JP5181249B2 - ビーム角度の測定方法 - Google Patents
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Description
これによって、前記移動機構は、前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサを、前記イオンビームを横切って移動させるように動作可能なものであり、前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサが前記イオンビームを通過する際に、前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサにより、1つ又は複数の特性、例えばビーム電流、のピーク又は最大値を特定することが可能となる。前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサのそれぞれによって検知されたビーム電流のピークに関連する、前記測定装置の1つ又は複数の時刻及び位置は、コントローラに供給される。前記コントローラは、前記イオンビームの、前記測定装置の前記平面に対する第1ビーム角度及び第2ビーム角度を特定するように動作可能なものである。
このように、前記測定装置の一軸方向の移動を使用して、加工物に対する前記イオンビームの二次元の角度を特定することが可能となり、これによって、測定装置の運動に対して複雑な第2の自由度を追加することなく、前記イオンビームの特性を取得することが可能となる。
α=arctan(Δx/F) (1)
β=arctan(Δy/F) (2)
但し、Δxは、イオンビーム110の実際の位置160の、既知の第2位置158からの第1方向における偏差、Δyは、イオンビームの第2方向における偏差である。
α=arctan(Δx1/F) (3)
本例では、図4に示すように、基準線220(例えば、t=0)は、第1センサ202からx方向にオフセットされている。但し、基準線220は、イオンビームの基準線の通過と第1センサの通過との間の時間及び/又は位置の変化が上記の計算に使用されるような、第1センサ202に対するx方向の任意の位置に関連付けられる。
Δx3=Δx2−Δx1 (3)
この場合、仮想交差点308と、図4に示す第2センサによりビーム電流の第2ピーク218が検知されたとき(第2時刻)の、測定装置300の表面306におけるイオンビーム310の実際の位置312との間の垂直位置の偏差Δy1は、次式により求めることができる。
Δy1=Δx3tan(φ) (4)
これによって、イオンビーム310の実際位置312と基準点301(図2に示す既知の第2位置158に関連する)との間の第2方向における偏差Δyは、次式により求めることができる。
Δy=Δy1−Δyint (5)
このように、第2方向における偏差Δyが求められたならば、図2に示すように、上式(2)により第2ビーム角度βを求めることができる。
以上のように、図1に示す測定装置104の一軸方向への移動によって、第1ビーム角度αと第2ビーム角度βの両方を特定することが可能であることにより、イオン注入システム100におけるビーム角度の、簡単でありながらロバスト性の高い測定手段を提供するものである。
Claims (17)
- イオンビームを形成するように動作可能なイオン注入装置と、
関連する平面を有する測定装置とを有しており、
前記測定装置は、更に、
前記測定装置の前記平面に沿って第1方向に延在するとともに、前記イオンビームの1つ又は複数の特性を検知するように動作可能な延長型第1センサと、
前記延長型第1センサに対する傾斜角を有して前記平面に沿って延在するとともに、前記イオンビームの1つ又は複数の特性を検知するように動作可能な延長型第2センサと、
前記イオン注入装置及び前記測定装置に動作可能に結合されるとともに、前記測定装置を、前記延長型第1センサに対して略直交し、かつ、前記平面に対して略平行な方向に、前記イオンビームの経路を横切って移動させるように動作可能な移動機構と、
前記移動機構を制御し、かつ、検知された前記イオンビームの前記1つ又は複数の特性を受け取るとともに、前記測定装置の位置並びに前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサによって検知された前記イオンビームの前記1つ又は複数の特性に少なくとも部分的に基いて、前記イオンビームの、前記測定装置の前記平面に対する第1ビーム角度及び第2ビーム角度を特定するように動作可能なコントローラと、
を含むことを特徴とするイオン注入システム。 - 前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサの各々は、スロット型ファラデーカップを含むことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記延長型第2センサの長さは、前記延長型第1センサの長さよりも大きいか又は略等しいことを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記傾斜角は、前記延長型第1センサから、30度と60度との間の範囲にあることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記移動機構は、ステッピングモータを含んでおり、前記ステッピングモータは、前記測定装置の位置を示す信号を前記コントローラに供給するように動作可能であることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記移動機構は、前記測定装置を一定速度で移動させるとともに、前記測定装置の位置は、前記一定速度での経過時間に基いて前記コントローラにより特定されることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記イオン注入装置は、加工物を保持するための受台又はチャックを含んでおり、前記移動機構は、更に、前記受台又はチャックに動作可能に結合されていることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記測定装置の前記平面は、前記測定装置の表面によって形成されるとともに、前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサは、前記測定装置の前記表面に動作可能に結合されていることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- イオンビーム角度の測定装置であって、
前記測定装置の平面に沿って第1方向に延在するとともに、イオンビームの1つ又は複数の特性を検知するように動作可能な延長型第1センサと、
前記延長型第1センサに対する傾斜角を有して前記平面に沿って延在するとともに、前記イオンビームの1つ又は複数の特性を検知するように動作可能な延長型第2センサと、
前記測定装置に動作可能に結合されるとともに、前記測定装置を、前記延長型第1センサに対して略直交し、かつ、前記平面に対して略平行な方向に、前記イオンビームの経路を横切って移動させるように動作可能な移動機構と、
を含んでおり、
加工物を保持するための受台又はチャックを更に含み、前記受台又はチャックは更に前記移動機構に動作可能に結合されていることを特徴とする測定装置。 - 前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサの各々は、スロット型ファラデーカップを含むことを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- 前記延長型第2センサの長さは、前記延長型第1センサの長さよりも大きいか又は略等しいことを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- 前記傾斜角は、前記延長型第1センサに対して30度と60度との間の範囲にあることを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- 前記移動機構は、ステッピングモータを含んでおり、前記ステッピングモータは、前記測定装置の位置を示す信号を供給するように動作可能であることを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- 前記測定装置の前記平面は、前記測定装置の表面によって形成されるとともに、前記延長型第1センサ及び前記延長型第2センサは、前記測定装置の前記表面に動作可能に結合されていることを特徴とする請求項9に記載の測定装置。
- イオンビームの角度を測定するための方法であって、
イオンビーム、並びに、関連する平面と該平面に関連する延長型第1センサ及び延長型第2センサを有するとともに前記延長型第2センサが前記延長型第1センサに対して傾斜するように配置されている測定装置を準備する段階と、
前記測定装置を、前記延長型第1センサに略直交する第1方向に前記イオンビームを横切って移動させる段階と、
第1時刻において前記イオンビームを通過する前記延長型第1センサに関連するビーム電流の第1ピークを取得する段階と、
第2時刻において前記イオンビームを通過する前記延長型第2センサに関連するビーム電流の第2ピークを取得する段階と、
前記第1方向及び前記第1方向に略直交する第2方向は前記測定装置の前記平面に対して略平行であり、前記第1方向における前記イオンビームの第1ビーム角度、並びに、前記第2方向における前記イオンビームの第2ビーム角度を、前記第1時刻、前記第2時刻、及び、前記イオンビームの、前記測定装置の前記平面に略直交する上流側への経路に沿った既知の位置に少なくとも部分的に基いて特定する段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記測定装置は、略一定の速度で移動するとともに、前記第1時刻及び前記第2時刻における前記測定装置の位置は、更に、前記略一定の速度に基いて特定されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 前記第2ビーム角度は、更に、前記第1時刻と前記第2時刻との差に基いて特定されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
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