JP5184121B2 - 二次元サンプル・ハンドラー - Google Patents
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Description
本発明は、自動診断用分析器におけるサンプルの取り扱いに関するものである。特に、本発明は、より大きな数のサンプルに対するより優れたアクセスを可能にするための、自動診断用分析器における二次元のサンプル取り扱いに関するものである。
本発明は、診断用分析器でのより高いスループットを提供するために、より大きな数のサンプルにアクセスするという前述の課題に解決を与えるものである。
本発明は、診断用分析器においてサンプルを位置合わせする好ましい実施形態に関して記述してあるが、本発明は、多数の対象物の位置合わせが必要な如何なる用途においても適用することが可能である。
(1) サンプルを診断用分析器に配置する方法において、
コンベヤー上に2つまたはそれ以上のサンプルキャリアを設けることと、
前記コンベヤーに沿った予め定められた場所に、それぞれのサンプルキャリアのための固定位置合わせ要素を設けることと、
前記サンプルキャリアと前記コンベヤーとの間に位置するたわみデバイスを設けることと、
前記固定位置合わせ要素を越えて前記サンプルキャリアを前進させることと、
前記コンベヤーの方向を反転させて、前記サンプルキャリアの少なくとも一つを対応する位置合わせ要素と接触させるよう後退させることと、
全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素に接触するまで、前記コンベヤーを反転させ続けることと、
を含み、
全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素と接触できるように前記コンベヤーが反転すると、前記それぞれの位置合わせ要素と接触した前記サンプルキャリアの前記たわみ要素が変形し、それによって前記サンプルキャリアの既知の位置が与えられる、方法。
(2) 実施態様1に記載の診断用分析器のサンプルにアクセスする方法において、
三つまたはそれ以上のサンプルキャリアを、これらのサンプルキャリアが単一の水平方向の次元にないように、非直線状のコンベヤーに設けること、
を更に含む、方法。
(3) 実施態様2に記載の方法において、
二つの水平方向の次元において移動し得る計量プローブを設けることと、
前記計量プローブを前記サンプルキャリアの前記既知の位置上に配置することと、
前記計量プローブを垂直な次元で移動させて前記サンプルキャリア中の前記サンプルに接触させることと、
予め定められた量のサンプルを計量することと、
を更に含む、方法。
(4) 実施態様2に記載の方法において、
前記コンベヤーが連続する矩形の経路を形成し、前記位置合わせ要素およびサンプルキャリアが前記経路の周りに置かれる、方法。
(5) 実施態様2に記載の方法において、
前記サンプルキャリアが、前記たわみデバイスと可動式に係合しているサンプルトレイ搬送体を備える、方法。
(6) 実施態様5に記載の方法において、
前記サンプルトレイ搬送体が、その底部にソケットを有し、前記たわみデバイスが、その頂部に球形の要素を有し、前記球と前記ソケットとが可動式に係合している、方法。
(7) 実施態様6に記載の方法において、
前記サンプルトレイ搬送体が平円盤形状のディスクである、方法。
(8) 実施態様6に記載の方法において、
前記サンプルキャリアが、個々のサンプルを保持するためのサンプルトレイを更に備えている、方法。
(9) 実施態様6に記載の方法において、
前記サンプルトレイが、最大10個までの個々のサンプルを保持することができる回転式キャリアである、方法。
(10) 実施態様6に記載の方法において、
前記たわみデバイスの底部分が移動ベルトに取り付けられている、方法。
前記固定位置合わせ要素の近くの前記コンベヤーに隣接する固定位置合わせ壁を更に含み、
前記位置合わせ壁、前記位置合わせ要素および前記コンベヤーの後向きの運動により、前記サンプルトレイ搬送体上の共通な点を通る力のベクトルが形成される、方法。
(12) 複数の対象物をコンベヤー上の固定された位置に位置合わせする方法において、
複数の対象物を持つコンベヤーを設けることと、
前記コンベヤーに沿った予め定められた場所に固定位置合わせ要素を設けることと、
前記対象物と前記コンベヤーとの間にたわみデバイスを設けることと、
前記固定位置合わせ要素を越えて前記対象物を前進させることと、
前記コンベヤーの方向を反転させて、前記対象物の少なくとも一つを対応する位置合わせ要素と接触させるよう後退させることと、
全ての対象物がそれぞれの位置合わせ要素に接触するまで、前記コンベヤーを反転させ続けることと、 を含み、
全ての対象物がそれぞれの位置合わせ要素と接触できるように前記コンベヤーが反転すると、前記それぞれの位置合わせ要素と接触した前記対象物の前記たわみ要素が変形する、方法。
(13) たわみデバイスにおいて、
逆U字形を形成する第一および第二の脚部と、
前記逆U字形の頂部から延在する第三の脚部と、
前記U字形の端部の方向に、前記U字形の中心から下方に向けて延在する第四の脚部と、
を備えた、たわみデバイス。
(14) 実施態様13に記載のたわみデバイスにおいて、
前記逆U字形の頂部から延在する前記第三の脚部の端部に設けられた球と、
前記U字形を形成する前記脚部のそれぞれに取り付けられた逆L字形状のブラケットと、
前記U字形の中心から下方に延在する前記脚部に取り付けられた要素平面と、
を更に備え、
前記平面が、前記U字形の中心から下方に延在する前記脚部に対し垂直となる、たわみデバイス。
(15) 診断用分析器のためのサンプル取り扱いシステムにおいて、
連続ベルトと、
前記連続ベルトと係合する実施態様13に記載のたわみデバイスと、
前記たわみ要素と可動式に係合するサンプルキャリアと、
前記搬送システムに沿った予め定められた場所に配置された位置合わせ要素と、
を備え、これにより、
前記サンプルキャリアが前記固定位置合わせ要素を越えて搬送されると、前記コンベヤーの方向が反転されて、前記サンプルキャリアの少なくとも一つが、対応する位置合わせ要素と接触するようになり、
全てのサンプルキャリアが、それぞれの位置合わせ要素と接触するまで、前記コンベヤーの反転が継続され、
全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素と接触できるように前記コンベヤーが反転すると、前記それぞれの位置合わせ要素と接触した前記サンプルキャリアの前記たわみ要素が変形し、それによって、前記サンプルキャリアの既知の位置が与えられる、サンプル取り扱いシステム。
(16) 実施態様15に記載の診断用分析器のためのサンプル搬送システムにおいて、
前記サンプルキャリアが、前記たわみ要素と可動式に係合するサンプルトレイ搬送体を備える、サンプル搬送システム。
(17) 実施態様16に記載の診断用分析器のためのサンプル搬送システムにおいて、
前記サンプルトレイ搬送体が、その底部にソケットを備え、前記逆U字形の頂部から延在する前記第三の脚部の端部の前記球が、前記ソケットと可動式に係合している、サンプル搬送システム。
(18) 実施態様17に記載の診断用分析器のためのサンプル搬送システムにおいて、
連続ベルトに取り付けられたブロック形状の突起部と、
前記逆U字形を形成する前記第一および第二の脚部のそれぞれに取り付けられた逆L字形のブラケットと、
を更に備えた、サンプル搬送システム。
Claims (17)
- サンプルを診断用分析器に配置する方法において、
コンベヤー上に2つまたはそれ以上のサンプルキャリアを設けることと、
前記コンベヤーに沿った予め定められた場所に、それぞれのサンプルキャリアのための固定位置合わせ要素を設けることと、
前記サンプルキャリアと前記コンベヤーとの間に位置するたわみデバイスを設けることと、
前記固定位置合わせ要素を越えて前記サンプルキャリアを前進させることと、
前記コンベヤーの方向を反転させて、前記サンプルキャリアの少なくとも一つを対応する位置合わせ要素と接触させるよう後退させることと、
全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素に接触するまで、前記コンベヤーを反転させ続けることと、
を含み、
全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素と接触できるように前記コンベヤーが反転すると、前記それぞれの位置合わせ要素と接触した前記サンプルキャリアの前記たわみデバイスが変形し、それによって前記サンプルキャリアの既知の位置が与えられ、
前記たわみデバイスは、
逆U字形を形成する第一および第二の脚部と、
前記逆U字形の頂部から上方に向けて延在した第三の脚部であって、上端部に設けられた球を含む第三の脚部と、
前記逆U字形の中心から下方に向けて延在する第四の脚部と、
前記第一の脚部および前記第二の脚部のそれぞれの下端部に取り付けられた逆L字形状のブラケットと、
前記第四の脚部に取り付けられた要素平面と、備える、方法。 - 請求項1に記載の診断用分析器のサンプルにアクセスする方法において、
三つまたはそれ以上のサンプルキャリアを、これらのサンプルキャリアが単一の水平方向の次元にないように、非直線状のコンベヤーに設けること、
を更に含む、方法。 - 請求項2に記載の方法において、
二つの水平方向の次元において移動し得る計量プローブを設けることと、
前記計量プローブを前記サンプルキャリアの前記既知の位置上に配置することと、
前記計量プローブを垂直な次元で移動させて前記サンプルキャリア中の前記サンプルに接触させることと、
予め定められた量のサンプルを計量することと、
を更に含む、方法。 - 請求項2に記載の方法において、
前記コンベヤーが連続する矩形の経路を形成し、前記位置合わせ要素およびサンプルキャリアが前記経路の周りに置かれる、方法。 - 請求項2に記載の方法において、
前記サンプルキャリアが、前記たわみデバイスと可動式に係合しているサンプルトレイ搬送体を備える、方法。 - 請求項5に記載の方法において、
前記サンプルトレイ搬送体が、その底部にソケットを有し、前記たわみデバイスの前記球と前記ソケットとが可動式に係合している、方法。 - 請求項6に記載の方法において、
前記サンプルトレイ搬送体が平円盤形状のディスクである、方法。 - 請求項6に記載の方法において、
前記サンプルキャリアが、個々のサンプルを保持するためのサンプルトレイを更に備えている、方法。 - 請求項6に記載の方法において、
前記サンプルトレイが、最大10個までの個々のサンプルを保持することができる回転式キャリアである、方法。 - 請求項6に記載の方法において、
前記たわみデバイスの底部分が移動ベルトに取り付けられている、方法。 - 請求項5に記載の方法において、
前記固定位置合わせ要素の近くの前記コンベヤーに隣接する固定位置合わせ壁を更に含み、
前記位置合わせ壁、前記位置合わせ要素および前記コンベヤーの後向きの運動により、前記サンプルトレイ搬送体上の共通な点を通る力のベクトルが形成される、方法。 - 複数の対象物をコンベヤー上の固定された位置に位置合わせする方法において、
複数の対象物を持つコンベヤーを設けることと、
前記コンベヤーに沿った予め定められた場所に固定位置合わせ要素を設けることと、
前記対象物と前記コンベヤーとの間にたわみデバイスを設けることと、
前記固定位置合わせ要素を越えて前記対象物を前進させることと、
前記コンベヤーの方向を反転させて、前記対象物の少なくとも一つを対応する位置合わせ要素と接触させるよう後退させることと、
全ての対象物がそれぞれの位置合わせ要素に接触するまで、前記コンベヤーを反転させ続けることと、
を含み、
全ての対象物がそれぞれの位置合わせ要素と接触できるように前記コンベヤーが反転すると、前記それぞれの位置合わせ要素と接触した前記対象物の前記たわみデバイスが変形し、
前記たわみデバイスは、
逆U字形を形成する第一および第二の脚部と、
前記逆U字形の頂部から上方に向けて延在した第三の脚部であって、上端部に設けられた球を含む第三の脚部と、
前記逆U字形の中心から下方に向けて延在する第四の脚部と、
前記第一の脚部および前記第二の脚部のそれぞれの下端部に取り付けられた逆L字形状のブラケットと、
前記第四の脚部に取り付けられた要素平面と、備える、方法。 - 請求項12に記載の方法において、
前記要素平面が、前記第四の脚部に対し垂直となる、方法。 - 診断用分析器のためのサンプル取り扱いシステムにおいて、
連続ベルトと、
前記連続ベルトと係合するたわみデバイスと、
前記たわみデバイスと可動式に係合するサンプルキャリアと、
前記搬送システムに沿った予め定められた場所に配置された位置合わせ要素と、
を備え、これにより、
前記サンプルキャリアが前記固定位置合わせ要素を越えて搬送されると、前記コンベヤーの方向が反転されて、前記サンプルキャリアの少なくとも一つが、対応する位置合わせ要素と接触するようになり、
全てのサンプルキャリアが、それぞれの位置合わせ要素と接触するまで、前記コンベヤーの反転が継続され、
全てのサンプルキャリアがそれぞれの位置合わせ要素と接触できるように前記コンベヤーが反転すると、前記それぞれの位置合わせ要素と接触した前記サンプルキャリアの前記たわみデバイスが変形し、それによって、前記サンプルキャリアの既知の位置が与えられ、
前記たわみデバイスは、
逆U字形を形成する第一および第二の脚部と、
前記逆U字形の頂部から上方に向けて延在した第三の脚部であって、上端部に設けられた球を含む第三の脚部と、
前記逆U字形の中心から下方に向けて延在する第四の脚部と、
前記第一の脚部および前記第二の脚部のそれぞれの下端部に取り付けられた逆L字形状のブラケットと、
前記第四の脚部に取り付けられた要素平面と、備える、サンプル取り扱いシステム。 - 請求項14に記載の診断用分析器のためのサンプル搬送システムにおいて、
前記サンプルキャリアが、前記たわみデバイスと可動式に係合するサンプルトレイ搬送体を備える、サンプル搬送システム。 - 請求項15に記載の診断用分析器のためのサンプル搬送システムにおいて、
前記サンプルトレイ搬送体が、その底部にソケットを備え、前記逆U字形の頂部から延在する前記第三の脚部の端部の前記球が、前記ソケットと可動式に係合している、サンプル搬送システム。 - 請求項16に記載の診断用分析器のためのサンプル搬送システムにおいて、
連続ベルトに取り付けられたブロック形状の突起部と、
を更に備えた、サンプル搬送システム。
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