JP5184209B2 - Apparatus provided with wafer transfer device and wafer holding device - Google Patents

Apparatus provided with wafer transfer device and wafer holding device Download PDF

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Description

この発明は、ウェハ搬送装置とウェハ保持装置とを備えた装置に関し、特にウェハを自動的に容易にクランプ・アンクランプすると共にウェハ処理後にアンクランプする際にウェハの回転と脱落を防止可能なウェハチャック機構を有するウェハ保持装置を備えた装置に関する。 The present invention relates to an apparatus including a wafer transfer device and a wafer holding device, and more particularly, a wafer capable of automatically clamping and unclamping a wafer automatically and preventing rotation and dropping of the wafer when unclamping after wafer processing. The present invention relates to an apparatus including a wafer holding apparatus having a chuck mechanism.

従来、ウェハを洗浄する洗浄機においては、例えば処理、リンス、乾燥などの複数の処理が行われる。   Conventionally, in a cleaning machine for cleaning a wafer, a plurality of processes such as processing, rinsing, and drying are performed.

図5を参照するに、ウェハ101はウェハ搬送装置103の2本の搬送アーム105にて複数の各処理槽107、図5では第1〜第5処理槽107A〜107Eへ搬送される。第1〜第5処理槽107A〜107Eは、図5において左右に一列に並べて配置されており、図5において上側には、処理すべきウェハ101を保持して上記の各処理槽107へ搬送するためのウェハ搬送装置103が設けられている。また、第1処理槽107Aの近くには、処理すべきウェハ101をウェハ搬送装置103に図示しないローディング装置により自動的にセット、あるいは作業者が手動でセットするためのローディング領域109が設けられている。一方、第5処理槽107Eの近くには、処理済みのウェハ101をウェハ搬送装置103から図示しないアンローディング装置により自動的に搬出、あるいは作業者が手動で搬出するためのアンローディング領域111が設けられている。   Referring to FIG. 5, the wafer 101 is transferred to a plurality of processing tanks 107 by the two transfer arms 105 of the wafer transfer apparatus 103, and to the first to fifth processing tanks 107 </ b> A to 107 </ b> E in FIG. 5. The first to fifth processing tanks 107A to 107E are arranged in a line on the left and right in FIG. 5, and the wafer 101 to be processed is held on the upper side in FIG. A wafer transfer device 103 is provided. Further, a loading area 109 for automatically setting the wafer 101 to be processed on the wafer transfer apparatus 103 by a loading apparatus (not shown) or manually setting by an operator is provided near the first processing tank 107A. Yes. On the other hand, an unloading region 111 is provided in the vicinity of the fifth processing tank 107E for automatically unloading the processed wafer 101 from the wafer transfer device 103 by an unloading device (not shown) or manually unloading by the operator. It has been.

なお、ウェハ搬送装置103は、装置本体113が図5において左右方向に移動して各処理槽107A〜107Eに位置決め可能に設けられており、前記装置本体113には処理すべきウェハ101を保持するための2本の搬送アーム105が処理槽107へほぼ水平方向に突出する方向(図5において下方)へ延びている。   The wafer transfer apparatus 103 is provided so that the apparatus main body 113 can move in the left-right direction in FIG. 5 and can be positioned in each of the processing tanks 107A to 107E. The apparatus main body 113 holds the wafer 101 to be processed. The two transfer arms 105 are extended in a direction (downward in FIG. 5) that protrudes substantially horizontally to the processing tank 107.

ウェハ101には例えば6インチウェハ101Aと8インチウェハ101Bがあり、切欠き部であるオリフラ115が形成されている。2本の搬送アーム105は処理すべきウェハ101の大きさに合わせて2本の搬送アーム105の間隔を調整可能に設けられている。さらに、2本の搬送アーム105は、各処理槽107A〜107Eにおいて昇降自在に設けられている。   For example, the wafer 101 includes a 6-inch wafer 101A and an 8-inch wafer 101B, and an orientation flat 115 which is a notch is formed. The two transfer arms 105 are provided so that the distance between the two transfer arms 105 can be adjusted according to the size of the wafer 101 to be processed. Further, the two transfer arms 105 are provided so as to be movable up and down in each of the processing tanks 107A to 107E.

また、2本の各搬送アーム105には、図7に示されているように、それぞれ2箇所のウェハ保持部117が備えられているので、ウェハ搬送装置103には合計4箇所のウェハ保持部117を有している。上記の4箇所のウェハ保持部117にウェハ101を載置して保持し、この保持されたウェハ101を各処理槽107A〜107Eへ搬送するものである。なお、各ウェハ保持部117は、ウェハ101を載置する載置面を有する載置部119と、この載置部119の載置面から上方へ突設したピン部121とで構成されている。   Further, as shown in FIG. 7, each of the two transfer arms 105 is provided with two wafer holders 117, so that the wafer transfer apparatus 103 has a total of four wafer holders. 117. The wafer 101 is placed and held on the four wafer holders 117 described above, and the held wafer 101 is transferred to the processing tanks 107A to 107E. Each wafer holding unit 117 includes a mounting unit 119 having a mounting surface on which the wafer 101 is mounted, and a pin unit 121 protruding upward from the mounting surface of the mounting unit 119. .

各処理槽107にはそれぞれ、ウェハ101を保持するためのウェハ保持装置123が固定して設けられている。このウェハ保持装置123に保持されたウェハ101は、図6に示されているように、上壁面にスプレー装置125を備えたカバー127が処理槽107の上方から下降し、カバー127で覆われてスプレー装置125の図示しない複数の噴射ノズルから噴射される処理液により処理される構成である。処理後は、カバー127が処理槽107の上方へ待機することになる。   Each processing tank 107 is fixedly provided with a wafer holding device 123 for holding the wafer 101. The wafer 101 held by the wafer holding device 123 is covered with a cover 127 as shown in FIG. 6 in which a cover 127 having a spray device 125 on the upper wall surface descends from above the processing tank 107. It is the structure processed with the process liquid sprayed from the several spray nozzle which the spray apparatus 125 does not illustrate. After the processing, the cover 127 stands by above the processing tank 107.

図7ないしは図9を参照するに、ウェハ保持装置123は、ウェハ101の外周面を四方から挟み込むようにクランプ・アンクランプするチャック機構で構成されている。すなわち、チャック機構は、前記ウェハ101を載置する載置面を有する載置部129と、この載置部129の載置面から上方に突出してウェハ101の外周面を四方から挟み込んでクランプするためのピン部131とからなるウェハチャック部133の4箇所で構成されている。   Referring to FIGS. 7 to 9, the wafer holding device 123 is constituted by a chuck mechanism that clamps and unclamps the outer peripheral surface of the wafer 101 so as to sandwich it from four sides. In other words, the chuck mechanism clamps the mounting portion 129 having a mounting surface on which the wafer 101 is mounted, and projects from the mounting surface of the mounting portion 129 upward so as to sandwich the outer peripheral surface of the wafer 101 from four sides. The wafer chuck portion 133 includes four pin portions 131 for the purpose.

ウェハ保持装置123は、図6も併せて参照するに、平板状の本体ベース135が処理槽107に固定されており、前記本体ベース135上のほぼ中央にはピニオン137が回転自在に設けられている。このピニオン137の中心点対称位置には2本の第1、第2ラック139,141が噛合して互いに反対方向に移動可能に設けられている。すなわち、第1、第2ラック139,141は互いに平行をなすように本体ベース135の上面に設けた2つの軸受部材143で摺動可能に設けられている。なお、本体ベース135には、処理液を下方へ落下させるための2つの貫通穴135Aが設けられている。   In the wafer holding device 123, referring also to FIG. 6, a flat plate-like main body base 135 is fixed to the processing tank 107, and a pinion 137 is rotatably provided at substantially the center on the main body base 135. Yes. Two first and second racks 139 and 141 are engaged with each other at the center point symmetrical position of the pinion 137 so as to be movable in opposite directions. That is, the first and second racks 139 and 141 are slidably provided by two bearing members 143 provided on the upper surface of the main body base 135 so as to be parallel to each other. The main body base 135 is provided with two through holes 135A for dropping the processing liquid downward.

また、第1可動部材145はピニオン137の図7において左側に位置して第1、第2ラック139,141に沿って摺動自在に設けられており、しかも第1固定ピン147により第1ラック139に固定されている。   The first movable member 145 is provided on the left side of the pinion 137 in FIG. 7 and is slidable along the first and second racks 139 and 141, and the first fixing pin 147 provides the first rack. 139 is fixed.

一方、第2可動部材149はピニオン137の図7において右側に位置して第1、第2ラック139,141に沿って摺動自在に設けられており、しかも第2固定ピン151により第2ラック141に固定されている。   On the other hand, the second movable member 149 is located on the right side of the pinion 137 in FIG. 7 and is slidably provided along the first and second racks 139 and 141. 141 is fixed.

さらに、本体ベース135の図7において左側に突出している第1ラック139の図7において左端にはガイド部材153がボルトで固定されており、前記第2ラック141の図7において左端側が前記ガイド部材153に設けたフランジブッシュ155を介して摺動可能に挿通されている。   Further, a guide member 153 is fixed to the left end of the first rack 139 protruding leftward in FIG. 7 of the main body base 135 with a bolt, and the left end side of the second rack 141 in FIG. It is slidably inserted through a flange bush 155 provided at 153.

したがって、第1ラック139が図7において右方向に移動すると、ピニオン137が図7において反時計回り方向に回転するので、第2ラック141は図7において左方向に移動することになる。これに伴って、第1可動部材145と第2可動部材149は、本体ベース135のほぼ中央に向けて互いに接近する方向に移動する。   Accordingly, when the first rack 139 moves in the right direction in FIG. 7, the pinion 137 rotates counterclockwise in FIG. 7, so that the second rack 141 moves in the left direction in FIG. Accordingly, the first movable member 145 and the second movable member 149 move toward each other toward the approximate center of the main body base 135.

その逆に、第1ラック139が図8において左方向に移動すると、第2ラック141は図8において右方向に移動することになる。これに伴って、第1可動部材145と第2可動部材149は、互いに離反する方向に移動する。   On the contrary, when the first rack 139 moves to the left in FIG. 8, the second rack 141 moves to the right in FIG. Along with this, the first movable member 145 and the second movable member 149 move in directions away from each other.

なお、第1,第2可動部材145,149には、それぞれの移動方向に対して左右端側には半長穴に切欠かれた係合穴部157が形成されている。   Note that the first and second movable members 145 and 149 are formed with engagement hole portions 157 that are notched into a semi-long hole on the left and right ends with respect to the respective moving directions.

また、本体ベース135の上には、合計4つのアーム用支柱159が第1,第2可動部材145,149の移動方向の両側、つまり、第1,第2可動部材145,149の左右側(図7において上下側)に1つずつ設けられている。各アーム用支柱159には、ウェハ101の外周面を四方から挟み込んでクランプするためのウェハチャック部133を設けるためのアーム161が図7において時計・反時計回り方向に回動可能に設けられている。   In addition, a total of four arm posts 159 are provided on the main body base 135 on both sides in the moving direction of the first and second movable members 145 and 149, that is, on the left and right sides of the first and second movable members 145 and 149 ( One is provided on each of the upper and lower sides in FIG. Each arm support 159 is provided with an arm 161 for providing a wafer chuck portion 133 for clamping the outer peripheral surface of the wafer 101 from four sides so as to be rotatable in the clockwise and counterclockwise directions in FIG. Yes.

各アーム161の第1,第2可動部材145,149の側の一方端には図9に示されているように下方に向けて係合ピン163が突出し、第1,第2可動部材145,149の各係合穴部157に係合している。一方、各アーム161の他方端側には、6インチウェハ用のウェハチャック部133Aと8インチウェハ用のウェハチャック部133Bが設けられている。   As shown in FIG. 9, an engagement pin 163 protrudes downward at one end of each arm 161 on the first and second movable members 145 and 149 side. 149 is engaged with each engagement hole 157. On the other hand, on the other end side of each arm 161, a wafer chuck portion 133A for 6-inch wafer and a wafer chuck portion 133B for 8-inch wafer are provided.

6インチウェハ用の各ウェハチャック部133Aは、前述したように、前記ウェハ101Aを載置する載置面を有する載置部129Aと、この載置部129Aの載置面から上方に突出してウェハ101Aの外周面を四方から挟み込んでクランプするためのピン部131Aとからなり、合計4箇所のウェハチャック部133Aが設けられている。   As described above, each 6-inch wafer chuck portion 133A has a mounting portion 129A having a mounting surface on which the wafer 101A is mounted and a wafer protruding upward from the mounting surface of the mounting portion 129A. It consists of a pin portion 131A for clamping the outer peripheral surface of 101A from four sides, and a total of four wafer chuck portions 133A are provided.

一方、8インチウェハ用の各ウェハチャック部133Bは、前記ウェハ101Bを載置する載置面を有する載置部129Bと、この載置部129Bの載置面から上方に突出してウェハ101Bの外周面を四方から挟み込んでクランプするためのピン部131Bとからなり、合計4箇所のウェハチャック部133Bが設けられている。   On the other hand, each wafer chuck portion 133B for an 8-inch wafer has a placement portion 129B having a placement surface on which the wafer 101B is placed, and protrudes upward from the placement surface of the placement portion 129B, and the outer periphery of the wafer 101B. It consists of pin portions 131B for clamping by clamping the surface from four sides, and a total of four wafer chuck portions 133B are provided.

なお、上記の第1可動部材145はスプリング165により図7において左方向へ常時付勢されており、常時は各アーム161が図7の二点鎖線の状態、つまり図8の状態となっている。   The first movable member 145 is always urged to the left in FIG. 7 by the spring 165, and each arm 161 is normally in the state of the two-dot chain line in FIG. 7, that is, the state in FIG. .

上記の第1〜第5処理槽107A〜107Eによるウェハ101の処理動作について、代表例として6インチウェハ101Aの処理動作について説明する。   As a representative example of the processing operation of the wafer 101 in the first to fifth processing tanks 107A to 107E, the processing operation of the 6-inch wafer 101A will be described.

図5において、ウェハ搬送装置103の2本の搬送アーム105が水洗い処理槽である第1処理槽107Aに6インチウェハ101A用の間隔で、しかも第1処理槽107Aの内部に固定したウェハ保持装置123の上方に待機している。ローディング領域109のウェハ101Aは前記2本の搬送アーム105の4箇所のウェハ保持部117の載置部119Aの載置面にセットされる。このとき、ウェハ101Aのオリフラ115が4箇所のウェハ保持部117の載置部119Aの載置面にかからないように注意してセットされる。   In FIG. 5, a wafer holding device in which the two transfer arms 105 of the wafer transfer apparatus 103 are fixed to the first process tank 107A, which is a washing process tank, at an interval for a 6-inch wafer 101A and inside the first process tank 107A. Waiting above 123. The wafer 101 </ b> A in the loading area 109 is set on the mounting surface of the mounting unit 119 </ b> A of the four wafer holding units 117 of the two transfer arms 105. At this time, the orientation flat 115 of the wafer 101A is set with care so as not to be placed on the placement surfaces of the placement portions 119A of the four wafer holding portions 117.

一方、ウェハ保持装置123においては、第1ラック139をスプリング165の付勢力に抗して図7において右方向に移動させる。これにより、ピニオン137が図7において反時計回り方向に回転するので、第2ラック141は図7において左方向に移動することになる。したがって、第1可動部材145と第2可動部材149は、本体ベース135のほぼ中央に向けて互いに接近する方向に移動する。   On the other hand, in the wafer holding device 123, the first rack 139 is moved rightward in FIG. 7 against the urging force of the spring 165. As a result, the pinion 137 rotates counterclockwise in FIG. 7, and the second rack 141 moves to the left in FIG. Accordingly, the first movable member 145 and the second movable member 149 move toward each other toward the substantial center of the main body base 135.

すると、第1,第2可動部材145,149の左右側に1つずつ設けられている各アーム161は、第1,第2可動部材145,149の各係合穴部157に係合している係合ピン163を介して図7の二点鎖線の位置から実線の位置へ回動することになる。つまり、2本の搬送アーム105が下降しても、各アーム161がぶつからない位置まで移動することになる。しかも、6インチウェハ用のウェハチャック部133Aの4つのピン部131Aが6インチウェハ101Aの外周の大きさより外側へ開く方向に回動することになる。例えば、図7に示されているように、6インチウェハ101Aの外周の大きさと4つの各ピン部131Aに間隔Gが生じるように移動する。   Then, each arm 161 provided on each of the left and right sides of the first and second movable members 145 and 149 engages with the engagement hole 157 of the first and second movable members 145 and 149. Through the engaging pin 163, the position of the two-dot chain line in FIG. 7 is rotated to the position of the solid line. That is, even if the two transfer arms 105 are lowered, the arms 161 move to positions where they do not collide. In addition, the four pin portions 131A of the wafer chuck portion 133A for 6-inch wafers rotate in a direction to open outward from the size of the outer periphery of the 6-inch wafer 101A. For example, as shown in FIG. 7, the outer peripheral size of the 6-inch wafer 101 </ b> A and the four pin portions 131 </ b> A move so that a gap G is generated.

各アーム161が図7の実線の位置にある状態で、2本の搬送アーム105が下降することにより、2本の搬送アーム105に保持されていたウェハ101Aが各アーム161の載置部129Aの載置面へ載置されることになる。なお、2本の搬送アーム105は、各アーム161の載置部129Aの載置面より下方の位置で待機することになる。   In the state where each arm 161 is at the position of the solid line in FIG. 7, the two transfer arms 105 are lowered, so that the wafer 101 </ b> A held by the two transfer arms 105 is moved to It will be mounted on the mounting surface. The two transfer arms 105 stand by at a position below the placement surface of the placement portion 129A of each arm 161.

次いで、第1ラック139を図7において右方向に移動させる力を解除すると、第1可動部材145がスプリング165の付勢力により図8において左方向へ移動する。これにより、ピニオン137が図8において時計回り方向に回転するので、第2ラック141は図8において右方向に移動することになる。したがって、第1可動部材145と第2可動部材149は互いに離反する方向に移動する。   Next, when the force to move the first rack 139 in the right direction in FIG. 7 is released, the first movable member 145 moves in the left direction in FIG. 8 by the biasing force of the spring 165. As a result, the pinion 137 rotates in the clockwise direction in FIG. 8, and the second rack 141 moves to the right in FIG. Accordingly, the first movable member 145 and the second movable member 149 move in directions away from each other.

すると、第1,第2可動部材145,149の左右側に1つずつ設けられている各アーム161は、第1,第2可動部材145,149の各係合穴部157に係合している係合ピン163を介して図8の矢印方向の実線の位置へ回動することになる。その結果、6インチウェハ用のウェハチャック部133Aの4つのピン部131Aが6インチウェハ101Aの外周面に四方から当接してクランプすることになる。   Then, each arm 161 provided on each of the left and right sides of the first and second movable members 145 and 149 engages with the engagement hole 157 of the first and second movable members 145 and 149. It rotates to the position of the continuous line of the arrow direction of FIG. As a result, the four pin portions 131A of the wafer chuck portion 133A for 6-inch wafer come into contact with the outer peripheral surface of the 6-inch wafer 101A from four directions and are clamped.

図6に示されているように、カバー127が処理槽107の上方から下降し、ウェハ保持装置123がカバー127で覆われる。次いで、スプレー装置125の複数の噴射ノズルから洗浄液がウェハ101Aに向けて噴射され、ウェハ101Aが水洗いされる。この水洗い処理が終了すると、上記のカバー127が上昇する。   As shown in FIG. 6, the cover 127 is lowered from above the processing tank 107, and the wafer holding device 123 is covered with the cover 127. Next, the cleaning liquid is sprayed toward the wafer 101A from the plurality of spray nozzles of the spray device 125, and the wafer 101A is washed with water. When this water washing process is completed, the cover 127 is raised.

次いで、ウェハ保持装置123では、前述したように、第1ラック139をスプリング165の付勢力に抗して図7において右方向に移動させることで、ピニオン137の回転により第2ラック141が図7において左方向に移動する。したがって、第1,第2可動部材145,149が互いに接近する方向に移動するので、各アーム161は第1,第2可動部材145,149の各係合穴部157に係合している係合ピン163を介して図7の二点鎖線の位置から実線の位置へ回動し、6インチウェハ用のウェハチャック部133Aの4つのピン部131Aと6インチウェハ101Aの外周との間に隙間Gが生じてウェハ101Aをアンクランプし、ウェハ101Aは載置部129Aの載置面に載置された状態となる。   Next, in the wafer holding device 123, as described above, the first rack 139 is moved in the right direction in FIG. 7 against the urging force of the spring 165, so that the second rack 141 is moved in FIG. Move to the left. Accordingly, since the first and second movable members 145 and 149 move in a direction approaching each other, each arm 161 is engaged with each engagement hole 157 of the first and second movable members 145 and 149. 7 is rotated from the position of the two-dot chain line in FIG. 7 to the position of the solid line via the coupling pin 163, and a gap is formed between the four pin portions 131A of the wafer chuck portion 133A for 6-inch wafer and the outer periphery of the 6-inch wafer 101A. G is generated to unclamp the wafer 101A, and the wafer 101A is placed on the placement surface of the placement portion 129A.

この状態で、下方位置で待機していた2本の搬送アーム105が上昇することにより、各アーム161の載置部129Aの載置面に載置されているウェハ101Aが、2本の搬送アーム105の4箇所のウェハ保持部117の載置部119Aの載置面に載置、保持されて上方へ持ち上げられ、次の水洗い処理槽である第2処理槽107Bへ搬送される。   In this state, the two transfer arms 105 that have been waiting at the lower position are lifted, so that the wafer 101A placed on the placement surface of the placement portion 129A of each arm 161 becomes two transfer arms. The wafer is placed on the placement surface of the placement unit 119A of the four wafer holding units 117, lifted upward, and conveyed to the second treatment tank 107B, which is the next water washing treatment tank.

ウェハ101Aは第2処理槽107Bの内部に固定したウェハ保持装置123に保持される。つまり、上述した第1処理槽107Aのウェハ保持装置123の場合と同様に前記ウェハ保持装置123でチャックされ、スプレー装置のノズルから噴射する純水により水洗い処理が施される。   The wafer 101A is held by a wafer holding device 123 fixed inside the second processing tank 107B. That is, as in the case of the wafer holding device 123 of the first processing tank 107A described above, the wafer is washed by the pure water sprayed from the nozzle of the spray device after being chucked by the wafer holding device 123.

以上のように、ウェハ101Aはウェハ搬送装置103の搬送アーム105にて第1〜第5処理槽107A〜107Eへ搬送されて、各処理槽107のウェハ保持装置123にチャックされてから各処理が行われる。第5処理槽107Eで乾燥処理が終了すると、ウェハ101Aがウェハ搬送装置103からアンローディング領域111へ搬出される。なお、ウェハ101Aの裏面を処理する場合は、ウェハ101Aの裏面を上側に向けて、再度、上記の第1〜第5処理槽107A〜107Eの処理工程が施される。   As described above, the wafer 101 </ b> A is transferred to the first to fifth processing tanks 107 </ b> A to 107 </ b> E by the transfer arm 105 of the wafer transfer apparatus 103 and chucked by the wafer holding device 123 of each processing tank 107 before each process. Done. When the drying process is completed in the fifth processing tank 107E, the wafer 101A is unloaded from the wafer transfer apparatus 103 to the unloading area 111. When processing the back surface of the wafer 101A, the processing steps of the first to fifth processing tanks 107A to 107E are performed again with the back surface of the wafer 101A facing upward.

なお、8インチウェハ101Bの処理動作は、前述した6インチウェハ101Aの場合とほぼ同様である。   The processing operation of the 8-inch wafer 101B is almost the same as that of the 6-inch wafer 101A described above.

従来の他のウェハ保持装置としては、特許文献1に示されているように、ウェハを載置する基台は平面でH形の形状をなしている。前記基台の四隅近くにはウェハ支持チップが設けられており、ウェハは4つの前記ウェハ支持チップの上に載置される。さらに、前記基台の四隅には4本のウェハ止めピンが設けられている。同じ列側の2本のウェハ止めピンは背が高く上部が太く、下部が細い逆テーパ形状であり、他の列側の2本のウェハ止めピンは背の低いストレートピンである。このとき、2本のウェハ止めピンは逆テーパになっているので、ウェハをウェハ支持チップに押さえつけるように働くので、基台に載置したウェハは4本のウェハ止めピンで挟まれて固定されることになる。   As another conventional wafer holding apparatus, as shown in Patent Document 1, a base on which a wafer is placed has a flat and H-shaped shape. Wafer support chips are provided near the four corners of the base, and the wafer is placed on the four wafer support chips. Further, four wafer stop pins are provided at the four corners of the base. The two wafer stopper pins on the same row side have a reverse taper shape that is tall and thick at the top and thin at the bottom, and the two wafer stop pins on the other row are short straight pins. At this time, since the two wafer holding pins are reversely tapered, the wafer works to press the wafer against the wafer support chip, so that the wafer placed on the base is fixed by being sandwiched between the four wafer holding pins. Will be.

また、ウェハ支持チップH形の中心には回転軸が設けられている。したがって、このウェハ保持装置は、基台が回転するので、ウェハに噴射される処理液が遠心力により外側に飛ばされる。
特開2004−281959号公報
A rotation axis is provided at the center of the wafer support chip H shape. Therefore, in this wafer holding device, since the base rotates, the processing liquid sprayed onto the wafer is blown outside by the centrifugal force.
JP 2004-281959 A

ところで、従来のウェハ保持装置123においては、各処理槽107A〜107Eのウェハ保持装置123では、ウェハ101を保持するチャック機構がクランプ用のピン部131と載置部129からなるウェハチャック部133を回動させる方式であるので、ウェハ101が処理液の表面張力によっていずれかのウェハチャック部133の載置部129の載置面と密着した場合は、処理した後にウェハチャック部133をアンクランプする方向に回動する際に、アーム161の回動時の慣性によりウェハ101が例えば図8の二点鎖線の矢印のように回転してしまうと、ウェハ101の切り欠き部であるオリフラ115がいずれかのウェハチャック部133の載置部129の載置面にかかるためにウェハ101が脱落するという問題点があった。   By the way, in the conventional wafer holding device 123, in the wafer holding device 123 of each of the processing tanks 107A to 107E, the chuck mechanism for holding the wafer 101 has the wafer chuck portion 133 including the pin portion 131 for clamping and the mounting portion 129. Since the rotation method is employed, when the wafer 101 is brought into close contact with the mounting surface of the mounting unit 129 of any one of the wafer chuck units 133 due to the surface tension of the processing liquid, the wafer chuck unit 133 is unclamped after the processing. When the wafer 101 is rotated as indicated by an alternate long and two short dashes line in FIG. 8 due to the inertia of the arm 161 when the arm 161 rotates, the orientation flat 115 which is a notch portion of the wafer 101 is changed. There is a problem that the wafer 101 falls off due to the placement surface of the placement portion 129 of the wafer chuck portion 133. It was.

また、特許文献1のウェハ保持装置では、基台の上にウェハを載置して固定するときは、その都度、作業者が4つのウェハ止めピンを用いてウェハを固定する必要があるので、手間がかかるという問題点があった。   Further, in the wafer holding device of Patent Document 1, when the wafer is placed and fixed on the base, the operator needs to fix the wafer using four wafer fixing pins each time. There was a problem that it took time and effort.

この発明は、ウェハを自動的に容易にクランプ・アンクランプすると共にウェハ処理後にアンクランプする際にウェハの回転と脱落を防止可能なウェハチャック機構を有するウェハ保持装置を備えた装置を提供することを目的とする。 The present invention provides an apparatus including a wafer holding device having a wafer chuck mechanism capable of automatically and easily clamping and unclamping a wafer and preventing rotation and dropping of the wafer when unclamping after wafer processing. With the goal.

上記の課題を解決するために、この発明の装置は、ウェハ搬送装置とウェハ保持装置とを備えた装置であって、前記ウェハ搬送装置は、ウェハを載置する載置面を有する載置部と、前記載置面から突出したピン部とにより構成されるウェハ保持部を有し、昇降可能に設けられ、前記ウェハの大きさに合わせて間隔を調整可能な2つの搬送アームを備え、前記ウェハ保持装置は、平板状の本体ベース上に互いに接近離反自在に設けた第1、第2可動部材と、この第1可動部材の上面に、当該第1可動部材の移動方向に対して直交する方向に延びるように固定した第1アームと、前記第2可動部材の上面に、当該第2可動部材の移動方向に対して直交する方向に延びるように固定した第2アームと、前記第1,第2アームの左右の先端側の上面に設けてウェハを載置する載置面を有する載置部と、前記ウェハの外周面に当接してクランプするように前記載置部の載置面に突設したピン部とからなるウェハチャック部と、を備え、前記ウェハチャック部は、異なる大きさのウェハをクランプするために、前記第1,第2アームの左右の各々先端側の延びる方向に、前記ウェハの大きさが小さい順に段差を設けて各々複数配置されており、前記第1アームの左端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め上方向に傾斜して延びており、前記第1アームの右端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め下方向に傾斜して延びており、前記第2アームの左端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め上方向に傾斜して延びており、前記第2アームの右端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め下方向に傾斜して延びており、前記第1,第2アームの各左右端間の寸法が、前記2つの搬送アームにおける最も小径のウェハを保持する間隔より小さく設定されており、前記第1、第2アームの最も左端側及び右端側に配置された最も大径のウェハを保持する前記ウェハチャック部における載置部の載置面が、扇形で形成されており、前記ウェハ搬送装置の前記ウェハ保持部に最も小径のウェハをセットし、前記2つの搬送アームが前記ウェハ保持装置の上方に位置し、前記ウェハ保持装置においては、前記第1、第2可動部材をお互いに離反する方向に移動させて、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部のピン部が、最も小径のウェハの外周の大きさより外側へ離反する方向に移動し、前記2本の搬送アームが下降することにより、前記2本の搬送アームに保持された最も小径のウェハが、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部の載置部の載置面へ載置され、前記第1、第2可動部材をお互いに接近する方向に移動させて、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部のピン部が最も小径のウェハの外周面に当接してクランプし、前記第1、第2可動部材をお互いに離反する方向に移動させて、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部のピン部が、最も小径のウェハの外周から離反する方向に移動してアンクランプし、前記2本の搬送アームが上昇することにより、前記第1、第2アームの載置部の載置面に載置されているウェハが、前記2本の搬送アームの前記ウェハ保持部の載置部の載置面に載置されて上方へ持ち上げられる構成であることを特徴とするものである
In order to solve the above-described problems, an apparatus of the present invention is an apparatus including a wafer transfer device and a wafer holding device, and the wafer transfer device has a mounting portion on which a wafer is mounted. And a wafer holding part constituted by the pin part protruding from the mounting surface , provided with two transfer arms that are provided so as to be movable up and down and that can adjust the interval according to the size of the wafer, The wafer holding device includes first and second movable members provided on a flat plate-like main body base so as to be close to and away from each other, and an upper surface of the first movable member is orthogonal to the moving direction of the first movable member. A first arm fixed to extend in a direction, a second arm fixed to an upper surface of the second movable member so as to extend in a direction orthogonal to a moving direction of the second movable member, On the upper surfaces of the left and right tip sides of the second arm A wafer chuck portion comprising a mounting portion having a mounting surface for mounting a wafer and a pin portion protruding from the mounting surface of the mounting portion so as to abut on and clamp the outer peripheral surface of the wafer. And the wafer chuck portion includes steps in order of decreasing size of the wafer in the extending direction of the left and right tips of the first and second arms in order to clamp wafers of different sizes. A plurality of each of the first arms, the left end side of the first arm extends obliquely upward in the direction away from the first and second movable members, and the right end side of the first arm is The first and second movable members extend obliquely downward in the direction of separation of the first and second movable members, and the left end side of the second arm is inclined obliquely upward in the direction of separation of the first and second movable members. The right end side of the second arm is the first and second Extends inclined obliquely downward in the separating direction of the moving member, said first, setting the dimension between the left and right ends of the second arms is smaller than the distance to hold the smallest diameter of the wafer in the two transfer arms are, first, the mounting surface of the mounting of the wafer chuck unit portion for holding a most left side and most of the large-diameter wafer is disposed on the right end side of the second arm is formed in fan shape A wafer having the smallest diameter is set in the wafer holding portion of the wafer transfer device, and the two transfer arms are positioned above the wafer holding device. In the wafer holding device, the first and second movable members Are moved away from each other, and the pin portions of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms are moved away from the outer circumference of the smallest diameter wafer. , When the two transfer arms are lowered, the smallest diameter wafer held by the two transfer arms is transferred to the mounting portion of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms. The first and second movable members are moved in a direction approaching each other, placed on the placement surface, and the pin portion of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms has the smallest diameter. A wafer chuck portion pin for the smallest diameter wafer of the first and second arms by moving the first and second movable members away from each other in contact with the outer peripheral surface of the wafer The part moves in the direction away from the outer periphery of the smallest diameter wafer and unclamps, and the two transport arms are lifted, so that the parts are placed on the placement surfaces of the placement parts of the first and second arms. The placed wafer is the two transfer arms. It is characterized in that the said is placed on the mounting surface of the mounting portion of the wafer holding portion of a structure to be lifted upward.

また、この発明の装置は、前記第1、第2可動部材を接近離反自在せしめる駆動機構は、平板状の本体ベース上のほぼ中央に回転自在に設けたピニオンと、このピニオンの中心点対称位置で噛合して互いに平行をなして反対方向に移動可能に設けられ、前記第1、第2可動部材をそれぞれ備えた第1、第2ラックと、で構成されており、前記第2ラックの左端には、ガイド部材が固定されており、前記第1ラックの左端側が前記ガイド部材に設けたフランジブッシュを介して摺動可能に挿通されていることが好ましい。 Also, equipment of this invention, prior Symbol first, driving mechanism allowed to freely toward and away from the second movable member, a pinion rotatably provided substantially at the center of the plate-shaped body base, the center point of the pinion and meshes symmetrical position is movable in opposite directions in parallel with each other, the first, first with each of the second movable member, a second rack, in being configured, the second rack A guide member is fixed to the left end of the first rack, and the left end side of the first rack is preferably slidably inserted through a flange bush provided on the guide member .

また、この発明の装置は、前記ウェハチャック部が、6インチウェハと8インチウェハの両方に対応する構成であることが好ましい。 Also, equipment of this invention, prior Symbol wafer chuck portion is preferably configured for both 6-inch wafer and an 8-inch wafer.

以上のごとき課題を解決するための手段から理解されるように、この発明によれば、ウェハを保持するウェハチャック部が、ウェハを一方向の両側からクランプ・アンクランプするチャック方式であるので、従来の回転チャック方式のようなウェハの回転ずれを回避することができ、ウェハの脱落を防止することができる。しかも、ウェハを自動的に容易にクランプ・アンクランプすることができる。   As will be understood from the means for solving the problems as described above, according to the present invention, the wafer chuck portion that holds the wafer is a chuck system that clamps and unclamps the wafer from both sides in one direction. It is possible to avoid rotational deviation of the wafer as in the conventional rotary chuck system, and to prevent the wafer from falling off. In addition, the wafer can be automatically clamped and unclamped easily.

以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1ないしは図3を参照するに、この実施の形態に係るウェハ保持装置1は、ウェハ3を洗浄する例えばフラット洗浄機において、水洗い、リンス、乾燥などの処理を行う際に、ウェハ3をクランプし、処理後にウェハ3をアンクランプするものであり、前記各処理を行う処理槽毎に1つずつ各処理槽の内部に固定して設けられるものである。   Referring to FIGS. 1 to 3, the wafer holding apparatus 1 according to this embodiment clamps the wafer 3 when performing processing such as washing, rinsing, and drying in a flat cleaning machine that cleans the wafer 3, for example. Then, the wafer 3 is unclamped after the processing, and is fixedly provided inside each processing tank for each processing tank for performing each processing.

ウェハ3は図示しないウェハ搬送装置の搬送アーム5にて複数の各処理槽へ搬送されるもので、従来の技術で図5を参照して説明した通りである。したがって、各処理槽、ウェハ搬送装置及びウェハ3の各処理方法についての詳しい説明は省略する。   The wafer 3 is transferred to a plurality of processing tanks by a transfer arm 5 of a wafer transfer apparatus (not shown), and is as described with reference to FIG. Therefore, the detailed description about each processing tank, the wafer conveyance apparatus, and each processing method of the wafer 3 is abbreviate | omitted.

なお、ウェハ3には例えば6インチウェハ3Aと8インチウェハ3B(図4を参照)があり、それぞれ切欠き部であるオリフラ7が形成されている。2本の搬送アーム5は処理すべきウェハ3の大きさに合わせて2本の搬送アーム5の間隔を調整可能に設けられている。さらに、2本の搬送アーム5は、各処理槽において昇降可能に設けられている。   The wafer 3 includes, for example, a 6-inch wafer 3A and an 8-inch wafer 3B (see FIG. 4), and an orientation flat 7 that is a notch is formed. The two transfer arms 5 are provided so that the distance between the two transfer arms 5 can be adjusted according to the size of the wafer 3 to be processed. Further, the two transfer arms 5 are provided to be movable up and down in each processing tank.

また、2本の各搬送アーム5には、図1、図2に示されているように、それぞれ2箇所のウェハ保持部9が備えられているので、ウェハ搬送装置には合計4箇所のウェハ保持部9を有している。上記の4箇所のウェハ保持部9にウェハ3を載置して保持し、この保持されたウェハ3を各処理槽へ搬送するものである。なお、各ウェハ保持部9は、ウェハ3を載置する載置面を有する載置部11と、この載置部11の載置面から上方へ突設したピン部13とで構成されている。   Further, as shown in FIG. 1 and FIG. 2, each of the two transfer arms 5 is provided with two wafer holding portions 9, so that the wafer transfer apparatus has a total of four wafers. A holding part 9 is provided. The wafer 3 is placed and held on the four wafer holders 9 described above, and the held wafer 3 is transferred to each processing tank. Each wafer holding unit 9 includes a mounting unit 11 having a mounting surface on which the wafer 3 is mounted and a pin unit 13 protruding upward from the mounting surface of the mounting unit 11. .

ウェハ保持装置1は、ウェハ3の外周面を四方から挟み込むようにクランプ・アンクランプするチャック機構で構成されている。すなわち、チャック機構は、この実施の形態では前記ウェハ3を載置する載置面を有する載置部15と、この載置部15の載置面から上方に突出してウェハ3の外周面を四方から挟み込んでクランプするためのピン部17とからなるウェハチャック部19の4箇所で構成されている。   The wafer holding device 1 includes a chuck mechanism that clamps and unclamps the outer peripheral surface of the wafer 3 so as to sandwich the wafer 3 from four directions. That is, in this embodiment, the chuck mechanism has a mounting portion 15 having a mounting surface on which the wafer 3 is mounted, and protrudes upward from the mounting surface of the mounting portion 15 so that the outer peripheral surface of the wafer 3 extends in all directions. The wafer chuck portion 19 is composed of four locations including a pin portion 17 for sandwiching and clamping from the pin portion 17.

より詳しくは、ウェハ保持装置1は、平板状の本体ベース21が処理槽に固定されており、前記本体ベース21上のほぼ中央にはピニオン23が回転自在に設けられている。このピニオン23の中心点対称位置には2本の第1、第2ラック25,27が噛合して互いに反対方向に移動可能に設けられている。すなわち、第1、第2ラック25,27は互いに平行をなすように本体ベース21の上面に設けた2つの軸受部材29で摺動可能に設けられている。なお、本体ベース21には、処理液を下方へ落下させるための2つの貫通穴21Aが設けられている。   More specifically, in the wafer holding device 1, a flat plate-like main body base 21 is fixed to a processing tank, and a pinion 23 is rotatably provided at substantially the center on the main body base 21. Two first and second racks 25 and 27 are engaged with each other at the center point symmetrical position of the pinion 23 so as to be movable in opposite directions. That is, the first and second racks 25 and 27 are slidably provided by two bearing members 29 provided on the upper surface of the main body base 21 so as to be parallel to each other. The main body base 21 is provided with two through holes 21A for dropping the processing liquid downward.

また、第1可動部材31はピニオン23の図1において左側に位置して第1、第2ラック25,27に沿って摺動自在に設けられており、しかも第1固定ピン33により第1ラック25に固定されている。   The first movable member 31 is located on the left side of the pinion 23 in FIG. 1 and is slidable along the first and second racks 25 and 27. 25 is fixed.

一方、第2可動部材35はピニオン23の図1において右側に位置して第1、第2ラック25,27に沿って摺動自在に設けられており、しかも第2固定ピン37により第2ラック27に固定されている。   On the other hand, the second movable member 35 is located on the right side of the pinion 23 in FIG. 1 and is slidable along the first and second racks 25 and 27. 27 is fixed.

さらに、本体ベース21の図1において左側に突出している第2ラック27の図1において左端にはガイド部材39がボルトBTで固定されており、前記第1ラック25の図1において左端側が前記ガイド部材39に設けたフランジブッシュ41を介して摺動可能に挿通されている。前記ピニオン23,第1、第2ラック25、27が、前記第1、第2可動部材31、35を接近離反自在せしめる駆動機構を構成している。この駆動機構としては、これ以外に流体シリンダなどで同期せしめて前記第1、第2可動部材31、35を接近離反自在せしめるようにしても構わない。   Further, a guide member 39 is fixed to the left end of the second rack 27 protruding leftward in FIG. 1 of the main body base 21 with a bolt BT, and the left end side of the first rack 25 in FIG. It is slidably inserted through a flange bush 41 provided on the member 39. The pinion 23 and the first and second racks 25 and 27 constitute a drive mechanism that allows the first and second movable members 31 and 35 to move toward and away from each other. As this drive mechanism, the first and second movable members 31 and 35 may be moved toward and away from each other by synchronizing with a fluid cylinder or the like.

また、第1可動部材31の上面には、第1アーム43が支柱部材43Aを介して前記第1可動部材31の移動方向に対して左右方向(図1において上下方向)に延びるように設けられている。この実施の形態では第1アーム43の左右の先端側は、それぞれ図1において左斜め方向に傾斜して延びる構成である。すなわち、第1アーム43の左端側(図1において上端側)は左斜め上方向に傾斜して延びており、第1アーム43の右端側(図1において下端側)は左斜め下方向に傾斜して延びている。   Further, the first arm 43 is provided on the upper surface of the first movable member 31 so as to extend in the left-right direction (vertical direction in FIG. 1) with respect to the moving direction of the first movable member 31 via the support member 43A. ing. In this embodiment, the left and right distal ends of the first arm 43 are configured to extend while being inclined in the left oblique direction in FIG. That is, the left end side (upper end side in FIG. 1) of the first arm 43 extends obliquely in the upper left direction, and the right end side (lower end side in FIG. 1) inclines in the lower left direction. And extended.

一方、第2可動部材35の上面には、第2アーム45が支柱部材45Aを介して前記第2可動部材35の移動方向に対して左右方向(図1において上下方向)に延びるように設けられている。この実施の形態では第2アーム45の左右の先端側は、それぞれ図1において右斜め方向に傾斜して延びる構成である。すなわち、第2アーム45の左端側(図1において上端側)は右斜め上方向に傾斜して延びており、第2アーム45の右端側(図1において下端側)は右斜め下方向に傾斜して延びている。   On the other hand, the second arm 45 is provided on the upper surface of the second movable member 35 so as to extend in the left-right direction (vertical direction in FIG. 1) with respect to the moving direction of the second movable member 35 via the support member 45A. ing. In this embodiment, the left and right tip sides of the second arm 45 are each configured to extend obliquely to the right in FIG. That is, the left end side (upper end side in FIG. 1) of the second arm 45 extends obliquely upward to the right, and the right end side (lower end side in FIG. 1) of the second arm 45 inclines downward obliquely to the right. And extended.

また、上記の第1,第2アーム43,45の左右端側(図1において上下端側)には、6インチウェハ用のウェハチャック部19Aと8インチウェハ用のウェハチャック部19Bが設けられている。   Further, on the left and right ends (upper and lower ends in FIG. 1) of the first and second arms 43 and 45, a wafer chuck portion 19A for 6 inch wafer and a wafer chuck portion 19B for 8 inch wafer are provided. ing.

6インチウェハ用の各ウェハチャック部19Aは、前述したように、前記ウェハ3Aを載置する載置面を有する載置部15Aと、この載置部15Aの載置面から上方に突出してウェハ3Aの外周面を四方から挟み込んでクランプするためのピン部17Aとからなり、合計4箇所のウェハチャック部19Aが設けられている。   As described above, each wafer chuck portion 19A for a 6-inch wafer has a placement portion 15A having a placement surface on which the wafer 3A is placed, and a wafer protruding upward from the placement surface of the placement portion 15A. It consists of a pin portion 17A for sandwiching and clamping the outer peripheral surface of 3A from four sides, and a total of four wafer chuck portions 19A are provided.

一方、8インチウェハ用の各ウェハチャック部19Bは、前記ウェハ3Bを載置する載置面を有する載置部15Bと、この載置部15Bの載置面から上方に突出してウェハ3Bの外周面を四方から挟み込んでクランプするためのピン部17Bとからなり、合計4箇所のウェハチャック部19Bが設けられている。   On the other hand, each wafer chuck portion 19B for an 8-inch wafer has a placement portion 15B having a placement surface on which the wafer 3B is placed, and protrudes upward from the placement surface of the placement portion 15B, and the outer periphery of the wafer 3B. It consists of pin portions 17B for sandwiching and clamping the surface from four sides, and a total of four wafer chuck portions 19B are provided.

なお、第1,第2アーム43,45の各左右端間の寸法は、6インチウェハ3A用の間隔で配置されている2本の搬送アーム5が昇降してもぶつからないように小さい寸法に設定されている。   The dimension between the left and right ends of the first and second arms 43 and 45 is small so that the two transfer arms 5 arranged at intervals for the 6-inch wafer 3A do not collide even if they move up and down. Is set.

上記構成により、この実施の形態のウェハ保持装置1の作用について説明する。なお、6インチウェハ3Aをセットする場合を代表例として説明し、他のサイズのウェハ、例えば8インチウェハ3Bをセットする作用は同様であるので説明を省略する。   With the above configuration, the operation of the wafer holding apparatus 1 of this embodiment will be described. Note that the case where a 6-inch wafer 3A is set will be described as a representative example, and the operation of setting a wafer of another size, for example, an 8-inch wafer 3B is the same, and thus the description thereof is omitted.

ウェハ3Aはウェハ搬送装置の2本の搬送アーム5の4箇所のウェハ保持部9の載置部11の載置面にセットされた状態で、図示しないウェハ搬送装置によって各処理槽へ搬送される。このとき、ウェハ3Aはそのオリフラ7が4箇所のウェハ保持部9の載置部11の載置面にかからないように注意してセットされる。   The wafer 3A is transferred to each processing tank by a wafer transfer device (not shown) in a state where the wafer 3A is set on the mounting surfaces of the mounting units 11 of the four wafer holding units 9 of the two transfer arms 5 of the wafer transfer device. . At this time, the wafer 3A is set with care so that the orientation flat 7 does not cover the mounting surfaces of the mounting units 11 of the four wafer holding units 9.

なお、ウェハ3Aを処理すべき処理槽へ搬送した2本の搬送アーム5は、処理槽の内部に固定したウェハ保持装置1の上方に位置して6インチウェハ3A用の間隔で待機している。   The two transfer arms 5 that have transferred the wafer 3A to the processing tank to be processed are positioned above the wafer holding device 1 fixed inside the processing tank and are waiting at an interval for the 6-inch wafer 3A. .

一方、ウェハ保持装置1においては、第2ラック27を図1において右方向に移動させる。これにより、ピニオン23が図1において反時計回り方向に回転するので、第1ラック25は図1において左方向に移動することになる。これに伴って、第1可動部材31と第2可動部材35は、本体ベース21の外側に向けて互いに離反する方向に移動するので、第1,第2アーム43,45の左右端側に設けた6インチウェハ用のウェハチャック部19Aの4つのピン部17Aが6インチウェハ3Aの外周の大きさより外側へ離反する方向に移動する。例えば、図1に示されているように、6インチウェハ3Aの外周の大きさと4つの各ピン部17に間隔Gが生じるように移動する。   On the other hand, in the wafer holding apparatus 1, the second rack 27 is moved rightward in FIG. As a result, the pinion 23 rotates counterclockwise in FIG. 1, and the first rack 25 moves to the left in FIG. Accordingly, the first movable member 31 and the second movable member 35 move in the direction away from each other toward the outside of the main body base 21, so that they are provided on the left and right end sides of the first and second arms 43 and 45. In addition, the four pin portions 17A of the wafer chuck portion 19A for 6-inch wafers move in a direction away from the outer circumference of the 6-inch wafer 3A. For example, as shown in FIG. 1, the outer periphery of the 6-inch wafer 3 </ b> A and the four pin portions 17 move so as to have a gap G.

第1,第2アーム43,45が図1の実線の位置にある状態で、2本の搬送アーム5が下降することにより、2本の搬送アーム5に保持されていたウェハ3Aが第1,第2アーム43,45の載置部15Aの載置面へ載置されることになる。なお、2本の搬送アーム5は、各アームの載置部15Aの載置面より下方の位置で待機することになる。   With the first and second arms 43 and 45 in the position of the solid line in FIG. 1, the two transfer arms 5 are lowered, whereby the wafer 3A held on the two transfer arms 5 is changed to the first and second arms. The second arm 43, 45 is placed on the placement surface of the placement portion 15A. The two transfer arms 5 stand by at a position below the placement surface of the placement portion 15A of each arm.

次いで、第2ラック27を図2において左方向へ移動させると、ピニオン23が図2において時計回り方向に回転するので、第1ラック25は図2において右方向に移動することになる。これに伴って、第1,第2可動部材31,35は、本体ベース21のほぼ中央に向けて互いに接近する方向に移動するので、6インチウェハ用のウェハチャック部19Aのピン部17Aが6インチウェハ3Aの外周面に四方から当接してクランプすることになる。   Next, when the second rack 27 is moved to the left in FIG. 2, the pinion 23 rotates in the clockwise direction in FIG. 2, so that the first rack 25 is moved to the right in FIG. Accordingly, the first and second movable members 31 and 35 move toward each other toward the substantial center of the main body base 21, so that the pin portion 17A of the wafer chuck portion 19A for 6-inch wafers has 6 pins. The wafer is clamped by coming into contact with the outer peripheral surface of the inch wafer 3A from four directions.

上記のように6インチウェハ3Aがウェハ保持装置1でクランプされた状態で、図5を参照して従来で説明したのと同様に、カバーが処理槽の上方から下降し、ウェハ保持装置1がカバーで覆われる。次いで、スプレー装置の複数の噴射ノズルから処理液がウェハ3Aに向けて噴射され、ウェハ3Aに対して処理される。この処理が終了すると、上記のカバーが上昇する。   In the state where the 6-inch wafer 3A is clamped by the wafer holding device 1 as described above, the cover is lowered from above the processing tank in the same manner as described above with reference to FIG. Covered with a cover. Next, the processing liquid is sprayed toward the wafer 3A from the plurality of spray nozzles of the spray device, and the wafer 3A is processed. When this process is finished, the cover is raised.

次いで、ウェハ保持装置1では、前述したように、第2ラック27を図1において右方向に移動させることで、ピニオン23の回転により第1ラック25が図1において左方向に移動する。したがって、第1,第2可動部材31,35は、本体ベース21の外側に向けて互いに離反する方向に移動するので、第1,第2アーム43,45の左右端側に設けた6インチウェハ用のウェハチャック部19Aの4つのピン部17Aが6インチウェハ3Aの外周から離反する方向に移動する。つまり、6インチウェハ用のウェハチャック部19Aのピン部17Aと6インチウェハ3Aの外周との間に隙間Gが生じてウェハ3Aをアンクランプし、ウェハ3Aは載置部15Aの載置面に載置された状態となる。   Next, in the wafer holding apparatus 1, as described above, the second rack 27 is moved in the right direction in FIG. 1, whereby the first rack 25 is moved in the left direction in FIG. 1 by the rotation of the pinion 23. Accordingly, since the first and second movable members 31 and 35 move away from each other toward the outside of the main body base 21, a 6-inch wafer provided on the left and right end sides of the first and second arms 43 and 45. The four pin portions 17A of the wafer chuck portion 19A for use move in a direction away from the outer periphery of the 6-inch wafer 3A. That is, a gap G is generated between the pin portion 17A of the wafer chuck portion 19A for 6-inch wafer and the outer periphery of the 6-inch wafer 3A to unclamp the wafer 3A, and the wafer 3A is placed on the mounting surface of the mounting portion 15A. It will be in the state where it was mounted.

以上のように、この実施の形態のウェハ保持装置1では、ウェハ3Aを保持するチャック機構が、ウェハ3Aを左右方向(図1において上下方向)の両側からクランプ・アンクランプするチャック方式であるので、従来の回転チャック方式のようなウェハ3Aの回転ずれを回避することができ、ウェハ3Aの脱落を防止することができる。しかも、ウェハ3Aを自動的に容易にクランプ・アンクランプすることができる。   As described above, in the wafer holding device 1 of this embodiment, the chuck mechanism that holds the wafer 3A is a chuck system that clamps and unclamps the wafer 3A from both sides in the left-right direction (vertical direction in FIG. 1). Thus, the rotational deviation of the wafer 3A as in the conventional rotary chuck system can be avoided, and the wafer 3A can be prevented from falling off. In addition, the wafer 3A can be automatically and easily clamped / unclamped.

次いで、下方位置で待機していた2本の搬送アーム5が上昇することにより、第1,第2アーム43,45のウェハチャック部19の載置部15の載置面に載置されているウェハ3Aが、2本の搬送アーム5の4箇所のウェハ保持部9の載置部11の載置面に載置、保持されて上方へ持ち上げられ、次の処理槽へ搬送される。各処理槽の各ウェハ保持装置1では上述したのと同様にウェハ3Aをクランプ・アンクランプして各処理が行われる。   Next, the two transfer arms 5 that have been waiting at the lower position are raised, and are placed on the placement surface of the placement portion 15 of the wafer chuck portion 19 of the first and second arms 43 and 45. The wafer 3 </ b> A is placed and held on the placement surface of the placement unit 11 of the four wafer holding units 9 of the two transfer arms 5, lifted upward, and transferred to the next processing tank. In each wafer holding device 1 in each processing tank, each processing is performed by clamping and unclamping the wafer 3A in the same manner as described above.

図4を参照するに、この実施の形態のウェハ保持装置1に8インチウェハ3Bをセットしたときの状態が示されており、2本の搬送アーム5は、ウェハ保持装置1の上方に位置して8インチウェハ3B用の間隔で待機している。基本的な動作は前述した6インチウェハ3Aをセットする場合と同様であり、8インチウェハ3Bは合計4箇所のウェハチャック部19Bの載置部15Bの載置面に載置され、ウェハ3Bの外周面がピン部17Bで四方から挟み込んでクランプ・アンクランプされる構成である。それ以外の構成、作用は、6インチウェハ3Aと全く同じであるから、詳細な説明は省略する。   Referring to FIG. 4, a state when an 8-inch wafer 3 </ b> B is set in the wafer holding device 1 of this embodiment is shown, and the two transfer arms 5 are positioned above the wafer holding device 1. Are waiting at intervals for the 8-inch wafer 3B. The basic operation is the same as the case of setting the 6-inch wafer 3A described above. The 8-inch wafer 3B is placed on the placement surfaces of the placement portions 15B of the wafer chuck portions 19B at a total of four locations. The outer peripheral surface is clamped and unclamped by being pinched from four sides by the pin portion 17B. Since the other configuration and operation are the same as those of the 6-inch wafer 3A, detailed description thereof is omitted.

この発明の実施の形態のウェハ保持装置で6インチウェハをクランプ前の状態、あるいはアンクランプするときの状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state before a 6-inch wafer is clamped with the wafer holding apparatus of embodiment of this invention, or a state when unclamping. 図1のウェハ保持装置において6インチウェハをクランプしたときの状態を示す平面図である。It is a top view which shows a state when a 6-inch wafer is clamped in the wafer holding device of FIG. 図1の矢視III−III線の断面図である。It is sectional drawing of the arrow III-III line | wire of FIG. 図1のウェハ保持装置において8インチウェハをクランプしたときの状態を示す平面図である。It is a top view which shows a state when an 8-inch wafer is clamped in the wafer holding device of FIG. ウェハを処理するための複数の処理槽の配置とウェハ搬送装置を示す平面図である。It is a top view which shows arrangement | positioning of the some processing tank for processing a wafer, and a wafer conveyance apparatus. 一つの処理槽を代表例として、処理槽の内部に固定したウェハ保持装置にクランプしたウェハを処理するときの状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state when processing the wafer clamped to the wafer holding device fixed inside the processing tank by using one processing tank as a representative example. 従来のウェハ保持装置で6インチウェハをクランプ前の状態、あるいはアンクランプするときの状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state when a 6-inch wafer is clamped with the conventional wafer holding apparatus, or a state when unclamping. 図7のウェハ保持装置において6インチウェハをクランプしたときの状態を示す平面図である。It is a top view which shows a state when a 6-inch wafer is clamped in the wafer holding device of FIG. 図7の矢視IX−IX線の断面図である。It is sectional drawing of the arrow IX-IX line | wire of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 ウェハ保持装置
3 ウェハ
3A 6インチウェハ
3B 8インチウェハ
5 搬送アーム
7 オリフラ
9 ウェハ保持部
11 載置部(搬送アームの)
13 ピン部(搬送アームの)
15 載置部(ウェハ保持装置の)
15A 載置部(6インチウェハ用の)
15B 載置部(8インチウェハ用の)
17 ピン部(ウェハ保持装置の)
17A ピン部(6インチウェハ用の)
17B ピン部(8インチウェハ用の)
19 ウェハチャック部
19A ウェハチャック部(6インチウェハ用の)
19B ウェハチャック部(8インチウェハ用の)
21 本体ベース
23 ピニオン
25 第1ラック
27 第2ラック
29 軸受部材
31 第1可動部材
33 第1固定ピン
35 第2可動部材
37 第2固定ピン
43 第1アーム
43A 支柱部材
45 第2アーム
45A 支柱部材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wafer holding device 3 Wafer 3A 6 inch wafer 3B 8 inch wafer 5 Transfer arm 7 Orientation flat 9 Wafer holding part 11 Placement part (of transfer arm)
13 Pin part (of transfer arm)
15 Placement part (of wafer holding device)
15A placement part (for 6 inch wafer)
15B Placement (for 8-inch wafer)
17 Pin part (of wafer holding device)
17A Pin (for 6 inch wafer)
17B Pin part (for 8-inch wafer)
19 Wafer chuck part 19A Wafer chuck part (for 6 inch wafer)
19B Wafer chuck (for 8-inch wafer)
21 body base 23 pinion 25 first rack 27 second rack 29 bearing member 31 first movable member 33 first fixed pin 35 second movable member 37 second fixed pin 43 first arm 43A column member 45 second arm 45A column member

Claims (3)

ウェハ搬送装置とウェハ保持装置とを備えた装置であって、
前記ウェハ搬送装置は、
ウェハを載置する載置面を有する載置部と、前記載置面から突出したピン部とにより構成されるウェハ保持部を有し、昇降可能に設けられ、前記ウェハの大きさに合わせて間隔を調整可能な2つの搬送アームを備え、
前記ウェハ保持装置は、
平板状の本体ベース上に互いに接近離反自在に設けた第1、第2可動部材と、
この第1可動部材の上面に、当該第1可動部材の移動方向に対して直交する方向に延びるように固定した第1アームと、
前記第2可動部材の上面に、当該第2可動部材の移動方向に対して直交する方向に延びるように固定した第2アームと、
前記第1,第2アームの左右の先端側の上面に設けてウェハを載置する載置面を有する載置部と、前記ウェハの外周面に当接してクランプするように前記載置部の載置面に突設したピン部とからなるウェハチャック部と、
を備え、
前記ウェハチャック部は、異なる大きさのウェハをクランプするために、前記第1,第2アームの左右の各々先端側の延びる方向に、前記ウェハの大きさが小さい順に段差を設けて各々複数配置されており、
前記第1アームの左端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め上方向に傾斜して延びており、前記第1アームの右端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め下方向に傾斜して延びており、
前記第2アームの左端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め上方向に傾斜して延びており、前記第2アームの右端側は、前記第1、第2可動部材の離反方向の斜め下方向に傾斜して延びており、
前記第1,第2アームの各左右端間の寸法が、前記2つの搬送アームにおける最も小径のウェハを保持する間隔より小さく設定されており、
前記第1、第2アームの最も左端側及び右端側に配置された最も大径のウェハを保持する前記ウェハチャック部における載置部の載置面が、扇形で形成されており、
前記ウェハ搬送装置の前記ウェハ保持部に最も小径のウェハをセットし、前記2つの搬送アームが前記ウェハ保持装置の上方に位置し、
前記ウェハ保持装置においては、前記第1、第2可動部材をお互いに離反する方向に移動させて、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部のピン部が、最も小径のウェハの外周の大きさより外側へ離反する方向に移動し、
前記2本の搬送アームが下降することにより、前記2本の搬送アームに保持された最も小径のウェハが、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部の載置部の載置面へ載置され、
前記第1、第2可動部材をお互いに接近する方向に移動させて、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部のピン部が最も小径のウェハの外周面に当接してクランプし、
前記第1、第2可動部材をお互いに離反する方向に移動させて、前記第1、第2アームの最も小径のウェハ用のウェハチャック部のピン部が、最も小径のウェハの外周から離反する方向に移動してアンクランプし、
前記2本の搬送アームが上昇することにより、前記第1、第2アームの載置部の載置面に載置されているウェハが、前記2本の搬送アームの前記ウェハ保持部の載置部の載置面に載置されて上方へ持ち上げられる構成であることを特徴とする装置。
An apparatus comprising a wafer transfer device and a wafer holding device,
The wafer transfer device
It has a wafer holding part composed of a mounting part having a mounting surface for mounting a wafer and a pin part protruding from the mounting surface, and is provided so as to be movable up and down, according to the size of the wafer It has two transfer arms with adjustable intervals,
The wafer holding device is
First and second movable members provided on a flat plate-shaped main body base so as to be close to and away from each other;
A first arm fixed on the upper surface of the first movable member so as to extend in a direction orthogonal to the moving direction of the first movable member;
A second arm fixed on the upper surface of the second movable member so as to extend in a direction orthogonal to the moving direction of the second movable member;
A mounting portion provided on the top surfaces of the left and right distal ends of the first and second arms and having a mounting surface for mounting a wafer; and the mounting portion so as to abut on and clamp the outer peripheral surface of the wafer. A wafer chuck portion comprising a pin portion projecting from the mounting surface;
With
In order to clamp wafers of different sizes, the wafer chuck portion is provided with a plurality of steps in order of decreasing size of the wafers in the extending direction of the left and right ends of the first and second arms. Has been
The left end side of the first arm extends obliquely upward in the direction away from the first and second movable members, and the right end side of the first arm extends to the first and second movable members. Extending obliquely downward in the direction of separation,
The left end side of the second arm extends obliquely upward in the direction away from the first and second movable members, and the right end side of the second arm extends to the first and second movable members. Extending obliquely downward in the direction of separation,
The dimension between the left and right ends of the first and second arms is set smaller than the interval for holding the smallest diameter wafer in the two transfer arms,
The mounting surface of the mounting portion in the wafer chuck portion that holds the wafer with the largest diameter disposed on the leftmost end side and the right end side of the first and second arms is formed in a fan shape ,
A wafer having the smallest diameter is set in the wafer holding unit of the wafer transfer device, and the two transfer arms are positioned above the wafer holding device,
In the wafer holding device, the first and second movable members are moved away from each other, and the pin portion of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms has the smallest diameter. Move in a direction away from the outer circumference of the wafer,
When the two transfer arms are lowered, the smallest diameter wafer held by the two transfer arms is transferred to the mounting portion of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms. Placed on the mounting surface,
The first and second movable members are moved toward each other so that the pin portion of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms contacts the outer peripheral surface of the smallest diameter wafer. Clamp
The first and second movable members are moved away from each other, and the pin portions of the wafer chuck portion for the smallest diameter wafer of the first and second arms are separated from the outer periphery of the smallest diameter wafer. Move in the direction and unclamp,
When the two transfer arms are raised, the wafer placed on the placement surface of the placement part of the first and second arms is placed on the wafer holding part of the two transfer arms. The apparatus is configured to be placed on the placement surface of the unit and lifted upward .
前記第1、第2可動部材を接近離反自在せしめる駆動機構は、平板状の本体ベース上のほぼ中央に回転自在に設けたピニオンと、
このピニオンの中心点対称位置で噛合して互いに平行をなして反対方向に移動可能に設けられ、前記第1、第2可動部材をそれぞれ備えた第1、第2ラックと、で構成されており、
前記第2ラックの左端には、ガイド部材が固定されており、
前記第1ラックの左端側が前記ガイド部材に設けたフランジブッシュを介して摺動可能に挿通されていることを特徴とする請求項1に記載の装置。
A drive mechanism for allowing the first and second movable members to approach and move apart is a pinion that is rotatably provided at substantially the center on a flat plate-shaped main body base,
The first and second racks are arranged so as to mesh with each other at the center point symmetrical position of the pinion so as to be parallel to each other and movable in opposite directions, and are respectively provided with the first and second movable members. ,
A guide member is fixed to the left end of the second rack,
Apparatus according to claim 1, characterized in that the left side of the first rack is slidably inserted through the flange bushings provided on said guide member.
前記ウェハチャック部が、6インチウェハと8インチウェハの両方に対応する構成であることを特徴とする請求項1または2に記載の装置。 The wafer chuck portion A device according to claim 1 or 2, characterized in that it is configured for both 6-inch wafer and an 8-inch wafer.
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