JP5205892B2 - 多結晶シリコン製造装置 - Google Patents
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Description
この電気抵抗値を小さく設定しておく場合、シリコン芯棒の高さを小さくする方法、太さを大きくする方法、電極間に配置されるシリコン芯棒の本数を少なくする方法があり、そのいずれでもよいし、これらを組み合わせてもよい。
反応炉の中心位置に加熱装置が設けられる場合は、反応炉の中心付近のシリコン芯棒から順次温度上昇することになり、また、反応炉の内周面付近に加熱装置が設けられる場合は、複数立設されているシリコン芯棒の外周位置のものから温度上昇することになる。
反応炉の内周面付近に加熱装置を設ける場合、反応炉の内周面の周方向の特定箇所の一箇所に配置してもよいし、反応炉の内周面に例えば等間隔で複数配置してもよい。複数の加熱装置を設ける場合は、各加熱装置の近くの電極間のシリコン芯棒の電池抵抗値を他のものより小さくするとよいが、必ずしも、全ての加熱装置の近くのシリコン芯棒の全てを小さいものとしなければならないわけではない。
図1は本発明が適用される多結晶シリコン製造装置の反応炉1の全体図であって、炉底を構成する基台2と、この基台2上に脱着自在に取り付けられた釣鐘形状のベルジャ3とを具備している。
各電極5は、カーボンからなるほぼ円柱状に形成され、基台2に垂直に立設されており、その軸心に沿って孔が形成され、その孔内に、シリコン芯棒4の下端部が挿入状態に取り付けられている。
これらシード組み立て体13は、図2に示すように、電極5が反応炉1の中心から同心円状に配置されていることにより、全体としてほぼ同心円状に配置されているが、必ずしも全てが同心状でなくてもよく、一部のシリコン芯棒が半径方向等に並んだものを含む構成としてもよい。
そして、この加熱装置21に最も近いシード組み立て体13のシリコン芯棒4、言い換えれば、各シリコン芯棒4のうち、図2及び図3にAで示す最も内周位置のシード組み立て体13におけるシリコン芯棒4は、それより外側に配置されている他のシード組み立て体13におけるシリコン芯棒4よりも高さが小さく設定されている。例えば、最内周位置のシリコン芯棒4の高さが200cmで、他のシリコン芯棒4の高さが220cmとされる。
なお、前記加熱装置21は、最内周位置のシリコン芯棒4の全長に輻射熱を照射できるように、シリコン芯棒4の全長に見合う高さに設定されている。
このとき、図2及び図3にAで示す加熱装置21に近い位置のシード組み立て体13におけるシリコン芯棒4は、他のシリコン芯棒4に比べて高さが小さいので、輻射熱によって速やかに温度上昇させられる。そして、このシリコン芯棒4が通電可能となる状態までに温度上昇すると、自身の電極5からの通電によって抵抗発熱状態となり、その熱が隣接する周囲のシリコン芯棒4に伝わって、これらシリコン芯棒4を加熱し、その伝熱現象が反応炉1の半径方向等に次々に伝播して、最終的に反応炉1内の全てのシリコン芯棒4が通電して発熱状態となる。これらシリコン芯棒4が原料ガスの分解温度にまで上昇することにより、噴出ノズル6から噴出した原料ガスがシリコン芯棒4の表面上に多結晶シリコンを析出するのである。
また、本実施形態では、最内周位置のシード組み立て体13以外の他のシード組み立て体13のシリコン芯棒4の高さをすべて同一の高さとしたが、これに限定されず、図4に示すように、加熱装置21から離れるに従ってシード組み立て体13のシリコン芯棒4の高さを段階的に高くするようにしても良い。この図4に示す多結晶シリコン製造装置においては、図2に示す例と同様に加熱装置21を中心として同心状に配置されている各シード組み立て体13において、一つの円上に並ぶシード組み立て体13毎にシリコン芯棒4の高さを変え、これを加熱装置21から半径方向の外側に向けて図4のA,B,Cで示す順に徐々に高くした構成である。
さらに、加熱装置としては、カーボンヒータ以外にも、赤外線照射型のフィラメントを有する加熱装置も適用できる。
また、いずれの実施形態においても、加熱装置の近傍位置のシリコン芯棒の高さを他のシリコン芯棒に比べて小さく設定したが、高さは他のシリコン芯棒と変えずに、太さを大きくする構成としてもよく、高さを小さくして太さを大きくした設定としてもよい。さらに、前記実施形態では、2本のシリコン芯棒を対にして電極間に設置したが、これらを複数対(例えば4本)で一組として電極間に直列接続状態に設置してもよく、その場合、加熱装置の近傍位置の電極間では一対(2本)のシリコン芯棒とし、他の電極間では二対(4本)のシリコン芯棒とすることにより、加熱装置近傍のシリコン芯棒を発熱し易い状態としてもよい。すなわち、加熱装置の近傍位置の電極間のシリコン芯棒を経由する電気抵抗値を他の電極間のシリコン芯棒を経由する電気抵抗値より小さく設定すればよい。例えば、加熱装置の近傍位置の電気抵抗値を他のものの電気抵抗値の0.7〜0.95倍程度にするとよい。
2 基台
3 ベルジャ
4 シリコン芯棒
5 電極
6 噴出ノズル
7 排気口
8 原料ガス供給源
9 排ガス処理系
12 連結部材
13 シード組み立て体
21 加熱装置
22 カーボンヒータ
23 電極
31 加熱装置
Claims (6)
- 反応炉の内底部に立設された複数本のシリコン芯棒の上端部が連結部材によって一対ずつ連結されるとともに、これら対をなすシリコン芯棒が反応炉の内底部の複数組の電極間に直列状態に複数本ずつ接続され、これら電極からシリコン芯棒に通電することにより該シリコン芯棒を発熱させて、その表面に多結晶シリコンを析出させる多結晶シリコン製造装置において、
前記反応炉の内部に輻射熱を放出する加熱装置が設けられ、
前記シリコン芯棒は、前記加熱装置に近い位置の電極間のシリコン芯棒を経由する電気抵抗値がこれより遠い位置の電極間のシリコン芯棒を経由する電気抵抗値よりも小さく設定されており、
前記加熱装置に近い位置の電極間のシリコン芯棒を経由する電気抵抗値が、これより遠い位置の電極間のシリコン芯棒を経由する電気抵抗値の0.7〜0.95倍とされていることを特徴とする多結晶シリコン製造装置。
- 前記加熱装置に近い位置の電極間に配置されているシリコン芯棒の高さがこれより遠い位置の電極間に配置されているシリコン芯棒の高さよりも小さく設定されていることを特徴とする請求項1記載の多結晶シリコン製造装置。
- 前記加熱装置に近い位置の電極間に配置されているシリコン芯棒の太さがこれより遠い位置の電極間に配置されているシリコン芯棒の太さよりも大きく設定されていることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の多結晶シリコン製造装置。
- 前記加熱装置に近い位置の電極間に配置されているシリコン芯棒の本数がこれより遠い位置の電極間に配置されているシリコン芯棒の本数よりも少なく設定されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の多結晶シリコン製造装置。
- 前記加熱装置は、反応炉の中心位置に設けられていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の多結晶シリコン製造装置。
- 前記加熱装置は、反応炉の内周面付近に設けられていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の多結晶シリコン製造装置。
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