JP5208201B2 - 原子間力顕微鏡法のためのプローブ - Google Patents
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- 238000004630 atomic force microscopy Methods 0.000 title claims description 70
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 28
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 4
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004621 scanning probe microscopy Methods 0.000 description 2
- 102000004190 Enzymes Human genes 0.000 description 1
- 108090000790 Enzymes Proteins 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 210000000170 cell membrane Anatomy 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- NRNCYVBFPDDJNE-UHFFFAOYSA-N pemoline Chemical compound O1C(N)=NC(=O)C1C1=CC=CC=C1 NRNCYVBFPDDJNE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
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- G01Q20/04—Self-detecting probes, i.e. wherein the probe itself generates a signal representative of its position, e.g. piezoelectric gauge
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/08—Means for establishing or regulating a desired environmental condition within a sample chamber
- G01Q30/12—Fluid environment
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q60/00—Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
- G01Q60/24—AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Description
・プローブは、上記振動の体積モードにおいて上記微小機械共振器の振動を検出する手段も備えることができる。
・上記微小機械共振器の振動を検出する上記手段は静電容量センサ及び圧電センサから選択することができる。
・上記共振器の振動の体積モードを選択的に励起するための上記手段は静電容量アクチュエータ及び圧電アクチュエータから選択することができる。
・上記微小機械共振器は平面構造を呈することができ、上記振動の体積モードは、上記共振器の平面変形モードである。
・上記微小機械共振器は、0.01マイクロメートル(μm)〜10μmの範囲にあり、好ましくは0.05μm〜5μmの範囲にある厚みを呈することができる。
・上記微小機械共振器はディスク又はリングの形をとることができる。そのような状況下では、上記振動の体積モードは楕円モードとすることができる。
・上記微小機械共振器がディスク又はリングの形をとるとき、該微小機械共振器は0.1μm〜200μmの範囲にある外径を呈することができる。
・上記原子間力顕微鏡法のための先端部は、上記微小機械共振器の平面内で、該微小機械共振器の外形から延在することができる。
・上記一変形形態では、上記原子間力顕微鏡法のための先端部は、上記微小機械共振器の平面と角度を成すことができる。
・上記振動の体積モードは、10メガヘルツ(MHz)〜20ギガヘルツ(GHz)の範囲にあり、好ましくは50MHz〜2GHzの範囲にある、真空中の共振周波数を呈することができる。
・上記微小機械共振器は、上記振動の体積モードの場合に、103〜105の範囲にあり、好ましくは5×103〜5×104の範囲にある、真空中の品質係数を呈することができる。
・上記微小機械共振器は、上記振動の体積モードの場合に、102〜5×104の範囲にあり、好ましくは103〜104の範囲にある、水中の品質係数を呈することができる。
・上記振動の体積モードは、上記微小機械共振器の外形上に少なくとも1つの節点を呈することができ、共振器は、該共振器を支持構造に固定するための固定手段を呈することができ、該固定手段は上記節点と一致するように配置される。特に、プローブはビームの形をとる単一の固定手段を備えることができる。
・上記微小機械共振器は対称な構造を呈することができ、上記プローブは、先端部の慣性モーメントに概ね等しい慣性モーメントを有すると共に上記構造の対称性を保つように配置される少なくとも1つの釣合わせ構成要素を呈する。
・少なくとも上記微小機械共振器及び上記原子間力顕微鏡法のための先端部は一体に形成することができる。
・有利には、上記微小機械共振器、上記原子間力顕微鏡法のための先端部、上記静電センサ及び上記静電アクチュエータは一体に形成することができる。
・少なくとも上記微小機械共振器及び原子間力顕微鏡法のための先端部はシリコンから形成することができる。
・上記微小機械共振器は、該微小機械共振器ための支持構造を構成するビームの端部に配置することができる。
本発明は、先行する請求項のいずれか一項に記載のプローブを備える原子間力顕微鏡も提供する。
上述したプローブを、原子力間顕微鏡法のための先端部が、画像を形成するための表面に接近させるステップと、
励起するために設けられる手段を用いることによって上記プローブの微小機械共振器の振動の体積モードを選択的に励起するステップであって、該振動の体積モードは或る共振周波数を呈する、励起するステップと、
上記画像を形成する表面と上記原子間力顕微鏡法のための先端部との間に作用する力によって引き起こされるような上記振動の体積モードの共振周波数の変化を検出するステップとを含む、原子間力顕微鏡法の方法も提供する。
上述したプローブの、原子力間顕微鏡法のための先端部を、画像を形成するための表面に接近させるステップと、
励起するために設けられる手段を用いることによって上記プローブの微小機械共振器の振動の体積モードを選択的に励起するステップであって、該振動の体積モードは或る共振周波数を呈する、励起するステップと、
上記画像を形成する表面と上記原子間力顕微鏡法のための先端部との間に作用する力によって引き起こされるような上記振動の体積モードの振幅における変化を検出するステップとを含む、原子間力顕微鏡法の方法も提供する。
・J. Wang、Z. Ren及びC. T-C. Nguyen著「1.156-GHz self-aligned vibrating micromechanical disk resonator」(IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, Vol. 51, No. 12, pp. 1607-1628, December 2004)
・Y. Xie、S. S. Li、Z. Ren及びC. T-C. Nguyen著「UHF micromechanical extensional wine-glass mode ring resonators」(Technical Digest 2003, 2003 IEEE International Electron Devices Meeting, Washington D. C. (United States), December 8-10, 2003, pp. 953-956)、並びに
・Z. Hao, S. Pourkamali及びF. Ayazi著「VHF single-crystal silicon elliptic bulk-mode capacitive disk resonators - part I: Design and Modeling」(Journal of Microelectromechanical Systems, Vol. 13, No. 6, December 2004, pp. 1043-1053)。
Claims (25)
- 微小機械共振器(RMM)と、該共振器から突出する、原子間力顕微鏡法のための先端部(P1、P1’)とを備える、原子間力顕微鏡法のためのプローブ(SM’、SM’’)であって、
該プローブは、
前記共振器(RMM)の振動の体積モードを選択的に励起する手段(EL1)も備え、前記体積モードは、前記共振器の中立素分の1以上の平面に対して対称的である共振形状によって特徴付けられる振動モードであることを特徴とし、且つ
前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1、P1’)は、前記振動の体積モードの波腹点(PV1)と概ね一致して前記共振器から突出することを特徴とする、原子間力顕微鏡法のためのプローブ(SM’、SM’’)。 - 前記振動の体積モードにおいて前記微小機械共振器(RMM)の振動を検出する手段(EL2)も備える、請求項1に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器の振動を検出する前記手段(EL2)は、静電容量センサ及び圧電センサから選択される、請求項2に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記共振器の振動の体積モードを選択的に励起する前記手段(EL1)は、静電容量アクチュエータ及び圧電アクチュエータから選択される、請求項1〜3のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)は平面構造を呈し、前記振動の体積モードは、前記共振器の平面変形モードである、請求項1〜4のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)は、0.01μm〜10μmの範囲にあり、好ましくは0.05μm〜5μmの範囲にある厚みを呈する、請求項5に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)はディスク又はリングの形をとる、請求項5又は6に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記振動の体積モードは楕円モードである、請求項7に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記ディスク又はリングの形をとる微小機械共振器は、0.1μm〜200μmの範囲にある外径(Rex)を呈する、請求項7又は8に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1)は、前記微小機械共振器(RMM)の外形(C)に固定され、該微小機械共振器の平面内で延在する、請求項5〜9のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ(SM’)。
- 前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1’)は、前記微小機械共振器(RMM)の平面と角度を成す、請求項5〜9のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ(SM’’)。
- 前記振動の体積モードは、10MHz〜20GHzの範囲にあり、好ましくは50MHz〜2GHzの範囲にある、真空中の共振周波数を呈する、請求項1〜11のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)は、前記振動の体積モードの場合に、103〜105の範囲にあり、好ましくは5×103〜5×104の範囲にある、真空中の品質係数を呈する、請求項1〜12のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)は、前記振動の体積モードの場合に、102〜5×104の範囲にあり、好ましくは103〜104の範囲にある、水中の品質係数を呈する、請求項1〜13のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記振動の体積モードは、前記微小機械共振器(RMM)の前記外形(C)上に少なくとも1つの節点(PN1、PN2、PN3、PN4)を呈し、前記共振器は、該共振器を支持構造(STS)に固定する固定手段(LF1、LF2、LF3、LF4)を呈し、該固定手段は前記節点(PN1、PN2、PN3、PN4)と一致するように配置される、請求項1〜14のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記共振器を前記支持構造に固定している単一の固定手段を備え、前記固定手段はビームの形をとる、請求項15に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)は対称な構造を呈し、前記プローブは、前記先端部(P1)の慣性モーメントに概ね等しい慣性モーメントを有すると共に前記構造の対称性を保つように配置される少なくとも1つの釣合わせ構成要素(P2)を呈する、請求項1〜16のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 少なくとも前記微小機械共振器(RMM)及び前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1、P2)は一体に形成される、請求項1〜17のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)、前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1)、前記静電センサ(EL2)及び前記静電アクチュエータ(EL1)は一体に形成される、請求項3及び4に従属する場合の請求項18に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 少なくとも前記微小機械共振器(RMM)及び前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1)はシリコンから形成される、請求項1〜19のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 前記微小機械共振器(RMM)は、該微小機械共振器ための支持構造を構成するビーム(STS)の端部に配置される、請求項1〜20のいずれか一項に記載の原子間力顕微鏡法のためのプローブ。
- 請求項1〜21のいずれか一項に記載のプローブ(SM’、SM’’)を備える原子間力顕微鏡。
- 原子間力顕微鏡法の方法であって、該方法は、
請求項1〜21のいずれか一項に記載のプローブ(SM’、SM’’)の、原子力間顕微鏡法のための先端部(P1)を、画像を形成するための表面(SI)に接近させるステップと、
励起するために設けられる手段(EL1)を用いることによって前記プローブの微小機械共振器(RMM)の振動の体積モードを選択的に励起するステップであって、該振動の体積モードは或る共振周波数を呈する、励起するステップと、
前記画像を形成する表面(SI)と前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1)との間に作用する力によって引き起こされるような前記振動の体積モードの前記共振周波数における変化を検出するステップとを含む、原子間力顕微鏡法の方法。 - 原子間力顕微鏡法の方法であって、該方法は、
請求項1〜21のいずれか一項に記載のプローブ(SM’、SM’’)の、原子力間顕微鏡法のための先端部(P1)を、画像を形成するための表面(SI)に接近させるステップと、
励起するために設けられる手段(EL1)を用いることによって前記プローブの微小機械共振器(RMM)の振動の体積モードを選択的に励起するステップであって、該振動の体積モードは或る共振周波数を呈するステップと、
前記画像を形成する表面(SI)と前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1)との間に作用する力によって引き起こされるような前記振動の体積モードの振幅における前記変化を検出するステップとを含む、原子間力顕微鏡法の方法。 - 少なくとも前記画像を形成する表面(SI)及び前記原子間力顕微鏡法のための先端部(P1)は液状媒体に浸漬される、請求項23又は24に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR07/03161 | 2007-05-02 | ||
FR0703161A FR2915803B1 (fr) | 2007-05-02 | 2007-05-02 | Sonde pour microscopie a force atomique |
PCT/FR2008/000580 WO2008148951A1 (fr) | 2007-05-02 | 2008-04-23 | Sonde pour microscopie a force atomique |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010526284A JP2010526284A (ja) | 2010-07-29 |
JP5208201B2 true JP5208201B2 (ja) | 2013-06-12 |
Family
ID=38608839
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010504785A Active JP5208201B2 (ja) | 2007-05-02 | 2008-04-23 | 原子間力顕微鏡法のためのプローブ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8091143B2 (ja) |
EP (1) | EP2150799A1 (ja) |
JP (1) | JP5208201B2 (ja) |
FR (1) | FR2915803B1 (ja) |
WO (1) | WO2008148951A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2985251B1 (fr) | 2012-01-04 | 2016-09-30 | Agilent Technologies Inc | Systeme pour detecter des reponses d'un dispositif resonateur micro-electromecanique ( mems) |
WO2016138373A1 (en) | 2015-02-26 | 2016-09-01 | Xallent, LLC | Multiple integrated tips scanning probe microscope |
CN107636475A (zh) | 2015-02-26 | 2018-01-26 | 沙朗特有限责任公司 | 用于制造纳电子机械系统探针的系统和方法 |
FR3039280B1 (fr) | 2015-07-22 | 2019-05-17 | Vmicro S.A.S | Sonde pour microscopie a force atomique a faible encombrement et microscope a force atomique comprenant une telle sonde |
WO2017156245A1 (en) | 2016-03-09 | 2017-09-14 | Xallent, LLC | Functional prober chip |
FR3057958B1 (fr) | 2016-10-21 | 2021-02-26 | Vmicro | Sonde pour microscopie a force atomique miniaturisee et a faible encombrement |
WO2018187525A1 (en) | 2017-04-06 | 2018-10-11 | Kwame Amponsah | Nanoelectromechanical devices with metal-to-metal contacts |
WO2018222707A1 (en) * | 2017-05-30 | 2018-12-06 | Scuba Probe Technologies Llc | Atomic force microscope probes and methods of manufacturing probes |
US10663484B2 (en) | 2018-02-14 | 2020-05-26 | Xallent, LLC | Multiple integrated tips scanning probe microscope with pre-alignment components |
US12091313B2 (en) | 2019-08-26 | 2024-09-17 | The Research Foundation For The State University Of New York | Electrodynamically levitated actuator |
CN112630472B (zh) * | 2020-12-02 | 2022-03-01 | 东华大学 | 基于原子力显微镜的高精度样品旋转台装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0290647B1 (en) * | 1987-05-12 | 1991-07-24 | International Business Machines Corporation | Oscillating quartz atomic force microscope |
JP2001091441A (ja) * | 1999-07-16 | 2001-04-06 | Japan Science & Technology Corp | ナノメートルオーダの機械振動子、その製造方法及びそれを用いた測定装置 |
KR100421375B1 (ko) * | 2001-01-15 | 2004-03-09 | 제원호 | 고속 주사탐침 현미경용 고주파 진동 탐침 |
JP4190936B2 (ja) * | 2002-09-17 | 2008-12-03 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 走査型プローブ顕微鏡およびその操作法 |
JP4104431B2 (ja) * | 2002-11-12 | 2008-06-18 | オリンパス株式会社 | 走査装置及びこの走査装置を用いた走査型プローブ顕微鏡 |
KR100612595B1 (ko) * | 2004-01-05 | 2006-08-17 | 한국기계연구원 | 나노 압입 시험 기능을 갖는 afm 캔틸레버 |
US20070046397A1 (en) * | 2005-08-01 | 2007-03-01 | Purdue Research Foundation | Nonlinear internal resonance based micromechanical resonators |
US7726189B2 (en) * | 2005-08-01 | 2010-06-01 | Purdue Research Foundation | Nonlinear micromechanical resonator |
US7395698B2 (en) * | 2005-10-25 | 2008-07-08 | Georgia Institute Of Technology | Three-dimensional nanoscale metrology using FIRAT probe |
US7555940B2 (en) * | 2006-07-25 | 2009-07-07 | Veeco Instruments, Inc. | Cantilever free-decay measurement system with coherent averaging |
-
2007
- 2007-05-02 FR FR0703161A patent/FR2915803B1/fr active Active
-
2008
- 2008-04-23 JP JP2010504785A patent/JP5208201B2/ja active Active
- 2008-04-23 WO PCT/FR2008/000580 patent/WO2008148951A1/fr active Application Filing
- 2008-04-23 EP EP08805499A patent/EP2150799A1/fr not_active Withdrawn
- 2008-04-23 US US12/598,490 patent/US8091143B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2008148951A1 (fr) | 2008-12-11 |
EP2150799A1 (fr) | 2010-02-10 |
FR2915803B1 (fr) | 2012-06-08 |
US8091143B2 (en) | 2012-01-03 |
US20100205698A1 (en) | 2010-08-12 |
JP2010526284A (ja) | 2010-07-29 |
FR2915803A1 (fr) | 2008-11-07 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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