JP5190459B2 - 切替装置及び試験装置 - Google Patents

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Description

本発明は、切替装置及び試験装置に関する。なお、本出願は、下記の米国特許出願に関連する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の一部とする。
1.米国特許出願11/863,278 出願日 2007年09月28日
入力端子および出力端子の間に設けられた複数の伝送線路を備えており、制御信号によりその中から指定された1つの伝送線路を選択して信号を伝送する切替装置が知られている。切替装置は、選択した伝送線路を入力端子および出力端子の間に接続する。複数の伝送線路とは、例えば、信号の減衰量が異なる複数の伝送線路であってもよい。これにより、切替装置は、入力信号を減衰させて出力するか否か、及び/又は、入力信号を減衰する減衰量を選択することができる。そのような切替装置は、例えば、被試験デバイスの特性を試験する試験装置において、被試験デバイスに供給する試験信号を所定の振幅に減衰させるか否か等を切替えて出力する場合に用いることができる。
なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。
複数の伝送線路のうちから選択された一の伝送線路を入力端子および出力端子の間に接続する場合、切替装置は、他の伝送線路を入力端子および出力端子から切り離す。その場合に、例えば、切替装置において、切り離されている側のスイッチに加わる信号が、容量性結合により制御配線へと伝わる等によりノイズとなって制御配線を伝播されることがある。このようなノイズは、制御配線上を伝播されて出力側のスイッチに達して、そこで再度、容量性結合によって出力信号に重畳される場合がある。このような場合には、試験信号を精度よく伝送することが困難となり、被試験デバイスを精度よく試験すること、または被試験デバイスの特性を精度よく測定することが困難となる。
そこで本発明の1つの側面においては、上記の課題を解決することのできる切替装置及び試験装置を提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
本発明の第1の態様によると、入力端子および出力端子の間に、複数の伝送線路のうち指定された伝送線路を接続する切替装置であって、前記複数の伝送線路に対応して設けられ、制御信号に応じて対応する前記伝送線路の一端と前記入力端子との間の接続状態をそれぞれ切り替える複数の入力側シリーズスイッチと、前記複数の伝送線路に対応して設けられ、制御信号に応じて対応する前記伝送線路の他端と前記出力端子との間の接続状態をそれぞれ切り替える複数の出力側シリーズスイッチと、前記複数の伝送線路に対応して設けられ、当該伝送線路に対応する前記入力側シリーズスイッチおよび前記出力側シリーズスイッチに制御信号をそれぞれ供給する複数の制御配線と、少なくとも1つの前記制御配線上における前記入力側シリーズスイッチおよび前記出力側シリーズスイッチの間に設けられ、前記入力側シリーズスイッチから前記制御配線を介して前記出力側シリーズスイッチへと伝播するノイズを低減するノイズ除去部と、を備える切替装置、並びに、当該切替装置を備える試験装置を提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
図1は、一つの実施形態に係る、切替装置1の概略の構成例を示す。 図2は、図1に示した切替装置1の詳細な構成例を示す。 図3は、一つの実施形態に係る試験装置100の概略の構成例を示す。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、一つの実施形態に係る切替装置1の概略構成の一例を示す。本実施形態に係る切替装置1は、スイッチを制御する制御配線を通じて入力側から出力側へとノイズが伝播するのを抑える。
切替装置1は、入力端子11および出力端子12の間を、第1伝送線路41a、第2伝送線路41bのうち指定された伝送線路により接続する。切替装置1は、第1入力側シリーズスイッチ21a、第2入力側シリーズスイッチ21bと、第1出力側シリーズスイッチ31a、第2出力側シリーズスイッチ31bと、第1制御配線53a、第2制御配線53b、第1入力側ノイズ除去部51a、第1出力側ノイズ除去部51b、第2入力側ノイズ除去部51c、第2出力側ノイズ除去部51dとを備える。
入力端子11は、切替装置1により出力側に伝播させるべき入力信号110を外部から受け取る。入力信号110は、例えば、無線装置を試験する試験装置に用いられる試験信号等であってもよい。出力端子12は、入力端子11から入力されて切替装置1において指定された伝送経路を通過した信号を外部に出力する。
第1伝送線路41aおよび第2伝送線路41bは、入力端子11および出力端子12の間に並列に設けられる。第1伝送線路41aおよび第2伝送線路41bは、入力信号110を、それぞれ異なる減衰量で減衰して、出力端子12に伝播させる。
第1伝送線路41aは、例えば入力端子11および出力端子12を電気的に接続する線路であってよい。すなわち第1伝送線路41aは、伝播される第1伝送信号141aを入力端子と出力端子の間で減衰させない線路(減衰量がほぼ0dBである線路)であってもよい。また、他の例では、第1伝送線路41aは、他の伝送線路と異なる減衰量の減衰器を線路上に有してよい。
第2伝送線路41bは、入力端子11および出力端子12の間に、所定の減衰量の減衰器43を有する線路であってよい。ここで、第2伝送線路41bは、伝播される第2伝送信号141bを第1伝送線路41aより大きい減衰量で減衰させる線路であってよい。より具体的には第2伝送線路41bは、伝播される第2伝送信号141bの信号レベルを、減衰器43により、例えば予め仕様に定められた減衰量だけ減衰させてよい。
第1制御入力部15aは、切替装置1の切替を制御する制御装置から第1制御信号201aを入力する。第1制御信号201aは、第1入力側シリーズスイッチ21aと、第1出力側シリーズスイッチ31aとを、略同一のタイミングで、且つ、同じON/OFF状態になるように制御する。同様に第2制御信号201bは、第2入力側シリーズスイッチ21bと、第2出力側シリーズスイッチ31bとを、略同一のタイミングで、且つ、同じON/OFF状態になるように制御する。
また、第1制御信号201aと第2制御信号201bは、第1入力側シリーズスイッチ21aと第2入力側シリーズスイッチ21bの一方をオン状態にして、他方がオフ状態となるように入力される。例えば、第1入力側シリーズスイッチ21aと第2入力側シリーズスイッチ21bが同一チャネル型のトランジスタである場合、第2制御信号201bは、第1制御信号201aを反転させた信号となる。
第1制御配線53aは、第1伝送線路41aに対応して設けられる。第1制御配線53aは、第1伝送線路41aに対応する第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aに接続されており、これらのスイッチに第1制御信号201aを供給する。第2制御配線53bは、第2伝送線路41bに対応して設けられる。第2制御配線53bは、第2伝送線路41bに対応する第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2出力側シリーズスイッチ31bに接続されており、これらのスイッチに第2制御信号201bを供給する。
第1入力側シリーズスイッチ21aと第2入力側シリーズスイッチ21bは、第1伝送線路41aの始端と第2伝送線路41bの始端との間に入力端子11を挟んで直列に設けられる。第1入力側シリーズスイッチ21aと第2入力側シリーズスイッチ21bは、入力信号110を第1伝送線路41aに入力させるか、あるいは、第2伝送線路41bに入力させるかを、第1制御信号201aと第2制御信号201bに応じて排他的に切り替える。
第1入力側シリーズスイッチ21aは、第1伝送線路41aに対応して設けられる。第1入力側シリーズスイッチ21aは、第1制御信号201aに応じて対応する第1伝送線路41aの一端と入力端子11との間の接続状態を切り替える。より具体的に第1入力側シリーズスイッチ21aは、第1伝送線路41aを入力端子11に接続しない場合に、OFF状態とされる。その場合でも、第1入力側シリーズスイッチ21aにおける入力端子11側の端部には、入力信号110が加わる。その入力信号110は、第1入力側シリーズスイッチ21aにおけるゲート及びソース・ドレイン間において例えば容量性で結合して、第1制御配線53a側の端部に漏れることがある。この結果、第1制御配線53aには、漏れた入力信号110が第2入力側伝送ノイズ181bとして流入しうる。
第2入力側シリーズスイッチ21bは、第2伝送線路41bに対応して設けられ、第2制御信号201bに応じて対応する第2伝送線路41bの一端と入力端子11との間の接続状態を切り替える。より具体的に第2入力側シリーズスイッチ21bは、第2伝送線路41bを入力端子11に接続しない場合に、OFF状態とされる。その場合でも、第2入力側シリーズスイッチ21bにおける入力端子11側の端部には、入力信号110が加わる。その入力信号110は、第2入力側シリーズスイッチ21bにおけるゲート及びソース・ドレイン間において例えば容量性で結合して、第2制御配線53b側の端部に漏れることがある。この結果、第2制御配線53bには、漏れた入力信号110が第1入力側伝送ノイズ181aとして流入しうる。
第1出力側シリーズスイッチ31aと第2出力側シリーズスイッチ31bは、第1伝送線路41aの終端と第2伝送線路41bの終端との間に出力端子12を挟んで直列に設けられる。第1出力側シリーズスイッチ31aと第2出力側シリーズスイッチ31bは、第1伝送信号141aを出力信号120として出力させるか、あるいは、第2伝送信号141bを出力信号120として出力させるかを、第1制御信号201aと第2制御信号201bに応じて排他的に切り替える。
第1出力側シリーズスイッチ31aは、第1伝送線路41aに対応して設けられ、第1制御信号201aに応じて対応する第1伝送線路41aの他端と出力端子12との間の接続状態を切り替える。第1出力側シリーズスイッチ31aは、第1伝送線路41aを出力端子12に接続しない場合に、OFF状態とされる。
第2出力側シリーズスイッチ31bは、第2伝送線路41bに対応して設けられ、第2制御信号201bに応じて対応する第2伝送線路41bの他端と出力端子12との間の接続状態を切り替える。第2出力側シリーズスイッチ31bは、第2伝送線路41bを出力端子12に接続しない場合に、OFF状態とされる。
第1入力側シリーズスイッチ21a、第2入力側シリーズスイッチ21b、第1出力側シリーズスイッチ31a、および第2出力側シリーズスイッチ31bは、FET(電界効果トランジスタ:例えばMOSFET)等の半導体スイッチであってもよく、HEMT(高電子移動度トランジスタ)またはピンダイオードを用いてもよい。なお、本実施形態では、各スイッチが同一チャネルのトランジスタの場合について説明するが、各スイッチが異なるチャネルのトランジスタを用いても同様の構成で切替装置を実現できる。
第1入力側ノイズ除去部51aと第1出力側ノイズ除去部51bは、第1制御配線53a上における第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aの間に第1制御入力部15aを挟んで設けられ、ノイズ除去部として機能する。第1入力側ノイズ除去部51aと第1出力側ノイズ除去部51bは、第1入力側シリーズスイッチ21aから第1制御配線53aを介して第1出力側シリーズスイッチ31aへと伝播するノイズを低減する。
第1入力側ノイズ除去部51a及び第1出力側ノイズ除去部51bは、第1制御配線53aに流入した第2入力側伝送ノイズ181bを低減又は除去する。これにより、第1入力側ノイズ除去部51a及び第1出力側ノイズ除去部51bは、第2入力側伝送ノイズ181bが第1制御配線53aを介して第1出力側シリーズスイッチ31aのゲートに到達して、容量性結合により出力端子12へと出力されることを防ぐことができる。第1入力側ノイズ除去部51a及び第1出力側ノイズ除去部51bは、抵抗又は高周波ノイズを除去するローパスフィルタ等であってもよい。
第2入力側ノイズ除去部51cと第2出力側ノイズ除去部51dは、第2制御配線53b上における第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2出力側シリーズスイッチ31bの間に第2制御入力部15bを挟んで設けられ、ノイズ除去部として機能する。第2入力側ノイズ除去部51cと第2出力側ノイズ除去部51dは、第2入力側シリーズスイッチ21bから第2制御配線53bを介して第2出力側シリーズスイッチ31bへと伝播するノイズを低減する。
第2入力側ノイズ除去部51c及び第2出力側ノイズ除去部51dは、第2制御配線53bに流入した高周波の第1入力側伝送ノイズ181aを低減又は除去する。これにより、第2入力側ノイズ除去部51c及び第2出力側ノイズ除去部51dは、第1入力側伝送ノイズ181aが第2制御配線53bを介して第2出力側シリーズスイッチ31bのゲートに到達して、容量性結合により出力端子12へと出力されることを防ぐことができる。第2入力側ノイズ除去部51c及び第2出力側ノイズ除去部51dも、抵抗又は高周波ノイズを除去するローパスフィルタ等であってもよい。
このように切替装置1は、各ノイズ除去部51a乃至51dにより、入力端子11からの入力信号110が第1制御配線53aまたは第2制御配線53bに漏れることで発生したノイズを除去することができる。したがって、切替装置1は、入力端子11からの入力信号110が第1制御配線53a、第2制御配線53bに漏れてノイズになり、出力端子12で出力信号に重畳されることを防ぐことができる。本実施形態の切替装置1は、さらに、入力端子11、出力端子12の入出力を逆にして用いることもでき、この場合には、出力端子12側から制御配線に漏れたノイズについても除去することができる。
図2は、図1に示した切替装置1の変形例を示す。図2に示した切替装置1では、図1に示した切替装置1と同様の機能・構成を有する部分について同じ符号を付与して、図1と重複する説明を省略する。
切替装置1は、第1制御入力部15aからそれぞれの半導体スイッチ(21a、22a、31a、32a)のゲート端子までの抵抗成分が略等しくなるように配置された抵抗及び配線を有してよい。また、切替装置1は、第2制御入力部15bからそれぞれの半導体スイッチ(21b、22b、22c、31b、32b、32c)のゲート端子までの抵抗成分が略等しくなるように配置された抵抗及び配線を有してよい。
本実施形態の切替装置1では、第1伝送線路41a、第2伝送線路41bは、互いに信号の減衰量が異なっている。第1伝送線路41aは、アッテネータを有していないので搬送される信号に対する減衰量が第2伝送線路41bよりも小さい。従って、第1伝送線路41aにより搬送される第1伝送信号141aの信号レベルは、第2伝送線路41bにより搬送される第2伝送信号141bの信号レベルよりも高い。
第1伝送線路41a及び第2伝送線路41bは、例えば、線路区間302乃至線路区間304及び線路区間308乃至線路区間309のような複数の線路区間により形成されてよい。第1伝送線路41a及び第2伝送線路41bにおいて、例えば、接続される各半導体スイッチのオフ時における線路区間302乃至線路区間304及び線路区間308乃至線路区間309の特性インピーダンスは略同一であってよい。その場合、各半導体スイッチは、第1伝送線路41a及び第2伝送線路41b上で略等間隔に配置されてよい。
減衰器43は、例えば、配線抵抗により形成した1段以上のπ型回路であってよく、一例として2段のπ型回路であってよい。減衰器43が2段のπ型回路を供える場合、1段目のπ型回路は、例えば第2伝送線路41bの線路上に設けられた抵抗R18と、抵抗R18の両端とグランドとの間に設けられた抵抗R17および抵抗R19を有する。2段目のπ型回路は、例えば第2伝送線路41bの線路上に設けられた抵抗R20と、抵抗R20の両端とグランドとの間に設けられた抵抗R19および抵抗R21を有する。本実施形態においては、抵抗R19が両π型回路で共有される。減衰器43の他の例としては、T型回路の減衰器であってよい。また、減衰器43の各抵抗は、可変抵抗であってもよい。
第2伝送線路41bの減衰量が大きいので、第2伝送信号141bの信号レベルは、第1伝送信号141aの信号レベルよりも低くなる。しかし、第1入力側伝送ノイズ181aのノイズレベルに対して第2入力側伝送ノイズ181bのノイズレベルは低くはならない。その結果、相対的に、第2伝送信号141bの信号レベルに対する第2入力側伝送ノイズ181bのノイズレベルは、第1伝送信号141aの信号レベルに対する第1入力側伝送ノイズ181aのノイズレベルよりも高くなる。このことから、第2制御配線53bに対するノイズと比較して、第1制御配線53aに対するノイズを低減させることが好ましい。
第1制御配線53aは、第1制御入力部15aに入力した第1制御信号201aを、上記した第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aに加えて、第1入力側シャントスイッチ22aおよび第1出力側シャントスイッチ32aにも搬送する。また、第2制御配線53bは、第2制御入力部15bに入力した第2制御信号201bを、上記した第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2出力側シリーズスイッチ31bに加えて、第2入力側シャントスイッチ22bおよび第2出力側シャントスイッチ32bにも搬送する。
第1制御信号201aは、第1入力側シリーズスイッチ21aと第1入力側シャントスイッチ22aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aおよび第1出力側シャントスイッチ32aの接続状態を共にON状態又はOFF状態に切替える。第2制御信号201bは、第2入力側シリーズスイッチ21bと第2入力側シャントスイッチ22bおよび第2出力側シリーズスイッチ31bおよび第2出力側シャントスイッチ32bの接続状態を共にON状態又はOFF状態に切替える。これにより、第1制御信号201aは、入力端子11および出力端子12を第1伝送線路41aと接続させる場合に、同時に第2伝送線路41bの両端をグランドと接続させる。同様に第2制御信号201bは、入力端子11および出力端子12を第2伝送線路41bと接続させる場合に、同時に第1伝送線路41aの両端をグランドと接続させる。
信号入力側の各スイッチ(21a、21b、22a、22b)は、スイッチ21a、21bが伝送線路に直列(シリーズ)に接続され、スイッチ22a、22b、が伝送線路に並列(シャント)に接続されることで、シリーズシャント型のスイッチを構成している。また、信号出力側の各スイッチ(31a、31b、32a、32b)も、スイッチ31a、31bが伝送線路に直列に接続され、スイッチ32a、32bが伝送線路に並列に接続されることで、シリーズシャント型のスイッチを構成している。各スイッチ(21a、21b、22a、22b、22c、31a、31b、32a、32b、32c)は、FET(電界効果トランジスタ:例えばMOSFET)等の半導体スイッチであってもよく、HEMT(高電子移動度トランジスタ)またはピンダイオードを用いてもよい。
第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aと、第1入力側シャントスイッチ22aおよび第1出力側シャントスイッチ32aは、第1伝送線路41aに対応して設けられる。また、第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2出力側シリーズスイッチ31bと、第2入力側シャントスイッチ22bおよび第2出力側シャントスイッチ32bとは、第2伝送線路41bに対応して設けられる。
第1入力側シリーズスイッチ21aは、例えばソース端子が第1伝送線路41aの始端に接続され、ドレイン端子が入力端子11に接続され、ゲート端子は第1制御配線53aが接続される。第1入力側シリーズスイッチ21aは、第1制御信号201aによりオン状態に制御されると、入力端子11からの入力信号110を第1伝送線路41aに入力させる。逆に第1制御信号201aによりオフ状態に制御されると、第1入力側シリーズスイッチ21aは、入力端子11からの入力信号110を第1伝送線路41aに入力させない。
第2入力側シリーズスイッチ21bは、例えばソース端子が第2伝送線路41bの始端に接続され、ドレイン端子が入力端子11に接続され、ゲート端子は第2制御配線53bが接続される。第2入力側シリーズスイッチ21bは、第2制御信号201bによりオン状態に制御されると、入力端子11からの入力信号110を第2伝送線路41bに入力させる。逆に第2制御信号201bによりオフ状態に制御されると、第2入力側シリーズスイッチ21bは、入力端子11からの入力信号110を第2伝送線路41bに入力させない。
第1出力側シリーズスイッチ31aは、例えばソース端子が第1伝送線路41aの終端に接続され、ドレイン端子が出力端子12に接続され、ゲート端子は第1制御配線53aが接続される。第1出力側シリーズスイッチ31aは、第1制御信号201aによりオン状態に制御されると、第1伝送線路41aからの第1伝送信号141a(入力信号110)を出力端子12に出力させる。逆に第1制御信号201aによりオフ状態に制御されると、第1出力側シリーズスイッチ31aは、第1伝送線路41aからの第1伝送信号141aを出力端子12に出力させない。
第2出力側シリーズスイッチ31bは、例えばソース端子が第2伝送線路41bの終端に接続され、ドレイン端子が出力端子12に接続され、ゲート端子は第2制御配線53bが接続される。第2出力側シリーズスイッチ31bは、第2制御信号201bによりオン状態に制御されると、第2伝送線路41bからの第2伝送信号141b(入力信号110)を出力端子12に出力させる。逆に第2制御信号201bによりオフ状態に制御されると、第2出力側シリーズスイッチ31bは第2伝送線路41bからの第2伝送信号141bを出力端子12に出力させない。
第1入力側シャントスイッチ22a、および第1出力側シャントスイッチ32aは、第1制御信号201aに応じて第2伝送線路41bの一端、及び他端、をグランドに接続するか否かの接続状態を切り替える。第2入力側シャントスイッチ22b、第2入力側シャントスイッチ22b、第2出力側シャントスイッチ32b、シャントスイッチ22c、およびシャントスイッチ32cは、第2制御信号201bに応じて第1伝送線路41aの一端をグランドに接続するか否かの接続状態を切り替える。
第2出力側シャントスイッチ32bは、第2制御信号201bに応じて第1伝送線路41aの一端、他端、及び、第1伝送線路41a上の各接点をグランドに接続するか否かの接続状態を切り替える。第2入力側シャントスイッチ22b、第2出力側シャントスイッチ32b、シャントスイッチ22c、およびシャントスイッチ32cは、第1伝送線路41aに、予め求められた各スイッチの容量成分に応じた間隔で配置されてよい。
上記のように本実施形態の切替装置1は、第1伝送線路41aと第2伝送線路41bとを切替える場合、入出力端子と接続されない方の伝送線路の両端をグランドに接続するので、入出力端子と接続されない方の伝送線路から当該制御配線に漏れるノイズを減少させることができる。
第1入力側ノイズ除去部51aは、対応する第1制御配線53a上における第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aの間に直列に接続された抵抗R15と、対応する第1制御配線53aとグランドとの間に設けられたキャパシタC2とを有する。ここで、キャパシタC2は、第1制御配線53aにおける第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aの中点より第1入力側シリーズスイッチ21aに近い接点に接続される。第1入力側ノイズ除去部51aは、ローパスフィルタとして機能することで、第2入力側伝送ノイズ181bを除去する。
第1出力側ノイズ除去部51bは、対応する第1制御配線53a上における第1入力側シリーズスイッチ21aおよび第1出力側シリーズスイッチ31aの間に直列に接続された抵抗R16と、対応する第1制御配線53aとグランドとの間に設けられたキャパシタC3とを有する。ここで、第2のキャパシタC3は、当該中点より第1出力側シリーズスイッチ31aに近い接点に接続される。第1出力側ノイズ除去部51bは、ローパスフィルタとして機能することで、第2出力側伝送ノイズ181dを除去する。
第1入力側ノイズ除去部51aおよび第1出力側ノイズ除去部51bは、第1制御配線53a上に分散配置され、各々個別に所定容量のキャパシタを備えているので、所定容量のキャパシタを1ヶ所に設ける場合に比べてノイズ除去能力が高くなる。ここで、抵抗R16、抵抗R16の値及びキャパシタC2、C3の容量は、例えば除去目的の周波数のノイズを除去できる値としてよい。一例として、抵抗R15及びR16は750Ωであり、キャパシタC2及びC3は、数pFであってもよい。
第2入力側ノイズ除去部51cは、対応する第2制御配線53b上における第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2入力側シャントスイッチ22bと、第2出力側シリーズスイッチ31bおよび第2出力側シャントスイッチ32bの間に直列に接続された抵抗R11、抵抗R13と、対応する第2制御配線53bとグランドとの間に設けられたキャパシタC1とを有する。第2入力側ノイズ除去部51cは、ローパスフィルタとして機能することで、第1入力側伝送ノイズ181aを除去する。一例として、抵抗R13は、750Ωであり、キャパシタC1は、例えば、2pF乃至5又は6pFであってもよい。
第2出力側ノイズ除去部51dは、対応する第2制御配線53b上における第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2入力側シャントスイッチ22bと、第2出力側シリーズスイッチ31bと第2出力側シャントスイッチ32bの間に直列に接続された抵抗R12、抵抗R14と、対応する第2制御配線53bとグランドとの間に設けられたキャパシタC1とを有する。第2出力側ノイズ除去部51dは、ローパスフィルタとして機能することで、第1出力側伝送ノイズ181cにおける高周波成分を除去する。一例として、抵抗R14は、750Ωであり、キャパシタC1は、2pF乃至5又は6pFであってもよい。キャパシタC1は、第2制御配線53bにおける第2入力側シリーズスイッチ21bおよび第2出力側シリーズスイッチ31bの中点、且つ、第2入力側シャントスイッチ22bおよび第2出力側シャントスイッチ32bの中点に接続される。
このように本実施形態の切替装置では、第1制御配線53aのノイズの除去能力を、第2制御配線53b側よりも向上させている。これにより、本実施形態の切替装置1は、第1伝送信号141aよりも信号レベルが低い第2伝送信号141bに対するノイズの影響を抑制することができる。
本実施形態の切替装置において、一の伝送路(第1伝送線路41a)に対応する第1制御配線53aに対して設けられた第1入力側ノイズ除去部51a、第1出力側ノイズ除去部51bのキャパシタC2、キャパシタC3の数は、当該一の伝送線路より減衰量が大きい他の伝送路(第2伝送線路41b)に対応する第2制御配線53bに対して設けられた第2入力側ノイズ除去部51c、第2出力側ノイズ除去部51dのキャパシタC1の数より多い。本実施形態の切替装置では、これにより、第1制御配線53aのノイズ除去能力を増強させ、例えば、減衰量が第1伝送線路41aよりも大きい第2伝送線路41bにおける、伝播される信号のS/N比を高くすることができる。
図3は、一つの実施形態に係る試験装置100の概略構成を示す。試験装置100は、被試験デバイス90を試験する試験装置であってもよい。試験装置100は、波形発生部71と、減衰部72と、供給部73と、サンプリング部74と、判定部75とを備える。
波形発生部71は、被試験デバイス90に供給するアナログの試験信号81を生成する。例えば、波形発生部71は、被試験デバイス90アナログの試験信号81を生成する。例えば被試験デバイス90のSパラメータ等の周波数特性を測定するネットワーク解析をする場合、波形発生部71は、所定の測定周波数範囲内で周波数を掃引するように、異なる周波数の試験信号81を順次生成してよい。
減衰部72は、波形発生部71が生成した試験信号81を受け取り、試験信号81を所定の減衰量で減衰させて、減衰試験信号82を出力する。減衰部72は、図1及び図2に関連して説明した切替装置1と同様な機能及び構成を有してよく、同様な構成のノイズ除去部を備えてよい。例えば、減衰部72は、波形発生部71が生成した試験信号81を入力端子11に受け取り、所定の減推量で減衰させてノイズ除去した減衰試験信号82を、出力端子12を介して供給部73に送出する。
また、減衰部72には、使用者等により、第1制御信号201aおよび第2制御信号201bが与えられてよい。また、使用者等から予め与えられる試験プログラムに応じて、波形発生部71等が第1制御信号201aおよび第2制御信号201bを、試験信号の発生に先立って生成してもよい。
供給部73は、減衰部72により減衰された減衰試験信号82を供給試験信号83として被試験デバイス90に供給する。例えば供給部73は、試験信号に応じて出力又は引き込むべき電流を生成するドライバであってよい。
サンプリング部74は、供給試験信号83に応じて被試験デバイス90が出力する応答信号84の波形をサンプリングする。また、サンプリング部74は、被試験デバイス90のネットワークを解析する場合、供給部73および被試験デバイス90との間に設けられる方向性結合器を介して、被試験デバイス90に入力される試験信号をサンプリングしてもよい。サンプリング部74は、与えられる信号をデジタル信号に変換するADコンバータであってよい。
判定部75は、サンプリング部74におけるサンプリング結果85に基づいて、被試験デバイス90の試験結果(良否)を判定する。例えば判定部75は、応答信号84の波形をサンプリング部74でサンプリングした結果に基づいて、被試験デバイス90のSパラメータの周波数特性等を算出してよい。そして、判定部75は、算出した周波数特性が、所定の使用を満たすか否かにより、被試験デバイス90の良否を判定してよい。
このような構成により、試験装置100の減衰部72では、アナログの試験信号81が減衰試験信号82として供給部73に出力される場合に、制御配線に漏れたノイズが出力側から出力信号側に伝播されなくなる。したがって、本実施形態の試験装置100における減衰部72は、入力端子11からの入力信号110が第1制御配線53a、第2制御配線53bに漏れてノイズになって出力端子12で出力信号12に重畳されることを防ぐことができる。また、本実施形態の試験装置100は、減衰部72により試験信号の振幅を精度よく制御できるので、被試験デバイス90を精度よく試験すること、または被試験デバイス90の特性を精度よく測定することができる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
上記説明から明らかなように、切替装置1によれば、入力信号を減衰させて送出する場合でも、入力信号にノイズを重畳させないで送出することができる。また、試験装置100によれば、被試験デバイスの特性を精度よく試験することができる。

Claims (4)

  1. 入力端子および出力端子の間に、複数の伝送線路のうち指定された伝送線路を接続する切替装置であって、
    前記複数の伝送線路に対応して設けられ、制御信号に応じて対応する前記伝送線路の一端と前記入力端子との間の接続状態をそれぞれ切り替える複数の入力側シリーズスイッチと、
    前記複数の伝送線路に対応して設けられ、制御信号に応じて対応する前記伝送線路の他端と前記出力端子との間の接続状態をそれぞれ切り替える複数の出力側シリーズスイッチと、
    前記複数の伝送線路に対応して設けられ、当該伝送線路に対応する入力側シリーズスイッチおよび出力側シリーズスイッチに制御信号をそれぞれ供給する複数の制御配線と、
    少なくとも1つの制御配線上における前記入力側シリーズスイッチおよび前記出力側シリーズスイッチの間に設けられ、前記入力側シリーズスイッチから前記制御配線を介して前記出力側シリーズスイッチへと伝播するノイズを低減するノイズ除去部と、
    を備え、
    前記ノイズ除去部は、
    対応する前記制御配線上における前記入力側シリーズスイッチおよび前記出力側シリーズスイッチの間に直列に接続された抵抗と、
    対応する前記制御配線とグランドとの間に設けられたキャパシタと、
    を有し、
    前記複数の伝送線路は、互いに信号の減衰量が異なり、
    一の前記伝送線路に対応する前記制御配線に対して設けられた前記ノイズ除去部の前記キャパシタの数は、当該一の伝送線路より減衰量が大きい他の前記伝送線路に対応する前記制御配線に対して設けられた前記ノイズ除去部の前記キャパシタの数より多い
    切替装置。
  2. 前記複数の伝送線路として、第1伝送線路および第2伝送線路を備え、
    制御信号に応じて前記第1伝送線路の一端をグランドに接続するか否かを切り替える第1入力側シャントスイッチと、
    制御信号に応じて前記第1伝送線路の他端をグランドに接続するか否かを切り替える第1出力側シャントスイッチと、
    制御信号に応じて前記第2伝送線路の一端をグランドに接続するか否かを切り替える第2入力側シャントスイッチと、
    制御信号に応じて前記第2伝送線路の他端をグランドに接続するか否かを切り替える第2出力側シャントスイッチと、
    を更に備え、
    前記第1伝送線路に対応して設けられた第1の前記制御配線は、前記第1伝送線路に対応して設けられた第1の前記入力側シリーズスイッチおよび第1の前記出力側シリーズスイッチと、前記第2入力側シャントスイッチおよび前記第2出力側シャントスイッチとに第1の制御信号を供給し、
    前記第2伝送線路に対応して設けられた第2の前記制御配線は、前記第2伝送線路に対応して設けられた第2の前記入力側シリーズスイッチおよび第2の前記出力側シリーズスイッチと、前記第1入力側シャントスイッチおよび前記第1出力側シャントスイッチとに第2の制御信号を供給する
    請求項1に記載の切替装置。
  3. 前記第2伝送線路は、前記第1伝送線路と比較し減衰量が大きく、
    第1の前記制御配線に対して設けられた第1の前記ノイズ除去部は、第1の前記制御配線における第1の前記入力側シリーズスイッチおよび第1の前記出力側シリーズスイッチの中点より第1の前記入力側シリーズスイッチに近い接点に接続された第1の前記キャパシタと、当該中点より第1の前記出力側シリーズスイッチに近い接点に接続された第2の前記キャパシタとを有し、
    第2の前記制御配線に対して設けられた第2の前記ノイズ除去部は、第2の前記制御配線における第2の前記入力側シリーズスイッチおよび第2の前記出力側シリーズスイッチの中点および第1の前記入力側シャントスイッチおよび第1の前記出力側シャントスイッチの中点に接続された第3の前記キャパシタを有する
    請求項に記載の切替装置。
  4. 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
    前記被試験デバイスに供給するアナログの試験信号を生成する波形発生部と、
    前記試験信号を減衰する減衰部と、
    減衰された前記試験信号を前記被試験デバイスに供給する供給部と、
    前記試験信号に応じて前記被試験デバイスが出力する応答信号の波形をサンプリングするサンプリング部と、
    を備え、
    前記減衰部は、
    減衰量の異なる複数の伝送線路と、
    入力端子および出力端子の間に、複数の伝送線路のうち指定された伝送線路を接続する切替装置を有して、
    該切替装置は、
    前記複数の伝送線路に対応して設けられ、制御信号に応じて対応する前記伝送線路の一端と前記入力端子との間の接続状態をそれぞれ切り替える複数の入力側シリーズスイッチと、
    前記複数の伝送線路に対応して設けられ、制御信号に応じて対応する前記伝送線路の他端と前記出力端子との間の接続状態をそれぞれ切り替える複数の出力側シリーズスイッチと、
    前記複数の伝送線路に対応して設けられ、当該伝送線路に対応する入力側シリーズスイッチおよび出力側シリーズスイッチに制御信号をそれぞれ供給する複数の制御配線と、
    少なくとも1つの制御配線上における前記入力側シリーズスイッチおよび前記出力側シリーズスイッチの間に設けられ、前記入力側シリーズスイッチから前記制御配線を介して前記出力側シリーズスイッチへと伝播するノイズを低減するノイズ除去部と、
    を含み、
    前記ノイズ除去部は、
    対応する前記制御配線上における前記入力側シリーズスイッチおよび前記出力側シリーズスイッチの間に直列に接続された抵抗と、
    対応する前記制御配線とグランドとの間に設けられたキャパシタと、
    を有し、
    前記複数の伝送線路は、互いに信号の減衰量が異なり、
    一の前記伝送線路に対応する前記制御配線に対して設けられた前記ノイズ除去部の前記キャパシタの数は、当該一の伝送線路より減衰量が大きい他の前記伝送線路に対応する前記制御配線に対して設けられた前記ノイズ除去部の前記キャパシタの数より多い
    試験装置。
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