JP5189338B2 - Method and apparatus for measuring static electricity of chip-type electronic components - Google Patents
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Description
本発明は、電子部品搬送体によりテーピングされたチップ形電子部品の静電気の帯電量を測定する方法および装置に関する。 The present invention relates to a method and an apparatus for measuring the amount of electrostatic charge of a chip-type electronic component taped by an electronic component carrier.
チップコンデンサ、チップ抵抗器等のチップ形電子部品は、電子部品搬送体により電子部品実装機に供給されている。ここで、電子部品搬送体とは、長手方向に間隔をおいて複数の貫通穴が形成されたキャリアテープの上面にトップテープと下面にボトムテープが貼り付けられ、各貫通穴内にチップ形電子部品が収納されたものをいう。 Chip-type electronic components such as chip capacitors and chip resistors are supplied to an electronic component mounting machine by an electronic component carrier. Here, the electronic component carrier means that a top tape is attached to the upper surface of a carrier tape having a plurality of through holes formed at intervals in the longitudinal direction, and a bottom tape is attached to the lower surface of the carrier tape. Means something that is stored.
この電子部品搬送体による電子部品実装機へのチップ形電子部品の供給は、電子部品搬送体をセットした部品供給カセット(チップ形電子部品の供給装置)を電子部品実装機にセットし、電子部品実装機からの動力の供給により部品供給カセットがキャリアテープの送りとトップテープの剥離を行うことによりなされている。 Supplying chip-type electronic components to the electronic component mounting machine by the electronic component carrier is performed by setting a component supply cassette (chip-type electronic component supply device) in which the electronic component carrier is set on the electronic component mounting machine. The component supply cassette feeds the carrier tape and peels off the top tape by supplying power from the mounting machine.
つまり、トップテープがキャリアテープから剥離されて、上面からトップテープが無くなったキャリアテープの貫通穴内に収納されたチップ形電子部品は、キャリアテープに収納されたままキャリアテープごと電子部品実装機側に送られ、電子部品実装機の吸着ヘッドにより吸着把持される。 In other words, the chip-type electronic component housed in the through hole of the carrier tape where the top tape has been peeled off from the carrier tape and the top tape has been removed from the top surface is placed on the electronic component mounting machine side together with the carrier tape while being housed in the carrier tape. It is fed and sucked and held by the suction head of the electronic component mounting machine.
しかし、吸着ヘッドがチップ形電子部品を吸着する際に吸着ヘッドに対してチップ形電子部品の位置がズレて吸着ミスが発生するという問題があった。これは、キャリアテープからトップテープが剥離される際に静電気が発生するため、キャリアテープの貫通穴に収納されたチップ形電子部品がこの静電気を帯びてキャリアテープの貫通穴内で浮いたり、チップ形電子部品がキャリアテープまたはボトムテープに貼り付いたりすること等が原因であると考えられている。 However, when the suction head sucks the chip-type electronic component, there is a problem that the position of the chip-type electronic component is shifted with respect to the suction head and a suction mistake occurs. This is because static electricity is generated when the top tape is peeled off from the carrier tape, so the chip-type electronic components housed in the through-holes in the carrier tape are charged with static electricity and float in the through-holes in the carrier tape. It is considered that the cause is that an electronic component sticks to a carrier tape or a bottom tape.
かかる問題に対応するためには、チップ形電子部品の静電気の帯電量を正確に把握する必要がある。しかし、従来から、非接触式の静電気の帯電量を測定する方法が一部提案されているものの(例えば、特許文献1参照。)、プローブを対象物に当てて静電気の帯電量を測定する方法が一般的であった。 In order to cope with such a problem, it is necessary to accurately grasp the electrostatic charge amount of the chip-type electronic component. However, although some methods for measuring the charge amount of non-contact static electricity have been proposed in the past (see, for example, Patent Document 1), a method for measuring the charge amount of static electricity by placing a probe on an object. Was common.
しかし、チップ形電子部品の大きさは、長さ1mm、幅0.5mm、高さ0.15mm等であるため、測定対象物が小さく、プローブを対象物に当てることができず、正確な静電気の帯電量を測定できないという問題があった。 However, since the size of the chip-type electronic component is 1 mm in length, 0.5 mm in width, 0.15 mm in height, etc., the measurement object is small, the probe cannot be applied to the object, and accurate electrostatic There was a problem that the amount of charge could not be measured.
また、非接触式の測定方法(特許文献1)では、チップ形電子部品の1個当たりの帯電量が微小であるため、正確な静電気の帯電量を測定できないという問題があった。 In addition, the non-contact type measurement method (Patent Document 1) has a problem that an accurate charge amount of static electricity cannot be measured because the charge amount per chip-type electronic component is very small.
本発明は、前記した問題を解決するためになされたものであって、チップ形電子部品の1個当たり静電気の帯電量を安価かつ正確に測定するための方法および装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a method and an apparatus for accurately and inexpensively measuring the amount of electrostatic charge per chip-type electronic component. To do.
本発明は、チップ形電子部品を収納した複数の貫通穴を有するキャリアテープの上面にトップテープと下面にボトムテープを貼り付けた電子部品搬送体を、単位動作時間当たりのチップ形電子部品の供給能力が既知の部品供給カセットにセットし、該部品供給カセットを所定の動作時間だけ動作させることによって、前記トップテープを剥がしつつ前記キャリアテープを送り出し、前記キャリアテープから落下した複数の前記チップ形電子部品をファラデーカップに収納する工程と、該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を電位計により測定する工程と、該電位計の出力と、予め入力された前記部品供給カセットの前記所定の動作時間に応じた前記チップ形電子部品の前記落下数とに基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を計算機により算出する工程とを有するチップ形電子部品の静電気測定方法に関するものである。
The present invention provides an electronic component transport body in which a top tape and a bottom tape are attached to the upper surface of a carrier tape having a plurality of through-holes containing chip-shaped electronic components, and supply of the chip-shaped electronic components per unit operation time. A plurality of the chip-shaped electrons dropped from the carrier tape by setting the component supply cassette with a known capacity and operating the component supply cassette for a predetermined operation time to feed out the carrier tape while peeling off the top tape. A step of storing a component in a Faraday cup; a step of measuring a potential difference between the potential of the Faraday cup and a ground potential by an electrometer; an output of the electrometer; and the predetermined operation of the component supply cassette previously input The chip type electronic component per one based on the number of drops of the chip type electronic component according to time It relates electrostatic measuring method of the chip-type electronic part and a step of calculating by the computer to charge of static electricity.
かかる構成により、キャリアテープからトップテープを剥離した際に発生する静電気を帯びた複数のチップ形電子部品が収納されたファラデーカップの電位とアース電位との電位差を測定することができる。そして、この電位差およびファラデーカップに収納されたチップ形電子部品の個数に基づいて計算機により1個当たりのチップ形電子部品の静電気の帯電量を正確に測定することができる。 With such a configuration, it is possible to measure the potential difference between the potential of the Faraday cup in which a plurality of electrostatic chip-shaped electronic components generated when the top tape is peeled from the carrier tape and the ground potential. Based on this potential difference and the number of chip-type electronic components housed in the Faraday cup, the amount of electrostatic charge of each chip-type electronic component can be accurately measured by a computer.
また、本発明は、チップ形電子部品を収納した複数の貫通穴を有するキャリアテープの上面にトップテープと下面にボトムテープを貼り付けた電子部品搬送体の前記トップテープを剥がしつつ前記キャリアテープを送り出す部品供給カセットと、該部品供給カセットの下方に位置し、前記キャリアテープから落下した複数の前記チップ形電子部品を収納するファラデーカップと、該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を測定する電位計と、該電位計の出力に基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を算出する計算機と、を備え、前記部品供給カセットは、単位動作時間当たりのチップ形電子部品の供給能力が既知であって、所定の動作時間だけ動作し、前記計算機は、予め入力された前記部品供給カセットの前記所定の動作時間に応じた前記チップ形電子部品の前記落下数と、前記電位計の出力とに基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を算出することを特徴とするチップ形電子部品の静電気測定装置に関するものである。 Further, the present invention provides the carrier tape while peeling off the top tape of the electronic component transport body in which the top tape is attached to the upper surface of the carrier tape having a plurality of through holes containing the chip-type electronic components and the bottom tape is attached to the lower surface. A component supply cassette to be sent out, a Faraday cup that is positioned below the component supply cassette and stores the plurality of chip-type electronic components dropped from the carrier tape, and a potential difference between the potential of the Faraday cup and the ground potential is measured An electrometer, and a calculator for calculating a static charge amount of the chip-type electronic component per unit based on an output of the electrometer, wherein the component supply cassette includes the chip-type electronic component per unit operation time a known supply capacity of, operating a predetermined operation time, the computer, the component supply cassettes previously entered A static charge amount of the chip-type electronic component per piece is calculated based on the number of drops of the chip-type electronic component corresponding to the predetermined operation time and an output of the electrometer. The present invention relates to a static electricity measuring apparatus for chip-type electronic components.
かかる構成により、キャリアテープからトップテープを剥離した際に発生する静電気を帯びた複数のチップ形電子部品が収納されたファラデーカップの電位とアース電位との電位差を測定することができる。そして、この電位差およびファラデーカップに収納されたチップ形電子部品の個数に基づいて計算機により1個当たりのチップ形電子部品の静電気の帯電量を正確に測定できる静電気測定装置を提供できる。 With such a configuration, it is possible to measure the potential difference between the potential of the Faraday cup in which a plurality of electrostatic chip-shaped electronic components generated when the top tape is peeled from the carrier tape and the ground potential. Then, it is possible to provide a static electricity measuring device capable of accurately measuring the amount of static electricity of each chip-type electronic component by a computer based on the potential difference and the number of chip-type electronic components housed in the Faraday cup.
本発明は、チップ形電子部品の1個当たり静電気の帯電量を安価かつ正確に測定するための方法および装置を提供することができる。 The present invention can provide a method and an apparatus for accurately and inexpensively measuring the amount of electrostatic charge per chip-type electronic component.
以下に本発明の実施例を示して、本発明を詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples of the present invention.
本発明を図1乃至図6により説明する。
図1は電子部品搬送体の斜視図、図2はキャリアテープの平面図、図3はキャリアテープの正面図、図4は部品供給カセットの正面図、図5はファラデーカップの斜視図、図6は静電気測定装置の正面図である。尚、説明を容易にするため、図6はファラデーカップのみ断面図にしてある。
The present invention will be described with reference to FIGS.
1 is a perspective view of an electronic component carrier, FIG. 2 is a plan view of a carrier tape, FIG. 3 is a front view of the carrier tape, FIG. 4 is a front view of a component supply cassette, FIG. 5 is a perspective view of a Faraday cup, and FIG. FIG. 3 is a front view of an electrostatic measurement device. For ease of explanation, FIG. 6 is a sectional view of only the Faraday cup.
(電子部品搬送体)
図1および図2に示すように、電子部品搬送体1は、長手方向に間隔をおいて複数の貫通穴5が形成された紙製のキャリアテープ2の上面に樹脂(例えば、PETとPEの2層構造)製のトップテープ1が貼り付けられ、キャリアテープ2の下面には、図3に示すようにアセテート製のボトムテープ4が貼り付けられており、各貫通穴5内にチップ形電子部品6が収納されたものである。
(Electronic parts carrier)
As shown in FIGS. 1 and 2, the
また、キャリアテープの短手方向の端部には送り孔7が長手方向に等間隔にあけられており、電子部品搬送体はリール8に巻かれている。
Further,
(部品供給カセット)
電子部品の供給装置としての部品供給カセットは、特開平9−186487等に記載されたもの等、電子部品実装機メーカーから供給されているものを用いることができる。以下にその一例を説明する。
(Parts supply cassette)
As a component supply cassette as an electronic component supply device, one supplied from an electronic component mounter manufacturer, such as the one described in JP-A-9-186487, can be used. One example will be described below.
図4は、部品供給カセット9に前記したリール8に巻かれた電子部品搬送体1をセットした状態を示した図である。
FIG. 4 is a view showing a state in which the
部品供給カセット9の本体16の後端部にはリールセット部としての軸10が固定されており、この軸10にリール8の中央部にあけられた孔11を挿入することにより、部品供給カセット9にリール8を取り付けることができる。
A
リール8から引き出された電子部品搬送体1は、本体16の先端部26に取り付けられ、電子部品搬送体1を所定ピッチずつ送る図示しないスプロケットに巻回されている。
The
具体的には、スプロケットに設けられた複数の係合刃が電子部品搬送体の送り孔7に挿入されている。そして、図示しない電子部品実装機から供給されるエアー、電気等に基づいて生じる駆動機構の駆動力により間欠的に回転するスプロケットの動作によって、電子部品搬送体1はリール8から引き出される。
Specifically, a plurality of engagement blades provided on the sprocket are inserted into the
部品供給カセット9の本体16の先端部26には、板12が取り付けられており、この板12により、リール8から引き出された電子部品搬送体1の上面に貼り付けられたトップテープ3がキャリアテープ2の上面から剥離される。
A
キャリアテープ2の上面から剥離されたトップテープ3は、本体16の略中央部に取り付けられた巻き取りリール13により巻き取られる。
The
板12によりトップテープ3を剥離されたキャリアテープ2は、部品供給カセット9の本体16の先端部26に取り付けられたスプロケットの形状に沿って円弧状に彎曲し、部品供給カセット9の本体16の略中央下部から排出される。
The
電子部品搬送体1の搬送(スプロケットの間欠駆動)および剥離したトップテープ3の巻き取りリール13での巻き取りは、本体16に取り付けられた図示しないエアシリンダ等の駆動機構を用いて行なう。
The
(ファラデーカップ)
ファラデーカップとは、図5および図6に示したように、開口部18を有する円筒形の導体でできた箱をいう。
ファラデーカップ17は、図6に示すように、導電性の金属材料からなる外カップ27と、その内部にPTFE等の絶縁物からなる複数の支柱29を介して載置された導電性の金属材料からなる内カップ28とから構成されている。このため、ファラデーカップ17の静電容量は、外カップ27と内カップ28間の静電容量である。
ファラデーカップ17の電位は、内カップ28の内部に収納された複数のチップ形電子部品6の電荷の総和に比例して上昇するので、開口部18から入ったチップ形電子部品6の電荷を後述する電位計で測定することができる。
(Faraday Cup)
As shown in FIGS. 5 and 6, the Faraday cup is a box made of a cylindrical conductor having an
As shown in FIG. 6, the Faraday
Since the potential of the Faraday
(静電気測定装置)
本発明におけるチップ形電子部品の静電気測定装置は、図6に示すように、チップ形電子部品6を収納した複数の貫通穴5を有するキャリアテープ2にトップテープ3を貼り付けた電子部品搬送体1のトップテープ3を剥がしつつキャリアテープ2を送り出す部品供給カセット9と、部品供給カセット1の下方に位置し、キャリアテープ2から落下した複数のチップ形電子部品6を収納するファラデーカップ17と、このファラデーカップ17の電位とアース電位との電位差を測定する電位計21と、この電位計21の出力に基づいて1個当たりのチップ形電子部品6の静電気の帯電量を算出する計算機22とを有するものである。
(Static measurement device)
As shown in FIG. 6, the chip-type electronic component static electricity measuring apparatus according to the present invention has an electronic component carrier in which a
部品供給カセット9は、水平に対して45〜70度の角度に傾斜させて支持台20に固定されており、図示しないスタートスイッチにより一定時間動作、すなわち電子部品搬送体1をリール8から先端部26に向けて所定個数を送り出すようになっている。
The
部品供給カセット9の動作により送り出された電子部品搬送体1は本体16の先端部26でトップテープ3が剥離され、かつ、キャリアテープ2が先端部26の形状に沿って円弧状に彎曲して送り出される。したがって、キャリアテープ2の貫通穴5に収納されたチップ形電子部品6は、部品供給カセット9の先端部26においてキャリアテープ2から落下する。
In the
ファラデーカップ17は部品供給カセット9の本体16の先端部26の下に開口部18が位置するように、絶縁シート19を介して支持台20に固定されているので、部品供給カセット9の動作によりキャリアテープ2から落下した全てのチップ形電子部品6はファラデーカップ17に収納される。
The
ここで、部品供給カセット9は所定時間動作した後、自動的に停止するので、例えば、部品供給カセット9が1分間に280個の部品供給能力があるものであれば、動作時間を30秒に設定していれば140個のチップ形電子部品6がファラデーカップ17に収納されることになる。
Here, the
また、ファラデーカップ17はケーブル24により電位計21に接続されており、電位計はケーブル25により接地(アース)されている。このため、複数のチップ形電子部品6が収納されたファラデーカップ17の電位とアース電位との電位差を電位計21により測定することができる。
The
そして、電位計21はケーブルによって計算機22に接続されているので、複数のチップ形電子部品6が収納されたファラデーカップ17の電位とアース電位との電位差(V)は、A/D変換器を介して計算機22に自動的に入力される。
Since the
さらに、計算機22には、ファラデーカップ17、電位計21およびケーブル24からなる測定系の静電容量の総和(C)と、部品供給カセット9の動作時間に応じたチップ形電子部品6の落下数(ファラデーカップ17の収納数N)が予め入力されているので、以下の計算式により、チップ形電子部品6の一個当たりの静電気の帯電量(Q)を算出することができる。
Q=C×V/N
Further, the
Q = C × V / N
前記した動作時間が30秒の場合だと、チップ形電子部品の一個当たりの静電気の帯電量Qは、C×V/140となる。尚、算出したチップ形電子部品6の一個当たりの静電気の帯電量は、デイスプレイ23に表示される。
When the operation time is 30 seconds, the electrostatic charge amount Q per chip-type electronic component is C × V / 140. The calculated amount of static electricity per chip-type
(測定結果1)
前記した静電気測定装置を用いて実際にチップ形電子部品の測定を行った結果を以下に示す。
(Measurement result 1)
The results of actually measuring chip-type electronic components using the above-described static electricity measuring device are shown below.
トップテープおよびボトムテープは導電処理がなされ、かつ、キャリアテープは導電処理がなされていない電子部品搬送体に収納されたチップ形電子部品を140個(30秒間)ファラデーカップ17に落下させた後のファラデーカップの電位を表1に示す。チップ形電子部品は、コーア社製 RK73B1Eシリーズ 1005Rを用いた。
The top tape and the bottom tape are subjected to a conductive treatment, and the carrier tape is a chip-shaped electronic component housed in an electronic component carrier that has not been subjected to a conductive treatment, after dropping 140 pieces (30 seconds) into the
ここで、導電処理とは、例えば、導電性樹脂を用いてテープを形成したり、静電気の帯電を防止する導電性の層等をテープの表面に塗布すること等をいう。 Here, the conductive treatment refers to, for example, forming a tape using a conductive resin, or applying a conductive layer or the like that prevents static electricity to the surface of the tape.
この表により、このチップ形電子部品の電位は、ややプラス側に偏っていることがわかる。また、測定回数5回の平均値=0.123(V)をファラデーカップの平均電位とすることができる。 From this table, it can be seen that the potential of the chip-type electronic component is slightly biased to the positive side. In addition, the average value of five measurements = 0.123 (V) can be set as the average potential of the Faraday cup.
そして、ファラデーカップの静電容量は10(pF)、電位計の静電容量は20(pF)、ケーブルの静電容量は264(pF)であるから、チップ形電子部品1個当たりの静電気の帯電量Qは、Q=(10+20+264)×0.123÷140=0.258(pC)となる。 The capacitance of the Faraday cup is 10 (pF), the capacitance of the electrometer is 20 (pF), and the capacitance of the cable is 264 (pF). The charge amount Q is Q = (10 + 20 + 264) × 0.123 ÷ 140 = 0.258 (pC).
(測定結果2)
また、トップテープは導電処理がなされ、かつ、キャリアテープおよびボトムテープは導電処理がなされていない電子部品搬送体に収納されたチップ形電子部品を140個(30秒間)ファラデーカップ17に落下させた後のファラデーカップの電位を表2に示す。
(Measurement result 2)
In addition, the top tape was subjected to a conductive treatment, and the carrier tape and the bottom tape were dropped into
チップ形電子部品は、村田製作所社製 GRM155B11Hシリーズ 1005Cを用いた。 As the chip-type electronic component, GRM155B11H series 1005C manufactured by Murata Manufacturing Co., Ltd. was used.
この表により、このチップ形電子部品の電位は、プラス側に偏っていることがわかる。また、測定回数5回の平均値=2.860(V)をファラデーカップの平均電位にすることができる。 From this table, it can be seen that the potential of this chip-type electronic component is biased to the positive side. In addition, the average value of the number of measurement times of 5 = 2.860 (V) can be made the average potential of the Faraday cup.
そして、ファラデーカップの静電容量は10(pF)、電位計の静電容量は20(pF)、ケーブルの静電容量は264(pF)であるから、チップ形電子部品1個当たりの静電気の帯電量Q=(10+20+264)×2.860÷140=6.006(pC)となる。 The capacitance of the Faraday cup is 10 (pF), the capacitance of the electrometer is 20 (pF), and the capacitance of the cable is 264 (pF). Charge amount Q = (10 + 20 + 264) × 2.860 ÷ 140 = 6.006 (pC).
前記した実施例は、説明のために例示したものであって、本発明としてはそれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲、発明の詳細な説明および図面の記載から当業者が認識することができる本発明の技術的思想に反しない限り、変更および付加が可能である。 The above-described embodiments are illustrated for explanation, and the present invention is not limited thereto, and those skilled in the art will recognize from the claims, the detailed description of the invention, and the description of the drawings. Modifications and additions are possible without departing from the technical idea of the present invention.
例えば、前記した実施例においては、支持台20が部品供給カセット9およびファラデーカップ17を共に固定したものとなっているが、部品供給カセット9とファラデーカップ17を個々に固定したものであっても良い。
For example, in the above-described embodiment, the
また、前記した実施例においては、140個の電位測定を複数回行い、その平均電位を用いてチップ形電子部品1個当たりの静電気の帯電量を算出したが、140個の電位測定を1回のみ行い、その電位を用いてチップ形電子部品1個当たりの静電気の帯電量を算出しても良い。 In the above-described embodiment, 140 potential measurements are performed a plurality of times, and the electrostatic charge amount per chip-type electronic component is calculated using the average potential. However, 140 potential measurements are performed once. The electrostatic charge amount per chip electronic component may be calculated using the potential.
さらに、前記した実施例は、電子部品搬送体としてキャリアテープに複数の貫通穴が形成されたものを示したが、キャリアテープに複数の凹部が形成されたものであっても良い。例えばエンボステープである。この場合は、電子部品搬送体には、ボトムテープは不要であって、キャリアテープの上面にトップテープが貼り付けられていれば良い。すなわち、本発明は、以下のように把握することもできる。 Furthermore, although the above-mentioned Example showed what the some through-hole was formed in the carrier tape as an electronic component conveyance body, the thing by which the some recessed part was formed in the carrier tape may be sufficient. For example, embossed tape. In this case, the electronic component carrier does not require a bottom tape, and it is sufficient that the top tape is attached to the upper surface of the carrier tape. That is, the present invention can be grasped as follows.
(1)チップ形電子部品を収納した複数の凹部を有するキャリアテープの上面にトップテープを貼り付けた電子部品搬送体を、部品供給カセットにセットし、該部品供給カセットにより前記トップテープを剥がしつつ前記キャリアテープを送り出し、前記キャリアテープから落下した複数の前記チップ形電子部品をファラデーカップに収納する工程と、
該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を電位計により測定する工程と、
該電位計の出力に基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を計算機により算出する工程とを有することを特徴とするチップ形電子部品の静電気測定方法。
(1) An electronic component transporter in which a top tape is attached to the upper surface of a carrier tape having a plurality of recesses containing chip-shaped electronic components is set in a component supply cassette, and the top tape is peeled off by the component supply cassette. Sending out the carrier tape and storing the plurality of chip-shaped electronic components dropped from the carrier tape in a Faraday cup;
Measuring the potential difference between the potential of the Faraday cup and the ground potential with an electrometer;
And a step of calculating, by a computer, the amount of electrostatic charge of the chip-type electronic component per unit based on the output of the electrometer.
(2)チップ形電子部品を収納した複数の凹部を有するキャリアテープの上面にトップテープを貼り付けた電子部品搬送体の前記トップテープを剥がしつつ前記キャリアテープを送り出す部品供給カセットと、
該部品供給カセットの下方に位置し、前記キャリアテープから落下した複数の前記チップ形電子部品を収納するファラデーカップと、
該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を測定する電位計と、
該電位計の出力に基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を算出する計算機とを有することを特徴とするチップ形電子部品の静電気測定装置
(2) a component supply cassette that feeds out the carrier tape while peeling off the top tape of the electronic component transporter in which the top tape is attached to the upper surface of a carrier tape having a plurality of recesses containing chip-shaped electronic components;
A Faraday cup that is positioned below the component supply cassette and stores the plurality of chip-type electronic components dropped from the carrier tape;
An electrometer that measures the potential difference between the potential of the Faraday cup and the ground potential;
A static electricity measuring apparatus for a chip-type electronic component, comprising: a calculator for calculating an electrostatic charge amount of the chip-type electronic component per one based on an output of the electrometer.
また、本発明は、以下のように把握することも可能である。
(3)チップ形電子部品を収納した複数の貫通穴を有するキャリアテープの上面にトップテープおよび下面にボトムテープを貼り付けた電子部品搬送体の前記トップテープを剥がしつつ前記キャリアテープを先端部おいて彎曲して所定時間送り出す部品供給カセットと、
該部品供給カセットを、その先端部を下方に傾けて固定する支持台と、
該部品供給カセットの先端部の下方に位置し、前記キャリアテープから落下した複数の前記チップ形電子部品を収納するファラデーカップと、
該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を測定する電位計と、
該電位計の出力に基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を算出する計算機とを有することを特徴とするチップ形電子部品の静電気測定装置。
The present invention can also be grasped as follows.
(3) The top end of the carrier tape is peeled off while the top tape is peeled off from the top of the carrier tape having a plurality of through holes containing the chip-type electronic components and the top tape is attached to the bottom surface of the carrier tape. A component supply cassette that is bent and sent out for a predetermined time,
A support base for fixing the component supply cassette by tilting the tip thereof downward;
A Faraday cup that is located below the front end of the component supply cassette and houses the plurality of chip-type electronic components dropped from the carrier tape;
An electrometer that measures the potential difference between the potential of the Faraday cup and the ground potential;
A static electricity measuring apparatus for a chip-type electronic component, comprising: a calculator for calculating a charge amount of static electricity of the chip-type electronic component per one based on an output of the electrometer.
部品供給カセットにおいてチップ形電子部品が帯電した静電気の量を測定することができる。 It is possible to measure the amount of static electricity charged by the chip-type electronic component in the component supply cassette.
1 電子部品搬送体
2 キャリアテープ
3 トップテープ
5 貫通穴
6 チップ形電子部品
9 部品供給カセット
17 ファラデーカップ
21 電位計
22 計算機
26 先端部
DESCRIPTION OF
Claims (2)
該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を電位計により測定する工程と、
該電位計の出力と、予め入力された前記部品供給カセットの前記所定の動作時間に応じた前記チップ形電子部品の前記落下数とに基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を計算機により算出する工程とを有することを特徴とするチップ形電子部品の静電気測定方法。 The supply capacity of the chip-type electronic component per unit operation time is known for the electronic component transporter having the top tape and the bottom tape attached to the upper surface of the carrier tape having a plurality of through holes containing the chip-type electronic components. By setting the component supply cassette and operating the component supply cassette for a predetermined operation time, the carrier tape is fed out while peeling off the top tape, and the plurality of chip-type electronic components dropped from the carrier tape are separated from the Faraday cup. The process of storing in,
Measuring the potential difference between the potential of the Faraday cup and the ground potential with an electrometer;
An output of said potential meter, static electricity of the chip-type electronic part per based on said falling speed of the chip-type electronic part according to the predetermined operating time of the component supply cassettes previously entered charge And a step of calculating the quantity by a computer. A method for measuring static electricity of a chip-type electronic component.
該部品供給カセットの下方に位置し、前記キャリアテープから落下した複数の前記チップ形電子部品を収納するファラデーカップと、
該ファラデーカップの電位とアース電位との電位差を測定する電位計と、
該電位計の出力に基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を算出する計算機と、を備え、
前記部品供給カセットは、単位動作時間当たりのチップ形電子部品の供給能力が既知であって、所定の動作時間だけ動作し、
前記計算機は、予め入力された前記部品供給カセットの前記所定の動作時間に応じた前記チップ形電子部品の前記落下数と、前記電位計の出力とに基づいて1個当たりの前記チップ形電子部品の静電気の帯電量を算出することを特徴とするチップ形電子部品の静電気測定装置。
A component supply cassette that feeds out the carrier tape while peeling off the top tape of the electronic component transport body in which the top tape is attached to the upper surface of the carrier tape having a plurality of through holes containing chip-type electronic components and the bottom tape is attached to the lower surface;
A Faraday cup that is positioned below the component supply cassette and stores the plurality of chip-type electronic components dropped from the carrier tape;
An electrometer that measures the potential difference between the potential of the Faraday cup and the ground potential;
A calculator for calculating the amount of electrostatic charge of the chip-type electronic component per unit based on the output of the electrometer,
The component supply cassette has a known chip-type electronic component supply capability per unit operation time, and operates for a predetermined operation time.
The computer calculates the chip-type electronic component per piece based on the number of drops of the chip-type electronic component corresponding to the predetermined operation time of the component supply cassette inputted in advance and the output of the electrometer. A static electricity measuring device for chip-type electronic components, characterized by calculating the amount of static electricity charged.
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