7となる。
図12は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。
図12では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が60°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図12に示すように、Iは、1周期の電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が60°であったため、求める面積が0.5となり、Isinθは、位相角が60°であったため、求める面積が0.9となる。
図13は、本発明の実施形態に係る電圧波形及び電流波形、電圧波形及び電流波形それぞれに基づくパラメータ設定方法の一例を示す図である。
図13では、入力電圧波形を基準にした場合の入力電流波形の位相角が90°のときを示す。なお、入力電圧波形及び入力電流波形のパラメータ設定方法について、図3(a)及び(b)を参照して説明したため、ここでの説明は省略する。入力電圧波形及び入力電流波形に基づいて設定したパラメータに論理計算を実行し、I、Icosθ及びIsinθを求めた。
図13に示すように、Iは、1周期の電流波形であり、求める面積は1となる。Icosθは、位相角が90°であったため、求める面積が0となり、Isinθは、位相角が90°であったため、求める面積が1となる。
以上説明したように、本発明の実施形態に係る信号生成方法は、被測定電路の電圧波形及び電流波形それぞれを1周期ごとに第1及び第2のコンパレータを介して論理信号を生成して、パラメータを設定するとともに、電流波形を連続型ΔΣADCにより量子化変換し、量子化変換した量子化値のカウントを行うことによって、高速で測定、判定することができ、回路規模を小形にできるため、漏電遮断器に用いることができるとともに、電流測定器及び電力測定器で用いることで、高速で入力電流、位相差変換を加えた有効電流、無効電流の測定ができ、高精度な安価なものを製造することができる。
1…漏電検出装置、10…電圧波形検出部、20…電流波形検出部、30…信号生成装置、33…パラメータ出力部、35…信号生成部、37…量子化出力部、40…測定部、50…判定部、100…第1のコンパレータ、200…第2のコンパレータ、300…全波整流部、400…変換部、500…位相変換部、600…第1のカウント値算出部、700…第2のカウント値算出部、800…ゼロクロス生成部。

Claims (4)

  1. 被測定電路において検出された電圧波形が入力され、前記電圧波形の正負の極性に応じた第1の論理信号を生成する第1のコンパレータと、
    前記被測定電路において検出された電流波形が入力され、前記電流波形の正負の極性に応じた第2の論理信号を生成する第2のコンパレータと、
    前記第1の論理信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第3の論理信号を出力する第1の演算部と、
    前記第1の論理信号の変化時にゼロクロス検出部によりゼロクロス点を生成し、生成した前記ゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において前記第1の論理信号を反転することで、前記第1の論理信号の位相変換をして位相変換信号を生成する位相変換部と、
    前記位相変換信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第4の論理信号を出力する第2の演算部と、
    検出された前記電流波形を全波整流する全波整流部と、
    前記全波整流部により全波整流された前記電流波形を連続型ΔΣADCを用いて量子化変換して得られる当該電流波形の所定期間の電流波形の平均値に対応する量子化値を、前記所定期間の基準CLKパルスのCLK数に対する、前記連続型ΔΣADCの出力を前記基準CLKパルスに基づいて前記所定期間にわたってカウントしたカウント数の比率として出力する変換部と、
    を備え、
    前記ゼロクロス検出部により生成される前記次のゼロクロス点からさらに次のゼロクロス点までの半波期間において出力される前記量子化値をカウントして得られる電流Iに対応するIカウント値、前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第3の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Icosθに対応するIcosカウント値、および前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第4の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Isinθに対応するIsinカウント値を出力する測定部に、前記第3の論理信号、前記第4の論理信号および前記量子化値が出力されることを特徴とする信号生成装置。
  2. 請求項1に記載の信号生成装置と、
    前記測定部と、
    を備えることを特徴とする測定装置。
  3. 請求項2に記載の測定装置と、
    前記測定部から出力された値に基づいて、前記被測定電路における漏電を検出する判定部と、
    を備えることを特徴とする漏電検出装置。
  4. 被測定電路において検出された電圧波形の正負の極性に応じた第1の論理信号を生成し、
    前記被測定電路において検出された電流波形の正負の極性に応じた第2の論理信号を生成し、
    前記第1の論理信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第3の論理信号を出力し、
    前記第1の論理信号の変化時にゼロクロス検出部によりゼロクロス点を生成し、生成した前記ゼロクロス点間の時間を記憶し、次のゼロクロス点からの時間が、記憶した時間の半分以下である期間において前記第1の論理信号を反転することで、前記第1の論理信号の位相変換をして位相変換信号を生成し、
    前記位相変換信号と前記第2の論理信号との排他的論理和に応じた第4の論理信号を出力し、
    検出された前記電流波形を全波整流し、
    全波整流された前記電流波形を連続型ΔΣADCを用いて量子化変換して得られる当該電流波形の所定期間の電流波形の平均値に対応する量子化値を、前記所定期間の基準CLKパルスのCLK数に対する、前記連続型ΔΣADCの出力を前記基準CLKパルスに基づいて前記所定期間にわたってカウントしたカウント数の比率として出力することを含み、
    前記ゼロクロス検出部により生成される前記次のゼロクロス点からさらに次のゼロクロス点までの半波期間において出力される前記量子化値をカウントして得られる電流Iに対応するIカウント値、前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第3の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Icosθに対応するIcosカウント値、および前記半波期間において出力される前記量子化値を前記第4の論理信号に基づくカウント方法でカウントして得られる電流Isinθに対応するIsinカウント値を出力する測定部に、前記第3の論理信号、前記第4の論理信号および前記量子化値が出力されることを特徴とする信号生成方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9878094B2 (en) 2006-11-21 2018-01-30 Stoco 10 GmbH Medicament delivery device, capsule and in vivo medicine delivery or diagnostic system
CN116559520A (zh) * 2023-02-15 2023-08-08 海的电子科技(苏州)有限公司 电压信号检测方法、装置和存储介质

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI569131B (zh) * 2015-11-11 2017-02-01 環勝電子(深圳)有限公司 功率量測方法
WO2019117435A1 (ko) * 2017-12-12 2019-06-20 에이디파워 주식회사 3상 4선식 활선 절연 저항 측정용 영상 변류 장치, 및 활선 절연 저항 측정 장치
KR101955245B1 (ko) * 2018-05-31 2019-03-08 주식회사 써니아이씨 리액턴스형 누설전류에 의한 오동작을 개선할 수 있는 누설전류 검출용 집적회로 및 이 집적회로를 갖는 누전차단기

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08182180A (ja) * 1994-12-22 1996-07-12 Tempearl Ind Co Ltd 積分判定回路とそれを利用した抵抗成分漏電検知回路
WO2009002120A2 (en) * 2007-06-28 2008-12-31 Ll Co., Ltd. Measuring instrument for a resistive electric leakage current
JP2011015583A (ja) * 2009-07-06 2011-01-20 Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd 漏電検出方法、漏電検出装置及び漏電遮断器

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4558275A (en) * 1981-04-21 1985-12-10 The Superior Electric Company Line voltage monitor system
US4801874A (en) * 1987-02-27 1989-01-31 Process Systems, Inc. Method and apparatus for measuring electricity
GB2239097B (en) * 1989-12-18 1993-08-11 Gen Electric Co Plc Electrical power measuring devices
JPH0915879A (ja) 1995-06-26 1997-01-17 Ricoh Co Ltd 電子写真感光体
US6426634B1 (en) * 1999-03-29 2002-07-30 George A. Spencer Circuit breaker with integrated self-test enhancements
US6556397B2 (en) * 2000-05-12 2003-04-29 Human El-Tech, Inc. Device and method for detecting arc fault
TWI251210B (en) * 2004-04-06 2006-03-11 Mediatek Inc Method and apparatus for recovering RFZC signal to correct phase
US7437235B2 (en) * 2005-06-23 2008-10-14 Moroso Performance Products, Inc. Hall effect pick-up with timing correction
CN2847308Y (zh) * 2005-07-08 2006-12-13 河海大学常州校区 避雷器的泄漏电流检测仪的电路装置
US8233569B2 (en) * 2006-09-28 2012-07-31 Tektronix, Inc. Realtime spectrum trigger system on realtime oscilloscope
CN101162834A (zh) * 2007-11-16 2008-04-16 山东天齐置业集团股份有限公司 消声节电矢量型漏电检测方法及漏电保护器
KR101009595B1 (ko) * 2009-03-16 2011-01-20 윌전기공업(주) 비접지 직류전원계통의 접지누설전류 측정 장치 및 그 방법
EP2397864A1 (en) * 2010-06-18 2011-12-21 Nxp B.V. Electricity meter and method for determining a quantity
JP2012154855A (ja) 2011-01-27 2012-08-16 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 物理量測定装置及び物理量測定方法
KR101269757B1 (ko) * 2011-12-19 2013-05-30 엘에스산전 주식회사 다채널 누설전류 감시 시스템

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08182180A (ja) * 1994-12-22 1996-07-12 Tempearl Ind Co Ltd 積分判定回路とそれを利用した抵抗成分漏電検知回路
WO2009002120A2 (en) * 2007-06-28 2008-12-31 Ll Co., Ltd. Measuring instrument for a resistive electric leakage current
JP2011015583A (ja) * 2009-07-06 2011-01-20 Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd 漏電検出方法、漏電検出装置及び漏電遮断器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9878094B2 (en) 2006-11-21 2018-01-30 Stoco 10 GmbH Medicament delivery device, capsule and in vivo medicine delivery or diagnostic system
CN116559520A (zh) * 2023-02-15 2023-08-08 海的电子科技(苏州)有限公司 电压信号检测方法、装置和存储介质
CN116559520B (zh) * 2023-02-15 2023-10-17 海的电子科技(苏州)有限公司 电压信号检测方法、装置和存储介质

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